X-射线荧光光谱法测定硅铁合金中硅不确定度的评定111
离心浇铸制样—X射线荧光光谱法测定硅铁中的硅
％
制备完成后按照仪器工作条件测定荧光强度 ，
以硅 含 量 为 纵 坐 标 ， 以强 度 为 横 坐 标 ， 立 回归 曲 建
线 （ 图 １ 。 曲线 的回归 方 程 为 Ｗ ＝５ ６ ９ １ ２ 见 ） ．２６ —１ ．
６ ，为元素的荧光光强 ， 为硅元素的标准含量。 ８Ｉ ｗ
３ 结果 与讨论
摘
要 ： 用 离心 浇铸制样 测硅 铁 中硅 的含 量 ， 采 能克服 铁 合 金存 在 的矿 物 、 效应 和 颗粒 效 应 ， 方 法操 作 简 该
单、 快速 、 结果 准确 。
关键 词 ： Ｘ射 线 荧光 光谱 ； 硅铁 合金 ； 离心 浇铸
Ｏ 前 言
目前 ， 钢 原料 检测 中心主 要采 用 高 氯 酸脱 水 杭
２ ２ 工作 曲线 的建 立 ．
称取 ４ ０～４ｇ纯 铁 ， 按 Ｍ 试 样 ： 纯 铁 ＝１ １ 并 Ｍ ：
２ 的 比例准确称取试 样 ， 纯铁和试样一并移人 ０ 将
按 照 ２ １ 样条 件 分 别制 备 ６个 硅 铁 标 样 ， ．制 其
。 坩埚内 ， 再把坩埚放人高频离心浇铸机内进行熔融 编 号和 硅含 量 见表 ２ （ 了防止 熔 融 过 程 中氧 化 ， 融 时要 预 抽 真 空 和 为 熔 表 ２ 硅 铁 标样 的含 量
验 室 。９８ １（ ）８ ８ １９ 。５２ ：３ ６
４ 结语
ｘ射 线荧 光光 谱分 析 通 常采 用 玻 璃 珠熔 融 、 压 片和 离心 浇 铸 三 种 制 样 方 法 。玻 璃 熔 融 法 能 消 除
基体 的颗粒效应和矿物效应 ， 但制作工艺复杂 ， 时 间长 ， 还会侵蚀铂金坩埚 ， 成本 高。压片法存 在颗 粒效 应和 矿物 效应 ， 响测定 结 果 的 准确 性 。本 法 影 采用纯铁作为稀释剂 ， 经高频熔融后使铁合金的颗
X射线荧光光谱法快速测定硅锰、硅铁合金中硅锰磷硫含量的测定
X射线荧光光谱法快速测定硅锰、硅铁合金中硅锰磷硫含量的测定高 云（内蒙古德晟金属制品有限公司质计部检化验中心，内蒙古 鄂尔多斯 ０１６０１４）摘 要：本文系统的研究了用ＸＲＦ压片测定硅锰和硅铁合金中Ｓｉ、Ｍｎ、Ｐ、Ｓ的试验方法，分析其准确度和精密度。
提高了经济效益和社会效益，并将分析结果与国家标准分析结果进行比对。
关键词：ＸＲＦ压片法；硅锰；硅铁合金；常规元素中图分类号：Ｏ６５７．３４；ＴＦ６４５ 文献标识码：Ａ 文章编号：１００２－５０６５（２０１９）１３－０２５５－２Rapid determination of si-mn phosphorus and sulfur content in si-mn andsi-fe alloys by X-ray fluorescence spectrometryGAO Yun（Ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ ａｎｄ Ｌａｂｏｒａｔｏｒｙ Ｃｅｎｔｅｒ ｏｆ Ｑｕａｌｉｔｙ ａｎｄ Ａｃｃｏｕｎｔｉｎｇ Ｄｅｐａｒｔｍｅｎｔ ｏｆ Ｉｎｎｅｒ Ｍｏｎｇｏｌｉａ Ｄｅｓｈｅｎｇ Ｍｅｔａｌ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ Ｃｏ．， Ｌｔｄ．，Ｏｒｄｏｓ ０１６０１４，Ｃｈｉｎａ）Abstract: Ｉｎ ｔｈｉｓ ｐａｐｅｒ， ｔｈｅ ｍｅｔｈｏｄ ｏｆ ｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ ｏｆ Ｓｉ， Ｍｎ， Ｐ ａｎｄ Ｓ ｉｎ ｓｉ－ｍｎ ａｎｄ ｓｉ－ｆｅ ａｌｌｏｙｓ ｂｙ ＸＲＦ ｗａｆｅｒ ｗａｓ ｓｙｓｔｅｍａｔｉｃａｌｌｙ ｓｔｕｄｉｅｄ， ａｎｄ ｉｔｓ ａｃｃｕｒａｃｙ ａｎｄ ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ ｗｅｒｅ ａｎａｌｙｚｅｄ． Ｔｈｅ ｅｃｏｎｏｍｉｃ ａｎｄ ｓｏｃｉａｌ ｂｅｎｅｆｉｔｓ ａｒｅ ｉｍｐｒｏｖｅｄ， ａｎｄ ｔｈｅ ａｎａｌｙｓｉｓ ｒｅｓｕｌｔｓ ａｒｅ ｃｏｍｐａｒｅｄ ｗｉｔｈ ｔｈｅ ｎａｔｉｏｎａｌ ｓｔａｎｄａｒｄ ａｎａｌｙｓｉｓ ｒｅｓｕｌｔｓ．Keywords: ＸＲＦ ｔａｂｌｅｔ ｍｅｔｈｏｄ； Ｓｉｌｉｃｏｎ ｍａｎｇａｎｅｓｅ； ｆｅｒｒｏｓｉｌｉｃｏｎ ａｌｌｏｙ； Ｃｏｎｖｅｎｔｉｏｎａｌ ｅｌｅｍｅｎｔｓ硅锰和硅铁合金主要是作为钢铁冶炼过程中的复合脱氧剂，合金加入剂，硅锰和硅铁合金里的硅和锰，与氧的亲和力较强，它对于提高钢的强度、硬度和弹性有很重要的意义[1]。
X 射线荧光光谱法测定工业硅中11种微量元素
