晶体电光调制实验-实验讲义

合集下载

电光调制实验指导书V1.0

电光调制实验指导书V1.0

实验指南一、实验目的1、掌握晶体电光调制的原理和实验方法;2、观察电光调制实验现象,并测量电光晶体的各参数。

3、实现模拟光通讯.二、实验内容1、观察电光调制现象2、计算电光晶体的消光比,透过率,测量晶体的半波电压。

3、进行电光调制与光通讯实验演示三、实验仪器1、光学导轨 1套2、X 轴一维调节滑座 2个3、基本滑座 4个4、起偏器及手动X轴旋转架 1个5、检偏器及手动X轴旋转架 1个6、λ/4 波片及手动X轴旋转架 1个7、He-Ne 激光器 1个8、He-Ne 激光器电源 1个9、电光调制器 1个10、硅光电探测器 1个11、电光调制实验仪信号源 1个12、三相电源线 1根13、音频转接线 1根14、BNC 屏蔽连接线 2根15、有源音箱 1个16、实验指导书 1份17、双踪示波器 1个18、声音源(收音机、MP3 等等) 1个四、实验步骤1.按照系统连接方法将激光器,电光调制器,光电探测器等部件连接到位。

系统连接方法如图4,其中电光调制器的滑动座是二维移动平台,与其他的滑动座有所不同。

其中,信号源面板如图5。

在信号源面板上,“波形切换”开关用于选择输出正弦波或是方波,“信号输出”口用于输出晶体调制电压,若“高压输出开关”拨向上为打开,拨向下为关闭。

如果拨向上那么输出的调制电压上就会叠加一个直流偏压,用于改变晶体的调制曲线,“音频选择”开关用于选择调制信号为正弦波还是外接音频信号,“探测信号”口接光电探测器的输出,对探测器输入的微弱信号进行处理后通过“解调信号”口输出,连接至有源扬声器上。

在具体的连接中,“信号输出”的CH1与CH2输出的信号完全一样,将一个输出连接示波器,另一个输出连接电光调制器。

在观察电光调制现象时,需要使用一个带衰减的探头,连接时,探头的黑色鳄鱼夹连接至前面两根线的黑色鳄鱼夹,探针接红色鳄鱼夹(在测量时,探头应10倍衰减)。

硅光电探测器通过一根两端都是BNC 头的连接线连接至示波器上。

电光调制实验实验报告

电光调制实验实验报告

电光调制实验实验报告【实验目的】1、掌握晶体电光调制的原理和实验方法2、学会利用实验装置测量晶体的半波电压,计算晶体的电光系数3、观察晶体电光效应引起的晶体会聚偏振光的干涉现象【实验仪器】铌酸锂晶体,电光调制电源,半导体激光器,偏振器,四分之一波片,接收放大器,双踪示波器【实验内容及步骤】一、调整光路系统1、调节三角导轨底角螺丝,使其稳定于调节台上。

在导轨上放置好半导体光源部分滑块,将小孔光栏置于导轨上,在整个导轨上拉动滑块,近场远场都保证整个光路基本处于一条直线,即使光束通过小孔。

放上起偏振器,使其表面与激光束垂直,且使光束在元件中心穿过。

再放上检偏器,使其表面也与激光束垂直,转动检偏器,使其与起偏器正交,即,使检偏器的主截面与起偏器的主截面垂直,这时光点消失,即所谓的消光状态。

2、将铌酸锂晶体置于导轨上,调节晶体使其x轴在铅直方向,使其通光表面垂直于激光束(这时晶体的光轴与入射方向平行,呈正入射),这时观察晶体前后表面查看光束是否在晶体中心,若没有,则精细调节晶体的二维调整架,保证使光束都通过晶体,且从晶体出来的反射像与半导体的出射光束重合。

3、拿掉四分之一波片,在晶体盒前端插入毛玻璃片,检偏器后放上像屏。

光强调到最大,此时晶体偏压为零。

这时可观察到晶体的单轴锥光干涉图,即一个清楚的暗字线,它将整个光场分成均匀的四瓣,如果不均匀可调节晶体上的调整架。

如图四所示4、旋转起偏器和检偏器,使其两个相互平行,此时所出现的单轴锥光图与偏振片垂直时是互补的。

如图五所示图四图五6、晶体加上偏压时呈现双轴锥光干涉图,说明单轴晶体在电场作用下变成双轴晶体,即电致双折射。

如图六所示7、改变晶体所加偏压极性,锥光图旋转90度。

如图七所示图六图七8 只改变偏压大小时,干涉图形不旋转,只是双曲线分开的距离发生变化。

这一现象说明,外加电场只改变感应主轴方向的主折射率的大小、折射率椭球旋转的角度和电场大小无关。

二、依据晶体的透过率曲线(即T-V曲线),选择工作点。

晶体的电光效应实验报告

晶体的电光效应实验报告

晶体的电光效应实验报告晶体的电光效应实验报告引言:晶体是一种具有有序排列的原子、离子或分子的固体物质。

它们在光学、电子学和通信等领域中具有重要的应用。

本实验旨在探究晶体的电光效应,通过实验观察和数据分析,深入了解晶体在电场作用下的光学行为。

实验装置和步骤:实验装置包括:晶体样品、光源、电源、电极、偏振片等。

实验步骤如下:首先,将晶体样品放置在实验台上,并连接电源和电极;然后,使用光源照射晶体样品,并通过偏振片调节光的偏振方向;最后,记录观察到的光学现象,并根据实验数据进行分析和解释。

实验结果:在实验过程中,我们观察到了晶体的电光效应。

当电场施加到晶体上时,晶体的折射率发生了变化,导致光线的传播速度发生改变。

这种现象称为克尔效应。

通过调节电场的强度,我们发现晶体的折射率随电场的变化而变化,进一步验证了克尔效应。

此外,我们还观察到了晶体的双折射现象。

在无电场作用下,晶体的折射率相同,光线以相同的速度传播。

然而,在电场的作用下,晶体的折射率变化,光线被分成了两束,分别沿着不同的方向传播。

这种现象称为晶体的双折射现象,也是晶体的电光效应的重要表现形式之一。

数据分析:通过实验测量和数据分析,我们可以得出晶体的电光效应与电场强度之间存在一定的关系。

随着电场强度的增加,晶体的折射率也随之增加。

这种关系可以通过线性拟合得到一条直线,从而可以预测在不同电场强度下晶体的折射率。

此外,我们还可以通过实验数据计算晶体的电光系数。

电光系数是衡量晶体电光效应强弱的指标,它描述了晶体折射率随电场变化的程度。

通过实验测量晶体在不同电场下的折射率,并将其与电场强度进行对比,我们可以计算出晶体的电光系数。

讨论和结论:通过本实验,我们深入了解了晶体的电光效应。

晶体在电场作用下表现出的克尔效应和双折射现象,为我们理解晶体在光学领域的应用提供了重要的实验基础。

此外,我们还发现晶体的电光效应与电场强度之间存在一定的关系,并通过实验数据计算出晶体的电光系数。

铌酸锂晶体电光调制器的性能测试---OK

铌酸锂晶体电光调制器的性能测试---OK

铌酸锂(LiNbOJ晶体电光调制器的性能测试铌酸锂(LiNbO3)晶体是目前用途最广泛的新型无机材料之一,它是很好的压电换能材料,铁电材料,电光材料,非线性光学材料及表面波基质材料。

