正畸头影测量分析演示文稿
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X线头影测量分析 (1)
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基准平面
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测量平面
－测量平面
腭平面(ANS-PNS)
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－测量平面
全颅底平面（Ba-N):颅底点与鼻根点连线
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全颅底平面
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－测量平面
牙合平面(OP)
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测量内容
S-Co（下颌位置）
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上下前牙常用测量项目
－测量内容
UI－SN angle
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－测量内容
LI－ MP angle
此角越大则下前牙？
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唇倾度大
－测量内容
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U1－NA:上切牙对于前颅底的相对倾斜度
测量内容
Ptm-A （上颌长）
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测量内容
Ptm-S（上颌位置）
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测量内容
S-Go后面高
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测量内容
Go-Co下颌支长
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测量内容
Go-Pg（下颌体长）
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测量内容
N-ANS上面高
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上下颌骨的常用测量项目
－测量内容
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SNA angle：反映上颌相对颅骨的前后位置
－测量内容
SNB angle：反映上颌相对颅骨的前后位置
正畸投影测量优选演示
正畸投影测量
优选正畸投影测量ppt
X线头影测量是测量X线头颅侧位 定位片所得的影象，对牙颌、颅面各 标志点描绘出一定的线角进行测量分 析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的 结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去
X线头影测量的主要应用
• 1、研究颅面生长发育 • 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 • 3、确定错合畸形的矫治设计 • 4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态
髁突后切线_蝶鞍点
上中切牙角
下中切牙角
上中切牙凸距
上中切牙凸距
下中切牙凸距
下中切牙凸距
1全面高 2上面高 3下面高
结构变化
• 5、外科正畸的诊断和矫治设计
描图
软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后 部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼 上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、 眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒 磨牙
•常用的x线头影测量标志点
9
10
常用的基准平面
1前颅底平面 2眼耳平面 3Bolton平面
常用的测量平面
1颅底平面 2腭平面 3合平面
1下颌角点与颏顶点间的连线(Go-Gn) 2通过颏下点与下颌下缘相切的线条 3下颌下缘最低部的切线
1下颌升枝平面 2Y轴 3面平面
常用的硬组织测量项目
SNA角
SNB角
ANB角
面角
23
Y轴角
下颌平面角
颌凸角
上颌长
翼上颌裂-蝶鞍点
下颌长
优选正畸投影测量ppt
X线头影测量是测量X线头颅侧位 定位片所得的影象，对牙颌、颅面各 标志点描绘出一定的线角进行测量分 析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的 结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去
X线头影测量的主要应用
• 1、研究颅面生长发育 • 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 • 3、确定错合畸形的矫治设计 • 4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态
