第11节数字系统测试技术讲义
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◆伪随机测试---借助伪随机序列进行随机测试的方 法
◆ 关键问题
确定为达到给定的故障覆盖所要求的测试长度
对所给定的测试长度，估计出能得到的故障覆盖 第23页
1 随机测试技术
电子测量原理
（1）原理概述
◆ 随机测试和伪随机测试的优缺点 优点：测试生成简单 缺点：一般难以保证100%的故障覆盖率，测 试序列通常较长，测试的时间开销较大
◆原理：将时序电路各时段上的函数关系 空间上的函 数关系 组合电路的D算法等生成测试矢量
X(t) 组合逻辑C(t)
Z(t)
y(t) 存储器件S Y(t) 时钟CP
时序电路的一般模型
第13页
1 迭接阵列
X(j)
电子测量原理
y(j)
C(j)
Y(j) S
y(j+1)
Z(j)
阵列单元模型
形成：把反馈线断开，把某时刻的电路展开成一个阵列 单元。阵列单元的输入是主输入X( j)和现态y( j)，输出 是主输出Z（j）和次态y（j+1），把1，2，…，k各时 刻的阵列单元串接起来，就组成一个迭接阵列模型。
显示 控制
CRT
门限电平设定
触发 产生
数据捕获 逻辑分析仪原理结构
数据显示
第34页
电子测量原理
11.2.3 逻辑分析仪的触发方式
数据流：逻辑分析仪对被测信号连续采样获得的 一系列数据。
通道1
100….0 100….0 100….1 100….0 000….0 000….0 000….0 000….1 100….1 100….1
第1页
3 故障模型
◆故障的模型化与模型化故障
（1）固定型故障（Stuck Faults ） 固定1故障(stuck-at-1)，s-a-1
固定0故障(stuck-at-0)，s-a-0 （2）桥接故障（Bridge Faults ） ◆桥接故障:两根或多根信号线间的短接
xx12 x3
x1
x2 x3
相同的状态合并成一项 若新的状态集合与以前出现过的状态集合相同，则
停止向下分支，并对该状态集标记“·”
若新的状态集仅含有一个元素，则停止操作，并
对该状态标记“。”
其它情况则继续向下第分16支页
2 测试序列的产生
电子测量原理
◆求同步序列举例
输入 输出
0
1
A
B/0
A/0
B
B/1
C/1
C
A/1
D/0
D
C/0
第25页
2 穷举测试技术
②伪穷举测试技术
电子测量原理
◆伪穷举测试的基本原理---设法将电路分成若干子电 路，再对每一个子电路进行穷举测试，使所需的测 试矢量数N大幅度减少，即N<<2n（n为电路主输入）
◆如何对电路进行分块以尽可能减少测试矢量数目 是伪穷举测试的基本问题之一
第26页
11.2 逻辑分析仪
1 敏化通路法和D算法
电子测量原理
◆故障传播和通路敏化的条件
通路内一切与门和与非门的其余输入端均应赋于
“1”值，而一切或门和或非门的其余输入端应赋于“0”
值。
x1
a
x2
b
d
e
x3 c
f x2:s-a-0
y
g
有扇出电路的敏化过程
第7页
1 敏化通路法和D算法
x1 x2
电子测量原理
x3
单通路敏化成功，双通路敏化失败的例子
---将时序电路从一个未知状态“引导”到某些已知 末态（可根据不同的响应序列来判定末态）的输入序 ◆列用引导树求引导序列的步骤
从状态转换图（表）出发，将所有状态作为树根，次 态集和响应输出记录在相应的树枝下
按响应，将次态集分割成次态子集，输出相同的 次 态在同一个子集中，标出各子集的输出值
若每个次态子集中的元素均相同，则停止向下分支， 标记为“*”，（若每个次态子集中仅包含一个元素， 则停止向下分支，并标记为“。”）
时序电路中， t时刻的输出响应，既取决于t时刻 的输入，又取决于在此以前的输入，甚至可能与 从初始状态一直到时刻t的所有输入都有关系
