XRD全谱拟合
材料现代分析方法练习题及答案(XRD,EBSD,TEM,SEM,表面分析)
![材料现代分析方法练习题及答案(XRD,EBSD,TEM,SEM,表面分析)](https://img.taocdn.com/s3/m/8e48d8ff27284b73f24250e1.png)
8. 什么是弱束暗场像?与中心暗场像有何不同?试用Ewald图解说明。
答:弱束暗场像是通过入射束倾斜,使偏离布拉格条件较远的一个衍射束通过物镜光阑,透射束和其他衍射束都被挡掉,利用透过物镜光阑的强度较弱的衍射束成像。
与中心暗场像不同的是,中心暗场像是在双光束的条件下用的成像条件成像,即除直射束外只有一个强的衍射束,而弱束暗场像是在双光阑条件下的g/3g的成像条件成像,采用很大的偏离参量s。
中心暗场像的成像衍射束严格满足布拉格条件,衍射强度较强,而弱束暗场像利用偏离布拉格条件较远的衍射束成像,衍射束强度很弱。
采用弱束暗场像,完整区域的衍射束强度极弱,而在缺陷附近的极小区域内发生较强的反射,形成高分辨率的缺陷图像。
图:PPT透射电子显微技术1页10. 透射电子显微成像中,层错、反相畴界、畴界、孪晶界、晶界等衍衬像有何异同?用什么办法及根据什么特征才能将它们区分开来?答:由于层错区域衍射波振幅一般与无层错区域衍射波振幅不同,则层错区和与相邻区域形成了不同的衬度,相应地出现均匀的亮线和暗线,由于层错两侧的区域晶体结构和位相相同,故所有亮线和暗线的衬度分别相同。
层错衍衬像表现为平行于层错面迹线的明暗相间的等间距条纹。
孪晶界和晶界两侧的晶体由于位向不同,或者还由于点阵类型不同,一边的晶体处于双光束条件时,另一边的衍射条件不可能是完全相同的,也可能是处于无强衍射的情况,就相当于出现等厚条纹,所以他们的衍衬像都是间距不等的明暗相间的条纹,不同的是孪晶界是一条直线,而晶界不是直线。
反相畴界的衍衬像是曲折的带状条纹将晶粒分隔成许多形状不规则的小区域。
层错条纹平行线直线间距相等反相畴界非平行线非直线间距不等孪晶界条纹平行线直线间距不等晶界条纹平行线非直线间距不等11.什么是透射电子显微像中的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。
形成衍射衬度像和相位衬度像时,物镜在聚焦方面有何不同?为什么?答:质厚衬度:入射电子透过非晶样品时,由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异,导致透过不同区域落在像平面上的电子数不同,对应各个区域的图像的明暗不同,形成的衬度。
XRD思考题
![XRD思考题](https://img.taocdn.com/s3/m/19369bd409a1284ac850ad02de80d4d8d15a01a5.png)
XRD思考题思考题1.六⾓结构的晶体内在的择优⽣长沿着什么⽅向?2.除了结构缺陷和应⼒等因素外,为什么粒径越⼩,衍射峰越宽?3.XRD衍射强度和峰的宽度与样品颗粒⼤⼩,还是与晶体颗粒⼤⼩有关?4.XRD峰整体向右偏移是什么原因造成的?5.X射线衍射的基本原理是什么?6.证明:X射线衍射产⽣的条件:d≥λ/27.从布拉格公式说明在什么⾓度范围内测量粉末相XRD能得到⽐较精确的格⼦常数值。
为什么X射线有时⽆法确定晶体的确切空间群?8.X射线波长的选择过程中应注意什么?为什么?9.XRD定量分析中最⼤的障碍之⼀是测试强度和理论强度不⼀致,其主要原因有哪些?内应⼒分类?10.精修时,粉末样品制备需注意什么?11.物相定量分析的原理是什么?试述⽤K值法进⾏物相定量分析的过程。
12.什么是Rietveld全谱拟合结构精修?该⽅法修能解决材料中哪些结构问题?F的物理意义。
结构因数与哪些因素有关系? 13.试述原⼦散射因数f和结构因数2HKL分析题1.Ce离⼦是发光材料经常使⽤的发光中⼼之⼀,主要是利⽤Ce3+离⼦的5d-4f跃迁宽带发光,然⽽,Ce的+4价态(Ce4+离⼦)同样可以稳定存在。
现假定可以提供⼀批Ce取代的YBO3产物,能否直接利⽤粉末衍射技术判断化合物中Ce的价态?要提⾼精确度有什么建议?2.理论上XRD谱图具有指纹效应——不同化合物的谱图不同,但实际上在物相分析时却经常出错,请举例⼦说明会出错的情况,并且根据布拉格⽅程提出改善的办法。
3. 已知⽴⽅Yb3Ga5O12的晶胞参数a=12.19886(6)?和XRD图谱寻峰后的前5条峰的d值和强度,求它们的⾯指数。
h k l mult d_hkl(A) 2theta(deg)1 24 4.98016 17.7962 12 4.31295 20.5773 48 3.26028 27.3334 6 3.04972 29.2615 24 2.72775 32.8064. α-Fe属于体⼼⽴⽅,a=0.2866nm,欲对其进⾏X射线衍射分析,射线源的阳极靶材应如何选择?5. GaS晶体具有NaCl型结构(a)在100、110、111、200、210、211、220、222衍射中哪些是允许的。
X射线粉末衍射仪XRD的操作规程说明
![X射线粉末衍射仪XRD的操作规程说明](https://img.taocdn.com/s3/m/9c13ac3902d8ce2f0066f5335a8102d276a26184.png)
X射线粉末衍射仪XRD的操作规程说明X射线粉末衍射仪XRD,通常应用于晶体结构的分析。