髁突后切线_蝶鞍点
上中切牙角
下中切牙角
上中切牙凸距
上中切牙凸距
下中切牙凸距
下中切牙凸距
1全面高 2上面高 3下面高
结构变化
• 5、外科正畸的诊断和矫治设计
描图
软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后 部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼 上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、 眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒 磨牙
•常用的x线头影测量标志点
9
10
常用的基准平面
1前颅底平面 2眼耳平面 3Bolton平面
常用的测量平面
1颅底平面 2腭平面 3合平面
1下颌角点与颏顶点间的连线(Go-Gn) 2通过颏下点与下颌下缘相切的线条 3下颌下缘最低部的切线
1下颌升枝平面 2Y轴 3面平面
常用的硬组织测量项目
SNA角
SNB角
ANB角
面角
23
Y轴角
下颌平面角
颌凸角
上颌长
翼上颌裂-蝶鞍点
下颌长
X线头影测量分析
• a: 解剖平面——上下 6 的咬合中点与上下 1 切缘 中点的连 线
• b: 功能平面——均分后牙接触点获得 • c: 上颌平面——用得较少
测量平面
面平面（ N-P ） :由鼻 根点与颏 前点连 线 组 成
Y 轴 (Y axis):S 与 Gn 的 连 线 ，代表面部生长 发 育方向
由眼耳平面fh下颌平面mp下中切牙长轴所组成的代表面部形态结构的颌面三角形tweedfma主要由遗传决定正畸治疗主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来达到fmia目标fmia为65是美国白人儿童建立良好面形的重要条件tweed三角白人北京成都下中切牙fh平面fmia655654fh平面mp平面角fma253128下中切牙mp平面impa909498不同人群的fmia目标有差异绘出tweed三角测量fmia55标准值65测量值5510即为下中切牙需要舌倾的度数10088mm即为下中切牙舌倾所需的间根据fma角的大小判断矫治预后
A
B
C
D
X 线头影测量片的描图
传统胶片手绘描图
在 X 线观片灯或专用描图桌上进行 工具：透明硫酸纸、刻度尺、三角板、圆
规、 3H 铅笔等 描图顺序 软组织描记, 可用强光局部观察
X 线头影测量片的描图
使用头影测量软 件（如 WinCeph ）定 点测量
使用绘图软件 （如 Coreldraw) 描 图
• 但靠近颅底的一些点（如 S 点， N 点， Ba 点）在出生后随生长变化很小， 故由它们 构成的平面被用作头 影测 量的 “基准平面”
常用 X 线头影测量 的平面
基准平面 — — 头影测量中相对稳定的平面
前颅底平面（ SN ）：
S
N
代表前颅 底前后范围
• b: 功能平面——均分后牙接触点获得 • c: 上颌平面——用得较少
测量平面
面平面（ N-P ） :由鼻 根点与颏 前点连 线 组 成
Y 轴 (Y axis):S 与 Gn 的 连 线 ，代表面部生长 发 育方向
由眼耳平面fh下颌平面mp下中切牙长轴所组成的代表面部形态结构的颌面三角形tweedfma主要由遗传决定正畸治疗主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来达到fmia目标fmia为65是美国白人儿童建立良好面形的重要条件tweed三角白人北京成都下中切牙fh平面fmia655654fh平面mp平面角fma253128下中切牙mp平面impa909498不同人群的fmia目标有差异绘出tweed三角测量fmia55标准值65测量值5510即为下中切牙需要舌倾的度数10088mm即为下中切牙舌倾所需的间根据fma角的大小判断矫治预后
A
B
C
D
X 线头影测量片的描图
传统胶片手绘描图
在 X 线观片灯或专用描图桌上进行 工具：透明硫酸纸、刻度尺、三角板、圆
规、 3H 铅笔等 描图顺序 软组织描记, 可用强光局部观察
X 线头影测量片的描图
使用头影测量软 件（如 WinCeph ）定 点测量
使用绘图软件 （如 Coreldraw) 描 图
• 但靠近颅底的一些点（如 S 点， N 点， Ba 点）在出生后随生长变化很小， 故由它们 构成的平面被用作头 影测 量的 “基准平面”
常用 X 线头影测量 的平面
基准平面 — — 头影测量中相对稳定的平面
前颅底平面（ SN ）：
S
N
代表前颅 底前后范围
头影测量学【正颌正畸联合治疗中心课件】
Mean 82.8 91.0 17.1 45.0
SD 4.1 7.5 2.3 2.1
⑤
⑥
CASSOS REPORT
Shanghai Analysis
Unit
Maxilla to Cranium 1. SNA 2. NA-FH 3. Ptm-S (//HP) 4. Ptm-A (//HP) deg deg mm mm deg deg deg mm deg deg mm mm %
deg mm mm deg deg deg mm deg deg mm c mm % deg deg % % %
88.0 15.6 46.1 83.2 93.2 -10.9 14.2 35.6 45.8 65.0 69.1 105.2
d
91.0 17.1 45.0 80.1 85.4 6.0 a 17.4 27.3 30.4 71.0 x 56.0 100.0
耳点（Po）： 机械耳点 --- 定位仪耳 塞影像的最上点 解剖耳点 --- 骨性外耳 道影像的最上点
颅底点（Ba）：枕骨 大孔前缘中点
二.上颌标志点