时序电路的存贮作用往往使电路中一个单故障 相当于组合电路中的多故障，测试时序电路中 一个故障不再是单个简单的测试矢量，而需要 一定长度的输入矢量序列
第11页
电子测量原理
A/1
(A B C D)
0
1
(A B C) (A C D)
01
01
(AB)
01
(AC.D)(AB.C)
0
(AD)
1
(B) (AC)
(BC) (A)
◆树根开始到标记“。”的输入序列为同步序列Hs
◆一个时序电路，可能不存在同步序列，也可能存在
多个同步序列
第17页
2 测试序列的产生
电子测量原理
（2）引导序列
电子测量原理
主要内容:
逻辑分析仪的特点与分类
逻辑分析仪的基本组成原理
逻辑分析仪的触发方式
逻辑分析仪的显示方式
逻辑分析仪的主要技术指标与发展趋势
逻辑分析仪的应用
第27页
电子测量原理
11.2.1 逻辑分析仪的特点与分类
1. 逻辑分析仪的特点:
输入通道多 数据捕获能力强,具有多种灵活的触发方式 具有较大的存储深度,可以观察单次或非周期信号 显示方式丰富 能够检测毛刺
电子测量原理
第31页
卡式逻辑分析仪
电子测量原理
第32页
外接式逻辑分析仪
电子测量原理
Agilent E9340A
第33页
电子测量原理
11.2.2 逻辑分析仪的组成原理
逻辑分析仪的组成结构如图11-1所示，它主要包括数据 捕获和数据显示两大部分。
外时钟 内时钟
信号
时钟 选择
信号 输入
采样
数据 存储
（111）不是x2：s-a-0的测试矢量 （110）和（011）是x2：s-a-0的测试矢量
第8页
1 敏化通路法和D算法
电子测量原理
◆扇出对敏化通路的影响，三种情况： 单通路和多通路都产生测试矢量 仅单通路能产生测试矢量 仅多通路能产生测试矢量 小结
◆ Schneider反例说明一维敏化不是一种算法 ◆对一特定故障寻找敏化通路时，还应考虑同时敏 化多个单通路的可能组合---多维敏化
2 布尔差分法
第5页
1 敏化通路法和D算法
电子测量原理
（1）敏化通路法 ◆通路（Path）和敏化通路(Sensitized Path)
x1
a
x2
b
x3 c
Af d
e B
g
Cy
电路的敏化过程 a f y 0→1 0→1 0→1
1→0 1→0 1→0
◆故障a →f→g:故障传播或前向跟踪
◆一致性检验或反第6相页 跟踪(Backward Trace)
其它情况，即至少有一个子集中含有不同的元素，且 该子集的集合以前没有出第现18过页 ，则继续向下分支
2 测试序列的产生
◆求引导序列举例
0/0
A
0/1
D
1/0 0/0 1/1
1/1
电子测量原理
B
1/0 0/0
CBiblioteka Baidu
第19页
2 测试序列的产生
引导树
电子测量原理
（A B C D）
0
1
（AAC），（D） （000），（1）
0
1
（AAC），（D） （BB），（D），（B）
（000），（1） （00），（1），（1）
.
*
（BC），（DB） （00），（11）
1
0 (AC),(D),(A) (C),(D),B),(C) (00),(1),(0) (0),(1),(1),(0)
1
0
(AC),(D),(A) (B),(D),B),(B)
11.1.4 随机测试和穷举测试简介 1 随机测试技术
2 穷举测试技术
第22页
1 随机测试技术
电子测量原理
（1）原理概述
◆随机测试技术---一种非确定性的故障诊断技术， 它是以随机的输入矢量作为激励，把实测的响应输 出信号与由逻辑仿真的方法计算得到的正常电路输 出相比较，以确定被测电路是否有故障。
xx12 x3
xx21 第2页 x3
电子测量原理
3 故障模型
（2）桥接故障（Bridge Faults ）
电子测量原理
p1
x. 1
x1 . .
. .
xx.ss+1
F Y
xs . xs+1
.
ps
Y
.
.
.
xn
.
