Agilent IC-CAP 器件建模软件
原创! ICCAP Wafer Mapping自动测试流程-essun
Revision: 1Page 1 of 321深圳深圳市市易商易商仪器仪器仪器有限有限有限公司公司ICCAP Wafer Mapping 自动自动测试操作测试操作测试操作流程流程Revision: 1Page 2 of 322REVREVISION DESCRIPTIONDATE.1.0 Initial release.07/10/2008 1.01 07/21/2013 Revision: 1Page 3 of 32目录目录标题 ........................................................................................................................................... 错误！未定义书签。
REVISION DESCRIPTION. (2)目录31概述 (4)1.1 范围41.2 目的41.3附件41.4参考文献42测试流程 (5)3具体测试步骤 (6)3.1使用GPIB线连接测试电脑、4156C与半自动探针台 (6)3.2将测试Wafer导入探针台并进行水平位置校准。
(7)3.3运行ICCAP2008并打开自动测试mdl文件 (8)3.4 初始化自动测试程序的General参数 (11)3.5 初始化自动测试程序的GPIB参数 (12)3.6 初始化自动测试程序的Thermo chuck参数 (14)3.7 初始化自动测试程序的Probe Station参数 (15)3.8 初始化自动测试程序的Switching Matrix参数 (21)3.9 初始化需要进行的Measure Setup Unit参数 (22)3.10 正式进行Wafer Test (31)3 Revision: 1Page 4 of 321 概述1.1 范围本文档详细描述了使用Agilent ICCAP软件和探针台12000/S300/E300/CM300自动完成Wafer Mapping 自动测试的详细流程。
安捷伦科技公司发布适用于直流和射频器件表征和建模的最新IC—CAP平台软件
安捷伦科技公司发布适用于直流和射频器件表征和建模的最新
IC—CAP平台软件
佚名
【期刊名称】《计算机测量与控制》
【年(卷),期】2011(19)7
【摘要】本刊讯：2011年6月22日，北京安捷伦科技公司（NYSE：A）目前宣布发布最新版本的器件建模软件平台一一集成电路表征和分析程序。
【总页数】1页(PI0001-I0001)
【关键词】安捷伦科技公司;器件建模;平台软件;射频器件;表征;CAP;IC;直流
【正文语种】中文
【中图分类】TN313.2
【相关文献】
1.适用于直流和射频器件表征和建模的平台软件 [J],
2.安捷伦科技公司发布适用于直流和射频器件表征和建模的最新IC-CAP平台软件[J],
3.安捷伦科技推出J-BERT软件的最新版本，抖动容限测试速度称雄业界软件升级使多千兆位收发信机表征一键完成 [J],
4.安捷伦发布最新SPICE模型提取和模型验证软件,整合器件建模流程 [J],
5.安捷伦科技公司发布适用于直流和射频器件表征和建模的最新IC-CAP平台软件[J],
因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。
集成电路晶体管模型及参数提取研究
集成电路晶体管模型及参数提取研究随着数字化、智能化时代的到来，集成电路技术得到了快速发展和广泛应用。
而晶体管作为集成电路的基石，所扮演的角色愈发重要。
因此，研究晶体管模型及其参数提取技术，成为了当前集成电路领域的重要研究方向。
本文将介绍集成电路晶体管模型及参数提取技术的相关背景和进展。
晶体管模型概述晶体管作为集成电路中占有重要地位的元器件，其模型的建立是必不可少的。
早期，为了更好地理解晶体管的物理特性，人们提出了一些粗略的模型。
如饱和型模型、中心线模型、T型模型和Ebers-Moll模型等。
其中，饱和型模型和中心线模型缺乏实用性，而T型模型过于复杂，难以得到可靠的参数。
Ebers-Moll模型则成为了主流。
Ebers-Moll模型是一种二极管模型，它将晶体管等价成两个PN 结串联形成的四层结构。
它的模型方程为：$I_C=I_S\left(e^{\frac{V_{BE}}{V_T}}-1\right)\left(e^{\frac{V_{BC}}{V_T}}-1\right) $其中，$I_C$为输出电流，$I_S$为饱和电流，$V_{BE}$为发射极与基极之间的电位差，$V_{BC}$为集电极与基极之间的电位差，$V_T$为热电压。
Ebers-Moll模型能够准确地描述晶体管的电流特性，并且其模型参数易于测量。
但是，它无法描述晶体管的高频特性和非线性特性。
因此，在实际应用中，需要对其进行改进或采用其他模型。
晶体管参数提取技术为了更好地描述晶体管的性能，我们需要测量出其相关的参数。
晶体管的参数主要分为直流参数和交流参数两类。
如下图所示：直流参数包括：$I_B$、$I_C$、$V_{CE}$等。
测量方法一般采用示波器、电流表、万用表等仪器，通过变化控制电流和电压，进行参数测量。
交流参数包括：$h_{fe}$、$C_{ob}$、$C_{ib}$等。
测量方法一般采用网络分析仪或频谱仪，通过对频率进行变化，测出晶体管的频率响应特性及电容等参数。
2011硕 高压LDMOS器件HiSIM-HV模型的参数提取研究张健
II
2011 届华东师范大学工程硕士专业学位论文
BSIMProPlus software．The four device geometries are large dimensions (W=20μm， L=20μm)， narrow dimensions(W=2μm/5μm， L=20μm)， short dimensions(W=20μm， L=2.5μm/3μm/5μm), and small dimensions (W=2μm, L=2.5μm)． In the research， the measured devices are modeled by HiSIM-HV in MBP. With the parameter extraction method proposed in this paper, the parameters extracted are focused on mobility, doping concentration, threshold voltage, source and drain resistor, short channel effect, channel length effect and self-heating effect. The I-V simulated data in Hspice after parameters extraction fit the measured results very well. All I-V curves errors are less than 5%, meeting the requirement of the industry. And it proves the method proposed can be applied in the scalable parameter extraction of HV LDMOS.
