SPC过程统计分析
SPC统计过程控制及CPK分析
SPC统计过程控制及CPK分析随着工业的不断发展，SPC统计过程控制和CPK分析作为质量控制的重要工具被广泛使用。
本文将从以下几个方面进行介绍：•SPC统计过程控制的基本概念及步骤•CPK分析的基本概念和应用方法•SPC统计过程控制和CPK分析在实际生产中的应用SPC统计过程控制的基本概念及步骤SPC统计过程控制是指在生产过程中，通过对产品质量进行监测和控制，确保产品质量的稳定和一致性。
其基本步骤如下：1.定义指标：确定需要监测的关键指标，如尺寸、重量、硬度等。
2.收集数据：在生产过程中按一定规律收集指标数据。
3.统计分析：对数据进行统计分析，得出产品质量的统计特性，如均值、方差、极差等。
4.制定控制策略：根据分析结果制定控制策略，如控制上下限、报警线等。
5.实施控制：在实际生产过程中，根据控制策略对产品质量进行实时监测和控制。
6.持续改进：根据监测结果和反馈信息，不断优化控制策略，实现质量持续改进。
CPK分析的基本概念和应用方法CPK是一种衡量产品质量稳定性的指标，其计算方法为：CPK=(USL-LSL)/(6σ)。
其中，USL和LSL分别为上限和下限，σ为标准差。
CPK的值越接近1，产品质量的稳定性就越好。
CPK分析的应用方法如下：1.定义指标：选择需要监测的关键指标。
2.收集数据：在一段时间内按一定规律收集指标数据。
3.统计分析：对数据进行统计分析，计算出指标的均值、标准差以及CPK值。
4.制定改进措施：根据CPK值的高低以及其他因素，制定针对性的改进措施，并在实际生产中进行落实和监测。
5.持续改进：根据改进措施的效果，不断优化工艺流程和控制方法，实现产品质量的持续改进。
SPC统计过程控制和CPK分析在实际生产中的应用SPC统计过程控制和CPK分析在实际生产中的应用非常广泛。
以汽车制造为例，汽车零部件的质量稳定性是确保整车质量的关键，因此，对关键指标进行SPC统计过程控制和CPK分析就显得尤为重要。
SPC过程能力分析
SPC过程能力分析SPC（过程能力分析）是统计过程控制的缩写。
它是一种统计工具，用于分析并监控一个过程的能力。
SPC过程能力分析是指通过测量和分析过程的输出来评估该过程达到规定要求的能力。
在本文中，我们将探讨SPC过程能力分析的概念、应用以及如何进行过程能力分析。
一、SPC过程能力分析的概念在SPC过程能力分析中，我们通常使用两个指标来评估一个过程的能力，即过程的稳定性和过程的能力。
过程的稳定性是指该过程的输出是否在一个可控制的范围内变动，而过程的能力是指该过程在满足规定要求的情况下能够产生符合要求的输出。
二、SPC过程能力分析的应用1.制造业中的过程能力分析：在制造业中，可以使用SPC过程能力分析来评估生产过程对产品质量的影响。
通过收集和分析产品的相关数据，可以确定生产过程是否稳定，并评估该过程是否满足产品质量要求。
2.服务行业中的过程能力分析：在服务行业中，也可以使用SPC过程能力分析来评估服务过程的能力。
例如，可以通过收集客户满意度调查数据来评估服务过程的质量，并确定提供服务的过程是否稳定。
3.医疗保健中的过程能力分析：在医疗保健领域，SPC过程能力分析可以用于监控和评估医疗过程的能力。
例如，可以通过分析手术成功率或患者满意度来评估手术过程的能力，并提供数据支持来改进手术过程。
三、SPC过程能力分析的步骤进行SPC过程能力分析通常需要以下步骤：1.确定过程的输出变量：首先，需要确定要分析和监控的过程的输出变量。
这些变量可以是产品质量指标、服务质量指标或其他与过程相关的指标。
2.收集数据：收集过程的输出数据，并记录在一个数据集中。
数据可以通过抽样、测量或观察来收集。
3.分析数据：通过分析收集到的数据来了解过程的稳定性和能力。
常用的分析方法包括直方图、控制图和能力指数的计算等。
4.评估过程稳定性：通过控制图来判断过程的稳定性。
控制图通常由平均线（中心线）和上下限线组成。
如果过程的输出数据点在控制限范围内波动，说明该过程是稳定的。
spc分析
spc分析SPC分析是过程能力评估的一种重要工具，它通过统计方法来分析生产过程中的变异性，帮助企业进行质量管理和改进。
SPC （Statistical Process Control）即统计过程控制，通过收集并分析数据，可以查明过程中的特殊原因和常规原因，从而制定相应的改进措施。
