cmos器件作业及思考题
CMOS模拟集成电路习题集1
目录例1:估算参数的求取_________________________________________________________2 例2:单级CS放大器的设计——————————————————————————6 例3:单级CS-CG放大器的设计———————————————————————12 例4:基本差分对(图4.1)设计————————————————————————16 例5:套筒式(Cascade)放大器的设计—————————————————————24 例6:基本无缓冲两级运放设计————————————————————————33 例7:高增益无缓冲运放设计—————————————————————————49 例8:高增益、高CMRR无缓冲运放设计———————————————————64例9:β乘法型参考电压源——————————————————————————91例1:估算参数的求取1.Kn 、Kp 的求取图1.1表1.1 思考题1.1:从表1.1中可以看出沟道调制效应系数λ是否为常数?为什么?.上试中:22ox n(p)D on DS onn(p)n(p)μC W W I =V (1+λV )=K V 2L L oxn(p)DS n(p)μC (1+λV K =)22.λn、λp的求取图1.2图1.3图1.4表1.2*比较上面求得的λn、λp与上学期所学教材中λ∝1/L的差异。
MOSFET的简化版图如图1.5所示,其中L1表示MOS管源漏区接触孔与多晶硅之间的最小距离,L2表示接触孔的最小尺寸,L3表示接触孔与源漏区边缘间的最小距离。
寄生电容可按表1.3估算:图1.5表1.3 MOS管寄生电容的计算公式MOSFET的寄生电容C GS C GD C DB(C SB)饱和区C GSO W eff +0.67 C OX W eff L eff C GDO W eff WE C j +2(W+E) C jsw 表1.3中E=L1 + L2 + L3 , L1、L2、L3这些规则尺寸可以很容易在技术资料上找到(对于“懒惰”的工程师们而言,一个也许更高效的办法是从晶元厂提供的版图库中直接通过测量获得)。
模拟集成CMOS考试题
1、与其它类型的晶体管相比,MOS器件的尺寸很容易按____比例____缩小,CMOS电路被证明具有_较低__的制造成本。
2、放大应用时,通常使MOS管工作在_ 饱和区,电流受栅源过驱动电压控制,我们定义_跨导_来表示电压转换电流的能力。
3、λ为沟长调制效应系数,对于较长的沟道,λ值____较小___(较大、较小)。
4、源跟随器主要应用是起到___电压缓冲器___的作用。
5、共源共栅放大器结构的一个重要特性就是_输出阻抗_很高,因此可以做成___恒定电流源_。
6、由于_尾电流源输出阻抗为有限值_或_电路不完全对称_等因素,共模输入电平的变化会引起差动输出的改变。
7、理想情况下,_电流镜_结构可以精确地复制电流而不受工艺和温度的影响,实际应用中,为了抑制沟长调制效应带来的误差,可以进一步将其改进为__共源共栅电流镜__结构。
8、为方便求解,在一定条件下可用___极点—结点关联_法估算系统的极点频率。
9、与差动对结合使用的有源电流镜结构如下图所示,电路的输入电容C in为__ C F(1-A)__。
10、λ为沟长调制效应系数,λ值与沟道长度成___反比__(正比、反比)。
二.名词解释(每题3分,共15分)1、阱解:在CMOS工艺中,PMOS管与NMOS管必须做在同一衬底上,其中某一类器件要做在一个“局部衬底”上,这块与衬底掺杂类型相反的“局部衬底”叫做阱。
2、亚阈值导电效应解:实际上,V GS=V TH时,一个“弱”的反型层仍然存在,并有一些源漏电流,甚至当V GS<V TH时,I D 也并非是无限小,而是与V GS呈指数关系,这种效应叫亚阈值导电效应。
3、沟道长度调制解:当栅与漏之间的电压增大时,实际的反型沟道长度逐渐减小,也就是说,L实际上是V DS的函数,这种效应称为沟道长度调制。
4、等效跨导Gm解:对于某种具体的电路结构,定义inD V I ∂∂为电路的等效跨导,来表示输入电压转换成输出电流的能力 5、米勒定理 解:如果将图(a )的电路转换成图(b )的电路,则Z 1=Z/(1-A V ),Z 2=Z/(1-A V -1),其中A V =V Y /V X 。
华中科技大学CMOS拉扎维第二章课后作业答案中文版
华中科技大学CMOS拉扎维第二章课后作业答案中文版CMOS Analog DesignHome work 1 SolutionBy: 张涛(tomjerry@)2007年3月18日作业内容:一、书本上的习题2.22.5 (a)、(b)、(c)2.6 (a)、(b)2.72.152.82.182.24参考解答过程2.2.(1)对于NMOS,工作在饱和区时,有:21()(1)2D OX GS TH DS W I nC V V V L u λ=-+DGSI Gm V ∂=∂=()(1)OX GS TH DS W nC V V V L u λ-+ ()(1)2OXGS TH D DS WnC V V I V Lu λ-+≈()2OX GS TH D W nC V V I Lu -调制效应)=3.66mA V1Dro I λ==20k ΩA=Gm ro =73.3 (2)对于PMOS ,公式基本同上21()(1)2D p OX GS TH DSW I C V V V Lu λ=-+D GSI Gm V ∂=∂=()(1)pOXGS TH DS WCV V V Lu λ-+ ()(1)2OXGS TH D DS WpC V V I V Lu λ-+≈()2OX GS TH D W pC V V I Lu -调制效应)=1.96mA V1Dro I λ==10k ΩA=Gm ro =19.62.5a.若不考虑二级效应,则21()2XDOXGSTHWI I nC V V Lu ==- =21()2X D OX GS TH W I I nC V V Lu ==-实际情况下,由于衬偏效应会影响THVGSDD XV V V -= DSDD XV V V -= SBXV V =(22)THTH FSBFV V V γ=+∅+-∅21()2X OX GS TH W I nC V V L u =-201((22)2OX GS TH F X F WnC V V V Lu γ-=-∅+-∅IX~VX 曲线图b.