X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。
引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。
振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。
基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍射。
散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向,产生衍射线。
适用领域:1.材料晶体大小的测定期模拟计算。
2.半导体基底上薄膜生长的纳米材料分析。
3.纳米材料中的物相定性分析。
4.纳米氧化锌陶瓷的参杂制备及物相分析、结构表征、性能和结构分析等。
5.单相和多相的全谱拟合计算和结构精修操作规程:一、开机1.开启墙壁总电源。
开启循环水电源。
开启稳压电源(等5秒钟后,按下“RESET" )。
2.开启XRD设备电源。
3.开启计算机电源,进入XRD应用程序。
4.开启射线发生器高压,进入待测试状态。
二、样品放置、取出1.严格按照规定制样,样品高度与样品台高度一致,压平,保持样品表面光洁平整。
2.按外侧“OPEN DOOR”键解锁,手动开启玻璃舱门,将样品台放入样品支架卡住,关闭舱门锁好。
取出样品时,先按“DOOROPEN”键,手动开启舱门,按下样品支架后面拨片,样品台及样品支架自动下落,取下样品台,关闭舱门锁好。
三、测试谱线1.先初始化驱动操作。
先点Requested后面方框,然后点击Initdrive。
然后在程序界面中调整探测角度范围,扫描速度和步长。
2.根据测试需要,选择合适宽度的狭缝。
低于10度,须换最小狭缝。
3.在程序界面上选合适的电压与电流,鼠标点左边“SET”键加高压。
4.在参数设置正确的情况下,点“START”,开始采集谱线。
5.选择需要的XRD谱数据,先保存到硬盘,再光盘刻录导出数据。
四、关机1.先在计算机XRD应用程序里将电压和电流降到最小点击”SET”。
常规的xrd的标准分析流程
![常规的xrd的标准分析流程](https://img.taocdn.com/s3/m/f7adb23a24c52cc58bd63186bceb19e8b9f6ec72.png)
常规的xrd的标准分析流程下载温馨提示:该文档是我店铺精心编制而成,希望大家下载以后,能够帮助大家解决实际的问题。
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1. 样品制备。
xrd软件e使用手册概况
![xrd软件e使用手册概况](https://img.taocdn.com/s3/m/ce5816b0dd3383c4bb4cd25c.png)
MDI Jade使用手册X射线衍射实验操作指导黄继武编中南大学2006年6月E-mail:huangjw@写在前面本手册完全凭个人使用经验和记忆编写,文中的表达方法、遣词用句完全凭个人喜好。
如“Zoom Window”显示的是整个衍射谱的局部放大,所以,干脆就称为“放大窗口”了。
Jade版本不同,操作界面也有不同,某些功能在低版本中无法看到,而低版本中的某些功能不知什么原因被删除。
因此,无法全部顾及,编写时主要参照了MDI Jade 6.5版。
本手册只介绍了本人认为有必要介绍的内容,那些简单的操作未作介绍。
由于本人水平有限,文中必然存在各种问题,请大家指出,以便修改提高。
本手册可作为教师、学生和科研人员使用MDI Jade的参考材料,作为引玉之砖希望有兴趣的同行共同探讨更多的功能,或利用它开发其它功能。
不希望有人用于商业或出版目的。
谢谢!黄继武2006年5月18日于中南大学E-mail:huangjw@Telephone:0731-*******目录进入Jade (1读入文件 (2基本功能操作 (4基本显示操作 (9物相检索 (10卡片查找 (14寻峰 (16RIR方法计算物相质量分数 (18 计算结晶化度 (21打印预览 (23图谱拟合 (24制作仪器半高宽补正曲线 (26 计算晶粒大小及微观应变 (28 角度补正曲线的制作 (31计算点阵常数 (32计算已知结构的衍射谱 (34计算残余应力 (35多谱显示 (40多谱拟合 (42计算RIR (45进入Jade下面是一个简单的例子,开始我们的讲解:1 在开始菜单或桌面上找到“MDI Jade”图标,双击,一个简单的启动页面过后,就进入到Jade的主窗口。
2 选择菜单“File | Patterns...”打开一个读入文件的对话框。
在文件名上双击,这个文件就被“读入”到主窗口并显示出来。
如果Jade尚未建立PDF卡片索引,就不能做很多工作,如果Jade是安装好了的而且使用过,那么,你进入Jade时会显示最近一次关闭Jade前窗口中显示的文件。
XRD_Rietveld法用于水泥基材料物相的定量分析_李华
![XRD_Rietveld法用于水泥基材料物相的定量分析_李华](https://img.taocdn.com/s3/m/1be68b5ec850ad02de80415e.png)
进行了物相定量分析,比较了 Rietveld 拟合分析结果与热分析测试结果及实际配制值的吻合度,并对硫酸钠溶液侵蚀后的水泥浆