本文将详细介绍SPC分析的原理、方法和应用，并举例说明其在实际生产中的作用。
一、SPC分析的原理SPC分析的基本原理是利用统计学中的时间序列分析和假设检验方法，对过程中的数据进行分析和判断。
其核心思想是通过充分收集过程数据，并利用统计学方法来理解这些数据的变异性，从而判断过程的稳定性和能力。
SPC分析中的两个基本概念是特殊原因和常规原因。
特殊原因是指能够明确识别和解释的不确定因素，如机器故障、材料变异等；常规原因是指难以明确识别和解释的不确定因素，通常是由多种因素共同作用导致的。
SPC分析的目标是通过排除特殊原因，控制常规原因，使过程达到稳定状态，并在此基础上进一步提高过程能力。
二、SPC分析的方法SPC分析的方法包括数据收集、数据分析和过程改进三个关键步骤。
1. 数据收集：首先要明确数据收集的目的和要求，确定收集的数据类型和数据的时间间隔。
数据可以通过各种手段进行收集，如传感器、检测设备等。
而数据的时间间隔则取决于过程的特点和要求，可以是实时采集或者离散采样。
2. 数据分析：对收集到的数据进行分析，主要包括描述性统计和控制图分析。
描述性统计可以用来了解数据的分布情况、均值、方差等统计指标，以及特殊原因的存在与否。
控制图分析则可以通过绘制控制图，判断过程的稳定性和能力。
控制图是SPC分析的核心工具之一，常用的控制图有均值图、极差图、标准差图等。
通过绘制控制图，可以将过程数据以图形方式展示，并根据控制线的规则，判断过程是否处于稳定状态，是否存在特殊原因。
3. 过程改进：在分析数据的基础上，根据发现的问题和异常，制定相应的改进措施。
SPC过程统计分析图
33.154 33.922
166.817 166.200
33.363 33.240
33.364 33.364
34.314 34.314
32.414 32.414
1.117 1.438
1.302 1.302
2.968 2.968
0.000 0.000
批准/
12
13
14
15
33.184 34.215 33.016 33.696
9 0.34 0.18 1.82 2.97
CL
10 0.31 0.22 1.78 3.08
1.在确定Cpk前过程必须受控
2.组容＜7时没有极差下控制限
0.500 0.000
UCL
●Cpk = Min ( USL-X X-LSL )≥1.33 3R/d2 3R/d2
1
2
3
4
5
6
7
8
9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
3
1.02
*
2.57 1.69
3.500 3.000 2.500 2.000 1.500 1.000
MAX-MIN(R)
4
0.73
*
2.28 2.06
UCL
CL
LCL
5
0.58
*
2.11 2.33
6
0.48
*
2.00 2.53
UCL
7 0.42 0.08 1.92 2.70
8 0.37 0.14 1.86 2.85
33.364 33.364 33.364 33.364
34.314 34.314 34.314 34.314
SPC统计分析方法
SPC统计分析方法SPC（Statistical Process Control）是一种使用统计方法来分析和控制过程的质量管理工具。
它利用统计分析的方法来监测和评估过程的偏差和变异性，以确保产品和服务的质量能够满足规定的要求。
1.数据采集和记录：SPC的第一步是采集和记录相关的过程数据。
这些数据可以是产品的尺寸、重量、时间、温度等等。
数据可以通过手工记录、传感器、计算机软件等方式进行采集。
2.数据的统计分析：采集到的数据可以通过统计分析方法进行处理和分析。
常用的统计分析方法包括平均值、标准差、方差、直方图、控制图等等。
这些分析方法可以帮助我们了解过程的变异性和偏差情况。
3.控制图的应用：控制图是SPC中最常用的工具之一，用于帮助监测和评估过程的稳定性和变异性。
控制图通过绘制过程数据的变化情况，分析是否存在特殊原因或常规原因造成的变异，以便及时采取措施进行调整和改进。
4. 过程能力分析：过程能力指标是衡量过程稳定性和能力的重要指标。
过程能力分析可以帮助我们了解过程的偏差和变异性是否在规定的要求范围内。
