位置度公差测量方法

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3﹑以中心线左边第二根端子为例﹐测出实际尺寸 D1(0.82)﹑D2(1.02)﹐根据位置度公差 定义﹐ DE=abs(Da-Dt) =abs{(D1+D2)/2-Dt)} =abs[(0.85+1.00)/2-0.90}] =0.025<0.05 其中﹐DE 表示实际偏差 abs 表示绝对值 Da 表示实际位置尺寸 Dt 表示理论位置尺寸﹐对于不同的端子﹐它们的理论位置尺寸是不同的﹐ 测量时测量者须自行计算 注意﹕ 度 公式中的 D1﹑D2﹑Dt 零


测量
度 度 Th 度 Tv
理論
0.30 Th²+Tv² ²
此外﹐根据上面公式﹐我们还可以推出另一种测量方法﹐但我个人还是推荐采用上述方法 ﹐因为下面这种方法多了一次置中归零﹐置中归零不仅测量繁琐﹐而且会增加测量误差。 DE=abs(Da-Dt) =abs{(D1+D2)/2-Dt)} = abs{[(d1+ Dt) +( Dt-d2)]/2-Dt)} =abs[(d1-d2)/2] =abs[(0.12-0.08)/2] =0.02<0.05
第一种标注方式﹕直接测量
第二种标注方式﹕间接测量
以上两种标注方式中﹐第一种直接对 124 根端子接触区域一一测量其位置度﹐由于端子 接触区域是包在主体内部﹐若采用这种方式﹐测量繁琐困难﹔对于第二种测量方式﹐由于端 子是下料成型﹐且插在主体插槽中﹐插槽控制了端子的平面度﹐因此只须控制 KEY 相对 POST 的位置度与端子锡脚相对 POST 的位置度﹐相应地也就控制了端子接触区域相对 KEY 的位置度﹐且其测量误差相对直接测量极其微小﹐建议采用此种标注方式。


测量
对于 MINI PCI 4.0H﹐存在着两个位置度﹕一个是端子锡脚的位置度﹐此位置度以 POST 为基准﹐用于控制端子锡脚与与 PCB 板的配合﹐现其位置度公差 0.18﹔另一个是端子接触区 域的位置度﹐此位置度以 KEY 为基准﹐用于控制端子接触区域与对插件的配合﹐现其位置 度公差 0.3。 对于第一个位置度﹐其标注方式已统一﹔对于第二个位置度﹐有如下两种标注方 式﹕
四﹑制作位置度公差表 PIN 1 2 3 4 5 BASE D1 D2 Da=(D1+D2)/2 Dt DE 判定


测量
如图﹐IDE 44P 端子在垂直方向上具有以下特点﹕排数少(只有两排)﹐每排端子数量 多(达 22PIN)﹐长度值为端子材厚值﹐对于不同的端子﹐其值差异极小﹐因此我们可把上 排端子和下排端子分别看成两个整体。下面以下排端子为例介绍其测量方法。 测出角柱垂直方向上Φ 的实际尺寸﹐然后置中归零﹔ 往下偏移 ﹐然后归零﹔ 分别找出位置向上和向下偏离最大的端子﹐测出其端子上下表面的距离﹐并测出端 子实际材厚值﹕ DE1=d1-T/2=0.15-0.20/2=0.05 DE2=d2-T/2=0.17-0.20/2=0.07 下排端子的位置度最大偏差为﹕max(DE1﹐DE2)=0.07<0.10


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测量

1. 2. 3. 理論 度

度 理論



度 标 测量
测量步骤﹕ 1﹑对端子进行编号﹕
2﹑置中归零﹕先测出左柱宽 1.00﹐然后第一次置中归零(测量右柱宽也一样)﹐再测量 其到右 柱两边的 距离 14.25﹑ 14.95 ﹐进行第 二次置 中归零﹔
第一次置 中归零
第二次置 中归零
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