眶点（Or）： 眶下缘最下点 翼上颌裂点（Ptm）：
翼上颌裂影像的最下 点
前鼻棘点（ANS）：
前鼻棘的尖端
后鼻棘点（PNS）： 硬腭后部骨棘之尖
① ③ ④
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
②
CASSOS REPORT
Shanghai Analysis
上颌骨相对于颅底
Maxilla to Cranium 1. SNA 2. NA-FH 3. Ptm-S (//HP) 4. Ptm-A (//HP) Mandible to Cranium
Unit
deg deg mm mm
X线头影测量分析 (1)
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测量上、下颌各自的形态、大小和相互间的位 置关系及牙齿位置或倾斜度
明确牙齿、牙弓、颌骨、颅面间的关系不调 得出相应诊断
前提：
通过X线对正常牙合人 的颅面结构进行分析
得出正常牙合的各 项测量参考标准
作为诊断分析 的基础
正常值的确定
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头影测量分析目的:
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－定点
UI (Upper incisor上中切牙切端)
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3.下颌标志点
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－定点
髁顶点(Co):髁突最上点
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－定点
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关节点（Ar):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点
－定点
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Children儿童 Female女Male男
Specificity Adults
头影测量项目 个体
Female Male
SNA SNB ANB MP-FH PP-FH Yaxis Npg-FH U1-SN L1-MP U1-L1
83 84
80 80
3
4
28 29
5
5
64 65
83 85
75 73
Me (Menton颏下点)
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Gn (Gnathion 颏顶点) :颏前点与颏下点之中点
D点 :下颌体骨性联合部之中心点
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第二次实验
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头影测量平面
精华版X线头影测量分析方法课件
4)SND角：前颅底平面-骨性下 颌联合中点构成的角。代表下 颌整体对颅部的位置关系。
5)U1〖TXX-〗-NA(mm)：上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角：上 中切牙长轴与NA连线的交角。 代表上中切牙的倾斜度和突 度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm)：下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Delaire分析法
13)SL(mm)：蝶鞍点至颏前 点向SN平面作垂线的交点间 距离。代表下颌颏部对颅底
14)SE(mm)：蝶鞍点至髁突 最后点向SN平面作垂线的交 点间距离。代表下颌髁突对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
5)U1〖TXX-〗-NA(mm)：上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角：上 中切牙长轴与NA连线的交角。 代表上中切牙的倾斜度和突 度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm)：下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Delaire分析法
13)SL(mm)：蝶鞍点至颏前 点向SN平面作垂线的交点间 距离。代表下颌颏部对颅底
14)SE(mm)：蝶鞍点至髁突 最后点向SN平面作垂线的交 点间距离。代表下颌髁突对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
头影测量ppt课件
1、X线头影测量内容和意义 2、记存模型
X线头影测量
一、定义
主要是测量x线头颅定位照相所得的影 像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的 线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面 软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查 诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去。
X线头影测量
二、组成 1、头颅定位仪
应通过左右耳塞和眶点指针，使 三者构成一与地面平行的恒定平 面。 2、X线照相 投照距离 不小于150cm. 3、描绘投影图 硫酸纸
