多功能晶体管测试仪毕设论文
多功能晶体管测试仪毕设论文
多功能晶体管测试仪毕设论文摘要晶体管的出现在电子器件的历史上具有划时代的意义，在当今社会的重要性更是不容忽略，它实际上是所有现代电器的关键活动元件。
因而研究测量其参数的测试仪器的具有重大的意义。
在分析传统XJ4810 型晶体管特性图示仪的电路结构和功能实现的基础上，结合模拟和数字电子技术的特点，确立了整个系统构成。
本系统以凌阳16位单片机SPCE061A 为核心，其内部集成了两路10位DA和7通道的AD，用一路DA输出作为压控电压源的输入端，压控电压源的输出端作为集电极电压的控制端；另一路DA则作为压控恒流源的输入端，压控恒流源的输出端则作为基极的电流控制端。
用其中的两路AD分别采样基极和集电极电压，采样结果送CPU处理后再送液晶显示器显示。
系统采用的液晶显示器是LCM12664ZK点阵图形液晶模块，显示效果好。
系统软件采用C语言在凌阳单片机集成开发环境μ’nSP? IDE 2.0.0上编程，利用模块化的程序设计方法编写系统各模块程序，使整个系统性能稳定，易于扩展。
本系统的压控恒流源和压控电压源都是采用运放构成，电路简单，精度能满足设计要求。
经测定恒流源的输出范围为±100uA，误差为±0.5uA；电压源的输出范围±10V, 误差为±0.02V。
本测试系统目前能够完成三极管管型和极性判别、输入、输出特性曲线、放大倍数等参数以及二极管一些参数的测定。
它具有功能稳定，精确度较高，易于功能扩展等特点。
关键词：SPCE061A；LCM12864ZK；晶体管参数；压控恒流源；压控电压源AbstractThe appearance of transistor has an epochal impact on the history of electronic element, and its significance could not ignore as the active component of all most of electronic devices. So, taking a research on the transistor tester for measuring itsparameter has great importance.Based on the analysis of general configuration and working principle the tradition instrument XJ4810, combined with the analog and digital electronic technology, we ascertain the system’s structure. This system bases on SPCE061A, which contains two DAC and seven ADC, one DAC is used as the input of VCVS(V oltage Controlled V oltage Source), which output is used to control the voltage of collector. The other DAC is used as the input of VCCS(V oltage Controlled Current Source), which output is used to control the current of base. The two of seven ADC are used to sample the voltage of collector and base respectively, and the result is send to the display after processing of processor. This system used LCM12864ZK as the display, which has nice display effect. This system software is developed on Integrated Development Environment μ’nSP? 2.0.0 using C langue, and we utilize the modularization method of program design to make the system stable function and to be pronged to other function.This system’s VCCS and VCVS a re both compose of amplifier. The circuit is simple, and the precision can meet the demands of design. The result of experiments proves that the range of output current of VCCS is from -100uA to +100uA, the error is ±2.0uA and the range of output voltage o f VCVS is from -10V to +10V, and the error is ±0.05V.The system can measure the type and polarity, the input characteristic curve, the output characteristic curve, and amplification of transistor parameter and diodes. It has the stable function and high accuracy. It is easy to be expanded its function.Key words：SPCE061A;LCM12864ZK;Transistor Parameter ;VCCS;VCVS目录引言 (1)1 设计任务及要求 (1)2 设计方案比较与论证 (1)2.1 系统构架比较 (2)2.2 显示方案比较 (2)2.3 受控源 (3)2.3.1受控源选择 (3)2.3.2电流源 (4)2.3.3电压源 (4)2.4 调理模块 (5)3 硬件电路设计 (5)3.1 凌阳16位单片机SPCE061A简介 (5) 3.1.1SPCE061A单片机概述 (5)3.1.2内部结构简要说明 (6)3.1.3“61A”板介绍 (7)3.2 测量电路的设计 (8)3.3 压控恒流源电路 (9)3.4 压控电压源电路 (11)3.5 电压调理电路 (12)3.6 键盘和LCD显示电路 (13)4 系统软件设计 (14)4.1 系统软件设计概述 (14)4.2 端口分配 (16)4.3 液晶模块程序编写 (16)4.3.1LCM12864ZK介绍 (16)4.3.2基础驱动程序编写 (17)4.3.3用户API 功能函数编写 (18)4.4 功能模块编程 (20)4.4.1管型和极性的判别 (20)4.4.2直流放大倍数的测量 (21)4.4.3输入特性曲线测量 (22)4.4.4输出特性曲线测量 (23)4.4.5其它功能扩展 (24)5 系统调试及测定 (25)5.1 硬件调试方法及过程 (25)5.1.1调试仪器 (25)5.1.2调试过程 (25)5.2 软件调试及标定 (25)5.2.1恒流源测定 (25)5.2.2压控电压源的测定 (27)5.2.3AD电压采样的测定 (29)6 结果测量及分析 (30)6.1 测试仪器 (30)6.2 测试数据及分析 (30)6.2.1管型判别 (30)6.2.2放大倍数的测量 (30)6.2.3输入特性曲线的测量 (31)6.2.4输出特性曲线的测量 (32)7 总结 (33)谢辞 (34)参考文献 (35)附录 (36)引言50 年代起，电子器件出现了重大的突破，晶体管逐渐代替了电子管器件，使电子工业由电子管时代迈向晶体管时代，这是一次阶段性的飞跃。
场效应晶体管参数测试仪的设计
场效应晶体管参数测试仪的设计西安邮电大学毕业设计（论文）题目：场效应晶体管参数测试仪的设计院（系）：电子工程学院专业：集成电路设计与集成系统班级：学生姓名：导师姓名：职称：起止时间：目录1 引言 (1)2 总体方案设计 (2)3 硬件电路设计 (4)3.1输出特性曲线的测试 (4)3.1.1 漏极扫描电压 (5)3.1.2 栅极阶梯电压 (7)3.1.3 测量点及测量方式 (9)3.1.4 输出特性曲线测试电路的整合 (10)3.2场效应晶体管的参数测试 (11)3.2.1 结型场效应晶体管的夹断电压VP (11)3.2.2 绝缘栅型场效应晶体管的开启电压V T (17)3.2.3 饱和漏电流I DSS (17)3.2.4 低频跨导测量方法 (18)3.3转移特性曲线的测试 (19)3.3.1 漏极稳压电源 (19)3.3.2 栅极扫描电压 (19)3.3.3 转移特性的测量 (20)3.4保护电路设计 (20)3.4.1 过流和过压保护 (20)3.4.2 其他保护措施 (22)3.5单片机端口的连接 (22)4 软件设计与流程图 (24)4.1软件设计 (24)4.2软件流程图 (25)5 结论 (27)5.1各模块的测试结果 (27)5.2综合测试 (27)5.3总结 (28)致谢 ................................................................................................................... 错误!未定义书签。
参考文献 (29)附件 ..................................................................................................................... 错误!未定义书签。
C题 多功能晶体管测试仪
C题多功能晶体管测试仪
一、任务
设计并制作一个多功能晶体管测试仪，实现三极管管型判断、放大倍数等参数的测量。
电源输入交流220V±10%、50Hz，其原理示意图如下所示。
二、要求
1、基本要求
（1）自动判别三极管管型（NPN或PNP）及bce极性；
（2）测量三极管直流放大倍数h FE；
（3）设计电流可调激励源，要求电流源输出范围包括100μA～10mA，精度达到或优于±1%。
2、发挥部分
（1）测量并绘制三极管输入特性曲线(V BE-i B)，同时显示3条以上曲线，标定清晰；
（2）测量并绘制三极管输出特性曲线(V CE-i C)，同时显示3条以上曲线，标定清晰；
（3）绘制稳压二极管反向击穿电压特性曲线，并正确识别标称电压；
（4）设计电压可调激励源，电压源输出范围包括0～10V，精度达到或优于±2%；
（5）其它。
三、说明
1、晶体管各项参数的测量条件和方式：
（1）三级管参照2N3904、2N3906文档（Philips /NXP公司）；
（2）稳压二极管参照IN4733A文档（Philips /NXP公司）；
2、电流源测试负载：1欧和200欧；
3、电压源测试负载：10欧和50欧。
基于虚拟仪器的晶体管特性测试仪的设计
1.1 LabVIEW（Laboratory Virtual instrument Engineering Workbench）是一种图 形化的编程语言的开发环境，由美国国家 仪器公司（NI）研制开发，它广泛地被工业 界、学术界和研究实验室所接受，视为一个 标 准 的 数 据 采 集 和 仪 器 控 制 软 件 。 LabVIEW 类似于 C 和 BASIC 开发环境，但是 LabVIEW 与其他计算机语言又有显著的区 别：其他计算机语言都是采用基于文本的 语言产生代码，而 LabVIEW 使用图形化编 辑语言 G 编写程序，产生的程序是框图的 形式。 虚拟仪器的主要特点有：尽可能采 用了通用的硬件，各种仪器的差异主要是 软件；可充分发挥计算机的能力，有强大的 数据处理功能，数据易于分析、保存和传 输；用户可以根据自己的需要定义和制造 各种仪器，功能增加和升级换代容易；虚拟 仪器不但能测量还能控制，这是一般传统 仪器所不具备的。
新 创 科技
CHUANGXINKEJI
基于虚拟仪器的晶体管特性测试仪的设计
秦逸平 苏蓓蓓
（无锡科技职业学院电子工程学院，江苏 无锡 214028）
[摘 要] 本文介绍一种基于 NI LabVIEW 和北京君合泰科技有限公司 U18 数据采集卡的晶体管特性测试仪的设计方法，内容包含循环扫描数 据采集、回扫消隐、多曲线显示、传输系数计算、被测硬件电路设计等，并给出详细的前面板图和程序框图以及三极管、MOS 管、光电耦合器等部分器 件的特性曲线测试例子。
