电阻率和表面电阻率
表面电阻率和体积电阻率 绝缘材料标准
表面电阻率和体积电阻率是衡量材料导电性能的重要指标，特别在绝缘材料标准中具有重要意义。
在本文中，我们将深入探讨表面电阻率和体积电阻率的概念及其在绝缘材料标准中的应用。
我们将分析这两个指标的关联和区别，并讨论它们对材料性能的影响。
一、表面电阻率和体积电阻率的概念1.1 表面电阻率表面电阻率是指单位面积上的电阻值，在绝缘材料中通常用ρs表示。
它是指材料表面上形成的电阻，常见的测量单位为Ω/□（欧姆/方）。
表面电阻率的大小直接影响着材料的导电性能，通常情况下，表面电阻率越小，材料的导电性能就越好。
1.2 体积电阻率体积电阻率是指单位体积内的电阻值，在绝缘材料中通常用ρv表示。
它是指材料内部的电阻，通常测量单位为Ω•cm（欧姆•厘米）。
体积电阻率的大小反映了材料本身的导电性能，与表面电阻率相比，体积电阻率更能客观地反映材料的绝缘性能。
二、表面电阻率和体积电阻率在绝缘材料标准中的应用2.1 国际标准化组织（ISO）关于表面电阻率和体积电阻率的要求ISO关于绝缘材料标准中对于表面电阻率和体积电阻率有着明确的要求，这些要求涉及了测量方法、测试条件、评定标准等内容。
在ISO 60093中规定了测量绝缘材料体积电阻率的试验方法和标准，这些要求对于确保材料的绝缘性能至关重要。
2.2 表面电阻率和体积电阻率在材料选择中的重要性在实际应用中，表面电阻率和体积电阻率的大小对于材料选择具有重要的指导意义。
在电子产品的设计中，需要使用具有良好绝缘性能的材料，此时就需要考虑材料的表面电阻率和体积电阻率，以确保产品的安全可靠性。
三、表面电阻率和体积电阻率的关联与区别3.1 关联表面电阻率和体积电阻率之间存在一定的关联性，它们都反映了材料导电性能的一部分。
通常情况下，导电性能好的材料其表面电阻率和体积电阻率都较小。
3.2 区别表面电阻率和体积电阻率在测量方法、影响因素、应用范围等方面存在一定的区别。
表面电阻率主要受材料表面的处理和污染程度影响较大，而体积电阻率则更多地受材料本身的化学成分和结构等因素影响。
电阻、电阻率、方阻
电阻率的定义(Ω·m)电阻率（resistivity）是用来表示各种物质电阻特性的物理量。
某种材料制成的长1米、横截面积是1平方毫米的在常温下（20℃时）导线的电阻，叫做这种材料的电阻率。
电阻率的单位国际单位制中，电阻率的单位是欧姆·米(Ω·m或ohmm)，常用单位是欧姆·毫米和欧姆·米。
电阻率的计算公式电阻率的计算公式为：ρ=RS/Lρ为电阻率——常用单位Ω·mS为横截面积——常用单位㎡R为电阻值——常用单位ΩL为导线的长度——常用单位m表面电阻率(Ω)(理论上等于方阻)surface resistivity平行于通过材料表面上电流方向的电位梯度与表面单位宽度上的电流之比，用欧姆表示。
注：如果电流是稳定的，表面电阻率在数值上即等于正方形材料两边的两个电极间的表面电阻，且与该正方形大小无关。
是指表示物体表面形成的使电荷移动或电流流动难易程度的物理量。
在固体材料平面上放两个长为L、距离为d的平行电极，则两电极间的材料表面电阻Rso与d成正比，与L成反比，可用下式表达：ｄＲｓ＝ρｓ——Ｌ式中的比例系数ρs称作表面电阻率，它与材料的表面性质有关，并随周围气体介质的温度、相对湿度等因素有很大变化，单位用Ω（欧）表示。
方块电阻ohms per square在长和宽相等的样品上测量的真空金属化镀膜的电阻。
方块电阻的大小与样品尺寸无关。
薄层电阻又称方块电阻，其定义为正方形的半导体薄层，在电流方向所呈现的电阻，单位为欧姆每方方阻就是方块电阻，指一个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻，方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形边到边的电阻都是一样的，不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是一样，这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关。
方阻方阻是指膜厚一定、长度和宽度相同的膜材料的电阻，又称为片电阻率、面积电阻率。
方阻的大小与材料的特性及膜层的厚度有关，而与面积的大小无关。
表面电阻率和体积电阻率 绝缘材料标准
表面电阻率和体积电阻率绝缘材料标准表面电阻率和体积电阻率绝缘材料标准一、引言在工程领域，特别是在电气工程中，绝缘材料是至关重要的。
作为绝缘材料的特性之一，电阻率通常被用来衡量其导电性能。
而表面电阻率和体积电阻率则是绝缘材料特性中的两个重要参数。
在本文中，我们将深入探讨表面电阻率和体积电阻率的概念及其在绝缘材料标准中的应用。
二、表面电阻率和体积电阻率的概念1. 表面电阻率的概念表面电阻率，简称电阻率，是指单位面积上的电阻。
它通常用来描述绝缘材料表面对电流的阻抗情况。
在实际应用中，我们常常需要评估绝缘材料表面的电阻情况，以确保设备和系统的安全可靠性。
2. 体积电阻率的概念体积电阻率，则是指材料内部的电阻。
它是描述材料内部导电性能的重要参数，直接影响着绝缘材料的绝缘性能。
通过对体积电阻率的评估，我们可以更好地了解绝缘材料的内部电阻情况，从而预防潜在的安全隐患。
3. 表面电阻率和体积电阻率的联系表面电阻率和体积电阻率在一定程度上是相互联系的。
表面电阻率主要影响着绝缘材料与外界的电气接触情况，而体积电阻率则是影响着绝缘材料内部的导电性能。
两者共同决定了绝缘材料的整体电气性能。