X线头影测量分析
Cephalometric analysis
▪ 硬组织测量标志点 ▪ 软组织测量标志点 ▪ 常用平面 ▪ 常用角度 ▪ 常用线距
1. 硬组织测量标志点
颅部 上颌骨
蝶鞍点（S） 鼻根点（N） 机械耳点(P)
前鼻棘(ANS) 上齿槽座点（A） 上中切牙点（U1）
下颌骨
下齿槽座点（B） 下中切牙点（L1） 颏前点（Pg） 颏下点(Me) 颏顶点(Gn)
2. 软组织测量标志点
额点（G） 鼻小柱点（Cm） 鼻下点（Sn） 上唇缘点（UL） 下唇缘点（LL） 软组织颏前点 (Pgs) 软组织颏下点 (Mes) 颈点（C）
5. 常用线距
全 面 高 （/全面高 下面高/全面高
常用线距全面高nnme上面高nnaa下面高aame上面高全面高下面高全面高x线头影测量三主要的应用1研究颅面生长发育2牙颌颅面畸形的诊断分析3确定错颌畸形的矫治设计4研究矫治过程及矫治后的牙颌颅面形态结构变化5外科正畸的诊断和矫治设计6下颌功能分析记存模型?矫正前矫正过程中矫正完成后对牙合状况的记录
X线头影测量
三、主要的应用 1、研究颅面生长发育 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 3、确定错颌畸形的矫治设计 4、研究矫治过程及矫治后的牙颌、颅面形态 、结
X线头影测量
一、定义
主要是测量x线头颅定位照相所得的影 像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的 线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面 软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查 诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去。
X线头影测量
二、组成 1、头颅定位仪
应通过左右耳塞和眶点指针，使 三者构成一与地面平行的恒定平 面。 2、X线照相 投照距离 不小于150cm. 3、描绘投影图 硫酸纸
X线头影测量分析
Cephalometric analysis
▪ 硬组织测量标志点 ▪ 软组织测量标志点 ▪ 常用平面 ▪ 常用角度 ▪ 常用线距
1. 硬组织测量标志点
颅部 上颌骨
蝶鞍点（S） 鼻根点（N） 机械耳点(P)
前鼻棘(ANS) 上齿槽座点（A） 上中切牙点（U1）
下颌骨
下齿槽座点（B） 下中切牙点（L1） 颏前点（Pg） 颏下点(Me) 颏顶点(Gn)
2. 软组织测量标志点
额点（G） 鼻小柱点（Cm） 鼻下点（Sn） 上唇缘点（UL） 下唇缘点（LL） 软组织颏前点 (Pgs) 软组织颏下点 (Mes) 颈点（C）
5. 常用线距
全 面 高 （/全面高 下面高/全面高
常用线距全面高nnme上面高nnaa下面高aame上面高全面高下面高全面高x线头影测量三主要的应用1研究颅面生长发育2牙颌颅面畸形的诊断分析3确定错颌畸形的矫治设计4研究矫治过程及矫治后的牙颌颅面形态结构变化5外科正畸的诊断和矫治设计6下颌功能分析记存模型?矫正前矫正过程中矫正完成后对牙合状况的记录
X线头影测量
三、主要的应用 1、研究颅面生长发育 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 3、确定错颌畸形的矫治设计 4、研究矫治过程及矫治后的牙颌、颅面形态 、结
完整版头影测量
前、后 面 部 高 度
? 前面高（N-M）e : 从鼻根点至颏下点的距离 ? 后面高（S-Go）: 蝶鞍点至下颌角点的距离 ? 后、前面高比（S-Go/N-M）e: 约为62%。值偏大表明
面部呈水平生长型
软组织
常用硬组织分析法
Twee分d 析法 ?FMA ?FMIA ?IMPA
上下颌骨常用测量项目
? SNA均: 值81.7±3.3 ? SNB均: 值77.8±3.6（受SN-FH角影响，需矫正后参考） ? AN：B 当SNA>SN为B正值，当SNA<S为NB负值 ? 颌凸角（angle of conrexity）: 由鼻根点至上齿槽座
点连线与颏前点至上齿槽座点连线延长线交角，均值 为7.3±4.9，值越大表示上颌凸度大，反之上颌后缩 ? Y轴角：Y轴（S-Gn）与SN\FH交角，均值为66.3±7.1。 该角过大，则下颌后缩，生长型为垂直型；反之下颌 发育过度，水平生长型
下齿槽缘点与颏前点间之骨部最凹点
下颌标志点
? 颏前点（Po. Pogonio）n : 颏部最前点 ? 颏顶点（Gn. Gnathion）: 颏前点与颏下点骨连线中点 ? 颏下点（Me. Mento）n ：颏部最下点
下颌标志点
髁顶点（Co. Condylion）: 髁突最上点 关节点（Ar. Articulare ）: 颅底下缘与下颌髁突颈后缘交点， 在颏顶点不清晰时用，为升支平面标志点之一 下颌角点（Go. Gonion）: 下颌角的后下点，即下颌平面和下 颌升支后缘切线交角的角平分线与下颌角的交点（通过下颌平 面与升支后缘切线的交点GO来' 确定）
上颌标志点
?眶点（Or. Orbitale ）: 眶下缘最低点
ห้องสมุดไป่ตู้
头影测量分析课件
Esthetic line- LL (当UL, LL位于EL前方为正值）
Nasolabial angle (鼻唇角NLA, Cm-Sn-UL) Z-Angle
EI：Extraction Index
=APDI+ODI+(IIA-130)/5 - (EL-LP) IIA: Inter Incisors Angle EL: Esthetic Line LP: Lip Position
矢状向
