微波介质电特性测量

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微波基本参数的测量—原理

微波基本参数的测量—原理

微波基本参数的测量一、实验目的1、了解各种微波器件;2、了解微波工作状态及传输特性;3、了解微波传输线场型特性;4、熟悉驻波、衰减、波长(频率)和功率的测量;5、学会测量微波介质材料的介电常数和损耗角正切值。

二、实验原理微波系统中最基本的参数有频率、驻波比、功率等.要对这些参数进行测量,首先要了解电磁波在规则波导内传播的特点,各种常用元器件及仪器的结构原理和使用方法,其次是要掌握一些微波测量的基本技术。

1、导行波的概念:由传输线所引导的,能沿一定方向传播的电磁波称为“导行波"。

导行波的电场E 或磁场H 都是x 、y 、z 三个方向的函数.导行波可分成以下三种类型: (A ) 横电磁波(TEM 波):TEM 波的特征是:电场E 和磁场H 均无纵向分量,亦即: 0=Z E ,0=Z H 。

电场E 和磁场H ,都是纯横向的.TEM 波沿传输方向的分量为零。

所以,这种波是无法在波导中传播的。

(B) 横电波(TE 波):TE 波即是横电波或称为“磁波”(H 波),其特征是0=Z E ,而0≠Z H 。

亦即:电场E 是纯横向的,而磁场H 则具有纵向分量. (C) 横磁波(TM 波):TM 波即是横磁波或称为“电波”(E 波),其特征是0=Z H ,而0≠Z E 。

亦即:磁场H 是纯横向的,而电场E 则具有纵向分量。

TE 波和TM 波均为“色散波”。

矩形波导中,既能传输mm TE 波,又能传输mm TM 波(其中m 代表电场或磁场在x 方向半周变化的次数,n 代表电场或磁场在y 方向半周变化的次数)。

2、波导管:波导管是引导微波电磁波能量沿一定方向传播的微波传输系统,有同轴线波导管和微带等,波导的功率容量大,损耗小。

常见的波导管有矩形波导和圆波导,本实验用矩形波导.矩形波导的宽边定为x 方向,内尺寸用a 表示.窄边定为y 方向,内尺寸用b 表示。

10TE 波以圆频率ω自波导管开口沿着z 方向传播。

高介电常数BST微波参数谐振腔法测量

高介电常数BST微波参数谐振腔法测量

华中科技大学硕士学位论文高介电常数BST微波参数谐振腔法测量姓名:***申请学位级别:硕士专业:微电子学与固体电子学指导教师:***20090525华中科技大学硕士学位论文摘要由于BST(Ba x Sr1-x TiO3)介电常数较高(通常在100以上),传统测量块材的方法误差很大,而BST薄膜的传统测量方法—共面波导法测量步骤很复杂且花费昂贵,不适合日常测试。

因此本文选用相对简便的谐振腔法对BST块材和薄膜的复介电常数进行测量。

提出了谐振腔法测量BST块材的改进方法,针对谐振腔法测量高介电常数时由于微扰条件无法满足而产生较大误差的问题,提出用软件仿真的方法来修正这些误差,用仿真的结果改进介电常数计算公式。

当样品介电常数在150以内时,介电常数改进公式计算精度最大提高40%。

损耗角改进公式计算精度最大提高100%。

采用了谐振腔测量BST薄膜复介电常数的方法,从微扰理论出发推导出了BST 薄膜介电常数和损耗角的计算公式,分析得出公式推导过程中的近似条件产生的误差小于0.3%。

用该方法测量了磁控溅射法制备的3个BST薄膜样品,结果显示BST 薄膜介电常数在500左右,损耗角在10-2数量级,分析得出测量总误差为15.4%。

总结出影响测量结果的主要因素是样品的尺寸和形状。

用共面波导法测量了其中一个薄膜样品,测量结果显示BST薄膜介电常数为415.82,损耗角为0.09118。

对影响共面波导法测量精度的因素进行了分析,得出总误差为10%左右。

通过比较共面波导法与谐振腔法测量的结果发现,两种方法结果比较接近,证明了谐振腔法的可行性。

关键词:高介电常数谐振腔微扰法薄膜微波测量华中科技大学硕士学位论文AbstractDue to the high permittivity of BST(Ba x Sr1-x TiO3), conventional methods for its microwave dielectric properties measurement lack accuracy. The method for microwave dielectric properties measurement of BST thin film —coplanar waveguide (CPW) method is complex and expensive, not suitable for the daily measurement. So we choose cavity perturbation technique to measure the microwave dielectric properties of BST and BST thin films.We amend the cavity perturbation method for microwave dielectric properties measurement of BST. Due to the high error caused by large perturbation when we measure the dielectric properties of BST with the cavity perturbation method, we use software simulation method to amend these errors and amend the formula with the simulation results. When the permittivity of the specimen is under 150, the modified formula shows an accuracy of 40% improvement in dielectric constant and 100% improvement in loss tangent compared with the conventional formula.Formulas for calculating dielectric constant and loss tangent of BST thin film with cavity perturbation method are derivated and the error caused by the approximation made in the derivation is less than 0.3%. Three specimen of BST thin film by magnetron sputtering are measured at X-band frequency using this method, and the results show the dielectric constant is around 500 and loss tangent is 10-2 with an error of 15.4%. Analysis of the results shows that the primary factor affecting the accuracy of the measurement is the size and shape of the specimen.In comparison, CPW method is employed to measure one of the three specimens. The results show that the dielectric constant is 415.82 with an error of 10%and loss tangent is 0.09118 with an error of 12.4%. The comparison of the results measured by the two methods shows that the cavity perturbation method is suitable in accuracy for dielectric properties measurement of BST thin film.Key words: High dielectric constant Resonant cavity Perturbation method Thin film Microwave measurement独创性声明本人声明所呈交的学位论文是我个人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。

(实验室装置)波导法测量介电常数

(实验室装置)波导法测量介电常数

Td
表示待测样品的传输系数
c 表示待测样品的反射系数
s11、s22、s21、s12表示待测样品的s参数
精品课件
推导一 :介电常数一
s 1 2 1 2 s s 1 2 2 1 1 1 1 2 c c 2 K s 1 2 1 2 s s 1 2 2 1 1 1 c K K 2 1
Coaxial
Vector Network Analyzers
Waveguide
Coaxial Converter
精品课件
The Parts in the Wave-guide method dielectric constant measuring
system
精品课件
同轴线校准 同轴波导校准
❖ 厚度谐振问题:对于某些频点,即样品长度正好 是半个波导波长的整数倍。 S11-> 0,K值具有极 大不确定性, r 产生尖峰,即厚度谐振,为不确 定值,需要去除。
精品课件
推导二:介电常数二
s 2 2 1 2 s s 2 1 2 1 1 1 1 2 T T d d 2 M s 2 2 1 2 s s 2 1 2 1 1 1 T d M M 2 1 ln (T ) j( 2 n)(n 0 ,1 ,2 )r |c
c2(20 )2
(0)2 c
c 表示样品段传播常数。
多值问题:由于n可能取多个不同的值, c 值存在多 个值,因而得到的介电常数可能存在多值。
精品课件
厚度谐振和多值问题的解决
❖ 结合两个推导公式分别计算介电常数一(有厚度谐 振但是无多值问题),介电常数二(有多值问题但 是无厚度谐振)。将介电常数二与介电常数一进行 比较,选取介电常数二中与介电常数一值范围相近 值为正确值。所得到的结果既避免了多值问题又避 免了厚度谐振问题

