晶体X射线衍射学3,衍射原理
X射线晶体学(第三章)
Ee 0
kr
f是k的函数,而 k 4 sin ,所以是 sin
的函数
右图是f与 sin 的
关系曲线,各元素的原 子散射因子可从书后附 录中查出。
.
§3-5 晶胞对X射线的散射
一、系统消光 假设一束单色X射线以θ
角投射到简单立方晶胞的 (001)面上产生衍射时,11′ 和22′之间的光程差为一个 波长的整数倍(假设为1倍), 所以1′和2′是同位相的, 为干涉加强,如图(a)。
.
二、厄瓦尔德图解 1、衍射矢量三角形
由 衍s射、矢量s 0 方和程的s图解s表0达形g式是三
个矢量构成的等腰矢量三角形, 它表明了入射线方向、衍射线方 向和倒易矢量之间的几何关系。
.
2、厄瓦尔德图解法的依据
当一束X射线以一定的角度投射到晶体上时,可 能会有若干个晶面族满足衍射条件,在若干个方向
第三章 X射线衍射理论
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当X射线光子投射到试样上,对于被原子核束缚 得较紧的电子而言,将在入射波的电磁场作用下 作受迫振动,并成为新的电磁波源,向四周发射 出与入射线相同频率的电磁波,而且这些电磁波 互相干涉,被称之为相干散射波。
晶体中每个原子都是这样的相干散射波波源。 这些相干波相互干涉的结果,在空间的某些方向 上各波始终是互相加强的,而在另一些方向上各 波互相抵消。这样,一束X射线照射到试样上,不 仅在直射方向有X射线,而在某些特定方向(始终 加强的方向)也可能有X射线,把这种现象称为X 射线在晶体上的衍射现象,特定方向的X射线称为 衍射X射线,简称为衍射线。
si2n4a22 H2K2L2
而四方晶系为 sin242H2a2K2 cL22
可见。对不同晶系,或同一晶系而晶胞大小不同 的晶体,其衍射花样是不同的,所以说,布拉格方 程可以反映出晶体结构中晶胞大小及形状的变化。
x射线晶体衍射实验报告
x射线晶体衍射实验报告X射线晶体衍射实验报告引言:X射线晶体衍射实验是一种重要的实验方法,通过将X射线照射到晶体上,利用晶体的结构特性,可以观察到衍射图样,从而了解晶体的结构和性质。
本文将介绍X射线晶体衍射实验的原理、实验装置和实验结果,并分析实验中的一些问题和改进方法。
一、实验原理X射线晶体衍射是基于布拉格方程的原理。
当X射线照射到晶体上时,晶体中的原子会对X射线进行散射,形成衍射波。
根据布拉格方程,衍射波的相位差与入射波的入射角、晶格常数和衍射角有关。
通过测量衍射角和入射角的关系,可以计算出晶格常数和晶体结构的一些信息。
二、实验装置实验中使用的装置主要包括X射线发生器、单晶样品、衍射仪和探测器。
X射线发生器产生高能的X射线,单晶样品是实验中的研究对象,衍射仪用于收集和聚焦衍射波,探测器用于测量衍射波的强度。
三、实验步骤1. 准备工作:调整X射线发生器的参数,使其产生适合实验的X射线能量。
选择合适的单晶样品,并将其固定在衍射仪上。
2. 调整衍射仪:通过调整衍射仪的入射角和出射角,使得衍射波能够被探测器收集到。
3. 开始实验:打开X射线发生器,照射X射线到单晶样品上。
同时,探测器开始测量衍射波的强度。
4. 数据处理:根据探测器测得的衍射波强度,计算出衍射角,并绘制衍射图样。
5. 结果分析:根据衍射图样,计算出晶格常数和晶体结构的一些信息,并与已知数据进行对比。
四、实验结果在实验中,我们选择了某晶体样品进行研究。
通过测量和计算,得到了该晶体的衍射图样和晶格常数。
通过与已知数据对比,我们确认了该晶体的结构和性质。
五、问题与改进在实验过程中,我们遇到了一些问题,并提出了一些改进方法。
首先,由于X射线的能量和强度有限,可能会导致衍射图样的强度较弱,影响数据的准确性。
为了解决这个问题,可以尝试增加X射线的能量和强度,或者使用更灵敏的探测器。
其次,实验中的样品制备和固定也需要一定的技巧和经验,可以通过改进样品制备方法和优化固定装置来提高实验效果。
[]第三章X射线衍射原理
M
反 射 面 法 线
N
要在散射方向互相加强,程差应该是波长的整数倍,因此 在晶体产生衍射的条件是:
2dsinθ=nλ
2dsinθ=nλ
这就是著名的布拉格方程,它表示不同晶 面的反射线若要加强,必要的条件是相邻 晶面反射线的程差为波长的整数倍。
式中的θ为入射线(或反射线)与晶面的夹 角,称为掠射角或者反射角;入射线与衍 射线之间的夹角为2θ,称为衍射角;d为晶 面间距,λ为X射线的波长,n为反射的级。
小结