体中侵蚀产物进行了定量分析。研究结果表明:Rietveld 拟合分析结果与混合样品的实际配制值显示出了很好的一致性,且 Ri-
etveld 拟合分析结果的准确程度与常用于氢氧化钙含量测试的 TG/DSC 法相当;通过添加合适的内标物,XRD-Rietveld 法可以有
0 引言
多晶无机材料中的物相及相组成直接影响甚至决定 材料的性能,准确地测定材料中的各相及其含量对材料性 能的研究或改善具有极其重要的意义[1]。水泥基等无机材 料由于组分多样复杂,缺乏比较快速、可靠、准确的技术来 对其中所存在的不同物相进行量化,这是水泥基材料微结 构研究的一个主要障碍。传统的常用于定量分析物相组成 的 X 射线衍射方法,如外标法、内标法、K 值法和绝热法等, 分析的对象均为衍射谱中的单一(hkl)衍射线或(hkl)衍射 族,对于所含物相数目多、衍射谱图较复杂的水泥基材料 样品而言,存在的严重的谱峰重叠、择优取向效应等会给 定量分析带来很大的困难。Rietveld 全谱拟合法在 X 射线 衍射图谱分析中的应用,有可能改变这一不足。该方法由于 采用结构依赖的全衍射图谱拟和方法,能准确地对各衍射峰
j
jk
式中:Ybi — ——背底强度;
Sj—— —j 相的标度因子;
k — ——布拉格衍射的密勒指数,hkl;
(4)
Lk —— —包括角因子、温度因子和多重性因子; Fk —— —布拉格衍射的结构因子; Φ — ——衍射峰的峰形函数;
2θ —— —衍射角;
Pk —— —择优取向修正因子; Aj— ——j 相的微吸收校正项。 由式(4)可见要经拟合求出最佳 S 而得到质量分数,
【X射线衍射分析】第三章全谱拟合法
![【X射线衍射分析】第三章全谱拟合法](https://img.taocdn.com/s3/m/3addfb800b1c59eef9c7b4d6.png)
它是用衍射谱上各(2θ)处的衍射强度Yi代替衍射线的积 分强度Ik来进行精修的。一张从50(2θ)~900(2θ)的多晶 衍射谱就会有8000多个实验数据,这样多个实验数据是可 在统计上保证精修结果的准确性,解决了多晶体衍射中数 据量不够,不能从统计上保证精修结果准确的问题。
到了1977年,Malmros和Thomas首次将这一方法应用到X射线 领域。80年代,一方面高分辨多晶体衍射技术得到了发展,特 别是同步辐射高分辨多晶体衍射的发展,使衍射峰重叠大大减 少,直接测得的衍射峰数可超过100,提高了衍射谱的准确性 和分辨率。另一方面,Rietveld方法本身也得到了发展。
80年代陆续报道了一些多晶体衍射从头晶体结构测定的例子 ,到了90年代,这一技术得到了发展,在文献上已出现许多 这方面工作的报道。不仅如此,全谱拟合法还可应用到多晶 体衍射的各传统应用领域,如定量分析,晶粒大小及微结构 测定等方面,得到了比传统法更完美、更准确的结果。它在 研究实际晶体的结构方面,取得了极耀眼的成果。
全谱峰形拟合包括两类方法:即应用晶体结构数据的 Rietveld精修和不需晶体结构数据的另一类方法。
多晶体衍射全谱线形拟合法原来是用作晶体结构精修的, 以后发展到从头解出晶体结构。不仅如此,它还渗透入用来 表征多晶体的许多传统领域,不仅可用来研究多晶聚集体的 结构,更可以研究晶体内的微结构。由于其理论比较严密, 研究得就更深入、更细致,所得结果也常常比传统法更准确 ,而且其做法也常比较简单。
XRD定量分析分类
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X射线衍射是目前分析结晶物质含量最有效的方法,其定量依据是衍射线的强度与样品参与衍射的体积成正比。
经过半个多世纪的发展,X射线衍射定量分析,已经出现了很多种方法,归纳总结如下:
(1)直接分析法(外标法、单线条法)
需要纯样品,建立工作曲线
(2)内标法
需要纯样,建立工作曲线
(3)基体清洗法(K值法)
不需要纯样,但需要知道K值。
这是目前应用的最多的方法,但是需要注意,即使是同一种物质,不同的作者(或者卡片)测出来的K值也有所差别,因此会对最终含量的计算产生影响。
另外还需要注意的是在应用K值法的时候,强度需要使用积分面积,而不是峰高。
(4)绝热法(RIR法)
也是应用非常广泛的方法,原理与K值相似,也需要知道K值。
(5)全谱拟合法(Rietveld)
目前认为是最准确的定量方法,但是对数据要求极高,一般要求步进扫描,尽可能得到较高角度的数据,然后进行多物相精修,最后得到各物象的含量。
(6)粘土矿物定量分析
目前国内粘土矿物定量分析主要参照了石油天然气行业的标准《沉积岩中粘土矿物和常见非粘土矿物X射线衍射分析方法》SY/T 5163-2010版本。
方法是采用制备定向片(自然定向片,饱和乙二醇片,
高温片),来进行定性和定量分析。
而在国外,已经有些科研人员采用了Rietveld法来进行粘土定量分析。
XRD定量分析方法
![XRD定量分析方法](https://img.taocdn.com/s3/m/64bb281e79563c1ec5da7110.png)
K值法
它是对内标法的改进,目的是省去制作标 准曲线的烦琐工作。它结合了外标法和内标法 的优点,且是一种标准化的方法。正式名称为 基体冲洗法。与内标法一样,在样品中加入参 考物质S,
把常数项合并为KSi则,
