晶粒尺寸对氧化钒薄膜电学与光学相变特性的影响

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二 氧 化 钒 ( 薄 膜 具 有 绝 缘 体一 属 相 变 特 VO ) 金 性Ⅲ , 变温 度为 6  ̄ 相 变 过 程 中 , 相 8C, 晶体 结 构 由低 温
薄膜 的光学 和 电学性 能 发生 可逆 快 速 突变 , 得 VO2 使 薄膜 在光 电开关 、 存储 器 、 微测辐 射热 计Ⅲ 等光 学 与 电学领 域都 具有 广阔 的应用前 景 。
单斜 金红 石结 构变 为高温 四方 金红 石结 构 , 时 , 同 VO2
晶 粒 尺 寸 对 氧 化 钒 薄 膜 电学 与 光 学 相 变 特 性 的影 响
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VO 薄 膜 的绝 缘体一 属 相 变 性 能 随着 薄膜 晶粒 。 金
备条 件下 制备 多 个 样 品 ; 射 镀 膜 前 预 抽 真 空 至 2 4 溅 . ×1 P , 后 向真 空室 内通 人纯 度 为 9 . 的氧气 0 a然 99 和 9 . 6 9 9/ 9氩气 , 射过 程 中真空 室压 强为 1 a 氧气分 溅 P, 压为 0 0 P , 射 时 间为 5 n 基底 未 加 温 ; 射 薄 .2a溅 mi , 溅
流 子在 通过 薄膜 时受 到 的阻 力 增 大 , 电阻在 由高 阻态 ( 缘体 态 ) 绝 变化 到低 阻态 ( 金属 态 ) 需 的温度 宽 度变 所 长 l ; 于光 透射率 而 言 , 8对 只有在 薄膜 内转 变为金 属 态 的晶粒 形成 有效 反射 层 的情 况 下 , 射 率才 会 出现 明 透
ston t m p r t r c e s s a a n sz n r a i ii e e a u e de r a e sgr i ie i c e sng,ho v r he t mpe a ur d h o ha e t a i we e ,t e r t e wi t fp s r ns—
l . t r a ne lng a 6  ̄ ,t ura e o a di m x det n fl be o e o p c n ome g a n y Af e n ai t 3 o C hes f c fv na u o i hi im c m s c m a ta d s r i
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材 料 工 程 /2 1 年 4期 01
晶粒 尺 寸对 氧化 钒 薄 膜 电学 与 光 学 相 变 特 性 的 影 响
Efe t fGr i ie OlRe it n e a d Tr ns it n e l e s o an S z i ss a c n a m ta c T r nsto fVa a i m i a ii n o n d u Ox deThi l n Fim
膜前 在 只通氩 气条 件下进 行 预溅射 , 洗靶 面 , 清 到辉光
颜色 由粉 红色 变为 紫色 为止 , 5 1 mi。溅 射得 到 约 ~ 0 n 的氧化 钒 薄膜 的厚 度 约 为 6 n 0 m。成 膜 后 分 别在 温 度 为 30 0 ℃和 3 0 的氮 氧气 氛 下 , 行 氧化 热 处 理 , 6℃ 进 保 持时 间为 1 。 h 利 用 P 一6 0型 X 射线 光 电子 能 谱 ( P ) 热 HI 0 1 X S对 处 理 前 后 氧 化 钒 薄 膜 的 成 分 进 行 测 量 和 分 析 ; 用 利
梁继 然 胡 明 阚 强 陈 涛 梁秀琴。 陈弘 达 , , , , , ( 1天津 大学 电子信 息工 程学 院 , 津 3 0 7 ; 天 0 0 2 2中 国科 学 院 半 导体
研究 所集 成光 电子学 国家 重点实 验室 , 北京 1 0 8 ; 0 0 3 3中国科学 院
摘 要 : 用 直 流对 靶 磁 控 溅 射 方 法 制 备 氧 化 钒 薄膜 , 过 改 变 热 处 理 温 度 获 得 了 具 有 不 同 晶 粒 尺 寸 的 相 变 特 性 氧 化 钒 采 通 薄 膜 , 氧 化 钒 薄膜 相 变 过 程 中 电 阻和 红 外 光透 射 率 随 温 度 的 突 变 性 能 进 行 研 究 。 结 果 表 明 : 30 和 30 热 处 理 对 经 0℃ 6℃ 后 , 膜 内 二 氧 化 钒 原 子 分 数 达 到 4 , 化 钒 薄 膜 具 有 绝 缘 体 一 属 相 变 特 性 , 膜 的 晶 粒 尺 寸 分 别 为 5 n 和 薄 O 氧 金 薄 0m lO m; 3 0 热 处 理 后 , 化 钒 薄 膜 表 面 变得 致 密 , On 经 6℃ 氧 晶粒 之 间 出现 了联 并 ; 电学 和 光 学 相 变 特 性 的 表 征 结 果 表 明 , 电学
I tt e o m io uc o s, i s a e fSce c s Bein ns iut fSe c nd t r Ch ne e Ac d my o i n e , ii g
