第四章X射线物相定性、定量分析

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X射线物相定量分析

X射线物相定量分析
第五节
X射线物相定量分析
09:29
1
一、基本原理

定量分析的基本任务是确定混合物中各 相的相对含量。
3 2 2
e V 1 cos2 (2 ) 2 M 1 2 I I0 F P 2 e 2 2 32R m c V0 2 sin cos
5、增量法——测哪一相就增加哪一相的含量
I I
加一点纯相,则 Ii 试样中i相的量为 I j (xi+xis) 增量样中:
xi xis I xi i m 1 xis
' i
Bci
I
' j
xi xis
Bc j xj
j m 1 xis
xi xis x 1 xis
j s
I j
I j (1 xs ) K xj Is xs I s 1:1 xs
要测j相,需测两个样: (1)纯物质s相:纯j相=1:1 (2)内掺s相的混合相。
该方法是国际标准
09:29 16
xj
' i 试样中有n '相,欲 j i相增 测i相,就将
12
4、K值法(最常用的方法)——内标法的一种

内标法的缺点是常数C与标准物质的掺入量 xs有关。钟(F.H.Chung,1975)对内标法 作了改进,消除了这一缺点,并称之为K值 法(或基体冲洗法)。
09:29
13



待测样:有n相,欲测第j相 参考样:掺量Xs xj’=xj(1-xs)
混合成n+1相样
j 1
I j BC j
x j j
[(
j 1

材料科学研究方法第四章物相分析方法-42页精选文档

材料科学研究方法第四章物相分析方法-42页精选文档
式中,除 l 外均与含量无关,可记为常数K1。对两相
( )混合物中的 相,衍射强度为:
I

K1
C
l
(1)
换算为质量吸收系数:因混合物的质量吸收系数 是各相质量吸收系数的加权代数和,所以:
m
l

x

x
l
(
x

x)
④最后判定:根据检索结果及经验,判定并给出与 被测相一致的PDF卡片。
具体分析方法举例见教材p.43-p.45。
4.1.5 计算机自动检索(自学)
多相物质分析注意事项
多相物质的衍射花样是其各组成相衍射花样的简单 叠加,这就带来了多相物质分析(与单相物质相比)的 困难:
检索用的三强线不一定局于同一相,而且还可能发 生一个相的某线条与另一相的某线条重叠的现象。
方;P-体心斜方。
⑧矿物学名称。右上角符号表示:★为数据高度可靠;i为已指标化和估 计强度,但不如前者可靠;O为可靠性差;C为衍射数据来自理论计算。 ⑨晶面间距,相对强度和干涉指数。
⑩卡片的顺序号。
Mo2C的PDF卡片
(1)1a,1b,1c 三数据为三 条最强衍射 线对应的面 间距,1d为最 大面间距;
如(4)所示,纯 相的衍射线强度为
(I )0

K1

(5)
两者相除则消去未知常数K1,因此,外标法定量分析 的基本关系式为:
I (I )0

x
(

x
(


) )

(6)
利用此式,测出后 I 和 (I )0,由已知的各相质量吸收系 数,就可算出各相的相对含量
4.1.2 PDF卡片

X射线衍射技术之四-物相分析

X射线衍射技术之四-物相分析
一.原理与方法
什么是物相?
物相是从结构角度对某一物质种类的描述. 化学组成相同但结构类型不同的物质视为不 同的物相,如方解石和文石.化学组成不同但结 构类似的物质也属不同的物相,因为二者在结 构参数方面存在差别.
物相分析分为定性分析和定量分析。定性分 析目的是确定待测物质成分及结构类型;定 量分析不仅确定物质成分及结构类型,而且 确定各物相质量分数。因此定性分析是定量 分析的基础和前提。
1.粉末衍射卡
粉未衍射卡(Power Diffraction File, 简称 PDF卡)是1941年美国道氏化学(Dow Chemical)公司从1938年起由哈那瓦尔物(J. D. Hanawalt)等人首创的标准衍射数据,在 美国材料试验协会(ASTM)的赞助下,以3 inch×5 inch (76.2 mm×127 mm)的卡片形 式发行,故也称ASTM卡。
I j Cj
Vj

Cj
fj

式中Cj──样品中与第j相有关的常数; μ ──混合样品的线吸收系数.
fj W j m m m Ij C 将 代入 V x j 变换为以xj和µ m表示的形式如下
fj
j

Ij
Cj xj
j m
Cj
'
xj
m
此式是X射线物相定量分析的基本公式。µm不是j相 的质量吸收系数,而是整个待测试样总的质量吸收 系数. n
第2节 XRD物相定量分析
一.定量分析法原理
X射线定量相分析方法是在完成了样品 的物相定性分析工作的基础上,利用衍射 花样中待测相衍射强度,分析每个相在样 品中的重量百分含量的技术。
XRD粉末衍射强度公式:
3 4 2 I e 1 c o s 2 1 2 2 2 M 0 I ( 2 ) ( ) ( F P N ) (2 ) ( e) () V h k l h k l h k l 4 3 2 m c R s i n c o s 2