(1)当0〈XV 〈1时,S 、D 反向 1.9GSXV V =- 1DSXV V =-VGS-VTH=1.2-VX 〉VDS此时,NMOS 处于S 、D 方向的三极管区XI =212(1.2)(1)(1)2nOXWC Vx Vx Vx Lu ⎡⎤-----⎣⎦ (2)当1〈XV 〈1.2时,VGS-VTH=0.2>VDS=VX-1 (未考虑衬偏效应)此时,NMOS 处于正向导通的三极管区IX=212*0.2(1)(1)2nOXW C Vx Vx Lu ⎡⎤---⎣⎦ (3)当VX ≥1.2时 NMOS 处于饱和区 21()2XOXGSTHW I nC V V Lu =- = 21(0.2)2OXWnCLuIX~VX 曲线图 未考虑衬偏效应时的曲线若考虑衬偏效应,则VTH 增大,当衬偏效应比较小,反向后仍有VGS>VTH , 曲线同上,当衬偏效应比较大时,VGS<VTH ,则MOS 管在反向之后一直截止,曲线如下:IX~VX 曲线图 考虑衬偏效应时的曲线(c )(1)0<Vx<0.3时,MOS 管反向导通。
拉扎维模拟CMOS集成电路设计第三章作业答案详解完整版教程解析
拉扎维模拟CMOS集成电路设计第三章作业答案详解完整版教程解析1. 引言在拉扎维模拟CMOS集成电路设计第三章的作业中,涉及了多个内容,包括放大电路、反馈放大电路、功率放大电路等。
本文将对这些内容进行详细的解析和讲解,并给出相应的答案。
2. 放大电路放大电路是电子电路中非常常见且重要的一种电路结构。
在本章的作业中,我们需要设计一个放大电路,并回答一些相关问题。
2.1 放大电路设计根据作业要求,我们需要设计一个放大电路,输入信号为正弦波,放大倍数为10倍。
我们可以选择使用CMOS集成电路来实现这个放大电路。
首先,我们需要根据放大倍数和输入信号的幅度来确定CMOS放大电路的电路参数。
在设计过程中,我们需要考虑一些关键因素,包括电流源、负反馈电阻等。
其次,我们可以选择合适的电路拓扑结构,例如共源共栅放大电路、共源共漏放大电路等。
根据实际情况,我们可以选择合适的电路结构。
最后,我们需要进行电路参数的计算和电路的仿真。
通过计算和仿真,我们可以得到放大电路的性能指标,例如增益、截止频率等。
2.2 放大电路问题解答在作业中,还需要回答一些问题,例如输入电阻、输出电阻、频率响应等。
针对这些问题,我们需要根据放大电路的拓扑结构和电路参数做相应的计算和分析。
例如,输入电阻可以通过计算输入端的电流和电压之比得到;输出电阻可以通过计算输出端的电流和电压之比得到;频率响应可以通过对放大电路进行交流分析得到。
总的来说,放大电路的设计和问题解答需要综合考虑多个因素,包括电路参数、电路结构、输入信号的幅度、负载等。
需要进行一系列的计算和仿真,以得到满足要求的电路性能。
3. 反馈放大电路反馈放大电路是一种常见的电路结构,它可以通过引入反馈回路来改善电路性能,例如增益稳定性、线性度等。
在作业中,我们需要设计一个反馈放大电路,并回答一些相关问题。
3.1 反馈放大电路设计根据作业要求,我们需要设计一个反馈放大电路,输入信号为正弦波,放大倍数为20倍。
模拟cmos集成电路设计课后题
模拟cmos集成电路设计课后题CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)集成电路设计是现代电子技术的关键领域之一。
该领域涉及到各种基本电路以及整个系统的设计与优化。
本文将模拟一篇CMOS集成电路设计的课后题,其中包括对基本电路的设计以及系统级优化的考察。
第一部分:基本电路设计(2000字左右)1. 设计一个2输入与门的CMOS电路。
给出电路图,并写出相应的布尔表达式。
2. 为了减小功耗并提高响应速度,经常需要将电路设计为动态逻辑电路。
请设计一个动态逻辑的非门电路,给出电路图,并写出相应的时钟脉冲控制信号。
第二部分:CMOS集成电路设计(2000字左右)3. 设计一个3输入与门的CMOS电路,并对其功耗进行优化。
4. 设计一个4位二进制全加器的CMOS电路,并考虑功耗和面积的优化。
第三部分:系统级优化(2000字左右)5. 将两个2输入与门和一个2输入或门组合成一个3输入与门。
请给出详细的设计流程和最终的电路图。
6. 设计一个8位互补码加法器的CMOS电路,并考虑功耗、面积和延迟的优化。
第一部分:基本电路设计1. 设计一个2输入与门的CMOS电路。
给出电路图,并写出相应的布尔表达式。
CMOS与门的基本电路由PMOS管和NMOS管组成。
在输入A和B分别接入与门电路的两个输入端,而输出则连接到NMOS管和PMOS管接口的并联电路的输出端。
当A和B同时为高电平时,输出才为高电平。
其布尔表达式可以写为:Z = A * B。
2. 为了减小功耗并提高响应速度,经常需要将电路设计为动态逻辑电路。
请设计一个动态逻辑的非门电路,给出电路图,并写出相应的时钟脉冲控制信号。
动态非门电路的设计可以采用PMOS管串联的结构。
当输入S 为高电平时,NMOS管导通,输出结果为0;当输入S为低电平时,PMOS管导通,输出结果为1。
其时钟脉冲控制信号可以表示为:NAND(A, A)。
集成电路CMOS题库
一、选择题Moore 在1965年预言:每个芯片上晶体管的数目将每个月翻一番。
(B )2.MOS 管的小信号输出电阻是由MOS 管的效应产生的。
(C )A.体B.衬偏C.沟长调制D.亚阈值导通3.在CMOS 模拟集成电路设计中,我们一般让MOS 管工作在区。
(D )A.亚阈值区B.深三极管区C.三极管区D.饱和区管一旦出现现象,此时的MOS 管将进入饱和区。
(A )A.夹断B.反型C.导电D.耗尽5.表征了MOS 器件的灵敏度。
(C )A.o rB.b m gC.m gD.ox n c u6.Cascode 放大器中两个相同的NMOS 管具有不相同的。
(B )A.o rB.b m gC.m gD.ox n c u7.基本差分对电路中对共模增益影响最显著的因素是。
(C )A.尾电流源的小信号输出阻抗为有限值B.负载不匹配C.输入MOS 不匹配D.电路制造中的误差8.下列电路不能能使用半边电路法计算差模增益。
( C )A.二极管负载差分放大器B.电流源负载差分放大器C.有源电流镜差分放大器 负载Casocde 差分放大器9.镜像电流源一般要求相同的。