SNA SNB ANB Wits (AO-BO) NA-APo APDI A-N perpendicular (Macnamara) Pog-N perpendicular (Macnamara)
矢状骨面型
I 类骨面型：0° <ANB<5° II类骨面型：ANB>5° III类骨面型：ANB<0°
150
155
拔牙病例 | 临界病例 |不拔牙病例
谢谢大家！
低角型（聚合型）: FMA<22° SN-MP<29°
ODI: Overbite Depth Indicator =AB-MP + PP-FH
72.83+5.22
牙与颌骨
U1-SN L1-MP (IMPA) U1-L1
软组织
Esthetic line- UL (Ricketts Esthetic Line 审美线，Pos-Prn)
垂直向
Mp-FH (FMA) Mp-SN Y axis-FH angle Post face Ht (S-Go) Ant face Ht (N-Me) Post/Ant index ODI
垂直骨面型
正常型：22°<FMA<32° 29°<SN-MP<40°
Nasolabial angle (鼻唇角NLA, Cm-Sn-UL) Z-Angle
EI：Extraction Index
=APDI+ODI+(IIA-130)/5 - (EL-LP) IIA: Inter Incisors Angle EL: Esthetic Line LP: Lip Position
矢状向
SNA SNB ANB Wits (AO-BO) NA-APo APDI A-N perpendicular (Macnamara) Pog-N perpendicular (Macnamara)
矢状骨面型
I 类骨面型：0° <ANB<5° II类骨面型：ANB>5° III类骨面型：ANB<0°
150
155
拔牙病例 | 临界病例 |不拔牙病例
谢谢大家！
低角型（聚合型）: FMA<22° SN-MP<29°
ODI: Overbite Depth Indicator =AB-MP + PP-FH
72.83+5.22
牙与颌骨
U1-SN L1-MP (IMPA) U1-L1
软组织
Esthetic line- UL (Ricketts Esthetic Line 审美线，Pos-Prn)
垂直向
Mp-FH (FMA) Mp-SN Y axis-FH angle Post face Ht (S-Go) Ant face Ht (N-Me) Post/Ant index ODI
垂直骨面型
正常型：22°<FMA<32° 29°<SN-MP<40°
X线头影测量分析 (1)
Children儿童 Female女Male男
Specificity Adults
头影测量项目 个体
Female Male
SNA SNB ANB MP-FH PP-FH Yaxis Npg-FH U1-SN L1-MP U1-L1
83 84
80 80
3
4
28 29
5
5
64 65
83 85
75 73
1.基准平面
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SN 平面－ 前颅底平面 FH 平面－Frankfort 平面 Bolton平面– Bolton点与鼻根点连线
－基准平面
SN plane前颅底平面
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－基准平面
FH plane眶耳平面
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－基准平面
Bolton平面
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基准平面
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测量平面
－测量平面
腭平面(ANS-PNS)
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－测量平面
全颅底平面（Ba-N):颅底点与鼻根点连线
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全颅底平面
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－测量平面
牙合平面(OP)
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简言之：
通过对X片进行分析、测量，从而了解 牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相 互关系 。
一、主要应用
研究颅面生长发育 牙颌、颅面畸形的诊断分析 确定错牙合畸形的矫治计划 研究矫治中，矫治后的变化 外科正畸的诊断和矫治设计 下颌功能分析
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1.研究颅面生长发育
正畸投影测量PPT医学课件
12
常用的测量平面
13
1颅底平面 2腭平面 3合平面
14
1下颌角点与颏顶点间的连线(Go-Gn) 2通过颏下点与下颌下缘相切的线条 3下颌下缘最低部的切线
15
1下颌升枝平面 2Y轴 3面平面
16
常用的硬组织测量项目
17
SNA角
18
SNB角
19
ANB角
20
面角
21
22
Y轴角
22
下颌平面角
23
颌凸角
24
上颌长
25
翼上颌裂-蝶鞍点
26
下颌长
27
髁突后切线_蝶鞍点
28
上中切牙角
29
下中切牙角
30
上中切牙凸距
31
上中切牙凸距
32
下中切牙凸距
33
下中切牙凸距
34
1全面高 2上面高 3下面高
35
• Downs分析法
36
谢
谢!