劳埃方程是利用衍射几何原理,利用晶体在三维 空间中周期排列的特点推导出来的一组方程; 劳埃方程中只有三个未知量,但实质上它包括四 个方程式,因此一般情况下是无解的;这意味着当 用单色 X 射线照射不动的单晶体时,一般不可能获 得衍射; 获得衍射的方法有劳埃法、旋转晶体法和粉末法; 其中用劳埃方程组可以计算劳埃法获得的衍射花样, 但是不能确定衍射的级和衍射斑的强度。
晶体可以看成是由平行的原子面堆垛而成,所 以晶体的衍射线也应当是由这些原子面的衍射 线叠加而得。因此问题变为,晶体在某些方向 能否产生衍射,取决于处于反射面位置的晶面 能否使反射线方向的X射线互相加强的问题。
既然出现衍射时,一定会有一个实际存在的晶 面,正好处于入射线和反射线的反射平面位置; 那么反过来,当用单色X射线照射固定的单晶体 时,能不能产生衍射,取决于晶体中所有晶体 学平面在反射线位置能否加强,如果有加强的, 就有可能产生衍射(还要考虑消光)。 而对于某一个平面来讲,能否产生衍射,取决 于各层原子面在它的反射方向能否加强。
A
B
C M
D
N
E F
O
P
Q
原子面的入射束和反射束具有如下的特点: 同光程的入射束经原子面反射以后,仍然是同光程的; 晶体要在反射方向产生衍射,只需要相邻的两层原子面 中任意两支光线的程差等于X射线波长的整数倍即可。
X射线衍射分析
X射线衍射分析X射线衍射分析是一种广泛应用于材料科学和固态物理领域的实验技术。
通过照射物质样品,利用X射线在晶体中的衍射现象,可以获得有关物质结构和晶体学信息的重要数据。
本文将介绍X射线衍射分析的原理、应用和发展。
一、X射线衍射分析原理X射线衍射分析的基本原理是X射线的衍射现象。
当X射线照射到晶体上时,晶体中的原子会对X射线产生散射,形成一种有规律的衍射图样。
这个衍射图样会显示出晶体的结构信息,包括晶体的晶格常数、晶胞形状和晶体的定向等。
X射线衍射实验一般使用Laue方法或布拉格方法。
Laue方法是在一束平行的X射线照射下,观察其经过晶体后的衍射图样,通过分析该图样可以得到晶体的结构信息。
布拉格方法则是通过将一束X射线通过晶体,利用布拉格方程进行衍射角度的计算,从而确定晶体的晶格常数和定向。
二、X射线衍射分析应用X射线衍射分析被广泛应用于材料科学和固态物理领域。
它可以用来研究晶体的结构和晶体学性质,例如晶格参数、晶胞参数和晶体定向。
此外,X射线衍射还可以用于材料的质量控制和表征、相变研究、晶体缺陷分析等。
在材料科学领域,X射线衍射分析常用于矿物学、金属学和半导体学的研究。
例如,在矿物学中,通过X射线衍射分析可以确定矿石中的不同晶型矿物的比例和结构信息。
在半导体学中,X射线衍射分析可以帮助研究晶体管的晶格结构和界面形态。
三、X射线衍射分析的发展X射线衍射分析作为一种实验技术,随着科学研究的深入不断发展。
在仪器设备方面,X射线源的进步使得可以获得更高分辨率的衍射图样;探测器的改进使得观测和数据分析更加准确和高效。
同时,随着计算机技术的发展,数据处理和分析的速度大大提高,使得研究人员可以更直观、更准确地分析X射线衍射图样。
此外,X射线衍射分析的理论研究也在不断深入,衍射峰的定性和定量分析方法得到了大量改进,使得X射线衍射分析在材料科学研究中的应用更加广泛。
总结:X射线衍射分析是一种重要的实验技术,在材料科学和固态物理领域具有广泛的应用价值。
x射线晶体衍射原理和步骤
x射线晶体衍射原理和步骤
X射线晶体衍射是一种用来研究晶体结构的技术。
它基于X射线通过晶体时发生的衍射现象。
以下是X射线晶体衍射的原理和步骤:原理:
1. X射线具有波粒二象性,可以被视为具有波动性的电磁辐射。
2. 当X射线通过晶体的晶格时,会与晶格中的原子相互作用,发生散射现象。
3. 根据布拉格定律,当入射X射线的波长、晶体的晶格常数以及入射角满足一定条件时,会出现衍射峰。
4. 衍射的强度和位置可用来推断晶格结构和原子间距。
步骤:
1. 准备晶体样品:选择一个单晶样品,确保其质量和纯度,通常使用化学方法制备。
2. 准备X射线源:使用X射线发射器产生高能量的X射线。
3. 调整实验仪器:将晶体样品固定在旋转台上,并调整X射线源和探测器的位置和角度。
4. 进行测量:开始旋转晶体样品,同时记录探测器接收到的衍射信号。
5. 分析数据:根据衍射图谱中的衍射峰的位置和强度,使用布拉格定律计算晶格常数和晶体结构参数。
6. 解释结果:根据衍射数据分析晶体的排列方式、晶胞、原子间距等信息,推断出晶体的结构。
通过X射线晶体衍射技术,可以研究各种晶体的结构,帮助科学家了解物质的组成和性质,以及开发新材料。
X射线衍射 第三讲 X射线衍射 图文
特征X射线Kα辐射
各电子壳层电子能量:
En 2 2me 4 (z )2 /(h2n2 )
辐射出的光子: h En2 En1