X 射线荧光光谱法测定工业硅中11种微量元素白万里;张爱芬;石磊;马慧侠;刘静【摘要】The content of micro elements in common binders (including amylum ,methylcellulose ,boric acid and stearic acid) was determined by qualitative and semi‐quantitative analysis software IQ + .Thesample was prepared by grinding and powder pressed method using boric acid and stearic acid as mixed binder . T he content ofiron ,aluminum ,calcium ,manganese ,nickel ,titanium ,copper ,phosphorus , magnesium , chromium and vanadium in industrial silicon was determined by X‐ray fluorescence spectrometry (XRF) . The block‐type industrial silicon samples were treated using iron crucible .The particles with size of 1‐3 mm passing through the screen were used as samples for grinding .The optimal ratio of sample and binder was obtained by experiments ,i .e .,15 g of industrial silicon sample was mixed with 3.0 g of boric acid and 0.20 g of stearic acid .The conditional tests showed that the granularity effect was obviously reduced when the grinding time was more than 120 s .The surface for analysis after sample preparation was firm and smooth .The calibration curve was prepared using the series certified reference materials of industrial sili‐con and then corrected by empirical coefficient method .The spectral overlapping b etween coexisting ele‐ments was corrected .The root mean square deviation (RMS) of calibration curve obtained by analytical software was less than the RMS value required .The precision test results indicated that the relative stand‐ard deviations(RSD ,n=11) ofiron ,aluminum ,calcium ,manganese ,phosphorus ,nickel ,vanadium ,ti‐tanium and magnesium in industrial silicon sample were about 5% .The RSD of chromium was highest , which was also less than 9% .The proposed method was applied to the analysis of in dustrial silicon stand‐ardsamples ,and the found results were consistent with the certifiedvalues .The determination results of unknown samples had no significant difference with those obtained by inductively coupled plasma atomic e‐mission spectrometry (ICP‐AES) .%通过定性半定量分析软件IQ＋测定淀粉、甲基纤维素、硼酸、硬脂酸等常用粘结剂中微量元素含量，选择硼酸和硬脂酸做混合粘结剂，研磨压片法制备样品，用X射线荧光光谱仪（XRF ）测定工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒的元素含量。
用于X射线荧光分析法测量硅铁中硅含量的试样的制备方法[发明专利]
![用于X射线荧光分析法测量硅铁中硅含量的试样的制备方法[发明专利]](https://img.taocdn.com/s3/m/e077a5040975f46526d3e1ce.png)
专利名称：用于X射线荧光分析法测量硅铁中硅含量的试样的制备方法
专利类型：发明专利
发明人：齐超群,郑昌清,高三军,李雪松,张宁,张娜,韩爱丽,黄正一,李宏亮
申请号：CN201810895840.7
申请日：20180808
公开号：CN108918562A
公开日：
20181130