北邮微波测量实验+实验总结-(天线与电波传播)

北邮微波测量实验+实验总结-(天线与电波传播)

电磁场与微波测量实验实验报告实验名称:班级:姓名:学号:学院:北京邮电大学实验七.天线与电波传播一、 实验目的(1)掌握微波信号发生器及测量放大器的使用方法。

(2)了解水平面接收天线方向性的测量方法。

二、 实验仪器标准信号发生器、选频放大器、喇叭天线、波导调配器、可变衰减器、波导元件。

三、 实验原理及步骤对于辐射波传输方式,最重要的是测试其辐射场幅值分布的方向性,其表征量是天线方向函数及方向图。

1.系统组成图1-1 系统组成原理框图2.喇叭天线工程上常用的喇叭天线是角锥喇叭,原因是其匹配较好而效率接近100%(G ≈D )。

但是由于其口径场的幅值、相位不是均匀分布,虽然其辐射主向仍是口径面法线方向(波导轴线方向),但是主瓣宽度、方向系数的计算很复杂。

可用以下公式进行估算:E 面(yoz 面)主瓣宽度bE λθ5325.0= (1-1)H 面(xoz 面)主瓣宽度15.0802a H λθ= (1-2)方向系数(最佳尺寸的角锥喇叭)211451.0λπb a D = (1-3)图1-2是角锥喇叭的三维标高方向图。

具体参数喇叭口径1a =5.5λ,1b =2.75λ;波导口径a=0.5λ,b=0.25λ;虚顶点至口径面距离ρ=2ρ=6λ。

1 Array图1-2 角锥喇叭的三维标高方向图图1-3为本实验所用喇叭天线示意图:图1-3 实验所用喇叭天线3.测水平面接收天线方向性图1-1为测量喇叭天线方向性的系统组成情况。

测量时改变接收喇叭天线的方位角,可测出喇叭天线水平面的方向性(按接收到信号的强弱)。

严格的测量应在微波暗室中进行,这样可以消除反射波影响。

但在微波段,因其传播方向性较强,而且房屋墙壁吸收较强,地面影响也可略去,因而这样在普通实验室内测量偏差也不很大。

测天线方向图应有专用天线转台,它有精确的角度(水平面方位角,垂直面俯仰角)刻度指示。

本实验主要测水平面即方位方向性。

四、实验内容及数据处理(1)微波天线方向图测试报告旁瓣宽度-3.0db : 26.33 -6.0db : 39.82 -10.0db : 54.30 -15.0db : 225.13五、心得体会本实验即天线与电波传播实验由老师演示,我们只需了解其原理并会分析其数据即可。

微波测量方法

微波测量方法

微波测量方法本文来自: 微网论坛作者: huangfeihong88日期: 前天 22:52阅读: 25人打印收藏微波测量微波测量内容虽然很多,但是驻波测量、功率测量和频率测量是微波中最常测量的三个基本参量,而其他的二级参量(如Q值、衰减、介电常数、铁磁共振线宽△H、阻抗等等)的测量都可以归结到这三种基本参量的测量加以解决。

应该强调指出的是:“调节匹配”是微波测试中必不可少的概念和调整步骤,任何微波系统正式工作之前,都必须把微波线路中各个部分调到匹配状态。

匹配意味着微波系统处于这样一种工作状态:此时微波功率由信号向负载传输而不出现反射波(驻波比ρ=1)。

为什么通常总要把微波系统调到良好的匹配状态呢?因为在微波传输系统中,存在驻波是不好的。

驻波的存在表示信号源与负载未匹配好,能量不能有效地传到负载去,使损耗增大;在大功率情况下,由于驻波的存在,在电场最大值处可能发生击穿现象;驻波的存在还会影响信号源的频率稳定,从而影响微波测量的精确度。

1.驻波测量驻波测量是微波测量中最基本、最重要的项目之一。

驻波测量可以判断微波传输系统是否处于良好的匹配状态,还可以测量波导波长、衰减、阻抗、谐振腔Q值、介电常数等等。

下面介绍测量驻波的设备和方法。

驻波测量线是测量微波传输系统中电场的强弱和分布的精密仪器,其简单原理是:使探针在开槽传输线中移动,将一小部分功率耦合出来,经过晶体二极管检波后再由指示器指示,从而看出在开槽线中电场的分布情况(相对强度)。

使用驻波测量线时要注意下列几个问题:首先,使探针在开槽波导管内有适当的穿伸度。

显然,探针穿伸度过大,会影响开槽线内的场分布情况而产生误差;穿伸度太小,又会降低测量的灵敏度。

探针穿伸度一般取波导窄壁高度b的5—10%。

其次,通过调谐装置使测量线调谐。

调谐的目的是消除探针插入测量线内引起的不匹配,并使探针感应的功率有效地送至检波晶体管。

其次,注意检波晶体管的检波律。

检波晶体管的检波电流I与管端电压V有关,而V与探针所在处的电场E成正比,I,E满足关系式:,其中κ1,n为常数。

一种测量微波介质基板复介电常数的方法

一种测量微波介质基板复介电常数的方法

一种测量微波介质基板复介电常数的方法吴秉琪;刘长军【摘要】为了测量微波介质基板的复介电常数,提出了一种基于微带线测量的方法.通过使用微带线相关理论模型和电磁场仿真软件计算微带线辐射损耗,编写相应的计算机程序可以测得微波介质基板的复介电常数.在测量中,通过使用除长度外其他参数均相同的2条微带线的测量数据进行计算,减弱了由于实际测量中引入同轴接头而产生的测量误差.对多种常见的微波介质基板进行了测量,结果表明:与标称值相比,介电常数实部误差为1%左右,损耗角正切误差为10%左右,该测量方法切实可行和精确性高.【期刊名称】《应用科技》【年(卷),期】2018(045)004【总页数】4页(P100-103)【关键词】微带线;印刷电路板;微波测量;介电常数测量;损耗角正切;辐射损耗;有效介电常数;宽频带测量【作者】吴秉琪;刘长军【作者单位】四川大学电子信息学院,四川成都610004;四川大学电子信息学院,四川成都610004【正文语种】中文【中图分类】TN972介电常数和损耗角正切是介质基板的重要参数,在天线设计[1-2]与微波电路设计[3-4]中,微波介质基板的介电常数对其性能指标有重要影响。