三、绝缘材料标准中的表面电阻率和体积电阻率要求1. 全面评估在绝缘材料标准中，对表面电阻率和体积电阻率通常会有详细的要求和评估方法。
通过全面评估绝缘材料的表面电阻率和体积电阻率，可以确保其符合相关的电气安全标准和要求。
2. 深度要求绝缘材料标准对表面电阻率和体积电阻率的要求通常是非常深入和严格的。
需要通过专业的测试和评估手段来验证绝缘材料的电气性能，以确保其能够在实际工程中正常使用。
3. 广度要求除了要求深度的评估外，绝缘材料标准还通常会对不同类型、不同用途的绝缘材料提出广泛的要求。
这种广度要求能够保证在各种实际应用场景下，绝缘材料都能够满足相应的电气安全标准。
四、对绝缘材料标准中表面电阻率和体积电阻率的个人观点和理解在我看来，绝缘材料标准中对表面电阻率和体积电阻率的要求是非常重要的。
表面电阻率
测量表面电阻率1.范围本方法用以测定导电热塑性材料的表面电阻率。
依照惯例，表面电阻率是正方形测量面积内的绝缘电阻（单位：欧姆/平方米）。
因此，表面电阻率的值不受电极配置的影响。
因为没有相关的国际标准对测量导电材料的表面电阻率进行过描述，所以在本方法中测试条件将参照IEC 167（国际电工标准：固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法）和AFNOR C26-215（法国标准：绝缘材料的试验方法.固体电绝缘材料的体积电阻率和表面电阻率的试验方法）。
样品：★ 4mm厚的压缩成型板（CTM E042A）★ 100um厚的吹塑薄膜（CTM E042B）★ 400mm厚的挤压成型带材（CTM E042D）★ 4×50×80mm3的注射成型板（CTM E042E）2.原理导电材料的绝缘电阻通过测量其电阻获得。
该电阻通过计算电流方向上的电位梯度（伏特）与电流强度（安培）之比获得（欧姆定律）。
依照惯例，表面电阻率是正方形测量面积内的绝缘电阻。
按照IEC 167(1964-01)标准的描述，在测试中用两条导电涂料线做电极从而测量电阻值。
图表 1 注射成型板样品3.仪器★银粉漆★小漆刷★欧姆表（电阻范围：0~106欧姆）★皮可安培计（电阻范围：106~1014欧姆）★有两条平行缝隙（长100mm、宽1mm、间距10mm）的adhesive mask ★电极连接系统（恒压）4.样品制备★不同的样品分别按如下方法制备：★压缩成型板：CTM E050B★吹塑薄膜：CTM E046★挤出成型带材：CTM E045★注射成型板：CTM E050A5.样品预加工样品均按照与材料级别相对应的规格表中的指导进行预加工（参照ISO 291）。
如果没有特别说明的话，在测试开始前应首先将样品置于（温度：23℃；相对湿度：50%）的环境下至少达四个小时。
6.步骤⑴使用前请仔细摇动银粉漆，使其均匀。
⑵★ CTM E042A:放三个adhesive mask在压缩成型板上，在缝隙上涂抹同质的导电涂料。
电阻、电阻率、方阻之欧阳索引创编
电阻率的定义(Ω·m)欧阳家百（2021.03.07）电阻率（resistivity）是用来表示各种物质电阻特性的物理量。
某种材料制成的长1米、横截面积是1平方毫米的在常温下（2 0℃时）导线的电阻，叫做这种材料的电阻率。
电阻率的单位国际单位制中，电阻率的单位是欧姆·米(Ω·m或ohmm)，常用单位是欧姆·毫米和欧姆·米。
电阻率的计算公式电阻率的计算公式为：ρ=RS/Lρ为电阻率——常用单位Ω·mS为横截面积——常用单位㎡R为电阻值——常用单位ΩL为导线的长度——常用单位m表面电阻率(Ω)(理论上等于方阻)surface resistivity平行于通过材料表面上电流方向的电位梯度与表面单位宽度上的电流之比，用欧姆表示。
注：如果电流是稳定的，表面电阻率在数值上即等于正方形材料两边的两个电极间的表面电阻，且与该正方形大小无关。
是指表示物体表面形成的使电荷移动或电流流动难易程度的物理量。
在固体材料平面上放两个长为L、距离为d的平行电极，则两电极间的材料表面电阻Rso与d成正比，与L成反比，可用下式表达：ｄＲｓ＝ρｓ——Ｌ式中的比例系数ρs称作表面电阻率，它与材料的表面性质有关，并随周围气体介质的温度、相对湿度等因素有很大变化，单位用Ω（欧）表示。
方块电阻ohms per square在长和宽相等的样品上测量的真空金属化镀膜的电阻。
方块电阻的大小与样品尺寸无关。
薄层电阻又称方块电阻，其定义为正方形的半导体薄层，在电流方向所呈现的电阻，单位为欧姆每方方阻就是方块电阻，指一个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻，方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形边到边的电阻都是一样的，不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是一样，这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关。
方阻方阻是指膜厚一定、长度和宽度相同的膜材料的电阻，又称为片电阻率、面积电阻率。
方阻的大小与材料的特性及膜层的厚度有关，而与面积的大小无关。
en1149-5防静电标准
en1149-5防静电标准本标准 EN 1149-5 是欧洲共同体针对防静电装备的安全要求，它规定了所有在潜在的静电危害环境（例如：石油化工，电子生产等）中工作的员工必须配备防静电装备。