xn
（3）延迟故障（Delay Faults ）
◆延迟故障:电路延迟超过允许值而引起的故障
◆时延测试验证电路中任何通路的传输延迟不超
(00),(.1),(0) (0),(1),(1),(0)
引导序列第2：0页01，11，
2 测试序列的产生
电子测量原理
（3）区分序列
---能够根据不同的响应序列来区分被测电路的初态和 末态的输入序列
◆求区分序列的过程和求引导序列基本相同
◆一种特殊的引导序列
第21页
电子测量原理
11.1数字系统测试的基本原理
第35页
通道8 采样时钟 采样数据
数据流
电子测量原理
触发的含义：由一个事件来控制数据获取，即选择观察窗 口的位置。
跟踪：采集并显示数据的一次过程称为一次跟踪
跟踪开始
数 据 流
数据窗口
触发字
观察窗口宽度： 逻辑分析仪存储深度
第36页
1． 组合触发
电子测量原理
组合触发：多通道信号的组合作为触发条件，即 数据字触发。
缺点：对大型时序电路，计算量太大 第14页
2 测试序列的产生
电子测量原理
◆功能测试和功能核实法测试同步时序电路
◆功能核实法测试同步时序电路的过程
利用同步序列或引导序列，将可能处于任何状态 的时序机同步或引导到一个固定或已知的状态
利用核实序列（例如区分序列）核实状态转换功 能。根据被测电路的输出来识别其初态、末态以 及中间经过的诸状态，从而侦查出故障
2 几个术语
电子测量原理
◆出错/错误(Error) ◆真速测试（AT-Speed Testing) ◆参数测试和逻辑测试 ◆测试主输入(Primary Input)
◆测试主输出(Primary Output)
◆测试图形/样式（Test Pattern）测试矢 量（Test Vectors）
◆测试生成 ◆故障覆盖率
第28页
2. 逻辑分析仪的分类:
按工作特点分类: (1) 逻辑状态分析仪 (2) 逻辑定时分析仪
按结构特点分类: (1) 台式逻辑分析仪 (2) 便携式逻辑分析仪 (3) 外接式逻辑分析仪 (4) 卡式逻辑分析仪
第29页
电子测量原理
台式逻辑分析仪
电子测量原理
TLA 612
第30页
便携式逻辑分析仪
每个通道的触发条件可为： “ 1 ” “0” “x”
如：8个通道的组合触发条件设为：“011010X1” 则：该8个通道中出现数据： 01101001 或01101011 时均触发
第37页
基本的 触发跟踪方式：
电子测量原理
触发起始跟踪 触发终止跟踪
跟踪开始
数 据 流
数据窗口 触发起始跟踪
跟踪结束
既约同步时序电路：电路中任何两个状态均不等价
强联接时序电路：对时序机的任意两个状态，都 存在一个输入序列使其从一个状态转换到另一个 状态
第15页
2 测试序列的产生
电子测量原理
（1）同步序列
--将时序电路从任意状态转换到同一个已知末态的序列 ◆用同步树求同步序列的步骤
以系统的状态集合为树根，根据不同输入激励向 下分支，得到响应状态的集合，并作如下处理：
11.1.3 时序电路测试方法简介
引言 ◆时序时序电路的测试生成需特别考虑
既要处理逻辑相关性又要处理时序相关性 需要特别处理诸如时钟线、反馈线、状态 变量线等连线 需要建立全电路正确的时序关系 ◆采用可测试设计和内建自测试技术可显著提高时序 电路测试效率
第12页
1 迭接阵列
电子测量原理
◆用于建立时序电路的组合化模型
◆对于多维敏化 ，必须寻球一种真正的算法 ---
D算法
第9页
电子测量原理
11.1数字系统测试的基本原理
11.1.3 时序电路测试方法简介 1 迭接阵列
2 测试序列的产生
第10页
电子测量原理
11.1.3 时序电路测试方法简介
引言
◆时序逻辑电路的测试比组合电路困难
时序电路中存在反馈，对电路的模拟、故障的侦 查和定位带来困难
第24页
2 穷举测试技术
电子测量原理
①穷举测试技术
◆定义---一个组合电路全部输入值的集合，构成了该 电路的一个完备测试集。对n输入的被测电路，用2n个 不同的测试矢量去测试该电路的方法叫穷举测试方法
◆穷举测试方法的优点 对非冗余组合电路中的故障提供100%的覆盖率
测试生成简单 ◆穷举测试方法的缺点--对多输入电路，测试时间过长 ◆穷举测试法一般用于主输入不超过20的逻辑电路