许多学者已经进行了广泛和深入的研究以测量这2个参数[5-9]。

通过使用2段微带线测量介质基板的介电常数的方法,在文献[10]中最先提出,并用来测量介质基板的实介电常数。

与各种谐振法相比,使用该方法的优点为:减弱了在实际测量中由于使用同轴接头造成的测量误差;可以方便地测量随频率和位置变化而变化的介电常数;可以测量在1个频带范围内的介电常数,即测量是宽带的。

为了实现从测量数据到介质基板介电常数的转化,文献[10]使用了针对多层板的广义频域格林函数法。

本文使用了描述微带线工作特性的精确模型,建立了有效介电常数与介电常数之间的关系,通过编制计算机程序,可以快速准确地求解得到介质基板的介电常数。

本文对使用2条微带线测量实介电常数的方法进行了推广,使其可以用来测量介质基板的损耗角正切值。

基于改进型微带线谐振腔体的微波介电性能测试系统研究

基于改进型微带线谐振腔体的微波介电性能测试系统研究

覆铜板资讯2020年第6期1.研究背景在微波电路设计时,微波介质基板的电磁参数极为重要。

本课题专注于介质的电特性参数的测量,介质的电特性参数主要用相对介电常数εr(D k)和损耗角正切t a nδ(D f)表征。

采用不同的测试方法,同一材料测试出的介电性能也不尽相同,寻找合适的方法测试介电性能对于电路设计和材料应用极为重要。

鉴于当下的应用环境,行业对于Z 轴方向的D k值更为看重。

电路板材D k各向异性是在各个频段都普遍存在的,在高频频段这个问题更加值得关注,原因有以下几点:(1)毫米波环境下,为了增加信号的传输速度,高k介质受到广泛应用,基数变大,相应的,x-y平面与z轴方向的D k差值相应放大。

(2)高频板材小且薄,为了增加电路板的韧性,一般会加入玻纤布,网格状的玻纤布D k值一般是介质材料的2~3倍,玻纤布的存在,更加重了介电常数的各向异性。

在毫米波频段下不同测试方法测得的D k值差异更大,为适应当下应用场景,选择适当的测试方法对测试结果以及材料使用尤为重要。

当下介电性能的测试方法大多是对x-y 平面的D k进行测试,对Z轴方向的相对较少,传统的S P D R法,发展成熟且性能稳定,其谐振模式为T E模,只能测量x-y平面的介电常数。

在实际的电路板应用中,其Z轴的D k更为重要,因此当下电路设计者更关基于改进型微带线谐振腔体的微波介电性能测试系统研究西安交通大学微电子系功能材料研究中心顾腾向锋摘要:随着5G时代的到来,高频下介质电性能的精确测量对微波电路设计愈发重要。

毫米波频段下,器件尺寸减小、高k材料的应用等各方因素作用,致使材料Z轴方向(厚度方向)的介电性能受到更多关注。

业界至今还未形成对毫米波频段下介电材料性能测试的标准,寻得一种精确测量D k、D f的测试方法是必要的。

本课题基于I P C-T M650-2.5.5.5c,对当下高频领域的测试方法进行比对,并针对当下需求及其存在的问题,设计并提出一种基于改进型微带线谐振腔体的微波介电性能测试系统解决方案,从腔体设计、耦合方式以及基板等各方面实现优化。

材料微波介电常数和磁导率测量

材料微波介电常数和磁导率测量

材料微波介电常数和磁导率测量材料的微波介电常数和磁导率是描述材料对微波信号的响应的重要参数。

测量这些参数可以帮助我们了解材料的电磁特性,并为微波技术的应用提供依据。

本文将介绍材料微波介电常数和磁导率的测量方法和原理,并讨论一些常见的测量技术和仪器。

首先,我们来简单介绍一下微波介电常数和磁导率的概念。

微波介电常数是材料在微波频率下的相对介电常数,它描述了材料对电磁波的响应能力。

而微波磁导率则描述了材料对磁场的响应能力。

这两个参数的大小和频率有关,通常在频率范围内都会有变化。

下面我们将介绍一些常见的测量方法和技术。

1.微波谐振腔法:这是一种常用的测量微波介电常数和磁导率的方法。

它基于材料在谐振腔中的反射和透射特性来测量参数。

通过调整腔体的尺寸,可以使谐振频率与待测样品的特性参数相吻合,从而测量其介电常数和磁导率。

2.微波光纤法:这是一种用光纤作为传输介质的测量方法。

通过将光纤与待测材料接触,测量光纤中微波信号的传输特性,可以得到材料的介电常数和磁导率。

3.微波传输线法:这种方法是通过测量待测样品中微波信号传输的衰减和相位变化来获得所需参数。

通过测量微波信号在传输线上的传播特性,可以得到材料的介电常数和磁导率。

4.谐振法:这是一种通过测量材料的谐振特性来获得微波介电常数和磁导率的方法。

通过测量材料在谐振频率附近的谐振响应,可以计算材料的参数。

以上只是一些常见的测量方法和技术,随着科研和技术的发展,新的测量方法和技术也在不断涌现。

当然,不同的测量方法和技术适用于不同的材料和频率范围,需要根据具体的应用需求进行选择。

目前,商业化的仪器和设备也可用于材料微波介电常数和磁导率的测量。

这些设备通常具有较高的测量精度和可靠性,并可适用于不同的材料和频率范围。

一些常见的商业化设备包括矢量网络分析仪、磁场扫描仪、研磨杆和衰减杆等。

总之,材料微波介电常数和磁导率的测量是研究材料电磁特性和应用微波技术的重要手段。

通过合适的测量方法和技术,可以获得准确的参数值,并提供科学研究和工程应用的数据支持。

微波介质特性的测量实验报告

微波介质特性的测量实验报告

微波介质特性的测量实验报告实验目的:1.了解微波介质的特性。

2.掌握微波介质特性测量的实验方法。

3.分析和讨论不同微波介质的特性差异。

实验器材:1.微波源2.吸收系统3.驻波系统4.反射凸面镜5.半波片6.波导过渡件7.参数测量平台8.反射器板实验原理:微波介质是指在微波频段(300MHz-300GHz)内对电磁波具有一定的传播和反射特性的物质。