本标准不仅涵盖了服装的防静电性能要求，还涉及了服装的材料、设计以及电阻、电阻率和表面电阻率的测试方法。
1. 服装的防静电性能要求所有防静电服装必须能够有效地防止静电积累，其电阻率应在10^5至10^11欧姆之间。
此外，服装应具有防静电性能持久、耐洗涤和耐磨的特性。
2. 服装的材料和设计要求防静电服装应由不产生静电或防止静电积累的材料制成。
推荐使用具有抗静电性能的纤维，例如：导电纤维。
此外，服装的设计也应避免产生静电，例如：应避免使用可能摩擦产生静电的部件。
3. 服装的电阻和电阻率测试方法测试防静电服装的电阻和电阻率应使用适当的设备和程序。
首先，将一个已知的电压施加在试样上，然后测量流过试样的电流。
通过欧姆定律，可以计算出试样的电阻和电阻率。
4. 服装的表面电阻率测试方法表面电阻率是衡量材料表面导电性能的一个重要指标。
对于防静电服装，其表面电阻率应低于10^5欧姆。
测试表面电阻率通常使用专用的表面电阻测试仪，按照标准规定的方法进行。
5. 服装的测试方法（正在制定中）虽然 EN 1149-5 标准已经对防静电服装的许多方面做出了规定，但还有一些方面正在制定中。
这些可能包括更具体的测试方法、更多的材料类型和新的设计要求等。
未来的标准可能会进一步改进现有的防静电服装的性能和安全性。
总结：EN 1149-5 防静电标准是欧洲共同体针对防静电装备的安全要求，它规定了防静电服装的性能要求、材料、设计和测试方法等。
所有在潜在的静电危害环境工作的员工必须配备符合 EN 1149-5 标准的防静电装备。
电阻率、体积电阻率、表面电阻率
电阻率、体积电阻率、表面电阻率
电阻率是指物质的电阻性能，通常用符号ρ表示，单位是欧姆·米（Ω·m）。
它是描述物质抵抗电流通过的能力的物理量，与物质的导电性质有关。
电阻率越大，表示物质越不导电。
体积电阻率是指单位体积内的电阻率，通常用符号ρ_v表示，单位同样是欧姆·米（Ω·m）。
它是描述材料本身的电阻性质，与物质的成分、结构、温度等因素有关。
体积电阻率可以用来比较不同材料的导电性能，从而在工程应用中选择合适的材料。
表面电阻率是指单位面积上的电阻率，通常用符号ρ_s表示，单位同样是欧姆（Ω）。
它是描述材料表面的电阻性质，与表面的形状、粗糙度、涂层等因素有关。
表面电阻率在涂层工艺、电子元件设计等领域有重要应用，能够影响材料的导电性能和电磁特性。
总的来说，电阻率、体积电阻率和表面电阻率都是描述材料导电性能的重要物理量，它们分别从整体、局部和表面的角度描述了材料的电阻特性，对于材料选择、工程设计和电子元件性能评估都具有重要意义。
防静电参数
防静电参数
防静电是指采取预防措施，减少或消除静电现象的发生，从而保护设备免受静电损害。
防静电参数通常包括以下几个方面：
1. 静电电势：指从一点到地面间的电压差，一般要控制在10V 以下。
2. 静电电荷：即物体表面所带的静电带电量，应该尽量减少，控制在100pC以下。
3. 静电放电时间：指从触发防静电措施到静电放电完毕的时间，最好不超过1秒。
4. 防静电材料表面电阻率：指材料表面的电阻值，一般要求小于10^9欧姆。
5. 防静电材料体积电阻率：指材料内部的电阻值，一般要求大于10^8欧姆·厘米。
6. 防静电材料密度：指材料的密度，应尽量小，以便减少静电带电量。
综合以上参数，可以有效预防设备受到静电损害。
表面电阻率与表面电阻的关系
表面电阻率与表面电阻的关系一、引言表面电阻率是指单位面积上的电阻值，通常用Ω/□表示。
而表面电阻是指某个物体表面上的总电阻。
表面电阻率与表面电阻之间存在一定的关系，本文将从理论和实际应用两个方面来探讨这一关系。
二、理论分析1. 表面电阻率的定义表面电阻率是指单位面积上的电阻值，它与电阻和面积之间的关系可以用公式ρ = R/A来表示，其中ρ为表面电阻率，R为表面电阻，A为表面面积。
从定义可以看出，表面电阻率与表面电阻是成反比关系的，即表面电阻率越大，表面电阻越小。
2. 表面电阻率与材料性质的关系表面电阻率与材料的电导率和厚度有关。
电导率是材料导电性能的指标，通常用σ表示，单位为S/m。
电导率越大，表面电阻率越小；电导率越小，表面电阻率越大。
厚度是指电流通过材料所需穿过的厚度，厚度越大，表面电阻率越大；厚度越小，表面电阻率越小。
三、实际应用1. 电子元件表面处理在电子元件制造过程中，为了提高元件的可靠性和稳定性，常常需要对元件表面进行处理。
表面电阻率的大小可以直接影响到元件的性能和使用寿命。
通过表面处理，可以改变材料的电导率和厚度，从而调节表面电阻率，达到所需的要求。
2. 导电涂层的应用导电涂层是一种具有导电性能的材料，可以应用在各种领域中。
它可以通过控制涂层的厚度和电导率来调节表面电阻率，从而实现不同的功能。
例如，在触摸屏技术中，导电涂层的表面电阻率需要在一定范围内，以实现准确的触摸操作。
3. ESD防护ESD（Electrostatic Discharge）是指静电放电现象。
在电子元件制造、储存和使用过程中，静电放电可能会对元件造成损坏。
通过控制表面电阻率，可以有效地防止静电放电，保护电子元件的安全性。
四、总结表面电阻率与表面电阻之间存在着一定的关系。
从理论上分析，表面电阻率与电导率、厚度等因素有关，它们之间呈现出一定的反比关系。
在实际应用中，通过调节表面电阻率，可以实现对电子元件的性能和功能的调节，并保护元件的安全性。
电阻率、体积电阻率、表面电阻率的区别与测定方法
电阻率、体积电阻率、表面电阻率的区别与测定方法什么是电阻率？电阻跟导体的材料、横截面积、长度有关。
导体的电阻与两端的电压以及通过导体的电流无关。