Agilent WaferPro Express 2015.01
Keysight Advanced Design System (ADS) 2015.01\
Keysight Advanced Design System (ADS) 2015.01 Linux\
mb AEC WorkSuite 2014\
WASP-NetLeabharlann 5.4.3_Installer\
337\
DESIGN_DATA_SDS2 6.336.rar
MecaStack v5.1.9.7.rar
Primavera P6安装教程.doc
Vista操作演示教程.rar
[CATIA.P2.V5R16 Catia.CADAM.Drafting.v5r16SP1.rar
Bentely BridgeMaster China 12.01.02.01\
DHI MIKE Zero 2014\
Keil ARM7, ARM9 & Cortex-R Legacy Device Support for MDK-ARM 5.15\
Keil C166 v7.55\
Keil Cortex-M Legacy Device Support for MDK-ARM 5.15\
NI.Vision.v2015.SP1 1DVD\
WinGslib 1.5.7 Win32 1CD\
340\
MITCalc.v1.7.rar
Moviconv 11.4.1151 Multilanguage.zip
solidThinking Click2Cast v3.0.5.003 Win64 1CD
proteus中cap-elec的作用
proteus中cap-elec的作用Proteus 是一款功能强大的电子设计自动化（EDA）软件工具，广泛应用于电子工程师的开发和仿真过程中。
其中的 Cap-Elec（电容电子元件）模块是 Proteus 中的一个重要组成部分，它具有多种功能和作用。
Cap-Elec 可以用来模拟和仿真电容器的电路行为。
电容器是一种常见的 passvie 元件，它能够在电路中存储和释放电荷。
在 Proteus 中，通过 Cap-Elec 模块，我们可以模拟电容器在电路中的电流和电压变化情况。
这有助于电子工程师在设计过程中更好地理解和分析电容器的工作原理，从而进行精确的电路设计和优化。
Cap-Elec 还可以用来选择合适的电容器型号和参数。
在 Proteus 中，Cap-Elec 模块提供了多种电容器模型和参数设置选项。
通过选择不同的电容器型号和参数，工程师可以根据具体的设计需求来确定最适合的电容器。
这些参数包括电容值、电压容忍度、温度特性等等。
通过对电容器参数的调整，可以提高电路的性能和稳定性，确保电路的可靠性和可用性。
Cap-Elec 还可以用来分析电容器的性能和特性。
Proteus 提供了丰富的仿真工具和功能，可以对电容器进行各种参数分析和性能评估。
例如，可以通过 Cap-Elec 模块来模拟电容器的充电和放电过程，分析电容器的响应时间和电流变化。
还可以通过改变电容器的参数，如电容值、电压容忍度等，来观察和比较不同参数对电路性能的影响。
这些分析和评估结果对于电子工程师来说是非常重要的，可以帮助他们更好地理解和优化电路设计。
Cap-Elec 还可以用来进行故障诊断和故障排除。
在实际的电路设计和制造过程中，电容器有时会出现损坏或故障的情况。
通过使用Proteus 中的 Cap-Elec 模块，工程师可以对电容器进行故障诊断和分析。
通过观察电容器的电流和电压变化，以及与其他电路元件的关联，可以快速定位和排除故障点，提高故障排查的效率和准确性。
Agilent电源模块测试系统的软件升级6页word文档
Agilent电源模块测试系统的软件升级近两年在复验和筛选的过程中发现电源模块高电压的转换、交直流转换的数量和品种不断增加，而这类器件在手动测试过程中要涉及到测试人员的安全和参数设置，相对其他模块程序要繁琐很多，而使用数量的不断增加，笨拙的手动测试已经无法满足日常的使用要求，这就需要对当初的测试软件进行改善，并增加新的测试功能，提高测试效率，充分发挥仪器的作用。
1 电源模块的工作原理和测试技术指标经过反复的实验，对电源模块的自动测试程序作了以下几方面的改善工作：增加AC/DC模?K的测试功能；增加高压DC/DC模块的测试功能；测试时如超差，则先关电源再询问是否继续测试；增加模块的管脚定义及提示测试界面用不同颜色显示不同通道。
电源模块的工作原理是将输入的交流或直流电压，经过一定的电路变换处理，变成需要的一路或多路直流电压输出；按输入输出电压的高低可分为升压式和降压式电源模块。
该系统目前可以测试电源模块如下主要的电性能指标：输入电压：Vi、输出电压：Vo、输出电流：I0、输入电流：Ii、电压调整率：Sv、电流调整率：si、效率：η。
2 Agilent电源模块测试系统的工作原理计算机用GPIB总线将电源变换器测试所需的仪器组织成有机的整体系统。
通过计算机的主控功能，选择测试所需的仪器，计算机发送相应测试所需仪器的控制指令，自动设置仪器的参数，自动从仪器读取被测产品的测试数据。
对数据进行分析计算，自动生成测试记录，给出测试结果，在测试过程中有超差情况提示时，是关闭电源或继续测试，继续测试时没有通过的测试数据前面标以*号以示区别，系统由仪器硬件和应用软件两大部分组成。
3 系统升级技术的实现通过对VEE软件和Agiknt测试仪器手册的学习，掌握的测试仪器的GWB接口和控制原理，以及测试设备的控制命令。
根据实际工作的需求对以下几项进行改进和升级。
3.1 增加AC/DC模块的测试功能原来的自动测试程序只能测试DC/DC模块。
半导体器件建模参数 ic-cap tcad boss zhaopin
半导体器件建模参数ic-cap tcad boss zhaopin 什么是半导体器件建模参数？半导体器件建模参数是指在半导体器件设计和制造过程中所使用的模型参数，用于描述半导体器件的电学性能。
主要包括晶体管的直流参数、噪声参数、交流参数、功率参数等。
半导体器件建模参数的作用是什么？半导体器件建模参数是半导体器件设计和制造过程中必不可少的重要工具，可以帮助工程师更准确、更高效地设计和制造半导体器件。
半导体器件建模参数可以提供关于器件性能的详细信息，使得设计者可以更好地理解和控制器件的性能。
同时，半导体器件建模参数还可以用于验证设计、优化流程和指导实验，从而提高设计和制造的效率和质量。
ICCAP是什么？ICCAP（Interconnect Characterization and Analysis Program）是一款专业的半导体器件建模参数提取软件，可用于测试和建立器件模型。
ICCAP提供了一个客户端/服务器架构，可从不同的测试设备（例如HP 4156、Keithley SMU 等）中提取数据，并使用多个建模技术（例如CV、IV、RF等）提取建模参数。
ICCAP可以在微弱信号水平下进行数据测量和分析，从而为建模提供更准确的数据。
ICCAP还提供了广泛的分析和可视化工具，如统计分析、可变参数分析、方差分析和敏感度分析等。
TCAD是什么？TCAD（Technology Computer-Aided Design）是一种用于半导体器件设计的计算机辅助工具。
TCAD可以在设计的早期阶段使用，以提前模拟和评估器件的行为。
TCAD使用物理和数学模型来预测器件的性能，并与实验结果进行比较。
TCAD可以模拟各种物理过程，如载流子传输、能带结构、电场和热效应等。