微波介质的特性主要包括介电常数、导电率、磁导率等。

本实验通过测量微波在不同介质中的传播和反射特性,来分析不同介质的特性差异。

实验步骤:1.首先,将微波源的输出接到吸收系统中,保证接口的连接稳定。

2.将驻波系统的进射口与吸收系统连接起来,确保连接紧密。

3.选择不同的介质,如水、巴铁、木块等,将介质放入吸收系统中。

每次测量前都要确保吸收材料的尺寸与吸收系统的要求相匹配。

4.调节微波源的频率和功率,记录下读数。

5.将反射凸面镜放在驻波系统的反射位置,调整角度使得反射的微波尽可能衰减。

6.在实验过程中,可以根据需要采用半波片来调节微波的偏振态。

7.将波导过渡件连接到驻波系统的出射口,并将其与参数测量平台相连。

8.通过参数测量平台,测量微波的传播特性和反射特性。

9.将测得的数据记录下来,并进行数据分析和讨论。

实验结果:通过实验测量,我们可以得到不同介质的微波传播和反射特性。

例如,我们可以观察到在一些介质中微波的传播速度较快,而在另一些介质中传播速度较慢。

此外,我们还可以观察到在一些介质中微波的反射较强,而在另一些介质中反射较弱。

实验讨论:1.根据测得的数据,我们可以计算出不同介质的介电常数和导电率,并与已知的理论值进行比较,从而分析实验结果的准确性和可靠性。

2.在实验过程中,我们可能会遇到一些误差,如连接不紧密、测量仪器误差等。

可以通过合理安排实验步骤和提高测量仪器的精度来减小误差。

3.实验中使用的不同介质可能具有不同的微波特性,例如对微波的吸收、反射和散射等。

可以通过进一步研究不同介质的物理特性,来分析介质对微波的响应机制。

北邮微波 天线的特性特性和研究 实验报告

北邮微波 天线的特性特性和研究 实验报告

北京邮电大学电磁场与微波测量实验学院:电子工程学院班级:2013211203组员:组号:第九组实验六 用谐振腔微扰法测量介电常数微波技术中广泛使用各种微波材料,其中包括电介质和铁氧体材料。

微波介质材料的介电特性的测量,对于研究材料的微波特性和制作微波器件,获得材料的结构信息以促进新材料的研制,以及促进现代尖端技术(吸收材料和微波遥感)等都有重要意义。

一、 实验目的1. 了解谐振腔的基本知识。

2. 学习用谐振腔法测量介质特性的原理和方法二、 实验原理本实验是采用反射式矩形谐振腔来测量微波介质特性的。

反射式谐振腔是把一段标准矩形波导管的一端加上带有耦合孔的金属板,另一端加上封闭的金属板,构成谐振腔,具有储能、选频等特性。

谐振条件:谐振腔发生谐振时,腔长必须是半个波导波长的整数倍,此时,电磁波在腔内连续反射,产生驻波。

谐振腔的有载品质因数QL 由下式确定:210f f f Q L -=式中:f0为腔的谐振频率,f1,f2分别为半功率点频率。

谐振腔的Q 值越高,谐振曲线越窄,因此Q 值的高低除了表示谐振腔效率的高低之外,还表示频率选择性的好坏。

如果在矩形谐振腔内插入一样品棒,样品在腔中电场作用下就会极化,并在极化的过程中产生能量损失,因此,谐振腔的谐振频率和品质因数将会变化。

图1 反射式谐振腔谐振曲线 图2 微找法TE10n 模式矩形腔示意图电介质在交变电场下,其介电常数ε为复数,ε和介电损耗正切tan δ可由下列关系式表示:εεε''-'=j , εεδ'''=tan ,其中:ε,和ε,,分别表示ε的实部和虚部。

选择TE10n ,(n 为奇数)的谐振腔,将样品置于谐振腔内微波电场最强而磁场最弱处,即x =α/2,z =l /2处,且样品棒的轴向与y 轴平行,如图2所示。

假设:1.样品棒的横向尺寸d(圆形的直径或正方形的边长)与棒长九相比小得多(一般d /h<1/10),y 方向的退磁场可以忽略。

微波陶瓷介电性能自动测试系统设计

微波陶瓷介电性能自动测试系统设计

微波陶瓷介电性能自动测试系统设计陈赐海;李秀燕;肖芬【摘要】开路型微波陶瓷材料介电性能自动测试系统的设计包括系统的测试原理、系统硬件和软件组成.利用操作界面友好的自动测试程序,可在程序面板上控制网络分析仪,实现测试数据的实时采集、分析计算与显示存储,从而提高测试效率与精度.实测表明,利用该系统能对高介电常数、低损耗的微波陶瓷材料复介电常数进行快速、准确、无损的自动测试.【期刊名称】《现代电子技术》【年(卷),期】2008(031)016【总页数】3页(P160-162)【关键词】介电性能;介质谐振器;VEE;自动测试【作者】陈赐海;李秀燕;肖芬【作者单位】漳州师范学院,福建,漳州,363000;漳州师范学院,福建,漳州,363000;厦门大学,福建,厦门,361005【正文语种】中文【中图分类】TP29;TN99微波陶瓷是指应用于微波电路中作为介质材料完成一种或多种功能的陶瓷,是一种经济型电子元器件材料。

评价微波陶瓷在微波频段介电性能的参数主要有:相对介电常数εr′(以下简称介电常数)、介质损耗tan δ、谐振频率温度系数τf。

这些参数的准确测试是研究材料微波特性和设计电子器件的重要环节之一,一般采用的测试方法是短路型介质谐振器法[1,2],但对于高介电常数和低损耗材料,由于介质样品端面与两金属导电板直接接触,传导损耗较大,使得低tan δ陶瓷材料测试引入较大的误差。

为提高测试效率与精度,采用开路型介质谐振器方法,在硬件基础上开发自动测试软件,构建开路型微波介质陶瓷材料的自动测试系统。

1 理论分析在短路型平行板介质谐振器的基础上,把样品与金属板拉开一定的距离,减少直接接触的影响,形成开路型的系统结构见图1。

利用Weinstein计算本征值的变分法[3],把两金属板包含的空间分成是柱内(r<a)和柱外(r>a)两部分,考虑电磁场在r=a处连续,求解Helmholtz方程。

分析轴对称模式TE01δ[4],得到谐振频率和介电常数关系的矩阵方程:det W(f0,εr′,a,L′,L1,L2)=0(1)通过数值算法,把测量的谐振频率f0值代入方程(1)求解,可以算出样品的介电常数。

电介质的电学性能及测试方法

电介质的电学性能及测试方法

电介质的电学性能及测试方法电介质材料的电性包括介电性、压电性、铁电性和热释电性等。

本文着重对介电性、介电常数的测量方法和热释电性、热释电性系数的测量方法进行介绍。

1介电性和介电常数的测量1・1介电性能介电材料(又称电介质)是一类具有电极化能力的功能材料,它是以正负电荷重心不重介的电极化方式来传递和储存电的作用。

极化指在外加电场作用下,构成电介质材料的内部微观粒子,如原子,离子和分子这些微观粒子的正负电荷中心发生分离,并沿着外部电场的方向在一定的范鬧内做短距离移动,从而形成偶极子的过程。

极化现象和频率密切相关,在特定的的频率范围主要有四种极化机制:电了极化(electronic polarization, 1015Hz), 离了极化(ionicpolarization. 1012〜1013Hz),转向极化(orientation polarization* 1011〜1012Hz)和空间电荷极化(space charge polarizat ion. 103Hz)«这些极化的基本形式又分为位移极化和松弛极化,位移极化是弹性的,不需要消耗时间,也无能量消耗,如电子位移极化和离子位移极化。