试仪的设计原理
U18 的模拟控制电压 DA0 经过运放组成 的射随器和电阻 R1 后接到被测三极管的
从典型的三极管输出特性曲线可知它 基极，DA1 输出 0-5V 的阶梯波控制电压
晶体管结构红外探测器性能研究-毕业论文
---文档均为word文档，下载后可直接编辑使用亦可打印---Abstract (2)第一章绪论 (4)1.1 红外技术概述 (4)1.2 红外探测器的应用 (4)1.21 军事领域的应用 (5)1.22 民用领域的应用 (5)1.3 红外技术的发展 (6)第二章晶体管光电探测器理论基础 (8)2.1 光电晶体管结构 (8)2.2 光电晶体管特性 (10)2.21 光电特性 (10)2.22 温度特性 (10)2.23 频率特性 (11)2.3 光电探测器优化指标 (11)第三章光电晶体管实验仿真 (12)3.1 创建pnp光电晶体管模型 (12)3.2 实验内容 (12)3.21 光电流和暗电流的变化 (12)3.22 电场与能带的变化 (16)3.3 实验小结 (20)摘要随着时代的进步，科技水平的不断提高，我们的生活也开始变得日新月异，对于与红外探测器相关的高端产品也变得越来越熟悉。
由于红外物理技术的不断发展，红外探测器技术不仅广泛应用于军事、煤矿安全等各个领域，而且越来越多的红外检测产品也开始出现在我们的日常生活中，极大地改善了我们的生活质量。
所以了解研究红外探测器的性能和优点，进而研究出品质更加优异的红外探测器，成为了当代物理科学家的一重大任务。
我们从红外技术的发展开始。
只要温度高于绝对温度，就可以检测到红外辐射，并且物体的辐射率随物体各部分的温度而变化，这是由于红外辐射设备不同的辐射特性所引起的。
接收到以后再一次经过光电转换就可以转变成为人眼可观察到的图像。
烟雾和雾霾的高穿透性、全天候、远距离、全天时、抗干扰能力强，正是因为红外探测技术具有的这些特殊性能，以至于其得于广泛的应用于民用和军用领域。
红外探测器是将入射的红外辐射信号转换为电信号输出的装置，将接收到的红外辐射转换成体积、压力、电流等容易测量的物理量。
自打60年代，人们发现了激光起，红外技术就迎来了一段迅猛发展的时期。
类似于光电探测器这样的激光器件可用光学波段大多集中在红外波段，而光电探测器则在红外探测器中占了很大的比重。
多功能测频仪设计与实现论文(修改)
多功能测频仪设计与实现摘要 (I)Abstract (II)1。
引言 02. 总体方案设计 (1)2。
1 方案比较 (1)2。
2 方案论证 (2)2.3 方案选择 (3)3. 系统硬件电路设计 (3)3。
1 51单片机介绍 (3)3.1.1 复位电路 (4)3。
1。
2 时钟电路 (5)3。
1。
2 单片机最小系统 (5)3。
2 波形整形电路 (6)3。
3 数字显示电路 (7)3.4 量程指示电路 (9)3。
5 测频仪工作原理 (9)4. 系统软件设计流程 (10)HYPERLINK \l ”_Toc265686361" 4。
1 KEIL uvision4编程软件简介 (10)4。
2 PROTEUS 仿真软件介绍 (11)4。
3 脉冲宽度测量的程序设计 (13)4。
3 脉冲频率测量的程序设计 (14)5. 系统仿真及调试 (14)5.1 硬件电路的仿真 (14)5.1。
1 信号整形电路仿真 (15)5。
1。
2 单片机测频仪仿真 (16)5。
2 实际测试 (17)5.3 误差分析 (18)6. 结论 (19)致谢 (20)参考文献 (21)随着科学技术的不断发展,市场上各种电子产品琳琅满目、种类繁多。
但是每一种电子产品在开发时都少不了对电信号的检测，而检测信号的频率也是其中重要指标之一。
本设计的目的就是根据要求设计出一种高效的、高精度的,价格便宜且符合人们要求的数字测频仪。
本课题设计主要是由信号整形电路、单片机最小系统电路、量程指示及数字显示电路三大部分组成，测量对像可以是方波，正弦波,三角波中任意一种波形或者全部波形。
本设计以STC89C52单片机核心,将经过波形整形电路信号连接到单片机的I/O口,利用单片机的定时闸门可以快速,精准地测出信号的频率，并且可以直观的显示在液晶屏。
通过对单片机软件编程可以实现测量不同频率信号的周期、脉冲宽度，本设计的频率测量仪测量范围为1HZ—1MHZ.关键字：STC89C52单片机、信号检测、整形电路、频率With the continuous development of science and technology，all kinds of electronic products in the market full of beautiful things in eyes，wide variety.But each kind of electronic products in the development time is necessary to detect the signal, and the frequency of the signal detection is one of the important indexes.The purpose of this design is designed according to the requirement of a highly efficient, high precision, low price to meet the requirements of people digital frequency meter。
晶体三极管特性曲线测试仪设计
晶体三极管特性曲线测试仪设计摘要晶体管特性曲线测试仪广泛用于科研，实验教学和工业中，论文选题具有实际意义。
本文在学习和查阅相关文件的基础上，介绍了实现一个简易晶体管伏安特性曲线测试仪基本原理和实现方案。
在系统硬件设计中，以MCS-51单片机最小系统为核心，扩展了人机对话接口、A/D转换接口；采用555振荡器实现了方波和三角波的输出信号，利用计数器74161和DAC0832产生梯形波，通过比较器LM311构成识别晶体管类型的判断。
系统的软件设计是在Keil51的平台上，使用C语言与汇编语言混合编程编写了系统应用软件；包括主程序模块、显示模块、数据采集模块和数据处理模块。
