激光分析仪技术原理只是分享
激光扫描的工作原理
激光扫描的工作原理
激光扫描是一种利用激光束进行扫描的技术,可以用于测量、定位和识别目标物体的表面形状和特征。
激光扫描的工作原理如下:首先,激光器发射出一束窄而强大的激光束。
该激光束经过光路设计,使其具有一定的聚焦能力和扩散角度。
然后,激光束会被定向到目标物体上,并朝着目标物体表面发射。
当激光束照射到目标物体表面时,会与表面发生反射、散射和吸收等行为。
接下来,激光束反射回到激光扫描仪上的接收器中。
接收器会测量激光束的位置、强度和时间等参数,并将这些数据传输到计算机中进行处理。
计算机会根据接收到的数据,重建出目标物体的表面形状和特征,并生成对应的图像或三维模型。
激光扫描的精度和分辨率取决于激光束的质量、探测器的灵敏度和采样频率等因素。
此外,激光扫描还可以通过改变激光束的扫描角度和扫描速度等参数,来获取不同精度和分辨率的扫描结果。
总的来说,激光扫描利用激光束的特性,通过测量激光束在目标物体表面的反射和散射行为,实现对目标物体的测量和识别。
这项技术在测绘、3D建模、工业检测等领域具有广泛的应用。
激光粒度分析仪原理
激光粒度分析仪原理
激光粒度分析仪通过激光散射原理测定颗粒的大小分布。
其工作原理可分为激光散射、多角度散射和光散射模型解析三个步骤。
首先,激光粒度分析仪发射激光束,并使其经过样品。
当激光束与样品中的颗粒相互作用时,激光光束会在不同方向上被散射。
这种散射现象通常被称为Mie散射。
其中,大颗粒会散射激光光束较强的光强,而小颗粒则会散射较弱的光强。
其次,在激光散射中,多角度散射是关键。
激光粒度分析仪通过设置多个收集光探测头在不同角度上收集散射光,以得到从不同方向上散射的光强。
通过多角度散射的光强数据,激光粒度分析仪可以计算出颗粒的大小和分布情况。
最后,根据光散射模型解析得出的数据,激光粒度分析仪可以绘制颗粒大小分布曲线。
根据不同的分析需求,该仪器可以提供不同的参数和显示方式,如粒径均值、粒径分布图等。
总的来说,激光粒度分析仪利用激光散射原理和多角度散射技术,通过测量颗粒在不同角度上散射的光强来确定颗粒的大小和分布。
这种分析方法高效、准确,被广泛应用于颗粒物料的分析与研究领域。
激光分析仪技术原理
利用激光的高亮度和单 色性,进行长度、角度、
速度等测量。
利用激光的高能量密度, 进行切割、焊接、打标
等加工操作。
利用激光的生物效应, 如光热、光化学等,进
行医学诊断和治疗。
PART 02
激光分析仪的基本原理
激光分析仪的构成
激光发射器
用于产生特定波长的激光束, 是激光分析仪的核心部件。
激光技术概述
激光的特性
01
02
03
相干性
激光具有高度相干性,其 光波列的相位、振幅和偏 振状态一致。
单色性
激光的波长范围很窄,具 有极佳的单色性,适合用 于光谱分析。
高亮度
激光的亮度极高,能够在 远距离聚焦形成小光斑, 提高测量精度。
激光的种类
01
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03
04
气体激光器
以气体为工作物质,产生特定 波长的激光,如氦氖激光器。
信号放大与处理
为了提高测量精度和灵敏度,需要将光电转换器输出的微 弱电信号进行放大和处理。激光分析仪采用电子线路对信 号进行放大、滤波、调制和解调等处理。
数据采集与处理
激光分析仪通常配备高精度的数据采集系统和计算机软件, 可以对采集到的数据进行实时处理、分析和存储。
计算机技术
数据采集与控制
计算机通过数据采集卡和控制卡 等硬件与激光分析仪连接,实现 对仪器工作状态的控制和数据的
PART 05
激光分析仪的发展趋势和 未来展望
激光分析仪的发展趋势
技术创新
智能化发展
随着科技的不断进步,激光分析仪在技术 上不断创新,提高检测精度和稳定性,拓 展应用领域。
激光分析仪正朝着智能化方向发展,通过 引入人工智能和机器学习技术,实现自动 识别、自动调整和智能诊断等功能。
激光测量仪的工作原理
激光测量仪的工作原理
激光测量仪的工作原理是利用激光束的发射、传播和接收来测量目标物体的距离和位置。
其主要包括激光器、发射器、接收器和电子控制器这几个部分。
1. 激光器:激光测量仪使用的激光器通常是半导体激光器,其特点是体积小、功耗低、发射能量高。
激光器通过激活半导体材料,使其产生激发,从而产生一束高度聚焦的激光束。
2. 发射器:激光测量仪的发射器将激光束从激光器中引导出来,经过透镜系统进行聚焦和准直,使激光束变得更加稳定和准确。
3. 接收器:激光测量仪的接收器主要是用来接收激光束反射回来的信号。
接收器中通常包含光电二极管或光电探测器,能够将激光束的光能转化为电信号。
4. 电子控制器:激光测量仪的电子控制器负责控制整个测量过程。
它可以控制激光器的开关,以及接收到的激光信号进行放大、滤波和数字化处理,最后通过计算和数据分析得到目标物体的距离和位置。
运行模式:
1. 时差测量法:通过测量激光束反射回来的时间差,根据光在真空中的传播速度,计算出目标物体与测量仪之间的距离。
