半导体器件机械和环境试验方法第23部分：高温工作寿命编制说明
7.GB-EN-IEC标准 温升寿命实验作业指导书
********有限公司实验室GB、EN、IEC标准《温升测试仪实验机》温升实验作业指导书文件编号：HHL-XYX-BZ-SOP-A/1-007版本：A/1编制人/日期：匡政审核人/日期：审批人/日期：受控状态：修订页1.0目的：确保机器安全使用，延长机器的使用寿命，保证机器的工作质量符合技术要求;2.0适用范围：2.1适用于色差评估改进实验机试验的操作；2.2适用于规定的实验人员及设备维护人员;3.0参考标准:GB/T 2099.1-2008《家用和类似用途插头插座第1部分：通用要求》;条款(19章、21章)/(IEC 60884-1:2006)GB/T 16915.1-2014 《家用和类似用途的电器的安全第1部分通用要求》;条款(17章、19章)/(IEC 60669-1:2007)；BS1363-2《13A插头、插座、转接器和接线苏第二部分：13A带开关和不带开关插座规格》条款16章；4.0试验前的条件：4.1使用的所有设备都必须以一年为周期进行调校，载有最后调校日期和调校周期的调校粘纸必须粘固在每一台仪器上；4.2 GB、EN、IEC等标规电源线插头和连接器温升测试；4.3输入电压：AC：220V±10%，50Hz；4.4工作电流：0～50A 任意可调；4.7输出负载电压：≤12V；4.8环境温度23℃±2℃，湿度50﹪RH—90﹪RH之内的环境温度下；4.9检查样机的完整性，零部件，配件，附件应齐全；5.0 操作步骤：A) GB试样品试验步骤：5.1.0测试设备:5.1.1变频稳压电源；5.1.2温升测试仪+热电偶线（K型或J型）5.1.3 UL胶水和催化剂（另其它无接线端子试样品采用）5.1.4 实验规格标准表表1状态10A250V插座16A250V插座测试标准测试标准寿命前第19章（表15，表20）第19章（表15，表20）1)测试电流：16A 1)测试电流：22A2)导线:插头1.0mm2插座1.5mm22)导线:插头1.5mm2插座2.5mm23)要求：≤45K 3)要求：≤45K寿命后第21章（表15，表20）第21章（表15，表20）1)测试电流：10A 1)测试电流：16A2)导线:插头1.0mm2插座1.5mm22)导线:插头1.5mm2插座2.5mm23)要求：≤45K 3)要求：≤45K注意事项：1.墙盒内预留80±10mm的导线，M4螺丝用8Kg扭力锁紧，M3.5螺比用5.3Kg的扭力锁紧；2.试验时间1H.表2状态10A250V一位单控开关16A250V带开关的插座（测开关部分）寿命前测试标准测试标准第17章（表15）第17章（表15）1)测试电流：13.5A 1)测试电流：20A2)导线:插头2.5mm22)导线:4mm23)要求：≤45K 3)要求：≤45K寿命后第19章（表15）第19章（表15）1)测试电流：10A 1)测试电流：16A2)导线:2.5mm22)导线:4mm23)要求：≤45K 3)要求：≤45K注意事项：1.墙盒内预留80±10mm的导线，M4螺丝用8Kg扭力锁紧，M3.5螺比用5.3Kg的扭力锁紧；2.试验时间1H.图一5.2测试程序:5.2.1温升测试前的准备：5.2.2被测试样按上表标准选用相应的试验规格线，按接线简示图接线;5.2.3先确定试样测试点位置，把热电偶和温升测试仪的电流输出端接在被试样品测量点部位；5.2.4连接到插座的电缆应从安装盒的顶部进入，进入点要用密封，防止空气循坏，安装盒内的，每要导线的长度为（80±10）mm;5.2.5规格类别：a)开关试样品试样前先按通开关，b)插座试样选用标规电源线插头插入试样中，c)插座带开关的试样既要按通开关和选用标规的电源线插头挺插入试样中；5.2.6接上AC220V电源，打开电源开关，仪表即有显示，按绿色启动按钮（ON）旋转电流调节盘，使电流显示为被测样品所需的试验电流值（在试验过程2%的范围内）；5.2.7开始温升试验，试验中每隔10分钟以上，观察电流表和测温温度，中途电流偏差太大需调整回来，1H小时后记录温升温度度；5.2.8试验完毕后，按红色停机按钮（OFF），切断输出电流，逆时针旋转电流调节盘至最小值处，待进行下一组试样；B) BS试样品试验步骤：5.1.0测试设备:5.1.1变频稳压电源；5.1.2温升测试仪+热电偶线（K型或J型）5.1.4负载试验箱；5.1.4滑线式变阻器50A0.13Ω；5.1.5直流稳压电源；5.1.6实验规格标准表表3状态13A250V方脚插座15A250V大三圆插座测试标准测试标准寿命前第16章第16章1)测试电流：20A 1)测试电流：15A2)导线:插头1.5mm2插座2.5mm22)导线:插头1.5mm2插座2.5mm23)要求：≤52K 3)要求：≤35K寿命后第19章（表15，表20）第19章（表15，表20）1)测试电流：20A 1)测试电流：15A2)导线:插头1.5mm2插座2)导线:插头1.5mm2插座2.5mm22.5mm23)要求：≤52K 3)要求：≤35K注意事项：1.墙盒内预留80±10mm的导线，M4螺丝用8Kg扭力锁紧，M3.5螺比用5.3Kg的扭力锁紧；2.试验时间4.1H.图二图三5.2测试程序:5.2.1温升测试前的准备：5.2.2被测试样按上表标准选用相应的试验规格线，按接线简示图接线;5.2.3先确定试样测试点位置，把热电偶和温升测试仪的电流输出端接在被试样品测量点部位；5.2.4连接到插座的电缆应从安装盒的顶部进入，进入点要用密封，防止空气循坏，安装盒内的，每要导线的长度为（80±10）mm;5.2.5规格类别：a)插座试样选用标规电源线插头插入试样中，b)插座带开关的试样既要按通开关和选用标规的电源线插头挺插入试样中；5.2.6接上AC220V电源，打开电源开关，仪表即有显示，按绿色启动按钮（ON）旋转电流调节盘，使电流显示为被测样品所需的试验电流值（在试验过程2%的范围内）；5.2.7开始温升试验，试验中每隔10分钟以上，观察电流表和测温温度，中途电流偏差太大需调整回来，4.1H小时后记录温升温度度；5.2.8试验完毕后，按红色停机按钮（OFF），切断输出电流，逆时针旋转电流调节盘至最小值处，待进行下一组试样；6.0注意事项：6.1测试线和插头电缆线不能用错规格；6.2感温导线的弯曲角度不能太大，否则容易折断；6.3为了检测数据的准确性，热电偶线接在电流输出线导体的后方中间位置；6.4插头刀刃要和试样品接触良好，插头电缆线不能放通风位置；6.5连接到试样的电缆应从安装盒的顶部进入，进入点要密封，用橡皮泥堵死，防止空气循环影响试样结果；6.6安装盒内的每根导线长度要预留（80±10）mm；6.7 M4螺丝用8Kg扭力锁紧，M3.5螺比用5.3Kg的扭力锁紧；6.8试验中，不要同时按住两个或两个以上的温度转化开关，否则会引起温度混乱；7.0维修与保养：7.1每同须对仪器进行维护管理及相关调节键功能的运行检查，并做好《点检记录》；7.2每次试验后将仪器的测试线放置好，并对本仪器进行清洁；7.3避免将本仪器放置在高温或湿度大的场合下使用。
关于电子电工产品的环境可靠性试验研讨会技术解答