常用的过程能力指标包括Cp、Cpk等。
5.故障分析和改进：当过程数据分析发现过程存在问题时，我们可以使用SPC方法进行故障分析和改进。
通过分析问题的原因，我们可以采取相应的改进措施来消除问题，并确保过程的稳定性和可靠性。
6.持续改进：SPC方法是一个持续改进的过程。
通过持续地采集和分析过程数据，我们可以不断地改进过程，提高产品和服务的质量。
持续改进的目标是通过减少变异性来提高过程的效率和一致性。
在使用SPC统计分析方法时1.数据的选择和采集要准确可靠，确保具有代表性和一致性。
2.分析过程中要考虑数据的分布情况，选择适合的统计方法和指标进行分析。
3.控制图的绘制和分析要正确，及时发现和纠正过程中的问题。
4.关注关键的过程能力指标，确保过程能够满足规定的要求范围。
5.制定改进计划和措施，并跟踪和评估改进的效果。
SPC数据统计分析与管理
SPC数据统计分析与管理什么是SPC数据统计分析与管理？SPC（Statistical Process Control，统计过程控制）是一种用于监控过程稳定性和质量控制的方法。
它利用统计分析手段对过程进行监测和改进，以确保产品或过程处于可接受的控制范围内。
SPC数据统计分析与管理则是指在SPC方法的指导下，对所采集到的数据进行分析和管理，以实现持续改进和控制过程的稳定性。
SPC数据统计分析与管理的重要性SPC方法的应用使得企业能够更有效地管理和控制生产过程，降低产品的变异性，并提高产品质量。
通过对过程进行实时和统计分析，在过程出现异常情况时能够及时采取措施，避免不良品的产生。
同时，SPC还能帮助企业分析和优化生产工艺，减少浪费和成本，提高资源利用率。
SPC数据统计分析与管理的步骤SPC数据统计分析与管理通常包括以下步骤：1.数据采集：收集与要求的指标相关的数据，可以通过传感器、仪器或人工手动输入等方式进行采集。
2.数据处理：对收集到的数据进行处理和整理，包括数据清洗、去除异常值和重复值等。
3.统计分析：使用统计方法对数据进行分析，常见的方法包括数据描述统计、变异分析、均值检验、方差分析等。
4.过程控制：根据统计分析的结果，制定相应的控制策略，对过程进行控制和调整，以保持过程的稳定性。
5.数据监控：定期对采集到的数据进行监控和分析，及时发现过程异常或问题，并采取必要的措施进行调整和改进。
6.持续改进：通过对数据统计分析和过程控制的持续监测和改进，不断提高生产过程的稳定性和产品质量。
SPC数据统计分析与管理的应用场景SPC数据统计分析与管理广泛应用于各个行业和领域，包括制造业、物流业、服务行业等。
以下是一些常见的应用场景：1.制造业：在制造过程中，通过监测关键工艺参数和质量指标的变化，及时发现并纠正生产异常，提高产品质量和生产效率。
2.物流业：对物流中的关键指标进行统计分析和管理，如出货准时率、仓储周期等，以优化物流运作和服务质量。
SPC统计过程控制案例分析(doc 24页)
SPC统计过程控制案例分析(doc 24页)统计过程控制（SPC）案例分析一．用途1. 分析判断生产过程的稳定性，生产过程处于统计控制状态。
2．及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异，预防不合格品产生。
3．查明生产设备和工艺装备的实际精度，以便作出正确的技术决定。
4．为评定产品质量提供依据。
二．控制图的基本格式1．标题部分X-R控制图数据表计算：X图：CL=X R图：CL=RUCL=X+RA2UCL=RD4LCL=X-RA2LCL=RD32质量特性在方格纸上作出控制图：RX 控制图X图R图CLLCLU 样本规则2 控制界限内点子的排列无异常现象。
[案例1] p控制图某半导体器件厂2月份某种产品的数据如下表(2)(3)栏所表示,根据以往记录知,稳态下的平均不合格品率0389p,作控制图对其进行控.0制.数据与p图计算表1394 0 0 0.099 1495 3 0.032 0.098 1581 0 0 0.103 1682 7 0.085 0.103 1775 3 0.040 0.106 1857 1 0.018 0.116 1991 6 0.066 0.100 2067 2 0.030 0.110 2186 3 0.035 0.101 2299 8 0.080 0.097 2376 1 0.013 0.105 3493 8 0.086 0.099 2572 5 0.069 0.107 2697 9 0.093 0.098 2799 10 0.100 0.097 2876 2 0.026 0.105 小计2315 90[解] 步骤一 :预备数据的取得,如上边表所示.