i为待测相,S为参考物(通常用α-Al2O3)。将S与 纯i相按质量比1:1的混合制样,测定混合物中两相 的衍射线强度(一般取最强线) Ii和 IS , Ii/IS 即为 i 相的参比强度KSi (常简写为Ki)。 在待测样品中加入一定量( xS )的参比物 S 相 (不一定是50%),测出i相和S相衍射线的强度, 则
利用同步辐射可获得fwhms低至00082步长小至0020012structure采用同步辐射源下得到的结果显著优于用普通铜靶上rietveld粉末衍射全谱拟合rietveld法是通过将理论计算得到的强度数据以一定的峰形函数与实验强度数据拟合反复改变计算中的一些参数结构参数与峰形参数使计算谱不断接近实测谱并最终从理论上计算出完整的衍射谱
(5) 对于固溶体,要考虑固溶成分对散射因子、 角因子、吸收系数的影响。 (6) 用全自动衍射仪测定衍射线扣除背底后的累积 强度作为净峰强度(积分强度法)。 (7) 尽量选择强度高、不存在重叠的衍射峰测量, 而且各物相所用衍射峰尽量靠近。当两个相的 晶体结构相近时,主要的衍射峰容易发生重叠, 通常要对衍射线进行分峰及合理扣除背底,进行 衍射强度的修正。 (8) 对于含非晶相的样品,应通过拟合扣除非晶相的 “馒头峰”。 (9) 微量相可采用转靶或同步辐射衍射仪测定。
定 量 分 析
重叠峰的分离 K2的剥离
(可能对峰形有 一定的影响)
晶体结构分析
峰宽和峰强度 的确定、晶粒 大小的计算
点阵常数精确测定简介
X射线衍射全谱拟合相丰度分析及微1结构分析
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Fw(s) ×cos(θ)=Kλ/sin(θ)+4strain×sin(θ)
实测样品不同hkl方向获得的半高宽或积分宽值在扣除 Kα2贡献和剥离仪器宽化后的Fw(s)对各hkl衍射角作图, 进行线性拟合,斜率是应变值,截距是晶粒尺寸。这种 方法对晶粒呈球形和应变量是各向同性情况,可以获得 平均晶粒尺寸和应变结果。但是对绝大多数物质而言, 晶粒形状是各向异性,应变也是各向异性。因此在使用 Jade5软件“Crystallite size&strain analysis”进行分析时, 多数情况得不到一根线性关系斜率较好的直线。对于晶 粒形状和应变呈各向异性宽化的样品进行Rietveld分析 时会遇到拟合结果不好的现象。因此在一般的Rietveld 分析软件中,用无物理含义的数学模型遵循Gaglioti关 系式
k
多相共存样品,上式变为:
2
Yci sj Ljk Fjk jk (2 ji 2 jk )Pjk Aj Ybi
j jk
式中Sj是与每相丰度相关的标度因子,物理含 意是实验数据脉冲数与模型计算电子衍射强度
间换算因子。
由拟合分析获得的各相Sj值可以有下式算 出每个组成相的丰度值。
质量百分比: p
3.背底模型,有人工估计手动输入和多项式摸拟二种, 现在也很方便。
4.计算过程模块,一般是最小二乘迭代及计算拟合结果 动态显示。现在这种功能越来越强大。
4.结果输出和图形输出部分。 近年来推出的Rietveld分析软件,及Jade6.0中全图拟 合修正程序,增加了许多智能化的功能,程序有自 己判断功能。因此修正过程中一些常见的错误。会 自动提示,使用更为方便。Maud软件也是使用相当 方便的软件,甚至连修正过程的顺序软件中都做好。
xrd计算物相含量方法
![xrd计算物相含量方法](https://img.taocdn.com/s3/m/189e420c5b8102d276a20029bd64783e08127d66.png)
xrd计算物相含量方法一、引言X射线衍射是一种常用的非破坏性分析技术,可用于研究晶体结构和物相含量。
物相含量是指样品中各个晶相的相对比例。
通过XRD 技术,可以获取样品的衍射图谱,然后利用定量相分析方法计算出各个晶相的含量。
二、XRD技术原理XRD技术基于布拉格定律,即当入射X射线与晶面发生衍射时,满足2d sinθ = nλ的关系,其中d为晶面间距,θ为衍射角,n为整数,λ为入射X射线的波长。
通过测量衍射角θ和入射X射线波长λ,可以确定晶面间距d。
三、定量相分析方法1. 标准曲线法标准曲线法是一种常用的定量相分析方法。
首先,制备一系列已知物相含量的标准样品,并进行XRD测量,得到它们的衍射图谱。
然后,测量待测样品的衍射图谱,并将其与标准样品的衍射图谱进行比较。
根据衍射峰的强度和位置,可以推算出待测样品中各个物相的含量。
2. RIR法RIR(Rietveld Internal Standard Relative Intensity Ratio)法是一种基于内标法的定量相分析方法。
该方法通过在样品中添加已知物相含量的内标物质,来确定待测样品中各个物相的含量。
内标物质与待测样品的衍射峰强度之比称为相对强度比。
通过测量待测样品和内标物质的衍射图谱,可以计算出相对强度比,从而得到物相含量。
3. Rietveld法Rietveld法是一种基于全谱拟合的定量相分析方法。
该方法通过将样品的整个衍射图谱与已知物相的理论衍射图谱进行拟合,来确定样品中各个物相的含量。
利用最小二乘法,调整各个物相的相对比例和晶体结构参数,使得拟合曲线与实际衍射图谱最为接近。
通过对拟合参数的优化,可以得到物相含量。
