统计技术培训课件PPT(共 42张)

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2个正态总体方差的检验 2个正态总体平均值的检验
9
三、统计检验
〈2个正态总体方差检验〉 ---服从F分布
F

S
2 1
S
2 2
x x
S
2(
)2
n
n(n1)
df=n-1
d1=n1-1
d2=n2-1
10
三、统计检验
双侧检:
当原假设H0:δ12=δ22, 则否定域为:F>Fα/2或F<F1- α/2
24
五、质量控制图---SPC
(三)控制图组成
中线 警戒上下限 控制上下限
25
五、质量控制图---SPC
(三)控制图种类
平均值控制图:X X R XA2*R
极差控制图 :UCL D R4*R LCLD R3*R
移动极差 : X-MR
X 3*(R ) d2
ÒR d2
26
五、质量控制图---SPC
≥1.67 Ⅲ Ⅱ Ⅰ
过程能力指数
≥1.33---1.67 ≥1---1.33
≥0.67---1









<0.67 Ⅶ Ⅵ Ⅴ
17
五、质量控制图---SPC
过程
控制
输入
过程 资源
输出
18
过程的波动性
稳定的过程
经时间变化仍 稳定 可预测
变化主要由偶 然因素引起
不稳定的过程
随时间而变化 不可预测 变化同时来源于 偶然和系统因素
6
(四)常见的概率分布
连续型随机变量---正态分布 离散型随机变量---
二项分布 帕松分布(poisson)、小概率事件
7
二、正态分布
正态总体中抽取的样本平均数也 服从正态分布 中心极限原理
总体不是正态分布时,若样 本n充分大,则样本平均一数X近似 服从正态分布
8
三、统计检验
概念---从样本数据出发对 总体的比较进行推断
如 P0.01的情况若发生,则有理由认为
发生了异常
32
异常状态
00C---超过控制上、下限 连续七点在同侧 连续上升或下降 Pattern模式,如
d t
Sd
n
Sd
(d2)(d)2n
n(n1)
Df=n-1 H0:Ud=0,即μ1=μ2 否定域︱t︱>tα
14
四、工序能力
定义
工序控制能力:简称工序能力,就是工序加 工合格产品的能力,也就是生产出来的产品质 量与规定的质量要求相符合的程度,以Cp表示。
C pUSLSL标准上 标限 准下限
Cpk1
5、生产条件或质量改进后应重新设计控制 图
28
五、质量控制图---SPC
(五)不同控制图的检出力和适用范围不同
X >X~>X(X 检出力量强,控制强度高,且有较强 通用性); S>R>MR(S因检出力量强,但因要求样本大小
10,但计数复杂,较少用)。
29
五、质量控制图---SPC
(六)X R平均值---极差控制图
符合标准 持续稳定
质量控制的目的是---减少质量波动,降 低成本。
23
五、质量控制图---SPC
(二)常用控制图的种类
计量型
正态 分布
单值---移动极差图:X-MR 均中位值数----极--极差差图图:X:X ~RR
二项
分布 计数型
泊松
分布
不合格品率图:P 不合格品数控制图:Pn
单位缺陷数控制图:U 缺陷数图:C
统计技术培训
1
目录
统计技术总介
常用统计技术 统计技术的应用特点 统计技术的应用领域 常用的概率分布
正态分布 统计检验 工序能力 质量控制图---SPC
2
一、关于统计技术的总介
(一)常用统计技术 统计检验---显著性检验 工序能力分析 质量控制图 正交分析和实验设计 相关分析、回归分析
3
(二)统计技术的应用特点
(四)控制图的使用原则
1、取样原则---
随机抽样 间隔合理确定 样本大小应确保控制图的检出力,一般至少 ≧24,样本分布接近正态分布
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五、质量控制图---SPC
2、计量控制图须二图联用,分别控制质量 特性值分布的中心值和标准偏差
3、计数控制图单图使用,只控制中心 4、过程能力必须达到基本要求,即Cp或
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五、质量控制图---SPC
过程及过程控制系统
有反馈的过程控制系统模型
过程wk.baidu.com呼声
统计方法

设备 材料 方法 环境
我们工作 产品 的方式/ 或 资源的融合 服务
顾客
识别不断变化 的需求和期望
输入 过程/系统 输出
顾客的呼声
过程控制系统
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五、质量控制图---SPC
产品质量的统计特性
1、质量的波动性
影响因素
特点
处理
偶然因素
始终存在;方向随机;影响小; 难控制
/
系统因素
时有时无;方向确定;影响大, 可以控制
严加控 制
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五、质量控制图---SPC
2、质量波动的规律性
计量数据:服从正态分布,μ、σ不 变 计数数据:服从二项分布或泊松分 布
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五、质量控制图---SPC
(一)对生产过程质量进行预测和控制的 手段 高质量的要求是:
对总体及总体平均数进行估计 比较两个或多个数量之间的差异 性 生产过程的预测及控制 物料/产品的验收---抽样方案
4
(二)统计技术的应用特点
对影响事物的变量因素进行分析 确认变量之间的相关性 分析因变量和自变量间的回归关 系 试验设计
5
(三)统计技术的应用领域
质量管理 安全评价---风险分析 市场分析 产品设计 气候、环境预测


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四、工序能力
Cpk=Min〔CPL,CPU〕 CPL=(过程平均值-LSL)/3σ CPU=(USL-过程平均值)/3σ
Cp,Cpk>1
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四、工序能力
过程综合能力等级评价---Ⅲ为最适宜的 过程能力
过程能 力等
质量特性 级
关键质量特性(A类)
重要质量特性(B类)
一般质量特性(C类)
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三、统计检验
〈两正态总体均值的检验〉
t检验
t x1 x2 s x1 x 2
tn1n22
〈T-test〉
当原假设H0:μ1=μ2, 则否定域为︱t︱>tα
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三、统计检验
两个总体的比较首先是F-test 在F-test显示没有差异时 再做T-test
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三、统计检验
〈两正态总体均值的检验〉 〈成对检验〉 在同一条件下,将试验结果与对照相对比的方法
---适用于数据可以分组的场合 可提高检出力
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五、质量控制图---SPC
(七)X-MR单值移动极差控制图 ---适用场合
测试费用高昂; 样品测试后不能再使用 需尽早发现异常 在工艺参数(如温度、压力、时间)下,每次只能 得到一个特定值 过程中取多个值无意义时
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五、质量控制图---SPC
控制图的判断基础 ---小概率事件原理,即小概率事件不发 生原理
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