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假设室温测试条件以参比温度 23℃、相对湿度 75％计；假 设不影响整体性能并保证鼠标正常工作的工作极限温度／湿度 范围内， 将加速条件设定为工作极限范围的上限值， 即高温 60℃ 和 70℃，在相对湿度为 95％和 85％情况下，根据上式计算出的 加速因子分别为：
高温贮存寿命 @TA=150 ℃ 耐潮湿 @TA=65 ℃,RH=98%
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（b）步进应力加速寿命试验:该试验方法是预先确定一组应力水平，各应力 水平之间有一定的差距，从低水平开始试验，一段时间后，增加至高一级应 力水平，如此逐级递增，直到试样出现一定的失效数量或者到了应力水平的 极限停止试验。 （c）序进应力加速寿命试验:该试验方法是将试样从低应力开始试验，应力 水平水试验时间等速升高，直到一定数量的失效发生或者到了应力水平的极 限为止。 上述三种加速寿命试验方法，以恒定应力加速寿命试验最为成熟。尽管这种 试验所需时间不是最短，但比一般的寿命试验的试验时间还是缩短了不少， 因此它还是经常被采用的试验方法。后面两种试验方法对设备都有比较高的 要求，试验成本比较高，因此目前开展的比较少。 (2)高加速寿命试验 高加速寿命试验（HALT）是目前比较先进成熟的寿命试验方法，属于步进应 力加速寿命试验，具体含义是指在产品设计和制造工艺设计过程中，在加速 测试环境下对产品施加所有可能达到的应力以期找到设计和制造工艺中的薄 弱环节，并针对每一个薄弱环节提供改进设计和制造工艺的机会，从而达到 缩短设计周期、提高可靠性和降低成本的目的。 可施加的应力包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频 率边际测试等。 典型的 HALT 试程包括以下几个过程： 1) 2) 3) 4) 5) 低温步进应力试验 ； 高温步进应力试验； 快速热循环试验； 振动步进应力试验 ； 综合应力试验 。
电网用IGBT器件高温反偏试验方法-编制说明
中电联团体标准《电网用IGBT器件高温反偏试验方法（HTRB）》编制说明（一）工作简要过程，任务来源、主要参加单位和工作组成员1 任务来源本标准根据中国电力企业联合会《关于印发2019年第三批中国电力企业联合会标准制订计划的通知》（中电联标〔2019〕303号文）下达的标准制定计划制定，项目计划编号T/CEC 20193003。
2 工作简要过程1）2020年5月28日标准编制工作组成立，在标准启动会议上，讨论了标准编写大纲，确定了标准的范围，明确了工作任务分配以及下一步工作计划。
2）2020年7月30日前，编制工作组完成了标准的草案的编制工作。
3）2020年9月16日，召开编制工作组讨论会，修改、完善标准内容后，形成标准的征求意见稿，并编写编制说明。
3 主要参编单位（排名不分先后）全球能源互联网研究院有限公司、国网北京经济技术研究院、中国科学院电工研究所、北京工业大学、华北电力大学、西安中车永电电气有限公司、株洲中车时代电气股份有限公司、南京银茂微电子制造有限公司、杭州中安电子有限公司、西安美泰电气科技有限公司。
4 工作组成员本标准主要牵头单位为全球能源互联网研究院有限公司。
在标准编制中，全球能源互联网研究院有限公司主要负责标准的调研、制定、试验及验证工作；主要负责标准的文本及格式的校对。
（二）标准编制原则和主要内容1 编制原则本标准为半导体器件机械和气候试验方法标准，属于基础标准。
本标准依据GB/T1.1－2020《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》给出的规则进行起草。
在标准撰写过程中，起草人员认真研究国内外相关标准，并广泛听取了国内相关单位的建议和意见，力求使本标准紧密切合工程实际，具有技术先进、适用性强的特点。
本标准考虑到电网用大功率IGBT器件的特殊性，对检测方法和要求进行更具针对性和更为详尽的规定和特殊要求，建立一套适用于电网用IGBT器件的高温反偏试验方法。
2 主要内容本标准规定了电学偏置、温度和压力随时间的变化对半导体器件影响。
寿命可靠性试验操作指导书范文
寿命可靠性试验操作指导书范文1 目的本试验的目的是确定:(1)寿命分布;(2)寿命加速特性;(3)失效率(入)水平。
2 设备应提供适当的插座和其他安装手段，使得在规定结构中被试器件引出端有可靠的电连接。
安装的方式应设计成器件内部的耗热不会通过传导方式消散，只能在规定的环境温度或在该温度之上通过器件引出端和必要的电连接散热。
设备应能在被试器件引出端上提供规定的偏置，并且若有规定时，还应监测输入激励。
电源和电流调节电阻器应至少能在整个试验过程中，只要其电源电压、环境温度等条件的变化在常规范围内，均能保持规定的工作条件。
试验设备最好应安排成使器件只出现自然对流冷却。
试验条件导致明显的功率耗散时，试验设备应设置成使每个器件产生近似平均的功率耗散，而不管器件是单独试验还是成组试验。
试验电路不必补偿单个器件特性的正常变化，但是应设置得使一组中的某个器件失效和出现异常时(即开路、短路等)不致对该组中其他器件的试验效果产生不良影响。
3 程序MEMS 器件应在规定时间内和试验温度下按规定的试验条件，并应在规定的中间和终点进行测量。
试验前选择的试验条件、时间、样本大小和温度应记录下来，并在整个试验中都应遵照执行。
3.1 测量测量应分为以下两类:A 类一初始和最终测量B 类一中间测量若无其他规定，全部测量应在器件移出规定试验条件后的8h 内完成，测量内容包括:A 类一全部规定的终点测量B 类一选择的临界参数A 类测量在试验开始时和最终测量时进行。
B 类中间测量对1000h 试验应在第4、8、16、32、64、128、256、512h 进行;对4000h 试验时还应在第1000 和2000h 进行。
3.1.1 寿命试验后的测量在进行了寿命试验条件后测量器件时，器件应在去掉偏置前冷却到室温。
重新加热器件之前应完成全部规定的25°C测量。
力。
3.1.2 试验装置监视应在试验开始和结束时在试验温度下监视试验装置，以保证全部器件按规定施加应以下是至少应进行的监视程序:a.器件插座在开始使用时和以后至少每隔 6 个月，都应检查每块试验板或座以证明接触点的连续性，从而保证偏置电源和信号信息加到每个插座上。
结温可控的晶体管稳态工作寿命试验方法研究
计、研制、生产、试验、筛选及验收等各个过程，均 制定了严格的要求、详细的技术规范和试验方法， 通过执行这些要求和方法保证电子器件满足系统 使用的技术要求，并在寿命周期内获得高的可靠 性 .其中晶体管稳态工作寿命试验是微电子器件 重要试验项目之一，国际标准、美国军用标准和我 国有关标准都将其规定为必须的试验项目［1 ~ 3］.