这种方法适用于测量较长距离。
2. 相位测量法:通过测量相位差,即测量激光束反射回来时的
相位与原先发射时的相位之间的差别,计算出目标物体与测量仪之间的距离。
这种方法适用于高精度测量。
总的来说,激光测量仪利用激光束的发射、传播和接收,通过测量时间差或相位差来计算目标物体的距离和位置。
其优点是测量精度高,测量范围大,适用于许多领域的精密测量和定位。
激光测试技术 原理(二)
激光测试技术原理(二)激光测试技术原理1. 激光的基本原理•激光(laser)是一种高度集中和定向的光束,其产生原理是基于激光器中的受激辐射。
•激光器由三个基本组件组成:工作物质、泵浦源和光学谐振腔。
•工作物质可以是固体、气体或液体,泵浦源向工作物质提供能量,光学谐振腔保持光波的相干性。
2. 激光测试的原理•激光测试技术利用激光束对被测物体进行扫描和测量,以获取关于物体特征和性质的信息。
•激光束可以通过光学透镜和反射镜进行聚焦和导向,使其经过被测物体并接收反射回来的光信号。
•接收的光信号经过光电转换后,就可以利用相应的信号处理和分析技术,获取被测物体的相关数据。
3. 激光测试的应用领域•激光测试技术在各个领域都具有广泛的应用。
•在制造业中,激光测试可以用于测量零件尺寸、检测表面缺陷,并对产品质量进行评估。
•在医学领域,激光测试可以用于激光成像、激光治疗和激光手术等应用。
•在环境监测中,激光测试可以用于大气污染物的检测、水质分析和地球观测等方面。
•在科学研究中,激光测试可以用于光谱分析、发射光谱测量和激光光谱学等研究。
4. 激光测试技术的发展趋势•随着科技的发展,激光测试技术也在不断演进。
•近年来,随着激光器的小型化和便携化,激光测试设备越来越普及和易用。
•同时,激光测试技术的精度和灵敏度也在不断提高,可以满足更多复杂和高精度测量的需求。
•未来,激光测试技术有望在汽车、航天、无人机等领域得到更广泛的应用,并为行业的发展提供支持。
结论通过本文的简要介绍,可以看出激光测试技术在不同领域具备广泛的应用前景。
随着技术的不断进步,相信激光测试技术将为各行各业带来更多的创新和发展机会。
让我们拭目以待,见证激光测试技术的未来!。
激光扫描测绘技术的原理与应用解析
激光扫描测绘技术的原理与应用解析一、引言地图是人类认知和探索世界的重要工具,而测绘技术则是制作地图的基础。
随着科技的发展,激光扫描测绘技术逐渐崭露头角,成为测绘领域的重要工具。
本文将对激光扫描测绘技术的原理与应用进行解析。
二、激光扫描测绘技术的原理激光扫描测绘技术是一种利用激光器产生激光束扫描地面或物体的技术。
其原理基于激光的高亮度、非常狭窄的束宽以及可控的扫描系统。
激光扫描测绘技术的核心是激光测距。
激光束经过衍射装置后,形成一束平行且聚焦的激光束,然后通过激光接收器接收反射回来的激光束。
利用光电转换装置将激光信号转化为电信号,然后测量激光到达物体和返回的时间差,即可得到距离信息。
通过测量不同位置的距离信息,可以构建出精确的三维模型。
三、激光扫描测绘技术的应用1. 建筑测绘激光扫描测绘技术在建筑领域有着广泛的应用。
利用激光扫描仪,可以快速获取建筑物的三维数据,包括立面、平面和内部结构。
这为建筑师和设计师提供了准确的数据基础,可以应用于建筑设计、规划和改造等方面。
2. 地质勘探激光扫描测绘技术在地质勘探中有着重要的作用。
地质勘探需要获取地形地貌的精确信息,而传统的测绘方法往往耗时且成本较高。
利用激光扫描测绘技术,可以高效地获取地质数据,包括地表形态、地下岩层等,提高勘探的效率和准确性。
3. 文化遗产保护激光扫描测绘技术在文化遗产保护方面也有着重要的应用。
许多文化遗产,如大型雕塑、古建筑等,需要进行精确的保护和修复工作。
利用激光扫描测绘技术,可以获取文物的高精度三维模型,为保护和修复提供准确的数据支持。
四、激光扫描测绘技术的优势与挑战激光扫描测绘技术相比传统测绘方法具有许多优势。
首先,激光扫描测绘技术能够高效地获取大量数据,大大提高了测绘的效率。
而且,激光扫描测绘技术具有高精度、非接触性和可重复性的特点,能够获取真实、可靠的数据。
然而,激光扫描测绘技术也存在一些挑战。
首先,激光扫描仪的成本较高,限制了其广泛应用。
激光分析仪技术原理
激光分析仪技术原理激光器是激光分析仪最重要的组成部分之一、它可以产生具有高相干性和单色性的激光束。
常见的激光器包括气体激光器、半导体激光器、固体激光器等。
激光器的发射波长、功率、光束质量等参数对激光分析仪的性能有着重要的影响。
样品是激光束与之相互作用的对象。
样品可以是气体、液体或固体等多种形式的物质。
当激光束与样品相互作用时,会发生一系列的光学和物理过程,如吸收、散射、荧光等。
这些过程中样品会吸收一部分激光能量,并发射出特定的光信号。
探测器是接收并测量样品发射的光信号的装置。
它可以是光电二极管、光电倍增管、光谱仪等。
探测器的选择要根据样品发射的光信号的特点来决定。
探测器接收到样品发射的光信号后,会转换成电信号,并经过电子学处理,得到与被测量相关的信息。
吸收光谱法是利用被测样品对激光光束的吸收特性来进行分析。