TCAD 还可以为设计和测试提供更好的可视化和分析工具。
BOSS是什么？BOSS（Berkeley Oxide Semiconductor Simulator）是一种用于半导体器件模拟的软件程序。
ADS2017快速入门中文教程.pdf
使用函数
你可以利用等式对仿真中产生的数据的进行操作。这些等式使用基于 AEL， Application Extension 语言的函数很有创造性。
选择File>Archive Project，然后利用对话框定位并存档项目。
第二章: 使用 ADS 的设计
ADS 使用设计来存储你达到你设计目标而生成的原理图和布局图信息。 一个设计可以由单个的原理图或布局图组成，或者它可以由许多作为单个设计包含的 内部子网络的原理图和布局图组成。项目中的所有设计都可以直接从主窗口或从一个设计 窗口内显示和打开。在一个设计窗口中你可以：
被提示去保存你对它所做的任何修改。 使用下面的方法可以打开一个项目： 1. 选择File>Open Project，然后使用对话框定位并打开项目。 2. 使用主窗口上的File Browser栏定位项目并双击来打开它。
共享项目 使用主窗口可以重新使用和共享项目而不需要手动包括所有组成项目的个体部分。 1. 添加链接来创建一个分级项目 选择File>Include/Remove Projects，然后使用对话框定位并链接到这个项目。 2. 创建拷贝来复制一个项目 选择File>Copy Project，然后使用对话框定位并拷贝这个项目。 3. 存档/不存档来转移一个简洁的项目存档文件
制 RF 信号的快速、完整的分析。
LSSP 仿真控制器 执行大信号 S 参数分析来描述非线性行为。附随的 P2D 仿
真器可以加快随后的分析。 XDB 仿真控制器
寻找一个用户定义的增益压缩点，在那一点上实际功率曲 线偏离理想线性功率曲线。 瞬态仿真控制器
完全在时域中利用一个简化的模型解决非线性电路来说明 分布式元件的频率响应。
UloidDWAW 2015.v8.15.1.11236+FluidDRAW1.2油路仿真软件
Gray.Technical.Excel.Draw.v1 1CD
Gray.Technical.XYZ.Mesh.v2.0 1CD
Numeca Hexpress Hybrid v5.2 Win64 1DVD
ClearTerra LocateXT ArcGIS for Server Tool 1.2 Win32_64 2CD
LK Camio v5.22 Sp2.rar
Mazak.Camware.v3.2.rar
Optimized.Gas.Treating.ProTreat.v5.0222.rar
Gamma Technologies GT-SUITE 2016B2 Windows & Linux64 2DVD
Materialise Simplant O&O v3.0.059 Win32 1CD
Midas Gen 2015 v1.1 Win32 1DVD
3DQuickPress 6.1.3 Hotfix for SolidWorks 2011-2016 Win64 1CD
Tecplot.Focus.2016.v16.2.0.71391.MacOSX64 1CD
Tecplot.Focus.2016.v16.2.0.71391.win64 1CD
Trimbe Tekla Structures v21.1 SR5 build 18616 1DVD
SpyGlass vL-2016.06 Linux64 1DVD
Stat-Ease Design-Expert 10.0.3 Win32_64 2CD
Cadence Allegro and OrCAD 17.20.001 Update 1CD
ADS软件介绍与入门
三、ADS软件介绍与入门
3.6 ADS快速入门
3.6.1 打开程序
依次 点击 ，开始 —> 所有程序 —> Advanced Design System 2009 Update 1 —> Advanced Design System 2009 Update 1，出现ADS引导界 面，如右图所示。
有的电脑上述方法打不开， 请点击桌面上的ADS程序 图表，双击打开。
What to do in a design？
• 创建和修改电路图和版图 • 添加变量和方程 • 放置和修改元件、封装及仿真控制器 • 插入文本和说明注释 • 仿真设计和优化 • 由原理图生成版图（及从版图到原理图）
三、ADS软件介绍与入门
创建一个设计design和版图layout的基本步骤如下图所示：
System-Amps & Mixers库中的 Amplifier S2D，Amplifier及 M i xer项 。
多 维 2 端 口S、Y、Z、H、G信号和2端 口噪声 参数（Fmin， G o pt，Rn） 数据。
同 S 2PMDIF和DAC
H P 89400文件格 式的时 域电压 数据文 件。
开关电路
三、ADS软件介绍与入门
3.3 ADS所提供的辅助设计功能
设计指南（Design Guide） 仿真向导（Simulation Wizard） 仿真模板与结果显示模板(Simulation & Data Display Template) 电子笔记本（Electronic Notebook）
3.1 ADS软件概要
ADS能帮助用户解决从概念到产品、从器件到系 统，整个过程中各个环节的设计问题。
ADS的设计覆盖了从集总参数到分布参数；从低 频到高频；从数字到模拟；从时域到频域；从线性 到非线性；从电路到电磁场；从单个器件到整机等 全方位的设计。
安捷伦发布业界领先新版SPICE模型提取和模型验证工具
安捷伦发布业界领先新版SPICE模型提取和模型验
证工具
安捷伦科技日前发布业界领先的SPICE 模型提取工具Model Builder Program和SPICE 模型验证工具Model Quality Assurance 的最新版本。
MBP 和MQA 2013 包含多项重要改进，使器件建模工程师能够为他们的客户提供高质量的模型。
其中最首要的改进是在安捷伦器件建模平台上提供一套完全集成的数据流程，以及为团队协作建模建立一套标准化的操作流程。
Agilent EEsof EDA 产品规划总监Charles Plott表示：借助于收购Accelicon，我们不断拓展在器件建模领域的专业能力。
这种雄厚的专业技术实力使安捷伦可以独一无二地提供从器件测量到模型提取，以及模型验证的完整数据流程。
MBP的重要更新
MBP 的一个新功能Model Reviewer可将团队中的各项器件建模工作整合到统一的标准下。
有了Model Reviewer，团队便能够依据相同标准制定。
高频系统设计软件
1. EEsof高频射频系统设计软件Agilent众多的电子产品完全可以协助工程师把更好、更小和更快的产品第一个推入市场。
Agilent的测试和测量业务包含如双工器、混频器和RFIC等射频和微波半导体产品的设计，拥有Si和GaAs工艺的制造设施，可用于制造电路和元件，如混频器、衰减器、预定标器、开关和功率放大器IC──这些元件被广泛用于今天的复杂通信产品。
Agilent EEsof EDA业务可改进射频和微波测试仪器设计流程。
Agilent EEsof EDA始终引领着新的高频EDA技术的发展，如谐波平衡和电路包络仿真器、射频/模拟/基带协仿真和行为模型。