电光效应是指对晶体施加电场时,晶体的折射率发生变化的效应。

有些晶体内部由于自发极化存在着固有电偶极矩,当对这种晶体施加电场时,外电场使晶体中的固有偶极矩的取向倾向于一致或某种优势取向,因此,必然改变晶体的折射率,即外电场使晶体的光率体发生变化。

铌酸锂调制器,应具有损耗低、消光比高、半波电压低、电反射小的高可靠性的性能。

【实验目的】1•了解晶体的电光效应及电光调制器的基本原理性能.2.掌握电光调制器的主要性能消光比和半波电压的测试方法3.观察电光调制现象【实验仪器】1 .激光器及电源2.电光调制器(铌酸锂)3.电光调制器驱动源4.检流计5.示波器6.音频输出的装置7 .光具台及光学元件【实验原理】1 •电光效应原理某些晶体在外电场作用下,构成晶体的原子、分子的排列和它们之间的相互作用随外电场E的改变发生相应的变化,因而某些原来各向同性的晶体,在电场作用下,显示出折射率的改变。

这种由于外电场作用而引起晶体折射率改变的现象称为电光效应。

折射率N和外电场E的关系如下:1 1 2—2=rE RE 上上(1)n n°式中,n0为晶体未加外电场时某一方向的折射率,r是线性电光系数,R是二次电光系数。

通常把电场一次项引起的电光效应叫线性电光效应,又称泡克尔斯效应;把二次项引起的电光效应叫做二次电光效应,又称克尔效应。

其中,泡克尔斯效应只在无对称中心的晶体中才有,而克尔效应没有这个限制。

只有在无对称中心的晶体中,与泡克尔斯效应相比,克尔效应较小,通常可忽略。

目前普遍采用线性电光效应做电光调制器,这样就不再考虑( 1)式中电场E的二次项和高次项。

因此(1)式为:1 1 1=rE (2)--2n n n0利用电光效应可以控制光的强度和位相,其在光电技术中得到广泛的应用,如激光通讯、激光显示中的电光调制器、激光的Q开关、电光偏转等。

实验六铌酸锂晶体横向电光调制实验

实验六铌酸锂晶体横向电光调制实验

实验六铌酸锂晶体横向电光调制实验实验六铌酸锂晶体横向电光调制实验一、实验目的:1、了解电光调制的基本原理及铌酸锂晶体横向调制的基本机构。

2、掌握铌酸锂电光调制器的调试方法并测量和计算晶体的特性参数。

二、实验仪器: 晶体电光调制器,电光调制电源,He-Ne激光器,双线示波器和万用表等。

三、实验原理:1、激光调制激光调制,就是以激光作载波,将要传输的信号加载于激光辐射的过程。

分为内调制和外调制。

内调制是加载调制信号在激光振荡器的过程中进行的,按调制信号的规律改变振荡参数,从而改变激光的输出特性并实现调制。

外调制是指加载调制信号在激光形成之后进行,其方法是在激光器谐振腔外的电路上放置调制器,调制器上加调制信号电压,使调制器的物理特性(如电光调制效应等)发生相应的变化,当激光通过时即得到调制。

其中强度调制是激光是使激光载波的电矢量平方比例于调制信号。

因为对光的调制比较容易实现,而且光接受器通常都是根据它所接收的光辐射功率而产生相应的电信号的,因此,强度调制是各种激光调制方法中用的比较多的一种。

电光强度调制器是利用某些晶体的电光效应,在晶体上加调制信号电压后,通过晶体的激光束的振幅或相位就随着信号电压而变化。

2、铌酸锂晶体的一次电光效应给晶体外加电场时,晶体的折射率将发生变化,这种现象成为电光效应。

外电场E引起的折射率变化关系式为:2???????? (1) n,n,aE,bE,0n其中a、b为常数,是E=0时的折射率。

由一次项引起的折射率变aE038化的效应,称为一次电光效应或电光效应,也称普朗克(Pokell)效应。

一次2电光效应只存在于二十类无对称中心的晶体中。

由二次项引起的折射率变bE 化的效应,称为二次电光效应也称平方电光效应或克尔(Kerr)效应,二次电光效应则可能存在于任何物质中。

一般一次电光效应要比二次电光效应显著的多。

电光效应在工程技术中有着广泛的应用。

通常用折射率椭球的变化来分析。

晶体在未加电场时的折射率椭球方程为:222xyz (2) ,,,1222nnnxyz式中n、n、n分别为三个主轴x、y、z上的主折射率。

实验21 电光调制

实验21 电光调制

示波器
图 4 系统连接方法
-4-
图 5 信号源面板 其中,信号源面板如图 5 。在信号源面板上, “波形切换”开关用于选择输出正弦波或是方波, “信 号 输 出 ”口 用 于输 出 晶体 调 制 电压 , 若“ 高 压输 出 开 关” 拨 向上 为 打开 , 拨 向下 为 关闭 。 如果 拨 向 上 那么输出的调制电压上就会叠加一个直流偏压,用于改变晶体的调制曲线, “音频选择”开关用于选 择 调制信号为正弦波还是外接音频信号, “探测信号”口接光电探测器的输出,对探测器输入的微弱信 号 进行处理后通过“解调信号”口输出,连接至有源扬声器上。 在具体的连接中, “信号输出”的 CH1 与 CH2 输出的信号完全一样,将一个输出连接示波器,另一 个 输 出 连接 电 光调 制 器。 在 观 察电 光 调制 现 象时 , 需 要使 用 一个 带 衰减 的 探 头, 连 接时 , 探头 的 黑 色 鳄鱼夹连接至前面两根线的黑色鳄鱼夹,探针接红色鳄鱼夹(在测量时,探头应 10 倍衰减) 。硅光 电 探测器通过一根两端都是 BNC 头的连接线连接至示波器上。在进行音频实验时,则不需要示波器, 且 硅 光 电 探测 器 连接 至 信号 源 “ 探测 信 号” 口 , “解 调 信 号” 接 至有 源 音箱 。 “ 音频 输 入” 接 外加音 频 信 号。 2. 光路 准直 打 开 激 光 器电 源 ,调 节光 路 , 保 证光 线 沿光 轴通 过 。 在 光路 调 节过 程中 , 先 将 波片 , 起偏 器和 检 偏 器 移 走, 调 整激 光 管, 电 光 晶体 和 探测 器 三者 的 相 对位 置 ,使 激 光能 够 从 晶体 光 轴通 过 ;调 整 好 之 后 , 再 将波 片 ,起 偏 器和 检 偏 器放 回 原位 , 再调 节 它 们的 高 度, 因 为它 们 的 通光 孔 很大 , 调节 相 对 容 易。调节完毕后,锁紧滑动座和固定各部件。 3. 1/4 波片对调 制的影响 将 信 号 源 输出 的 正弦 波信 号 加 在 晶体 上 ,并 将探 测 器 输 出的 信 号接 到示 波 器 上 ,调 节 波片 ,观 察 输 出 信 号的 变 化, 记 下调 节 最 佳时 输 出信 号 的幅 值 ; 改变 信 号源 输 出信 号 的 幅值 与 频率 , 观察 探 测 器 输出信号的变化;去掉 1/4 波片,加上直流偏压,改变其大小,观察输出信号的变化,并与加波片 的 情况进行比较。 4. 静态 特性曲线测量 测量晶体的半波电压采用极值法,即晶体上只加直流电压,不加交流信号,把直流电压从小到大逐