关键词：晶体管图示仪；伏安特性；单片机Crystal three transistor characteristic cure tester ABSTRACT：Transistor curve tracers used in research, teaching and industrial experiments, the practical significance of topics. In this paper, learning and access to relevant documents, based on the realization of a simple transistor introduced voltammetric curve tracers basic theory and programs.In the system hardware design to MCS-51 microcomputer as the core, extending the man-machine dialogue interfaces, A / D conversion interface; Achieved by 555 square wave oscillator and triangle wave output signal, generated using counters 74161 and DAC0832 trapezoidal wave, Constitute recognition by the comparator LM311 transistor type judgments.The software design is the platform Keil51 using C language and assembly language programming prepared hybrid system application software; Including the main program module, display module, data acquisition module and data processing module KEY WORDS: Transistor Tracer , V olt-ampere characteristics, Single slice of machine目录第1章前言 (1)1.1 设计的背景及意义 (1)1.2 晶体管及晶体管特性曲线测试仪历史及研究现状 (1)第2章晶体管特性曲线测试仪的系统设计 (3)2.1 晶体三极管原理及工作状态分析 (3)2.2 系统整体框图设计 (4)2.3 各模块方案设计与选择 (5)2.3.1 555振荡器方波和阶梯波发生模块 (5)2.3.2 晶体管放大倍数的显示模块 (5)2.3.3 电源供电模块 (6)第3章系统的硬件设计 (7)3.1 MCS-51单片机最小系统 (7)3.2 电源电路的设计 (8)3.3 AD采样电路设计 (9)3.3.1 ADC0809的内部逻辑结构 (9)3.3.2 ADC0809引脚结构 (9)3.3.3 ADC0809应用说明 (10)3.3.4 A/D电路的设计原理 (11)3.4 波形电路的设计 (11)3.4.1阶梯波与三角波产生电路 (11)3.4.2 555振荡器的管脚功能 (12)3.5 显示电路设计 (13)第4章系统的软件设计 (17)4.1 系统的软件结构图 (17)4.2数据采集电路的软件设计 (17)4.3显示电路的软件设计 (19)第5章系统的调试与测试 (21)5.1调试和测试仪器 (21)5.2 系统的调试 (21)5.3测试结果与分析 (23)结论 (27)致谢 (28)参考文献 (28)附录 (29)第1章前言1.1 设计的背景及意义晶体三极管，是半导体基本元器件之一，具有电流放大作用，是电子电路的核心元件。
晶体管参数测试仪的设计
晶体管参数测试仪的设计张明英【摘要】以LM3S1138芯片作为控制核心,设计了一个晶体管参数测试系统。
该系统主要功能模块包括：恒流源阶梯信号、电压扫描信号、升压电路、保护电路等。
利用8位D/A转换器产生稳定的控制电压,通过集成在LM3S1138芯片中的10位A/D模块完成电压的测量。
通过RS232接口将测量数据传送到PC机,利用Matlab软件实现对测量数据的处理和显示。
测试结果表明：该晶体管参数测试仪工作良好,测量结果都在数据手册给的参数范围之内。
%A transistor parameters test system was designed using LM3S1138 single chip as its control core. The main function modules including: constant current source ladder, scanning signals, the voltage signal booster circuit, the protection circuit, etc. Using 8bit D/A converter generates a stable control voltage, 10bit A/D module integrated in LM3S1138 complete voltage measurement. The measurement data were transferred to PC by RS232 interface, using of Matlab software realization of measurement data processing and display. Test results show that the transistor parameter tester works well and the measurement results is within the range of data given in the data sheet.【期刊名称】《电子设计工程》【年(卷),期】2012(020)018【总页数】3页(P73-74,77)【关键词】晶体管参数测试;LM3S1138;恒流源;保护电路;串口通信【作者】张明英【作者单位】西安外事学院,陕西西安710077【正文语种】中文【中图分类】TN307晶体管测试仪应用广泛，功能因测量参数不同而不同，有的可以测量晶体管的放大系数、反向击穿电压、反向饱和电流、晶体管的输入输出特性曲线、延迟时间、晶体管开启时间、存贮时间等多种参数，有的只是测试晶体管的好坏，也有的数字万用表可以测晶体管的直流放大系数。