四、注意事项1. 样品制备要均匀、细致,以保证测量结果的准确性。
2. XRD测量条件要合适,包括入射X射线波长、衍射角范围等。
3. 在计算物相含量时,要考虑样品的晶体结构、晶胞参数等因素,以提高计算精度。
五、总结XRD技术是一种可靠的方法,用于计算物相含量。
XRD数据分析全面详细
![XRD数据分析全面详细](https://img.taocdn.com/s3/m/4ba8f1da50e79b89680203d8ce2f0066f4336470.png)
XRD数据分析全面详细X射线衍射(XRD)数据分析是一种重要的实验技术,用于研究晶体的结构和确定物质的组成。
通过对XRD数据的分析,可以获取样品的晶胞参数、晶体结构信息、晶体取向、晶体缺陷等相关信息,从而揭示物质的物理性质和化学性质。
数据预处理是指对原始XRD数据进行预处理,以去除噪声和增强信号。
首先,需要对数据进行背景减除,将样品信号与背景噪声进行分离。
常用的背景减除方法包括线性背景减除、多项式背景减除和样条插值等。
其次,需要进行峰和峰型修正,确定峰的位置和形状。
常用的峰算法包括二次导数法、峰法和互相关法等。
谱峰拟合是指对预处理后的XRD数据进行拟合,以获得峰的参数和相对强度。
常用的谱峰拟合算法包括高斯函数、洛伦兹函数和泊松函数等。
拟合曲线的质量可以通过拟合优度因子R和拟合残差进行评估。
如果拟合优度因子R接近于1,且拟合残差较小,则表明拟合结果较好。
数据解析是指根据峰的位置和形状,利用衍射原理和晶体学知识,推导出样品的晶胞参数和晶体结构信息。
首先,可以通过布拉格方程计算出每个峰对应的衍射角度,进而计算出晶胞参数。
其次,根据峰的位置和相对强度,可以推测出晶体结构的空间群类型。
最后,可以通过比较实验数据和文献数据,确定样品的晶体结构类型。
除了上述基本步骤外,XRD数据分析还可以应用其他高级技术进行进一步研究。
例如,通过倒易空间分析,可以研究晶体取向和晶体缺陷;通过拉曼光谱和傅里叶变换红外光谱(FTIR)等技术,可以揭示样品的化学成分和分子结构。
总之,XRD数据分析是一项复杂而重要的科学技术,可以从晶胞参数到晶体结构等方面揭示物质的性质和结构。
科学家们通过不断改进XRD技术和理论模型,使得XRD数据分析在材料科学、地球科学、生物科学等领域中发挥了重要的作用。
XRD图谱实例分析
![XRD图谱实例分析](https://img.taocdn.com/s3/m/ee78f450a9114431b90d6c85ec3a87c240288aee.png)
全谱拟合法物相半定量分析
全谱拟合法是应用Rietveld程序对所测图谱进行全谱拟合来进行物相的半定量分析。 我们还是以刚才分析的样品为例。 一、打开XRD图谱文件
12
二、对图谱进行平滑等处理
13
三、设置寻峰参数进行寻峰
经过寻峰得到峰的相应参数
14
四、导入CaCO3、SiO2、Al2O3三物相的结构数据
单物相成分定性分析
一、打开XRD图普文件
1
二、对图谱进行处理
对XRD图谱进行K α2去除和图谱的平滑处理
2
三、对图谱进行寻峰
根据图谱的实际情况设置寻峰条件,对图谱进行寻峰
3
经过寻峰得出峰的相应参数
寻峰后所得的峰参数如图所示,包括峰的位置、晶面间距、强度、半峰宽等
4
四、进行衍射峰的匹配
设定峰形匹配参数进行衍射峰匹配
5
经过衍射峰的匹配,得出定性结果,本张衍射图谱所对应样品的物相成分为SiO2。
6
多物相成分的定性分析
一、打开衍射图谱
7
二、对图谱进行平滑等处理
8
三、设置寻峰参数进行寻峰
经过寻峰得到该图谱的衍射峰数据包括峰位、峰强、半峰宽、晶面间距等。
9
四、根据实际情况设置峰匹配参数并进行峰匹配
经过峰匹配后得出定性结果该样品所含的混合相有CaCO3、Al2O3、SiO2
24
三、选取所要测物相的最佳衍射峰进行峰形拟合计算,求出峰的准确参数。
25
四、根据所求的峰参数及仪器宽化,利用谢乐公式求出晶粒尺寸。
26
15
五、设置并调整拟合参数进行多次拟合直至得到最佳拟合结果
经过多次拟合得到最佳的拟合结果,拟合结果的好与坏有一系列的评判参数如上图。
炭纤维微观结构表征:X射线衍射
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炭纤维微观结构表征:X射线衍射李登华;吕春祥;郝俊杰;杨禹;吕晓轩;杜素军;刘哲【摘要】X射线衍射(XRD)作为研究材料内部晶态结构的重要方法,在炭材料表征技术领域有着广泛的应用.对炭纤维而言,观察相应衍射峰可以对晶态结构及其变化过程做定性的比较研究,也可以通过数据解析获得炭纤维的各类晶态结构参数,从而实现对内部织构及其变化过程的量化分析.近几年随着设备性能和应用技术的不断进步,XRD的一些新理论、新方法、新应用陆续出现,拓展了该技术在炭材料内部微应力、晶态织构、择优取向特征等方面的应用.有鉴于此,本文综述了近年来炭纤维微观结构表征技术在理论、技术及应用等方面的进展情况.着重阐述了XRD在炭纤维内部微观应力/应变、晶态结构、结构取向性、石墨化程度等方面的创新应用及数据分析技术.