而松弛极化打质点的热运动密切相关,极化的建立需要消耗一定的时间,也通常伴随有能量的消耗,如电子松地极化和离子松弛极化。

1・2介电常数的测量介电常数是物体的重要物理性质,对介电常数的研究有重要的理论和应用意义。

电气工程中的电介质问题、电磁兼容问题、生物医学、微波、电子技术、致品加工和地质勘探中,无一不利用到物质的电磁特性,对介电常数的测最提出了要求。

目前对介电常数测量方法的应用可以说是遍及民用、工业、国防的各个领域。

在食品加工行业当中,储藏、加工、灭菌、分级及质检等方面都广泛采用了介电常数的测量技术。

例如,通过测量介电常数的人小,新鲜果蔬品质、含水率、发酵和干燥过程中的一些指标都得到间接体现,此外,根据ft品的介电常数、含水率确定杀菌时间和功率密度等工艺参数也是重要的应用之一⑴。

平行板谐振法测量微波介质介电常数性能(实验研究报告)

平行板谐振法测量微波介质介电常数性能(实验研究报告)

平行板谐振法测量微波介质介电常数性能其中,J 和k 分别为第一类Bessel 函数和修正Bessel 函数, 通过(3)可以求出k ci (采用数值方法,matlab 程序见附录)DXDiTa9E3dspecunon■ 1' -r//////////?二•实验过程测量地参数如下:L = 8.01mm, D = 14.06mm f0 = 4.421401GHz根据(1) -- (4)式,可以求岀;r值,计算地值如下:图 iPost Resonance Technique实验测试装置如图i ,测试样品为圆柱状,放置在两个平行地金属板中,微波功率通过由样品和两个平行金属板组成地腔 体耦合.输入和输岀通过两个天线耦合.在某一频率下,该腔体地 阻抗达到最小,即产生谐振,此时穿过地功率最大 .该腔体地谐振特性可以通过一个矢量网络分析仪来得到直观显 示.b5E2RGbCAP实际测量中,常用TE011模来确定样品地介电性质•因为本 测试装置可以在矢量网络分析仪上产生许多不同模式地谐振 峰,本实验采用TE 011谐振模式(处于第二低地谐振频率处, 最低地谐振频率是HE 仆模式)0EanqFDPw/. 0 =68 mmk c0 =381.20 k& =426.34■. r =39.14计算过程见附录.三•讨论本实验并未讨论损耗角及品质因数地测量,随之地辐射损 耗及电损耗并未讨论.采用此方法,不能精确测量平行板地表面 阻抗[1],损耗角地测量也不准确;其次,样品地尺寸要求较大, 若对于单晶体,很难制造[1].可参考文献[2],有具体地改进方法 本方案地主要优势是计算地公式较完善,且很可靠 .也因此,此方案仍被采用.RTCrpUDGiT本实验主要讨论介电常数地测量,至于电解质损耗和辐射 损耗不做讨论.采用本测试方法地主要优势是需要测量地参数有,样品厚度L 、样品直径D ( D=2a )和谐振频率f 0电介常数可以通过以下公式计算得到:[1] Sheen J 2005 Study of microwave dielectric properties measurements by variousresonance techniques 5PCzVD7HxA Measurement 37 123-30jLBHrnAILg[2] Sheen J 2008 A dielectric resonator method of measuring dielectric propertiesof low loss materials in the microwave region xHAQX74J0XIOP Science Measurement Science and Technology附录% Author:高永振Date : 2012-5-3(2)J okci aJ i k d ak c0a Ko (kc0a)k ci a K i k co a(3)(4)^%*****************************************************LDAYtRyKfE%******************* post Resonance Technique****************************“微波测量之特别培养实验课”********一.平行板谐振法测试原理参考文献(i)clear all;%谐TE011模振频率单位HZ%自由空间光速%波长%圆柱介质长度,单位mD = 14.06e-3; %圆柱介质地直径,单位ma = D/2;k_c0 = (2*pi/lambda0)*sqrt((lambda0/2/L)A2 - 1);%以下采用”牛顿迭代法"求解k_ci地值syms k_ci;eps = 1e-6; %精度要求y = besselj(0,k_ci*a).*k_ci.*besselk(1,k_c0*a) +besselj(1,k_ci*a).*... dvzfvkwMIlk_c0*besselk(0,k_c0*a);yy = diff(y,k_ci);k_ci = 420; %赋一迭代初值k_ci1 = k_ci - subs(y,k_ci)./subs(yy,k_ci);while(abs(k_ci1 - k_ci)>=eps)k_ci = k_ci1;k_ci1 = k_ci - subs(y,k_ci)./subs(yy,k_ci);end%最终待求量epsilon」=(lambda0/2/pi)A2*(k_ci A2 + k_c0A2) + 1版权申明本文部分内容,包括文字、图片、以及设计等在网上搜集整理•版权为个人所有This article includes some parts,in cludi ng text, pictures, and desig n.Copyright is pers onal OWn ership. rqyn14ZNXI用户可将本文地内容或服务用于个人学习、研究或欣赏,以及其他非商业性或非盈利性用途,但同时应遵守著作权法及其他相关法律地规定,不得侵犯本网站及相关权利人地合法权利.除此以外,将本文任何内容或服务用于其他用途时,须征得本人及相关权利人地书面许可,并支付报酬.EmxvxOtOcoUsers may use the contents or services of this article for personal study, research or appreciation, and other non-commercial or non-profit purposes, but at the same time, they shall abide by the provisi ons of copyright law and other releva nt laws, and shall not infringe upon the legitimate rights of this website and its releva nt obligees. In additi on, when any content or service of this article is used for other purposes, writte n permissi on and remun erati on shall be obta ined from the pers on concerned and the releva ntobligee. SixE2yXPq5转载或引用本文内容必须是以新闻性或资料性公共免费信息为使用目地地合理、善意引用,不得对本文内容原意进行曲解、修改,并自负版权等法律责任.6ewMyirQFLReproduction or quotation of the content of this article must be reas on able and good-faith citati on for the use of n ews or in formative public free information. It shall not misinterpret or modify the originalformat long;%实验地基本参数fO = 4.421401e9;c = 3e8;lambdaO = c/fOL = 8.01e-3;inten tio n of the content of thisarticle, and shall bear legalliability such as copyright. kavU42VRUs。

电磁场与微波测量实验报告微波实验六用谐振腔微扰法测量介电常数

电磁场与微波测量实验报告微波实验六用谐振腔微扰法测量介电常数

北京邮电大学电磁场与微波测量实验报告实验六 用谐振腔微扰法测量介电常数微波技术中普遍利用各类微波材料,其中包括电介质和铁氧体材料。

微波介质材料的介电特性的测量,关于研究材料的微波特性和制作微波器件,取得材料的结构信息以增进新材料的研制,和增进现代尖端技术(吸收材料和微波遥感)等都有重要意义。