毕业论文简易晶体管图示仪的设计
简易晶体管图示仪的设计与实现实验报告专业：班通信工程2014211108姓名：冯才贤学号：2014210216指导老师：张晓磊课题名称：简易晶体管图示仪的设计与实现一.摘要：本报告主要介绍简易晶体管图示仪的设计实现方法，以及实验中会出现的问题及解决方法。
给出了其中给出了各个分块电路的电路图和设计说明，功能说明，还有总电路的框图，仿真电路图，给出实验中示波器上的波形和其他一些重要的数据。
在最后提到了在实际操作过程中遇到的困难和解决方法，还有本次实验的结论与总结。
二.关键词：方波，三角波，阶梯波，输出特性曲线三.设计任务要求：1 .基本要求：1）设计一个阶梯波发生器，f》500Hz , Uopp >3V，阶数N=6 ;2 ）设计一个三角波发生器，三角波Vopp >2V ;3）设计保护电路，实现对三极管输出特性的测试；2 .提高要求：1 ）可以识别NPN , PNP管，并正确测试不同性质三极管；2）设计阶数可调的阶梯波发生器。
四.设计思路、总体结构框图:1 •设计思路:本试验要求用示波器稳定显示晶体管输入输出特性曲线。
我的设计思路是先用NE555时基振荡器产生的方波和带直流的三角波。
然后将产生的方波作为16进制计数器74LS169的时钟信号，74LS169是模16的同步二进制计数器，可以通过四位二进制输出来计时钟沿的个数，实验中利用它的三位输出为多路开关CD4051提供地址。
CD4051是一个数据选择器，根据16进制计数器74LS169给出的地址进行选择性的输出，来输出阶梯波，输入基极。
由运放LF353对NE555产生的三角波进行处理，产生符合要求的三角波作为集电极输入到三极管集电极。
通过示波器如图连接即可观察到输出特性曲线。
2 •总体结构框图：五.分块电路和总体电路的设计1 .方波电路：用NE555产生方波及三角波，所需电压为5V ,可知3脚产生方波，2脚产生三角波。
方波占空比D=R1+R2 /(R1+2R2) ，为使阶梯波频率足够大，选C1=0.01uF , C2=0.01uF 。
MOS晶体管电学特性测量毕业论文,绝对精品
工业大学毕业实践实验报告班级：061学号：姓名：MOS晶体管电学特性测量一、实践目的根据半导体器件基础和半导体物理的课程所学知识，利用相关测量设备完成MOS晶体管的测量工作。
希望通过此器件的测量来器件的输入特性，输出特性，转移特性，并要求系统地学习测试设备的工作特性，工作要求以及测量范围，以期为未来工作时可以独立使用相关测试设备作准备。
二、实践要求所完成的测试报告包括器件的选型，生产商提供的基本参数表，测量时的各种曲线图，和生产商提供的进行比较异同点。
还要介绍所使用测量设备的特性：作用，型号，测量范围，基本工作特性和要求，注意事项。
要求：1.MOS晶体管可选自己购置或向老师提出要求来选取，选取前先查阅基本测量范围。
2.厂商提供的基本参数表可上网或查阅相关资料获取。
3.注意保护好测量设备，一定要注意相关工作事项。
4.注意人身安全，根据要求进行测量工作。
5.有条件时可进行同型号或不同型号的多个MOS晶体管的测量，列出表单进行对比，作统计图。
6.注意是否需要其它元器件，如电容，电阻等。
7.进行电压或电流扫描测量,测量要求有输入特性曲线，输出特性曲线，转移特性曲线，根摩尔参数等。
三、实践平台1.半导体特性系统，半导体图示仪，2.不同型号的MOS晶体管3.可参考《双极场效应晶体管原理》或《模拟电子》四、时间：2周五、方案通过用keithley将MOS管各端设定不同的输入参数，测量不同型号MOS管的输入特性曲线，输出特性曲线，转移特性曲线等。
六、步骤绝缘栅场效应管(MOS管)1、场效应晶体管（field effect transistor缩写(fet)）简称场效应管.由多数载流子参与导电,也称为单极型晶体管.它属于电压控制型半导体器件.特点:具有输入电阻高（0～00ω）、噪声小、功耗低、动态范围大、易于集成、没有二次击穿现象、安全工作区域宽等优点,现已成为双极型晶体管和功率晶体管的强大竞争者.作用:场效应管可应用于放大.由于场效应管放大器的输入阻抗很高,因此耦合电容可以容量较小,不必使用电解电容器.场效应管可以用作电子开关.场效应管很高的输入阻抗非常适合作阻抗变换.常用于多级放大器的输入级作阻抗变换.场效应管可以用作可变电阻.场效应管可以方便地用作恒流源.绝缘栅场效应管的分类：绝缘栅场效应管也有两种结构形式，它们是N沟道型和P沟道型。
晶体三极管好坏检测仪的设计与制作(发表版)
晶体三极管好坏检测仪的设计与制作摘要：利用晶体三极管的开关特性，引导学生设计了能同时检测三极管好坏和类型的电路，并通过Multisim软件仿真，确定电路器件合适的参数。
将待测三极管插入接线孔中，若只有红灯闪烁，说明此三极管是好的且为NPN型；若只有绿灯闪烁，说明此三极管是好的且为PNP型；若两灯都不亮或是交替发光，则此三极管是坏的（内部断路或是击穿）。
最后通过面包板搭建实际电路，制作检测仪原型。
关键词：晶体三极管检测Multisim仿真1 活动背景晶体三极管是电子电路中常用到的元器件，使用前一般用多用电表分别检测三极管两个PN结正向和反向的电阻，由此推断出三极管的好坏（CE间断开或击穿）。
或者需要判断三极管类型时也要用到类似的方法。
部分学生感觉这样操作比较繁琐，于是萌生出一个想法：能不能设计一个能同时检测晶体三极管好坏及其类型的仪器呢？2 活动目标综合实践活动具有综合性、实践性、差异性和生成性等特点，注重学生在实践中发现并提升自身的潜能，使综合能力得到提升。
本次活动属于科技制作类型，因此确定了如下目标：（1）学会如何查找和筛选信息，培养简单的调查研究能力；（2）从合理人机关系出发，初步学会如何确定产品的功能；（3）在电路安装与调试过程中，锻炼学生的动手能力和问题解决的能力。
3 活动过程3.1 检测仪功能要求根据前期资料收集和分析，引导学生确立三极管检测仪以下功能：（1）只要将待测三极管三个引脚接入电路，就能判断出其好坏及类型；（2）操作方便、快捷、判断结果清楚直接。
3.2电路设计3.2.1操作面板设计根据功能需求，学生在电路中留出3个接线孔作为待检测三极管的接入口；用2个发光二极管的状态说明待测三极管的好坏及类型。
操作面板设计如图1所示。
3.2.2电路设计过程教师引导学生从系统设计的整体性原则出发，根据电子控图1 检测仪面板制系统的基本组成设计了以下三个组成部分。
【输入部分】由于检测结果是用灯光闪烁表现，则输入信号应该是有高低电平交替变化的。