步骤二: 计算样本不合格品率024.085/2/,/111====n D p n D p i i i步骤三: 计算p 图的控制线ii i i n n p p p LCL CL n n p p p UCL n D p /)0389.01(0389.030389.0/)1(30389.0/)0389.01(0389.030389.0/)1(30389.02315/90/--=--==-+=-+=====∑∑由于本例中各个样本大小i n 不相等,所以必须对各个样本分别求出其控制界线.例如对第一个样本n1=85,有UCL=0.102 CL=0.0389 LCL=-0.024此处LCL 为负值,取为零.作出它的SPC 图形.UCLCLLCL[案例2]为控制某无线电元件的不合格率而设计p 图，生产过程质量要求为平均不合格率≤2%。
SPC过程能力分析报告
SPC过程能力分析报告SPC（统计过程控制）是一种以统计方法来控制过程稳定性和质量的管理工具。
通过在过程中收集数据并进行统计分析，SPC可以帮助企业识别和纠正过程中的变异，以确保产品或服务的一致性和稳定性。
本篇报告将对公司进行SPC过程能力分析，以评估和改进其过程控制能力。
一、背景介绍本次分析的对象是一家电子产品制造公司，其主要产品为手机电池。
公司希望通过SPC过程能力分析来评估和改进其电池生产过程的稳定性和质量，以提高产品一致性并降低缺陷率。
二、数据收集和分析为了进行SPC过程能力分析，我们收集了公司过去六个月的电池生产数据。
主要数据包括每月产量、每月缺陷数量以及每月质量控制检查结果等。
通过对数据进行统计分析，我们得出了以下结论：1.控制图分析我们使用控制图来分析过程的稳定性。
通过绘制产量、缺陷数量和质量控制检查结果的控制图，我们发现产量的控制图显示过程处于可接受的稳定性范围内，而缺陷数量和质量控制检查结果的控制图则显示过程存在明显的非随机变异。
2.批次分析我们对每个批次的电池进行了分析，发现一些批次的电池存在较高的缺陷率。
通过深入分析这些批次的生产数据和质量控制记录，我们发现生产过程中存在一些固定的问题，如材料供应商质量不稳定和操作员技能不足等。
三、问题原因分析基于数据收集和分析结果，我们对电池生产过程中存在的问题进行了原因分析。
主要问题包括以下几个方面：1.材料质量不稳定一些批次的电池缺陷率较高，部分原因是材料供应商质量不稳定。
为了解决这个问题，公司应该与供应商合作，建立更加稳定的供应链，并定期审核供应商的质量体系。
2.过程操作不规范操作员技能和培训不足是导致缺陷率高的原因之一、公司应该加强对操作员的培训，确保其熟悉操作流程和使用设备的规范。
此外，公司还应该建立标准操作程序，并通过培训和审查来确保操作员按照这些程序进行操作。
3.设备维护不及时设备故障和维护不及时也会导致生产过程的不稳定性和缺陷率的升高。
统计过程控制SPC案例分析
【案例1】 R X -控制图示例某手表厂为了提高手表的质量，应用排列图分析造成手表不合格品的各种原因，发现“停摆”占第一位。
为了解决停摆问题，再次应用排列图分析造成停摆事实的原因，结果发现主要是由于螺栓松动引发的螺栓脱落成的。
为此厂方决定应用控制图对装配作业中的螺栓扭矩进行过程控制。
分解：螺栓扭矩是一计量特性值，故可选用基于正态分布的计量控制图。
又由于本例是大量生产，不难取得数据，故决定选用灵敏度高的R X -图。
解：我们按照下列步骤建立R X -图步骤1：取预备数据，然后将数据合理分成25个子组，参见表1。
步骤2：计算各组样本的平均数i X 。
例如，第一组样本的平均值为：0.16451621661641741541=++++=X其余参见表1中第（7）栏。
步骤3：计算各组样本的极差i R 。
例如，第一组样本的极差为：{}{}20154174min max 111=-=-=j j X X R其余参见表1中第（8）栏。
表1： 【案例1】的数据与R X -图计算表i故：272.163=X ，280.14=R 。
