耳蜗电图

第二节耳蜗电图（Electrocochleagram ECochG）

耳蜗电图是属于快反应，是在刺激后0~4ms之间出现的一组反应波，产生于耳蜗，包括耳蜗微音电位（Cochlear microphonics, CM）、和电位（summating potentials, SP）和动作电位（Action potentials, AP）。

一、记录方法

1. 记录电极的位置：耳蜗电图是近场记录，记录电极接近于电位发生源。根据记录电极的位置分为经鼓室（transtympanic）和鼓室外（extratympanic）两种。由于记录电极的位置对所获得的参数影响较大，无论是经鼓室法还是鼓室外法，都应尽可能保持记录电极的位置固定。

经鼓室法：将记录用的针电极穿过鼓膜抵在鼓岬上，我们一般自鼓膜脐部与鼓环7点（左耳，右耳于鼓环5点）连线的中点穿过鼓膜抵于鼓岬上，这个位置比较安全，不会将电极插入变异的圆窗或卵圆窗（迄今未见经鼓室电极损伤的报道）。

鼓室外法：根据电极所置的位置又可分为：鼓膜电极、鼓环电极、外耳道电极、耳垂电极（效果很差）。

2. 记录电极：针形电极、球形电极、别针式电极、夹式电极等。参考电极和地极一般用盘形电极。

3. 声刺激的种类：记录耳蜗电图声刺激信号可用短声、短音、短纯音、滤波短声等。短声的能量分布较广，其实际的频谱依赖于换能器的特性和外耳、中耳的特性。来自对人的这种短声兴奋分布的研究提示低强度信号在2k~4kHz区域引起最大兴奋，在高强度这个范围被扩大到2k~8kHz或更多。其优点是提供了最好的单个纤维的同步活动，测试时间短，但缺乏频率特性。理论上讲短音、滤波短声和短纯音有较好的频率特性，但也各有其不足。

由于CM的临床应用价值仍在研究中，在临床记录耳蜗电图时多采用极性正负交替的信号，诱发的反应经过平均叠加，消除了CM，而获得了SP-AP的复合波形。

4. 给声方法

可经耳机或扬声器给声。

5. 重复速率：一些学者进行不同重复速率声刺激诱发的耳蜗电图结果比较，发现记录耳蜗电图声刺激的重复速率不应超过10次/秒，超过10次/秒会引起AP 的降低，从而引起-SP/AP比值的改变。

6. 分析时间：一般用10ms，也有用20 ms。

7. 平均叠加的次数：根据平均计算机提高信/噪比的公式，增加平均叠加的

次数可提高反应幅度，但这种效果也是有一定限度的，而且，过多的叠加次数必须引起测试时间的延长。因此，我们选取一定的叠加次数以既能获得满意的反应又不致引起反应参量的改变为原则。经鼓室法平均叠加250~500次，鼓室外法一般为1000次。

二、CM、SP和AP的来源及特点

CM：由耳蜗OHC产生，是神经前电位，没有潜伏期，振幅随声刺激强度增大而增大，其波形与刺激声的波形一致。

SP：关于SP的来源仍在研究中，目前认为与耳蜗隔部的不对称性有关，在高强度刺激的情况下，基底膜围绕其中点不对称性振动，向鼓阶过度偏移产生的连续直流电成分，是多种电位之总和，所以称为之为和电位。其也为神经前电位，也没有真正的潜伏期，但根据刺激信号不同，记录电极的位置不同，可表现出正、负不同的极性。短声刺激记录的多为-SP。

AP：产生于耳蜗神经，是声刺激诱发的若干神经纤维同步放电的结果，随刺激强度增加振幅增大，潜伏期缩短，从阈值时4ms左右到高强度1.5 ms左右。

三、耳蜗电图分析的参数

临床通过分析耳蜗电图的波形、反应阈、波宽、振幅、-SP/AP振幅之比、AP的输入/输出曲线和潜伏期/强度曲线为临床提供资料。

正常的耳蜗电图波形：当用极性交替的短声刺激时，诱发的SP-AP复合波形表现了随刺激强度的增加，反应的振幅逐渐增大，潜伏期缩短。在高刺激强度AP波由一个或几个负波组成，依其出现的顺序分别命名为N1、N2、N3，于所有强度下绝大多数波的振幅N1>N2>N3，个别情况下，当短声强度为20~60dB SPL时，N1

图1 典型的耳蜗电图-SP-AP复合波形

反应阈：耳蜗电图的反应阈确定为刚可引出AP N1的最小刺激强度，根据我们用经鼓室的鼓岬电极记录32耳平均反应阈17.18±7.28dB nHL，鼓室外的鼓膜电极记录83耳平均反应阈24.8±5.65dB nHL。

潜伏期：将从给声到AP N1峰所需的时间确定为AP N1的潜伏期，我们用鼓岬和鼓膜电极记录的反应阈和90dB nHL时的潜伏期列于表3。

表3 鼓岬和鼓膜电极记录的耳蜗电图主要结果

电极位置潜伏期(ms)

反应阈时90n HL时

振幅(uV)

APN1(90dBnHL)

-SP/AP

(80nHL)

波宽

(80nHL)

鼓岬x 4.24 1.62 10.50 0.24 0.96 SD 0.64 0.10 5.16 0.07 0.16

鼓膜x 4.16 1.39 3.09 0.31 0.98

0.52 0.12 1.52 0.07 0.23

振幅：一般自反应图形的基线到N1峰测量AP的振幅；自基线到-SP与N1降支的交点测量-SP振幅（图2）。我们用这种测量方法的鼓岬和鼓膜电极记录的-SP与AP的振幅列于表2。另外，还有一些不同的测量方法，如测量AP振幅，有从-SP与AP交点到AP峰测量，也有从AP峰到后面的波谷测量。测量-SP振

幅，从-SP起始处最低点到-SP与N1降支的交点测量。

图2 -SP和AP振幅测量示意图（James W. Hall III, et al. Audiologists Desk Reference P312）

-SP/AP比值：因为80dB nHL时-SP和AP振幅均较稳定，所以我们计算此强度时的-SP/AP比值，也列于表2。值得注意的是测量的方法不同直接影这一比值。

波宽：也因为80dB nHL时-SP和AP振幅均较稳定，所以我们测量此强度时从基线到N1峰中点处的波宽，结果见表2。也有测量从基线到N1峰中下三分之一交点处的波宽。

APN1的输入/输出曲线：以短声强度为横座标，N1振幅为纵坐标，作出APN1的输入/输出曲线，在40~70dB之间有一个平台，40dB以下为浅部，70dB以上为陡部（图3）