X射线物相定量分析

X射线物相定量分析

2.
3. 4.
Ij 1 Xs Xj = ⋅ ⋅ j Is Ks 1− X s
材料研究方法
x 射线衍射分析
X射线物相定量分析过程应注意的问题 射线物相定量分析过程应注意的问题
在定量分析的基础公式中, 在定量分析的基础公式中 , 假设了被测 物相中晶粒尺寸非常细小, 各相混合均匀, 物相中晶粒尺寸非常细小 , 各相混合均匀 , 无择优取向。 无择优取向。 实际情况存在一定的不同。 实际情况存在一定的不同 。 为了减少偏 在选择标准物质时要尽量选择等轴状 差 , 在选择标准物质时要 尽量选择等轴状 的结晶物质; 制备标样和试样时, 的结晶物质 ; 制备标样和试样时 , 要 避免 重压,减少择优取向。 重压,减少择优取向。
材料研究方法
x 射线衍射分析
X射线物相定量分析 射线物相定量分析
材料研究方法
x 射线衍射分析
问 题
X射线物相定量分析的原理是什么? 射线物相定量分析的原理是什么? 射线物相定量分析的原理是什么 X射线物相定量分析方法有哪几种? 射线物相定量分析方法有哪几种? 射线物相定量分析方法有哪几种 各种分析方法是怎样做的? 各种分析方法是怎样做的?各有什么特 适用于哪些情况?有哪些注意事项? 点?适用于哪些情况?有哪些注意事项?
x 射线衍射分析
I jj
• B是常数(只与入射光强度、所用X射线波长、衍射仪圆 是常数(只与入射光强度、所用 射线波长 射线波长、 是常数 的半径及受照射的的试样体积有关)。 的半径及受照射的的试样体积有关)。 • Cj也是常数(只与 物相的结构及实验条件有关,当该相 也是常数(只与j 物相的结构及实验条件有关, 的结构已知、实验条件确定之后,可以计算出来)。 的结构已知、实验条件确定之后,可以计算出来)。 • µm为试样(多相混合物)的质量吸收系数, 为试样(多相混合物)的质量吸收系数,

第四章XRD的定量分析

第四章XRD的定量分析

第四章XRD的定量分析
主讲:金祖权博士
土木工程学院
课堂复习
粉末照相法
德拜-谢勒法
X 射线仪
物相定性分析
主要内容X射线定量分析
物相定量分析定量分析原理
a相的衍射强度:混合物线吸收系数见公式a相的衍射强度公式见公式u Ca K Ia /*=
外标法原理:
混合物中的A相强度公式
纯物质强度公式:I=K/u
两者相除:得到公式
外标法测试方法
测出混合物和纯物质的衍射强度,
带入公式可求
测出纯A的衍射强度
测出不同A含量混合物的衍射强度
绘制定标曲线,然后依据曲线标定
内标法原理:
试样:
基本控制式:
内标法测试方法
内标和外标法制作标准曲线费事
Chung提出了标准化的内标法,也称为基体冲洗法—K值法
原理:利用预先测定好的参比强度K值,在定量分析时不需要做标准曲线,利用被测相质量含量和衍射强度的线性方程,通过数学计算而得到.
定量分析应注意问题实验设备、测试条件和方法
试样的要求
定性图谱
无标定量在水泥中的应用。

x射线物相定性分析

x射线物相定性分析
能量色散谱在X射线物相定性分析中常与其他方法结合使用,以提高分析 的准确性和可靠性。
傅里叶变换
傅里叶变换是一种将时域信 号转换为频域信号的方法, 在X射线物相定性分析中用于
处理X射线衍射数据。
通过傅里叶变换,可以将X射 线衍射数据转换为频域,便 于分析和比较不同物相的衍 射数据。
傅里叶变换在X射线物相定性 分析中常与其他方法结合使 用,以提高分析的准确性和 可靠性。
X射线物相定性分析方法
衍射峰分析
01
衍射峰分析是通过测量和比较不同物相的X射线衍射 峰,确定物质的结构和组成。
02
衍射峰的位置、强度和形状可以提供关于物相晶体 结构、晶格常数、晶体取向等信息。
03
衍射峰分析是X射线物相定性分析中最常用的方法之 一。
晶体结构分析
01
晶体结构分析是通过X射线衍 射数据,利用晶体学原理和计 算方法,确定物质晶体结构的 过程。
X射线相定性分析简介 • X射线物相定性分析方法 • X射线物相定性分析实验步骤 • X射线物相定性分析的挑战与解决方案 • X射线物相定性分析的未来展望
01
X射线物相定性分析简介
定义与原理
定义
X射线物相定性分析是一种利用X射线 对物质进行成分和结构分析的方法。
原理
峰识别与标定
识别出图谱中的衍射峰,并依据标准卡片或 已知物相的衍射数据对其进行标定。
物相定性分析
通过对比已知物相的衍射数据,确定样品中 存在的物相种类。
结果解释与报告
结果解释
根据数据处理与分析结果,解释样品的物相组成和各物相的比例。
结果验证
通过与其他实验方法或已知数据对比,验证分析结果的准确性。
报告撰写
解决方案

第四章x射线衍射分析应用-1指标化和晶格常数.

第四章x射线衍射分析应用-1指标化和晶格常数.

衍射谱的指标化是晶体结构分析和点阵常数测定的基础。 1)已知晶系和晶格常数a,从理论上求出,与实验值
对比,两者相接近时,表明他们有相同的晶面指数。 2)晶系或者晶格常数a未知时,四种晶格类型衍射线出
现的顺序和它们对应的衍射线指数平方和具有不同的特征。 找出这种特征或规律,进行晶系确定和指数标定。
晶系或者晶格常数a未知的材料的指数标定步骤和方法:
i

