显微镜成像方法与技术-3
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包括荧光屏
和照相机构。在荧光屏下面放置 一下可以自动换片的照相暗盒, 照相时只要把荧光屏竖起,电子 束即可使照相底片曝光。由于透 射电子显微镜的焦长很大,虽然 荧光屏和底片之间有数十厘米的
间距,仍能得到清晰的图像。
TEM的电子源在顶端,透镜系统(4、7、8) 将电子束聚焦于样品上,随后将其投影在 显示屏(10)上。控制电子束的设备位于 右方(13和14)。
JEM-2010F透射电镜
工作原理
透射电镜的总体工作原理是:由电子枪发射出 来的电子束,在真空通道中沿着镜体光轴穿越 聚光镜,通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明 亮而又均匀的光斑,照射在样品室内的样品上; 透过样品后的电子束携带有样品内部的结构信 息,样品内致密处透过的电子量少,稀疏处透 过的电子量多;经过物镜的会聚调焦和初级放 大后,电子束进入下级的中间透镜和第1、第2 投影镜进行综合放大成像,最终被放大了的电
子影像投射在观察室内的荧光屏板上;荧光屏
将电子影像转化为可见光影像以供使用者观察。
基本的TEM光学元件布局图
TEM的结构
TEM由几大部分组成:照明系统;成像系统;记录系统;真空系统;电气系统。 1. 照明系统 电子枪 主要由电子枪和聚光镜组成。
是发射电子的照明源。
聚光镜
是把电子枪发射出来的电子束进一步会聚后照射到样品上。
电镜的分辨本领
在光学中,分辨率(分辨极限)即指光学仪器可以分辨的两个物点之间的最小距离。 由于瑞利斑(爱里斑)的关系,显微镜物镜的分辨极限为: δ=0.61λ/n sinθ
式中λ为入射光波长,n是物方介质的折射率,2θ为物镜对物体的张角(孔径角),n
sinθ为物镜的数值孔径,以N.A.表示。 通过增大数值孔径或缩短光源波长都可以提高物镜的分辨率。 从增大数值孔径N.A.来提高分辨率是很有限和困难的,最有效的方法是缩短光源的波 长,电镜所采用的电子波长λ为: λ=12.25Å/√ V 可见,只要提高加速电压V就可以得到短波长的电子波,分辨率也就相应得到提高。
数纳米到数微米不等。原子量越高、电压越低,样本就必须越薄。样品较薄或密度
较低的部分,电子束散射较少,这样就有较多的电子通过物镜光栏,参与成像,在 图像中显得较亮。反之,样品中较厚或较密的部分,在图像中则显得较暗。如果样 品太厚或过密,则像的对比度就会恶化,甚至会因吸收电子束的能量而被损伤或破 坏。
第一部实际工作的TEM, 现在在德国慕尼黑的遗址 博物馆展出。
第三讲、电子显微镜镜
电子显微镜
电子显微镜,简称电镜,是根据电子光学原理,用电子束和电子透镜代替光束 和光学透镜,使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。 在光学显微镜下无法看清小于0.2μm的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超 微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分 辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长 要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成 反比,也就是说电压越高波长越短。目前透射电镜的分辨力可达0.2nm。
利用中间镜的可变倍率来控制电镜的放大倍数。
TEM分裂极靴设计透镜示意图
投影镜 的作用是把经中间镜放大(或缩小)的像(电子衍射花样)进一步放大,并 投影到荧光屏上,它和物镜一样,是一个短焦距的强磁透镜。投影镜的激磁电流是
固定的。因为成像电子束进入投影镜时孔镜角很小(约10-3rad),因此它的景深和
像距都非常大。即使改变中间镜的放大倍数,使显微镜的总放大倍数有很大的变化, 也不会影响图像的清晰度。有时,中间镜的像平面还会出现一定的位移,由于这个 位移距离仍处于投影镜的景深范围之内,因此,在荧光屏上的图像仍旧是清晰的。 电子图像的放大倍数为物镜、中间镜和投影镜的放大倍数之乘积。
3. 观察和记录装置
电镜的分类
电子显微镜按结构和用途可分为透射式电子显微镜、扫描式电子显微镜、反射 式电子显微镜和发射式电子显微镜等。透射式电子显微镜常用于观察那些用普 通显微镜所不能分辨的细微物质结构;扫描式电子显微镜主要用于观察固体表面 的形貌,也能与X射线衍射仪或电子能谱仪相结合,构成电子微探针,用于物质 成分分析;发射式电子显微镜用于自发射电子表面的研究。
物 镜
物 体
θ
一、透射电镜
透射式电子显微镜(TEM,Transmission Electron Microscopy,亦称投射式电 子显微镜)因电子束穿透样品后,再用电子透镜成像放大而得名。它的光路与光学 显微镜相仿,可以直接获得一个样本的投影。通过改变物镜的透镜系统人们可以直 接放大物镜的焦点的像。由此人们可以获得电子衍射像。使用这个像可以分析样本 的晶体结构。在这种电子显微镜中,图像细节的对比度是由样品的原子对电子束的 散射形成的。由于电子需要穿过样本,因此样本必须非常薄。组成样本的原子的原 子量、加速电子的电压和所希望获得的分辨率决定样本的厚度。样本的厚度可以从
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4.真空系统 真空系统的作用有两方面,一方面可以在阴极和地之间加以很高的电 压,而不会将空气击穿产生电弧,另一方面可以将电子和空气原子的撞击频率减小 到可以忽略的量级,这个效应通常使用平均自由程来描述。标准的TEM需要将电子 的通路抽成气压很低的真空,通常需要达到10−4 帕。由于TEM的元件如样品夹具和 胶卷盒需要经常插入电子束通路,或者需要更换,因此系统需要能够重新抽成真空。 因此,TEM不能采用永久密封的方法来保持真空,而是需要装备多个抽气系统以及 气闸。
照明系统的作用就是提供一束亮度高、照明孔径角小、平行度好、束流稳定的照明 源。
电子枪的构成
2. 成像系统 即电子光学系统,又称镜筒,是透射电镜的主体。成像系统主要由物 镜、中间镜和投影镜组成。
物镜 是用来形成第一幅高分辨率电子显微图像或电子衍射花样的透镜。透射电子
显微镜 分辨本领的高低主要取决于物镜。因为物镜的任何缺陷都被成像系统中其 它透镜进一步放大。欲获得物镜的高分辨率,必须尽可能降低像差。通常采用强激 磁,短焦距的物镜。物镜是一个强激磁短焦距的透镜,它的放大倍数较高,一般为 100-300倍。目前,高质量的物镜其分辨率可达0.1nm左右。 中间镜 是一个弱激磁的长焦距变倍透镜,可在0-20倍范围调节。当M>1时,用来 进一步放大物镜的像;当M<1时,用来缩小物镜的像。在电镜操作过程中,主要是