当激光光束通过被测样品时,样品会吸收特定波长的光,这部分吸收光的强度与样品中目标组分的浓度有关。
通过测量吸收光的强度变化,可以得到被测样品中目标组分的浓度信息。
荧光光谱法是通过测量被测样品在受激光束的作用下发射出的荧光光谱来进行分析。
当激光光束照射到被测样品上时,样品中的一些分子或原子可能会吸收光束的能量,并发射出特定的荧光光。
这些荧光光的波长和强度可以提供关于被测样品的信息。
拉曼光谱法是通过测量样品受激光束作用后发射的拉曼散射光谱来进行分析。
当激光光束入射到样品上时,样品中的分子或原子会发生振动、转动等运动,这些运动会导致光的频率发生变化,出现了拉曼散射光。
通过测量拉曼散射光的波长和强度变化,可以获得被测样品的结构和组分信息。
综上所述,激光分析仪的工作原理主要涉及激光器、样品和探测器三个主要部分。
通过选择合适的技术和分析方法,可以获取被测样品的相关信息,实现对样品的分析和检测。
激光多普勒测速仪(LDV)相位多普勒粒子分析仪(PDPA)
L2
在差动多普勒技术中,相交光束产生的条纹图
条纹间距:
f
F 2sin( / 2) s
LDV测速的关键参数,可用速度标定工具来检验
粒子速度: v fD f
椭球型控制体基本参数:
直径:
dw
4F d
宽度:
L1
dw cos(
/
2)
长度:
L2
dw sin( /
2)
8F 2 ds
1.2 激光多普勒测量原理
粒子大小和浓度测量:信号可见度法
信号底基幅值法
在多普勒信号中有可见度的定义: V Imax Imin I max I min
可见度和球形颗粒度的关系,可近似用第一类一阶贝塞尔函数的形式来
表示:
V 2J1(d p / f ) d p / f
J1:一阶贝塞尔函数 dp:粒子直径 f:干涉条纹间距
2.5 PDPA应用实例
PDPA测量喷射燃料粒子场
两束激光束相交处为测 量区域, 在该区域形成干涉 条纹, 喷雾场粒子通过该区 域, 接收探头接收到折射和 散射光信号, 经信号分析和 数据处理, 得到粒子速度和 粒径信息。
实验结果
左图为PDPA 测量粒径统 计分布结果, 横坐标为喷雾 粒径, 单位为μm, 纵坐标为 统计个数。
1. 由于是激光测量,对于流场没有干扰,测速范围宽, 2. 由于多普勒频率与速度是线性关系,和该点的温度、
压力没有关系; 3. 消除了由于散射光干涉带来的复杂问题; 4. 对采样体的精确确定,使得在测量粒子速度和粒径的
同时,也可以测量粒子的密度和体积流量; 5. 信号处理技术的优势提高了数据的可靠性; 6. 目前还只能被用在固体浓度较低的环境中。
全息摄影与普通摄影的区别
激光粒度仪原理讲解
综述:激光粒度仪的光学结构张福根(珠海欧美克科技有限公司广东519085,E-mail:*****************)摘要本文收集了国内外各种商品化激光粒度分析仪的典型光学结构,分析了它们的工作原理和性能特点。
其技术特征可概括为:经典傅立叶变换结构、透镜后傅立叶变换结构、双镜头结构、多光束结构、多波长结构、PIDS技术、球面接收技术、双向偏振光补偿技术和梯形窗口技术。
现有的各种激光粒度仪或采用上述技术中的一种,或者是两种甚至三种的组合。
关键词:激光粒度分析仪,光学激光粒度仪从问世到现在已经有近40年的历史。
相对于传统的粒度测量仪器(如沉降仪、筛分、显微镜等),它具有测量速度快、重复性好、动态范围大、操作方便等优点,现在已成为世界上最流行的粒度测量仪器。
目前全世界约有15家企业生产激光粒度仪,国外有近10家,国内有一定规模的约5家。
激光粒度仪本质上是一种光学仪器,其光学结构对仪器性能具有决定性影响。
在近40年里,出现了多种光学结构。
其演变的主要方向是扩展仪器的测量下限。
本文拟对世界上出现过的各种激光粒度仪的光学结构作一梳理和分析,希望对仪器的使用者更好地识别仪器性能,对仪器的研发人员研制性能更优秀的仪器都能有所裨益。
本文所引用的光路图大多来自各仪器制造商公开散发的产品宣传资料。
由于这类资料都不是正式的出版物,不便在文章后的“参考文献”中索引,还请被引用单位(或个人)、审稿人和读者谅解。
审稿人和读者如需查阅被引用资料的详细信息,可以向相应的仪器制造商索取。
1 激光粒度仪原理简介激光粒度仪是利用颗粒对光的散射(衍射)现象测量颗粒大小的,即光在行进过程中遇到颗粒(障碍物)时,会有一部分偏离原来的传播方向;颗粒尺寸越小,偏离量越大;颗粒尺寸越大,偏离量越小(见图1)。
散射现象可用严格的电磁波理论,即Mie散射理论描述。
当颗粒尺寸较大(至少大于2倍波长),并且只考虑小角散射(散射角小于5°)时,散射光场也可用较简单的Fraunhoff衍射理论近似描述。
激光光谱仪的原理及应用
激光光谱仪的原理及应用概述激光光谱仪是一种用于分析材料光学特性的仪器。
它通过测量材料与激光之间的相互作用来获得样品的光谱信息,从而实现对样品进行分析和表征。
本文将介绍激光光谱仪的原理和常见的应用领域。
原理激光光谱仪主要基于激光与物质相互作用的原理。
当激光束照射到材料上时,光子与材料的电子或分子发生作用,产生散射、吸收或荧光等现象。