1
m=n=1 m=3
(100)、(110)、(200)、(210)、 (220)、(300)、(310) 如果不是简单点阵,则必为体心点阵,相应 的指数为(110)、(200)、(220)、 (310)、(400)、(330)
点阵常数计算 四方
六方
λ2/3a2= sin2θHK/(H2+HK+K2)
取一条尚未标定的衍射线,根据其在衍射谱中的位置, 假设它的H,K值,然后计算出一个中间数据
H=1,K=0 H=1,K=1 H=K=0 6 0.2015 0.0499 0.2773
H=2,K=0 H=K=1 H=1,K=0 8 0.0137 0.0895 0.2411 9 0.0222 0.0980 0.2496 10 0.2013 0.2771 0.4287
为了解决六方晶系的指标化问题,有人还绘 出了图解法图表,利用该图表,可直接对六 方晶系进行指标化
从左到右,各衍射峰对应的衍射面指数依次为(100)、 (110)、(111)、(200)、(210)、(211)、 (220)、 (300)、(310)、(311)
体心立方
体心立方中,H+K+L为奇数的衍射面不出现,因此,比 值数列应可化成:
Si21 n:Si2n 2: 1:2:3:4:5:6:7:8:

X射线衍射学4-实验方法及应用

X射线衍射学4-实验方法及应用

22
PDF卡片索引
23
• 索引:Alphabetical – 从物质名称检索。
• • Hanawalt – 从三条最强衍射线检索。 Fink – 按照d值大小排序检索。
24
卡片序号
三条最强线及第一 条线d值和强度
化学式 及名称
25
晶胞参数
晶系
空间群, Pna21
理论 密度
单胞化学 式量数
26
4
旋转晶体法
• 也称旋转单晶法或周转法。用单色X射线作 为入射光源,单晶体绕一晶轴(通常垂直 于入射方向)旋转,靠连续改变各衍射面 与入射线的夹角来满足布拉格方程。利用 此法可作单晶的结构分析和物相分析。
5
粉末晶体法
• 也称粉末法或多晶体法。用单色X射线作为入射光 源,入射线以固定方向射到多晶粉末或多晶块状 样品上,靠粉晶中各晶粒取向不同的衍射面来满 足布拉格方程。由于粉晶含有无数的小晶粒,各 晶粒中总有一些晶面与入射线的夹角满足衍射条 件,这相当于θ 是变量。因此,粉晶法是利用多 晶样品中各晶粒在空间的无规取向来满足布拉格 方程而产生衍射的。只要同种晶体,它们所产生 的衍射花样在本质上都应该相同。
37
Sc X c Sc Sa
38
例如:聚丙烯的结晶。 全同聚丙烯的α晶型属单斜晶系, 是最常出现的一种;β晶型属六方晶 系,是在相当高的冷却速度下或含 有易成核物质时,于130oC以下等温 结晶或在挤出成型时产生的;γ晶型 为三方晶系,只有在高压下或低分 子质量试样中才会形成。三种晶型 的衍射图完全不同,很易识别。 不同晶型的全同聚丙烯的 (图中阴影区为非晶漫射峰)
29
• 任何一个衍射峰都是由五个基本要素组成 。 • 衍射峰位置是衍射面网间距的反映(即 Bragg定理); • 衍射强度是物相自身衍射能力强弱的衡量 指标及在混合物当中百分含量的函数; • 半高宽及形态是晶体大小的函数; • 衍射峰对称性是光源聚敛性、样品吸收性 、仪器机戒装置等因素。

X射线晶体学(第四章)

X射线晶体学(第四章)

2、重复因子 重复因子就是在一个单形中所含的晶面族数, 因为在同一个单形中各面的d值相等,在多晶衍射 中它们的强度值都迭加在一起,即衍射强度增加 了PHKL倍。 注意:在多晶衍射中,不同指数晶面的反射强度也 可能重合,所以反射线重合在一起,实测的强度 为两者之和。 3、温度因子 前面是假定晶体中的原子是静止不动的,但实 际上,原子都在围绕其平衡位置不停地振动着, 并且随着温度的升高,振幅逐渐增大。 由于热振动的存在,使得原子不再严格地位于 各原子平面上,入射线入射到这种“不光滑的” 原子平面上时,在反射方向各原子反射波的光程 差
§4-2
粉末多晶衍射的积分强度
一、衍射强度公式的推导 一个粉末多晶试样是由许多微小的晶粒组成的, 它们在空间的取向是任意分布的,对某一个 {HKL},它们的倒易点组成一个倒易球面,倒易 球和反射球相交成衍射圆,由于选择反射区有一 定的范围,所以倒易球有一定的厚度,这样两球 相交成一环带,法线穿过 环带的晶面都能符合衍 射条件产生衍射,环带 的面积ΔS与倒易球球 面的面积之比就是参与 衍射的晶面数的百分比,
4
2
e 1 cos 2 2 I0 2 4 F Vk 2 m c 2 sin 2 v
2 3

G d d
2
所以
Ih Ie F
2 HKL
2 cos 2 pqI e FHKL G dd 2
2 cos pq G dd 2
cos Ih pqI ij 2
不再为零,整个面的散射波振幅小于各原子散射波 振幅之和。因而整个晶体的反射波振幅和强度均比 无振动时小,并且温度越高这种下降越厉害。 如以 I 表示不存在运动情况下的反射强度, I T 表示在温度T时的反射强度,则

第四章x射线衍射分析应用 3 物相分析和晶粒大小

第四章x射线衍射分析应用 3 物相分析和晶粒大小

一 X 射 线 物 相 分 析

X射线物相分析给出的结果,不是试样的化学 成分,而是由各种元素组成的具有固定结构的 物相。
3
定 性 相 分 析
1. 基本原理 2. PDF卡片 3. PDF卡片索引 4. 分析步骤 5.计算机自动检索

4

定性相分析的依据:
1 基 本 原 理
任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构,在
I j CK j
w'j 2 j w j (m ) j
j 1 n 1 j 1 n 1
I S CK S
wS
2 S w j (m ) j
Ij
K j s w' j w' j j Ks I s K s j ws ws
1 (cos2 ) 2 2 M 2 K j FHKL P 2 e sin cos