触发字
数 据 流
触发字 数据窗口
触发终止跟踪
第38页
2． 延迟触发
电子测量原理
在数据流中搜索到触发字时，并不立即跟踪，而 是延迟一定数量的数据后才开始或停止存储数据， 它可以改变触发字与数据窗口的相对位置。
延迟数
跟踪开始
触发字
数 据 流
数据窗口 (a) 触发开始跟踪加延迟
延迟数
跟踪结束
过系统时钟周期
第3页
3 故障模型
（4）暂态故障（Temporary Faults ）
电子测量原理
类型：瞬态故障和间歇性故障 瞬态故障 ：电源干扰和α粒子辐射等原因造成 间歇性故障：元件参数变化、接插件不可靠等造成
第4页
电子测量原理
11.1数字系统测试的基本原理
11.1.2 组合电路测试方法简介 1 敏化通路法和D算法
◆ 关键问题
确定为达到给定的故障覆盖所要求的测试长度
对所给定的测试长度，估计出能得到的故障覆盖 第23页
1 随机测试技术
电子测量原理
（1）原理概述
◆ 随机测试和伪随机测试的优缺点 优点：测试生成简单 缺点：一般难以保证100%的故障覆盖率，测 试序列通常较长，测试的时间开销较大
◆原理：将时序电路各时段上的函数关系 空间上的函 数关系 组合电路的D算法等生成测试矢量
X(t) 组合逻辑C(t)
Z(t)
y(t) 存储器件S Y(t) 时钟CP
时序电路的一般模型
第13页
1 迭接阵列
X(j)
电子测量原理
y(j)
C(j)
Y(j) S
y(j+1)
Z(j)
阵列单元模型
形成：把反馈线断开，把某时刻的电路展开成一个阵列 单元。阵列单元的输入是主输入X( j)和现态y( j)，输出 是主输出Z（j）和次态y（j+1），把1，2，…，k各时 刻的阵列单元串接起来，就组成一个迭接阵列模型。
显示 控制
CRT
门限电平设定
触发 产生
数据捕获 逻辑分析仪原理结构
数据显示
第34页
电子测量原理
11.2.3 逻辑分析仪的触发方式
数据流：逻辑分析仪对被测信号连续采样获得的 一系列数据。
通道1
100….0 100….0 100….1 100….0 000….0 000….0 000….0 000….1 100….1 100….1
第1页
3 故障模型
◆故障的模型化与模型化故障
（1）固定型故障（Stuck Faults ） 固定1故障(stuck-at-1)，s-a-1
固定0故障(stuck-at-0)，s-a-0 （2）桥接故障（Bridge Faults ） ◆桥接故障:两根或多根信号线间的短接
xx12 x3
x1
x2 x3
相同的状态合并成一项 若新的状态集合与以前出现过的状态集合相同，则
停止向下分支，并对该状态集标记“·”
若新的状态集仅含有一个元素，则停止操作，并
对该状态标记“。”
其它情况则继续向下第分16支页
2 测试序列的产生
电子测量原理
◆求同步序列举例
输入 输出
0
1
A
B/0
A/0
B
B/1
C/1
C
A/1
D/0
D
C/0
第25页
2 穷举测试技术
②伪穷举测试技术
电子测量原理
◆伪穷举测试的基本原理---设法将电路分成若干子电 路，再对每一个子电路进行穷举测试，使所需的测 试矢量数N大幅度减少，即N<<2n（n为电路主输入）
◆如何对电路进行分块以尽可能减少测试矢量数目 是伪穷举测试的基本问题之一
第26页
11.2 逻辑分析仪
1 敏化通路法和D算法
电子测量原理
◆故障传播和通路敏化的条件
通路内一切与门和与非门的其余输入端均应赋于
“1”值，而一切或门和或非门的其余输入端应赋于“0”
值。
x1
a
x2
b
d
e
x3 c
f x2:s-a-0
y
g
有扇出电路的敏化过程
第7页
1 敏化通路法和D算法
x1 x2
电子测量原理
x3
单通路敏化成功，双通路敏化失败的例子
---将时序电路从一个未知状态“引导”到某些已知 末态（可根据不同的响应序列来判定末态）的输入序 ◆列用引导树求引导序列的步骤
从状态转换图（表）出发，将所有状态作为树根，次 态集和响应输出记录在相应的树枝下
按响应，将次态集分割成次态子集，输出相同的 次 态在同一个子集中，标出各子集的输出值