( D )A.制造工艺B.器件宽长比C.器件宽度WD.器件长度L10. NMOS 管的导电沟道中依靠导电。
( )A.电子B.空穴C.正电荷 D.负电荷11.下列结构中密勒效应最大的是。
(A )A.共源级放大器B.源级跟随器C.共栅级放大器D.共源共栅级放大器12.在NMOS 中,若0V sb >会使阈值电。
(A )A.增大B.不变C.减小 D.可大可小13. 模拟集成电路设计中可使用大信号分析方法的是。
(C )A.增益B.输出电阻C.输出摆幅 D.输入电阻14. 模拟集成电路设计中可使用小信号分析方法的是。
(A )A.增益B.电压净空C.输出摆幅 D.输入偏置15. 下图中,其中电压放大器的增益为-A ,假定该放大器为理想放大器。
(精选)华中科技大学CMOS拉扎维第三章课后作业中文答案
(精选)华中科技大学CMOS拉扎维第三章课后作业中文答案3.1 分析:对于PMOS 和NMOS 管二极管连接形式的CS 放大电路,最大的区别在于PMOS 做负载无体效应,所以这里应该考虑g mb 的影响。
同时,由于L=0.5,沟道长度比较短,所以,沟长调制效应也应该考虑进去。
2441401034.11099.31085.8350μμ2V A t C OX sio n OXn ---?==?=εε 同理 25p 10835.3μV A C OX -?=∵ 5.0501=L W 5.0102=???? ??L W A I I D D m 5.021== ∴ K I r DN o o 201r 21===λ()()22222n 2121DS N TH GS ox D V V V L W C I λμ+-???? ??= V O = 1.46V V A I LWC D OX m /106.32g 31-?==μ VA m /1063.1g 32-?=V A V g SBF m m /1038.222g 422b -?=+=φγ输出电阻:Ω=++=-508//g 1R 11222o o mb m OUT r r g∴增益 85.1g A 1-=-=OUT m V RM2换为PMOS 管,则可忽略M2的体效应,同理可得Ω=+=-974//g 1R 1122o o m OUT r r∴增益 85.0g A 1-=-=OUT m V R3.2 (a )∵ 5.0501=L W 2502=???? ??L W A I I D D m 5.021== ∴ K I D N o 201 r 1==λ K I DP o 101r 2==λ又 2401034.1μμ2V A t C OXsion OX n -?=?=εεWC D OX m /106.32g 31-?==μ∴增益 ()4.24//r g A 211-=-=o o m V r(b )求输出电压的最大摆幅及求输出电压最大值与最小值之差分析可知,当M1管处于临界三极管区时输出电压有最小值V omin ,此时有:11TH GS DS OUT V V V V -==()()DS N TH GS ox D V V V L W C I λμ+-???? ??=121211n 有以上两式可推得 V omin =0.27当M2管处于临界三极管区是输出电压有最大值V omax ,同理有:()()SDP TH GS ox D V V V L W C I λμ+-???? ??=121222pV SDMIN = 0.99 ∴ V omax = V DD -V SDMIN = 2V∴输出电压的最大摆幅为V omax - V omin = 1.73V 3.3 (a )∵5 .050=L W A I D m 11= Ω=K R D 2N o 101r ==λK R D o OUT 66.1//r R 1==V A I LWC D OX m /1018.52g 31-?==μ∴ 增益 86.0g A 1-=-=OUT m V R (b )∵M1工作在线性区边缘∴ TH GS DS OUT V V V V -==1()DOUTDD TH GS ox D R V V V V L W C I -=-???? ??=21n 21μ由以上两式可得 V V GS 13.1= , A I D 3-1028.1?= ∴KI DN o 8.71r ==λ∴ 增益 ()34.9//r g A 1-=-=D(c )各区域主要由DS V 决定,进入线性区50mV 即三极管临界区的DS V 减小50mV ∵ 临界区的V R I V V D D DD DS 44 .0=-=所以进入线性区50mV 时的DS V =0.39V∴ A R V V I DDSDD D 3103.1-?=-==∴ ()()V V V V V V L W C I GS DS DS TH GS ox D 14.122121n =?--???? ??=μ又∵ 三极管区 19.5g 1n ==DS ox m V L W C μ()K R V V V L W C V I R O DS TH GS ox DS D O28.111n 1=?--=??=-μ∴增益 ()4//R g A -=-=Do m V R3.12分析:已知各支路电流及M1宽长比,可求得M1过驱动电压即out V ,从而由M2的gsV 及电流可求得其宽长比。
cmos器件作业及思考题
NMOS英文全称为:N-Mental-Oxide-Semiconductor。
意思为金属-氧化物-半导体,而拥有这种结构的晶体管我们称之为MOS晶体管。
有P型MOS管和N型MOS管之分。
由MOS管构成的集成电路称为MOS集成电路,由NMOS组成的电路就是NMOS集成电路,由PMOS管组成的电路就是PMOS集成电路,由NMOS和PMOS两种管子组成的互补MOS电路,即CMOS电路。
PMOS是指n型衬底、p沟道,靠空穴的流动运送电流的MOS管全称:positive channel Metal Oxide Semiconductor别名:positive MOS金属氧化物半导体场效应(MOS)晶体管可分为N沟道与P沟道两大类,P沟道硅MOS场效应晶体管在N型硅衬底上有两个P+区,分别叫做源极和漏极,两极之间不通导,源极上加有足够的正电压(栅极接地)时,栅极下的N型硅表面呈现P型反型层,成为连接源极和漏极的沟道。
改变栅压可以改变沟道中的电子密度,从而改变沟道的电阻。