37
X线头影测量
1
2
X线头影测量是测量X线头颅侧位 定位片所得的影象，对牙颌、颅面各 标志点描绘出一定的线角进行测量分 析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的 结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去
3
X线头影测量的主要应用
• 1、研究颅面生长发育 • 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 • 3、确定错合畸形的矫治设计 • 4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态
结构变化
• 5、外科正畸Байду номын сангаас诊断和矫治设计
4
描图
软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后 部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼 上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、 眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒 磨牙
常用的测量平面
13
1颅底平面 2腭平面 3合平面
14
1下颌角点与颏顶点间的连线(Go-Gn) 2通过颏下点与下颌下缘相切的线条 3下颌下缘最低部的切线
15
1下颌升枝平面 2Y轴 3面平面
16
常用的硬组织测量项目
17
SNA角
18
SNB角
19
ANB角
20
面角
21
22
Y轴角
22
下颌平面角
23
颌凸角
24
上颌长
25
翼上颌裂-蝶鞍点
26
下颌长
27
髁突后切线_蝶鞍点
28
上中切牙角
29
下中切牙角
30
上中切牙凸距
31
上中切牙凸距
32
下中切牙凸距
33
下中切牙凸距
34
1全面高 2上面高 3下面高
35
• Downs分析法
36
谢
谢!
37
X线头影测量
1
2
X线头影测量是测量X线头颅侧位 定位片所得的影象，对牙颌、颅面各 标志点描绘出一定的线角进行测量分 析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的 结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去
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X线头影测量的主要应用
• 1、研究颅面生长发育 • 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 • 3、确定错合畸形的矫治设计 • 4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态
结构变化
• 5、外科正畸Байду номын сангаас诊断和矫治设计
4
描图
软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后 部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼 上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、 眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒 磨牙
口腔正畸学：特殊检查-x线头影测量分析法
特殊检查 x线头影测量分析法
主讲人 王澜 1
常用x线头影测量分析法
(1)Downs分析法:以眼耳平面为基准平面 1）骨骼间关系的测量：面角、颌凸角、上下牙槽座角、下颌平 面角、Y轴角等。 2）牙（牙合）与骨骼间关系的测量内容：（牙合）平面角、上 下中切牙角、下中切牙角、下中切牙-下颌平面角、下中切牙-（牙合） 平面角、上中切牙凸距等。
H线：软组织颏前点与上唇相切的线。测 量鼻点、鼻唇沟、上下唇、颏唇沟以及颏前点 与该线的距离，可反映他们之间的位置关系。
Sn线：软组织颏前点与鼻下点的连线，反 映唇部的相对突度。
（7）H角：H线与NB的交角，代表软组织颏 部与唇的位置关系。
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ห้องสมุดไป่ตู้
电子计算机化的X线头影测量
是将头影图上所确定的各测量标志点转化为坐标值，电子计算 机算出各测量项目的结果并进行统计分析。
2
常用x线头影测量分析法
（2）Tweed分析法 ：眼耳平面-下颌平面角（FMA） 下中切牙-眼耳平面角（FMIA） 下中切牙-下颌平面角（IMPA）
Tweed认为FMIA65度是建立良好面型的重要条件，因此要达到 FMIA的矫治目标主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来完成。
3
常用软组织测量内容
(1）面型角（FCA）：额点-鼻下点 连线和鼻下点-软组织颏前点连线的后 交角，代表软组织的面型突度。
X线摄像数值化技术使得对头颅定位片测量分析更简化。
6
谢谢观看THANKS
特殊检查-x线头影测量分析法
主讲人 王澜
7
（2）鼻唇角（NLA）：鼻下点-鼻小 柱点连线和鼻下点-上唇突点连线的前 交角，代表上唇与鼻底的位置关系
（3）面上部高（UFH） （4）上唇长（ULL） （5）下唇长（LLL）
主讲人 王澜 1
常用x线头影测量分析法
(1)Downs分析法:以眼耳平面为基准平面 1）骨骼间关系的测量：面角、颌凸角、上下牙槽座角、下颌平 面角、Y轴角等。 2）牙（牙合）与骨骼间关系的测量内容：（牙合）平面角、上 下中切牙角、下中切牙角、下中切牙-下颌平面角、下中切牙-（牙合） 平面角、上中切牙凸距等。
H线：软组织颏前点与上唇相切的线。测 量鼻点、鼻唇沟、上下唇、颏唇沟以及颏前点 与该线的距离，可反映他们之间的位置关系。
Sn线：软组织颏前点与鼻下点的连线，反 映唇部的相对突度。
（7）H角：H线与NB的交角，代表软组织颏 部与唇的位置关系。
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ห้องสมุดไป่ตู้
电子计算机化的X线头影测量
是将头影图上所确定的各测量标志点转化为坐标值，电子计算 机算出各测量项目的结果并进行统计分析。
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常用x线头影测量分析法
（2）Tweed分析法 ：眼耳平面-下颌平面角（FMA） 下中切牙-眼耳平面角（FMIA） 下中切牙-下颌平面角（IMPA）
Tweed认为FMIA65度是建立良好面型的重要条件，因此要达到 FMIA的矫治目标主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来完成。
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常用软组织测量内容
(1）面型角（FCA）：额点-鼻下点 连线和鼻下点-软组织颏前点连线的后 交角，代表软组织的面型突度。
X线摄像数值化技术使得对头颅定位片测量分析更简化。
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特殊检查-x线头影测量分析法
主讲人 王澜
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（2）鼻唇角（NLA）：鼻下点-鼻小 柱点连线和鼻下点-上唇突点连线的前 交角，代表上唇与鼻底的位置关系
（3）面上部高（UFH） （4）上唇长（ULL） （5）下唇长（LLL）
正畸投影测量ppt课件
结构变化
• 5、外科正畸的诊断和矫治设计
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描图
软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后 部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼 上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、 眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒 磨牙