通过测量激光与材料间的相互作用,可以得到材料的光谱信息。
组成部分激光光谱仪通常包括以下组成部分: - 激光源:产生单色、高亮度、狭窄谱宽的激光光束。
- 光路系统:用于引导和调整激光光束的方向和强度,确保激光光束与样品的正确相互作用。
- 分光系统:将样品反射或散射的光束分解成不同波长的光,并将其送入检测系统。
- 检测系统:用于测量不同波长的光的强度或荧光信号。
- 数据处理系统:对测量到的光谱数据进行处理和分析。
应用领域光谱分析激光光谱仪广泛应用于光谱分析领域。
它可以通过测量样品的吸收、荧光、散射等光学特性来实现对样品的分析和检测。
在化学、生物、材料科学等领域,激光光谱仪可以用于物质的成分分析、浓度测量、结构表征等。
光学显微镜激光光谱仪也可以与光学显微镜相结合,实现对微观结构的光谱分析。
通过将激光光谱仪与光学显微镜耦合,可以获得样品的光学图像和光谱信息,从而实现对样品的微观结构和组成的研究。
表面分析激光光谱仪在表面分析领域也有重要应用。
利用激光光谱仪可以对材料的表面形貌、组成、结构等进行表征和分析。
特别是在材料科学、纳米技术等领域,激光光谱仪可以用于研究纳米材料的光学性质、表面等离子共振等现象。
化学反应动力学激光光谱仪还可以应用于化学反应动力学的研究。
通过测量化学反应中生成或消失的光学信号,可以获得反应的速率、中间产物的浓度等信息,从而探究化学反应的机理和动力学过程。
结论激光光谱仪是一种重要的光学分析工具,它通过测量激光与材料的相互作用来实现对样品的分析和表征。
激光光谱仪在光谱分析、光学显微镜、表面分析和化学反应动力学等领域有广泛应用。
激光气体分析仪
激光气体分析仪激光气体分析仪是一种先进的分析仪器,通过利用激光技术对气体样品进行检测和分析。
它能够快速、准确地测量气体成分,广泛应用于环境监测、工业生产、医疗卫生等领域。
本文将详细介绍激光气体分析仪的原理、应用及展望。
激光气体分析仪的工作原理基于激光与气体分子之间的相互作用。
当激光束通过气体样品时,激光与气体分子相互作用,产生一系列光学效应。
根据这些效应,激光气体分析仪可以测量气体的浓度、温度、压力、流速等参数。
其中,最常见的应用是测量气体的浓度。
激光气体分析仪的工作过程可分为两大步骤:激光采样和激光分析。
在激光采样过程中,激光束经过光路系统的引导,进入气体样品室。
样品室内部设置有气体进出口,将待测气体引入样品室。
激光束与气体分子相互作用后,经过一系列光学元件的调节,进入探测器进行信号采集。
激光分析过程是激光气体分析仪的核心部分,通过对采集到的光学信号进行处理,可以得到气体的浓度信息。
激光在气体分子中的吸收和散射等过程会造成光线的强度变化,这些变化可以通过探测器进行测量。
通过比对样品气体和标准气体的吸收特性,可以计算出待测气体的浓度。
激光气体分析仪具有高灵敏度、快速响应和高精度等优点,逐渐取代传统的气体分析方法成为主流。
在环境监测方面,激光气体分析仪可以实时监测大气污染物浓度,为环境保护提供科学依据。
在工业生产中,激光气体分析仪可以监测有害气体的浓度,保障生产者和工人的安全。
在医疗卫生方面,激光气体分析仪可以检测呼吸气中的气体成分,帮助医生进行诊断和治疗。
尽管激光气体分析仪在各个领域取得了巨大的成功,但仍然存在一些挑战和问题需要解决。
首先,激光气体分析仪的成本较高,限制了其在一些应用场景的推广和应用。
其次,激光气体分析仪的仪器体积较大,无法满足一些特殊环境下的要求。
此外,激光气体分析仪对气体样品的处理和准备要求较高,这也增加了操作的难度。
未来的研究重点应该放在降低成本、减小体积、提高操作便捷性等方面。
激光检测的原理
激光检测的原理激光检测是一种利用激光技术进行测量和检测的方法。
激光(即“聚光光束”)是一种具有高度聚焦和单色性的光,它可以用于各种测量应用,如测距、测速、光谱分析等。
激光检测的原理是基于激光的特性和相应的测量原理。
激光检测的基本原理是利用激光束的传播特性和与物体相互作用的效应进行测量。
在激光检测中,首先需要一个激光源来产生激光束。
常见的激光源有氦氖激光器、二氧化碳激光器等。
激光束通过透镜或反射镜进行聚焦,形成一束细小而强度高的光线。
当激光束照射到物体表面时,会发生多种相互作用效应。
其中最常见的是反射和散射。
反射是指激光束以相同角度和方向从物体表面反射出来。
散射是指激光束在物体表面上发生随机改变方向的现象。
利用激光束的反射和散射效应,可以进行不同类型的测量。
例如,利用激光测距仪可以测量物体与测量器之间的距离。
当激光束照射到物体上,并经过反射后返回测量器,测量器会根据激光的传播时间计算出物体与测量器之间的距离。
这种测量原理被广泛应用于建筑、地理测量等领域。
除了测距,激光检测还可以用于测速。
利用激光雷达可以测量车辆的速度。
激光雷达通过发射激光束,当激光束照射到车辆上并返回时,测量器会测量激光传播的时间差,并根据时间差计算出车辆的速度。
激光检测还可以用于光谱分析。
光谱分析是一种利用物体对不同波长的光的吸收、发射或散射特性进行分析的方法。