这种MOS场效应晶体管称为P沟道增强型场效应晶体管。
如果N型硅衬底表面不加栅压就已存在P型反型层沟道,加上适当的偏压,可使沟道的电阻增大或减小。
这样的MOS场效应晶体管称为P沟道耗尽型场效应晶体管。
统称为PMOS晶体管。
P沟道MOS晶体管的空穴迁移率低,因而在MOS晶体管的几何尺寸和工作电压绝对值相等的情况下,PMOS晶体管的跨导小于N沟道MOS晶体管。
此外,P沟道MOS晶体管阈值电压的绝对值一般偏高,要求有较高的工作电压。
它的供电电源的电压大小和极性,与双极型晶体管——晶体管逻辑电路不兼容。
PMOS因逻辑摆幅大,充电放电过程长,加之器件跨导小,所以工作速度更低,在NMOS电路(见N沟道金属—氧化物—半导体集成电路)出现之后,多数已为NMOS电路所取代。
只是,因PMOS电路工艺简单,价格便宜,有些中规模和小规模数字控制电路仍采用PMOS电路技术。
拉扎维模拟CMOS集成电路设计第二章作业答案详解完整版
gmnC O XW LV D SnC O XW L(1 V x)
② 当1V<VX<1.2V时,MOS管工作在线性区
I X 1 2 n C O X W L [ 2 0 . 2 ( V X 1 ) ( V X 1 ) 2 ] 1 2 n C O X W L ( 1 . 4 V X ) ( V X 1 )
W
W
gmnC O XLV D SnC O XL(V x 1 )
精品课件
③ 当VX≥1.2V时,MOS管工作在饱和区
IX
+
IX 1 2n C O X W L ( V G S V T H )2 1 2n C O X W L (0 .2 )2
1.9V
VX
M1
-
+
g mn C O XW L(V G S V T H )0 .2n C O XW L
1
ID2
pC oxL W eff (V G SV TH)2(1p3)
ID4 .8 1 0 3(V S G0 .8 )2
08.8541012F/msio2 3.9
Cox
0 sio2 tox
3.837103F/m2
精品课件
2.2 W/L=50/0.5, |ID|=0.5mA,计算NMOS和PMOS的跨导 和输出阻抗,以及本证增益gmro
解:
gm
2Cox
W L
ID
ro
1 ID
gmro
2CoxW LID1 IDA
W L ID
精品课件
2.4 分别画出MOS晶体管的ID~VGS曲线。a) 以VDS作为参
数;b)以VBS为参数,并在特性曲线中标出夹断点
解:以NMOS为例
+
CMOS复习题
CMOS1、假设MOS 管的λ≠0,(1)分别写出NMOS 与PMOS 工作在线性区与饱和区的条件;(2)NMOS与PMOS 管工作在线性区及饱和区的I D 公式;(3) NMOS 与PMOS 管工作在线性区及饱和区的跨导。
2、MOS 管的λ≠0以及V SB ≠0: (1) 画出MOS 管工作在饱和区的完整小信号模型;(2) 写出NMOS 管工作在饱和区的C GS ;(3) 写出NMOS 管工作在饱和区的跨导。
3、对于图1所示电路,其宽长为W/L ,单位面积的栅-氧层电容为C ox ,源/漏单位宽度的交叠电容为C OV ,源/漏单位面积的纵向结电容为C j ,源/漏单位长度的侧壁电容为C jsw 。
(1) 讨论其栅源电容C GS 随栅源电压V GS 的关系;(2) 对给定的V D 电压,画出其栅源电容C GS 随栅源电压V GS 的变化曲线。
DV Ggnd图14、在放大器设计中,应考虑哪些性能参数?5、“环形”MOS 结构如图2所示,解释器件是如何工作的,并估算其等效宽度。
比较这种结构与图3中所示结构的漏结电容(a) (b)图2 图3 6、画出NMOS 晶体管的I D ~V GS 曲线,并在特性曲线中标出夹断点:(1)以V DS 作为参数;(2)以V BS 为参数。
7、对于图4所示NMOS 器件,若V G =1.5V 且V S =0 :(1) 解释如果将V D 不断减小到低于0V ,将发生什么情况? (2) 将V sub 不断增大到0V 以上,将会发生什么情况?8、已知MOS 器件工作在饱和区,且λ≠0及γ=0。
(1) 推导MOS 器件工作在饱和区的本征增益与栅-源电压的关系式。
(2) I D 恒定,画出其本征增益与栅-源电压的函数曲线。
(3)跨导g m 恒定,画出其本征增益与栅-源电压的函数曲线。
9、图5所示电路中,(W/L)1=20μm/0.5μm , I 1=1mA ,I S =0.75mA ,假设λ=0: (1) 计算使2WWV G=1.5V 图4M 1工作在线性区边缘的(W/L)2;(2) 求出M 1工作在线性区边缘的小信号增益。
CMOS复习题
CMOS模拟集成电路设计复习思考题1.写出NMOS管的开启导通条件、饱和导通条件以及分别工作在线性区和饱和区的漏电流公式(λ≠0)。
2.写出NMOSFET分别在饱和区和深线性区的跨导gm及小信号输出电阻公式。
3.MOS运放中MOS管应工作在线性区还是饱和区?为什么?4.MOSFET有哪些二级效应?5.什么是MOSFET的衬偏效应和沟道调制效应?沟道调制效应系数λ与沟道长度L、MOS管工作在饱和区的小信号电阻r0有何关系?6.分别画出P-SUB及N-SUB上的NMOS管和PMOS管的剖面图。
P-SUB及N-SUB应分别接什么电位,为什么?7.画出单级共源共栅放大器的电路图,若这一电路制造在N-SUB上,其中那些管存在衬偏效应和那些管不存在衬偏效应?为什么?8.画出NMOSFET的I D—V DS曲线及其低频时的小信号等效电路(λ≠0,γ=0)。
9.MOSFET为什么可以用作模拟开关?传送低电平“0”时应选用NMOS管还是PMOS管?如果既要传送“0”和“1”电平,可以采取什么办法?10.比较电阻负载、恒流源负载和MOS“二极管”负载的CS放大器的主要区别。
11.差分放大器的主要优点是什么?12.写出下图中从箭头端看进去的小信号输入电阻13.写出下图中的小信号输出电阻14.假定λ≠0,γ=0,写出下图中从输出端看进去的输入电阻R in1~R in4,其中可用作恒流源的是那些电路单元?比较这些恒流源单元电路各有何特点。
15.“极点越多放大器带宽越窄”的说法正确吗?为什么?16.比较恒流源负载的CS、CD、CG放大器的带宽大小关系,如果想得到较大的增益带宽积,可采取的办法是什么?17.以下图(A)基本CS放大器为例,试说明①何谓米勒效应?②为什么说Von是模拟CMOS集成电路设计中的一个重要设计参数。