步骤5：计算R 图的参数。
先计算R 图的参数。
从D 3、D 4系数表可知，当子组大小n =5，D 4=2.114，D 3=0，代入R 图的公式，得到： 188.30280.14114.24=⨯==R D UCL R280.14==R CL R ==R D LCL R 3—极差控制图：均值控制图：图1 【案例1】 的第一次R X -图参见图1。
可见现在R 图判稳。
故接着再建立X 图。
由于n =5，从系数A 2表知A 2=0.577，再将272.163=X ，280.14=R 代入X 图的公式，得到X 图：512.171280.14577.0272.1632≈⨯+=+=R A X UCL X 272.163==X CL X032.155280.14577.0272.1632≈⨯-=-=R A X LCL X因为第13组X 值为155.00小于X LCL ，故过程的均值失控。
SPC-统计方法分析
SPC-统计方法分析引言SPC（Statistical Process Control）是一种通过使用统计方法来监控和控制过程稳定性的质量管理技术。
它可以帮助企业分析和改进生产过程，降低不合格品率，提高生产效率和质量水平。
本文将介绍SPC的基本概念、统计方法分析的步骤和应用案例。
SPC的概念SPC是一种基于统计的质量控制方法，通过统计数据的收集、处理和分析，来评估生产过程的变异性，从而实现过程的稳定性和可控性。
它主要包括以下几个要素：1.过程监控：SPC通过采集实时数据进行监控，及时发现过程中的异常变化，以便及时采取控制措施。
2.统计分析：SPC使用统计方法对数据进行分析，以了解过程的性能和变异情况，从而判断过程是否稳定。
3.控制图：控制图是SPC的核心工具，通过绘制过程数据和控制限线，可以直观地观察过程的稳定性，并判断过程是否受到特殊因素的影响。
统计方法分析步骤统计方法分析是SPC中的核心环节，它包括以下几个基本步骤：1.数据收集：首先需要收集与待分析过程相关的数据，可以是产品质量数据、生产参数数据等。
数据可以通过手工记录或自动化采集系统获取。
2.数据整理：对收集到的数据进行整理和清洗，去除异常值和重复数据，并进行数据格式转换，以便后续的统计分析。
3.描述性统计分析：通过计算数据的基本统计量，如均值、标准差、中位数等，来描述数据的集中趋势和分散程度。
4.绘制控制图：根据数据的特点选择适用的控制图类型，并根据统计分析结果绘制控制图。
常用的控制图类型包括X-bar图、R图、p图、np图等。
5.控制图分析：根据控制图的规则和判断标准，分析控制图中的数据点是否落在控制限内，判断过程是否稳定。
特殊因素的存在可能导致控制图出现异常情况，需要进行进一步的原因分析和改进措施的制定。
6.过程改进：根据统计分析和控制图的结果，对过程进行改进，找出并消除导致异常情况的根本原因。
应用案例以下是一个使用SPC进行统计方法分析的应用案例：某工厂生产的产品在尺寸方面存在一定的偏差，为了提高产品的质量稳定性，工厂决定使用SPC进行分析和改进。
SPC统计过程控制入门分析
LSL
UCL
标准差
(上限规格)—(下限规格) 6×(标准偏差)
X 平均数
过程能力指数-Cp
单侧规格
• 上限规格
• 下限规格
(上限规格)—(平均值)
3×(标准偏差)
LSL
(平均值)—(下限规格) 3×(标准偏差)
X 平均数
UCL
标准差
过程能力指数-Cpk
Cpk: 过程中心与允差中心M的偏移情况。
C = SU - X = (上限规格)—(平均数)
Pu
3S
3×(标准偏差)
X - Sl
(平均数)- (下限规格)
Cpl =
=
3S
3×(标准偏差)
X 平均数
Cpk=min(Cpu,Cpl)
过程能力指数Cpk值的评价
案例分析
案例分析
常见的直方图形态
正常型
现象：中间高，两旁低，有集中趋势。
结论：左右对称分配（正态分配），显示过程运转正常 。
异常
异常 UCL CL LCL
控制图的判读
链：有下列现象之一即表明过程已改变： 连续7点位于平均值的一侧 连续7点上升(后点等于或大于前点)或下降。
UCL CL LCL
过程能力解释
偶因和异因并存 计算过程能力
运用控制图 过程稳定
找出异因 只剩偶因
质量特性与控制图的选择
–在同样能够满足产品质量控制的情況下, 应选择对生产过程容易采取措施的控制项目 .