激光光源可以提供单色性较好的光线,因此在光谱分析中被广泛应用。
例如,激光光谱仪可以通过测量样品对激光光束的吸收和散射来分析样品的物理性质和化学成分。
总结而言,激光检测的原理是基于激光的传播特性和与物体相互作用的效应进行测量。
通过利用激光束的反射和散射效应,可以进行测距、测速、光谱分析等各种测量应用。
激光检测技术在工业、科研和医学等领域中具有广泛的应用前景。
激光粒度分析仪测量微粒的粒径分布
激光粒度分析仪测量微粒的粒径分布激光粒度分析仪是一种常用的仪器,用于测量微粒的粒径分布。
它基于激光散射原理,能够快速准确地分析微粒的大小和分布。
一、激光粒度分析仪的原理激光粒度分析仪的原理是基于光散射理论。
当激光束照射到微粒上时,微粒表面的不均匀度会使激光光束发生散射。
根据散射光的强度和角度分布特性,可以计算出微粒的粒径大小。
二、激光粒度分析仪的使用1. 样品制备:将待测样品制备成适当的浓度,并加入到分析仪的样品池中。
确保样品均匀分散,避免聚集和堵塞。
2. 仪器设置:根据样品的特性设置合适的参数,包括激光功率、测量角度、检测器灵敏度等。
这些参数的选择会影响到最终的测量结果准确性。
3. 测量操作:启动激光粒度分析仪,让激光束照射到样品上,并收集散射光的强度和角度信息。
根据测量原理,仪器能够计算出微粒的粒径分布。
4. 数据分析:通过软件分析仪器输出的数据,得到微粒的粒径分布曲线。
一般可以得到微粒的平均粒径、最大粒径、粒径分布的标准差等参数。
三、激光粒度分析仪的优点1. 高精度:激光粒度分析仪能够准确地测量微粒的粒径,具有较高的分辨率和灵敏度。
可以检测到从纳米级到几百微米的微粒。
2. 非破坏性:由于使用激光光束进行测量,激光粒度分析仪不会对样品造成破坏。
可以在不改变样品性质的情况下进行多次测量。
3. 快速高效:激光粒度分析仪的操作简便,可以在短时间内完成大量样品的测量。
适用于实验室和生产线上的在线监测和质量控制。
4. 多功能:除了粒径分布,激光粒度分析仪还可以分析微粒的形态特征、浓度等参数,提供更全面的样品表征。
四、激光粒度分析仪的应用领域激光粒度分析仪在科学研究、工业生产和环境监测等领域有着广泛的应用。
1. 材料科学:对于粉末材料、胶体溶液、纳米材料等的粒径分布和形态特征的研究。
2. 化工行业:监测颗粒物的粒径和分布情况,控制产品质量。
3. 环境监测:对空气中的颗粒物进行在线监测,判断空气污染程度。
激光粒度分析仪工作原理
激光粒度分析仪工作原理
激光粒度分析仪是一种广泛应用于颗粒物体测量的仪器,它通过激光束与颗粒物体的相互作用,从而得到颗粒物体的尺寸分布信息。
下面将介绍激光粒度分析仪的工作原理。
1. 激光源
激光粒度分析仪的核心部件是激光源,通常采用浅紫外或可见光的激光器。
激光器会发射出强烈、单色、相干性好的激光束,用于与待测颗粒相互作用。
2. 光学系统
激光束从激光源发出后,会通过一系列的光学元件,如透镜、分束器、聚焦镜等。
这些光学元件的作用是对激光束进行调整,使其形成一个合适的激光束尺寸和强度。
3. 颗粒物体的测量
在激光粒度分析仪中,待测颗粒物体通常以液体或气溶胶的形式存在。
当颗粒物体通过样品室时,激光束会照射到颗粒物体上,与颗粒物体发生散射。
4. 散射光信号的检测
散射光信号是颗粒物体与激光束相互作用后发生的现象,它包含了关于颗粒物体尺寸和形状等信息。
激光粒度分析仪通常采用不同的光学元件和光电检测器来接收和检测这些散射光信号。
5. 数据处理和尺寸分布的计算
激光粒度分析仪会将检测到的散射光信号转换为电信号,并经
过放大和滤波处理。
随后,通过一系列的算法和数学模型,将散射光信号转化为颗粒物体的尺寸分布信息。
总结:激光粒度分析仪通过激光束与颗粒物体的相互作用,利用散射光信号的检测和数据处理,可以得到颗粒物体的粒径分布情况。
这种仪器具有非常高的灵敏度和精确性,在实验室和工业生产中得到广泛应用。
激光测绘技术的基本原理与使用方法
激光测绘技术的基本原理与使用方法激光测绘技术是一种高精度测量和绘图的方法,广泛应用于各个领域,包括地理信息系统、建筑设计、资源勘探等。
本文将介绍激光测绘技术的基本原理和使用方法。
一、激光测绘的基本原理激光测绘技术是利用激光器产生的非常稳定和高功率的激光束进行测量和绘图的一种方法。
它的基本原理是利用激光束的反射和折射原理来获得物体的几何形状和位置信息。
激光测绘的过程包括三个基本步骤:激光器发射激光束、激光束与物体相互作用、接收并处理反射的激光束。
首先,激光器会发射一束非常稳定和高功率的激光束。
这个激光束会以光的速度传播,并在与物体相互作用的地方反射或折射。
反射和折射的位置和角度会包含物体的几何信息。
接下来,反射的激光束会被接收器接收,并转化为电信号。
接收器可以是光电二极管或光敏器件等。
接收到的信号会被放大和处理,以获取物体的精确位置和形状。
最后,通过收集多个反射或折射的激光束的信息,可以绘制出物体的三维形状和位置。
二、激光测绘的使用方法激光测绘技术可以应用于各种场景和领域,下面介绍其中几种常见的使用方法。