【期刊名称】《新型炭材料》【年(卷),期】2019(034)001【总页数】8页(P1-8)【关键词】炭纤维;晶态结构;X射线衍射;微观应力;炭积层分布【作者】李登华;吕春祥;郝俊杰;杨禹;吕晓轩;杜素军;刘哲【作者单位】山西省交通科学研究院新型道路材料国家地方联合工程实验室,山西太原 030006;中国科学院山西煤炭化学研究所碳纤维制备技术国家工程实验室,山西太原 030001;山西钢科碳材料有限公司,山西太原 030100;中国科学院山西煤炭化学研究所碳纤维制备技术国家工程实验室,山西太原 030001;中国科学院山西煤炭化学研究所碳纤维制备技术国家工程实验室,山西太原 030001;山西省交通科学研究院新型道路材料国家地方联合工程实验室,山西太原 030006;山西省交通科学研究院新型道路材料国家地方联合工程实验室,山西太原 030006【正文语种】中文【中图分类】TQ342+.741 前言炭纤维作为广泛应用在航空航天、军事、体育器材、气象、交通、建筑、医疗器械等领域的结构材料和功能材料,具有其它常规材料无与伦比的优异性能[1-3]。
X射线全谱图拟合定量相分析铁矿石
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S inc Gu ng iU n v r iy, nn n Gua x , 3 0 ce e, a x i e st Na i g, ng i 5 0 04, i a) Ch n
曾令 民 , 万林 , 关文 汪 陆
ZENG n — n, ANG a —i LU e— n Li g mi W W nl n, M iwe
(. 西 大学 教育 部 有色 金属 及材 料 制备新 技 术 重点 实 验室 , 西南 宁 5 0 0 ; . 西大 学 1广 广 30 42 广
XRD e hnqu n h e v l e i e ntme ho tc i e a d t e Rit ed r fn me t d. The r s lss w h tt o o ii n f e u t ho t a he c mp sto s o
t e i n o e a e F 2 , o0H , i , 2 S 2 ) 0H ) n h i e n e s a e 8 . 0 , . 9 , h r r r e 03 Fe o S o2 Al ( i O5 ( 4 d t er o t n r 6 2 9 5 a
X射 线 全 谱 图拟 合 定 量 相 分 析 铁 矿 石
X- yQu ni t eAn ls fIo eUs g - a t ai a i o r nOr i Ra t v ys n
R it e fne e e h d e v l Re i m ntM t o d
XRD拟合过程
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1.将txt文本峰的位置和峰值两列都引入到新建excel文本中,方法:打开文件.txt,注意引入时,在空格前选上对号才能将数据正确引入。
2.新建txt文本,将新建excel中的峰值一列(第二列数据)copy到txt中。
1.1并按如下图在上方键入样品名称,直接回车,换行。
1.2第二行顶格输入Cu 后空一个格输入Kalpha 直接回车,换行。
1.3第三行空两个格输入起始衍射角度值(10.0000),空两个格输入终止衍射角度值(120.000)再空两个格,在输入步长0.0200 注:四位小数格式。
3.将excel改为.3cam后缀名。
4.打开Ms-Moding软件,对数据进行三次处理5.注意:(1)不能新建文件,(2)不能查找自己的文件,只能copy文件到Import目录下。
5.1(Modules—Reflex—Kalpha2—如图1)所示,单击strip,完成第一次处理。
5.2 先单击Calculate,再单击Subtract,完成第二步处理。
5.3 单击Smooth,完成第三步操作。
5.4将左侧三次处理结果中,第一次和第二次处理的结果,单击右键删除,值保留原始数据和经过三次处理后的数据。
5.5在数据(界面右侧图示区域)区域单击鼠标右键,选择copy,将处理后的数据复制到中介excel表中,在将excel中的数据,copy到另一个新建的deal.txt文本中(在此操作中excel只是起到中介作用)。
注:不关闭该软件,以便后续查看峰值的位置。
6.将deal后的数据引入到sma4wine.exe中。
注:若已引入数据1)在Edit中选择Close来去掉原来的数据,2)在再Edit中Open新的数据即可。
7.通过Ms-Moding软件,(将x轴用放大镜拖到小数点后一位,再用点选鼠标查看峰值的位置)。
8.x取两度的范围,根据峰的走向趋势,判断峰的情况(单峰、双峰、三峰)对峰值进行拟合。
Analysis中的Estension里的高斯拟合。
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吕光烈 浙江大学
摘要1
在单色X射线照射下,多相体系在衍射空间的散射总量是 各组成相散射分量的叠加,每个组成相的散射分量和其在 多相体系中的丰度与单位晶胞中内原子的种类,数量,及 粒子对射线吸收衬度有关,是一不变量,吸收衬度又与各 组成相对射线的线吸收系数和颗粒尺寸有关。但每个相中 的hkl衍射强度随单位散射体内原子或分子团精细结构及微 结构的变化而变化,并不是一个不变量。基于标准样的单 一hkl或hkl族衍射的内标法、K值法的相丰度分析法,不能 实行多相全定量分析,只能对组成相中某一特定相实行半 定量分析.