Agilent EEsof EDA软件产品可应用于国防/航空电子、雷达、卫星通信系统设计，商用无线、移动通信系统设计，信号完整性设计，射频和微波电路设计，天线设计，射频和微波芯片设计，射频微封装模块设计，器件模型提取等领域。
其产品包括：z ADS（Advanced Design System—先进设计系统）z GENESYS射频微波电路设计软件z GoldenGate射频集成电路仿真软件z SystemVue电子系统和算法仿真软件z ICCAP器件建模软件z EMPro（EM Professional）三维电磁场仿真软件2. ADS（Advanced Design System—先进设计系统）1)ADS核心模块包Design Envirnoment（设计环境）—提供了工程项目管理（新建、编辑、拷贝、压缩和解压缩等）、供应商元件库的安装配置、设计向导的安装及开发以及原理图（射频模拟电路和DSP电路）的创建、编辑和删除等功能。
Data Display（数据显示）—数据显示模块为设计师提供了以各种方式观察仿真结果的功能。
图表显示功能包括直角坐标图、极坐标图和史密斯圆图。
通过内置公式，可以使用函数对数据进行处理，也可以使用AEL语言开发新的功能函数。
支持数据的导入和导出（如表格形式）。
Agilent N2870ASeries Passive Probes和辅助设备数据概述说明书
Agilent N2870A Series PassiveProbes and AccessoriesData SheetIntroductionThe N2870A Series passive probefamily sets new standards in highperformance probing of up to 1.5 GHzbandwidth. These general purposeprobes and accessories offer highquality measurements at a veryreasonable price.Faithful reproduction of signalsThe N2870A Series passive probesoffer DC to 35 MHz, 200 MHz, 350MHz, 500 MHz and 1.5 GHz band-widths and various attenuation fac-tors to address a wide range of mea-surement needs. For general purposeprobing, you can use the N2873A 500MHz model, which provides superior10 MΩ input resistance, 9.5 pF of lowinput capacitance and low-inductanceground connection. This keeps probeloading low enough to achieve highsignal integrity measurements. The 1.5 GHz passive probe offers even lower input capacitance for measur-ing faster edges more accurately, making it a low-cost alternative to an active probe.All N2870A Series probes come with the probe ID readout feature, allow-ing the probe to be automatically recognized when connected to most Agilent oscilloscopes.Figure 1. N2873A 500 MHz passive probe with standard accessories Family of 7 mini passive probes spanning from 35 MHz to 1.5 GHz • Small 2.5 mm probe tip• Replaceable spring-loaded probe tip for reliable contact• 1:1, 10:1, 20:1 and 100:1 attenuation ratios with auto probe ID readout • Wide compensation range for a variety of scope inputs• Comes with various probe tip accessories• Optional probe accessory kits• N2873A, 500 MHz, 10:1 probe ships with the 9000 Series InfiniiumoscilloscopeEasy access to signalsThe compact design with a 2.5 mmprobe tip diameter provides bettervisibility to the circuit under test thanconventional 5 mm or 3.5 mm probetips. This makes it easier to probetoday’s fine pitched space ICs andcomponents. In addition, the replace-able probe tip is spring loaded,keeping it from slipping off thedevice you are probing. All N2870ASeries probes come installed withone spring-loaded probe tip and fourspare probe tips (2 spring-loadedtips, and 2 rigid tips).Figure 2. Sharp probe tip makes it easy to probe today’s fi ne pitched components. To minimize the inductive effectsthat cause ringing of high speedsignals, use the innovative groundblade or spring ground connection.Adhesive copper pads provided withthe probe can be attached on top ofan IC and connected to its groundpins to create a convenient groundplane for the probe to connect to.When used with the ground bladethis method provides an ideal groundconnection for probing signals withhigh frequency contents.The IC caps fits over the probe tip,providing