1. 三维建模与测量激光测绘可以用于三维建模和测量。
在建筑设计中,可以使用激光测绘技术来测量建筑物的尺寸,获取精确的三维数据,从而进行更准确的设计和规划。
此外,激光测绘还可以用于工业制造领域,如汽车制造。
通过使用激光测量仪器,可以测量汽车零件的尺寸和位置,确保零件的精度和准确度,从而提高生产效率和产品质量。
2. 地理信息系统激光测绘技术在地理信息系统(GIS)中的应用十分广泛。
通过使用激光测绘仪器,可以获取地表地貌的三维数据,如山脉、河流等。
这些数据可以用于地图制作、资源勘探以及自然灾害预测等方面。
在城市规划中,激光测绘技术也起到了重要的作用。
通过获取城市地貌的详细数据,可以更好地进行规划和设计,提高城市的可持续发展能力。
3. 矿产勘探与环境监测激光测绘技术在矿产勘探和环境监测中得到了广泛应用。
在矿产勘探中,可以使用激光测绘技术来获取地下矿藏的精确位置和形状信息,提高勘探的效率和准确度。
激光铀分析仪
激光铀分析仪激光铀分析仪是一种广泛应用于核工业领域的仪器设备。
它能够通过利用激光技术对铀样品进行快速、准确的分析,对于核燃料生产、核电站安全监测以及核材料管理等方面具有重要意义。
激光铀分析仪的基本原理是利用激光与铀样品发生相互作用后产生的特定光谱信号,通过对这些信号进行分析,可以确定铀样品中铀同位素的含量。
铀同位素的含量对于核燃料的生产和使用具有重要影响,因此激光铀分析仪的应用可以帮助核工业实现更高效、更安全的运行。
激光铀分析仪的工作原理是利用激光将铀样品激发产生荧光。
当激光照射到铀样品上时,铀样品中的铀原子会吸收激光的能量,并处于激发态。
在激发态下,铀原子会发生自发辐射,释放出特定频率的荧光信号。
激光铀分析仪通过激光谱仪对荧光信号进行测量和分析。
激光谱仪可以对不同频率的光谱信号进行检测和识别,从而确定铀样品中不同铀同位素的含量。
这种分析方法具有高精度、高灵敏度的特点,能够快速准确地确定铀样品的组成。
激光铀分析仪在核工业领域中有着广泛的应用。
首先,它可以用于核燃料生产过程中对浓缩铀样品的分析。
核燃料生产是核工业的重要环节,通过对浓缩铀样品的分析,可以确定样品中铀同位素的含量,从而保证核燃料的质量和稳定性。
其次,激光铀分析仪在核电站的日常运行中也发挥着重要作用。
核电站作为一种清洁能源的重要来源,需要严格控制和监测核燃料的使用情况。
激光铀分析仪可以帮助核电站对核燃料进行实时、准确的监测,确保核电站的运行安全和有效。
此外,激光铀分析仪还可以用于核材料管理领域。
核材料是一种特殊的物质,需要严格的管理和控制。
激光铀分析仪具有高精度、高效率的特点,可以帮助核工业对核材料进行有效的监测和管理,确保核材料的安全和可持续利用。
总结来说,激光铀分析仪是一种在核工业中广泛应用的仪器设备。
它利用激光技术对铀样品进行分析,可以对核燃料生产、核电站运行和核材料管理等方面提供重要支持。
随着核工业的发展,激光铀分析仪的应用前景将会更加广阔,为核工业的健康发展做出更大的贡献。
激光气体分析仪的原理 分析仪工作原理
激光气体分析仪的原理分析仪工作原理激光气体分析仪是一种光谱汲取技术,通过分析激光被气体的选择性汲取来获得气体的浓度。
它与传统红外光谱汲取技术的不同之处在于,半导体激光光谱宽度远小于气体汲取谱线的展宽,被广泛用于多个领域中。
激光气体分析仪具有直接安装、无防爆问题、光纤分布、分体式连接、多点同时监测、检测范围广泛、超强的抗干扰本领、快速响应时间等特点。
激光气体分析仪的原理:1.朗伯—比尔定律因此,TDLAS技术是一种高辨别率的光谱汲取技术,半导体激光穿过被测气体的光强衰减可用朗伯—比尔(Lambert—Beer)定律表述式中,IV,0和IV分别表示频率V的激光入射时和经过压力P,浓度X和光程L的气体后的光强;S(T)表示气体汲取谱线的强度;线性函数g(v—v0)表征该汲取谱线的形状。
通常情况下气体的汲取较小,可用式(4—2)来貌似表达气体的汲取。
这些关系式表明气体浓度越高,对光的衰减也越大。
因此,可通过测量气体对激光的衰减来测量气体的浓度。
2.光谱线的线强气体分子的汲取总是和分子内部从低能态到高能态的能级跃迁相联系的。
线强S(T)反映了跃迁过程中受激汲取、受激辐射和自发辐射之间强度的净效果,是汲取光谱谱线基础的属性,由能级间跃迁概率经及处于上下能级的分子数目决议。
分子在不同能级之间的分布受温度的影响,因此光谱线的线强也与温度相关。
假如知道参考线强S(T0),其他温度下的线强可以由下式求出式中,Q(T)为分子的配分函数;h为普朗克常数;c为光速;k为波尔兹曼常数;En为下能级能量。
各种气体的汲取谱线的线强S(T0)可以查阅相关的光谱数据库。
金属原位分析仪的重要特点金属原位分析仪是一种计量分析仪器,它在比色计和分光光度计的基础上,结构简单、价格相对较低、简单操作和维护和修理便利的优点,在预设或更换的波长测量范围内对试样的金属元素通过溶解、显色以后,可以很便利的得到测量数据,它可以进行标样曲线的存储、修改和提取,这样既可以便利快捷的得到测量结果,也可以削减使用中的标样定标、结果比较等多个工作环节,并且可以大大削减耗材的使用,为企业节省大量的测试成本,它可以用打印机输出结果,测量稳定、数据真实,其产品引用标准依据国家相关标准规定,可以充足企业产品质量监督需要。