若每个次态子集中的元素均相同，则停止向下分支， 标记为“*”，（若每个次态子集中仅包含一个元素， 则停止向下分支，并标记为“。”）
时序电路中， t时刻的输出响应，既取决于t时刻 的输入，又取决于在此以前的输入，甚至可能与 从初始状态一直到时刻t的所有输入都有关系
时序电路的存贮作用往往使电路中一个单故障 相当于组合电路中的多故障，测试时序电路中 一个故障不再是单个简单的测试矢量，而需要 一定长度的输入矢量序列
第11页
电子测量原理
A/1
(A B C D)
0
1
(A B C) (A C D)
01
01
(AB)
01
(AC.D)(AB.C)
0
(AD)
1
(B) (AC)
(BC) (A)
◆树根开始到标记“。”的输入序列为同步序列Hs
◆一个时序电路，可能不存在同步序列，也可能存在
多个同步序列
第17页
2 测试序列的产生
电子测量原理
（2）引导序列
电子测量原理
主要内容:
逻辑分析仪的特点与分类
逻辑分析仪的基本组成原理
逻辑分析仪的触发方式
逻辑分析仪的显示方式
逻辑分析仪的主要技术指标与发展趋势
逻辑分析仪的应用
第27页
电子测量原理
11.2.1 逻辑分析仪的特点与分类
1. 逻辑分析仪的特点:
输入通道多 数据捕获能力强,具有多种灵活的触发方式 具有较大的存储深度,可以观察单次或非周期信号 显示方式丰富 能够检测毛刺
电子测量原理
第31页
卡式逻辑分析仪
电子测量原理
第32页
外接式逻辑分析仪
电子测量原理
Agilent E9340A
第33页
电子测量原理
11.2.2 逻辑分析仪的组成原理
逻辑分析仪的组成结构如图11-1所示，它主要包括数据 捕获和数据显示两大部分。
外时钟 内时钟
信号
时钟 选择
信号 输入
采样
数据 存储
（111）不是x2：s-a-0的测试矢量 （110）和（011）是x2：s-a-0的测试矢量
第8页
1 敏化通路法和D算法
电子测量原理
◆扇出对敏化通路的影响，三种情况： 单通路和多通路都产生测试矢量 仅单通路能产生测试矢量 仅多通路能产生测试矢量 小结
◆ Schneider反例说明一维敏化不是一种算法 ◆对一特定故障寻找敏化通路时，还应考虑同时敏 化多个单通路的可能组合---多维敏化
2 布尔差分法
第5页
1 敏化通路法和D算法
电子测量原理
（1）敏化通路法 ◆通路（Path）和敏化通路(Sensitized Path)
x1
a
x2
b
x3 c
Af d
e B
g
Cy
电路的敏化过程 a f y 0→1 0→1 0→1
1→0 1→0 1→0
◆故障a →f→g:故障传播或前向跟踪
◆一致性检验或反第6相页 跟踪(Backward Trace)
其它情况，即至少有一个子集中含有不同的元素，且 该子集的集合以前没有出第现18过页 ，则继续向下分支
2 测试序列的产生
◆求引导序列举例
0/0
A
0/1
D
1/0 0/0 1/1
1/1
电子测量原理
B
1/0 0/0
CBiblioteka Baidu
第19页
2 测试序列的产生
引导树
电子测量原理
（A B C D）
0
1
（AAC），（D） （000），（1）
0
1
（AAC），（D） （BB），（D），（B）
（000），（1） （00），（1），（1）
.
*
（BC），（DB） （00），（11）
1
0 (AC),(D),(A) (C),(D),B),(C) (00),(1),(0) (0),(1),(1),(0)
1
0
(AC),(D),(A) (B),(D),B),(B)
11.1.4 随机测试和穷举测试简介 1 随机测试技术
2 穷举测试技术
第22页
1 随机测试技术
电子测量原理
（1）原理概述
◆随机测试技术---一种非确定性的故障诊断技术， 它是以随机的输入矢量作为激励，把实测的响应输 出信号与由逻辑仿真的方法计算得到的正常电路输 出相比较，以确定被测电路是否有故障。
xx12 x3
xx21 第2页 x3
电子测量原理
3 故障模型
（2）桥接故障（Bridge Faults ）
电子测量原理
p1
x. 1
x1 . .
. .
xx.ss+1
F Y
xs . xs+1
.
ps
Y
.
.
.
xn
.