实验二电光调制实验

实验二电光调制实验

一、實驗目的:1.了解熟悉電光效應(Electro-Optical Effect)。

2.接觸非線性光學(Nonlinear Optics)題材。

二、實驗內容:1.KDP光調製(EOM)組基本特性的測量。

2.EOM對頻率的響應。

三、實驗器材:1.He-Ne laser2.Polarizer (P1, P2)3.Pockels cell (內為KDP晶體)4.高壓電源供應器5.光度計6.光具座7.示波器8.波形產生器9.信號放大器 (OP amp)四、原理:1.電光晶體中的折射率分布可用橢球表示如下2.若外加電場,則會使折射率改變,方程式必須改變為3.外加電場與折射率的關係可用矩陣表示如r ij為電光係數4.利用晶體的對稱性可使多個電光係數為零,故矩陣成為5.若電場只加在Z軸上,則橢球方程式為:由此可知外加電場在Z軸上,會使橢球繞Z軸轉動一個角度θ,X軸及Y 軸轉到了X’及Y’6.其中座標轉換的關係式為7.代入橢球方程式若θ=45°8.與正橢球比較由近似可得------(*)9. 橫向效應用45°-Z 切割的晶體,在Z 軸加上電場使晶體成為電致雙晶軸晶體。

因晶體是45°切割,所以新建立的光軸X ’、Y ’就是立方體的邊。

將一平面偏極光垂直Y ’Z 平面入射,因偏振面與Z 軸夾了45°角且'Y Z n n ,因此光波會被分成E z 及E Y ’兩個分量。

在通過晶體之後,兩分量之間的相位差為將(*)代入式子的第一項是晶體的自然雙折射效應所造成的相位移,其對溫度極敏感,所以一般我們都是將此種晶體成對使用。

圖1 KDP 自然雙折射的利用裝置圖10.垂直偏極光與水平偏極光通過晶體之後所造成的相位延遲為其相位差為因此只要提高dl的值即可降低趨動電壓,且外加電場與入射光方向垂直,所以不需用到透明電極,可大幅降低成本。

五、 裝置圖:1. KDP 光調製(EOM)組,基本特性的測量:圖2電光調制實驗裝置圖2. 加補償器之裝置圖圖3 加補償器的裝置圖六、實驗步驟:1.KDP光調製(EMO)組,基本特性量測:(1)依照圖2.1的次序,將各光學元件與電路安裝完成,且完成光學路徑的準直工作。

晶体电光调制实验报告数据处理

晶体电光调制实验报告数据处理

实验一电光调制一、实验目的:1.了解电光调制的工作原理及相关特性;2.掌握电光晶体性能参数的测量方法;二、实验原理简介:某些光学介质受到外电场作用时,它的折射率将随着外电场变化,介电系数和折射率都与方向有关,在光学性质上变为各向异性,这就是电光效应。

电光效应有两种,一种是折射率的变化量与外电场强度的一次方成比例,称为泡克耳斯(Pockels)效应;另一种是折射率的变化量与外电场强度的二次方成比例,称为克尔(Kerr)效应。

利用克尔效应制成的调制器,称为克尔盒,其中的光学介质为具有电光效应的液体有机化合物。

利用泡克耳斯效应制成的调制器,称为泡克耳斯盒,其中的光学介质为非中心对称的压电晶体。

泡克耳斯盒又有纵向调制器和横向调制器两种,图1是几种电光调制器的基本结构形式。

图1:几种电光调制器的基本结构形式a) 克尔盒 b) 纵调的泡克耳斯盒 c) 横调的泡克耳斯盒当不给克尔盒加电压时,盒中的介质是透明的,各向同性的非偏振光经过P后变为振动方向平行P光轴的平面偏振光。

通过克尔盒时不改变振动方向。

到达Q时,因光的振动方向垂直于Q光轴而被阻挡(P、Q分别为起偏器和检偏器,安装时,它们的光轴彼此垂直。

),所以Q没有光输出;给克尔盒加以电压时,盒中的介质则因有外电场的作用而具有单轴晶体的光学性质,光轴的方向平行于电场。

这时,通过它的平面偏振光则改变其振动方向。

所以,经过起偏器P产生的平面偏振光,通过克尔盒后,振动方向就不再与Q光轴垂直,而是在Q光轴方向上有光振动的分量,所以,此时Q就有光输出了。

Q的光输出强弱,与盒中的介质性质、几何尺寸、外加电压大小等因素有关。

对于结构已确定的克尔盒来说,如果外加电压是周期性变化的,则Q的光输出必然也是周期性变化的。

由此即实现了对光的调制。

泡克耳斯盒里所装的是具有泡克耳斯效应的电光晶体,它的自然状态就有单轴晶体的光学性质,安装时,使晶体的光轴平行于入射光线。

因此,纵向调制的泡克耳斯盒,电场平行于光轴,横向调制的泡克耳斯盒,电场垂直于光轴。

晶体电光调制实验

晶体电光调制实验

晶体电光调制实验【实验目的】1. 掌握晶体电光调制的原理和实验方法。

2. 学会用简单的实验装置测量晶体半波电压、电光常数的实验方法。

3. 观察电光效应所引起的晶体光学特性的变化和会聚偏振光的干涉现象。

【实验仪器】晶体电光调制电源、铌酸锂(LiNbO 3)电光晶体、He-Ne 激光器及可调电源、可旋转偏振片、格兰棱镜、光电接收器、有源音响【实验原理】1.一次电光效应和晶体的折射率椭球当给晶体或液体加上电场后,该晶体或液体的折射率发生变化,这种现象成为电光效应。