案例分析
常见的直方图形态
离岛型
现象：在右端或左端形成小岛。
结论：测量有错误，工序调节错误或使用不同原料所 引起。一定有异常原因存在，只要去除，就可满足过 程要求，生产出符合规格的产品。
SPC统计过程分析指导书
SPC统计过程分析指导书1目的在过程中正确使用统计技术，对过程加以监控，以利于及时发现问题，采取措施，持续改进过程质量2范围本指导书适用于公司过程中使用的统计技术均值-极差控制图（X-R）与不合格品率控制图（P图）指导。
3术语3.1总体指重要研究对象的全体，又称母体。
3.2样本从总体中随机抽取出来的，对其进行测量和分析的一部分产品。
3.3样品又称个体。
样本中的每一单位产品。
3.4样本大小又称样本容量，一个样本容量，一个样本中所包含的样品数量。
3.5样本数为研究一个整体，所制取的样本数量。
3.6过程能力过程处于稳定状态下，在经济及其它条件允许范围内，保证产品质量的能力。
4职责4.1技术部负责制定现场使用的统计技术类型，并制定控制限及有关性能力指数计算，并制定未满足要求时的改进计划。
4.2质量管理部负责现场统计技术应用的监控。
4.3生产部负责现场统计技术的应用和管理。
4.4人事资源部负责组织对现场使用的统计技术应用进行培训。
5管理内容5.1X-R的制作方法5.1.1确定控制项目（按控制计划规定项目进行）。
5.1.2收集数据，数据取样方法和注意事项：取样必须具有代表性，取样原则上按不同的设备、操作人员、原料等分别取样，以免除异常因素带来的误差，样本大小3个，样本组数为12个，一般按产品生产顺序或测定顺序，排列数据。
5.1.3将收集数据分组记入表中（表格见附录A）5.1.4计算平均值X-、极差R、总平均值X--、平均极差R-。
5.1.5计算控制界线均值控制图中心线CLX=X-均值控制图上控制线CLX=X--+A2R-均值控制图下控制线CLX=X---A2R-极差控制图中心线CLR=R-极差控制图上控制线UCLR=D4R-极差控制图下控制线LCLR=D3R-A2、D3、D4分别从附录A表中查得5.1.6绘制控制限5.1.7描点5.1.8控制图分析5.1.8.1如果所有的控制点均在控制界线内随机分布，则可以此作为控制过程控制图。
SPC过程能力分析
SPC过程能力分析简介统计过程控制（Statistical Process Control，SPC）是一种对生产过程中的变化进行监控和改进的方法，通过收集和分析过程数据，可以评估过程的稳定性和能力，帮助企业实现质量的持续改进。
本文将介绍SPC过程能力分析的概念、目的和常用的分析方法。
其中包括控制图的应用和过程能力指数的计算。
SPC过程能力分析的目的SPC过程能力分析主要用于评估和改善生产过程的能力，以确保产品质量的稳定性和一致性。
通过分析过程数据，可以判断生产过程是否处于统计控制下，并确定其能力是否能够满足产品的质量要求。
具体目的包括：1.评估过程的稳定性：通过控制图的应用，可以判断过程是否处于统计控制下，即过程数据是否在可接受的变异范围内。
2.评估过程的能力：通过计算过程能力指数，可以评估过程的能力是否满足产品质量要求，以及可能存在的改进空间。
3.改进过程的稳定性和能力：基于对过程的分析，可以制定相应的改进措施，以提高过程的稳定性和能力。
SPC过程能力分析的方法控制图的应用控制图是SPC过程能力分析中最常用的工具之一，用于监控和分析过程数据的变化。
常见的控制图包括：1.均值-范围控制图（X-bar R chart）：用于监控连续型数据的均值和范围，判断过程是否处于统计控制下。
2.均值-标准差控制图（X-bar S chart）：与X-bar R chart类似，用于监控连续型数据的均值和标准差。
3.离散型数据控制图（p chart、np chart、c chart、u chart）：用于监控离散型数据的比例、数量或计数。
4.过程能力控制图（Cp、Cpk chart）：用于评估过程的能力是否满足产品质量要求。
控制图通过将过程数据与控制限进行比较，可以判断过程是否出现特殊因素或异常情况，并及时采取措施进行改进。
过程能力指数的计算过程能力指数可以提供有关过程能力的定量指标，用于评估过程的稳定性和能力。
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标准差 图
X)/(3* S /c ), ( X - LSL)/(3* S
4
/c4))
SPC讲义-
28
计算CPK(计量值)
分布中心与规格中心发生偏离时:
计算Ca(过程准确度)
Ca=(
以中心重叠时的Cpk值作为Cp(过程精确度) Cpk=(1- Ca )Cp
X
-SL)/((USL-LSL)/2)
SPC—Statistical Process Control
统计过程管制
Excellent Quality Consultant Co.,Ltd.