导体电阻跟它长度成正比，跟它的横截面积成反比．(1)定义或解释电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量。
用某种材料制成的长为1米、横截面积为1mm2米。
的导体的电阻，在数值上等于这种材料的、电阻率。
(2)单位在国际单位制中，电阻率的单位是欧姆·米。
一般常用的单位是欧姆·毫米2／米。
(3)说明①电阻率ρ不仅和导体的材料有关，还和导体的温度有关。
在温度变化不大的范围内，几乎所有金属的电阻率随温度作线性变化，即ρ=ρo(1+at)。
式中t是摄氏温度，ρo是O℃时的电阻率，a是电阻率温度系数。
②由于电阻率随温度改变而改变，所以对于某些电器的电阻，必须说明它们所处的物理状态。
如一个220 V100 W电灯灯丝的电阻，通电时是484欧姆，未通电时只有40欧姆左右。
③电阻率和电阻是两个不同的概念。
电阻率是反映物质对电流阻碍作用的属性，电阻是反映物体对电流阻碍作用的属性。
什么是体积电阻率？体积电阻率，是材料每单位体积对电流的阻抗，用来表征材料的电性质。
通常体积电阻率越高，材料用做电绝缘部件的效能就越高。
通常所说的电阻率即为体积电阻率。
，式中，h是试样的厚度（即两极之间的距离）；S是电极的面积，ρv 的单位是Ω·m（欧姆·米）。
材料的导电性是由于物质内部存在传递电流的自由电荷，这些自由电荷通常称为载流子，他们可以是电子、空穴、也可以是正负离子。
在弱电场作用下，材料的载流子发生迁移引起导电。
材料的导电性能通常用与尺寸无关的电阻率或电导率表示，体积电阻率是材料导电性的一种表示方式。
简言之，在绝缘材料里面的直流电场强度与稳态电流密度之商,即单位体积内的体积电阻.什么是表面电阻率？表面电阻：在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过两电极间的电流之商；访伸展流主要为流过试样表层的电流,也包括一部分流过试样体积的电流成分.在两电极间可能形成的极化忽略不计.表面电阻率：在绝缘材料的表面层的直流电场强度与线电流密度之商,即单位面积内的表面电阻.材料说明A、通常,绝缘材料用于电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘,固体绝缘材料还起机械支撑作用.一般希望材料有尽可能高的绝缘电阻,并具有合适的机械、化学和耐热性能.B、体积电阻班组可作为选择绝缘材料的一个参数,电阻率随温度和湿度的京戏化而显著变化.体积电阻率的测量常常用来检查绝缘材料是否均匀,或都用来检测那些能影响材料质量而又不能作其他方法检测到的导电杂质.C、当直流电压加到与试样接触的两电极间时,通过试样的电流会指数式地衰减到一个稳定值.电流随时间的减小可能是由于电介质极化和可动离子位移到电极所致.对于体积电阻小于10的10Ω.m的材料,其稳定状态通常在1min内达到.因此,要经过这个电化时间后测定电阻.对于电阻率较高的材料,电流减小的过程可能会持续几分钟、几小时、几天,因此需要用较长的电化时间.如果需要的话,可用体积电阻率与关系来描述材料的特性. D、由于体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中去,因些近似地测量表面电阻,测得的表面电阻值主要反映被测试样表面污染的程度.所以,表面电阻率不是表面材料本身特性的参数,而是一个有关材料表面污染特性的参数.当表面电阻较高时,它常随时间以不规则的方式变化.测量表面电阻通常都规定11min的电化时间.电阻率的测量方法和精度1、方法：测量高电阻常用的方法是直接法和比较法.直接法是测量加在试样上的直流电压和流过试样的电流而求得试样电阻.直接法主要有检流计法和直流放大法（高阻计法）比较法主要有检流计法和电桥法.2、精度：对于大于10的10Ω的电阻,仪器误差应在±20%的范围内；对于不大于10的10Ω的电阻,仪器误差应在±10%的范围内.3、保护：测量仪器用的绝缘材料一般只具有与被测材料差不多的性能.试样的测试误差可以由下列原因产生：①外来寄生电压引起的杂散电流通渠道.通常不知道它的大小,并且有漂移的特点；②测量线路的绝缘材料与试样电阻标准电阻器或电流测量装置的并联.使用高电阻绝缘奢侈可以改善测量误差,但这种方法将使仪器昂贵而又笨重,而且对高阻值试样的测量仍不能得到满意的结果.较为满意的改进方法是使用保护技术,即在所有主要的绝缘部位安置保护导体,通过它截信了各种可能引起误差的杂散电流；将这些导电联接在一起组成保护系统,并与测量端形成一个三端网络.当线路连接恰当时,所有外来寄生电压的杂散电流被子保护系统分流到测量电路以下,这就可大大减少误差的可能性.在系统的保护端和被保护端之间存在的电解电势,接触电势或热电运势较小时,均能补偿掉,使它们在测量中不引起显著误差.在电流测量中,由于被保护端和保护端之间的电阻与电流测量装置并联可能产生误差,因此前者至少应为电流测量装置输入电阻的10倍,最好为100倍.在电桥法测量中,保护端与测量端带有大致相同的电位,但电桥中的一个标准电阻与不保护端和保护端之间的电阻并联,因此,后者至少为标准电阻的10倍,最好20倍.在开始测试前先断开电源和试样的连线进行一次测量,此时设备应在它的灵敏度许可范围内指示无穷大的电阻.可用一些已知值的标准电阻业检查设备运行是否良好.体积电阻率为了测业体积电阻率,使用的保护系统应能抵消由表面电流引起的误差.对表面泄漏可忽略的试样,在测量体积电阻时可以去掉保护.在被保护电极与保护电极之间的试样表面上的间隙宽度要均匀,并且在表面泄漏不致引起测量误差的条件下间隙应尽可能窄,实际使用时最小为1MM.表面电阻率为测定表面电阻率,使用的保护系统应尽可能地抵消体积电阻引起的影响。