在此条件下由公式（2）推出的 Tj 达不到要求值，
即 Tj ! TJM Tj 的降低导致在规定的试验时间内
达不到要求的 F（ I），从而使一些可靠性水平可能
并不高的器件被误认为是高可靠性器件，给系统
应用埋下可靠性隐患 此外，值得指出的是，晶体
管的热阻并不是一个常数，试验过程中，器件的各
种物理、化 学 变 化 将 导 致 热 阻 增 大，使 Tj 超 过 T JM ，引入 新 的 失 效 机 理，使 试 验 的 可 信 度 降 低 "现行的稳态工作寿命试验控制壳温的方法，大 多采用金属散热器加风冷或水冷散热的方式，由
Tj = PtOt > Rt（h j-<） + T<
（2）
式中 PtOt 为施加晶体管额定功率；R 为 t（h j-<） 晶体
管结- 壳热阻；T< 为晶体管壳温
显然，现行试验方法存在如下问题：!按照试
验方法要求，Rt（h j-<）应为设计值，Tj 才能达到 TJM
而功率晶体管实际的 R 一 t（h j-<） 般都比设计值小，
VF
"
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Tl
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半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性-最新国标
半导体器件机械和气候试验方法1第9部分：标志耐久性范围本文件的目的是确定固态半导体器件上的标记，在使用和去除标签、或使用溶剂和清洗液（通常用于去除印刷电路板制造过程中的焊剂残留）后是否仍能清晰可读。
本文件适用于所有封装类型。
可用于鉴定和/或工艺监控。
本试验是非破坏性的。
电气或机械损伤可作为本试验的判据。
注1：本试验不适用于激光打标封装。
许多可用的溶剂要么活性不够，太严苛，或在直接接触或吸入烟雾时对人类有危险。
注2：相较常用的涂料和标记，本试验中使用的溶剂成分被认为是典型和具有代表性的。
2 规范性引用文件本文件没有规范性引用文件。
3 术语和定义下列术语和定义适用于本文件。
3.1溶剂A solvent A由下列物质组成的混合液：•一份体积的异丙醇；•三份体积的挥发性汽油（燃点大于60℃），或三份体积的80%体积煤油和20%体积乙苯构成的混合液。
注：溶剂应保持在20℃至30℃的温度。
3.2溶剂B solvent B半水溶性的溶剂（脱熔剂），例如萜烯、脂肪烃、高分子醇等，或经批准的任何等效溶剂。
3.3溶剂C solvent C由下列物质组成的混合液:a）两份体积的去离子水；b）一份体积的丙二醇单甲醚（实验室试剂级）；c）一份体积的单乙醇胺（实验室试剂级）。
注：溶剂应保持在63℃至70℃的温度。
12刷子 brush牙刷的柄由与溶液不起反应的材料制成 3.4。
注：刷子至少应有三行硬质刷毛，毛的自由端应基本在同一平面上。
每种溶剂应有专用的刷子，当出现变软、弯曲、 磨损或脱毛等迹象时，应更换刷子。
3.5刷力 brush stroke耐溶剂试验的刷力是正常的手压力，约0.6 N 到0.8 N 。
注：刷力方向是向前通过被试器件的标志面。
3.6胶带 adhesive tape窄条材料，通常用于粘贴、固定或紧固，具有以下特性:a ）物理特性—总厚度（mm ） 0.06；—伸长率（%）20；—拉伸强度（N/100mm ）440；—附着力（N/100mm ） 25 ～ 55；—使用温度（℃） 10 ～ 55。
气体检漏红外成像仪产品技术要求标准2023年
VOCs 气体检漏红外成像仪本标准规定 VOCs 气体检漏红外成像仪(以下简称成像仪) 的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于 VOCs 气体检漏红外成像仪。
该产品用于非接触测温，检测气体泄漏和热成像。
该产品可用于有瓦斯、煤尘爆炸危险的场景。
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。
凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。
凡是不注日期的引用文件，其最新版本 (包括所有的修改单) 适用于本文件。
GB 3836.1-2010 爆炸性环境第 1 部分：设备通用要求GB 3836.4-2010 爆炸性环境第 4 部分：由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.8-2014 爆炸性环境第 8 部分：由“n”型保护的设备GB/T 3836.22-2017 爆炸性环境第 22 部分：光辐射设备和传输系统的保护措施GB/T 19870-2018 工业检测型红外成像仪Q/GDW 11304.2-2015 电力设备带电检测仪器技术规范第 2 部分：电气设备检测用红外成像仪技术规范Q/GDW 11304.1- 2015 电力设备带电检测仪器技术规范第 1 部分：带电检测仪器通用技术规范GB/T 4208-2017 外壳防护等级 (IP 代码)GB4943.1—2011 信息技术设备安全第一部分：通用要求GB/T2423.1-2008 GB/T2423.2-2008 GB/T2423.3-2016电工电子产品环境试验第 2 部分：试验方法试验 A：低温电工电子产品环境试验第 2 部分：试验方法试验 B：高温环境试验第 2 部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.10-2019 环境试验第 2 部分：试验方法试验 Fc：振动 (正弦) GB/T2423.5-2019 环境试验第 2 部分：试验方法试验 Ea 和导则：冲击GB/T 17626.8-2006 电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验GB/T25480-2010 仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法GB/T 9969-2008 GB/T 191-2008 工业产品使用说明书总则包装储运图示标志3.1 防爆类型：VOCs 气体检漏红外成像仪，标记为“Ex ic nC op is IIC T4 Gc”。
IEC标准
IEC 标准.doc序号标准编号标准名称1IEC 747-12-1半导体器件第1节:用于光纤系统和子系统的带/不带抽头光发射/红外发射二极管空白详细规范2IEC 61300-2-26-1995光纤互联装置和无源部件基本试验和测量步骤第2- 26部分:减雾试验3ISO/IEC TR 15504-4-1998信息技术软件过程评估第4部分:对执行评估指南IEC 60512-23-3电子设备用机电元件，基本试验规程和测量方法第23-3部分:试验423C5 IEC 60432-1-1999白炽灯.安全规范.第1部分:家用和类似一般照明用钩丝灯6 IEC 60335-2-25-2002家用和类似用途电器.安全.第2-25部分:微波炉（包括组合微波炉）的特殊要求7IEC 61300-2-18-1995光纤互联装置和无源部件.基本试验和测量步骤.第2- 18部分:干热.耐高温试验8IEC 60317-54-2001特种绕组线规范.第54部分:聚酯漆包圆铜线155L级9 IEC 61300-3-25-1997光纤互连设备和无源元件.基本试验和测量程序.第3部分第25节:检验和测量.