衍射分析应用的4个基本方面:
1. 衍射线的指标化 (sin 2 比值序列)
2. 点阵常数的精确测定(原理、途径和数据
处理方法)
3. 物性的定性、定量分析 4. 晶粒大小和点阵畸变的测定
1
4.3
X射线物相分析 定性分析 定量分析
2

利用X射线衍射的方法对试样中由各种元素形
成的具有确定结构的化合物(物相),进行定 性和定量分析。
相的选测衍射峰接近。
25
2 、
K 值 法 ( 基 体 冲 洗 法 )

K值法是在内标法的基础上发展起来的,主 要差别在于对比例常数K值的处理不同。
26
1.基本计算公式
设待测试样中含有几个相,要测j相的含量,含量为Wj ,
掺入的内标物质为S,加入量为Ws ,

X射线物相定性定量分析 共56页

X射线物相定性定量分析 共56页

3 粉末衍射卡片索引及检索方法
(7)在物相定性分析过程中,尽可能地与其它的相分析结合起 来,互相配合,互相印证。
从目前所应用的粉末衍射仪看,绝大部分仪器均是由计算机 进行自动物相检索过程,但其结果必须结合专业人员的丰富专 业知识,判断物相,给出正确的结论。
3 粉末衍射卡片索引及检索方法
一般来说,拿到一个未知的高分子材料,X射线衍射很快可 以做出如下判断: 1) 晶态还是非晶态,非晶态衍射是漫散的“晕环”, 晶态为 有确定d值的锐衍射峰; 2) 如果是晶态也可以初步判断一下是有机类还是无机类,一 般有机材料晶胞都比较大,衍射线条多在低衍射角区出现,由 于晶体对称性比较低,使衍射线条较少;
C 表示所列数据是从已知的晶胞参数计算而得到; 无标记卡片则表示数据可靠性一般。
(9)第9区间是该物相所对应晶体晶面间距d(Å); 相对强度I/I1及衍射指标hkl。
在该区间,有时会出现下列意义的字母: b — 宽线或漫散线;d —双线; n — 并非所有资料来源中均有; nc — 与晶胞参数不符; np — 给出的空间群所不允许的指数; ni — 用给出的晶胞参数不能指标化的线; β— 因β线存在或重叠而使强度不可靠的线; tr — 痕迹线;t —可能有另外的指数。
3 粉末衍射卡片索引及检索方法
(4)若是多物相分析,则在(3)步完成后,对剩余的 衍射线重新根据相对强度排序,重复(3)步骤,直至全 部衍射线能基本得到解释。
常 规 衍 射 仪 所 采 取 的 检 索 程 序 框 图
计算机检索程序框图
3 粉末衍射卡片索引及检索方法
5 物相定性分析所应注意问题 (1)一般在对试样分析前,应尽可能详细地了解样品的来源、 化学成分、工艺状况,仔细观察其外形、颜色等性质,为其物 相分析的检索工作提供线索。 (2)尽可能地根据试样的各种性能,在许可的条件下将其分 离成单一物相后进行衍射分析。

X射线物相定性分析实验

X射线物相定性分析实验

X 射线物相定性分析实验一、简述X 射线物相定性分析的原理和方法晶体的X 射线衍射图像是晶体微观结构形象的一种精细复杂的变换。

由于每一种结晶无知,都有特定的结构参数,与众不同,其结果是实验得出的衍射图谱都跟一种特定的物质对应。

如果事先对每种单相物质都测定一组晶面间距d 值和相应的衍射强度(相对强度),并制成PDF 卡片。

将实验测定的衍射图谱数据与粉末衍射文件中某一卡片上的数据相比较,从而判定未知物相。

二、实验过程分析1、制作样品,放入实验样品仓。

开启X 射线衍射仪,打开X 射线衍射仪控制操作系统,校读系统,使X 射线探测器转到起始测量角度。

2、开始测量,设置角度测量范围、操作者和样品名。

3、测量结束,保存数据到相应的专业子目录。

4、打开图谱分析软件,选择图像平滑点数,使图像平滑并打印图像。

5、根据衍射图谱,首先选出衍射峰,测量出对应的2θ和波峰净高度。

6、由布拉格衍射公式换算出晶面间距d ;选最高峰I 1为100,换算出其它峰相应的I/ I 1。

三强线数据如下:d 1 d 2 d 3 I 1 I 2 I 33.25 1.68 2.49 100 51 457、根据三强线进行数字检索,经过d 和相对强度的仔细对比,查得相应的索引数据为:8、在卡片柜里找出卡片号为4-0551的卡片,根据卡片数据列出详细的数据对比如下:实验数据 卡片号4-05512θ d 值 I/ I 1d 值I/ I 1 27.44 3.251 100 3.245 100 36.12 2.486 45 2.489 41 2.297 7 41.25 2.18 19.9 2.188 22 2.054 9 54.42 1.686 51.98 1.68 50 56.71 1.62 14.9 1.624 161.48 8d 1d 2d 3I 1 I 2 I 3 化学式英文名称卡片号3.25 1.69 2.49 100 50 41TiO 2 TiTaniu Dioxide 4-05511.453 669.12 1.36 12 1.36 1669.71 1.349 7 1.347 71.305 11.243 31.2 11.17 4误差定性分析:样品制作的时候,表面不可能绝对平整以及粉末在样品框窗口分布的不均匀,可能导致相对强度的测量没有和PDF卡片理想的吻合。