电阻率和表面电阻率
高阻计法测定高分子材料体积电阻率和表面电阻率2010年03月07日10:37 admins 学习时间：20分钟评论 0条高分子材料的电学性能是指在外加电场作用下材料所表现出来的介电性能、导电性能、电击穿性质以及与其他材料接触、摩擦时所引起的表面静电性质等。
最基本的是电导性能和介电性能，前者包括电导(电导率γ，电阻率ρ=1/γ)和电气强度(击穿强度Eb)；后者包括极化(介电常数εr)和介质损耗(损耗因数tg δ)。
共四个基本参数。
种类繁多的高分子材料的电学性能是丰富多彩的。
就导电性而言，高分子材料可以是绝缘体、半导体和导体，如表1所示。
多数聚合物材料具有卓越的电绝缘性能，其电阻率高、介电损耗小，电击穿强度高，加之又具有良好的力学性能、耐化学腐蚀性及易成型加工性能，使它比其他绝缘材料具有更大实用价值，已成为电气工业不可或缺的材料。
高分子绝缘材料必须具有足够的绝缘电阻。
绝缘电阻决定于体积电阻与表面电阻。
由于温度、湿度对体积电阻率和表面电阻率有很大影响，为满足工作条件下对绝缘电阻的要求，必须知道体积电阻率与表面电阻率随温度、湿度的变化。
表1 各种材料的电阻率范围材料电阻率(Ω·m) 材料电阻率(Ω·m)超导体导体≤10-810-8～10-5 半导体绝缘体10-5～107 107～1018除了控制材料的质量外，测量材料的体积电阻率还可用来考核材料的均匀性、检测影响材料电性能的微量杂质的存在。
当有可以利用的相关数据时，绝缘电阻或电阻率的测量可以用来指示绝缘材料在其他方面的性能，例如介质击穿、损耗因数、含湿量、固化程度、老化等。
表2为高分子材料的电学性能及其研究的意义。
表2 高分子材料的电学性能及测量的意义电学性能电导性能①电导（电导率γ，电阻率ρ=1/γ）②电气强度（击穿强度Eb）介电性能③极化（介电常数εr）④介电损耗（损耗因数tanδ）测量的意义实际意义①电容器要求材料介电损耗小，介电常数大，电气强度高。
面电阻率单位
面电阻率单位面电阻率单位面电阻率是指导体表面上单位面积内电阻的大小，通常用欧姆/平方米（Ω/m²）作为单位。
在工程和科学实验中，面电阻率是一个非常重要的物理量，在各种领域都有广泛的应用。
一、什么是面电阻率？1.1 定义面电阻率是指导体表面上单位面积内电阻的大小。
它是一个表示材料导电性能的物理量。
1.2 物理意义当一个导体上施加一定的电压时，通过其表面的电流密度与导体表面上的电场强度成正比。
而根据欧姆定律，通过导体表面上单位长度的电流与该长度上施加的总电压成正比。
因此，当我们考虑一个导体表面上单位长度内所承受的总电压时，就可以得到该点处单位长度内所承受的总电流密度。
这个值就是该点处的“线”密度（即线性电阻率）。
同样地，我们可以考虑导体表面上每个小区域内所承受的总电压，并得到该点处每个小区域内所承受的总电流密度。
这个值就是该点处“区”密度（即面电阻率）。
二、面电阻率的计算方法2.1 电学方法通过施加一定的电压和测量导体表面上的电流密度，可以计算出导体表面上单位面积内的电阻。
这种方法适用于各种材料，但需要较为复杂的实验设备和技术。
2.2 物理方法利用材料的导电性质和几何形状，可以通过理论计算得到其面电阻率。
这种方法适用于有规律几何形状的材料，如金属薄膜等。
三、面电阻率的应用3.1 金属薄膜制备在微电子器件制造过程中，金属薄膜是一个重要的工艺步骤。
通过控制金属薄膜的厚度和面电阻率等参数，可以实现对器件性能和稳定性的调控。
3.2 传感器设计传感器是一种将物理量转化为可读取信号输出的装置。
在传感器设计中，需要考虑到其灵敏度、精度、响应时间等因素。
而这些因素与传感器所使用材料的面电阻率密切相关。
3.3 电路板设计在电路板设计中，需要考虑到导线的电阻和电容等参数。
而这些参数与导线所使用材料的面电阻率密切相关。
四、面电阻率单位的转换4.1 Ω/平方米（Ω/m²）与Ω/平方（Ω/cm²）之间的转换1 Ω/m² = 10⁴ Ω/cm²1 Ω/cm² = 10⁻⁴ Ω/m²4.2 Ω/平方（Ω/cm²）与Ω/圆（Ω/circle）之间的转换1 Ω/circle = π × (0.01 m)² × 1 Ω/m² = 3.1415 × 10⁻⁴ Ω/m²1 Ω/m² = 1/(π × (0.01 m)²) Ω/circle = 3183.1 Ω/circle总结：面电阻率是指导体表面上单位面积内电阻的大小，通常用欧姆/平方米（Ω/m²）作为单位。
电阻率和表面电阻率
高阻计法测定高分子材料体积电阻率和表面电阻率2010年03月07日10:37 admins 学习时间：20分钟评论 0条高分子材料的电学性能是指在外加电场作用下材料所表现出来的介电性能、导电性能、电击穿性质以及与其他材料接触、摩擦时所引起的表面静电性质等。
最基本的是电导性能和介电性能，前者包括电导(电导率γ，电阻率ρ=1/γ)和电气强度(击穿强度Eb)；后者包括极化(介电常数εr)和介质损耗(损耗因数tg δ)。
共四个基本参数。
种类繁多的高分子材料的电学性能是丰富多彩的。
就导电性而言，高分子材料可以是绝缘体、半导体和导体，如表1所示。
多数聚合物材料具有卓越的电绝缘性能，其电阻率高、介电损耗小，电击穿强度高，加之又具有良好的力学性能、耐化学腐蚀性及易成型加工性能，使它比其他绝缘材料具有更大实用价值，已成为电气工业不可或缺的材料。
高分子绝缘材料必须具有足够的绝缘电阻。