激光分析仪技术原理
吸收光谱技术
能级的概念
E2 - E1 = hn
光子
分子能量表现
E2
能级跃迁
E1
旋转
CopyriLeabharlann ht @2005 FPI振动
电子跃迁
4
分子光谱
每两个能级对应一根吸收谱线 在低分辨率光谱上表现为谱带
Linestrength [atm-1cm-2] Absorbance [cm-1]
100
CO2
激光频率扫描范围内只有被测气体吸收谱线
15
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调制光谱技术
半导体激光器调制特性
电流波长调谐技术 抗粉尘测量 相敏检测技术 提高探测灵敏度
16 Copyright @2005 FPI
2f trace [a.u.]
环境因素修正
0.25 Increasing pressure (P = 3.4, 4.8, 6.3, 7.6, 8.9, 10.5 bar)
60 50 40 30 20 10
0 7870
7880
传统光源波长宽度
7890
7900
Frequency (cm-1)
7910
60
50
激光器波长宽度
40
30
20
10
7920
0 7884.0
7884.2
7884.4
Frequency (cm-1)
7884.6
单线光谱技术无交叉气体干扰:
激光谱宽非常窄(单色性好)
按激光的传输方式
光纤式 非光纤式
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按测量气体
测量O2 76X nm 波段(可见光) 测量CO,CO2 15XX nm 波段 测量HCL 17XXnm 波段 测量CH4 16XXnm 波段 测量H20 近红外
激光仪器原理
激光仪器原理
激光仪器原理是利用激光技术来实现特定目标的仪器。
激光(光放大器的一种)是由高能量激光器发射的一束高度聚焦、单色、相干性高的光束。
激光仪器在医疗、研究、工业和通信领域得到广泛应用。
激光的产生原理涉及激光介质如气体、固体或液体等的激活。
常见的激活方式
包括闪光灯、电子激发和光学激发。
通过这些激活方式,激光器能够在低能级和高能级之间建立能级反转,从而产生激发辐射。
激光的特点主要体现在激光束的特性上。
激光具有高亮度、窄的光谱线宽和高
的相干性。
这使得激光能够以高能量密度和高定向性进行特定应用。
例如,医疗领域中的激光手术仪器可以实现精细的组织切割,而激光打印机能够实现高分辨率的图像打印。
激光仪器的应用领域广泛。
在科学研究中,激光可以用于实验室测量、精密测
量和光谱分析。
在工业上,激光技术广泛应用于材料加工、焊接、切割和表面处理。
在通信领域,激光器和光纤传输系统组合使用,实现高速和高带宽的数据传输。
激光仪器的发展不仅改善了许多传统技术和行业的效率,也促进了新领域的发展。
然而,随着激光技术的不断进步,激光应用中也存在一些挑战,如光束稳定性、能源消耗和安全性等问题。
因此,尽管激光仪器在各个领域取得了重要的突破,但仍需要进一步研究和改进,以满足不断发展的需求。
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高温、高粉尘、高水分、高流速、强腐蚀等恶 劣环境适应能力强
只能测量恒温、恒压、恒流、干燥及无粉尘的气体
快:仅取决于仪表响应时间,<1秒
吸收光谱技术
能级的概念
E2 - E1 = hn
光子
分子能量表现
E2
能级跃迁
E1
旋转
4
振动Βιβλιοθήκη 电子跃迁Copyright @2005 FPI inc, all right
分子光谱
每两个能级对应一根吸收谱线 在低分辨率光谱上表现为谱带
-1 -2
L in e s tr e n g th [ a tcmm ]
公式说明
线型函数Φ
产生原因:测不准原理 影响因素:温度/压力 归一性:面积不变
8
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DLAS技术
DLAS——Diode Laser Absorption Spectroscopy 半导体激光吸收光谱
与传统吸收光谱相似,基于受激吸收效应并遵循Beer – Lambert公式
7880
7890
7900
Frequency (cm -1)
7910
0
7920
7884.0
7884.2
7884.4
7884.6
Frequency (cm -1 )
单线光谱技术无交叉气体干扰:
激光谱宽非常窄(单色性好) 激光频率扫描范围内只有被测气体吸收谱线
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Absorbance [cm-1]
10 0
CO 2
10 -5