h 2 2me4 (z )2 /(h)2 • (1/ n12 n22 )
若n1=1,n2=2,则发射的Kα谱波长λKα为:
1/ K 2 2me4(z )2 /(h3c) •3/ 4
Kα2
Kα*
Kβ
2.28962 2.29351 2.2909 2.08480
U(KV)≈(35)UK
20-25
Fe
26 1.93597 1.93991 1.9373 1.75653
25-30
Co
27 1.78892 1.79278 1.7902 1.62075
30
Ni
28 1.65784 1.66169 1.6591 1.50010
1913年老布拉格设计出第一台 X射线分光计,并利用这 台仪器,发现了特征X射线。成功地测定出了金刚石的 晶体结构
3
X射线的产生
X射线是一种波长很短的电磁波,在电磁波谱上位于紫 外线和γ射线之间,波长范围是0.5-2.5埃。
特征X射线,韧致X射线 X射线的能量与波长有关
无线电波
红外线 可见光 紫外线 X射线
7
连续X射线谱
连续谱与管电压V、管电流i和阳极靶原子序数Z有关,实 验规律如下:
① 对同一阳极靶材料,保持管电压,提高管流,各波长射 线的强度一致提高,但λ0和λm不变;
② 提高管压(i,Z不变),各波长射线的强度都增高,短波 限λ0和强度最大值对应λm的减小;
③ i,V不变,阳极靶原子序数Z越高,连续谱强度越大,但 λ0和λm不变。
γ射线 宇宙射线
x射线晶体学原理
x射线晶体学原理
X射线晶体学原理是指利用X射线与晶体相互作用的现象和原理进行研究的一门科学。
根据x射线与晶体相互作用的结果可推测出晶体的结构,从而了解晶体的组成和排列。
X射线晶体学的主要原理包括:
1. X射线衍射原理:当X射线通过晶体时,会与晶体内原子相互作用,产生衍射现象。
根据衍射的强度和方向,可以推导出晶体中原子的排列和空间结构。
2. Bragg衍射定律:Bragg定律描述了X射线在晶体中的衍射规律。
它表明,当X射线入射角和出射角满足一定条件时,可以得到明亮的衍射峰,从而确定晶体中原子的间距。
3. 晶体结构分析:通过测量衍射角度和衍射强度,可以得到X 射线衍射图样,然后通过衍射图样的解析和计算,可以确定晶体的结构参数,如晶胞参数、原子位置等。
通过X射线晶体学原理,可以研究和解析各种晶体的结构,包括无机晶体、有机晶体、生物大分子晶体等。
这对于材料科学、化学、生物学等领域的研究具有重要意义。
晶体X射线衍射
布拉格方程的讨论(6)
应用 从实验角度可归结为两方面的应用: ➢ 一方面是用已知波长的x射线去照射晶体,通过衍
射角的测量求得晶体中各晶面的面间距d,这就 是结构分析; ➢ 另一方面是用一种已知面间距的晶体来反射从试 样发射出来的x射线,通过衍射角的测量求得x射 线的波长且,这就是X射线光谱学。该法除可进 行光谱结构的研究外,从x射线的波长尚可确定试 样的组成元素。电子探针就是按这原理设计的。
一个原子分布与之完全相同的 面。此时面簇中最近原点的晶 面在X轴上截距已变为1/2, 故面簇的指数可写作(200)。又 因面间距已减为原先的一半, 相邻晶面反射线的程差便只有 一个波长发生了一级反射,其 相应的布喇格方程为
2d200sinθ=λ
2d sin n
布拉格方程的讨论(2)
➢ 一般的说法是,把(hkl)的n级反射,看作(nh nk nl)的一级 反射。如果(hkl)的面间距是d,则(nh nk nl)的面间距d/n。
布拉格方程的讨论(4)
• 掠射角
➢掠射角θ是入射线或反射线与晶面的夹角, 一般可以表征衍射的方向。
➢由布拉格方程得知:sinθ=λ/2d
当λ一定时,d相同的晶面必然在θ相同的情 况下才能同时获得反射,当用单色X射线照射 多晶体时,各晶粒中d相同的晶面其反射线将 有着确定的方向关系,这里所指d相同的晶面, 也包括等同晶面;
➢ 当d一定时,且减小,n可增大,说明对同一种晶面,当采 用短波X射线照射时,可获得较多级数的反射,即衍射花 样比较复杂。
➢ 在晶体中,干涉面的划取是无限的,但并非所有的干涉面 均能参与衍射,因为dsinθ=λ/2或者d≥λ/2。此表达 式说明只有间距大于或等于X射线半波长的那些干涉面才 能参与反射。
(完整版)X射线衍射的基本原理
(完整版)X射线衍射的基本原理三.X 射线衍射的基本原理3.1 Bragg 公式晶体的空间点阵可划分为⼀族平⾏⽽等间距的平⾯点阵,两相邻点阵平⾯的间距为d hkl 。
晶体的外形中每个晶⾯都和⼀族平⾯点阵平⾏。
当X 射线照射到晶体上时,每个平⾯点阵都对X 射线射产⽣散射。
取晶体中任⼀相邻晶⾯P 1和P 2,如图3.1所⽰。
两晶⾯的间距为d ,当⼊射X 射线照射到此晶⾯上时,⼊射⾓为θ,散射X 射线的散射⾓也同样是θ。