一、 实验目的1. 了解谐振腔的大体知识。

2. 学习用谐振腔法测量介质特性的原理和方式二、 实验原理本实验是采纳反射式矩形谐振腔来测量微波介质特性的。

反射式谐振腔是把一段标准矩形波导管的一端加上带有耦合孔的金属板,另一端加上封锁的金属板,组成谐振腔,具有储能、选频等特性。

谐振条件:谐振腔发生谐振时,腔长必需是半个波导波长的整数倍,现在,电磁波在腔内持续反射,产生驻波。

谐振腔的有载品质因数QL 由下式确信:210f f f Q L -=式中:f0为腔的谐振频率,f1,f2别离为半功率点频率。

谐振腔的Q 值越高,谐振曲线越窄,因此Q 值的高低除表示谐振腔效率的高低之外,还表示频率选择性的好坏。

若是在矩形谐振腔内插入一样品棒,样品在腔中电场作用下就会极化,并在极化的进程中产生能量损失,因此,谐振腔的谐振频率和品质因数将会转变。

图1 反射式谐振腔谐振曲线 图2 微找法TE10n 模式矩形腔示用意电介质在交变电场下,其介电常数ε为复数,ε和介电损耗正切tan δ可由以下关系式表示:εεε''-'=j , εεδ'''=tan ,其中:ε,和ε,,别离表示ε的实部和虚部。

选择TE10n ,(n 为奇数)的谐振腔,将样品置于谐振腔内微波电场最强而磁场最弱处,即x =α/2,z =l /2处,且样品棒的轴向与y 轴平行,如图2所示。

假设:1.样品棒的横向尺寸d(圆形的直径或正方形的边长)与棒长九相较小得多(一样d /h<1/10),y 方向的退磁场能够忽略。

2.介质棒样品体积Vs 远小于谐振腔体积V0,那么能够以为除样品所在处的电磁场发生转变外,其余部份的电磁场维持不变,因此能够把样品看成一个微扰,那么样品中的电场与外电场相等。

用谐振腔微扰法测量微波介质特性

用谐振腔微扰法测量微波介质特性

用谐振腔微扰法测量微波介质特性微波技术中广泛使用各种微波材料,其中包括电介质和铁氧体材料。

微波介质材料的介电特性的测量,对于研究材料的微波特性和制作微波器件,获得材料的结构信息以促进新材料的研制,以及促进现代尖端技术(吸收材料和微波遥感)等都有重要意义。

本实验是采用反射式矩形谐振腔用微扰法来测量微波介质特性的。

反射式谐振腔是把一段标准矩形波导管的一端加上带有耦合孔的金属板,另一端加上封闭的金属板,构成谐振腔,它具有储能、选频等特性。

而微扰法则是通过分析腔体的微小变形对谐振频率的影响,来测量谐振腔的一些主要参数的,它不仅对加深谐振腔的理解有帮助,而且在谐振腔的设计和调试中也有实际的应用。

2.1 实验目的1.了解谐振腔的基本知识。

2.学习用谐振腔法测量介质特性的原理和方法实验原理:一、谐振腔的基本知识谐振腔是在微波频率下工作的谐振元件,它是一个任意形状的导电壁(或导磁壁)包围的,并能在其中形成电磁振荡的介质区域,它具有储存电磁能及选择一定频率信号的特性。

1、谐振腔的基本参数谐振腔通常采用谐振频率f0 (或谐振波长?0)、品质因数Q0及等效电导G0作为它的基本参数。

(1)谐振频率f0 (或谐振波长?0)谐振频率描述电磁能量在谐振腔中的运动规律。

它是指在谐振腔中激起的电磁振荡的工作频率(或工作波长)。

比较普遍的求解谐振频率的方法是“场分析的方法”,它从求解谐振腔的电磁场边值问题入手,导出谐振频率或波长。

从电磁场理论可知,在自由空间中,电磁场满足的波动方程及边界条件为2?E?kE?0 n?E?0 22?H?kH?0 n?H?0 1 222式中,k2??2k0??2?k0??2,μ、ε为谐振腔中介质参数,n 是由腔壁导体无耗?指向外的法向单位矢量,k是与谐振腔的几何形状、尺寸及波型有关的数值。

在谐振腔内满足式1的电磁场对应于一系列的确定的kn 值(称为本征值)。

即kn??n0 2或f0n?kn2? 3求出了本征值kn后,谐振腔的谐振频率f0n即可由式3求出。

微波介质特性的测量实验报告

微波介质特性的测量实验报告

嘉应学院物理学院近代物理实验实验报告实验项目:实验地点:班级:姓名:座号:实验时间:年月日一、实验目的:1.对微波材料的介质特性的测量,有助于获得材料的结构信息;2.研究了的微波特性和设计微波器件。

3.本实验采用谐振腔微扰法测量介质材料的特性参量,学习反射式腔测量微波材料的介电常数ε'和介电损耗角tgδ的原理和方法。

二、实验仪器和用具:介质材料:半径0.7 mm 长度10.16 mm白色样品:聚四氟乙烯;透明样品:有机玻璃;褐色样品:黑焦木三、实验原理:谐振腔是两端封闭的金属导体空腔,具有储能、选频等特性,常见的谐振腔有矩形和圆柱形两种,本实验采用反射式矩形谐振腔,谐振腔有载品质因数可由210f f f Q -=测定,其中0f 为谐振腔振频率,1f ,2f 分别为半功率点频率。

图8.2.1所示是使用平方律检波的晶体管观测谐振曲线0f ,1f 和2f 的示意图。

如果在矩形谐振腔内插入一圆柱形的样品棒,样品在腔中电场的作用下就会被极化,并在极化的过程中产生的能量损失。

因此,谐振腔的谐振频率和品质因数将会变化。

根据电磁场理论,电介质在交变电场的作用下,存在转向极化,且在极化时存在驰豫,因此它的介电常量为复数:ε)( '''00εεεεεj r -==式中ε为复电常量,0ε为真空介电常量,r ε为介质材料的复相对介电常量,'ε、''ε分别为复介电常量的实部和虚部。

由于存在驰豫,电介质在交变电场的作用下产生的电位移滞后电场一个相位角δ,且有tg δ=''ε/'ε因为电介质的能量损耗与tg δ成正比,因此tg δ也称为损耗因子或损耗角正切。

如果所用的样品体积远小于谐振腔体积,则可认为除样品所在处的电磁场发生变化外,其余部分的电磁场保持不变,因此可用微扰法处理。

选择p TE 10(p 为奇数)的谐振腔,将样品置于谐振腔内的微波电场最强而磁场最弱处,即x=a/2,z=l/2处,且样品棒的轴向与y 轴平行。

北邮-电磁场与电磁波实验报告--用谐振腔微扰法测量介电常数、天线的特性和测量

北邮-电磁场与电磁波实验报告--用谐振腔微扰法测量介电常数、天线的特性和测量

电磁场与微波测量实验班级:xxx成员:xxxxxxxxx撰写人:xxx实验六用谐振腔微扰法测量介电常数微波技术中广泛使用各种微波材料,其中包括电介质和铁氧体材料。

微波介质材料的介电特性的测量,对于研究材料的微波特性和制作微波器件,获得材料的结构信息以促进新材料的研制,以及促进现代尖端技术(吸收材料和微波遥感)等都有重要意义。