绝缘电阻决定于体积电阻与表面电阻。
由于温度、湿度对体积电阻率和表面电阻率有很大影响，为满足工作条件下对绝缘电阻的要求，必须知道体积电阻率与表面电阻率随温度、湿度的变化。
表1 各种材料的电阻率范围材料电阻率(Ω·m) 材料电阻率(Ω·m)超导体导体≤10-810-8～10-5 半导体绝缘体10-5～107 107～1018除了控制材料的质量外，测量材料的体积电阻率还可用来考核材料的均匀性、检测影响材料电性能的微量杂质的存在。
当有可以利用的相关数据时，绝缘电阻或电阻率的测量可以用来指示绝缘材料在其他方面的性能，例如介质击穿、损耗因数、含湿量、固化程度、老化等。
表2为高分子材料的电学性能及其研究的意义。
表2 高分子材料的电学性能及测量的意义电学性能电导性能①电导（电导率γ，电阻率ρ=1/γ）②电气强度（击穿强度Eb）介电性能③极化（介电常数εr）④介电损耗（损耗因数tanδ）测量的意义实际意义①电容器要求材料介电损耗小，介电常数大，电气强度高。
表面电阻率 测试标准
表面电阻率测试标准表面电阻率测试标准。
表面电阻率是指材料表面单位面积上的电阻。
在工程领域中，对于涉及电气、电子、光学等方面的材料和器件，表面电阻率的测试是非常重要的。
通过测试表面电阻率，可以评估材料的导电性能，为材料的选择和应用提供重要依据。
因此，建立起一套科学、准确的表面电阻率测试标准，对于保证材料和器件的质量和性能具有重要意义。
一、测试仪器和设备。
在进行表面电阻率测试时，需要使用专门的测试仪器和设备。
通常情况下，常用的测试仪器有电阻计、电阻仪、表面电阻率测试仪等。
这些仪器能够通过电流和电压的测量，计算出材料表面的电阻率数值。
在选择测试仪器时，需要考虑测试的精度、稳定性和适用范围等因素，以确保测试结果的准确性和可靠性。
二、测试方法和步骤。
1. 准备工作。
在进行表面电阻率测试之前，需要对测试仪器和设备进行检查和校准，确保其正常工作。
同时，对待测试材料的表面进行清洁和处理，去除表面的污垢和氧化物，以确保测试的准确性。
另外，还需要选择合适的测试环境和条件，避免外界因素对测试结果的影响。
2. 测试步骤。
（1）将测试电极放置在待测试材料的表面上，确保电极与材料表面良好接触。
（2）通过测试仪器施加一定的电压或电流，记录下相应的电压和电流数值。
（3）根据测试仪器提供的计算公式，计算出材料表面的电阻率数值。
（4）重复多次测试，取平均值作为最终的测试结果。
三、测试标准和要求。
在进行表面电阻率测试时，需要遵守一定的测试标准和要求，以确保测试结果的准确性和可比性。
通常情况下，表面电阻率测试标准包括测试方法、测试条件、测试精度、测试结果的评定标准等内容。
这些标准和要求可以由国家标准、行业标准或者企业内部标准来规定，测试人员需要严格遵守并执行这些标准和要求。
四、测试结果的分析和应用。
通过表面电阻率测试得到的测试结果，需要进行分析和应用。
首先，需要对测试结果进行比对和评定，判断测试材料的导电性能是否符合要求。
其次，根据测试结果，可以对材料的选择、加工工艺、产品设计等方面提出合理的建议和改进措施。
绝缘电阻和表面电阻率
绝缘电阻和表面电阻率
绝缘电阻是指材料对电流的阻拦能力，即材料内部的电阻值。
通常用欧姆为单位来表示。
绝缘电阻越高，电导率越低，材料越难导电。
绝缘材料的作用就是通过其高绝缘电阻来防止电流的泄漏或漏电。
表面电阻率是指物体表面单位面积上的电阻值。
也就是说，表面电阻率越高，电流通过物体表面的难度就越大。
表面电阻率通常用欧姆每平方表示。
在电路设计中，表面电阻率的大小会影响到元器件的选取和电路的稳定性。
绝缘电阻和表面电阻率在电学领域的应用非常广泛，尤其在电路设计和维修中，具有重要的作用。
同时，随着电子技术的不断发展，对于材料的绝缘性能和表面电阻率的要求也越来越高。
因此，更加精确的测试方法和更优秀的绝缘材料和表面涂层材料的研发也成为了
电子技术领域的重要课题之一。
- 1 -。
表面电阻率 波阻抗
表面电阻率波阻抗
表面电阻率和波阻抗是电磁学中的两个不同概念，它们各自描述了材料或介质在电磁场作用下的不同性质。
1、表面电阻率（Surface Resistivity）:
表面电阻率是一个材料表面电阻的度量，通常用于描述材料在电场作用下的导电性能。
它表示在材料表面单位面积上的电压与单位面积上的电流密度之比。
表面电阻率的单位是欧姆（Ω）。
表面电阻率计算公式：
( R_s = \frac{V}{I} )
其中( R_s ) 是表面电阻率，( V ) 是施加的电压，( I ) 是通过表面的电流。
对于薄膜材料，表面电阻率通常用于描述其导电性。
对于绝缘体，表面电阻率可能非常高，而对于导体，表面电阻率则相对较低。
2、波阻抗（Wave Impedance）:
波阻抗是描述电磁波在介质中传播时遇到的阻力。
在传输线理论中，波阻抗定义为电压与电流之比，通常用于描述传输线上电磁波的传播特性。
波阻抗的计算公式：
( Z_0 = \frac{V}{I} )
其中( Z_0 ) 是波阻抗，( V ) 是传输线上的电压，( I ) 是传输线上的电流。
波阻抗的单位也是欧姆（Ω），并且它取决于传输线的几何形状和介电常数。
例如，在自由空间中，电磁波的波阻抗约为377欧姆，这是自由空间的本征阻抗。
总结：
表面电阻率是一个材料在电场作用下的导电性能的度量，而波阻抗则描述了电磁波在介质中传播时的阻力。
两者都是电压与电流之比，但应用背景不同。
表面电阻率主要用于材料导电性的测量，而波阻抗则用于描述电磁波在传输线上的传播特性。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