1
SPC统计过程管制
SPC展开步骤
SPC由来 SPC定义 SPC发展历程 SPC应用现状 SPC基本统计观念 SPC基本概念
可采用计算器或计算机进行分析的工程人员 现场作业人员
SPC讲义22
使用的对象
选择管制图(计量值)
性质上是否均匀 或不能按组取样
NO
各组均值计算 是否方便
NO
使用
X
-R
YES YES
样本容量是否 大于或等于9
NO
使用X-MR
当由现场人员 使用时,尽量用? 图
YES
各组标准差S 是否容易计算
使用
建立管制图形
标注数据项目及描绘各数据点
SPC讲义27
计算CPK(计量值)
过程稳定,即不存在特殊原因时,才能计算 过程能力. 计量值CPK的计算
分布中心与规格中心重叠时
CPK=MIN((USLCPK=MIN((USL-
极差图
X)/(3* R/d ), ( X- LSL)/(3* R /d ))
SPC讲义3
SPC的由来
指数与不良率的关系
指数 0.67 1 不良率 4.55% 0.27% 说明 2ઠ 3ઠ
1.33
1.67
63.3PPM
0.57PPM
4ઠ
5ઠ
2
2PPB
6ઠ
SPC讲义4
SPC的由来
我们的不良率是多少? 我们的制程能力是多少? 我们能做到吗? 赶快应用SPC
SPC讲义-
SPC的发展历程
Bell Telephone Laboratory—Shewhart
Control Chart(1924) &Economic Control of Quality of manufactured Products(1931) Z1-1-1941 Guide for Quality Control Z1-2-1941 Control Chart Method for anaalyzing Data Z1-3-1942 Control Chart Method for Control Quality During Production
SPC讲义9
SPC的基本统计观点
无论生产过程,还是产品结果,都是具有规 律的. 正常情况下,具有一定的数据分布:
计量值数据,服从正态分布 计件值数据,服从二项分布 计点值数据,服从泊松分布 最为常见的是正态分布----钟形分布
SPC讲义10
SPC的基本统计概念
群体:一组过程的输出结果的全体. 样本:从群体中按照一定的抽样方法选择出来的 研究对象. 群体具有一定的分布特性 合理的抽样(足够的样本容量\随机的抽样方法), 可以保证样本与群体具有共同的分布特性,也即 是说可以由样本的状况推断群体的状况. 群体通常是未知的研究对象,从经济成本的角度, 可以研究分析样本而知群体.