18.上图电路中,假定节点out1和out2的小信号输出电阻与信号源內阻Rs有相同的数量级,节点out1和out2的寄生电容也具有相同的数量级,回答下面问题:1)假定(A)、(B)电路做在同一个衬底上,试判断衬底的类型并说明原因。
集成电路CMOS题库
一、选择题1.Gordon Moore 在1965年预言:每个芯片上晶体管的数目将每个月翻一番。
(B )A.12B.18C.20D.242.MOS 管的小信号输出电阻是由MOS 管的效应产生的。
(C )A.体B.衬偏C.沟长调制D.亚阈值导通3.在CMOS 模拟集成电路设计中,我们一般让MOS 管工作在区。
(D )A.亚阈值区B.深三极管区C.三极管区D.饱和区4.MOS 管一旦出现现象,此时的MOS 管将进入饱和区。
(A )A.夹断B.反型C.导电D.耗尽5.表征了MOS 器件的灵敏度。
(C )A.o rB.b m gC.m gD.ox n c u6.Cascode 放大器中两个相同的NMOS 管具有不相同的。
(B )A.o rB.b m gC.m gD.ox n c u7.基本差分对电路中对共模增益影响最显著的因素是。
(C )A.尾电流源的小信号输出阻抗为有限值B.负载不匹配C.输入MOS 不匹配D.电路制造中的误差8.下列电路不能能使用半边电路法计算差模增益。
( C)A.二极管负载差分放大器B.电流源负载差分放大器C.有源电流镜差分放大器D.Cascode 负载Casocde 差分放大器9.镜像电流源一般要求相同的。
( D) A.制造工艺 B.器件宽长比 C.器件宽度W D.器件长度L10. NMOS 管的导电沟道中依靠导电。
( )A.电子B.空穴C.正电荷D.负电荷11.下列结构中密勒效应最大的是。
(A )A.共源级放大器B.源级跟随器C.共栅级放大器D.共源共栅级放大器12.在NMOS 中,若0V sb 会使阈值电。
(A )A.增大B.不变C.减小D.可大可小13. 模拟集成电路设计中可使用大信号分析方法的是。
(C )A.增益B.输出电阻C.输出摆幅D.输入电阻14. 模拟集成电路设计中可使用小信号分析方法的是。
(A )A.增益B.电压净空C.输出摆幅D.输入偏置15. 下图中,其中电压放大器的增益为-A ,假定该放大器为理想放大器。
集成电路CMOS题库
集成电路CMOS题库⼀、选择题1、Gordon Moore 在1965年预⾔:每个芯⽚上晶体管得数⽬将每个⽉翻⼀番。
(B )A 、12B 、18C 、20D 、242.MOS 管得⼩信号输出电阻就是由MOS 管得效应产⽣得。
(C )A.体 B 、衬偏 C 、沟长调制 D 、亚阈值导通3.在CMOS 模拟集成电路设计中,我们⼀般让MOS 管⼯作在区。
(D )A 、亚阈值区B 、深三极管区C 、三极管区D 、饱与区4、MOS 管⼀旦出现现象,此时得MOS 管将进⼊饱与区。
(A )A 、夹断B 、反型C 、导电D 、耗尽5、表征了MOS 器件得灵敏度。
(C )A 、o rB 、b m gC 、m gD 、ox n c u6.Cascode 放⼤器中两个相同得NMOS 管具有不相同得。
(B )A 、o rB 、b m gC 、m gD 、ox n c u7.基本差分对电路中对共模增益影响最显著得因素就是。
(C )A 、尾电流源得⼩信号输出阻抗为有限值B 、负载不匹配C 、输⼊MOS 不匹配A.⼆极管负载差分放⼤器 B 、电流源负载差分放⼤器C 、有源电流镜差分放⼤器D 、Cascode 负载Casocde 差分放⼤器9、镜像电流源⼀般要求相同得。
( D )A 、制造⼯艺 B 、器件宽长⽐ C 、器件宽度W D 、器件长度L10、 NMOS 管得导电沟道中依靠导电。
()A.电⼦ B 、空⽳ C 、正电荷 D 、负电荷11、下列结构中密勒效应最⼤得就是。
(A )A 、共源级放⼤器B 、源级跟随器C 、共栅级放⼤器D 、共源共栅级放⼤器12.在NMOS 中,若0V sb 会使阈值电。
(A )A 、增⼤B 、不变C 、减⼩D 、可⼤可⼩13、模拟集成电路设计中可使⽤⼤信号分析⽅法得就是。
(C )A 、增益B 、输出电阻C 、输出摆幅D 、输⼊电阻14、模拟集成电路设计中可使⽤⼩信号分析⽅法得就是。
(A )A 、增益B 、电压净空C 、输出摆幅D 、输⼊偏置15、下图中,其中电压放⼤器得增益为-A ,假定该放⼤器为理想放⼤器。
cmos思考题
1. 模拟集成电路的主要功能是什么?2. 模拟集成电路在电子系统中的位置如何?3. 当代模拟集成电路设计面临的主要挑战是什么?第二讲:1. 主流CMOS工艺的主要几个大步骤是什么?2. 请画出典型CMOS工艺流程中,CMOS器件剖面结构示意图。
第三讲:1. MOS作为开关应用是应该关注的问题有哪些?2. 三种组态的电路之间有什么异同?3. 如何理解单管放大电路的工作本质,并在增益估算中如何运用?(详见教材课后习题)第四讲:1. 差分放大器与单管放大器相比的优缺点?2. 了解常见的几种差放结构。
第五讲:1. 电流源电流镜首要考虑的参数指标有哪些?2. 实现电流源电流镜的基本原理是什么?3. 改进电流源电流镜参数的思路是什么?1. 电流电压参考首要考虑的参数指标有哪些?2. 实现电流电压参考的基本原理是什么?3. 改进电流电压参考参数的思路是什么?第七讲:1. 输出级的首要考虑参数指标有哪些?2. 常见输出级有哪些结构?第八讲:1. 电路噪声具有哪些特征?2. 电路的噪声来源有哪些?3. 噪声来源的模型有哪些?4. 如何简单估算电路噪声?第九讲:1. 如何判断反馈类型?2. 负反馈对电路产生哪些影响?第十讲:1. 从放大器角度对器件有哪些要求?2. 放大器电路的基本构成是怎样?第十一讲:1. 放大器的频率响应怎么分析?2. 如何得到波特图?3. 如何理解得到的波特图?第十二讲:1. 如何衡量运算放大器的性能?2. 如何让运放大器工作时更稳定?第十三讲:1. 掌握常见运放结构的设计流程。
补充说明:该习题主要用作理解所学内容,更多详细计算习题见教材各章节习题。
拉扎维模拟CMOS集成电路设计第三章作业答案详解完整版教程解析 (2)
拉扎维模拟CMOS集成电路设计第三章作业答案详解完整版教程解析第一题题目:请解释拉扎维模拟CMOS集成电路设计的主要目标。