高阻计法测定高分子材料体积电阻率和表面电阻率2010年03月07日10:37 ???admins ???学习时间：20分钟评论 0条高分子材料的电学性能是指在外加电场作用下材料所表现出来的介电性能、导电性能、电击穿性质以及与其他材料接触、摩擦时所引起的表面静电性质等。
最基本的是电导性能和介电性能，前者包括电导(电导率γ，电阻率ρ=1/γ)和电气强度(击穿强度Eb)；后者包括极化(介电常数εr)和介质损耗(损耗因数tg δ)。
共四个基本参数。
种类繁多的高分子材料的电学性能是丰富多彩的。
就导电性而言，高分子材料可以是绝缘体、半导体和导体，如表1所示。
多数聚合物材料具有卓越的电绝缘性能，其电阻率高、介电损耗小，电击穿强度高，加之又具有良好的力学性能、耐化学腐蚀性及易成型加工性能，使它比其他绝缘材料具有更大实用价值，已成为电气工业不可或缺的材料。
高分子绝缘材料必须具有足够的绝缘电阻。
绝缘电阻决定于体积电阻与表面电阻。
由于温度、湿度对体积电阻率和表面电阻率有很大影响，为满足工作条件下对绝缘电阻的要求，必须知道体积电阻率与表面电阻率随温度、湿度的变化。
?????? ???????表1? 各种材料的电阻率范围材料电阻率(Ω·m) 材料电阻率(Ω·m)超导体导体≤10-810-8～10-5半导体绝缘体10-5～107 107～1018除了控制材料的质量外，测量材料的体积电阻率还可用来考核材料的均匀性、检测影响材料电性能的微量杂质的存在。
当有可以利用的相关数据时，绝缘电阻或电阻率的测量可以用来指示绝缘材料在其他方面的性能，例如介质击穿、损耗因数、含湿量、固化程度、老化等。
表2为高分子材料的电学性能及其研究的意义。
表2??????? 高分子材料的电学性能及测量的意义电学性能电导性能①电导（电导率γ，电阻率ρ?=1/γ）②电气强度（击穿强度Eb）介电性能③极化（介电常数εr）④介电损耗（损耗因数tanδ）测量的意义实际意义①电容器要求材料介电损耗小，介电常数大，电气强度高。
②仪表的绝缘要求材料电阻率和电气强度高，介电损耗低。
③高频电子材料要求高频、超高频绝缘。
④塑料高频干燥、薄膜高频焊接、大型制件的高频热处理要求材料介电损耗大。
⑤纺织和化工为消除静电带来的灾害要求材料具适当导电性。
理论意义研究聚合物结构和分子运动。
1??? 目的要求了解超高阻微电流计的使用方法和实验原理。
测出高聚物样品的体积电阻率及表面电阻率，分析这些数据与聚合物分子结构的内在联系。
2??? 原理? 名词术语1) 绝缘电阻：施加在与试样相接触的二电极之间的直流电压除以通过两电极的总电流所得的商。
它取决于体积电阻和表面电阻。
2) 体积电阻：在试样的相对两表面上放置的两电极间所加直流电压与流过两个电极之间的稳态电流之商；该电流不包括沿材料表面的电流。
在两电极间可能形成的极化忽略不计。
3) 体积电阻率：绝缘材料里面的直流电场强度与稳态电流密度之商，即单位体积内的体积电阻。
4) 表面电阻：在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过两电极间的电流之商；该电流主要为流过试样表层的电流，也包括一部分流过试样体积的电流成分。
在两电极间可能形成的极化忽略不计。
表面电阻率：在绝缘材料的表面层的直流电场强度与线电流密度之商，即单位面积内的表面电阻。
??? 测量原理根据上述定义，绝缘体的电阻测量基本上与导体的电阻测量相同，其电阻一般都用电压与电流之比得到。
现有的方法可分为三大类：直接法，比较法，时间常数法。
这里介绍直接法中的直流放大法，也称高阻计法。
该方法采用直流放大器，对通过试样的微弱电流经过放大后，推动指示仪表，测量出绝缘电阻，基本原理见图1。
图1? ZC36型1017Ω超高电阻测试仪测试原理图。
?U—测试电压(V)；R0—输入电阻(Ω)；RX—被测试试样的绝缘电阻(Ω)当R0《Rx时，则 Rx=(U/U0)·R0???????? (1)式中：Rx——试样电阻，(Ω)，U——试验电压，(V)，U0——标准电阻R0两端电压，(V)，R0——标准电阻，(Ω)。
测量仪器中有数个不同数量级的标准电阻，以适应测不同数量级Rx的需要，被测电阻可以直接读出。
高阻计法一般可测1017Ω以下的绝缘电阻。
从Rx的计算公式看到Rx的测量误差决定于测量电压U、标准电阻R0以及标准电阻两端的电压U0的误差。
?? 测量技术通常，绝缘材料用于电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘，固体绝缘材料还起机械支撑作用。
一般希望材料有尽可能高的绝缘电阻，并具有合适的机械、化学和耐热性能。
绝缘材料的电阻率一般都很高，也就是传导电流很小。
如果不注意外界因素的干扰和漏电流的影响，测量结果就会发生很大的误差。
同时绝缘材料本身的吸湿性和环境条件的变化对测量结果也有很大影响。
影响体积电阻率和表面电阻率测试的主要因素是温度和湿度、电场强度、充电时间及残余电荷等。
体积电阻率可作为选择绝缘材料的一个参数，电阻率随温度和湿度的变化而显着变化。
体积电阻率的测量常常用来检查绝缘材料是否均匀，或者用来检测那些能影响材料质量而又不能用其他方法检测到的导电杂质。
由于体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中去，因此只能近似地测量表面电阻，测得的表面电阻值主要反映被测试样表面污染的程度。