一、实验目的1.了解谐振腔的基本知识。

2.学习用谐振腔法测量介质特性的原理和方法二、实验原理本实验是采用反射式矩形谐振腔来测量微波介质特性的。

反射式谐振腔是把一段标准矩形波导管的一端加上带有耦合孔的金属板,另一端加上封闭的金属板,构成谐振腔,具有储能、选频等特性。

谐振条件:谐振腔发生谐振时,腔长必须是半个波导波长的整数倍,此时,电磁波在腔内连续反射,产生驻波。

谐振腔的有载品质因数QL由下式确定:式中:f0为腔的谐振频率,f1,f2分别为半功率点频率。

谐振腔的Q值越高,谐振曲线越窄,因此Q值的高低除了表示谐振腔效率的高低之外,还表示频率选择性的好坏。

如果在矩形谐振腔内插入一样品棒,样品在腔中电场作用下就会极化,并在极化的过程中产生能量损失,因此,谐振腔的谐振频率和品质因数将会变化。

电介质在交变电场下,其介电常数ε为复数,ε和介电损耗正切tanδ可由下列关系式表示:其中:ε’和ε’’分别表示ε的实部和虚部。

选择TE10n,(n为奇数)的谐振腔,将样品置于谐振腔内微波电场最强而磁场最弱处,即x=α/2,z=l/2处,且样品棒的轴向与y轴平行,如图2所示。

假设:1.样品棒的横向尺寸d(圆形的直径或正方形的边长)与棒长九相比小得多(一般d/h<1/10),y方向的退磁场可以忽略。

2.介质棒样品体积Vs远小于谐振腔体积V0,则可以认为除样品所在处的电磁场发生变化外,其余部分的电磁场保持不变,因此可以把样品看成一个微扰,则样品中的电场与外电场相等。

这样根据谐振腔的微扰理论可得下列关系式:式中:f0,fs分别为谐振腔放人样品前后的谐振频率,Δ(1/QL)为样品放人前后谐振腔的有载品质因数的倒数的变化,即QL0,QLS分别为放人样品前后的谐振腔有载品质因数。

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第9章 微波介质电特性测量1 概述不导电的物质或导电性能不好的物质称为电介质,简称介质。

微波设备中用了许多类型的介质材料,介质材料的电性能直接关系到电子设备及器件的质量好坏。

1.1 复数介电常数复数介电常数*ε可表示为: )(00*εεεεεε''-'==j r式中,r ε为复数相对介电常数(通常称为复介电常数);0ε为自由空间的介电常数,0ε=0.885 4×10-11F/M 。

)1()1(/0*δεεεεεεεεεjtg j j r -'='''-'=''-'== 式中,ε'为相对介电常数(通常称为介电常数);ε''为表示材料中发生的损耗;δ为介质的电损耗角。

通常认为ε'和δtg 是表示介质材料电性能的重要参数;ε'表示在外电场作用下,介质材料贮存能量的本领;δtg 表示介质材料在外电场作用下,周期内热功损耗与贮存功率之比,是衡量介质材料损耗大小的参量。

1.2 微波复介电常数测量方法分类微波频段测量介质材料电性能的方法很多,概括起来可分为五大类,如表9-1所示。

表9-1 微波介质材料测量方法分类2 传输线法传输线法是将介质样品放在矩形波导或同轴线内(或开路传输线外),由直接测量波导段(或同轴线段)样品前面的驻波参量或反射参量来确定介质电特性。