这两个晶⾯产⽣的光程差是:θsin 2d OB AO =+=? 3.1当光程差为波长λ的整数倍时,散射的X 射线将相互加强,即衍射:λθn d hkl =sin 2 3.2上式就是著名的Bragg 公式。
也就是说,X 射线照射到晶体上,当满⾜Bragg 公式就产⽣衍射。
式中:n 为任意正整数,称为衍射级数。
⼊射X 射线的延长线与衍射X 射线的夹⾓为2θ(衍射⾓)。
为此,在X 射线衍射的谱图上,横坐标都⽤2θ表⽰。
图3.1 晶体对X 射线的衍射由Bragg 公式表明:d hkl 与θ成反⽐关系,晶⾯间距越⼤,衍射⾓越⼩。
晶⾯间距的变化直接反映了晶胞的尺⼨和形状。
每⼀种结晶物质,都有其特定的结构参数,包括点阵类型、晶胞⼤⼩等。
晶体的衍射峰的数⽬、位置和强度,如同⼈的指纹⼀样,是每种物质的特征。
尽管物质的种类有成千上万,但⼏乎没有两种衍射谱图完全相同的物质,由此可以对物质进⾏物相的定性分析。
3.2 物相分析物相的定义是物质存在的状态,如同素异构体SiO2、TiO2分别有22种和5种晶体结构。
除了单质元素构成的物质如铜、银等以外,X射线衍射分析的是物相(或化合物),⽽不是元素成分。
对于未知试样,为了了解和确定哪些物相时,需要定性的物相分析。
正如前述,晶体粉末衍射谱图,如⼈的指纹⼀样,有它本⾝晶体结构特征所决定。
因⽽,国际上有⼀个组织——粉末衍射标准联合会(JCPDS)后改名为JCPDS-衍射数据国际中⼼专门负责收集、校订、编辑和发⾏粉末衍射卡⽚(PDF)的⼯作。
x射线衍射工作原理
X射线衍射是一种利用物质对X射线的散射和干涉现象来研究晶体结构的技术。
其工作原理可以描述如下:
1.X射线源:首先需要一个产生高能X射线的源,通常使用X射线管或放射性同位素。
这
些X射线源会产生一束高能X射线。
2.射线入射:产生的X射线束被定向照射到待测物质(通常是晶体)上。
X射线的波长与
晶格间距的数量级相当,所以它们可以与晶体中的原子发生散射现象。
3.散射过程:当X射线束穿过晶体时,它们会与晶体中的原子发生散射。
根据布拉格法则,
当入射X射线的波长与晶格间距匹配时,会发生构造性干涉,形成衍射图样。
4.衍射图样:被散射的X射线会以不同的角度和强度散射出去,形成特定的衍射图样,可
以通过探测器捕捉到。
5.分析和解读:通过分析衍射图样,可以确定晶体中的原子排列和晶格结构。
根据衍射图
样中出现的衍射点的位置和强度,使用数学方法进行解析,推断晶体的结构和晶胞参数。
总之,X射线衍射利用X射线与晶体中原子的相互作用,通过测量和分析产生的衍射图样来研究晶体的结构。
这种技术在材料科学、固态物理、化学等领域有广泛应用,并为了解晶体的性质和结构提供了重要手段。
晶体x射线衍射的原理和应用
晶体X射线衍射的原理和应用1. 晶体X射线衍射的原理晶体X射线衍射是一种重要的研究固体晶体结构的方法,尤其在材料科学领域以及结晶学和晶体学方面有着广泛的应用。
其原理可概括如下:•X射线衍射是基于X射线与晶体中的原子相互作用而产生的衍射现象。
晶体结构的周期性排列导致入射X射线的衍射。
•入射X射线与晶体中原子的相互作用可看作是X射线束与晶体中电子束的相互作用,进而发生散射。
•晶体中的原子排列形成了晶胞结构,晶胞的周期性使得入射X射线在晶体内部进行多次衍射反射,这些反射光在一定角度条件下会形成衍射图样。
•衍射图样的特征取决于晶体的晶胞结构和晶体中原子的排列,因此通过观察和分析衍射图样,可以确定晶体的结构参数以及晶体中的原子位置。
2. 晶体X射线衍射的应用晶体X射线衍射作为一种无损的研究方法,在科学研究和工程领域中有着广泛的应用。
以下列举了晶体X射线衍射的一些重要应用:2.1 结晶学和晶体学•晶体X射线衍射是结晶学和晶体学领域研究的基础,通过衍射图样的分析可以确定晶体的晶格参数、晶胞结构以及晶体中的原子位置。
2.2 材料科学•晶体X射线衍射可用于研究各种材料的结构性质,如金属材料、无机材料、有机材料等。
•通过晶体X射线衍射可以确定材料的晶体结构、晶格常数、晶格缺陷等信息,进而对材料的性能进行调控和优化。
2.3 药物研究•晶体X射线衍射在药物研究中有很重要的应用。
通过晶体X射线衍射可以确定药物的晶体结构,进而了解药物的物理性质、稳定性以及药物与目标蛋白质的相互作用机制。
2.4 化学研究•晶体X射线衍射可用于研究化学反应的机理和动力学,通过研究晶体的衍射图样可以得到反应物和产物的结构信息,进而揭示反应过程中的分子构型变化和化学键的形成与断裂。
•晶体X射线衍射还可以用于指认有机分子的立体结构,提供有机化学研究的重要依据。
2.5 地质学和矿物学•晶体X射线衍射可用于研究地球内部岩石和矿物的成分和结构。