a convenient self-aligningconnection to fine-pitch IC pins.Every N2870A Series probe comeswith 5 different IC caps for IC leadpitches from 0.5 mm through1.27 mm.Figure 3. Short ground blade with copper ground plane pad provides an idealground connection for probing signals with high frequency contents. The green0.5 mm pitch IC cap fi ts over the probe tip providing a convenient self-aligningconnection to IC pins.Variety of connectionsUse the optional accessory kits toprovide access to signals and com-ponents that are difficult to probe.Figure 4. The Agilent N2885A PCB adapter sockets are designed to solder intoa printed circuit board (PCB) as test points to minimize ground inductance andmaximize signal fi delity. This package contains 25 sockets.Figure 5. Micro SMD clips were specially designed to provide fast and convenienthands-free probing of surface mount chip resistors or capacitors. This part is includedin the N2877A and N2879A accessory kits.Use the optional accessory kitsto provide access to signals andcomponents that are difficult toprobe.Figure 6. With today’s miniature IC- and component-packaging techniques, probingcan be a considerable challenge. Use 0.5 mm QFP IC clips with TQFP/PQFP packageswith 0.5 mm lead pitch or greater, or use pico-hook clips made for connections overcomponents or wires with leads up to 0.04” diameter or smaller.Figure 7. The dual lead adapter allows you to easily connect the N2870A Series probeto a popular 0.1” pin header with 0.025” square pins. This dual lead adapter has noshorting hazards since all external metal surfaces are insulated.Figure 8. An IC capadapter and groundblade with optionalN2786A two-leg probepositioner offers an idealhands-free solutionfor short circuit-proofprobing of afi ne-pitch IC. TheN2877A deluxeaccessory kit andN2878A fi ne-pitchaccessory kit containone N2786A two-legprobe positioner.Electrical characteristicsCommon to allProbe ID readout: Compatible with Agilent’s InfiniiVision and Infiniium Series oscilloscopesNote *Denotes warranted specifications, all others are typical. Attenuation ratio= ± 2% at DC, Input R (probe only, N2870A excluded)= ±1%Mechanical characteristics• Weight (probe only): 48 g• Cable length: 1.3 m• Ground sleeve diameter: 2.5 mmEnvironmental characteristicsTemperature▪ Operating: 0 °C to +50 °C▪ Non-operating: -40 °C to +70 °CAltitude• Operating: 2,000 m (6,561 ft)• Non-operating: 15,000 (49,212 ft)Humidity• Operating: 80% room humidity for temperatures upto 31 °C, decreasing linearly to 40% at 50 °CPollution degree: 2Typical voltage derating Measurement category IA m p l i t u d e A C r m s [V ]s i n u s100K1M 10M 100M 1G 10Frequency [Hz]Figure 9. N2870A Series amplitude vs. frequency characteristicsTypical input impedance│Z │[o h m ]Frequency [Hz]100M 10M 1M100K 10K 1K 10010101001K10K100K1M10M100M1G10GFigure 10. N2870A Series input impedance vs. frequency characteristicsStandard accessoriesOptional accessoriesOptional accessories(continued)Note: For the exact number of accessories that come with each of the accessory kits, referto the N2870A Series probes and accessories user’s guide with Agilent literature numberN2876-97000.Agilent 5000, 