拉扎维模拟CMOS集成电路设计的主要目标是通过集成电路设计技术来实现高性能、低功耗、低噪声、高稳定性的模拟电路。
具体目标包括:1.高性能:通过优化电路结构和参数,提高电路的增益、带宽和速度,以满足高性能模拟信号处理需求。
2.低功耗:采用低功耗设计技术,减少功耗和电源电压,提高电路的能效比,延长电池寿命。
3.低噪声:通过降低噪声源和优化电路设计,减少电路的噪声,并提高信号与噪声比,以提高电路的信号处理能力。
4.高稳定性:通过减小电路参数的变化范围、提高电路对温度、工艺和电源电压的抵抗能力,提高电路的稳定性和可靠性。
综合上述目标,拉扎维模拟CMOS集成电路设计致力于设计出符合实际需求,并具有良好性能、可靠性和可实施性的模拟电路。
第二题题目:什么是负载效应?在拉扎维模拟CMOS集成电路中如何考虑负载效应?负载效应是指当负载改变时,电路的工作条件和性能表现发生变化的现象。
在拉扎维模拟CMOS集成电路中,考虑负载效应是非常重要的。
拉扎维模拟CMOS集成电路中,电路的输入和输出之间会存在阻抗差异,从而导致在连接电路之间引入额外的电容和电阻负载。
这些负载对电路的工作状态产生影响,可能导致增益降低、频率响应偏移、功耗增加等问题。
为了考虑负载效应,在拉扎维模拟CMOS集成电路设计中,需要进行以下步骤:1.电路参数分析:通过计算和仿真,分析电路的输入和输出阻抗,确定电路的负载情况。
2.负载效应补偿:根据负载效应分析结果,采取一系列补偿措施来消除或减小负载效应对电路性能的影响。
例如,可以通过优化电路的结构或参数来改变电路的负载特性,使其更符合设计要求。
3.电路稳定性分析:在设计过程中,还需要对电路的稳定性进行分析。
如果负载效应较大,可能会导致电路的振荡或不稳定现象。
通过稳定性分析,可以预测和避免这些问题的发生。
CMOS解答5
Page 5-3
M2 M1 + vIN
W2 = 2µm L2 1µm ID + vOUT W1 = 5µm L1 1µm -
-
Fig. S5.1-04
→ Vin = 1.303V g Av ≅ − m1 = − gm 2
Rout ≅
(K ) W L (K ) L W
' N ' P 1
Page 5-2
M2 M1 + vIN
W2 = 1µm L2 1µm ID + vOUT W1 = 2µm L1 1µm -
Vout (max) = VDD − VTp = 4.3 V
From Eq. (5.1-5), Vout (min) can be calculated as (V − VT ) Vout (min) = VDD − VT − DD β 1+ 2 β1
CMOS Analog Circuit Design (2nd Ed.) – Homework Solutions
Page 5-1
CHAPTER 5 – HOMEWORK SOLUTIONS
Problem 5.1-01 Assume that M2 in Fig. 5.1-2 is replaced by a 10kΩ resistor. Use the graphical technique illustrated in this figure to obtain a voltage transfer function of M1 with a 10kΩ load resistor. What is the maximum and minimum output voltages if the input is taken from 0V to 5V? Solution A computer generated plot of this problem is shown below.
模拟CMOS第一次作业答案
模拟集成电路设计第一次作业1、答:密勒电容(Miller Capacitance)是指跨接在放大器(放大工作的器件或者电路)的输出端与输入端之间的电容。
等效成下图:由电流关系得:1101i L i m o i C sC v sC v v -=-= 2101i L o m o i C sC v sC v v -=-=所以:1)(L i o i m C v v v C ⋅=- 2)(L O o i m C v v v C ⋅-=-等效密勒电容: )1(1VC m i o i m L A C v v v C C -⋅=-⋅= )11(2vcm o i o m L A C v v v C C -⋅=-⋅= 由于放大器的作用,其等效到输入端电容值扩大1-A 倍,输出端电容值为1-1/A 倍。
在两级CS 放大器中,两个极点在相近的位置,使电路的相位裕度变差。
加上Miller 电容补偿后,前一级的极点变小(电容变大),后级极点变大(阻抗小),两极点分离,从而改善相位裕度。
2、答:(1)40004010052005.05022110=⨯=⋅=⋅=ss s s g g g g A dr m dr m V μμμμ 主极点 MHz pfs C g C r p dr o 5.015.0111111====μ次极点 MHz pfs C g C r p dr o 25.145122222====μ (2)由密勒效应 M M L C A C A C ⋅≈⋅+=)1(1 KHz pf pf s C g g C g P C A C r C C r C r P M dr m dr M V o L o o 5.254015.0)(1112211'1211111'11'1=⨯+=⋅+=⋅+=+==μ所以:)( MHz KHz P A GBW VO 105.24000'1=⨯==(3)Ω==∞==-===-=+=+K R RHP C z g R R g C g s z g R g sC g R sC sC V g sC R V M M m M M m M m m M m M m MM M inm M M in5s2001,,1)1()1(112222222μ零点的影响:引入的可消除则当零点: 3、答:根据理想运放的“虚短”“虚断”:02636V SC R V I R -==0623V R SC V -=⇒ 351231525V R SC V V SC R V I R -=⇒-== 0652122V R R C C S V =⇒32653212201323220221310)(1R R R R R C C S R V V R R R V R V V R V V R V V ++=⇒++=⇒-=- 又4314141104311110)(R V R R V R R V R V V R V V -+=⇒-=-0461243265321224110])())(([V R R R SC R R R R R R C C S R R R V ++++=⇒ 63212653212241432010)()())(()(R R R R SC R R R C C S R R R R R R V V H S +++++== 6532125341132126534121432)()()()()(R R R C C R S R R R R C R R R S R R R R R C C R R R H S ++++++=∴传递函数。