电光效应在工程技术和科学研究中有许多重要应用,它有很短的响应时间(可以跟上频率为1010Hz 的电场变化),可以在高速摄影中作快门或在光速测量中作光束斩波器等。

在激光出现以后,电光效应的研究和应用得到迅速的发展,电光器件被广泛应用在激光通讯、激光测距、激光显示和光学数据处理等方面。

光在各向异性晶体中传播时,因光的传播方向不同或者是电矢量的振动方向不同,光的折射率也不同。

在主轴坐标中,折射率椭球及其方程为1232222212=++n z n y n x (1)式中n1、n2、n3为椭球三个主轴方向上的折射率,称为主折射率。

当晶体加上电场后,折射率椭球的形状、大小、方位都发生变化,椭球方程变成1222212213223233222222112=+++++n xy n xz n yz n z n y n x(2)晶体的一次电光效应分为纵向电光效应和横向电光效应两种。

纵向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播的方向平行时产生的电光效应;横向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播方向垂直时产生的电光效应,本实验研究铌酸锂晶体的一次电光效应。

铌酸锂晶体属于三角晶系,3m 晶类,主轴z 方向有一个三次旋转轴,光轴与z 轴重合,是单轴晶体,折射率椭球是旋转椭球,其表达式为1222022=++e n z n y x (3)式中n0和ne 分别为晶体的寻常光和非常光的折射率。

试验五铌酸锂晶体横向电光调制试验-EDNChina电子技术设计

试验五铌酸锂晶体横向电光调制试验-EDNChina电子技术设计

实验六 铌酸锂晶体横向电光调制实验一、实验目的:1、了解电光调制的基本原理及铌酸锂晶体横向调制的基本机构。

2、掌握铌酸锂电光调制器的调试方法并测量和计算晶体的特性参数。

二、实验仪器:晶体电光调制器,电光调制电源,He-Ne 激光器,双线示波器和万用表等。

三、实验原理:1、激光调制激光调制,就是以激光作载波,将要传输的信号加载于激光辐射的过程。

分为内调制和外调制。

内调制是加载调制信号在激光振荡器的过程中进行的,按调制信号的规律改变振荡参数,从而改变激光的输出特性并实现调制。

外调制是指加载调制信号在激光形成之后进行,其方法是在激光器谐振腔外的电路上放置调制器,调制器上加调制信号电压,使调制器的物理特性(如电光调制效应等)发生相应的变化,当激光通过时即得到调制。

其中强度调制是激光是使激光载波的电矢量平方比例于调制信号。

因为对光的调制比较容易实现,而且光接受器通常都是根据它所接收的光辐射功率而产生相应的电信号的,因此,强度调制是各种激光调制方法中用的比较多的一种。

电光强度调制器是利用某些晶体的电光效应,在晶体上加调制信号电压后,通过晶体的激光束的振幅或相位就随着信号电压而变化。

2、铌酸锂晶体的一次电光效应给晶体外加电场时,晶体的折射率将发生变化,这种现象成为电光效应。

外电场E 引起的折射率变化关系式为:+++=20bE aE n n (1)其中a 、b 为常数,0n 是E=0时的折射率。

由一次项aE 引起的折射率变化的效应,称为一次电光效应或电光效应,也称普朗克(Pokell )效应。

一次电光效应只存在于二十类无对称中心的晶体中。

由二次项2bE 引起的折射率变化的效应,称为二次电光效应也称平方电光效应或克尔(Kerr )效应,二次电光效应则可能存在于任何物质中。

一般一次电光效应要比二次电光效应显著的多。

电光效应在工程技术中有着广泛的应用。

通常用折射率椭球的变化来分析。

晶体在未加电场时的折射率椭球方程为: 1222222=++z y xn z n y n x (2) 式中n x 、n y 、n z 分别为三个主轴x 、y 、z 上的主折射率。

晶体的电光调制效应

晶体的电光调制效应

晶体的电光调制效应晶体电光调制实验讲义引言激光是一种光频电磁波,具有良好的相干性,与无线电波相似,可用来作为传递信息的载波。

激光具有很高的频率(约10 10Hz ),可供利用的频带很宽,故传递信息的容量很大。

再有,光具有极短的波长和极快的传递速度,加上光波的独立传播特性,可以借助光学系统把一个面上的二维信息以很高的分辨率瞬间传递到另一个面上,为二位并行光信息处理提供条件。

所以激光是传递信息的一种很理想的光源。

电光效应在工程技术和科学研究中有许多重要应用,它有很短的响应时间(可以跟上10HZ 的电场变化),可以在高速摄影中作快门或在光速测量中作光束斩波器等。

在激光出现以后,电光效应的研究和应用得到迅速的发展,电光器件被广泛应用在激光通讯,激光测距,激光显示和光学数据处理等方面。

要用激光作为信息的载体,就必须解决如何将信息加到激光上去的问题。

例如激光电话,就需要将语言信息加在与激光,由激光“携带”信息通过一定的传输通道送到接收器,再由光接收器鉴别并还原成原来的信息。

这种将信息加在与激光的过程称之为调制,到达目的地后,经光电转换从中分离出原信号的过程称之为解调。

其中激光称为载波,起控制作用的信号称之为调制信号。

与无线电波相似的特性,激光调制按性质分,可以采用连续的调幅、调频、调相以及脉冲调制等形式。

但常采用强度调制。

强度调制是根据光载波电场振幅的平方比例于调制信号,使输出的激光辐射强度按照调制信号的规律变化。

激光之所以常采用强度调制形式,主要是因为光接收器(探测器)一般都是直接地响应其所接收的光强度变化的缘故。

一实验目的1. 掌握晶体电光调制的原理和实验方法2. 学会利用实验装置测量晶体的半波电压,计算晶体的电光系数3. 观察晶体电光效应引起的晶体会聚偏振光的干涉现象二实验仪器铌酸锂晶体,电光调制电源,半导体激光器,偏振器,四分之一波片,接收放大器,双踪示波器激光光源:半导体激光器,激光波长:650~680nm ,激光功率:0~2.5mW 连续可调,偏置电压:±0~400V 连续可调,调制方式: 横向调制;调制晶体:铌酸锂晶体50mm×6mm ×1.7mm ;调制波形:1KHz 正弦波或其他波形;三实验原理某些晶体(固体或液体)在外加电场中,随着电场强度E 的改变,晶体的折射率会发生改变,这种现象称为电光效应。

晶体电光调制实验 ppt

晶体电光调制实验 ppt

附加:实验设计原因
• 通过了解发现经激光通过晶体会产生双折射现象,而且产生晶体通电 会使光轴发生变化。本实验就是要把双折射现象现象出来。
• 因为o光e光的相位差一定,频率相同。所以通过干涉现象来观察双折 射现象。
五、实验内容及操作
1. 光路系统的调解:
I. 调解三角导轨底角螺丝,且使整个光路基本处于一条 直线,即保证光束通过各小孔
注:o光和e光都是线偏振光。
3、电光调制原理
• 晶体的一次电光效应分为纵向电光效应和横 向电光效应两种。
• 纵向电光效应是加在晶体上的电场方向与光 在晶体里传播方向平行时产生的电光效应。
• 横向电光效应是加在晶体上的电场方向与光 在晶体里传播方向垂直时产生的电光效应。
• 通常,KD*P类型晶体用它的纵向电光效应, 铌酸锂类型晶体用它的横向电光效应。
电压 4 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 11 23 4 5 6 7 8 9 0 1 2 0 05 00 0 0 0 0 0 0 0 0 0
4. 1/4波片改变特性
• 在实验中,去掉直流偏压,把四分之一波片置入 晶体和偏振片之间,缓慢转动波片,观察输出波 形的变化。
II. 将起偏器与检偏器调节成相互垂直(即偏振方向相互 正交),此时光点消失,即消光状态.
III. 将铌酸锂晶体放在起偏器于检偏器之间,调解晶体支 架,使晶体光轴即Z轴与激光束平行
判断是否平行的方法:
方一、将像屏放在检偏器之后,如果能观察到由于锥 光干涉产生的十字阴影,且激光束大致处在正中心时, 即可;方法二、观察晶体前后表面查看光束是否在晶 体中心,若没有,细调晶体的二维调整架即可。 IV. 具体元件及排列顺序见附图:实验设计