•通过晶体X射线衍射可以确定矿物的晶体结构和组成,进而对矿物的分类和地质过程进行解释。
x射线晶体衍射原理和步骤
x射线晶体衍射原理和步骤X射线晶体衍射原理和步骤是X射线衍射技术中最重要的原理之一,它是通过射线与晶体相互作用,由晶体中的原子结构对入射的X射线进行散射和干涉,从而实现对晶体结构的研究。
X射线晶体衍射原理:X射线晶体衍射原理是基于当入射的X射线与晶体相互作用时,其波动性质会导致被散射的射线发生干涉现象。
晶体是由原子周期有序地排列而成的,入射的X射线会被晶体中的原子排列所散射,而散射射线会呈现特定的衍射图样。
通过测量和分析这些衍射图样,可以得到有关晶体结构的信息。
X射线晶体衍射步骤:X射线晶体衍射实验通常包括以下步骤:1.准备晶体样品:选择适合的晶体样品,通常选择单晶体或高质量的多晶体。
晶体样品需要具有高度的结晶性和完整性。
2.准备入射射线:需要一台X射线发生器产生高能的X射线,通常使用铜靶或钼靶来产生X射线。
X射线需要通过适当的准直系统来获得高质量的入射束。
3.选择适当的检测器:常用的检测器有闪烁屏、半导体探测器、闪烁计数器等。
检测器用于记录衍射射线的强度或者计数。
4.调整实验装置:将晶体样品和检测器安装在适当的位置,调整入射角和出射角度,以获得清晰的衍射图样。
5.进行实验测量:选择适当的入射波长或能量,通过控制X射线发生器和衍射样品的位置,记录衍射的散射强度或计数。
6.分析数据:将测量到的衍射数据进行处理和分析,使用数学方法进行逆衍射计算,从而得到晶体的结构参数,如晶胞参数、原子位置、晶体的空间群等。
7.结果解释:根据衍射图样的特征,可以解释晶体的结构和性质,如晶胞的形状、晶体的对称性等。
除了以上步骤,X射线晶体衍射实验中还需要注意实验操作的精确性和仪器的灵敏度,以确保得到准确的实验结果。
总结:X射线晶体衍射是一种重要的结构分析方法,通过测量入射的X射线与晶体相互作用后的散射和干涉现象,可以获得晶体的结构信息。
实验步骤主要包括准备晶体样品、准备入射射线、选择适当的检测器、调整实验装置、进行实验测量、分析数据和结果解释。
XRD(3-衍射原理)
→S0
(HKL)面
N
→
S
S - S0
S - S0// N
(衍射矢量图示)
31
B 衍射矢量方程
S- S0
2 sin
d HKL
→→
S - S0
1
d HKL
R*HKL//N且R*HKL=1/dHKL
( s - s0 )/ R *HKL
32
(s
-
s0
)
R
*HKL
若设,s / K ,s0 / K0 则上式可写为
例:一组晶面间距从大到
小的顺序:2.02Å ,1.43Å , 1.17Å,1.01 Å,0.90 Å, 0.83 Å,0.76 Å……当用
波长为λkα = 1.94Å的铁 靶照射时,因λkα/2 = 0.97Å ,只有四个d大于它,
故产生衍射的晶面组有四
个。如用铜靶进行照射,
因λkα/2 = 0.77Å, 故
➢ 相长干涉:当波程差△= nλ时,两个波相互加强。 ➢ 相消干涉:当波程差△= (2n+1) λ/2时,二者刚好
相互抵消。
相干散射是衍射的物理基础
确定衍射方向的基本原则:
光程差为波长的整倍数
= nλ
3
1912年劳厄(M. Van. Laue)用X射线照射五水硫酸 铜(CuSO4·5H2O)获得世界上第一张X射线衍射照片, 并由光的干涉条件出发导出描述衍射线空间方位与晶 体结构关系的公式(称劳厄方程组)。
(98.96,9.3)
10
0
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
(完整版)X射线衍射的基本原理
三.X 射线衍射的基本原理3.1 Bragg 公式晶体的空间点阵可划分为一族平行而等间距的平面点阵,两相邻点阵平面的间距为d hkl 。
晶体的外形中每个晶面都和一族平面点阵平行。
当X 射线照射到晶体上时,每个平面点阵都对X 射线射产生散射。
取晶体中任一相邻晶面P 1和P 2,如图3.1所示。
两晶面的间距为d ,当入射X 射线照射到此晶面上时,入射角为θ,散射X 射线的散射角也同样是θ。
这两个晶面产生的光程差是:θsin 2d OB AO =+=∆ 3.1当光程差为波长λ 的整数倍时,散射的X 射线将相互加强,即衍射:λθn d hkl =sin 2 3.2上式就是著名的Bragg 公式。
也就是说,X 射线照射到晶体上,当满足Bragg 公式就产生衍射。
式中:n 为任意正整数,称为衍射级数。
入射X 射线的延长线与衍射X 射线的夹角为2θ(衍射角)。
为此,在X 射线衍射的谱图上,横坐标都用2θ 表示。