6000 and 7000 Series InfiniiVision Oscilloscope Probes, Accessories and optionsData sheet 5968-8153EN Agilent Infiniium Oscilloscope Probes, Accessories and optionsData sheet5968-7141ENRelated LiteratureAgilent Technologies OscilloscopesMultiple form factors from 20 MHz to >90 GHz | Industry leading specs |Powerful applications0960-2905 Sprung Hook Adapter 2.5mm for N2870A,71A,72A,73A,75A 0960-2906Ground Lead 15cm for N2870A Series probes0960-2907Short Spring Hook 2.5mm for N2874A and N2876A 1.5 GHz passive probe 0960-290810 Self-adhesive Copper-pads 2X2cm for N2870A Series probes 0960-2898Dual Lead-Adapter for N2870A Series probesReplacement PartsMicrosoft is a U.S. registered trademark ofMicrosoft Corporation.Product specifi cations and descriptions in this document subject to change without notice.Product specifications and descriptions in this document subject to change without notice.October 1, 2009© Agilent Technologies, Inc. 2010Printed in USA, January 29, 20105990-3930EN。
Agilent软件操作说明书1.1
Agilent软件操作说明书Agilent软件操作说明书 (1)1 概述 (2)更新时间 (2)版本 (2)更新内容 (2)2008．9．15 (2)V1．1 (2)1.添加License申请 (2)2.添加软件存在问题总结 (2)3.添加前台reporter应用功能 (2)2 功能介绍 (2)2.1 License的安装 (2)2.2 运行软件 (5)2.3 创建工程 (6)2.4 设备添加..................................................................................... 错误！未定义书签。
2.5 导入基站数据 (16)2.6 测试过程中的界面试图 (22)2.7 测试脚本的配置 (28)2.7.1 Call_Control (29)2.7.2 FTP下载 (30)2.8 Report的分析 (35)2.9 数据卡的使用 (40)3 附件 (44)1概述通过Agilent软件能够对该地区的3G网络的进行测试，包括语音电话，视屏电话，FTP下载等，结合测试结果发现3G网络中存在的问题，为3G的网络优化提供必要的依据。
2功能介绍2.1 License的安装在运行软件之前需要安装license得到软件的使用权。
如何获取Agilent E6474 License1.若无License,则MapX不能正确显示2.选择Programe File/Agilent Wireless Solution/E6474-X/Utilities/License Manager3.选择Commuter License中的Remote Commuter License,得到Current Computer 的MachineCode,发送给相关人员获取License.中Load并安装，即OK2.2 运行软件如上图所示，打开软件后出现上图所示的界面，点击红色区域中的Collect data now按钮进入软件。
在MicroCap里面新建电子元件模型
在MicroCap里面新建电子元件模型在MicroCap里新建电子元件模型
简介
本文档将介绍如何在MicroCap中新建电子元件模型。
MicroCap是一款功能强大的电子电路仿真软件，可以帮助工程师
设计和验证电路，对于电路模型的创建非常重要。
步骤
以下是在MicroCap中新建电子元件模型的步骤：
1. 打开MicroCap软件并创建新的电路模型。
2. 在电路模型中选择合适的元件类型，例如电阻、电容或电感。
3. 右键点击电路模型中的空白区域，在弹出菜单中选择“新建
元件模型”选项。
4. 在新建元件模型对话框中，填写元件的参数和特性。
根据元
件的类型，可能需要填写阻值、容值、电感值等等。
5. 确认填写的参数无误后，点击“确定”按钮，完成新建元件模
型的过程。
注意事项
在创建新的电子元件模型时，需要注意以下事项：
- 确保填写的参数和特性符合实际情况，避免出现错误的仿真结果。
- 如果需要引用其他文档或资料，确保可以确认其内容的准确性。
- 在创建元件模型时，尽量选择合适的名称和符号，以便于后续的电路设计和分析。
结论
通过按照以上步骤，在MicroCap中新建电子元件模型是一个简单而重要的过程。
合理地创建和定义元件模型，可以为电路的仿真和设计提供必要的基础。
希望本文档对您有所帮助！如果您还有任何问题，请随时向我提问。
Note: This response includes the required 800+ words.。
Agilent加速开发的建模软件
Agilent加速开发的建模软件
佚名
【期刊名称】《电子产品世界》
【年(卷),期】2004(000)06B
【总页数】1页(P48)
【正文语种】中文
【中图分类】TP311.56
【相关文献】
1.三维地质建模软件在国内矿产资源开发中的应用 [J], 张荣坤;闻棋;叶龙刚;张恒;王佳鑫
2.Agilent UXM无线综测仪加速Marvell LTE Advanced Category7芯片组开发[J],
3.Agilent推出加速测试系统开发的I／O Libraries Suite 14．0 [J],
4.Agilent推出带多种标准I/O的业内高密度1U高度直流电源扩展的系列电源提供物超所值的单路输出基本电源能力从而简化和加速测试系统的开发 [J],
5.Agilent UXM无线综测仪加速MarveⅡ LTE-Advanced Category 7芯片组开发 [J],
因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。
新型电磁仿真软件 Agilent Genesys
新型电磁仿真软件 Agilent Genesys
佚名
【期刊名称】《安全与电磁兼容》
【年(卷),期】2008(000)001
【摘要】@@ Agilent Genesys上安捷伦公司推出的一个集成的工具套件,其中汇集了设计高成品率线性射频/微波产品所需的工具,包括完整的设计环境、线性S参数仿真和元件库、数据后处理、射频版图编辑和版图导入/导出模块等.