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•常用的x线头影测量标志点
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8
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髁突后切线_蝶鞍点
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28
上中切牙角
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Байду номын сангаас
29
下中切牙角
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上中切牙凸距
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上中切牙凸距
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下中切牙凸距
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下中切牙凸距
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1全面高 2上面高 3下面高
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• Downs分析法
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谢
X线头影测量
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X线头影测量是测量X线头颅侧位 定位片所得的影象，对牙颌、颅面各 标志点描绘出一定的线角进行测量分 析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的 结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去
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3
X线头影测量的主要应用
• 1、研究颅面生长发育 • 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 • 3、确定错合畸形的矫治设计 • 4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态
谢!
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常用的硬组织测量项目
SNA角
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• 5、外科正畸的诊断和矫治设计
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描图
软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后 部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼 上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、 眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒 磨牙
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•常用的x线头影测量标志点
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髁突后切线_蝶鞍点
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上中切牙角
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下中切牙角
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上中切牙凸距
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上中切牙凸距
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下中切牙凸距
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下中切牙凸距
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1全面高 2上面高 3下面高
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• Downs分析法
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谢
X线头影测量
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X线头影测量是测量X线头颅侧位 定位片所得的影象，对牙颌、颅面各 标志点描绘出一定的线角进行测量分 析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的 结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去
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X线头影测量的主要应用
• 1、研究颅面生长发育 • 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 • 3、确定错合畸形的矫治设计 • 4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态
谢!
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常用的硬组织测量项目
SNA角
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定点
P( Porion耳点 ）：机械耳点
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定点
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颅底点( Ba,basion ）枕骨大孔前缘中点
Байду номын сангаас
定点
Bolton点：枕骨髁突后切迹最凹点
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硬组织测量标志点
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2.上颌标志点（7个）
➢眶点（Or）：眶下缘最下点 ➢翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂影像的最下点 ➢前鼻棘点（ANS）：前鼻棘的尖端 ➢后鼻棘点（PNS）：硬腭后部骨棘之尖 ➢上齿槽座点（A）：前鼻棘与上齿槽缘间的最凹点 ➢上齿槽缘点（Spr）：上牙槽突的最前下点 ➢上中切牙点（U1）：上中切牙切缘之最前点
正畸头影测量分析演示文稿
优选正畸头影测量分析
简介
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❖ 1934年Hofrath and Broadbent 提出
❖ 我国于20世纪60年代初运用于临床
❖ 通过测量X 线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、 颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从 而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅 面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构 中去,它是正畸临床诊断及治疗设计的一种重要手 段.