堆叠散射体根据实际样品衍射花样予以扩大,对称性降至单斜或三斜,赋予每
个原子位置可以自由移动。因为用这样的结构模型参与全谱拟合修正,在散射
体对称性大小等限制下,原子位置移动结果使计算谱与实验谱间吻合度增加,
但散射总量还是一个不变量.实际上,用拟合修正后结构数据画的蒙脱石结构
图,并未发现其二八面体结构特征有大的改变.散射体扩大相当于V增大,Z也
增多,S值变小,因此,(SVMZ)值不变。
三、散射体模型问题
Fig2.膨润土矿的XRD全谱拟合分相图
三、散射体模型问题
2.天然高岭土和凹凸棒矿物的相定量。这两种矿物与膨润 土中蒙脱石不同,它们属多型矿物,即有多种晶型结构存 在,每种晶型结构本身堆叠位错率高。在分析中,我们通 常不是只选一个结构模型,而是根据实际衍射图,选二个 晶型结构模型,并在拟合修正时让晶胞中每个原子位置参 与修正,取得了非常好的结果。但这里有一点要指出,如 高岭土,修正结果往往可以得到丰度不同的单斜和三斜两 种结构的结果,因为这二种结构的衍射图十分接近,总量 结果我认为是对的,单斜或三斜分量结果的准确性只能供 参考。修正过程相互侵占是不可避免的。相互侵占在结构 修正中的含意是二种结构的标度因子间出现相关。
一、多相材料X射线衍射相定量分析中存在的问题
2. 织构和重叠峰的分离,在多峰重叠情况,对单个hkl衍射峰 而言,较之采用模型的全谱拟合,用峰型函数分峰结果的不 确定范围更大。虽然现在有利用晶体模型计算的RIR值(参 比强度)进行分峰多相全定量。往往因分峰或织构和RIR值 与实际样品应有的RIR值相差太大致使定量结果与实际值差 异甚大。内标法与K值法所依据的单一hkl衍射线或hkl衍射族 是随晶体中原子精细结构和粉末样堆叠微结构不同而有变 化,不是一个不变量,再加上织构分峰等因素,不可能实行 准确的多相定量分析。定量分析必须从这一误区中解脱出 来。
二、多相Rietveld法分离各相散射总量相定量
这是我反复强调要利用XRD全谱,而不是利用某一衍射线强度作为相 丰度分析的理论依据。晶胞内容定了以后,在整个衍射空间散射总量 是只与晶胞内容有关的不变量。总散射量在衍射空间的分布方式,也 就是每个hkl衍射强度除与晶胞中内容有关外,极大地决定于各原子在 晶胞中位置。全谱拟合结构分析,也称Rievteld分析自上世纪六十年 代问世以来,在模型的建立,计算方法上做了大量研究,分析方法已 相当完整。许多程序,特别是近年推出的程序与早期的相比,智能化 程度大有提高,使用十分方便.特别是令人头大的模型数据的输入也 已经变得十分简单.因此用全谱拟合分析进行多相丰度分析在当今计 算机十分普及条件下已变得相当便捷。
由度。含蒙脱石的多相共存天然矿物的相定量分析结果例子如图二所示,实验
谱与拟合谱间吻合相当好。对众多产地和成矿条件不同的天然膨润土样分析表
明,结果的自相关性好,与其它分析方法所得结果具有可比性。分析中我们把
单位散射体扩大的做法是基于这样一种概念,堆叠位错等除使原有堆叠周期性
紊乱以外,并没有使层内原子排布周期性破坏,变成只有近程序的非晶态,把
二、多相Rietveld法分离各相散射总量相定量
多相共存样品,上式变为:
∑ ∑ Yci = sj Ljk Fjk 2∅jk(2θji −2θjk)PjkAj +Ybi
j jk
式中Sj是与每相丰度相关的标度因子,物理含义是实验数 据脉冲数与模型计算电子衍射强度间换算因子。
由拟合分析获得的各相Sj值与其丰度值间存在以下关系式
三、散射模型问题
从上面的分析讨论可知,全谱拟合多相定量分析法,关键是要有每个组成相的散射 体模型.根据我们多年研究,全谱拟合相定量分析,多数物相的结构模型可以在无 机晶体数据库(ICSD)中查到,某些所谓找不到模型的物相或者是已知某种结构的 类质同系物,适当变形也可以获得,特别是天然矿物,除粘土矿外,找不到结构模 型的几乎很少碰到。困难的样品是无序度高的粘土矿物或层状结构的人工合成化合 物。此类化合物结构堆叠中的生长位错、堆叠位错和形变位错致使此类化合物某些 衍射峰宽化、不对称,某些hkl衍射峰位移,甚至强度变化,相变。但此类化合物的 基本层结构都是十分稳定的,都有晶系和晶胞参数可以借鉴,但是找不到拟合模型 或已有的模型无法实行满意的拟合。对此类化合物,我提出用“等效散射体”作为拟合 模型参与相拟合分析。“等效散射体”与一般的晶体结构模型比较,我们注意的只是晶 胞中内容并不重视晶胞中原子分布是否符合晶体学规则,键长键角等是否合理,并 将对称性变异至三斜晶系,拟合修正过程中,让晶胞内原子都参与结构拟合修正, 关心的只是拟合是否合理和满意,所要的只是标度因子。因对单位散射体内原子位 置的修正移动不加任何约束,许多位置若从晶体结构角度看是不合理的结果。这种 不合理是原子有序分布的单体因堆叠位错导致衍射效应异常,至使位置偏离,它只 是一个等效散射体,具有相同的衍射效应.现举以下几个例子。
三、散射体模型问题
Fig3. 凹凸棒矿物的相定量的XRD拟合分析图
三、散射体模型问题