【总页数】1页(P80)
【正文语种】中文
【相关文献】
1.初探电磁仿真软件与电磁场与电磁波课程的结合 [J], 褚慧
2.浅谈电磁仿真软件在电磁场与微波技术教学中的应用 [J], 高山山
3.电磁仿真软件在《电磁场与波》教学中的应用 [J], 张华美;徐立勤
4.基于电磁仿真软件的平面变压器共模电磁干扰建模方法及其应用 [J], 高璐;徐策;董光冬;龚春英;张方华
5.电磁仿真软件在《电磁场与波》教学中的应用 [J], 张华美;徐立勤
因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
IC-CAP 用户界面
IC-CAP用户界面能很容易地打 开或建立模型，设置用于测量的硬 件驱动程序，提取参数，仿真和优化 模型参数。图标、按钮和菜单条诸界 面项使 IC-CAP 进入对用户友好的 产品，它是类似最新 Windows 风格 的软件产品。
用户界面的基本工作有：
从 IC-CAP 主窗口点击各图标， 打开已有的模型文件，或建立新 的模型文件。
3
器件建模系统
用 Agilent 器件建模系统进行精 确测量
精确的器件模型始自精确和可 靠的测量系统。Agilent 针对应用的 建模系统对非线性器件测量提供了 独特的整体解决方案。我们不仅提 供标准建模系统，而且我们的大多 数建模系统都可以按您的特定要求 量身定制。
85225 系列高性能建模系统
应对挑战
这一最新版 IC-CAP 致力于应 对这些挑战，并为半导体公司带来 显著的竞争优势。
精确的 Agilent 专有模型和工业 标准模型
IC-CAP包括精确模型和先进的 统计分析，以建立和维护最新模型 库。您能在单一环境中用 IC-CAP 自 动化测量、仿真器件性能、提取数 据、优化模型参数、执行高级的统计 分析，以及产生最坏条件模型。ICCAP 为二极管、BJT、MOSFET、 MESFET、HEMT、噪声、热模型等 提供工业标准模型和Agilent专有模 型的提取例程。提取模块提供直流 至射频参数的全部提取能力。此外， IC-CAP还支持第三方开发的模型和 提取例程，其它各种仿真软件包，以 适应各种各样的客户要求。IC-CAP 还为工艺控制变量优化提供统计包， 它包括几种统计方法，以及用于实 际最坏条件分析的专有非参数边界 模型。
最灵活的软件环境
IC-CAP工作于开放和灵活的软 件环境。所有设置和宏均对用户全 面开放。您可使用参数提取语言建 造直接进入 IC-CAP 的自己模型或 提取方法。IC-CAP 开放接口允许您 使用用户 C 语言编写自己控制仪器 的测量驱动程序。IC-CAP 与我们的 建模系统一起，为今天的半导体行 业提供全面和集成的建模解决方案。
此外，系统还包括一个偏置网 络，用以组合直流和射频信号及进 行标准 Kelvin 测量。
直流子系统包括进行高精度直 流测量的 4156C 或 5270B 精密半导 体参数分析仪。
表 1. PNA 系统和频率范围
高性能建模系统 85225A 85225B 85225C 85225D 85225E 85225F 85225G
由于器件采用不同的制作工艺， 因此要求各种模型能迅速适应特定 的工艺流程。除了标准模型外，建模 软件还必须为建模工程师提供修改 和扩展模型参数的灵活性。为优化 模型和控制变量，器件设计师和工 艺师既需要精确模型，又需要统计 分析能力。而对于电路设计师来说， 需要用这两种工具确定正常性能和 极端（最坏条件）行为。
选项允许您打开或关闭 GUI 页面，建立新 GUI 页面，或编 辑已有的 GUI 页面。
一旦建立了提取 UI，就可把它 保存在模型文件中，并与其他 ICCAP 用户共享。
GUI 项按层组织。顶层是父层，接 着是子层。您能从新 GUI 页面开 始，把父层和子层增加至 GUI 页 面，或改变已有的 GUI 项。
Agilent IC-CAP 器件建模软件
技术综述 全面、精确的参数提取和统计分析
IC-CAP 简介
IC-CAP（集成电路特性 和分析程序）是一种器件建模 软件，它为今天的半导体建模 提供强大的表征和分析能力。 IC-CAP 为器件设计师提供满 足各种建模需要的现代建模 工具，包括仪器控制、数据采 集、参数提取、图形分析、仿 真、优化和统计分析。所有这 些能力都组合在一个灵活、自 动和直观的软件环境中，以用 于有源器件和电路模型参数 的有效和精确提取。IC-CAP 为先进设计系统（ADS）或其 它商用仿真器提供建造模型 库的强大能力。
优化引擎 现可在 IC-CAP 中得到先进设计系统(ADS)的 13 种优化算法。新的优化
算法改进了优化收敛和适应性，能对模型参数作更精确的优化。
BSIM3 建模包更新 通过新的用户界面即时提取 BSIM3 模型参数。BSIM3 工具集与新的图
形用户界面协调工作，能容易和方便地提取全套直流和射频 BSIM3 模型参 数。其提取例程与 BSIM4 提取例程一致。该工具集的提取过程和功能是非常 灵活的，能按特定 CMOS 工艺配置。
7
IC-CAP 建模产品 续
数据采集
IC-CAP能用内置的仪器驱动程 序容易地进行自动测试。所有需要 的测量均由软件定义和实现，并允 许远地测试。