电光调制实验报告(1)

电光调制实验报告(1)

光电工程学院2013 / 2014学年第 2 学期实验报告课程名称:光电子基础实验实验名称:电光调制实验班级学号 1213032809 学生姓名丁毅指导教师孙晓芸日期:2014年 5 月07 日电光调制实验【实验目的】1、掌握晶体电光调制的原理和实验方法;2、学会用实验装置测量晶体的半波电压,绘制晶体特性曲线,计算电光晶体的消光比和透射率。

【实验仪器及装置】电光调制实验仪(半导体激光器、起偏器、电光晶体、检偏器、光电接收组件等)、示波器。

实验系统由光路与电路两大单元组成,如图3.1所示:图3.1 电光调制实验系统结构一、光路系统由激光管(L)、起偏器(P)、电光晶体(LN)、检偏器(A)与光电接收组件(R)以及附加的减光器(P1)和λ/4波片(P2)等组装在精密光具座上,组成电光调制器的光路系统。

注:•本系统仅提供半导体激光管(包括电源)作为光源,如使用氦氖激光管或其他激光源时,需另加与其配套的电源。

•激光强度可由半导体激光器后背的电位器加以调节,故本系统未提供减光器(P1)。

•本系统未提供λ/4波片(P2)即可进行实验,如有必要可自行配置。

二、电路系统除光电转换接收部件外,其余包括激光电源、晶体偏置高压电源、交流调制信号发生、偏压与光电流指示表等电路单元均组装在同一主控单元之中。

图3.2 电路主控单元前面板图3.2为电路单元的仪器面板图,其中各控制部件的作用如下:•电源开关用于控制主电源,接通时开关指示灯亮,同时对半导体激光器供电。

•晶体偏压开关用于控制电光晶体的直流电场。

(仅在打开电源开关后有效)•偏压调节旋钮调节直流偏置电压,用以改变晶体外加直流电场的大小。

•偏压极性开关改变晶体的直流电场极性。

•偏压指示数字显示晶体的直流偏置电压。

•指示方式开关用于保持光强与偏压指示值,以便于读数。

•调制加载开关用于对电光晶体施加内部的交流调制信号。

(内置1KHz的正弦波)•外调输入插座用于对电光晶体施加外接的调制信号的插座。

【精选】9、晶体的声光调制河南理工

【精选】9、晶体的声光调制河南理工

晶体的声光调制一、实验目的1. 掌握晶体电光调制的原理和实验方法2. 观察晶体声光效应引起的晶体布拉格衍射现象3. 通过示波器比较声光调制实现对光信号的调制二、实验仪器晶体声光调制器, 声光调制电源,半导体激光器, 小孔光阑,光电转换器,双踪示波器三、实验原理早在本世纪30年代就开始了声光衍射的实验研究。

60年代激光器的问世为声光现象的研究提供了良好的光源,促进了声光效应理论和应用研究的迅速发展。

声光效应为控制激光束的频率、方向和强度提供了一个有效的手段。

利用声光效应制成的声光器件,如声光调制器、声光偏转器和可调谐滤光器等,在激光技术、光信号处理和集成光通讯技术等方面有着重要应用。

声光效应已广泛用于声学、光学和光电子学。

近年来,随着声光技术的不断发展,人们已广泛地开始采用声光器件在激光腔内进行锁膜或作为连续器件的Q开关。

由于声光器件具有输入电压低、驱动功率小、温度稳定性好、能承受较大光功率、光学系统简单、响应时间快、控制方便等优点,加之新一代的优质声光材料的发现,使声光器件具有良好的发展前景,它将不断地满足工业、科学、军事等方面的要求。

若有一超声波通过某种均匀介质,介质材料在外力作用下发生形变,分子间因互相作用力发生改变而产生相对位移,将引起介质内部密度的起伏或周期性变化,密度大的地方折射率大,密度小的地方折射率小,即介质折射率发生周期性改变。

这种由于外力作用而引起折射率变化的现象称为弹光效应。

弹光效应存在于一切物态。

如上所述,当声波通过介质传播时,介质就会产生和声波信号相应的、随时间和空间周期性变化的密度变化。

这部分受扰动的介质等效为一个“相,这种光栅称为超声光栅。

声波在介质中位光栅”。

其光栅常数就是声波波长s传播时,有行波和驻波两种形式。

特点是行波形成的超声光栅的栅面在空间是移动的,而驻波场形成的超声光栅栅面是驻立不动的。

当超声波传播到声光晶体时,它由一端传向另一端。

到达另一端时,如果遇到吸声物质,超声波将被吸声物质吸收,而在声光晶体中形成行波。

晶体的电光效应

晶体的电光效应

基础物理实验报告一、实验目的1、掌握晶体电光调制的原理和实验方法2、了解电光效应引起的晶体光学性质的变化和观察汇聚偏振光的干涉现象3、学习测量晶体半波电压和电光常数的实验方法二、实验原理电光效应电场施加在晶体上,会使晶体的折射率发生变化,这种现象称之为电光效应。

通常将电场引起的折射率变化由下式表示:式中a和b为与E0无关的常数,n0为E0=0时的折射率。

由一次项aE0引起的折射率变化称为一次电光效应,也称为线性电光效应或Pokells 效应;由二次项aE20引起的折射率变化称为二次电光效应,也称为平方电光效应或Kerr 效应。

一次效应只存在于不具有对称中心的晶体中,二次电光效应则可能存在于任何物质中,通常一次效应比二次效应显著。

晶体的一次电光效应分为纵向电光效应和横向电光效应。

纵向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播方向平行时产生的电光效应;横向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里的传播方向垂直时产生的电光效应。