第四章 X射线衍射方法的实际应用

第四章  X射线衍射方法的实际应用

X射线物相定性分析原理
• X射线物相分析是以晶体结构为基础,通过比较晶体 射线物相分析是以晶体结构为基础, 衍射花样来进行分析的。 衍射花样来进行分析的。 • 对于晶体物质中来说,各种物质都有自己特定的结 对于晶体物质中来说, 构参数(点阵类型、晶胞大小、 构参数(点阵类型、晶胞大小、晶胞中原子或分子 的数目、位置等),结构参数不同则X ),结构参数不同则 的数目、位置等),结构参数不同则X射线衍射花样 也就各不相同,所以通过比较X 也就各不相同,所以通过比较X射线衍射花样可区分 出不同的物质。 出不同的物质。 • 当多种物质同时衍射时,其衍射花样也是各种物质 当多种物质同时衍射时, 自身衍射花样的机械叠加。它们互不干扰, 自身衍射花样的机械叠加。它们互不干扰,相互独 立,逐一比较就可以在重叠的衍射花样中剥离出各 自的衍射花样,分析标定后即可鉴别出各自物相。 自的衍射花样,分析标定后即可鉴别出各自物相。
X射线物相定性分析
• 1969年起,由ASTM和英、法、加拿大等国家的 1969年起, ASTM和英、 年起 和英 有关协会组成国际机构的“ 有关协会组成国际机构的“粉末衍射标准联合 委员会” 负责卡片的搜集、校订和编辑工作, 委员会”,负责卡片的搜集、校订和编辑工作, 所以,以后的卡片成为粉末衍射卡( 所以,以后的卡片成为粉末衍射卡(the File),简称PDF ),简称PDF卡 Powder Diffraction File),简称PDF卡,或 JCPDS卡 称JCPDS卡(the Joint Committee on Powder Standarda)。 Diffraction Standarda)。
应用字母索引进行物相鉴定的 步骤
根据被测物质的衍射数据,确定各衍射线的d 1. 根据被测物质的衍射数据,确定各衍射线的d值 及其相对强度。 及其相对强度。 根据试样成分和有关工艺条件,或参考有关文献, 2. 根据试样成分和有关工艺条件,或参考有关文献, 初步确定试样可能含有的物相。 初步确定试样可能含有的物相。按照这些物相的 英文名称,从字母索引中找出它们的卡片号, 英文名称,从字母索引中找出它们的卡片号,然 后从卡片盒中找出相应的卡片。 后从卡片盒中找出相应的卡片。 将实验测得的面间距和相对强度, 3. 将实验测得的面间距和相对强度,与卡片上的值 一一对比, 一一对比,如果某张卡片的数据能与实验数据的 某一组数据吻合, 某一组数据吻合,则待分析样中含有卡片记载的 物相。同理,可将其他物相一一定出。 物相。同理,可将其他物相一一定出。

实验四 X射线衍射技术及定性相分析

实验四 X射线衍射技术及定性相分析

实验四X射线衍射技术及定性相分析一、实验目的与任务1. 了解衍射仪的结构原理与衍射实验技术。

2. 掌握X射线定性相分析的基本原理和方法。

3. 测绘一个单相矿物和一个混合物的衍射图,并根据衍射数据作出物相鉴定。

实验四衍射仪的结构原理和样品衍射实验二. 衍射仪的结构和原理衍射仪是进行X射线分析的重要设备,主要由高压控制系统、测角仪、记录仪和水冷却系统组成。

新型的衍射仪还带有条件输入和数据处理系统。

图7示出了X射线衍射仪框图。

图7 X射线衍射仪框图测角仪是衍射仪的重要部分,其几何光路如图8所示。

X射线源焦点与计数管窗口分别位于测角仪圆周上,样品位于测角仪圆的正中心。

在入射光路上有固定式梭拉狭缝S1和可调式发射狭缝K,在反射光路上也有固定式梭拉狭缝S2和可调式防散射狭缝L与接收狭缝F,有的衍射仪还在计数管C前装有单色器。

当给X光管加以高压,产生的X射线经由发射狭缝照射到样品上,晶体中与样品表面平行的面网,在符合布拉格条件时即可产生衍射而被计数管接收。

当计数管在测角仪圆所在平面内扫描时,样品与计数管以1:2速度连动。

因此,在某些角位置能满足布拉格条件的面网所产生的衍射线将被计数管依次记录并转换成电脉冲信号,经放大处理后通过记录仪描绘成衍射图。

图8 测角仪光路布置图2. 衍射实验方法X射线衍射实验方法包括样品制备、实验参数选择和样品测试。

(1)样品制备在衍射仪法中,样品制作上的差异对衍射结果所产生的影响,要比照相法中大得多,因此,制备符合要求的样品,是衍射仪实验技术中重要的一环,通常制成平板状样品。

衍射仪均附有表面平整光滑的玻璃的或铝质的样品板,板上开有窗孔或不穿透的凹槽,样品放入其中进行测定。

1)粉晶样品的制备①将被测试样在玛瑙研钵中研成10μm左右的细粉;②将适量研磨好的细粉填入凹槽,并用平整光滑的玻璃板将其压紧;③将槽外或高出样品板面的多余粉末刮去,重新将样品压平,使样品表面与样品板面一样平齐光滑。