装配有光纤的金属加固环间的同心度10 IEC 60027-2-2000电气技术用字母符号第2部分：电信和电子学11 IEC 598-2-18照明设备第2部分:游泳池用和类似用途的灯具12 IEC 60695-2-10着火危险试验第2-10部分:基于灼热/发热丝的试验方法灼热丝设备及通用试验程序13 IEC Publication 747-6半导体器件分立器件和集成电路第6部分：闸流管14 IEC 60799电气附件软线组件和互连软线组件15IEC 60721-3-5 Classififcation of groups of environmental parametersand their severities- Section 5:Ground vehicle installations16IEC 61300-3-36-2000纤维光学互连器件和无原元件基本试验和测量程序第3-36部分:检查和测量光纤连接器套管内径和外经测量17IEC 60969普通照明用自镇流灯性能要求18IEC 1169-33射频连接器第33部分:BMA系列射频连接器的分规范19 IEC929修订2管形荧光灯用交流供电电子镇流器性能要求20IEC 61000-4-3-2001电磁兼容性(EMC)第4-3部分:辐射、辐射频率和电磁场抗扰试验21IEC 920-1993管型荧光灯镇流器通用和安全要求修订122IEC 60068-2-78 环境试验23IEC 61312-4-1998防止雷电电磁冲击第4部分:现有结构下设备的防护24IEC 60335-2-2-2002家用和类似用途电器的安全第2-2部分:真空吸尘器和吸水清洁电器的特殊要求25IEC 60512-1-2001电子设备用连接器-试验与测量第1部分:通用26 IEC878医用电气设备用的图形符号27IEC 60038 Edition 6. 2-2002 IEC 标准电压28IEC 1169-1射频连接器修订1第1部分:通用指标一通用要求和测量方法29IEC 61347-2-10灯的控制装置第2-10部分:高频冷起动管形气体放电灯(霓虹火管)用电子逆变器和变流器的特殊要求30IEC 60335-2-91-2002家用和类似电器的安全31IEC/PAS 61300-3-29-2002纤维光学互连器件和无原元件基本试验和测量程序第3-29部分:检查和测量表征DWDM元件的光谱传输功能振幅的测量技术32 IEC 60335-2-3-2002家用和类似用途电器的安全第2-3部分：电熨斗的特殊要求33 IEC 60601-2-30医用电气设备的安全要求第2-30部分：自动循环血压监视设备的安全要求34 IEC 884-1 Amendementl修订1家用和类似用途的插头插座第1部分:一般要求35 IEC 60364-1-2001建筑物的电气设施36IEC 61300-2-3-1995纤维光学互连器件和无源元件基本试验和测量程序第2-3部分:试验静态剪切力37IEC 603-2-1995卬制板用频率低于3MHz的连接器38IEC Publication 581-7高保真音响设备和系统最低性能要求第7部分：扬声器39 IEC 60664-1 Edition 1. 2-2002低压系统内设备的绝缘配合第1部分:原则、要求和试验40IEC 512-16-20电子设备用机电部件:基本试验程序和测量方法第16部分：触电和端接的机械试验第20节:试验16t-机械强度（无焊连接的引线端接）41IEC 598-2-7灯具第2部分:特殊要求第7节:庭园用便携式灯具42 IEC Publication 811-1-4电缆绝缘和护套材料的通用试验方法第1部分:一般使用方法第4节:低温试验43IEC 60335-2-4-2000修改1家用和类似用途电器的安全第2-41部分:温度不超过35?的液体泵的特殊要求44IEC Publication 716信号发生器特性的表示法45IEC 60335-2-44家用和类似用途电器的安全第2-44部分:熨平机的特殊要求46 IEC TR 61340-2-2静电第2-2部分:测量方法、充电率的测量47 IEC61300-3-27-1997纤维光学互连器件和无原元件基本试验和测量程序第3-27部分：多心连接器插头的孔位测量48 IEC 68-2-18环境测试第2部分:试验一试验R和指南：水49 IEC 61300- 3-5-2000纤维光学互连器件和无源元件基本试验和测量程序第3-7部分;检查和测量波长衰减函数50 IEC 61124可靠性试验-恒定失效率和恒定失效率密度的一致性试验51 IEC 61643-311低压浪涌保护装置元器件第311部分:气体放电管规范52 IEC 61260-1995电声学分倍频程和频程频带滤波器53IEC 60068-3-7 环境试验54IEC 868-0闪烁计0部分：闪烁严酷度评定55IEC 60748-4半导体器件-集成电路第4部分:接口集成电路56IEC 60695-4着火危险试验第4部分:着火试验术语57IEC 61747-5液晶和固态显示设备第5部分:环境、耐久性和机械试验方法58IEC 60728-1电缆分配系统第1部分：59IEC 61199单端荧光灯安全规范60ISO/IEC TR 15504-5-1999信息技术软件过程评估第5部分:评估模型和指示符指南61ISO/IEC TR 15504-8-1998信息技术软件过程评估第8部分:确定供方过程能力的使用指南62IEC 61076-3-100用于直流，低频模拟和数字高速流应用的连接器-第3- 100部分:通过质量评估的方形连接器-用于带有梯形外壳和在1. 27MM双行上的带状触点的-系列屏蔽连接器的详细规范63IEC 60424-1铁氧体磁芯表而不平度极限值的导则64ISO/IEC TR 15504-9-1998信息技术软件过程评估第9部分:词汇65IEC 335-2-40家用和类似用途电器的安全66IEC 60738-1-1-1998热敏电阻器-直热式阶型正温度系数第1-1部分:控白详细规范：限流应用评定水平EZ67IEC 61000-4-6电磁兼容性第4-6部分:试验和测量方法，抗射频场引起的馈电线感应干扰68IEC 60335-2-12-2002家用和类似用途电器的安全第2-12部分:保温板和类似器具的特殊要求69ISO/IEC TR 15504-6-1998信息技术软件过程评估第6部分:评估员资格指南70 IEC 68-2-56环境试验第2部分:测试-用于设备基础Cb测试的潮热、稳态测试71 IEC 60335-2-62-1998修订2家用和类似用途电器的安全第2-62部分:商用电洗池的特殊要求72IEC 60068-4 AMENDMENT 2-1994修订2基本环境试验规程第4部分:供规范编制者用的资料试验概述73IEC 61169-32射频连接器第32部分:具有螺旋耦合的外导体的内直径为l,85mm(0. 072in)的射频同轴电缆连接器74IEC 60335-2-81-2002家用和类似用途电器的安全第2-81部分：暖脚器和加热垫的特殊要求75IEC Publication 598-2-7-补充1照明设备第2部分:特殊要求第7节：公园用便携式照明设备76IEC 60664-4低压系统中设备的绝缘配合第4部分:关于高频电压应力的考虑77 IEC 61000-6-1-1997电磁兼容(EMC)-第6部分:通用标准第1节:住宅商业和轻工业环境的抗扰性78IEC 60245-6 Amendment 1 rubber insulated cables-Rated voltages up to and including 450/750v- Part 7: Heat resistant ethylene-vinyl acetate rubber insulated cables79ISO/IEC 12207-1995 INFORMATION TECHNOLOGY - SOFTWARE LIFE CYCLE PROCESSES - AMENDMENT 180IEC 60695-2-13着火危险试验第2-13部分:基于灼热/发热丝的试验方法材料的灼热丝起燃性试验81IEC 1000-5-1-1996电磁兼容(EMC)-第5部分:安装和缓解导则第1节:一般考虑EMC基础出版物82IEC 60990-1999接触电流和保护导体电流的测量方法83IEC 747-8-2-1993半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管第2节：用于规定外壳功率放人器应用的场效应晶体管空白详细规范84IEC 721-3-6-1991 AMENDMENT 1 CLASSIFICATION OF ENVIRONMENTAL