图3.1 晶体对X 射线的衍射由Bragg 公式表明:d hkl 与θ 成反比关系,晶面间距越大,衍射角越小。
晶面间距的变化直接反映了晶胞的尺寸和形状。
每一种结晶物质,都有其特定的结构参数,包括点阵类型、晶胞大小等。
晶体的衍射峰的数目、位置和强度,如同人的指纹一样,是每种物质的特征。
尽管物质的种类有成千上万,但几乎没有两种衍射谱图完全相同的物质,由此可以对物质进行物相的定性分析。
3.2 物相分析物相的定义是物质存在的状态,如同素异构体SiO2、TiO2分别有22种和5种晶体结构。
除了单质元素构成的物质如铜、银等以外,X射线衍射分析的是物相(或化合物),而不是元素成分。
对于未知试样,为了了解和确定哪些物相时,需要定性的物相分析。
正如前述,晶体粉末衍射谱图,如人的指纹一样,有它本身晶体结构特征所决定。
因而,国际上有一个组织——粉末衍射标准联合会(JCPDS)后改名为JCPDS-衍射数据国际中心专门负责收集、校订、编辑和发行粉末衍射卡片(PDF)的工作。
x射线衍射的基本原理
x射线衍射的基本原理X射线衍射是一种重要的材料表征技术,它可以用于研究晶体结构和晶体学性质。
在X射线衍射实验中,X射线通过晶体后会产生衍射现象,这种现象可以被用来确定晶体的结构,包括晶胞参数和原子排列。
本文将介绍X射线衍射的基本原理,包括X射线的衍射条件、布拉格定律以及X射线衍射图样的解析等内容。
X射线衍射的基本原理可以通过布拉格定律来描述。
布拉格定律是X射线衍射的基本原理,它描述了X射线在晶体中衍射的条件。
根据布拉格定律,当入射X射线与晶体中的晶面平行时,会出现最强的衍射峰。
这个条件可以用来确定晶体的晶胞参数和原子排列。
通过测量X射线衍射图样的特征峰,可以得到晶体的结构信息。
X射线衍射的实验通常使用X射线衍射仪来进行。
X射线衍射仪是一种专门用于测量X射线衍射图样的仪器,它由X射线源、样品台、衍射角度测量装置和X射线探测器等部件组成。
在实验中,样品台会固定待测样品,并通过调节衍射角度测量装置来测量X射线衍射图样的特征峰。
通过分析这些特征峰的位置和强度,可以得到样品的晶体结构信息。
除了布拉格定律,X射线衍射的基本原理还涉及到X射线的衍射条件。
X射线的波长通常在纳米量级,这使得X射线可以被用来研究晶体的微观结构。
另外,X射线的波长也决定了X射线在晶体中衍射的条件,只有当X射线的波长和晶格常数的比值满足布拉格定律时,才会出现衍射现象。
在X射线衍射图样的解析中,我们通常会用到X射线衍射的标准图谱。
X射线衍射的标准图谱是用来解析X射线衍射图样的重要工具,它包含了各种晶体结构的特征峰位置和强度。
通过比对实验得到的X射线衍射图样和标准图谱,可以确定样品的晶体结构。
综上所述,X射线衍射的基本原理涉及到布拉格定律、X射线的衍射条件和X射线衍射图样的解析等内容。
通过对这些内容的理解,可以更好地理解X射线衍射的原理和应用,为材料科学和晶体学的研究提供重要的实验手段。
X射线衍射技术在材料表征和结构研究中具有重要的应用价值,对于推动材料科学的发展具有重要意义。
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距d的函数。如果将各晶系的d值代入布拉格方程,可得:
布拉格方程能给出晶胞参数(晶胞大小)与晶体所属晶系(晶胞形 状)。但是,不能给出晶胞中原子的种类和位置。因此,在研究晶胞中 原子的位置和种类的变化时,除布拉格方程外,还需要有其它的判断依 据。这种判据就是下一章要讲的结构因子和衍射线强度理论。
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结构因子
X射线衍射理论所要解决的中心问题: 在衍射现象与晶体结
构之间建立起定性和定量的关系,这个关系的建立依靠一 个参数联系--晶面间距。
7
晶体的衍射方向
为什么在这个方向上能产生衍射,而不是其他方向? 回答这个问题就涉及到衍射方向的问题
8
晶体衍射方向就是X射线与周期性排列的晶体中的原
子、分子相互作用时,产生散射后X射线干涉、叠加 相互加强的方向。讨论衍射方向的方程有: 劳厄Laue方程和 布拉格Bragg方程。
22
根据图示,光程差:
干涉加强的条件是:
式中:d晶面间距,n为整数, 称为反射级数;θ 为入射线或 反射线与反射面的夹角,称为 掠射角,由于它等于入射线与 衍射线夹角的一半,故又称为 半衍射角,把2 θ 称为衍射角。
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因此,已经证明:当一束单色平行的X射线照射到晶