1 0 00 83, i Ch na;3 En ne rng Re e r h Ce e o m ion c or gi e i s a c nt r f rSe c du t
中 图分 类号 : 6 8 04 4 TB 3 0 4 ; 8 ; 4 文 献 标 识 码 :A 文 章 编 号 :1 0 3 1 2 1 )Βιβλιοθήκη Baidu40 5 — 5 0 卜4 8 ( 0 1 0 — 0 80
Ab ta t s r c :Va a i n d um x de t n fl r e ost d b e c i e d r c ur e a i a g t a e o i hi ims we e d p ie y r a tv i e tc r nt f cng t r e s m gn — t o pu t rng,a d t n a r n s tei n he nne l d i yg n a b e c nde if r n e p r t r o f brc t a e a e n ox e m i n e u r d fe e tt m e a u e t a ia e ph s
t a sto a a i m i x d h n f m s wi i e e tg an sz . Th r n f r t n o e it n e a d r n i n v n d u d o i e t i i t d f r n r i ie i l h f e t a so ma i fr s sa c n o
MM AF / TM + D 1 0型 原 子 力 显 微 镜 ( M ) M s 3O AF 观
响 。VO 薄膜 的这 种 多 晶粒 相 变 合 效 应 对 光 学 与 电 学 性 能 的影 响 引起 了研 究 者 的关 注 ¨ ] 6 。薄膜 晶粒 尺
寸 减小 , 单位 体 积 内晶粒 的数量 明显 增加 后 , 导 致载 其
t n k e o s a t i e p c n t n .Th e e a u ewi t f h s r n i o b an d fo ee ti l r n i o r p r i o et mp r t r d h o a eta s in o t i e m lcrc a s in p o e t si p t r at t e s a o t3  ̄ .b t h t r m p ia ta s in p o e t si o l ℃ . b u 0C u a o o t l r n i o r p ri s n y 8 t f c t e Ke r s v n d u o i e t i i ;g an sz ;o t a h s r n ii n y wo d : a a i m x d h n f m l r i ie p i l a e t a sto c p
尺寸 的不 断减 小 , 渐 表 现 出不 同于 块 体 材 料 的 相变 逐
变化 过程 。Qai ah5 在 研 究 中发 现 多 晶 VO。薄 zb sl等 l 膜 的相变过 程 是薄 膜 内所 有 晶粒 相 变 过程 的合 效 应 ,
晶 粒 之 间 的 相 变 过 程 是 独 立 发 生 的 , 互 之 间 没 有 影 相
t a h r p ri n o h tt e p o o t fVO2i i i b u 0 ( t m r c i n fe n e l d i 0 ℃ a d 3 0 C ,t e o n fl sa o t a o f a to )a t ra n a e n 3 0 m 4 n 6  ̄ h f m sh v n u a o — e a h s r n ii n p o e te .Th r i ie i 5 n a d 1 0 m ,r s e tv — i a e i s l t r m t l a e ta st r p r is l p o e g a n sz s 0 m n 0 n e p c i e
与 光 学 相 变 温 度 随 晶粒 尺 寸 的增 加 而 减 小 ; 学 相 变 持续 的 温 度 宽 度 为 3  ̄ 而 光 学 相 变 持 续 的温 度 宽 度 仅 为 8 , 电 0C, ℃ 相
变 持 续 的温 度 宽 度 保 持 不 变 。 关键词 : 化钒薄膜 ; 氧 晶粒 尺 寸 ; 学 相 变 光
I t g a e c o og I tt t fSe c nd t r Chi s n e r t d Te hn l y,ns iu e o mio uc o s, ne e
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c m e o m e ge El c rc la d o ia r nston pr pe te c os ha et a ii h w h tt r n— o st r . e t ia n ptc lt a ii o r i sa r s p s r nston s o t a het a
半 导体 研究所 半 导体集 成技术 工程 研究 中心 , 京 1 0 8 ) 北 0 0 3
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