若是使用带有窗孔的样品板,则把样品板放在一表面平整光滑的玻璃板上,将粉末填入窗孔,捣实压紧即成;在样品测试时,应使贴玻璃板的一面对着入射X射线。

X射线定性--定量分析

X射线定性--定量分析

方法概要: 1975年由Chung F. H.在K值法的基础上提出。测量时,内标物质由 待测试样中某一组分充当,而不另外加入,好像与系统外隔绝,借用物理学名 词称为“绝热法”。 公式推导: 设待测试样由n个已定性鉴定的相组成,没有非晶相或未鉴定相存 在(即使有,其含量就少到可以忽略)。采用待测试样中的j相作为内标物质,
2. PDF检索手册
Hanawalt J. D.等人于1938年首先发起,以d-I数据组代替衍射花样, 制备衍射数据卡片的工作 1942年“美国材料试验协会(ASTM)”出版约1300张衍射数据卡 片(ASTM卡片)。到1963年共出版13集,以后按每年1集的速度递增 1969年成立了“粉末衍射标准联合委员会”(JCPDS)的国际组 织,负责编辑和出版粉末衍射卡片(PDF卡片),已出版50集,每集约 2000张 目前,最先进的衍射仪公司提供60集卡片,采用计算机自动检索
K值法的优点:
1. K值与待测相和内标物质的含量无关。因此可以任意选取内标物质的
含量 2.只要配制一个由待测相和内标物质组成的混合试样便可测定K值,因
此不需要测绘定标曲线
3.K值具有常数意义,只要待测相、内标物质、实验条件相同,无论待 测相的含量如何变化,都可以使用一个精确测定的K值
三、绝热法
Chung F. H. , J. Appl. Cryst. 8(1975),17
每种结晶物质都具有自己特有的晶体结构。在一定波长的X射线
作用下,每种晶体物质给出自己特有的衍射花样。衍射花样与物质种 类一一对应 多相试样的衍射花样所有组成物相的衍射花样机械叠加而成 定性相分析采用d--晶面间距和I--衍射线相对强度的数据代表衍射
花样,用d-I数据作为定性相分析的基本判据

X射线物相定性定量分析精选文档PPT课件

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3.5 X射线物相定性分析
物相分析原理: 将实验测定的衍射花样与已知标准物质的衍射花样比较,
从而判定未知物相。 混合试样物相的 X 射线衍射花样是各个单独物相衍射花样
的简单迭加,根据这一原理,就有可能把混合物物相的各个物 相分析出来。
3.5 X射线物相定性分析
1. 物相标准衍射图谱(花样)的获取: 1) 1938年,J.D.Hanawalt等就开始收集并摄取各种已知物质的衍 射花样,将这些衍射数据进行科学分析整理、分类。 2) 1942年,美国材料试验协会ASTM整理出版了最早的一套晶体物 质衍射数据标准卡,共计1300张,称之为ASTM卡。
Dia 为照相机镜头直径,当相机为非圆筒形时,注明相机名称
Cut off. 为相机所测得的最大面间距;
Coll. 为狭缝或光阑尺寸;
I/I
为测量衍射线相对强度的方法
1 (衍射仪法—Diffractometer,测微光度计法—
Microphotometer,目
测法—Visual);
dcorr abs? 所测d值的吸收矫正(No未矫正,Yes矫正);
3) 1969年,组建了“粉末衍射标准联合委员会”(The Joint Committee on Powder Diffraction Standards,JCPDS),专门负责 收集、校订各种物质的衍射数据,并将这些数据统一分类和编号,编制 成卡片出版。这些卡片,即被称为PDF卡(The Powder Diffraction File),有时也称其为JCPDS卡片。
3.5 X射线物相定性分析
2)结晶物质有自己独特的衍射花样。(d、θ和 I);
3)多种结晶状物质混合或共生,它们的衍射花样也只是 简单叠加,互不干扰,相互独立。(混合物物相分析)

第四章X射线物相定性定量分析

第四章X射线物相定性定量分析

质的量。
选择标准物质时应注意以下几点:
1)它的衍射线数目应尽量少,被选用的衍射强度应比较大,而 且与被测物质所选用的衍射线的角度尽量靠近,标准物质和被 测物质所选用的衍射线均不受其他衍射线的干扰。 2)它的线吸收系数应与被测物质的线吸收系数尽量接近。 3)化学稳定性好(不与氧、二氧化碳、水等在常温下起反应), 无毒,纯度在99%以上。 4)易于得到,价格便宜。 根据上述要求可选用下列物质作为标准物质:α-Al2O3,ZnO, TiO2(金红石),Cr2O3及CeO2等。
I '
m i1
I
'' i

I
'' m
I1''
2i
21
2m
21 2
上式并不是相对积分强度,严格意义上的相对积分强度 I 为
I j
100
I
' j
I' max
j
式中 n 为谱线中衍射线条总数,j 为衍射线条序号,I’ 为 I ’ 中最大
2)结晶物质有自己独特的衍射花样。
(d、θ和 I);
3)多种结晶状物质混合或共生,它们 的衍射花样也只是简单叠加,互不干 扰,相互独立。(混合物物相分析)
每一种结晶物质都有其特定的结构参数,包 括点阵类型、晶胞大小、晶胞形状、晶胞中原 子种类及位置等。
与结构有关的信息都会在衍射花样中得到 体现,首先表现在衍射线条数目、位置及其强 度上,如同指纹,反应每种物质的特征。
物相定性分析所应注意问题 (3)由于试样为多物相化合物,为尽可 能地避免衍射线的重叠,应提高粉末照 相或衍射仪的分辨率。 (4)对于数据d值,由于检索主要利用 该数据,因此处理时精度要求高,而且 在检索时,只允许小数点后第二位才能 出现偏差。

X射线物相定量分析

X射线物相定量分析

第五节 X 射线物相定量分析 一、基本原理定量分析的基本任务是确定混合物中各相的相对含量.............。

衍射强度理论指出,各相衍射线条的.......强度..随着该相在混合物中相对含量的增加而增强...................。

但不能直接用衍射峰的测量面积来求物相浓度,因为所测得的衍射强度........I .a .是经试样吸收之后表.........现出来的....,即衍射强度还强烈地依赖于吸收系数μ,而吸收系数也依赖于相浓度C a ,所以,要测a 相含量首先必须明确I a 、C a 、μ之间的关系。