3.海洋锰结核矿的相定量。深海锰结核矿的XRD衍射图呈现弥散 状态,应该说除晶粒细小外,堆叠有序度低。但仔细分析,我们 不能将其看成完全无序,只有近程序的非晶态结构。在衍射图 中,其中的羟锰矿在图中只有几个弥散峰,而且是主要矿物。但 它是有序度高的钡镁锰矿(Todorokite)的前期结构,或者说是 它的堆叠有序度低的结构。有序的钡镁锰矿[Mn6O12(H2O)3]单 胞是由六个锰氧八面体共边连接的环形结构,沿B轴方向延伸堆 叠形成一维隧道形结构,隧道中间有结构充填。由此,我推想羟 基锰矿的基本结构单元也应与钡镁锰矿相同,但它的层堆叠呈现 高度无序状态,也应该是隧道结构,中间充满水。因此我直接选 用钡镁锰矿的结构模型作为参与全谱拟合修正用的单位散射体。 修正结果表明,全谱拟合匹配良好,多样品分析结果自相关性 好,与化学元素分析结果间有很好的可比性。
摘要2
多模型的XRD全谱拟合分析法给多相材料XRD叠合图的分离和每个组 成相散射分量的测定提供了强有力的方法。每个相单位散射体的结构 模型是进行全谱拟合相定量分析的关键。多数固体材料,单位散射体 即单胞的晶体结构模型可以在无机、有机晶体结构数据库中获得;有 序度低的天然粘土矿物,人工合成的各种层状结构化合物,可采用扩 展的散射体或降低对称性的散射体,但散射体“内容”不变的“等效散射 体”作为全谱拟合分析的散射体结构模型。拟合过程对全谱不合理的 分离和各相颗粒尺寸分布不均匀引起线吸收校正困难,是影响各相丰 度测量准确度的主要因素。正确的实验(样品研磨细度,制样等)方 法和拟合分析过程中对各模型参数适当的约束,绝大多数固体材料可 以获得准确度高的相定量分析结果。
一、多相材料X射线衍射相定量分析中存在的问题
1.定量分析所选定的的hkl或hkl衍射族不是一个不变量,因标 准样与待测样晶胞内的原子位置、种类及微结构不可能完全 相同。作为一个物相,在晶胞内容相同条件下,只有在整个 衍射空间的散射量是一不变量,每个hkl衍射线的强度随晶胞 中元素位置的变化而变化,这种变化与结构形成时条件有 关。在多晶材料中,这是很普遍的现象.对于许多新合成的 化合物,往往不可能是单一物相,要找所谓标准样更是困 难。
二、多相Rietveld法分离各相散射总量相定量
多相全谱拟合Rietveld分析法为多相重叠峰分离,测定每 个组成相的不变量-总散射量提供了强有力的手段。用散 射总量替代单个hkl强度,实行多相定量相分析。全谱拟 合Rietveld分析法利用整个衍射空间的散射信息,用多个 含有不同物理含义的模型对实验数字衍射谱进行拟合分 析。拟合过程采用非线性最小平方拟合算法不断调节模型 中参数值,最终使实验数据与模型计算值间达到最佳吻 合。最后的模型参数值即结构参数。全谱拟合分析中,对 研究材料有用的模型参数是晶体结构参数和微结构参数, 在多相情况还有各组成相的丰度。
二、多相Rietveld法分离各相散射总量相定量
用全谱拟合进行多相丰度分析与单相Rietveld分析相比除需所有组成相 的晶体结构模型外,其它的峰型模型,背底模型等都是共同的,算法也 是一样的。而单项散射体模型或者说晶体模型,以CIF文件形式,用鼠 标一拖,瞬间完成输入。
下图是水泥研究样品的定量相分析结果图,共有七个物相.定量相分析 过程是先进行物相分析,输入主要相的晶体CIF文件,作全谱拟合分 析,然后对未能拟合的衍射峰再捡索,把其结构模型再加入进行拟合修 正.结果中丰度1%左右的物相是经过反复比较分析才确定的.对这种 相组成复杂,晶体结构对称性低的样品,也只有通过全谱拟合分析,才 能获得准确的相结构信息.
二、多相Rietveld法分离各相散射总量相定量
拟合所用的二个表达式是: 1. 最小平方拟合残差最小量表达式:
Sy = ∑Wi(Yi − Yci )2
i
Sy-残差 Yi-数字实验衍射图中第i个实验点的实验值 Yci式对应的模型计算值
2 所有拟合用的模型都包含在下述表达式中:
∑ Yci = s Lk Fk 2∅(2θi − 2θk )Pk A+Ybi k
一、多相材料X射线衍射相定量分析中存在的问题
固体材料的定性相分析和相定量是多晶衍射分析中的二大主要任务。上世纪 九十年代计算机搜配(profile-based search/match)方法问世以来,以往 那种费神、繁琐的三强线,八强线线搜配相鉴定被高效率的计算机全谱搜 配所取代,检索的准确性和速度大幅提高,多相固体材料的物相鉴定在各 实验室已变得相对容易,至少在主要物相的鉴定分析上。但相定量在多数 实验室还是停留在内标法1)或K值法2)这两种效率低下的半定量状态。在多 相混合的固体材料中,组成相元素组成的不同,致使其X射线吸收系数存在 差异,每个相的衍射强度与其丰度不是简单的线性关系。内标法与K值法都 是为了解决多相体系中X射线吸收基体效应对强度的影响。二种方法事先都 需要选择标准样和掺杂用的内标化合物如刚玉粉等,制定标准曲线或测定K 值。实际测量时往样品中添加内标物,均匀混样后,测定指定(内标物和 待测物相)hkl衍射线积分强度。下面二个因素决定了这二种方法对多数样 品来讲只能是半定量估计。