用谐振腔微扰法测试低损耗材料

用谐振腔微扰法测试低损耗材料
1，待测试材料
备注：600MHz-7GHz之间选取6个频点测试
2，测试方法和符合的标准
针对上面客户待测试材料(MUT的显著特征，即高介电常数，低损耗因子，这些材料通常用于制备高精度器件，在电子电气，通讯领域。

因此北京神州技测工程师采用谐振腔微扰法进行测试，符合国标GBT 7265.1-1987。

3，测试指标
1）测试温度：室温
2）测试频率：600MHz-7GHz之间选取6个频点测试
3）样品尺寸：圆棒或方棒状材料（小样品材料：直径为2.9mm,长度不低于30mm）
4）测试范围：介电常数er，：1.05 ～ 12.0 损耗角正切：0.0002 ～ 0.03 5）测试误差
4，测试原理
微扰法采用谐振腔主模进行测试，利用一腔多模技术、模式识别技术和杂模抑制技术进行宽频带测试。

由于采用的谐振腔的结构和模式，决定了测试出的结果为电场平行于测试样品长度方向的复介电常数。

测试系统包括有：矢量网络分析仪、转换接头、耦合装置、测试腔体、材料测试软件、程控计算机。

微波信号首先由矢量网络分析仪的一个测试端口，经过转换接头送入到耦合装置，进入到测试腔体中，后又经过另一耦合装置与转换接头进入到矢量网络分析仪。

通过测量该传输信号，通过测试得到空腔和加载测试样品后的谐振频率和品质因数，通过理论分析计算得到被测样品在不同频率下的介电常数和损耗角正切。

5，测试过程
第一步：系统初始化。

即软件界面点击初始化，使得PC和矢网建立连接。

然后直通校准。

第二步：测量出加载样品之前空腔的谐振频率 f0 与无载品质因数 Q0，
第三步：测量出加载样品之后腔体的谐振频率 f0s 与有载品质因数 Q0s。

所加载的样品与测试腔体的体积相比要小得多，因此，这种扰动非常微弱。

微扰法即根据加载样品前后腔体的谐振频率和品质因数的变化即可计算得到被测样品的复介电常数。

6，样品制作要求
7，测试结果数据
北京神州技测400-808-6255提供多种材料测试方法，更多方法请咨询我公司技术人员。