观察纵向电光效应最常用的晶体是KDP,而观察横向电光效应则常用铌酸锂(LiNbO3)类型的晶体。

本实验主要研究铌酸锂(LiNbO3)的一次电光效应。

在未加电场前,铌酸锂是单轴晶体。

当线偏振光沿光轴方向通过晶体时,不会产生双折射。

但如在铌酸锂晶体的X轴施加电场,晶体将由单轴晶体变为双轴晶体。

这时沿Z轴传播的偏振光应按特定的晶体感应轴X’和Y’进行分解,因为光沿这两个方向偏振的折射率不同。

类似于双折射中o光和e光的偏振态的讨论,由于沿X’和Y’的偏振分量存在相位差,出射光一般将成为椭圆偏振光。

由晶体光学可以证明,这两个方向的折射率:,电光调制原理当光经过起偏器P后变成振动方向为OP的线偏振光,进入晶体 (z = 0) 后被分解为沿x′和y′轴的两个分量,因为OP与x’轴、y’轴的夹角都是45º,所以位相和振幅都相等。

即AOEOEyx=='')()(,于是入射光的强度为:222*2)()(AOEOEEEIyx=+=⋅∝''当光经过长为l的LN晶体后,x′和y′分量之间就产生位相差ϕ,即:⎪⎩⎪⎨⎧==-ϕiyxAelEAlE)()(''(13)从检偏器A(它只允许OA方向上振动的光通过)出射的光为)('lEx和)('lEy在OA轴上的投影之和()(1)iy oE A eϕ-=-(14)于是对应的输出光强为:2*22()()()[(1)(1)]2sin /22i i o y oy o A I E E e e A ϕϕϕ-∝=--= (15)将输出光强与输入光强比较,再考虑(11)式和(12)式,最后得到:22sin sin ()22o i I V I V πϕπ== (16) i I I /0为透射率,它与外加电压V 之间的关系曲线就是光强调制特性曲线,见图3。

实验十二 晶体电光效应与电光调制实验

实验十二 晶体电光效应与电光调制实验

图1. 晶体折射率椭球实验十二 晶体电光效应与电光调制实验一、实验目的1. 掌握晶体电光调制的原理和实验方法;2. 测量晶体的半波电压以及电光系数;3. 利用电光调制实现模拟光通讯。

二、实验原理1. 晶体的电光效应某些介质的折射率在外加电场E 的作用下发生改变,这种现象称为电光效应。

实验表明电场引起的折射率 n 的变化用下式表示:++=∆22bE aE )n1((1) 式中a 和 b 为常数。

由一次项 aE 引起折射率变化的效应,称为一次电光效应,也称线性电光效应或称泡克尔斯效应(Pokells Effect );由二次项bE 2引起折射率变化的效应,称为二次电光效应,也称非线性电光效应或称克尔效应(Kerr Effect )。

线性电光效应只存在于各向异性晶体中。

光在各向异性晶体中传播时,在晶体的一个给定方向上,一般存在着两个可能的线偏振模式,每个模式具有唯一的偏振方向和相应的折射率,而描述这两个相互正交的偏振光在晶体中传播的行为通常用折射率椭球的方法,即1n z n y n x 2z22y 22x 2=++ (2) 式中,x ,y ,z 为晶体的介电主轴方向,即晶体在这些方向上的电位移矢量D 与电场矢量E 是平行的,其对应的折射率为n x ,n y 和n z 。

当晶体上加上电场后,折射率椭球的形状、大小、方位都发生变化,椭球的方程变为1xy n 2xz n 2yz n 2n z n y n x 2xy2xz 2yz 2z 22y 22x 2=+++++ (3) 式中交叉项由电场引起,表示变形后形成的新椭球主轴(感应主轴)和原先的主轴不重合。

另一方面,对线性电光效应,考虑到电场分量方向后,式(1)表示为,∑=γ=∆zxk k ijk ij 2E )n 1( ( 3.1) 其中E k 为外电场分量,系数γijk为三阶张量,称为晶体的电光张量系数,有27个元素。

三个角标i ,j ,k 分别取 x ,y ,z ,而习惯上更为普遍地用1,2,3表示。

实验28 晶体电光调制及其应用

实验28 晶体电光调制及其应用
大学物理实验预习报告
姓名
实验班号
实验号
实验二十八晶体电光调制及其应用
实验目的:
实验原理及仪器介绍:
1.什么是电光效应,如何分类?
2.什么是调制?什么是解调?什么是载波?什么是调制信号?
3.什么是直流偏压?什么是半波电压?
4.什么是线性调制?本实验有哪几种失真状态,分别在什么条件下形成?
5.简述电光调制的过程。
6.本实验的调制器主要由哪几部分组成?解调器有哪几部分组成?并分述它们的作用。
实验内容:
2.用调制法测量半波电压时,有哪些注意事项?
数据表格:
1.记录所用测量仪器的仪器误差:
2.列出数据记录表格:
教师签字:
月日

实验2 晶体的电光实验报告

实验2 晶体的电光实验报告

实验2 晶体的电光实验数据处理
1.研究LN 晶体的电光效应,测量铌酸锂晶体的电光特性和参数 (2)调制法测定LN 晶体的半波电压:
第一次倍频失真对应的电压V 1=143V ,第二次倍频失真对应的电压V 3=832V 。


31832143689V V V V V V π=-=-=。

由3022()2d V n l
πλγ=
得:12
223
0() 6.41102d n V l πλγ-==⨯
3.电光调制器P-V 工作曲线的测量: (1
依据数据作出电光调制器P-V 工作曲线:
(2)极值法测定LN 晶体的半波电压:
从图中可以看到,V 在100~150V 时取最小值,在800~850V 时取最大值。

分别在这两个
比较数据可以得出,极小值大致出现在1110V V ≈,极大值大致出现在3805V V ≈,由
此可得31805110695V V V V V V π=-=-=
由3022()2d V n l
πλγ=
得:12223
0() 6.35102d
n V l πλγ-==⨯ 4.测量值与理论值比较:
晶体基本物理量:
算出理论值3022()649.22d
V V n l
πλγ=
=。

与理论值相比,调制法测量结果相对误差约6.1%,
极值法测量结果误差约7.1%,实验值与理论值符合较好。

其中,动态法比极值法更精确。

最新电光调制实验实验报告

最新电光调制实验实验报告

最新电光调制实验实验报告实验目的:本实验旨在探究电光调制器的工作原理及其在光通信中的应用。

通过实验,我们将了解电光效应的基本理论,并观察电光调制器如何根据外加电压的变化调制光信号。

实验原理:电光效应是指某些晶体材料在外加电场作用下,其折射率发生变化的现象。

这种变化可以通过改变通过晶体的光波的相位或强度来实现对光信号的调制。

在本实验中,我们将使用液晶材料作为电光调制器,通过改变施加在其上的电压来控制光的透过率。

实验设备:1. 激光源(如氦氖激光器)2. 电光调制器(液晶调制器)3. 光电探测器(如光电二极管)4. 电源及电压调节器5. 光束准直器和光束分析仪6. 数据采集系统实验步骤:1. 搭建实验装置,确保激光源发出的光束经过电光调制器,并被光电探测器接收。