CONDITIONS PART 3:84IEC 60730-1家用和类似用途的自动电控制-第1部分:总要求86 IEC 1309家用深油炸锅，性能测试方法87IEC 61747-3-1液晶和固态显示器件-第3-1部分:液晶显示(LCD)元件-空白详细规范88IEC 1076-4-101直流、低频模拟应用及高速数据率的数字应用中用的带有质量评定的连接器89IEC 721-1 Classification of environmental conditions Part1:Environmental Parameters and their severities90 IEC 748-3 IEC748-3补充2半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路91 IEC 747-11 IEC 747-11补充1半导体器件第11部分:分立器件分规范92IEC 60312家用真空吸尘器、性能测试方法93IEC 60998-2-2002家用和类似用途低压电路连接器件第2-2部分:作为单独分立件的带有无螺纹型夹紧装置的连接器件的特殊要求94IEC 721-2- Classification of environmental condtions part2:Environmental conditions appearing in nature. Fauna and flora94IEC 61300-2-16-1995纤维光学互连器件和无源元件基本试验和测量程序第2-16部分;试验霉菌生长95IEC 60384-8修改2电子设备用固定电容器第8部分:分规范：1类陶瓷介质固定电容器96IEC 61326测量、控制和实验室用电气设备电磁兼容性要求97IEC 61300-2-41-1998纤维光学互连器件和无原元件基本试验和测量程序第2-41部单模调整式无角度光纤连接器衰减的筛选分:试验98IEC 601-2-27医用电气设备的安全要求第2部分:对于心电图监控设备安全性的特殊要求99IEC 61000-3-2-2001电磁兼容性(EMC)极限值谐波电流辐射的极限值(输入16A/相)AMD1-97, AMD2-98100IEC 605-3-2设备可靠性试验第3部分:优先试验条件在气候保护场所固定使用的设备-精模拟101IEC 884-1家用和类似用途的插头插座第1部分:一般要求102IEC 61076-4-103直流低频模拟和数字高速数据应用的连接器第4-103部分:带评定质量的卬刷板连接器-带屏蔽和2, 5MM基栅的两部分连接器详细规范104 IEC 60061-2 amend. 19灯头、灯座及检验其安全性和互换性的量规第2部分: 灯座105 IEC 61300-3-40-1998纤维光学互连器件和无原元件基本试验和测量程序第3-40部分:检查和测量带偏振保持尾纤连接器消光比106 IEC 60598-2-3灯具第2部分:特殊要求第3节:道路和街道照明用灯具107 IEC 60598-2-22灯具第2部分:特殊要求第22节:应急照明灯具108 IEC 1088超声压电陶瓷换能器的特性和测量109IEC 60300-3-5可靠性管理第3-5部分:应用指南-110IEC 748-2-9半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第9节:M0S紫外光可擦除电子编程只读存储器空白详细规范111IEC 60061-3 Amend. 26灯头、灯座及检验其安全性和互换性的量规第3 部分:量规112 IEC 61643-341低压浪涌保护装置元器件113 IEC 335-2-58家用和类似用途电器的安全第2-58部分:商用电洗碟机的特殊要求114 IEC 60027-1 AMENDMENT 1-1997电工技术用字母符号第1部分;总则115 IEC 68-2-1-1994修订2环境试验第2-1部分:试验A:寒冷116IEC 60335-2-31-2002家用和类似用途电器的安全.第2-31部分:排油烟机的特殊要求117IEC 61300-2-36-1995光纤互联装置和无源部件基本试验和测量步骤第2-36部分:试验易燃性（着火危险）118IEC 1000-2-4 电磁兼容119IEC 748-1-1993 Amendment 2 Semiconductor devices Integrated circuits Parti:General 120 IEC 60598-2-3-1997照明设备第2部分:特殊要求第3节:路灯和街灯照明设备121 IEC 60127-2-2003小型熔断器第2部分:管状熔断体122 IEC 60027-4-1985电气技术用字母符号第4部分:旋转电机用的量的符号123 IEC 60738-1-4-1998热敏电阻器直流式突变型正温度系数第1-4部分：空白详细规范敏感作用评估级别EZ124IEC 60721-3-2环境条件分类第3部分:125IEC 60081修订2双端荧光灯性能规范126IEC 748-20半导体器件-集成电路第20部分:薄膜集成电路和混和集成电路总规范127IEC 1000-2-1电磁兼容性第2部分:环境第1节公共电源系统中低频传导的干扰和信号的电磁环境说明128IEC 60885-1-1987电缆的电气试验方法第1部分：电压450/750v及以下电缆.软线和电线的电气试验129IEC 874-7光纤与光缆连接器第7部分:光纤连接器分规范-FC型130IEC 721-3-7 CLASSIFICATION OF ENVIRONMENTAL CONDITIONS- PART 3: 131 IEC 384-14修订1分规范:抑制电磁干扰与电源连接的固定电容器132 IEC 60898-1 修定1电气附件家用和类似设施用的过电流保护断路器133 IEC 60335-2-58修改1家用和类似用途电器的安全第2-58部分:商用电洗碟机的特殊要求134 IEC 61076-4-102用于直流，低频模拟和高数字流应用上的通过质量评估的连接器135 IEC 998-1家用和类似用途低压电路连接器件136IEC 60748-2-12 Semiconductor devices- Integrated circuits- Part 2- 12：Digital integrated circuits- Blank detail specification for programmable logic devices(PLDs) 137IEC 60754-1-1994电缆燃烧时释出的气体的试验第1部分:氢卤酸气体量的测定138IEC 384-8 1类瓷介固定电容器试验方法的选择和一般要求第八部分:分规范139IEC 68-2-69 Environmental testing- Part 2:Test~Test Te:Solderability testing of electronic components for surface mount technology by the wetting balance method 140IEC 1000-2-6电磁兼容(EMC)-第2部分:环境第6节:工业生产厂电源中关于低频导通骚扰的发射水平评定141IEC 61300-2-9-1995纤维光学互连器件和无源元件基本试验和测量程序第2-9部分;试验冲击142IEC 601-2-25-1993医用电气设备第2-25部分:心电图机安全专用要求143IEC 60730-2-9家用和类似用途的自动电控制第2-9部分:温度传感控制的特殊要求144IEC 1000-2-3电磁兼容(EMC)环境的描述-辐射和非网频率辐射传导现象145IEC 68-2-2-1993基本环境试验规程试验B： T-热146IEC 747-4 IEC747-4补充1半导体器件分立器件第4部分:微波二极管和晶体管147 IEC 625-2可编程序测量仪表的接口系统（字节串行、位并行）第2 部分:代码和格式惯例（一）148 IEC 512-1至9电子设备用接插件基本试验程序及测量方法149 