由于衍射仪测量衍射强度比照相法方便简单、速度快、精确度高,且现在衍射仪的普及率已很高,因此定量相分析的工作基本上都用衍射仪进行。

由前面已知,平板状单相多晶体试样的衍射强度公式为:μθθθπλ21cos sin )2(cos 13222222022230⋅⋅⋅+⋅⋅⋅⋅⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⋅⋅=-M e P F V V mc e R I I 上式虽是从单相物质导出的,但只要作适当修改,就可以用于多相物质。

假设试样由几个相均匀混合而成,其线吸收系数为......................μ,其中第.....j .相所占的体.....积百分数为.....j f ,则上式中的......V .换为第...j .相的体积....V f V j j ⋅=,μ被看作混合试样.........的.线吸收系数.....,且令...V Rc m e I B ⋅⋅⋅=πλ3234240 实验条件有关的常数2cos sin )2(cos 1222202Mj e V P F C -⋅⋅+⋅⋅=θθθ与结构和实验条件有关则第j 相的某条衍射线强度Ij 可表示为μjj j f C B I ⋅⋅=式中B .是一个只与入射.......X .射.线强度I 0、X 射线波长λ、衍射仪圆的半径R 和受照射的试样体积V 等实验条件有关的常数;Cj ..只与..第.j .相的结构....及.实验条件....有.关,当该相的结构已知、实验条件选定后,...................Cj ..亦为可计算出的常数.........。

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2、测试方法及条件
因为衍射仪法中各衍射线不是同时测定的,所以要求仪器必须具有较 高的综合稳定性。
为获得良好的衍射谱线,要求衍射仪的扫描速度较慢,建议采用阶梯 扫描,时间常数要大。
最好选用晶体单色器,提高较弱衍射峰的峰形质量。
X射线定量物相分析所用的相对强度是相对积分强度。 多采用X射线衍射仪法进行测量,因为它可以方便、快速且准确地获 得测量结果。
物相定性分析过程
常规物相定性分析的步骤如下:
(1)实验 用粉末照相法或粉末衍射仪法获取
被测试样物相的衍射花样或图谱。
常规物相定性分析的步骤如下:
(2)通过对所获衍射图谱或花样的分析和
计算,获得各衍射线条的2θ,d 及相对强度
大小I/I1。在这几个数据中,要求对2θ和d 值
进行高精度的测量计算,而I/I1相对精度要求 不高。目前,一般的衍射仪均由计算机直接 给出所测物相衍射线条的d值。
j s
K值法与传统的内标法比较有下述几个优点:
j C 1)传统的内标法公式中, s 不仅与s、j两相本身性质有关,而且
j K 也随内标物质s的掺入量而变化,但K值法中 s 与s相的掺入量无
关,且为常数。
2)绘制内标法的定标曲线时一般至少要配制三个试样,在不同样 品中,s相重量分数要保持恒定,而j相含量在各试样中是不相同的。 用K值法测K值时,也要配制试样,但不要求s相恒定。也不要求j相 重量分数做有规律的变化。 3)k值有常数的意义。一个精确测定的k值具有普适性。而传统的 内标法的定标曲线没有普适性。随实验条件、样品的配制情况而定。 4)k值法能够确定样品中有无非晶物质并可确定非晶物质的含量。
由于定量分析计算中都是以强度比值的形式出现,因此利用以上两公 式中积分强度,其结果都是正确的。
1
石英(101)I/I
0
2
3
石英质量分数x
i
1--石英-氧化铍(µ > µ );2--石英 -方石英(µ = µ ); m石 m铍 m石 m方 3--石英-氧化钾(µ <µ ); m石 m氧
K值法
Ij Is
内标法实用公式
C j
j s
Ij
s K Is j
j s
K值法
内标法的一个重要缺点是常数 C 与标准物质S掺入量 s 有 关,1974年钟(F.H.Chung)对内标法加以改进,提出K值 法(亦称基体清洗法)消除了这个缺点,免却绘制定标曲线 的繁复过程,具有简便、快速、通用性好等特点。
物相分析根据衍射线条位置(一定,2角
就一定,它决定于结构的点阵面的d 值)和强
度确定物相。
物相分析原理:
将实验测定的衍射花样与已知标准物 质的衍射花样比较,从而判定未知物相。
混合试样物相的 X 射线衍射花样是各
个单独物相衍射花样的简单迭加,根据这
一原理,就有可能把混合物物相的各个物
相分析出来。
1)它的衍射线数目应尽量少,被选用的衍射强度应比较大,而 且与被测物质所选用的衍射线的角度尽量靠近,标准物质和被 测物质所选用的衍射线均不受其他衍射线的干扰。 2)它的线吸收系数应与被测物质的线吸收系数尽量接近。
3)化学稳定性好(不与氧、二氧化碳、水等在常温下起反应),
无毒,纯度在99%以上。 4)易于得到,价格便宜。 根据上述要求可选用下列物质作为标准物质:α -Al2O3,ZnO, TiO2(金红石),Cr2O3及CeO2等。
号在卡片库中取出此PDF卡片。
(4)若是多物相分析,则在(3)步
完成后,对剩余的衍射线重新根据相 对强度排序,重复(3)步骤,直至
全部衍射线能基本得到解释。
常 规 衍 射 仪 所 采 取 的 检 索 程 序 框 图
计算机检索程序框图
物相定性分析所应注意问题
(1)一般在对试样分析前,应尽可能详
细地了解样品的来源、化学成分、工艺状
组成和晶体结构,不会存在两种结晶物质
的晶胞大小、质点种类和质点在晶胞中的
排列方式完全一致的物质;
2)结晶物质有自己独特的衍射花样。
( d、 θ 和 I) ;
3)多种结晶状物质混合或共生,它们 的衍射花样也只是简单叠加,互不干
扰,相互独立。(混合物物相分析)
每一种结晶物质都有其特定的结构参数,包 括点阵类型、晶胞大小、晶胞形状、晶胞中原 子种类及位置等。 与结构有关的信息都会在衍射花样中得到 体现,首先表现在衍射线条数目、位置及其强 度上,如同指纹,反应每种物质的特征。
(3)使用检索手册,查寻物相PDF卡片号
根据需要使用字母检索、Hanawalt检索或 Fink检索手册,查寻物相PDF卡片号。一般长 采用Hanawalt检索,用最强线d值判定卡片所 处的大组,用次强线d值判定卡片所在位置, 最后用8条强线d值检验判断结果。若8强线d值 均已基本符合,则可根据手册提供的物相卡片
3) 高聚物材料一般是晶态和非晶态共存
(两相模型)既有非晶漫散射,也有锐衍
射峰,强衍射峰总邻近非晶漫散射极大强
度处附近出现;
4) 也可以是某种程度的有序,如纤维素,
具有一定锐度的漫散射;也可以是完全的
非晶态,如PS,散射强度分布相当漫散。
X射线物相定量分析 物相衍射线的强度或相对强度与物 相在样品中的含量相关。
衍射峰积分强度,实际就是衍射峰背底以上的净峰形面积。
具体做法是:首先在整个衍射谱线中确定出待测的衍射峰位,在其左右 两边分别保留一段衍射背底,以保证该衍射峰形的完整性,如图。
ˊ Iˊ i
积分强度 Iˊ
ˊ Iˊ m ˊ Iˊ 1