我的DIYM8晶体管测试仪的经验（amoBBS阿莫电子论坛）
我的DIYM8晶体管测试仪的经验（amoBBS阿莫电子论坛）最近好几个网站都在DIY晶体管测试仪。
我前不久也用洞洞板做了一个，精度还可以10K AE金属箔电阻10K AE金属箔电阻(原文件名:nEO_IMG_100_6739.jpg)误差0.01%5K AE金属箔电阻5K AE金属箔电阻测试(原文件名:100_6743.JPG)误差0.24%2.5KAE金属箔电阻2.5K AE金属箔电阻测试(原文件名:nEO_IMG_100_6741.jpg)误差1.4%250RAE金属箔电阻250R AE金属箔电阻(原文件名:nEO_IMG_100_6740.jpg)误差0.4%除了电容，其它类型元件的测试和电阻一样，但是我没有精度可靠的元件，加上晚上拍效果不好就不拍了。
另外安装的时候因为螺丝滑丝了，直接用万能胶粘上了就不放裸照了这个晶体管测试仪也是根据一个德国人的开源项目做的，原始资料地址是 /articles/AVR-Transistortester这个网页有原理说明，原理图和源代码。
下面是我的其他元件的测试结果红色发光LED： Diode: A=2;K=1Uf=1967mV绿色发光LED： Diode: A=2;K=1Uf=2926mV整流桥1-交流；2-交流；3-负电压端：Double Diode CAA=3;K1=2;K2=1SR360:Diode: A=2;K=1Uf=209mV8050: NPN 1=E;2=B;3=ChFE=22 Uf=754mVTIP35C: NPN 1=B;2=C;3=EhFE=46 Uf=603mVBC557: PNP 1=C;2=B;3=EhFE=43 Uf=793mV2N7000： N-E-MOS C=0.12nGDS=231 Vt=1550m(V超出显示不出来了)电容没有电容表，所以无法确定测量精度，不过经过多个测试，感觉还可以104CBB： 100.23nF105CBB： 1.00uF104绿色WIMA：101.45nF0.47uF红色WIMA：507.15nF1uF红色WIMA：1.08uF225CBB：2.20uF47uF无极性电解电容：48.87uF22uF电解：21.53uF1000uF电解：1263.67uF （测试时间需10秒左右）6800uF电解：7099.87uF （测试时间需30秒左右）10000uF电解：9225.12uF （测试时间更长，其中几次还误报为小电阻，呵呵充电电流太小了）下面说说我的制作过程中的几个小经验原电路图：电路图(原文件名:Schaltplan_transistortester.png)其原来的设计是使用9V电池，但是我不用考虑外出携带，不在乎功耗，所以那几个3级管构成的开机电路我就取消了，直接使用内置小变压器供电。
时隔30年再作晶体管耐压测试仪
时隔30年再作晶体管耐压测试仪
我读初中时就迷上了无线电技术，上高中时就订阅了《无线电》杂志。
30年前，高中刚毕业，按照1984年第8期的《晶体管直流参数测试仪》，但那个时候材料匮乏，作出来的成品也很粗糙，用一个大盒子装着，很笨重，不适合携带。
现在翻看杂志，看到这片文章，萌生出再作一个的想法，说干就干，从网上淘来一个外壳，按照面板的大小设计一个贴纸；
原理图，是1984年第8期的《晶体管直流参数测试仪》
按照面板的大小设计一个贴
把贴纸贴到面壳上；
按照开关位置开孔；
装上开关；
用洞洞板焊的升压部分；
升压部分装到底壳上
焊接连线；
大功告成；
测试13003的Vcbo耐压值
测试13003的Vceo耐压值
大眼晶发表于 2014-9-30 20:30
变压器如何制作。
变压器室使用PQ2016的磁芯和骨架，按原理图的数据绕的，磁
芯不用磨气隙三极管用SS8050代替，输出二极管用的是SF18，D1要
2个串联使用。
变压器绕制方法：
雪茄烟发表于 2014-10-4 13:53
原图的波段开关你给简化了不知道效果如何。
写个改造说明多好。
由于只要了VCEO和VCBO的测试功能，可同时测试稳压管耐压值，所以电路简化了很多，见原理图：。
毕业设计(论文)-模拟电子技术—晶体管放大器设计
一、题目模拟电子技术—晶体管放大器设计二、基础数据1．放大倍数：AV=-502．集电极电阻：RC=2.4KΩ3．R1B=20KΩ4．R2B=20KΩ5．IBQ =1.01Aμ三、内容要求1、说明部分单管共射极放大器是一个一阶低通系统，随频率升高放大倍数下降，R b1、R b2偏置电阻钳制U B的电位，从而避免了因温度的升高对电流I c等一系列的影响，反馈电路稳定了静态工作点。
当给定倍数源时，实现小电流输入经过负载电阻大电压输出对输入信号起到了放大的作用。
2、计算部分（1）放大倍数（2）输入电阻（3）输出电阻（4）静态工作点3、绘图部分共射极放大电路图四、发给日期： 2008 年 4 月 18 日五、要求完成日期： 2008 年 6 月 13 日专业班级：___________ 学生姓名：___________ 指导教师：__________ 教研室主任：__________ 教务处处长：___________毕业设计（论文）答辩成绩专业：学生：题目：答辩成绩：答辩委员会主任：年月日指导教师对专业学生毕业设计（论文）的评语指导教师：年月日摘要电子设计自动化技术已渗透到电子系统和专用集成电路设计的各个环节，个中软件应用到电子设计，使电路的设计，调整和改进更加高效便捷。
简单分析了超外差式调幅收音机电路的工作原理及其组装和调试。
现在的S66E将原来的插座改为立体声耳机插座，电路原理图未变，步线有所调整。
更改后的收音机灵敏度更高、声音更洪亮、用途更广泛，适合MP3、单放机等机型所使用的耳机。
散件为3V 低压金硅管六管超外差式收音机，具有安装调试方便、工作稳定、生硬洪亮、耗电省等优点。
它由输入回路高放混频级、一级中放、二级中放、前置低放兼检波级、低放级和公放级等部分组成，接受频率范围为535KHZ~1605KHZ的中波段。
关键字:模拟电子技术共射极单管放大器静态工作点电压放大倍数最大不失真输出电压输入电阻输出电阻频率特性目录第一章晶体管放大器设计 (1)1.1设计原理 (1)1.2性能指标及测试方法 (3)第二章晶体管放大器设计过程 (8)2.1设计仪器与设备 (8)2.2设计步骤与要求 (8)2.3共射极单管放大器设计 (8)第三章电路安装与调试 (10)3.1电路板设计制作过程 (10)3.2安装电路 (12)3.3通电调试 (13)3.4测试数据与处理 (17)第四章课程设计总结 (18)第一章晶体管放大器设计1.1设计原理阻容耦合共射极放大器如图1-1所示，它采用的是分压式电流负反馈电路，R B为基极偏流电阻，提供静态工作点所需基极电流。