5.外科正畸的诊断和矫治设计
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❖ 通过X线对颅面畸形患者进行分析 ❖ 得出畸形的机制
❖确定部位、方法及需要移动或切除的部位
二、头颅侧面定位X片的拍照原理和方法
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❖ 定位原理： 1、通过定位仪上的左右耳塞与眶点指针三者构成的眼耳平面与 地面平行。
2、自然头位法
标志点
▪ 硬组织测量标志点 ▪ 软组织测量标志点
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1、硬组织测量标志点
1.颅部标志点（5个）
➢蝶鞍点（S） ➢鼻根点（N） ➢机械耳点(P) ➢颅底点（Ba） ➢Bolton点（Bo）
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颅部标志点（5个）
鼻根点（N）：鼻额缝的最前点
蝶鞍点（S）：蝶鞍影像的中心 点
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髁顶点（Co）：髁突影像最上点 关节点（Ar):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点 下颌角点（Go）：下颌角后下点 颏下点（Me）：颏部之最下点 颏前点（Pog）：颏部之最前点 颏顶点（Gn）：颏下点与颏前点之中点 下齿槽座点（B）：颏前点与下齿槽缘之间的凹点 下齿槽缘点（Id）：下牙槽突的最前上点 下中切牙点（L1）：下中切牙切缘之最前点
上齿槽缘点（Spr）：上牙槽突的最前下点
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上齿槽座点(A)：前鼻棘与上齿槽缘间的最凹点
UI (Upper incisor上中切牙切端)
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注意：
由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难
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3.下颌标志点(10个）
传统X线片
数字化X线片
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传统手描图
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数字化描图
常用头影测量标志点
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❖标志点：用来构成一些平面及测量内容的点
1.解剖的，真正代表颅骨的解剖结构 2.引伸的，如两测量平面相交的一个标志点
定点准确才能获得相应准确 的头影测量分析结果！
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2.头影图的描绘
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❖ 传统描图工具：
观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及硬质尖锐 的铅笔等
❖ X线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结 构不完全对称而出现的左右影像不完全重合
按其平均中点来作描绘
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头影图的描绘
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作为诊断分析 的基础
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3.确定错牙合畸形的矫治计划
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正常牙颌 颅面关系
对比
个体牙颌 颅面结构
分析出错牙合畸形的机制 确定牙和颌位的理想位置，制定可行的矫治方案
4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化
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治疗前
对比
治疗中,矫治后
正畸治疗
❖ 简言之：通过对X片进行分析、测量，从而了解 牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相互关系 。
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一、主要应用
❖ 研究颅面生长发育 ❖ 牙颌、颅面畸形的诊断分析 ❖ 确定错牙合畸形的矫治计划 ❖ 研究矫治中，矫治后的变化 ❖ 外科正畸的诊断和矫治设计 ❖ 下颌功能分析
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1.研究颅面生长发育
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❖ 不同个体同一年龄段—横向研究颅面发育 ❖ 同一个体各年龄段---纵向研究颅面发育
明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、 及对颅面生长发育的预测。
2.牙颌、颅面畸形的诊断分析
通过X线对正常牙合人 的颅面结构进行分析
得出正常牙合的各 项测量参考标准
耳点（Po）： 机械耳点---定位仪耳塞
影像的最上点 解剖耳点---骨性外耳道
影像的最上点 颅底点（Ba）：枕骨大孔前缘
中点 Bolton点（Bo）：枕骨髁突后
切迹之最凹点
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定点
S (Sella 蝶鞍中心点)
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定点
N (Nasion 鼻根点)：鼻额缝最前点
上颌标志点（7个）
眶点（Or）：眶下缘最 下点
翼上颌裂点（Ptm）： 翼上颌裂影像的最下 点
前鼻棘点（ANS）：前 鼻棘的尖端
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上颌标志点（6个）
后鼻棘点（PNS）： 硬腭后部骨棘之尖
上齿槽座点（A）： 前鼻棘与上齿槽缘 间的最凹点
上齿槽缘点（Spr） 上牙槽突的最前下 点
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❖ 头颅定位的关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点 指针，三者构成一与地面平行的恒定平面。
定位
患者体位：自然放松
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X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约15cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
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上中切牙点（U1）： 上中切牙切缘之最 前点
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Or (orbitale 眶点) 眶下缘最下点
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翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂轮廓最下点
前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖端
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后鼻棘（PNS）：硬腭后部骨棘之尖
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