拉扎维模拟CMOS集成电路设计第二章作业答案详解完整版中文全
1.8)(Vin
Vout ) (Vin
Vout )2 ]R1
第十九页,共38页。
2.9 对于图2.46的每个电路,画出IX和VX关于时间的函数曲线
图。C1的初始电压等于3V。
Ix
Vx
(a) λ=γ=0 , VTH=0.7V,Vb>VTH 当Vb-0.7 ≤ VX≤3V时,M1工作在饱和区
Vb
` C1
M1
Ix
1 2
nCOX
W L
(Vb
0.7)2
dQ Ixdt CdVX
dV Vx (t )
3V
X
t
0 I xdt
VX
(t)
3
1 2
nCOX
W L
(Vb
0.7)2
t
当VX< Vb-0.7时,M1工作在线性区,则
Ix
1 2
nCOX
W L
[2(Vb
0.7) VX
VX2 ]
第二十页,共38页。
当VX< Vb-0.7时,M1工作在线性区,则
1 2
nCox
WLVSBV=0GS
-
VVSB>0 TH
+
VBS
-
2
VDS
-
当VGS>VDS+VTH时,MOS工作在三极管区(线性区)
ID
nCox
W L
VGS
VTH
VDS
1 2
VD2S
VTH
VGS
VTH0 VTH1
VGS
VDS+VTH1 VDS+VTH0
VDS3+VTH VDS2+VTH VDS1+VTH
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NMOS 英文全称为:N-Mental-Oxide-Semiconductor 。
意思为金属-氧化物-半导体,而拥有这种结构的晶体管我们称之为MOS晶体管。
有P型MOS 管和N型MOS管之分。
由MOS管构成的集成电路称为MOS集成电路,由NMOS组成的电路就是NMOS集成电路,由PMOS管组成的电路就是PMOS集成电路,由NMOS和PMOS两种管子组成的互补MOS电路,即CMOS电路。
PMOS是指n型衬底、p沟道,靠空穴的流动运送电流的MOS管全称 : positive cha nnel Metal Oxide Semic on ductor别名:positive MOS金属氧化物半导体场效应(MOS)晶体管可分为N沟道与P沟道两大类,P沟道硅MOS场效应晶体管在N型硅衬底上有两个P+区,分别叫做源极和漏极,两极之间不通导,源极上加有足够的正电压(栅极接地)时,栅极下的N型硅表面呈现P型反型层,成为连接源极和漏极的沟道。
改变栅压可以改变沟道中的电子密度,从而改变沟道的电阻。
这种MOS场效应晶体管称为P沟道增强型场效应晶体管。
如果N型硅衬底表面不加栅压就已存在P型反型层沟道,加上适当的偏压,可使沟道的电阻增大或减小。
这样的MOS场效应晶体管称为P沟道耗尽型场效应晶体管。
统称为PMOS晶体管。
P沟道MOS晶体管的空穴迁移率低,因而在MOS晶体管的几何尺寸和工作电压绝对值相等的情况下,PMOS晶体管的跨导小于N沟道MOS晶体管。
此外,P沟道MOS晶体管阈值电压的绝对值一般偏高,要求有较高的工作电压。
它的供电电源的电压大小和极性,与双极型晶体管一一晶体管逻辑电路不兼容。
PMOS因逻辑摆幅大,充电放电过程长,加之器件跨导小,所以工作速度更低,在NMOS电路(见N沟道金属一氧化物一半导体集成电路)出现之后,多数已为NMOS电路所取代。
只是,因PMOS电路工艺简单,价格便宜,有些中规模和小规模数字控制电路仍采用PMOS电路技术。
MOSFET共有三个脚,一般为G、D、S,通过G、S间加控制信号时可以改变D、S间的导通和截止。
PMOS和NMOS在结构上完全相像,所不同的是衬底和源漏的掺杂类型。
简单地说,NMOS是在P 型硅的衬底上,通过选择掺杂形成N型的掺杂区,作为NMOS的源漏区;PMOS是在N型硅的衬底上,通过选择掺杂形成P型的掺杂区,作为PMOS的源漏区。
两块源漏掺杂区之间的距离称为沟道长度L,而垂直于沟道长度的有效源漏区尺寸称为沟道宽度W。
对于这种简单的结构,器件源漏是完全对称的,只有在应用中根据源漏电流的流向才能最后确认具体的源和漏。
PMOS的工作原理与NMOS相类似。
因为PMOS是N型硅衬底,其中的多数载流子是电子,少数载流子是空穴,源漏区的掺杂类型是P型,所以,PMOS的工作条件是在栅上相对于源极施加负电压,亦即在PMOS的栅上施加的是负电荷电子,而在衬底感应的是可运动的正电荷空穴和带固定正电荷的耗尽层,不考虑二氧化硅中存在的电荷的影响,衬底中感应的正电荷数量就等于PMOS栅上的负电荷的数量。
当达到强反型时,在相对于源端为负的漏源电压的作用下,源端的正电荷空穴经过导通的P型沟道到达漏端,形成从源到漏的源漏电流。
同样地,VGS越负(绝对值越大),沟道的导通电阻越小,电流的数值越大。
与NMOS —样,导通的PMOS的工作区域也分为非饱和区,临界饱和点和饱和区。
当然,不论NMOS还是PMOS,当未形成反型沟道时,都处于截止区,其电压条件是VGSWTN (NMOS),VGS>VTP (PMOS),值得注意的是,PMOS的VGS和VTP都是负值。
PMOS集成电路是一种适合在低速、低频领域内应用的器件。
PMOS 集成电路采用-24V电压供电。
如图5所示的CMOS-PMOS接口电路米用两种电源供电。
米用直接接口方式,一般CMOS的电源电压选择在10〜12V就能满足PMOS对输入电平的要求。
MOS场效应晶体管具有很高的输入阻抗,在电路中便于直接耦合,容易制成规模大的集成电路。
各种场效应管特性比较在2004年12月的国际电子器件会议(IEDM)上表示:双应力衬垫(DSL)方法导致NMOS和PMOS中的有效驱动电流分别增加15%和32%,饱和驱动电流分别增加11%和20%。