所以，表面电阻率不是表征材料本身特性的参数，而是一个有关材料表面污染特性的参数。
当表面电阻较高时，它常随时间以不规则的方式变化。
测量表面电阻通常都规定1min的电化时间。
（1）温度和湿度：固体绝缘材料的绝缘电阻率随温度和湿度的升高而降低，特别是体积电阻率随温度改变而变化非常大。
因此，电瓷材料不但要测定常温下的体积电阻率，而且还要测定高温下的体积电阻率，以评定其绝缘性能的好坏。
由于水的电导大，随着湿度增大，表面电阻率和有开口孔隙的电瓷材料的体积电阻率急剧下降。
因此，测定时应严格地按照规定的试样处理要求和测试的环境条件下进行。
（2）电场强度：当电场强度比较高时，离子的迁移率随电场强度增高而增大，而且在接近击穿时还会出现大量的电子迁移，这时体积电阻率大大地降低。
因此在测定时，施加的电压应不超过规定的值。
（3）残余电荷：试样在加工和测试等过程中，可能产生静电，电阻越高越容易产生静电，影响测量的准确性。
因此，在测量时，试样要彻底放电，即可将几个电极连在一起进行短路。
（4）杂散电势的消除：在绝缘电阻测量电路中，可能存在某些杂散电势，如热电势、电解电势、接触电势等，其中影响最大的为电解电势。
用高阻计测量表面潮湿的试样的体积电阻时，测量极与保护极间可产生20mv的电势。
试验前应检查有无杂散电势。
可根据试样加压前后高阻计的二次指示是否相同来判断有无杂散电势。
如相同，证明无杂散电势；否则应当寻找并排除产生杂散电势的根源，才能进行测量。
（5）防止漏电流的影响：对于高电阻材料，只有采取保护技术才能去除漏电流对测量的影响。
保护技术就是在引起测量误差的漏电路径上安置保护导体，截住可能引起测量误差的杂散电流，使之不流经测量回路或仪表。
保护导体连接在一起构成保护端，通常保护端接地。
测量体积电阻时，三电极系统的保护极就是保护导体。
此时要求保护电极和测量电极间的试样表面电阻高于与它并联元件的电阻10～100倍。
线路接好后，应首先检查是否存在漏电。
此时断开与试样连接的高压线，加上电压。
如在测量灵敏度范围内，测量仪器指示的电阻值为无限大，则线路无漏电，可进行测量。
（6）条件处理和测试条件的规定:固体绝缘材料的电阻随温度、湿度的增加而下降。
试样的预处理条件取决于被测材料，这些条件在材料规范中规定。
推荐使用GB10580《固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件》中规定的预处理方法。
可使用甘油—水溶液潮湿箱进行湿度预处理。
测试条件应与预处理条件尽可能地一致，有些时候(如浸水处理)不能保持预处理条件和测试条件一致时，则应在从预处理环境中取出后在尽可能短时间内完成测试，一般不超过5分钟。
（7）电化时间的规定:当直流电压加到与试样接触的两电极间时，通过试样的电流会指数式地衰减到一个稳定值。
电流随时间的减小可能是由于电介质极化和可动离子位移到电极所致。
对于体积电阻率小于1010Ω·m的材料，其稳定状态通常在1分钟内达到。
因此，要经过这个电化时间后测定电阻。
对于电阻率较高的材料，电流减小的过程可能会持续几分钟、几小时、几天，因此需要用较长的电化时间。
如果需要的话，可用体积电阻率与时间的关系来描述材料的特性。
当表面电阻较高时，它常随时间以不规则的方式变化。
测量表面电阻通常都规定1分钟的电化时间。
3?? 仪器与试样? 仪器本实验选用ZC36型起高阻微电流计。
该仪器工作原理属于进接法中的直流放大法，测量范围106～1017Ω，误差≤10%。
图2? ZC36高阻计外形图图3? 三电极电阻测量系统?为准确测量体积电阻和表面电阻，一般采用三电极系统，圆板状三电极系统见图3。
测量体积电阻Rv 时，保护电极的作用是使表面电流不通过测量仪表，并使测量电极下的电场分布均匀。
此时保护电极的正确接法见图4。
测量表面电阻Rs时，保护电极的作用是使体积电流减少到不影响表面电阻的测量。
图4? 体积电阻Rv和表面电阻Rs测量示意图??? 试样及其预处理试样不同比例的聚丙烯与碳酸钙共混物样片(φ100圆板，厚2±0.2mm)5只预处理试样应平整、均匀、无裂纹和机械杂质等缺陷。
用蘸有深剂(此溶剂应不腐蚀试样)的绸布擦试；把擦净的试样放在温度23±2℃和相对湿度65±5%的条件下处理24小时。
测量表面电阻时，一般不清洗及处理表面，也不要用手或其他任何东西触及。
4?? 实验? 准备使用前，面板上的各开关位置应如下：ａ) 倍率开关置于灵敏度最低档位置。
ｂ) 测试电压开关置于“10V”处c) “放电-测试”开关置于“放电”位置。
d) 电源总开关(POWER)置于“关”。
e) 输入短路揿键置于“短路”。
f) 极性开关置于“0”。
检查测试环境的湿度是否在允许的范围内。
尤其当环境湿度高于80%以上时，对测量较高的绝缘电阻(大于10 11Ω及小于10-8 A)时微电流可能会导致较大的误差。
接通电源预热30分钟，将极性开关置于“+”，此时可能发现指示仪表的指针会离开“∞”及“0”处，这时可慢慢调节“∞”及“0”电位器，使指针置于“∞”及“0”处。
?? 测试将被测试样用测量电缆线和导线分别与讯号输入端和测试电压输出端连接。
将测试电压选择开关置于所需要的测试电压档。
将“放电-测试”开关置于“测试”档，输入短路开关仍置于“短路”。
对试样经一定时间的充电以后(视试样的容量大小而定，一般为15秒。
电容量大时，可适当延长充电时间)，即可将输入短路开关揿至“测量”进行读数，若发现指针很快打出满刻度，应立即揿输入短路开关，使其置于“短路”，将“放电-测试”开关置于“放电”档，等查明原因并排除故障后再进行测试。