传输线法目前已在300MHz 到40GHz 的宽广频段上使用。

它可以测量固体、液体和气体。

但实际中测量固体较多,所以,这里主要介绍固体介质测量的几种典型方法。

2.1 端短路法端短路法是将介质制成长方形(或环形)样品,填充在短路波导(或同轴线)末端,由测量介质样品段的驻波参量确定介质电特性的方法。

2.1.1 测试原理终端短路的波导置入样品后,由于波导内填充介质段的波导波长ελ比填充空气段的波导波长g λ短,导致介质前波导段中驻波最小点往终端方向移动。

另外,介质样品的损耗又使驻波节点处的电场强度增大。

据波导段填充介质样品前后驻波最小点的变化量及驻波系数S 可由公式推算出介质的ε'及δtg 。

2.3 长样品法长样品法是测量大损耗介质电特性的方法。

样品做得很长,放在介质样品波导段中,并使样品的输入面与测量线的法兰盘面一致。

对介质波导段的要求及所用测试系统与终端短路法相同。

2.3.1 测试原理由于介质样品很长,使得介质波导段终端的反射波在到达输入端面前几乎全被衰减掉。

这时,样品输入端的等效阻抗便是样品波导段的特性阻抗。

而样品波导段的归一化特性阻抗仅与波导中填充介质的复介电常数有关,它可由沿线的驻波最小点及驻波系数S 求得。

因此,长样品法测量介质,就称为对介质波导段(长样品前)的驻波参量的测量。

2.4 同轴测量线法同轴测量线法是测量液体介质复介电常数最简单的方法。

将同轴测量线两端的绝缘子(圆盘形)与内外导体间密封好,就称为液体介质的测量装置。

若开槽位置不在正上方,可将一侧垫起;也可改装测量线,使之成为适合测量液体介质的结构。

2.4.1测试原理同轴测量线终端短路后形成驻波,其驻波参数与测量线内填充的介质电性能有关。

介质中波长随ε'变化,驻波系数与介质损耗有关。

所以由测量线中介质波长及驻波系数的测量可确定介质样品的ε'及δtg 。

2.5 同轴线终端开路发同轴线终端开路发是对大损耗介质的一种非破坏性测量方法。

采用一段填充介质(聚四氟乙烯)且终端开路的标准同轴线为传感器。

2.5.1 测试原理介质样品紧贴同轴线开路端面。

据传输线理论,样品对开路端面边界场产生扰动,使同轴线上复反射系数发生变化。

利用复反射系数与介电特性的关系可确定介质的复介电常数。

3 闭腔谐振法闭式谐振腔(简称闭腔),是具有分布参数封闭导电壁的谐振系统。

在谐振腔内,横向和纵向电磁波都受到导电壁的反射;入射波和反射波相叠加,形成电磁驻波。

它不能传播能量,只能做电磁能量转换,在能量转换过程中形成震荡。

介质样品置入闭腔谐振器中,由测量它的有关谐振参数来确定介质电特性的方法,称闭腔谐振法。

该方法可测固体、液体和气体,这里重点介绍测量固体介质。

3.1 H 01n 谐振腔法H 01n 谐振腔法是用H 01n 谐振腔测量圆盘形样品。

因这种方法使用方便、测试精度高,在从8.2GHz 到35GHz 频段内广泛应用。

3.1.1 测试原理在某一确定的频率下谐振腔谐振时,腔长为0l ,无载品质因素为0Q 。

谐振腔放入样品后,由于样品中相位常数比空气中大,故谐振腔失谐。

改变腔体长度使它重新谐振,其腔长为εl 。

此外,介质样品引入附加的损耗,使谐振腔品质因数下降为εQ 。

根据放入样品前后谐振腔长度及品质因数的变化,可确定介质的ε'及δtg 。

3.2 微扰法微扰法是以微扰理论为基础,在谐振腔中测量小样品介电特性的方法。

该方法对所用谐振腔和样品精度要求都不象H 01n 谐振腔法那样高,计算公式也简单,但测试准确度不高。

该方法已在1GHz 到18GHz 频段上广泛使用。

3.2.1 测试原理微扰谐振腔在尺寸确定后,它的谐振频率为0f ,固有品质因数为0Q 。

当介质小样品置于腔中电场最大、磁场为零的位置时,样品引起腔中电磁场扰动使谐振频率降为εf ,固有品质因数降低为ε0Q 。

若样品的体积远小于谐振腔的体积,这种扰动是微弱的,腔体参数变化也是较小的。

按微扰理论可推导出由样品扰动引起的频率变化εf f f -=∆0及品质因数的改变仅与介质样品的ε'及δtg 有关系。

所以,微扰法测量介质的复介电常数,即为置入样品前后微扰腔谐振频率及品质因数的测量。

3.3 可复制几何形状样品的谐振腔法将被测介质按标准样品(已知ε')的形状及尺寸精确复制出来,置入谐振腔内测量其介电特性的方法称可复制几何形状样品的谐振腔法。

4 开腔谐振法敞开导电壁的谐振腔,称为开式谐振腔(简称开腔)。

开腔总置入样品后,由测量其参数变化来确定介质电特性的方法称开腔谐振法。

这里只介绍高Q 开腔谐振法和介质开腔谐振法(也称介质谐振腔法)。

4.1 高Q 开腔谐振法高Q 开腔谐振法已在8~140GHz 频段广泛使用,主要测量低损耗各向同性及均匀分布各向异性材料。

谐振腔有多种形式,这里只介绍常用的对称球面腔和非对称球面腔。

具体测试方法与H 01n 谐振腔法基本相同。

在固定点频上,由改变谐振腔长度使腔谐振,并由腔内置入样品前后谐振腔长度及Q 值的变化来确定介质的ε'及δtg 。

4.2 介质谐振腔法介质谐振腔法是用被测介质制成谐振腔,用来测量ε'介质电特性的方法。

此方法常在10cm 到8cm 频段测量ε'从30到100的介质材料。

5 微波电桥法微波电桥法是在微波频段用来测量大损耗固体、液体介质复介电常数的方法。

5.1 液体电桥法液体电桥如图所示。

两个桥臂分别为参考桥臂和样品桥臂。

参考桥臂放有衰减器,预先调好一个衰减量。

样品桥臂,波导内充满液体样品。

固体介质楔用来盛放液体及降低反射。

另外在样品臂中还放有精密可变衰减器。

整个电桥放在一个斜面上,以减小气、液交界面上不必要的反射。

微波信号分成相等的两路,进入两个桥臂。

测量液体介质时,将液体样品注入波导内形成可变长度的液体柱。

电桥平衡操作过程中液体柱作为可变移相器使用。

电桥平衡,作为液体柱长度的函数画出曲线。

曲线的横坐标为液体柱长度。

纵坐标为精密衰减器的读数。

由曲线的斜率确定液体介质损耗。

5.2 空间电桥法空间电桥法如图所示。

参考臂放有衰减器和移相器。

样品桥臂中,两个号角天线中间放有圆盘装样品。

号角天线发出的能量是平面极化的电磁波,其电矢量平行波导的窄边。

而样品沿着穿过号角天线的轴心线旋转,可极化辐射,测量各向异性介质材料。

当被测介质为液体时,可放入低损耗圆盘形薄壁容器中,按测固体的方法测量其电特性。

5.3 波导电桥法波导电桥的样品桥臂,由H 10矩形波导或TEM 同轴线构成。

样品制成长方形或环形,置入样品桥臂。

参考桥臂内置入衰减器和移相器(可用测量线代替)。

5.3.1 测试原理当进入电桥两个桥臂的信号幅度相等、相位相反时,电桥输出指示为最小值。

如图所示,测量线测出的驻波最小值接近于零。

将介质样品置入桥臂后引起相移和衰减的变化;这种变化仅与介质样品的ε'及δtg 有关系。

所以将两个不同长度的样品(同种材料)1l 和2l ,分布置入样品桥臂,测出其衰减量A 1、A 2和相移量P 1、P 2。

便可确定其复介电常数。

6 时域法时域法是用时域技术测量介质材料频域复介电常数的方法。

该方法具有测量频段极宽(从10kHz 到10GHz ),测量速度极快、使用设备简单等优点。

只是测量介质的δtg 时精度不高。

它适合大、中损耗的固体、液体及离体生物介质的测量。

6.1 同轴线终端短路时域法样品制成圆环形,放样品的同轴线为标准空气线。

6.1.1 测试原理将环形样品放在短路同轴线末端。

上升时间为几十皮秒的的脉冲加在样品上,用取样示波器测量脉冲波形,因为它具有极丰富的谐波分量。

经计算机进行傅立叶变换可得到宽频域复反射系数。

而复反射系数大小仅与介质样品的电特性有关系。

因此,用时域技术测量介质(A-A 面)的频域复反射系数,可得到复介电常数宽带域频率特性。

6.2 终端电容法终端电容法是将小样品放在标准空气线内导体的间隙里,如图所示。

用6.1节的方法及测试系统,测量A-A 面的复反射系数)(11jw S 及无样品时内导体间隙电容C 0,通过计算,可求出宽频带范围内的复介电常数。

6.2 同轴线终端开路时域法同轴线终端开路时域法,是对介质非破坏性测试的时域法。

适合大损耗及ε'偏高的固体、液体及生物体复介电特性的测量。

近些年常用做微波生物波谱测量。

因生物组织ε'高,δtg 大、热灵敏度高、变化大,最适合非破坏性、快速测量。

第13章 失真参数的计量测试1 基本概念1.1 失真的概念与特点在无线电电子学及电子工程中所讲的失真是指信号波形的失真。

对于应用极为广泛的正弦信号而言,失真是以理想的纯正弦(基波)信号作为参考,看被比较的信号偏离理想波形的程度。

偏离越大,失真越大。

1.2 失真的分类(1)线性失真,又分为:A:幅频失真;B:相频失真。

(2)非线性失真,又分为:A:非线性谐波失真;B:非线性互调失真。

线性失真是指含有不同频率成分的信号通过由线性元件组成的线性系统后,使输出信号中各频率分量的幅度或相位失去了原有的比例关系,从而导致信号波形的失真。

非线性失真是指信号通过由有源或无源非线性器件组成的非线性系统后,其输出信号中产生了原信号所没有的新的频率分量,由此引起的信号波形的失真。

失真的大小直接与系统的非线性程度有关,因此,它相应成为该系统非线性程度的一个量度。

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