简易数字控制晶体管测试仪的设计
简易数字控制晶体管测试仪的设计∗荣军;何飞;张国云;丁跃浇【期刊名称】《电子器件》【年(卷),期】2015(000)002【摘要】A simple and digital control transistor tester is designed,the system uses a single chip ATmega328p as the control core,and the voltages that are sampled through its internal three-way ADC are process by the CPU and display by the LCD1602 dot graphic LCD. The system software adopts C language and uses the modular program-ming ideas,which has the function of stability,high accuracy and easy extensions and so on. The system has a key measurement function,and can automatically identify diodes,transistors,resistors,capacitors and inductors,then en-ters the parameter measurement mode automatically after identification. Finally,the system displays the parameters corresponding to the type of measurement components and the components of the pin through the LCD.%设计了一个简易的数字控制晶体管测试仪系统，该系统采用单片机ATmega328p作为控制核心，通过其内部三路ADC分别采样电压后送CPU处理后，通过LCD1602点阵图形液晶显示。
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摘要晶体管的出现在电子器件的历史上具有划时代的意义，在当今社会的重要性更是不容忽略，它实际上是所有现代电器的关键活动元件。
因而研究测量其参数的测试仪器的具有重大的意义。
在分析传统XJ4810 型晶体管特性图示仪的电路结构和功能实现的基础上，结合模拟和数字电子技术的特点，确立了整个系统构成。
本系统以凌阳16位单片机SPCE061A 为核心，其内部集成了两路10位DA和7通道的AD，用一路DA输出作为压控电压源的输入端，压控电压源的输出端作为集电极电压的控制端；另一路DA则作为压控恒流源的输入端，压控恒流源的输出端则作为基极的电流控制端。
用其中的两路AD分别采样基极和集电极电压，采样结果送CPU处理后再送液晶显示器显示。
系统采用的液晶显示器是LCM12664ZK点阵图形液晶模块，显示效果好。
系统软件采用C语言在凌阳单片机集成开发环境μ’nSP™ IDE 2.0.0上编程，利用模块化的程序设计方法编写系统各模块程序，使整个系统性能稳定，易于扩展。
本系统的压控恒流源和压控电压源都是采用运放构成，电路简单，精度能满足设计要求。
经测定恒流源的输出范围为±100uA，误差为±0.5uA；电压源的输出范围±10V, 误差为±0.02V。
本测试系统目前能够完成三极管管型和极性判别、输入、输出特性曲线、放大倍数等参数以及二极管一些参数的测定。
它具有功能稳定，精确度较高，易于功能扩展等特点。
关键词：SPCE061A；LCM12864ZK；晶体管参数；压控恒流源；压控电压源AbstractThe appearance of transistor has an epochal impact on the history of electronic element, and its significance could not ignore as the active component of all most of electronic devices. So, taking a research on the transistor tester for measuring its parameter has great importance.Based on the analysis of general configuration and working principle the tradition instrument XJ4810, combined with the analog and digital electronic technology, we ascertain the system’s structure. This system bases on SPCE061A, which contains two DAC and seven ADC, one DAC is used as the input of VCVS(V oltage Controlled V oltage Source), which output is used to control the voltage of collector. The other DAC is used as the input of VCCS(V oltage Controlled Current Source), which output is used to control the current of base. The two of seven ADC are used to sample the voltage of collector and base respectively, and the result is send to the display after processing of processor. This system used LCM12864ZK as the