IEC60335-2-99-2003家用和类似用途电器的安全第2-99部分:商用电炉罩的特殊要求150IEC 60227-2额定电压450/750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆151IEC 60335-2-90-2003家用和类似用途电气的安全第2-90部分:商用微波炉的特殊要求152IEC 335-2-8家用和类似用途电器的安全第2部分:第8节：电动剃须刀、电推子和类似电器的特殊要求153IEC 60884-2-4家用和类似用途的插头和插座引岀线154IEC 61300-2-29-1995纤维光学互连器件和无原元件基本试验和测量程序低2-29部分:试验低气压155IEC 60335-2-31家用和类似电器的安全第2-43节:衣服干燥机的毛巾架修订 1 156 IEC 921-1994 Ballasts for tubular fluorescent lamps 157 IEC 60335-2-47家用和类似用途电器的安全第2-47部分:商用电煮锅的特殊要求158 IEC 968-1991修改1普通照明用自镇流灯安全要求159 IEC 60027-3-2002电气技术用字母符号第3部分:对数量和单位160IEC 444-6石英晶体元件参数的测量第6部分;驱动水平依从关系（DLD）的测量161 IEC 60851-3绕组线试验方法第3部分:机械性能162IEC 61300-2-8-1995纤维光学互连器件和无源元件基本试验和测量程序第2部分:试验碰击163IEC 534-1, -3工业过程控制阀第一部分:总则第3部分:尺寸第一节: 二通球体控制阀的法兰距164IEC 920管型荧光灯镇流器通用和安全要求修订1165IEC 60300-3-11可靠性管理第3-11部分:应用指南-166IEC 60335-2-3家用和类似用途电器的安全第2-3部分：电熨斗的特殊要求167 IEC 60679-5-1评定质量的石英晶体控制振荡器第5-1部分:空白详细规范鉴定认可168IEC 60300-3-6可靠性和维修性管理第3部分:应用指南169IEC 512-12-6电子设备用机电部件基本试验程序和测量方法第12部分：焊接试验第6节:试验12F-机械焊接中抗溶剂和清洗剂的密封170IEC 61076-3-1999 IEC 61076-3直流低频模拟和数字高速数据应用的连接器第3部分:质量评定的矩形连接器-分规范171IEC 60417-2-1998-2002修订2设备用图形符号第2部分:原形符号172 IEC 60738-1-2-1998热敏电阻器直热式突变型正温度系数第1-2部分:空白详细规范加热元件应用评估级别EZ173IEC 60384-9修改1电子设备用固定电容器第9部分:分规范:2类陶瓷介质固定电容器174IEC Publication 868闪烁计功能和设计规范175IEC 748-2-10半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第10节:集成电路动态读/写存储器空白详细规范176IEC 61508-5家用和类似用途电熨平机性能测量方法177IEC 107-1A, 2A, 1B出口电视广播接收机技术标准指南第三部分电视广播接收机的电，声，光，色测量方法（第一册）上电视广播接收机推荐测量方法补充与修正178 IEC Publication 68-2-94环境试验：第2-9部分:试验太阳辐射试验指南179 IECQ QC 001003国际电工委员会电子元器件质量评定体系指导性文件180 IEC Publication 321在印制线路和印制电路板上安装的元件的设计和使用导则181 IEC 61300-2-31-1995 Fibre optic interconnecting devices and passive components- Basic testand measurement procedures- Part 2-31： Tests-Nucleae eadiation182IEC 115-1固定电阻器第1部分:术语和试验方法183IEC 60570灯具用电源导轨装置184IEC 512-11-14电子设备用机电部件;基本试验程序和测量方法第11部分:气候试验第14节:试验IIP-流动单气体腐蚀试验185IEC 384-2修订2电子设备用固定电容器第2部分:分规范:金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器186IEC 61000-4-16电磁兼容(EMC)-第4-16部分:试验和测量方法对频率范围0Hz-150KHz的导通、共膜干扰的抗扰性试验187IEC 60947-6-2低压开关设备和控制设备第6-2部分：多功能设备、控制和保护开关器件(或设备)(CPS)188IEC 1009-1家用和类似用途的有整体过流保护的剩余电流操作断路器第1部分:一般规则189IEC 60245-1修订2橡皮绝缘电缆额定电压450/750v及以下的橡皮绝缘电缆第1部分:一般要求190IEC 60747-4-2半导体器件-分立器件第4-2部分:微波二极管和晶体管-集成电路微波放大器-空白详细规范IEC 748-4-2 Semiconductor devices- Integrated circuits- Part 4：Interface integrated circuits- S191ection 2：Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters (ADC) 192 I EC 60068-2-43 环境试验第2-43 部分:试验，试验Kd:融点和连接件的硫化氢试验193IEC 721-3-3 Examples for practical application of the classification specified in this standard 194 IEC 68-2-6 环境试验第2-6 部分：试验Fc 和导则:振动195IEC 335-2-4-1993家用和类似用途电器的安全第2部分:第4节:离心脱水机的特殊要求196IEC TS 61895超声学脉冲多普勒诊断装置确定性能的试验规程197 IEC 61000-3-8电磁兼容性(EMC)第3部分:额定值第8节:低压设备用符号辐射级、频带和电磁干扰级别198 IEC 60061-3修订30灯头、灯座及检验其互换性和安全性的量规199IEC 61917电缆、电缆组和连接器、电磁屏幕测量指南200IEC 1185修订1电源用磁氧化物ETD磁芯尺寸201IEC Publication 747-3-1 Semiconductor devices Discrete devices Part3:Signal(including switching)and regulator diodes Section One-Blank detail specificationfor signal diodes, switching diodes and controlled-avalanche diode201IEC 61076-7用于直流，低频模拟和数字高速流应用的连接器-第7部分：通过质量评估的线缆插座附件,包括允许的资格和能力-部分规格202IEC 60081双端荧光灯性能规范203IEC 61810-1机电的非特定的有或无继电器第1部分:一般要求205 IEC335-2-41家用和类似用途电器的安全第2-41部分:温度不超过35?的液体泵的特殊要求206IEC 672-1陶瓷和玻璃绝缘材料第1部分:定义和分类207IEC 60906-1-1986家用和类似用途插头插座系统208IEC 60245-4 Amendment 1 Rubber insulated cables- Rated voltages up to and including 450/750v- Part 4:Cords and flexble cables209 IEC 61000-4-2电磁兼容性（EMC）第4-2部分:静电放电抗干扰试验210 IEC 730-2-6-1997修订2用于家用和类似应用上的自动化电器控制第2部分：自动化电气的特定需用211IEC 335-2-43家用和类似用途电器的安全第2-43部分:衣服干燥机的毛巾架的特殊要求212IEC 60061-2 amend. 