2. 调整激光源,使其发出稳定的光束,并保证光束完全通过电光调制器。

3. 将光电探测器连接到数据采集系统,以便记录光强度的变化。

4. 打开电源,逐渐增加施加在电光调制器上的电压,并记录不同电压下光电探测器的输出信号。

5. 分析数据,绘制电压与光强度之间的关系曲线,观察电光调制效果。

6. 通过改变激光的波长,重复步骤4和5,研究波长对电光调制效果的影响。

实验结果:实验数据显示,随着施加电压的增加,光电探测器接收到的光强度呈现出周期性变化,这与电光调制器的调制特性相符。

在特定电压下,光强度达到最小值,表明此时调制器对光信号实现了有效调制。

通过改变激光波长,发现不同波长的光在相同的电压下表现出不同的调制深度,这与液晶材料的光谱特性有关。

结论:通过本次实验,我们成功验证了电光调制器的工作原理,并观察到了外加电压对光信号调制的影响。

实验结果表明,电光调制器可以作为一种有效的光通信工具,用于控制和调节光信号的传输。

此外,实验还揭示了不同波长光在电光调制中的性能差异,为未来调制器的设计和应用提供了重要参考。

晶体电光调制实验

晶体电光调制实验

晶体电光调制实验【实验目的】1. 掌握晶体电光调制的原理和实验方法。

2. 学会用简单的实验装置测量晶体半波电压、电光常数的实验方法。

3. 观察电光效应所引起的晶体光学特性的变化和会聚偏振光的干涉现象。

【实验仪器】晶体电光调制电源、铌酸锂(LiNbO 3)电光晶体、He-Ne 激光器及可调电源、可旋转偏振片、格兰棱镜、光电接收器、有源音响【实验原理】1.一次电光效应和晶体的折射率椭球当给晶体或液体加上电场后,该晶体或液体的折射率发生变化,这种现象成为电光效应。

电光效应在工程技术和科学研究中有许多重要应用,它有很短的响应时间(可以跟上频率为1010Hz 的电场变化),可以在高速摄影中作快门或在光速测量中作光束斩波器等。

在激光出现以后,电光效应的研究和应用得到迅速的发展,电光器件被广泛应用在激光通讯、激光测距、激光显示和光学数据处理等方面。

光在各向异性晶体中传播时,因光的传播方向不同或者是电矢量的振动方向不同,光的折射率也不同。

在主轴坐标中,折射率椭球及其方程为1232222212=++n z n y n x (1)式中n1、n2、n3为椭球三个主轴方向上的折射率,称为主折射率。

当晶体加上电场后,折射率椭球的形状、大小、方位都发生变化,椭球方程变成1222212213223233222222112=+++++n xy n xz n yz n z n y n x(2)晶体的一次电光效应分为纵向电光效应和横向电光效应两种。

纵向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播的方向平行时产生的电光效应;横向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播方向垂直时产生的电光效应,本实验研究铌酸锂晶体的一次电光效应。

铌酸锂晶体属于三角晶系,3m 晶类,主轴z 方向有一个三次旋转轴,光轴与z 轴重合,是单轴晶体,折射率椭球是旋转椭球,其表达式为1222022=++e n z n yx (3)式中n0和ne 分别为晶体的寻常光和非常光的折射率。

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

晶体电光调制实验仪1.实验仪器1.晶体电光调制电源输出正弦波调制幅度:0~300V连续可调,频率1K输出直流偏置电压:0~600V ,连续可调2.铌酸锂(LiNbO3)电光晶体尺寸5×1.7×50mm 镀银电极3.He-Ne激光器及可调电源波长632.8nm,<1.5mW,电流连续可调4.可旋转偏振片最小刻度值1°5.光电接收器PIN光电池6.有源音响漫步者2.实验目的1.掌握晶体电光调制的原理和实验方法。

2.学会用简单的实验装置测量晶体半波电压、电光常数的实验方法。

3.观察电光效应所引起的晶体光学特性的变化和会聚偏振光的干涉现象。

3.实验原理当给晶体或液体加上电场后,该晶体或液体的折射率发生变化,这种现象称为电光效应。

电光效应在工程技术和科学研究中有许多重要应用,它有很短的响应时间(可以跟上频率为1010Hz的电场变化),可以在高速摄影中作快门或在光速测量中作光束斩波器等。

在激光出现以后,电光效应的研究和应用得到迅速的发展,电光器件被广泛应用在激光通讯、激光测距、激光显示和光学数据处理等方面。

4.1 一次电光效应和晶体的折射率椭球由电场所引起的晶体折射率的变化,称为电光效应。

通常可将电场引起的折射率的变化用下式表示:n = n0 + aE0 +bE0^2+ (1)式中a和b为常数,n0为不加电场时晶体的折射率。

由一次项aE0引起折射率变化的效应,称为一次电光效应,也称线性电光效应或普克尔(Pokells)效应;由二次项引起折射率变化的效应,称为二次电光效应,也称平方电光效应或克尔(Kerr)效应。

一次电光效应只存在于不具有对称中心的晶体中,二次电光效应则可能存在于任何物质中,一次效应要比二次效应显著。

光在各向异性晶体中传播时,因光的传播方向不同或者是电矢量的振动方向不同,光的折射率也不同。

如图1,通常用折射率球来描述折射率与光的传播方向、振动方向的关系。

在主轴坐标中,折射率椭球及其方程为1232222212=++n zn yn x(2)式中n 1、n 2、n 3为椭球三个主轴方向上的折射率,称为主折射率。

当晶体加上电场后,折射率椭球的形状、大小、方位都发生变化,椭球方程变成1222212213223233222222112=+++++n xyn xzn yzn zn yn x(3)晶体的一次电光效应分为纵向电光效应和横向电光效应两种。

纵向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播的方向平行时产生的电光效应;横向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播方向垂直时产生的电光效应。

通常KD*P (磷酸二氘钾)类型的晶体用它的纵向电光效应,LiNbO 3(铌酸锂)类型的晶体用它的横向电光效应。

本实验研究铌酸锂晶体的一次电光效应,用铌酸锂晶体的横向调制装置测量铌酸锂晶体的半波电压及电光系数,并用两种方法改变调制器的工作点,观察相应的输出特性的变化。

铌酸锂晶体属于三角晶系,3m 晶类,主轴z 方向有一个三次旋转轴,光轴与z 轴重合,是单轴晶体,折射率椭球是旋转椭球,其表达式为(4)式中n 0和n e 分别为晶体的寻常光和非常光的折射率。

加上电场后折射率椭球发生畸变,当x 轴方向加电场,光沿z 轴方向传播时,晶体由单轴晶变为双轴晶,垂直于光轴z 轴方向的折射率椭球截面由圆变为椭圆,此椭圆方程为(5)其中的22γ称为电光系数。

上式进行主轴变换后可得到 (6)考虑到x E n 2220γ<<1,经简化得到(7) 折射率椭球截面的椭圆方程化为12222='+'''y x n y n x (8)4.2电光调制原理要用激光作为传递信息的工具,首先要解决如何将传输信号加到激光辐射上去的问题,我们把信息加载于激光辐射的过程称为激光调制,把完成这一过程的装置称为激光调制器。