PMOS的空穴迁移率在不使用SiGe的情况下可以提高60%,这已经成为其他应变硅研究的焦点。
CMOS(Compleme ntary Metal Oxide Semic on ductor)指互补金属氧化物(PMOS管和NMOS管)共同构成的互补型MOS集成电路制造工艺,它的特点是低功耗。
由于CMOS中一对MOS组成的门电路在瞬间看,要么PMOS导通,要么NMOS导通,要么都截至,比线性的三极管(BJT)效率要高得多,因此功耗很低。
BiMOS浏览2297次双极金属氧化物半导体bipolar metal-oxide semic on ductor双极工艺和半导体工艺在单一器件上的结合。
参见BiCMOS。
BiCMOS是继CMOS后的新一代高性能VLSI工艺。
CMOS以低功耗、高密度成为80年VLSI的主流工艺。
随着尺寸的逐步缩小,电路性能不断得到提高,但是当尺寸降到1um以下时,由于载流子速度饱和等原因,它的潜力受到很大的限制。
把CMOS和Bipolar集成在同一芯片上,发挥各自的优势,克服缺点,可以使电路达到高速度、低功耗。
BiCMOS工艺一般以CMOS工艺为基础,增加少量的工艺步骤而成。
BiCMOS( Bipolar CMOS )是CMOS和双极器件同时集成在同一块芯片上的技术,其基本思想是以CMOS器件为主要单元电路,而在要求驱动大电容负载之处加入双极器件或电路。
因此BiCMOS电路既具有CMOS电路高集成度、低功耗的优点,又获得了双极电路高速、强电流驱动能力的优势。
电子管,是一种最早期的电信号放大器件。
被封闭在玻璃容器(一般为玻璃管)中的阴极电子发射部分、控制栅极、加速栅极、阳极(屏极)引线被焊在管基上。
利用电场对真空中的控制栅极注入电子调制信号,并在阳极获得对信号放大或反馈振荡后的不同参数信号数据。
早期应用于电视机、收音机扩音机等电子产品中,近年来逐渐被半导体材料制作的放大器和集成电路取代,但目前在一些高保真的音响器材中,仍然使用低噪声、稳定系数高的电子管作为音频功率放大器件(香港人称使用电子管功率放大器为“胆机”)。
电子管功放(胆机)的音质明显优于晶体管功放。
晶体管功放(石机)听起来咼频、中咼频有偏多感觉,低频感觉偏少,晶体管功放听起来声音较硬,特别是低频声不够柔和,而高频声又显得尖刺、发燥,听起来有时感到高频段存在着交越畸变。
当频率增咼而音量又很大时,这些现象就更加明显。
I 但晶体管功放的动态大、速度快,特别适宜于表现动态大一些的音乐。
至于表现枪炮和雷电声当然更优于电子管功放了。
电子管优缺点、结构和工作原理电子管是电子仪器仪表的重要器件之一,与晶体管、集成电路相比,虽然体积较大,工作时要首先加热灯丝,但它仍具有不可忽视的特点:同一型导电子管参数的一致性要优于晶体管,因此更换电子管时,不用重调参数、即可正常工作;电子管参数特性随环境温度变化也较小,因而工作稳定;电子管不太娇气,能承受较大的功轧过载能力强.因此, 电了管在某些领域仍然发挥着重要的作用.电子管是基于热电子发射形成电流而工作的.如果将金属体加热至一定温跃部分电子就从金属体内发射出来.电子管的阴极就是用来发射热电子的•电子管工作时,热电子由阴极射向阳抵这是在灯丝加热和阴极阳极之问存在电压的条件下实现的.图9-1为二极和三极电子管的结构示意图及符号.电子管阴极按加热方式分为直热式和旁热式两种,直热式的灯丝就是阴极,旁热式的阴极是由另外的灯丝加热的,如图9-2和9-3所示.电子管阳极加有正电压,其作用主要是吸收电子•为了易于发射电子,阴极表面徐有一层易发射电子的物质.为了防止极板的氧化和正离子对阳极的轰击作用(因正离于质量大),电子管是抽成真空的•电子管根倾电极的数目•分为二极管、三极管,柬射四极管和五极管等./////////////////////电子管一般是玻璃管封装,耗电量大,阳极电压高,灵活应用性高,体积大。
现已被淘汰,但电子爱好者仍有应用。
晶体管有塑料封装和金属封装,耗电量小,电压可高可低,灵活应用性高,体积小。
现仍在应用。
集成电路一般是塑料封装,耗电量更小,电压低,灵活应用性低,体积小。
配合晶体管和其他电子元件被大量应用。
晶体管是集成电路的基本单元,比如pmos,nmos等,单个晶体管也可以称作集成电路,比如现在系统使用的开关管,比晶体管在高一级的门级电路比如与门,或门,反相器,多路选择器等都是由晶体管实现的。
现在说集成电路一般指很大规模的,比如你使用的公交卡内的芯片,手机的sim卡,cpu,dsp管芯等等,但再大规模的集成电路都可以分解为一个一个的晶体管。
(1)集成应用电路的特点①大部分应用电路不画出内电路方框图,这对识图不利,尤其对初学者进行电路工作分析时更为不利。
②对初学者而言,分析集成电路的应用电路比分析分立元器件的电路更为困难,这是对集成电路内部电路不了解的缘故。
实际上识图也好、修理也好,集成电路比分立元器件电路更为方便。
③对集成电路应用电路而言,大致了解集成电路内部电路和详细了解各引脚作用的情况下,识图是比较方便的。
这是因为同类型集成电路具有规律性,在掌握了它们的共性后,可以方便地分析许多同功能木同型号的集成电路应用电路。
(2)集成电路的主要优点集成电路有其独特的优点,归纳起来有以下几点。
①电路简单。
由于采用了集成电路,简化了整机电路的设计、调试和安装,特别是采用一些专用集成电路后,整机电路显得更为简单。
②性价比高。
相对于分立元器件电路而言,采用集成电路构成的整机电路性能指标更高,与分立电子元器件电路相比,集成电路的成本、价格更低。
例如,集成运放电路的增益之高、零点漂移之小是分立电子元器件电路无法比拟的。
③可靠性强。
集成电路具有可靠性高的优点,从而提高了整机电路工作的可靠性,提高了电路的工作性能和一致性。
另外,采用集成电路后,电路中的焊点大幅度减少,出现虚焊的可能性下降,使整机电路工作更为可靠。
④能耗较小。
集成电路还具有耗电小、体积小、经济等优点。
同一功能的电路,采用集成电路要比采用分立电子元器件的电路功耗小许多。
⑤故障率低。
由于集成电路的故障发生率相对分立元器件电路而言比较低,所以降低了整机电路的故障发生率。
(3)集成电路的主要缺点集成电路的主要缺点有下列几个方面。
①电路拆卸困难。
集成电路的引脚很多,给修理、拆卸集成电路带来了很大的困难,特别是引脚很多的四列集成电路,拆卸比辕困难。
②修理成本增加。