20灯头、灯座及检验其安全性和互换性的量规第2 部分:灯座213 IEC 61300-3-6-2003纤维光学互连器件和无源元件基本试验和测量程序第3-6部分:检查和测量回波损耗214IEC 60311-2002家用和类似用途的电熨斗性能测试方法215IEC 60061-1 Amend. 28修订28灯头、灯座及检验其安全性和互换性的量规第1部分:灯头216IEC 60417-2 Amend. 1修订1设备用图形符号第2部分:原形符号217 IEC 512-6电子设备的机电部件基本试验程序和测量方法第6部分:气候试验和焊接试验218 IEC 60748-21-1997半导体器件集成电路第21部分:基于质量保证程序的薄膜集成电路和混合薄膜集成电路分规范219IEC Publication 747-3-1985 Semiconductor devices Discrete devicesPart 3:Signal（including switching）and regulator diodes220IEC 61300-2-39-1997纤维光学互连器件和无源元件基本试验和测量程序第2-39部分:试验对外磁场的敏感性221IEC 60384-1-1999电子设备用固定电容器第1部分:总规范222 IEC 60352-5-2001无焊连接第5部分:压入式连接一般要求，试验方法和使用指南223IEC 60335-2-30-2002家用和类似用途电器的安全第2-30部分:房间电暧器的特殊要求224IEC 61300-3-24-1999纤维光学互连器件和无源元件基本试验和测量程序第3-24部分:检查和测量采用偏振保持光纤连接器键入准确度225IEC 61300-3-35-2002光纤互连器件和无源部件.基本试验和测量程序.第3-35部分:检验和测量.光纤园柱状连接器端而视频检验.226IEC 61300-2-38-1995纤维光学互连器件和无原元件基本试验和测量程序第2-38部分:试验加压式纤维227IEC 512-10-4用于电子设备的机电元件-基本的测试程序和测量方法- 第10部分:密封测试（任意元件），静态负载测试（固定），耐力测试和过载测试-第4节测试10d:电气过载（连接器）228IEC Publication 68-2-54基本环境试验程序第2部分:试验试验Ta:焊接-用润湿平衡法进行可焊性229IEC 60332-3-10-2000着火条件下电缆的试验第3-10部分:垂直安装的成束电线或电缆的垂直火焰蔓延的试验仪器230IEC 61000-2-11电磁兼容性(EMC)第2部分:环境第11节:HEMP环境分类231 IEC Publication 788医用放射学、术语232IEC 60332-3-22-2000着火条件下电缆的试验第3-22部分:垂直安装的成束电线或电缆的垂直火焰蔓延的试验种类A233IEC 60335-2-7-2002家用和类似用途电器的安全第2-7部分:洗衣机的特殊要求234 IEC 61300-2-14-1997纤维光学互连器件和无源元件基本试验和测量程序第2-14部分:试验最大输入功率235 IEC 1169-1-1射频连接器第1-1部分：多系列，两种语言的空白详细规范236 IEC 60512-1-1000电子设备用连接器-试验与测量第1-100部分:通用-适用岀版物237 IEC 61000-4-14电磁兼容(EMC)-第4-14部分:试验和测量方法-电压浮动抗扰性试验238IEC 60684-1-2003绝缘软管第1部分:定义和一般要求239IEC 748-11-1990半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路(不包括混合电路)分规范240IEC 61000-4-8电磁兼容性第4-8部分:试验和测量方法电源频率磁场抗扰试验241 IEC 928灯附件管形荧光灯用交流六供电电子镇流器一般要求和安全要求242 IEC 60417-2设备中使用的图形符号第2部分:符号原形243IEC 60748-21半导体器件集成电路第21部分:基于丿贡量保证程序的薄膜集成电路和混合薄膜集成电路分规范244IEC 60320-2-3家用和类似的一般用途电器连接器第2-3部分：高于IPX0 保护的连接器245IEC 60335-2-54家用和类似用途电器的安全第2-54部分:用液体的表而清洁电器的特殊要求246JIS C 0021:1995 (IEC 68-2-2:1974)-1995 基本环境试验程序第2 部分：试验试验B:干热247IEC 60335-2-81-2002家用和类似用途电器的安全第2-81部分:暧脚器和加热垫的特殊要求248IEC 807-2修订1频率低于3MHz的矩形连接器第1部分:总规范一般要求和有质量评定要求的连接器详细规范的编写指南249IEC 61300-3-34-2001纤维光学互连器件和无原元件基本试验和测量程序第3-34部分:检查和测量随机插配连接器的衰减250IEC Publication, 1,,直接作用模拟指示电测量仪表及其附件第2部分：电流表和电压表的特殊要求251IEC Publication 68-2-54软钎焊性试验:环境:环境试验：电气元件:烙铁加热锡焊:电子设备及元件:润湿;试验设备;试验条件;软钎焊；电子工程；电气工程；材料试验;试验252 IEC 60598-2-2灯具第2部分:特殊要求第2节:嵌入式灯具253IEC 384-8-1电子设备用固定电容器第8-1部分:空白详细规范：1类陶瓷介质固定电容器评定水平E254IEC 60364-6-61建筑物的电气设施第6部分:检验-原始检验255 IEC60512-20-2用于电子设备的机电元件-基本的测试程序和测量方法-第20-2部分: 测试20b-易燃性测试-防火性256IEC 60268-13声系统设备第13部分:扬声器的听音试验257IEC 115-8-1989电子设备用固定电阻器第8部分:分规范、片式固定电阻器258IEC 748-1-1995 Amendment 3 Semiconductor devices- Integrated circuits Part 1: General 259 I EC 1242电气附件家用和类似用电缆值260 IEC 60335-2-80家用和类似用途电器的安全第2-80部分:风扇的特殊要求261 IEC 60332-3-24-2000着火条件下电缆的试验第3-24部分:垂直安装的成束电线或电缆的垂直火焰蔓延的试验种类C262IEC 60332-1-1993着火条件下电缆的试验第1部分:单根垂直绝缘电线或电缆的试验263IEC 61300-3-10-1995纤维光学互连器件和无原元件基本试验和测量程序第3-10部分:检查和测量量规保持力264IEC 747-2-1半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第1节-具有规定环境和外壳的100A以内的整流二极管（包括雪崩整流二极管）的空白详细规范265IEC 60695-10-2着火危险试验第10-2部分:将火中电工产品不正常热的效应减至少最少的指南和试验方法266IEC 605-3-1-1986设备可靠性试验第3部分:优先试验条件室内便携式设备-组模拟267IEC 1312-1雷电电磁冲击防护第1部分:通用规则268IEC 998-2-1家用和类似用途低压电路连接器件269IEC 335-2-54-1995家用和类似用途电器的安全第2-54部分:用液体的表而清洁电器的特殊要求270IEC 60384-8-1-2000修订2电子设备用固定电容器第8-1部分：空白详细规范:1类陶瓷介质固定电容器评定水平E271IEC 