由已调制的激光辐射还原出所加载信息的过程则称为解调。

因为激光实际上只起到了“携带”低频信号的作用,所以称为载波,而起控制作用的低频信号是我们所需要的,称为调制信号,被调制的载波称为已调波或调制光。

按调制的性质而言,激光调制与无线电波调制相类似,可以采用连续的调幅、调频、调相以及脉冲调制等形式,但激光调制多采用强度调制。

强度调制是根据光载波电场振幅的平方比例于调制信号,使输出的激光辐射的强度按照调制信号的规律变化。

激光调制之所以常采用强度调制形式,主要是因为光接收器一般都是直接地响应其所接受的光强度变化的缘故。

激光调制的方法很多,如机械调制、电光调制、声光调制、磁光调制和电源调制等。

其中电光调制器开关速度快、结构简单。

因此,在激光调制技术及混合型光学双稳器件等方面有广泛的应用。

电光调制根据所施加的电场方向的不同,可分为纵向电光调制和横向电光调制。

利用纵向电光效应的调制,叫做纵向电光调制,利用横向电光效应的调制,叫做横向电光调制。

实验只做LiNbO 3晶体的横向电光调制实验。

4.2.1横向电光调制图 2图2为典型的利用LiNbO 3晶体横向电光效应原理的激光振幅调制器。

其中起偏振片的偏振方向平行于电光晶体的x 轴,检偏振片的偏振方向平行于y 轴。

因此入射光经起偏振片后变为振动方向平行于x 轴的线偏振光,它在晶体的感应轴x′和y′轴上的投影的振幅和相位均相等,设分别为ex′=A0cosωt , ey′=A0cosωt (9) 或用复振幅的表示方法,将位于晶体表面(z=0)的光波表示为 Ex′(0)=A , Ey′(0)=A (10) 所以,入射光的强度是2222)0()0(A E E E E I y x i =+=⋅∝'' (11)当光通过长为l 的电光晶体后,x′和y′两分量之间就产生相位差δ,即Ex′(l)=A , Ey′(l)=A δi e- (12)通过检偏振片出射的光,是该两分量在y 轴上的投影之和(13) 其对应的输出光强It 可写成2s i n 2)]1)(1[(2])()[(22200δδδA e e A E E I i i y y t =--=⋅∝-*(14)由(11)和(14)式,光强透过率T 为2s i n2δ==i t I I T (15)由(7)式d lUn l n n y x 22302)(2γλπλπδ=-='' (16)由此可见,δ和加在晶体上的电压有关,当电压增加到某一值时x′、y′方向的偏振光经过晶体后可产生λ/2的光程差,相应的相位差δ=π,由(15)式可知此时光强透过率T=100%,这时加在晶体上的电压称作半波电压,通常用U π表示。

U π是描述晶体电光效应的重要参数。

在实验中,这个电压越小越好,如果U π小,需要的调制信号电压也小。

根据半波电压值,我们可以估计出电光效应控制透过强度所需电压。

由(16)式可得到)(22230l dn U γλπ=(17)其中d 和l 分别为晶体的厚度和长度。

由此可见,横向电光效应的半波电压与晶片的几何尺寸有关。

由(17)式可知,如果使电极之间的距离d 尽可能的减少,而增加通光方向的长度l ,则可以使半波电压减小,所以晶体通常加工成细长的扁长方体。

由(16)、(17)式可得ππδU U=因此,可将(15)式改写成)s i n (2s i n2s i n022t U U U U U T m ωππππ+== (18)其中U 0是加在晶体上的直流电压,U m sinωt 是同时加在晶体上的交流调制信号,U m 是其振幅,ω是调制频率。

从(18)式可以看出,改变U 0或U m ,输出特性将相应的有变化。

对单色光和确定的晶体来说, U π为常数,因而T 将仅随晶体上所加的电压变化。

4.2.2改变直流偏压对输出特性的影响 ①当20πU U =、U m <<U π时,将工作点选定在线性工作区的中心处,如图3(a )所示,此时,可获得较高效率的线性调制,把 代入(18)式,得)sin 24(sin 2t U U T m ωπππ+=)]sin 2cos(1[21t U U mωπππ+-=)]sin sin(1[21t U U mωππ+=(19)由于Um<<U π时]s i n )(1[21t U U T m ωππ+≈即 T ∝sinωt (20)这时,调制器输出的信号和调制信号虽然振幅不同,但是两者的频率却是相同的,输出信号不失真,我们称为线性调制。

②当0=U 、Um<<πU 时,如图3(b )所示,把0=U 代入(18)式)sin 2(sin 2t U U T m ωππ=)]sin cos(1[21t U U m ωππ-=tU U m ωππ22sin )(41≈)2cos 1()(812t U Um ωππ-≈即 T ∝cos 2ωt (21) 从(21)式可以看出,输出信号的频率是调制信号频率的二倍,即产生“倍频”失真。

若把πU U =0代入(18)式,经类似的推导,可得)2cos 1()(8112t U UTm ωππ--≈ (22)即T ∝cos2ωt ,输出信号仍是“倍频”失真的信号。

(a) (b)图 3③直流偏压U 0在0伏附近或在πU 附近变化时,由于工作点不在线性工作区,输出波形将失真。

④当20πU U =, m U U π>时,调制器的工作点虽然选定在线性工作区的中心,但不满足小信号调制的要求,(19)式不能写成(20)式的形式。

因此,工作点虽然选定在了线性区,输出波形仍然是失真的。

5.实验仪器晶体电光调制实验装置图实验仪器由晶体电光调制电源、光电接收器、He-Ne 激光器、调制器等组成。

5.1.晶体电光调制电源。

调制电源由0V — +600V 之间连续可调的直流电源、单一频率振荡器(振荡频率约为1kHz )、音频信号和放大器组成,电源面板上有三位半数字面板表,可显示直流电压值。

直流电压的大小用“直流偏压”旋钮调节。

调制信号可由机内音乐片提供,此调制信号是用装在面板上的“音频”键来选择三个信号中的任意一个信号。

所有的调制信号的大小是通过“调制幅度”旋钮控制的。

通过前面板上的“调制信号”高频插孔输出的参考信号,接到双踪示波器的一个通道与被调制后的接收的光强信号比较,观察调制器的输出特性。

5.2.调制器。

调制器由一个可旋转的偏振片、一个格兰棱镜、一个可旋转的1/4波片和一块铌酸锂晶体组成,采用横向调制方式。

晶体放在两个正交的偏振片之间,起偏振片和晶体的x 轴平行。

检偏振片和晶体之间可插入1/4波片,偏振片和波片均可绕其几何轴旋转。

晶体放在四维调节架上,可精细调节,使光束严格沿晶体光轴方向通过。

5.3.光电接收器。

光电接收器由PIN 光电二极管和功率放大器组成。

相关文档
最新文档