射频杂散的测试环境搭建及测试方法说明

射频杂散的测试方法

传导杂散骚扰（Conduct Spurious Emissions），

发信机的杂散辐射是指：发信机正常工作时，除了发射出工作频段有用的射频外，还有其他的非有用的射频信号，这些无用信号会对其他的设备产生不良的干扰。

目的：检测手机天线端的离散辐射功率是否符合GSM规范及国家行业标准。国标对杂散的要求是全频段的，鉴于手机的特殊性，最高的杂散点会出现在发射频点的二次三次等多次谐波上，所以本测试把重点集中在这些频点的测试上。

测试要求

使用设备：

所用设备：RATT工具待测机器射频线衰减器滤波器（VHF-1300+，VHF-2700+）频谱分析仪HP8596E 标准信号源Agilent83712B，综合测试仪CMU200

图1 1.3G高通滤波器和2.7G高通滤波器

图2 衰减器图3 频谱分析仪及标准信号源

方法一：使用功分器与综测仪测试

这里使用了一个10db的定向耦合器来作为功率采样，

图9 10db定向耦合器

1，测试实际连线框图如下：

衰减器滤波器

频谱分析仪

MS 综测仪

功分器

滤波器需要根据测试的频段，来进行选择。测试GSM900频段时，选用VHF-1300+（1.3G 高通滤波器）测试DCS1800频段时选用VHF-2700+（2.7G 高通滤波器） 测试步骤：

2，测试通道的线损测试方法

线损的测试可以用网络分析仪，也可以用信号源和频谱测试仪来进行点频测试。这里采用信号源和频谱仪的测试方法：

图12 测量线损

测试线损时注意：

耦合器空的一端需要加一个50欧的负载

需要包含衰减器和电缆一起测试

耦合器的直通端是提供给CMU200检测输出功率用的，线损只要测试工作频率10db口的线损测量需要连接相应的高通滤波器一起测试，主要测试相应的二次和三次谐波点的损耗。

注意定向耦合器是有方向的，所以信号源要接输入口

3，测试步骤

按测试的框图搭建测试环境，如下图：

图10 功分器及综测仪测量二次谐波

图11 实际连接图

综测仪安测试的线损设置好补偿，

首先通过综测仪与手机建立呼叫，调整到该频段的中间信道，设置使手机以最大功率发射，通过综测仪监视手机输出功率确实符合要求。

设置频谱仪测试测量需要测试的频点（二次谐波点或三次谐波点），采用最大保持的方式来捕捉杂散的功率值，

记录和计算实际的杂散测试值。

方法二：使用RATT 工具

在没有适当工分器的情况下，可以使用强制被测机发射的方式来测试发射的杂散。

1，连接框图如下图： 衰减器滤波器频谱分析仪

MS

PC & RATT ＤＷＬＣａｂｌｅ

图4 RATT 测试连接框图

2，测量线损

连接衰减器和高通滤波器，和必要的馈线一起连接到标准信号源，和频谱仪，信号源并输出相应的频率，测试出相应频点的损耗。GSM900&850频段的二三次谐波的频率点选择1800MHz 以及2700MHz 。实际连接线路如下图：

图8 测量线损

注意:必须注意连接手机的射频线的线损加进去

2，调校输出功率

由于没有综测仪来监视被测手机的实际输出功率，所以需要先行调试手机，强制使手机输出需要的频点和输出功率，后再来进行杂散测试。

这里使用Ratt的射频调试工具来使得手机强制发射，

图5 调校输出功率

使用RATT工具与手机相连，选定频段后，通过CMU200或者Agilent8960检测手机的输出功率，调整NMAX1的值，写入手机

图6 RATT的配置

使之达到需要的输出功率值：GSM900&850为32.5dBm,DCS&PCS为29.5dBm。3，测试传导杂散

将手机等如图4连接后，如下图

图7实际连接图

通过RATT工具使手机强制发送，根据所用的陷波滤波器，选定频段后，写入第一步所得的Nmax1，确认正常发射，在频谱仪上观察各次谐波，测量6GHz频段内的杂散骚扰电平，一般只使用频谱仪测试GSM的2次与3次谐波，DCS 2次与3次谐波（这四个点也是杂散上最容易出问题的点）。

频谱仪使用方法简介：

如图6设置，写入Nmax1，强制手机最大功率发送后。

①RESET频谱仪

②按“FREQUENCY”→“START FREQ”设置开始频率，一般是所测频道上行频率

的倍数左右，这个倍数由所测谐波次数决定。“STOP FREQ”也是类似的。

③“FREQUENCY ”后调节“START FREQ”或者“STOP FREQ”找到待测的频率点

④“TRACE”→“CLEAR WRITE Ａ”→“MAX HOLD Ａ”

⑤按“PEAK SEARCH”，读出所测得的值。

⑥根据实际的线路衰减值计算实际的杂散工率。