1


i
m
可采用以下公式计算积分强度 I’ 值
I
'
I I
该数据,因此处理时精度要求高,而且 在检索时,只允许小数点后第二位才能 出现偏差。
(5)特别要重视低角度区域的衍射实验数据, 因为在低角度区域,衍射所对应d值较大的晶 面,不同晶体差别较大,衍射线相互重叠机会 较小。 (6)在进行多物相混合试样检验时,应耐心 细致进行检索,力求全部数据能合理解释,但 有时也会出现少数衍射线不能解释的情况,这 可能由于混合物相中,某物相含量太少,只出 现一、二级较强线,以致无法鉴定。
常用物相定量分析基本原理
粉末平板状样品 :
2 L e4 3 V 1 cos 2 2 I I0 2 4 2 P F 2 A e 2 M 32 R mc V0 sin cos
K1C I
式中:K1为未知的常数
常用物相定量分析方法:
内标法(掺和法)、K值法
况,仔细观察其外形、颜色等性质,为其
物相分析的检索工作提供线索。
(2)尽可能地根据试样的各种性能,在
许可的条件下将其分离成单一物相后进行
衍射分析。
物相定性分析所应注意问题 (3)由于试样为多物相化合物,为尽可
能地避免衍射线的重叠,应提高粉末照
相或衍射仪的分辨率。
(4)对于数据d值,由于检索主要利用
m i 1 '' i
'' m
I
'' 1
2
i
21 2 m 21 2

式中 m 为衍射峰形区间的采集数据点数,i 为采集数据点的序号,i =1 及 m 分别为衍射峰左右边的数据点,2θ 及 I ’’ 分别对应点的衍射角和 i i 计数强度,δ (2θ ) 扫描步进角(如0.01o)。
如图3-42为石英定量分析的定标曲线,以萤石为内标物相。 对于掺入的内标物,通常要求物理、化学稳定性高,其特征线 与待测j相及其它物相衍射线无干扰。
直接对比法:
是以原始试样中另一个相的某根衍射线条
作为参考线条,不必掺入外来标准物质, 而获得待测相含量的一种方法。
直接对比法
粉末平板状样品 :
2 L e4 3 V 1 cos 2 2 I I0 2 4 2 P F 2 A e 2 M 32 R mc V0 sin cos
L e4 3 G I0 2 4 mc 式中: 32R
2 1 1 cos 2 2 M C 2 PF 2 2 e V0 sin cos
I=G · C· A (θ) · V
V是被 X 射线照射的样品体积。
实验条件固定时,G为常数。A(θ)为吸收因子,
试总结多相物质物相定性分析中可能遇到的困难。
j K 求出待测样品中各物相的 s 值,然后按7-7式测定样品
各相的 W j ,如果最后得到的各相重量分数的和小于1, 即 <1(n表示分析样品中的相数),则表明样品中
有非晶物质或者有被漏掉的未探测出的少量相,所以在定 性相分析结果很可靠时,利用k值法可测定样品中非晶物 质的量。
选择标准物质时应注意以下几点:
物相定性、定量分析
衍射图谱及其测量
X射线物相定性分析
物相分析是为了确定待测样品的结 构状态,同时也确定了物质的种类。 定量分析 -- 多相共存时,组成相
含量是多少。
粉末晶体X 射线物相定性分析是根据晶
体对X射线的衍射特征即衍射线的方向及
强度来达到鉴定结晶物质的。
原因:
1)每一种结晶物质都有各自独特的化学
外标法:(单线条法、直接对比法)
单线条法:
是把多相混合物中待测相的某根衍射线强

Ia
与该相纯试样的同指数衍射强度 I a 0
相比较而获得待测相含量的一种方法。
Ia a ma I a 0 a ma m m
内标法(掺和法):
是把试样中待测相的某根衍射线条强度与 掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍 射线条强度相比较,而获得待测相含量的 一种方法。
I i 1 I I I
' m '' i '' m
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