display, which has nice display effect. This system software is developed on Integrated Development Environment μ’nSP™ 2.0.0 using C langue, and we utilize the modularization method of program design to make the system stable function and to be pronged to other function.This system’s VCCS and VCVS are both compose of amplifier. The circuit is simple, and the precision can meet the demands of design. The result of experiments proves that the range of output current of VCCS is from -100uA to +100uA, the error is ±2.0uA and the range of output voltage of VCVS is from -10V to +10V, and the error is ±0.05V.The system can measure the type and polarity, the input characteristic curve, the output characteristic curve, and amplification of transistor parameter and diodes. It has the stable function and high accuracy. It is easy to be expanded its function.Key words：SPCE061A;LCM12864ZK;Transistor Parameter ;VCCS;VCVS目录引言 (1)1 设计任务及要求 (1)2 设计方案比较与论证 (1)2.1 系统构架比较 (2)2.2 显示方案比较 (2)2.3 受控源 (3)2.3.1受控源选择 (3)2.3.2电流源 (4)2.3.3电压源 (4)2.4 调理模块 (5)3 硬件电路设计 (5)3.1 凌阳16位单片机SPCE061A简介 (5)3.1.1SPCE061A单片机概述 (5)3.1.2内部结构简要说明 (6)3.1.3“61A”板介绍 (7)3.2 测量电路的设计 (8)3.3 压控恒流源电路 (9)3.4 压控电压源电路 (11)3.5 电压调理电路 (12)3.6 键盘和LCD显示电路 (13)4 系统软件设计 (14)4.1 系统软件设计概述 (14)4.2 端口分配 (16)4.3 液晶模块程序编写 (16)4.3.1LCM12864ZK介绍 (16)4.3.2基础驱动程序编写 (17)4.3.3用户API 功能函数编写 (18)4.4 功能模块编程 (20)4.4.1管型和极性的判别 (20)4.4.2直流放大倍数的测量 (21)4.4.3输入特性曲线测量 (22)4.4.4输出特性曲线测量 (23)4.4.5其它功能扩展 (24)5 系统调试及测定 (25)5.1 硬件调试方法及过程 (25)5.1.1调试仪器 (25)5.1.2调试过程 (25)5.2 软件调试及标定 (25)5.2.1恒流源测定 (25)5.2.2压控电压源的测定 (27)5.2.3AD电压采样的测定 (29)6 结果测量及分析 (30)6.1 测试仪器 (30)6.2 测试数据及分析 (30)6.2.1管型判别 (30)6.2.2放大倍数的测量 (30)6.2.3输入特性曲线的测量 (31)6.2.4输出特性曲线的测量 (32)7 总结 (33)谢辞 (34)参考文献 (35)附录 (36)引言50 年代起，电子器件出现了重大的突破，晶体管逐渐代替了电子管器件，使电子工业由电子管时代迈向晶体管时代，这是一次阶段性的飞跃。
随着晶体管的出现，测量其参数的测试仪器——晶体管管特性图示仪也相应而生，并随着晶体管的发展而发展。
晶体管的参数是用来表征管子性能优劣和适应范围的指标，是选管的依据。
为了使管子安全可靠的工作，必须注意它的参数。
晶体管特性图示仪是一种能在示波管屏幕上观察和测试半导体管特性曲线和直流参数的测量仪器。
目前学校教学使用的晶体管特性图示仪仍然是老式的体积庞大的模拟阴极射线管显示仪器，开发一种易用、便携、廉价的新型图示仪是具有现实意义的。
晶体管参数测试仪与其它电子测量仪器一样，也经历了全电子管式——全晶体管式——晶体管与集成电路混合式几个发展阶段。
1964 年，我国第一台电子管式的半导体管特性图示仪——JTl 型图示仪问世。
70 年代初．上海无线电二十一厂试制了QT2型晶体管式的图示仪，满足了半导体器件飞速发展的需要。
80 年代，以XJ4810型为主要代表的晶体管与集成电路混合式的半导体管特性图示仪问世。
它采用了CMOS 数字电路、D/A 变换器代替传统的RC 充放电电路，使阶梯波质量有了质的飞跃；采用直流光点扫描，避免了容性电流干扰，使微电流测试范围由1μA/div 扩展到20nA/div。
目前，晶体管测试仪正向数字化、智能化方向发展，具有LCD 显示、数字读出、光标测量的图示仪已经问世。
数字技术、计算机技术、微电子技术大量应用于图示仪中，使它成为智能化的自动测量仪器。
本系统定位于利用模拟与数字技术实现传统的晶体管参数测试仪的基本功能，尽力实现减小体积重量、性能稳定、参数测试准确、成本低、兼容性好的特点。
本系统以内部集成两路DA和7路AD的凌阳16单片机为核心，实现控制和数据采集，并通过液晶显示模块LCM12864ZK对各项参数和输入输出曲线进行显示。
1.设计任务及要求设计一个晶体管参数测试仪，实现以下功能：（1）能判别二极管好坏，极性；（2）能判别三极管管型，极性，好坏；（3）三极管β测量；（4）晶体管输入特性和输出特性测试；（5）利用液晶显示相关信息及曲线。
2.设计方案比较与论证针对课题要求，经过分析，我认为主要由六个功能模块来实现系统设计。
如图2.1所示。
图 2.1 系统功能模块图下面分别从系统构架、显示方案、受控源以及调理模块等主要模块对各个方案进行分析比较，得出最适合本设计要求的方案。