体时, (1)同一晶面上的原子的散射线,在晶面反射方向上 可以相互加强; (2)不同晶面的反射线若要加强,必要的条件是相 邻晶面反射线的光程差为波长的整数倍。 布拉格方程是X射线对晶体产生衍射的必要条件而非 充分条件。有些情况下晶体虽然满足布拉格方程,但 不一定出现衍射线,即所谓系统消光。
衍射矢量方程与倒易点阵结合,表示衍射条件与衍射
方向。
反射球中的衍射矢量与倒易矢量的等同,直接把正空
间与倒空间联系起来了。
46
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练习题
布拉格方程及每部分所代表的意义。
劳厄方程与布拉格方程的一致性。 干涉指数和晶面指数有什么区别?
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1
2
第三章 X射线衍射原理
1、晶体衍射两要素
2、劳厄(Laue)方程
3、布拉格(Bragg)方程
4 劳厄方程与布拉格方程的一致性 5 衍射矢量方程和厄尔瓦德图解
3
4
晶体的X射线衍射: 当一束X射线照射到晶体上时,首先被电子所 散射, 每个电子都是一个新的辐射波源 ,向空间辐射出与入 射波同频率的电磁波。可以把晶体中每个原子都看作 一个新的散射波源, 同样各自向空间辐射与入射波同 频率 的电磁波。由于这些散射波之间的干涉作用, 使 得空间某些方向上波相互叠加, 在这个方向上可以观 测到 衍射线,而另一些方向上波相互抵消,没有衍射 线产生。 X射线在晶体中的衍射现象, 是大量的原子散射波互 相干涉的结果。
注意:实际测量的衍射谱中的衍射线条对应的是干涉指数。即有可能 出现(200)、(222)、(300)等指数。
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布拉格方程的说明
θ角,即入射线或者反射
线与晶面间的夹角,也称 掠射角。 1,当用单色X射线(λ一定) 照射多晶体,晶面间距相 同的晶面, θ相同。 2, λ一定,d越小, θ越 大。即面间距小的晶面, 在高角度处产生衍射。
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3.3布拉格定律
•
The Nobel Prize in Physics 1915
布拉格(Great Britain) Sr.William Henry Bragg(1862-1942) Jr.William Lawrence Bragg(1890-1971)
主要成就:可分为两个阶段,第一阶段在澳 大利亚,研究静电学、磁场能量及放射射线, 第二阶段即1912年后,与儿子一起推导出布 拉格关系式, 说明X射线波长与衍射角之间 关系,1913年建立第一台X射线摄谱仪,并将 晶体结构分析程序化。 小布拉格是最年轻的诺贝尔程组才能出现衍射,衍射方向是三个圆锥面 的共交线。另外,α ,β ,γ 不是完全彼此独立,这三个 参数之间还存在着一个函数关系: F(α ,β ,γ )=0 例如当α ,β ,γ 相互垂直时,则有
α ,β ,γ 共计三个变量,但要求它们满足上述的四个方 程,这在一般情况下是办不到的,因而不能得到衍射图。
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产生衍射的极限条件
根据布拉格方程,sin θ 不能大于1,因此,产生衍射的条件为:
(1)如果想观察到面间距为d的这一晶面的衍射线(或衍射斑点),X射 线的波长要小于等于这一晶面的二倍。同样,如果要得到至少一个衍 射线或点,X射线的波长必须小于参加反射的晶面中最大面间距的二倍, 否则不能产生衍射现象。 (2)如果晶面间距d一定,λ 越小,可得到的多级反射就越多。如果希 望获得更多的衍射图(斑点或线条),可选用短波长的入射X射线。
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布拉格方程的简化
我们将布拉格方程中的n隐含在d中得到简化的布拉格方程:
晶面(hkl)的n级反射面n(hkl),用(HKL)表示,称为反射面或
者干涉面。(hkl)是晶体中实际存在的晶面,(HKL)仅仅是为了 使问题简化而引入的虚拟晶面。干涉面的面指数称为干涉指数,一 般有公约数n,例如(200)、(222)等。当n=1,干涉指数变为晶 面指数。
以X射线波长的倒数1/λ 为半
径画一球(反射球)。 X射线沿球的直径方向入射。 以X射线传出球面的那一点作 为晶体倒易点阵原点,并将 该倒易点阵引入。 与反射球面相交的结点所对 应的晶面均可参与反射。球 心与该结点的联线,即是衍 射方向。
那些落在球面上的倒易点 才能产生衍射!