60335-2-42家用和类似用途电器的安全第2-42部分:商用强制对流电炉蒸汽锅和蒸汽对流烘炉的特殊要求272IEC 381-1修订用于电子设备的固定电容器第一部分:术语和试验方法273IEC 721-2-1 CLASSIFOCATION OF ENVIRONMENTAL CONDITIONS PART 2: 274IEC 61000-3-2 :2000+Al:2001电磁兼容性第3-2部分:额定值-辐射谐波电流的额定值（设备输入电流为16A/相位）275IEC 60335-2-87家用和类似用途电器的安全第2-87部分：电击晕动物设备的特殊要求276IEC 60317-16-1990特种绕组线规范第16部分:155级聚酯漆包扁铜线277IEC Publication338耗量和需量的遥测278IEC 61558-1功率变压器、电源单元和类似设备的安全性第1部分:通用要求和测试方法279IEC 512-2-1994修订1用于电子设备的机电元件-基本的测试程序和测试方法，第2部分:通用试验，电气连接和触点阻抗测试，绝缘测试和电压压力测试280 IEC 60456家用织物洗衣机测量性能的方法281IEC 60167-1964测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法282IEC 68-2-14基本环境试验规程试验N:温度变化修订1283IEC 335-2-9修订1家用和类似用途电器的安全第2部分:第9节:面包烘烤器、烤架、电烤箱和类似器具的特殊要求284IEC 68-1修订1环境试验第1部分:通则和导则285IEC 61032-1997外壳对人体和设备的防护检验用探头286IEC 60335-2-8-2002家用和类似用途电器的安全第2-8部分：电动剃须刀、电推子及类似电器的特殊要求287IEC 512-7电子设备用机电部件;基本试验程序与测量方法第7部分:机械操作试验和密封试验。
电子电气产品环境(气候)测试规范(2018)
电子产品环境（气候）测试规范目录一．目的和范围 (5)二．引用标准 (5)三．试验设备要求 (6)四．术语定义 (6)1.标准大气条件 (6)2.高温贮存试验 (6)3.低温贮存试验 (7)4.高温运行试验 (7)5.低温运行试验 (7)6.恒定湿热试验 (7)7.温度循环试验 (7)8.高温极限试验 (7)9.低温极限试验 (7)10.冷启动试验 (7)11.冷热冲击试验 (8)12.盐雾试验 (8)13.粉尘试验 (8)14.防水试验 (8)15.低气压试验 (8)16.符号定义 (8)五．规范内容 (9)1.一般试验步骤 (9)2.电梯相关产品、通用变频器、伺服产品 (9)2.1高温贮存 (9)2.2低温贮存 (10)2.3高温运行 (11)2.4低温运行 (12)2.5湿热试验 (13)2.6温度循环试验 (14)2.7低温极限测试 (15)2.8高温极限测试 (16)3.机器人产品 (18)3.1高温贮存 (18)3.2低温贮存 (19)3.3高温运行 (20)3.4低温运行 (21)3.5湿热试验 (22)3.6温度循环试验 (23)3.7低温极限测试 (24)3.8高温极限测试 (25)4.车载空调变频器 (26)4.1高温贮存 (26)4.2低温贮存 (27)4.3高温运行 (28)4.4低温运行 (29)4.5湿热试验 (30)4.6温度循环试验 (31)4.7交变湿热试验 (32)4.8低温极限测试 (34)4.9高温极限测试 (35)5.单板 (36)5.1高温运行 (36)5.2低温运行 (37)5.3低温极限测试 (38)5.4高温极限测试 (39)5.4湿热试验 (40)5.5.盐雾试验 (41)5.6高低温冲击 (42)6.可选试验 (43)6.1.粉尘试验 (43)6.2.低气压试验 (44)6.3.IP试验 (45)六．常见失效模式及失效机理 (47)七．电梯相关产品、通用变频器执行标准与OTIS51628差异及测试时间统计 (48)八.顺序应力试验 (49)九．注意事项 (50)一．目的和范围本文档描述了气候（环境）测试，包括高低温储存试验，高低温运行试验，湿热存储及运行试验，温度循环测试，高低温极限测试等。
半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分
半导体器件机械和气候试验方法第5部分半导体器件是现代电子技术中不可或缺的一部分。
它们在各种电子设备中起着至关重要的作用，从智能手机到电脑、汽车甚至太空探索。
为了确保这些器件能够在各种环境条件下正常工作，并具备可靠性和稳定性，机械和气候试验方法被广泛应用于半导体器件的研发和生产过程中。
机械和气候试验方法是一种通过模拟现实环境条件对半导体器件进行测试的方法。
它们旨在评估半导体器件在各种力学和气候应力下的性能和可靠性，并帮助制造商和研发人员了解器件在不同环境下的行为。
机械试验方法通常包括振动、冲击和压缩测试。
这些测试可以模拟半导体器件在运输、安装和实际使用过程中可能面临的力学应力。
振动测试可用于模拟设备在交通运输或车辆行驶过程中的震动。
冲击测试可以评估半导体器件在遭受意外碰撞或掉落时的性能。
压缩测试则可以模拟器件在受到外部压力或应力时的响应和可靠性。
气候试验方法则涉及到模拟不同气候条件下的环境因素，例如温度、湿度和气氛。
这些因素对半导体器件的性能和可靠性都会产生影响。
温度试验可以模拟器件在极端温度环境下的工作情况，如高温或低温。
湿度试验则可用于评估器件在高湿度环境下的稳定性和耐久性。
而气氛试验可以模拟不同气氛条件下，例如高空气压或化学物质暴露，对器件的影响。
综合考虑机械和气候试验的结果，可以对半导体器件的性能和可靠性进行全面评估。
这对于半导体器件的研发和生产至关重要。
通过了解器件在不同环境下的行为，制造商和研发人员可以进行相应的优化和改进，以提高器件的质量和可靠性。
然而，机械和气候试验并不仅仅是一个简单的测试过程。
它需要合适的设备和设施，以及专业的技术人员来执行和分析结果。
试验过程中的各种参数和条件也需要精确控制和监测，以确保测试结果的准确性和可重复性。
总结起来，机械和气候试验方法对于半导体器件的研发和生产至关重要。
通过模拟不同的力学和气候应力，可以评估器件在各种环境条件下的可靠性和稳定性。
这些试验结果能够帮助制造商和研发人员了解器件的行为，并进行相应的优化和改进。
可靠性环境试验
环境试验内容
· 冷热冲击试验与温度循环试验得区别
温度变化速率 循环次数 热平衡 试验时间 用途
使用设备
冷热冲击试验
急剧20～30℃/min 5～10个循环(多至1000循环) 正好到达(液槽式为到达) 短 1、膨胀系数不同引起得连接部剥离 2、膨胀系数不同龟裂后水分进入 3、水分渗入导致腐蚀及短路现象发 生得加速试验 冷热冲击试验箱
高温对产品得影响:老化、氧化、化学变化、热扩散、电迁移、金属迁 移、熔化、汽化变型等
低温对产品得影响:脆化、结冰、粘度增大与固化、机械强度得降低、 物理性收缩等
环境应力与失效得关系
· 2 湿度对产品得影响 高温高湿条件作用试验样品上,可以构成水气吸附、吸收与扩散等作用。
许多材料在吸湿后膨胀、性能变坏、引起物质强度降低及其她主要机械 性能得下降,吸附了水气得绝缘材料不但会引起电性能下降,在一定条件 下还会引发各种不同得失效,就是影响电子产品最主要得失效环境。
加速寿命实验
· 加速寿命试验得目得 · 半导体工艺技术得创新在近几年盲目得推进。 · 此外,由于最近要求缩短产品开发时间 · 作为产品开发产品可靠性处于相同得情况,必须在短时间内知道可靠性特
征。 · 基于这种情况下加速得寿命试验就是通过最小样品尺寸与最短得测试时
间来知道可靠性得方法。JIS标准定义“加速试验”就是“为了缩短测试 时间执行比标准条件更严酷得条件下进行得测试”。在严酷得条件下进 行测试可用少点样品在短时间内预测市场失效率,因而减少要求得时间与 费用证实可靠性。
少为5cm · GB/T 2423、1中低温得试验方法分:散热样品得温度渐变,非散热样品得
温度渐变 · 试验结束后需要将样品在箱体内恢复至稳定状态,或将样品放置在常温常