10 0 10 -2 10 -4 1100-62 10 0 1v (4.6 m) 10 -2 10 -4
H 2O
R branch 2v (2.3 m)
CO 3v (1.55 m)
2000
4000
6000
Frequency [cm
-1 ] 8000
调制光谱技术
半导体激光器调制特性
电流波长调谐技术 抗粉尘测量 相敏检测技术 提高探测灵敏度
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2f trace [a.u.]
环境因素修正
0.25 Increasing pressure (P = 3.4, 4.8, 6.3, 7.6, 8.9, 10.5 bar)
5
5x10-6
10 ppm CO @1atm, 300K
4
3
2
1
10000
0
4200
4240
4280
Frequency [cm-1]
4320
浓度测量公式
测量基本公式
吸收率absorbance
透过率曲线
T (v)
ln(I) ln(I)d
X I0
I0 (1.2)
PSL
PSL
v0
v
关键因素X=F(Absorbance,T,P,L)
光程 光源是用半导体激光: 波段窄,可调制
技术上的特点决定了安装测量方式:原位测量
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原位分析
发射单元
L 接收单元
过程气体
半导体激光 驱动电路
数据分析 及控制
中央分析仪器元
数据采集
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DLAS技术
使用半导体激光器作为光源
单色性好,即光的波长宽度窄。<0.0001nm,传统红外 光源一般在20-30nm左右
可调制扫描
绝大部分光属于红外区域,
波长范围750-2000nm左右。
激光波 长范围
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小结
基于吸收光谱技术,直接测量的是吸收率 浓度测量值和四个因素相关:吸收率、温度、压力、
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技术比较-传统光谱技术
指标 预处理系 统 测量方式 气体环境
响应速度
准确性
连续性 可靠性 介质干扰 尾气排放 标定维护
运行费用
LGA-2000激光现场在线气体分析仪
传统光谱在线气体分析仪
不需要
必需
现场、连续、实时测量
采样预处理后间断测量
原位分析 VS 采样分析
采样分析
获得样本 预处理 分 析
众多缺点:
• 系统复杂、故障率高 • 探头腐蚀、堵塞 • 长时间滞后 • 经常性的标定
原位分析
现场直接分析过程气体 针对测量工艺的定制化开
发
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原位测量必须解决三个问题
0.20
R7Q8
R7R7
(13142.584 cm-1)
(13140.568 cm-1)
0.15
0.10
0.05
0.00
-0.05
-0.10
0
2
4
6
8 10 12 14 16
Time [ms]
测量气体的温度、压 力等环境参数影响气体 吸收谱线展宽 通过展宽补偿技术可 进行精确补偿: 单线光谱数据 针对测量工艺的展宽 补偿
采用半导体激光器为光源,并可采用调制吸收光谱技术 (TDLAS)
发展历史:
上世纪六十年代,激光器发明 上世纪七、八十年代,激光吸收光谱技术逐步应用于科学实验的精密测量 上世纪九十年代,半导体激光器和光纤元件大规模商用化 上世纪九十年代,欧美国家开始DLAS技术产业化研究
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公式说明
在波长一定的情况下,S线强由两方面因素决定:
① 分子跃迁上,下能级的波函数 —由分子结构等性质决定
② 分子的集居(Population) —与温度相关
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不受背景气体交叉干扰 不受测量现场粉尘等颗粒物干扰 不受气体参数(温度、压力等)变化的影响
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“单线光谱”技术
-6
x10 -6 x1 0
60
60
传统光源波长宽度
50
50
激光器波长宽度
40
40
30
30
20
20
10
10
0 7870
FOCUSED PHOTONICS INC
DLAS技术原理培训
市场部-许鹏 2020/4/11
产品基本情况
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吸收光谱技术
吸收光谱技术 半导体激光吸收光谱(DLAS)技术
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