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厄瓦尔德图解:
因此,衍射矢量S-S0必垂直于晶面(hkl)。
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43
矢量方程的讨论
1、产生衍射的条件是入射线矢量、反射线
矢量与倒易矢量构成等腰三角形。 2、对于一个给定的X射线(λ 一定),高晶 面指数(H, K, L大)要形成衍射,要求S0 -S越大,即2θ 角度越高。
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衍射的厄瓦尔德(Ewald)图解
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选择反射
(重点:与可见光的镜面反射的区别) X射线在晶体中的衍射实质上是晶体中各原子散射波之间的
干涉结果。只是由于衍射线的方向恰好相当于原子面对入 射线的反射,所以借用镜面反射规律来描述衍射几何。将 衍射看成反射,是布拉格方程的基础。 但是,衍射是本质,反射仅是为了使用方便。X射线的原 子面反射和可见光的镜面反射不同。一束可见光以任意角 度投射到镜面上都可以产生反射,而原子面对X射线的反 射并不是任意的,只有当θ 、λ 、d三者之间满足布拉格 方程时才能发生反射,所以把X射线这种反射称为选择反 射。即衍射方向的选择性。
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为了获得衍射图必须增加一个变量
可采用两种办法:
(1)一种办法是晶体不动(即α 0 ,β 0 ,γ 0 固定), 只让X射线波长改变(λ改变); 即:变λ,晶体不动(即α 0 ,β 0 ,γ 0 不变) ----------劳厄法 (2)另一种办法是采用单色X射线(λ固定),但改变 α 0 ,β 0 ,γ 0 的一个或两个以达到产生衍射的目的。 λ 不变, α 0 ,β 0 ,γ 0 中一个或两改变 --------回转晶体法和粉末法。
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劳厄法
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3.2 劳厄(Laue)方程
(1) 直线点阵的衍
射方向(衍射条件) 设有原子组成的直 线点阵,相邻两原 子间的距离为a, 如图所示,X射线 入射方向S0 与直 线点阵的交角为 α 0。
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劳厄方程中,对于每组HKL,可得到三个衍射圆锥,只有同
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结构因子
产生衍射的充分条件: 满足布拉格方程且F HKL ≠0 由于F HKL =0而使衍射线消失的现象称为系统消光。 包括: 点阵消光 结构消光
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系统消光
四种基本点阵的消光规律
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结构消光
由两种以上等同点构成的点阵结构来说,一方面要遵
循点阵消光规律,另一方面,因为有附加原子的存在, 还有附加的消光,称为结构消光。这些消光规律,存 在于金刚石结构、密堆六方等结构中。
前者从一维点阵出发,后者从平面点阵出发,两个方
程是等效的。
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The Nobel Prize in Physics 1914
1914年获物理奖 M. (Max von
Laue,1879-1960)
•德国物理学家,X射线晶体分析的 先驱。 •1904年,博士论文,导师:普朗 克(量子力学,1918,诺奖), 助教; • 1907年,他从光学角度支持爱 因斯坦狭义相对论; •1912年最重要贡献是发现了“X 射线通过晶体的衍射”。爱因斯 坦曾称此实验为"物理学最美的 实验"。 •1914年获得诺奖。
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这规定了X衍射线或斑点的数目:
(1)对于一定波长的X射线而言(λ一定),晶体中能 产生衍射的晶面数是有限的。 (2)对于一定晶体而言(所有d值固定),在不同波长 的X射线下,能产生衍射的晶面数是不同的。
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衍射花样和晶体结构的关系
从布拉格方程可以看出,波长一定的情况下,衍射线的方向是晶面间
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总结:
(a)可见光在任意入射角方向均能产生反射,而X射线
则只能在有限的布拉格角方向才产生反射。就平面点 阵(hkl)来说,只有入射角θ满足此方程时,才能在 相应的反射角方向上产生衍射。 (b)可见光的反射只是物体表面上的光学现象,而衍射 则是一定厚度内许多间距相同晶面共同作用的结果。
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反射级数
n为反射级数。
当晶面间距(d值)足够大,以致2dsinθ 有可能为波长的两倍或者三
倍,甚至以上倍数时,会产生二级或多级反射。所以,对于一个固定 波长的入射线,能不能发生二级或多级反射,依赖晶面间距是否足够 大。
这样,把(hkl)晶面的n级反射看成为与(hkl)晶面平行、面间 距为(nh,nk,nl) 的晶面的一级反射。如果(hkl)的晶面间距是d, n(hkl)晶面间距是d/n。因此,反射级数是针对实际晶面(hkl)而 言,对于虚拟晶面,例如n(hkl),只有一级反射。