xn
（3）延迟故障（Delay Faults ）
◆延迟故障:电路延迟超过允许值而引起的故障
◆时延测试验证电路中任何通路的传输延迟不超
(00),(.1),(0) (0),(1),(1),(0)
引导序列第2：0页01，11，
2 测试序列的产生
电子测量原理
（3）区分序列
---能够根据不同的响应序列来区分被测电路的初态和 末态的输入序列
◆求区分序列的过程和求引导序列基本相同
◆一种特殊的引导序列
第21页
电子测量原理
11.1数字系统测试的基本原理
第35页
通道8 采样时钟 采样数据
数据流
电子测量原理
触发的含义：由一个事件来控制数据获取，即选择观察窗 口的位置。
跟踪：采集并显示数据的一次过程称为一次跟踪
跟踪开始
数 据 流
数据窗口
触发字
观察窗口宽度： 逻辑分析仪存储深度
第36页
1． 组合触发
电子测量原理
组合触发：多通道信号的组合作为触发条件，即 数据字触发。
缺点：对大型时序电路，计算量太大 第14页
2 测试序列的产生
电子测量原理
◆功能测试和功能核实法测试同步时序电路
◆功能核实法测试同步时序电路的过程
利用同步序列或引导序列，将可能处于任何状态 的时序机同步或引导到一个固定或已知的状态
利用核实序列（例如区分序列）核实状态转换功 能。根据被测电路的输出来识别其初态、末态以 及中间经过的诸状态，从而侦查出故障
2 几个术语
电子测量原理
◆出错/错误(Error) ◆真速测试（AT-Speed Testing) ◆参数测试和逻辑测试 ◆测试主输入(Primary Input)
◆测试主输出(Primary Output)
◆测试图形/样式（Test Pattern）测试矢 量（Test Vectors）
◆测试生成 ◆故障覆盖率
第28页
2. 逻辑分析仪的分类:
按工作特点分类: (1) 逻辑状态分析仪 (2) 逻辑定时分析仪
按结构特点分类: (1) 台式逻辑分析仪 (2) 便携式逻辑分析仪 (3) 外接式逻辑分析仪 (4) 卡式逻辑分析仪
第29页
电子测量原理
台式逻辑分析仪
电子测量原理
TLA 612
第30页
便携式逻辑分析仪
每个通道的触发条件可为： “ 1 ” “0” “x”
如：8个通道的组合触发条件设为：“011010X1” 则：该8个通道中出现数据： 01101001 或01101011 时均触发
第37页
基本的 触发跟踪方式：
电子测量原理
触发起始跟踪 触发终止跟踪
跟踪开始
数 据 流
数据窗口 触发起始跟踪
跟踪结束
既约同步时序电路：电路中任何两个状态均不等价
强联接时序电路：对时序机的任意两个状态，都 存在一个输入序列使其从一个状态转换到另一个 状态
第15页
2 测试序列的产生
电子测量原理
（1）同步序列
--将时序电路从任意状态转换到同一个已知末态的序列 ◆用同步树求同步序列的步骤
以系统的状态集合为树根，根据不同输入激励向 下分支，得到响应状态的集合，并作如下处理：
11.1.3 时序电路测试方法简介
引言 ◆时序时序电路的测试生成需特别考虑
既要处理逻辑相关性又要处理时序相关性 需要特别处理诸如时钟线、反馈线、状态 变量线等连线 需要建立全电路正确的时序关系 ◆采用可测试设计和内建自测试技术可显著提高时序 电路测试效率
第12页
1 迭接阵列
电子测量原理
◆用于建立时序电路的组合化模型
◆对于多维敏化 ，必须寻球一种真正的算法 ---
D算法
第9页
电子测量原理
11.1数字系统测试的基本原理
11.1.3 时序电路测试方法简介 1 迭接阵列
2 测试序列的产生
第10页
电子测量原理
11.1.3 时序电路测试方法简介
引言
◆时序逻辑电路的测试比组合电路困难
时序电路中存在反馈，对电路的模拟、故障的侦 查和定位带来困难
第24页
2 穷举测试技术
电子测量原理
①穷举测试技术
◆定义---一个组合电路全部输入值的集合，构成了该 电路的一个完备测试集。对n输入的被测电路，用2n个 不同的测试矢量去测试该电路的方法叫穷举测试方法
◆穷举测试方法的优点 对非冗余组合电路中的故障提供100%的覆盖率
测试生成简单 ◆穷举测试方法的缺点--对多输入电路，测试时间过长 ◆穷举测试法一般用于主输入不超过20的逻辑电路
触发字
数 据 流
触发字 数据窗口
触发终止跟踪
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2． 延迟触发
电子测量原理
在数据流中搜索到触发字时，并不立即跟踪，而 是延迟一定数量的数据后才开始或停止存储数据， 它可以改变触发字与数据窗口的相对位置。
延迟数
跟踪开始
触发字
数 据 流
数据窗口 (a) 触发开始跟踪加延迟
延迟数
跟踪结束
过系统时钟周期
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3 故障模型
（4）暂态故障（Temporary Faults ）
电子测量原理
类型：瞬态故障和间歇性故障 瞬态故障 ：电源干扰和α粒子辐射等原因造成 间歇性故障：元件参数变化、接插件不可靠等造成
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电子测量原理
11.1数字系统测试的基本原理
11.1.2 组合电路测试方法简介 1 敏化通路法和D算法