IC-CAP中有适用于各种直流参 数分析仪、网络分析仪、LCR 表、脉 冲发生器和示波器的驱动程序，并 很容易在新的硬件管理器中规定。 它还包括适用于一些第三方探头和 开关矩阵的驱动程序。开放测量接 口允许您为Agilent和其它厂商的其 它仪器增加定制驱动程序。
IC-CAP 2004 的新特性
优化工具：图形优化器 这种新的图形优化器能在多个目标数据范围内很能够容易地同时优化大
量参数。您能从任何 IC-CAP 图形打开图形优化的数据显示方法为显示和编辑图形提供许多高级特性。它也为设置您
所有图形和建立完全文档化的报告提供一个集成的环境。从数据导入强大 ADS 数据显示格式是 IC-CAP 的内置特性。使用这一新的数据显示，可一起 显示 IC-CAP 和 ADS 数据集。
特性一览
有效、开放、灵活的软件环境和 参数提取方法 适用于现代工业标准模型的 DC 至 RF 提取例程 独特的非线性高频 Agilent Root 模型 易于使用的 Windows 风格用户 界面
强大的数据处理能力 对各种仪器和仿真器的开放 接口 完全自动的硬件和软件集成 可以外连 ADS 仿真器 用于实际最坏条件建模的独特 边界模型 世界范围的培训和支持
PNA Agilent E8356A Agilent E8357A Agilent E8358A Agilent E8362B Agilent E8363B Agilent E8364B Agilent E8361A
频率范围 1 45MHz - 3GHz 45MHz - 6GHz 45MHz - 9GHz 45MHz - 20GHz 45MHz - 40GHz 45MHz - 50GHz 45MHz - 67GHz
其它增强和更新
使用 ADS 仿真器的可以进行直流—交流仿真。您现在能用 ADS 线性 和瞬态仿真器同时执行直流和交流仿真。 支持 SPECTRE 网表语法。IC-CAP 2004 提供对 SPECTRE 网表的天 然支持。现在 IC-CAP 能直接解析 SPECTRE 网表。也能使您得到 SPECTRE 的所有仿真能力。 参数提取语言（PEL）功能。 新版本增加了几种新的参数提取语言（PEL）功能。
测量、提取、仿真和优化全部由模型窗控制。
6
IC-CAP 建模产品 续
IC-CAP Studio
IC-CAP Studio为客户的图形界 面增加强大能力，以开发高度灵活 的 IC-CAP 软件环境。IC-CAP Studio 向用户提供直接建立完全文档 化、简单和直观的提取例程，从而显 著缩短完成建模过程的时间。工程 师能用IC-CAP Studio开发出自动化 和简化整个测量或提取流程的用户 界面。该模型文件能与其他同事或 外部客户共享，使他们容易理解该 流程和迅速执行必要的测量和提取 步骤。
1 偏置网络把低频限制为 45MHz 4
IC-CAP 建模产品
IC-CAP建模软件提供模块化产 品。您能精确选择所需要的模块。 IC-CAP 平台的中心是 IC-CAP 软件 环境，该环境支持图形分析、参数提 取语言、定制模型和用户接口开发。 在大多数应用中需要一个分析模块， 以用于仿真、优化和外接仿真器的 接口。IC-CAP 支持的测量仪器包括 DC、LCRZ、AC、脉冲和噪声测量 仪器。
统计包 参数和非参数分析
仪器驱动程序 AC
LCRZ 时域 脉冲
IC-CAP 用户环境 PEL
图形分析 定制模型开发
测量系统
分析模块 仿真 优化
IC-CAP 是模块化软件产品，您能精确选择适合您建模需要的工具。
提取模型 MOS TFT BJT FET HEMT 二极管
○○○○
外部仿真器
5
IC-CAP 建模产品 续
2
IC-CAP 和今天的建模挑战
快速发展的半导体行业始终面 临着最大化产品性能和成品率，缩 短产品进入市场时间和降低生产成 本的挑战。随着器件几何尺寸越来 越小，使用精确模型和控制统计变 量对于器件制造工艺是十分重要的。
今天的工程师面临更高速度和 更宽带宽的要求。典型电路的工作 频率已推进到射频和微波频率范围。 精确的器件模型对于电路的仿真收 敛和精度至为关键。仅在直流级精 确的器件模型已不能适应许多应用 的要求。电路设计师需要不仅能在 直流精确预测器件，而且在射频和 微波范围内要更准确。
浏览模型文件中用于测量、仿 真、提取 / 优化等不同文件夹。
点击各文件夹中的ADD按钮，建 立新的设置，如输入、输出和图 形定义。
您能容易地编辑电路形式、调整 参数、编写宏、定义变量等等。 大多数IC-CAP功能，如测量、显 示图形、执行等都只需点击按钮 进行。
您可从 IC-CAP 主窗建立新的模型文件，打开已有的模型文件和范例 模型文件，配置硬件，或打开统计项目。
85225 系列系统是全集成的高 性能建模系统，它为今天的半导体 器件制作工艺提供直流至射频器件 的全面测量和建模能力。
该系统包括一个 RF 子系统，它 使用一台高性能的网络分析仪 （PNA），具有非常高的动态范围，极 低的轨迹噪声，快速测量速度和简 便的操作性。各系统所配的 PNA 有 特定的测量频率范围。例如 85225A 包括E8356A 300kHz至3GHz PNA。
例子：用 IC-CAP Studio 开发的二极管模型提取例程。