SPC讲义8
SPC的应用现状
日本名古屋大学调查,115家企业平均每家使用 137张控制图 美国柯达公司5000人,使用35000张控制图,平 均每人应用7张 日本DEMING奖10大项目中,七大项目强调统计, 尤其是SPC ISO9000统计的需要,QS9000SPC的需要 我国80%的ISO认证通过企业,SPC几乎为零
NO
X
-R
YES
使用
X
-S
23
SPC讲义-
选择管制图(计数值)
是否关心 不合格品率
NO
样本大小 是否一致
NO
使用u图
YES
样品大小 是否一致
YES
使用c或u图
YES
当由现场人 员使用时, 尽量用c/np图
NO
使用p图
使用np或p
SPC讲义-
24
收集数据
样本组数最好不要少于25 p图或np图每组数据的要求
原则二:不可呈现规律变动
15.6 15.4 15.2 15
连续7点上升或下降 呈现规律性波动,具有显著的波动周期
折线图 1 14.8 14.6 14.4 14.2
SPC讲义32
管制图的判断----稳定原则
原则二:不可呈现规律变动
连续7点在管制界限一侧 连续11点中,有10点在管制界限一侧(间断)
2 2
X R
X
D4
R
D3
R
SPC讲义37
管制图中应用的公式
管制图 相关统计量
k =Σ j/n j=1
CL
UCL
LCL
X
X
-R图
X
X R
X +A R
2
X -A R
2
n:各组样本数 K:组数
R
Rj=Max-Min K = ΣRj/K j=1
D4
R
D3
R
SPC讲义38
管制图中应用的公式
管制图 相关统计量 CL UCL LCL
15.6 15.4 15.2 15 东部 14.8 14.6 14.4 14.2
SPC讲义-
33
管制图的判断—稳定原则
原则三:不可过于集中分布
显著多于2/3的点集中在CL附近:即90%的数据在1 δ 线以内 显著少于40%的数据落在1 δ 线以内 数据集中分布在2 δ 到管制线之间(超过2/3)
SPC讲义-
29
计算CPK(计数值)
计数值管制的过程能力为
p图 Np图 C图 U图
图形
过程能力PPC来自USPC讲义-
30
管制图的判断----稳定原则
15.8 15.6 15.4 15.2 15 14.8 14.6 14.4 14.2 14 折线图 1
原则一:不可超出管制界限
!
SPC讲义-
31
管制图的判断----稳定原则
在下列情况下,重新计算管制界限:
初次过程能力研究,异常消除时 对4M1E进行重大改进时 产品修正时 经过长期运行后
SPC讲义35
异常处理
可以采取的措施
可能原因 计算错误 数据未层别 存在特殊原因 过于分散 平均值偏移 处理 查清原因,重新计算 查清原因,予以消除 采用管理性/技术性措施,进行改进
SPC讲义16
SPC的基本概念
特殊原因导致超出界限或规律变动的现 象,可以直接从管制图中看出.影响分布的 波形. 管制图的重要作用便在于动态过程中,看 出特殊原因的存在,发出需要处理的警报. 过程能力只有在不存在特殊原因的前提 下,才能予以计算,并以此推断未来的输出 结果.
SPC讲义17
SPC展开的步骤
1/P<n<5/P (P为预估的总体不良率,目的为在n中尽量能抽到多于一个的不 合格品)
计量值数据的要求
组内数据变异小,组间数据变异大 采用中位数控制图时,尽量用奇数样本 现场使用的XBAR-R图,样本以不超过5为宜
SPC讲义25
收集数据
计量值数据合理的抽样间隔和样本大小
每小时 生产量 10以下 10~19 20~49 50~99 抽样间隔 不稳定 8小时 4小时 2小时 1小时 稳定 8小时 8小时 8小时 4小时 样本大小 4 4 4 4
确定管制项目 选择管制图 收集数据 绘制管制图 计算CPK 判定 长期控制 异常处理
公式 常用数据 XBAR-R范例 PN范例
SPC讲义2
SPC的由来
生产力发展的世纪 新的世纪----品质的世纪 品质的趋势----世界级的品质 百分比\千分比\PPM\PPB\NEAR ZERO QS9000要求: PPK>=1.67 CPK>=1.33
SPC讲义-
13
SPC的基本概念
分散性的图解 δ
1
δ
2
SPC讲义-
14
SPC的基本概念
管制界限:是指实际作业的特性的分布所遵从的 上下界限.用于在实际工作中,进行动态控制,以 判断作业的有效性. 规格界限:是指根据设计(产品设计和过程设计) 的要求,所确定的工程界限.用于在进行工程分 析中,对特性的分布状况是否满足预定要求的判 断,从而确信满足设计要求的能力. 在实际控制过程中,使用的应该是管制界限.管 制界限来自于对作业过程的调查.
现象 分布 不稳定 过程能 力不足
有效后,不要忘了标准化的处理
SPC讲义36
管制图中应用的公式
管制图 相关统计量
n =Σ Xi/n i=1 K =Σ j/K j=1 Rj=Max-Min K = ΣRj/K j=1