IC测试设备

数字电路测试系统

美国Credence公司Electra MSR 100MHz

台湾德律TR-6010 逻辑测试系统

日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统安捷伦83000 数字电路测试系统

混合信号电路测试系统

美国Credence公司Electra MSR 100MHz Teradyne Integra J750 Test System

LTX Synchro/Fusion HT

SZ M3650

模拟电路测试系统

台湾德律TR-6800电源管理器件测试机

Teradyne A585/A575

LTX TS80/88

测试机接口板

Electra MSR 100MHz客户定制型

V777 测试通道扩展板-- CECC设计制作

V777 测试通用接口板-- CECC设计制作

IMS100用户定制型接口板-- CECC设计制作

SOC器件测试系统安捷伦93000 SOC 测试系统Teradyne J971

Teradyne J973

LCD器件测试系统

存储器测试系统Sytest Q2-52

RFIC器件测试系统LTX Fusion RF

Teradyne Catalyst RF

Agilent Hp93000 RF

测试座及夹具

通用测试座

特殊夹具

美国Credence公司Electra MSR 100MHz

美国Credence公司Electra MSR 100MHz

概述

·100MHz量测速率的功能验证性设备，具有Funtional Pattern产生、

仿

真、测试，DC参数量测等功能。

·非常适合IC设计公司进行样片芯片验证性测试及分析

特性:

·4M的向量存储深度/通道完整的功能Pattwen和DC参数测试系统·UNIX系统的操作软件，可视化友好界面·Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析 ·可连接LABVIEW辅助性工具

·直接连接到工作站服务器

系统规格

·时钟频率：100 Mhz

·数据速率：200 Mbits/Sec

·1.5 ns的上升和下降时间（ECL、CMOS 电路）·每个管脚的电压和负载可编程

·每个管脚可编程边缘分辨率50 ps

·7 bits per Channel for Simultaneous Real-time ·Compare and Data Acquisition

·时钟线形稳定，偏差≦±100 ps ·系统偏差≦±1ns (ATS1)

·每个管脚可选用直流精密测量单元·Window、Edge和Dual-Edge 采样·128个I/O管脚(ATS1) ·APMU：直流精密测量单元·2.1 Gb扩展图形存储器

·PCI-GPIB 和PCI-VXI接口板·Sun Ultra 10 工作站

系统软体功能

·TestEnv：基于Xwindows的测试软件环境，包括·IMS Screens、IMS-Shmoo、TestLITE和·MATSS测试服务器·IMS-Link：提供脱机向量转换软件编辑能力和通用仿真器支持

·TestVIEW (V7.2e) ：图形测试编程语言

系统模组Module

·Control Module x1 ·Timing module x1 · Data module x8 ·Analytical DC PMU module x1

Socket Card 种类及数量

·DIP Auto Socket Card 40 *1

·ATS1/MSTS1 Anolog Interface Board *1 ·Force Autocal Interface Board *1 ·Open Custom DUT Interface Board *13

·ATS1/MSTS Fixture Board *1

·Force Autocal *1

·Compare Autocal *1

·IMS Adapter Board *1

台湾德律TR-6010 逻辑器件测试机

概述：

·专为10MHz逻辑IC测试机, 具有Function Pattern测试, Dc 参数量测等功能

硬件结构：

特性：

·2M的向量存储器深度

·可4组并行测试

·完整的功能Pattwen和DC参数测试·驱动电压：+-8V，比较电压：6V ·具有Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析

·测试程序调试工具

·完善的测试诊断报告和柱状图

·TTL和GPIB接口, 可直接连接至prober和handler ·紧凑小型，易安装

资源配置：

·测试控制器：奔腾III以上PC ·系统软件：MS-DOS ·电源要求：（1）单相交流，AC 110V 10A /50-60Hz （2）单相交流，AC 220V 6A /50-60Hz

性能参数：

·测试频率：10MHz

·周期速率：100nS-1.31mS ·周期分辨率：20nS

·测试通道：最大128个·多组测试：2/4组并行测试·定时器：4Pins/TG

·定时器分辨率：10nS ·闸门模式：边沿式

·测试向量深度：2M

·驱动器：VIH：+-8V 分辨率：5mV ·VIL：+-8V 分辨率：5mV

·比较器：VOH：+-8V 分辨率：5mV ·VOL：+-8V 分辨率：5mV

PMU：1组/板卡，最大8组

施加电压/ 测量电流范围：

级别电压精确度分辨率

0 10V +%+-5mV 2.5mV

1 10V +%+-5mV 2.5mV

2 10V +%+-5mV 2.5mV

3 10V +%+-5mV 2.5mV 施加电流/ 测量电压范围：HVPMU：2组/板卡，最大16组施加电压/ 测量电流范围：

施加电流/ 测量电压范围：

日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统（一）