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明涉及一种用于X射线荧光分析法测量硅铁中硅含量的试样的制备方法。
包括一次配料、预氧化、二次配料、熔融，一次配料是用滤纸及混合氧化剂包裹硅铁试样，将试料包裹成球状；预氧化是将坩埚内填满石墨并将球状试料放入石墨凹坑中，然后在高温马弗炉内氧化成椭球状试料；二次配料是在铂金器皿铺碘化铵脱模剂，放置冷却好的椭球状试料，用四硼酸锂和偏硼酸混合熔剂覆盖椭球状试料；熔融是将铂金器皿放入熔片机内，在900℃～1050℃温度状态下熔融19min后得到熔片即为试样，可直接用于X射线光谱分析仪进行分析。
本发明可多样同时制作且过程可控性简单，试验耗时短，制作成本低，X射线荧光分析结果准确度高。
申请人：唐山瑞丰钢铁(集团)有限公司
地址：063300 河北省唐山市丰南区小集镇古庄
国籍：CN
代理机构：唐山永和专利商标事务所
代理人：张云和
更多信息请下载全文后查看。
熔融制样-X射线荧光法快速分析硅铁合金中的元素
熔融制样-X射线荧光法快速分析硅铁合金中的元素
郭艳;齐郁;关晖;刘丽荣
【期刊名称】《电工钢》
【年(卷),期】2024(6)2
【摘要】针对传统化学分析方法分析硅铁合金元素含量操作繁琐、效率低的问题,开发建立了熔融制样-X射线荧光分析法来快速分析硅铁合金元素含量。
研究显示:选用碳酸锂熔融剂对硅铁合金预处理,并在1050℃×15 min条件下熔融,可避免高温硅铁试样对铂金坩埚的损坏,且熔融样品成分均匀;采用X射线荧光分析法分析硅铁合金元素的分析曲线相关系数均在0.99以上,分析结果与标准样品结果、传统国标法一致,多次分析再现性均在允差范围内,分析结果准确可靠;更重要的是,一次分析可快速表征硅铁合金中各元素含量。
【总页数】4页(P44-47)
【作者】郭艳;齐郁;关晖;刘丽荣
【作者单位】武汉钢铁有限公司质量检验中心
【正文语种】中文
【中图分类】TG115.33
【相关文献】
1.熔融制样-X射线荧光光谱法测定硅铁合金中主次元素
2.熔融制样-X射线荧光光谱法测定钨钼矿石中主量元素及矿化元素钨钼
3.熔融制样X-射线荧光光谱法测定
硅铁合金主次元素含量4.熔融制样X射线荧光法测定脱硫石膏主次元素5.熔融制样-X射线荧光光谱分析硅铁合金中多元素含量
因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。
XFR法测定硅铁合金中Al元素含量的不确定度评定
作 者 简 介
刘 国学 ，工程 师 ，９ ２年毕业于天津大学机 电分校 电器 自动 １９
化 系。 ０ ８ ２ ０ 年又在天津理工大学获 电器 自 动化系学士学位 ， 现在焦 化公 司设备材料处从事 电器 自动化技术工作 。
上， 观察运行 ， 适当调整即可 。 ５ 系统投运效果及效益 ５１ 真正 实现 了上升 管氨水压力 与变频器 氨水泵 系 ． 统的闭环调节 ， 克服 了原 系统控 制反应慢 、 误差大 、 波
５ 设备通过 上位机操作 和监控 ， ． ５ 节约 了人力 资源 ，
实现 了减员增效 。
任何分析测量结果都存 在不确定性 ， 了通 过度 为 量测量结果 的可信度来 证明测量结果 的适宜性 ， 一个
有用 的方法就是测量 不确定度 。不确定度越 小 ， 则测
量结果 的可疑程 度越小 ， 可信程 度越大 ， 其应 用价 值 越高 。因此 ， 在实际工作 中正 确评定分析方法 的测 量
６ 结 束 语
高压 氨水 泵变 频 ＰＤ恒压 控 制于 ２０ Ｉ ０ ６年 １ ０月
改造应 用至今 ，成功 实现 了氨水压 力 的恒压 自动调 节， 节约 了电能 ， 同时降低 了职工 劳动强度 ， 延长 了设
动大等缺 陷 ， 氨水压力 保持恒定 ， 使 电机 在一定 范 围
内实 现了平 滑调速 。
２１ 年第３ ００ 期
天津 云 分
度 也需要采用 对观测 列进行统 计分析 的方法来 评定 标 准不确定度 ， 应该成 为测量 重复性 的一部分 ， 在测
医用诊断X射线辐射源检定装置测量结果不确定度的评定
医用诊断X射线辐射源检定装置测量结果不确定度的评定医用诊断X射线辐射源检定装置是医院中常见的一种设备，用于对X射线辐射源进行定期检定，以保证其准确性和稳定性。
对于检定装置的测量结果不确定度评定并不容忽视。
因为测量结果的不确定度直接影响到X射线辐射源的精度和可靠性，所以对于检定装置的测量结果不确定度的评定至关重要。
测量结果的不确定度评定是指在一次测量实验中，由于各种因素的存在，所导致的测量结果的不确定性。
它是用于描述测量结果的精确程度的一个数值。
测量结果的不确定度评定是一个复杂的过程，需要考虑到各种影响因素，如环境条件、人为误差、测量设备精度等因素的影响。
这些因素都会对测量结果产生影响，从而影响到测量结果的精确度和可靠性。
在进行医用诊断X射线辐射源检定装置的测量结果不确定度评定时，首先需要对检定装置所涉及的各方面因素进行分析和考量。
需要考虑到X射线探测器的灵敏度、分辨率和响应线性等因素；同时还需要考虑到数据采集系统的采样率、滤波器的性能等因素。
还需要考虑到环境条件对测量结果的影响，如温度、湿度等因素，以及人为误差和测量设备的精度等因素。
在对这些因素进行分析和考量之后，需要利用适当的方法来进行测量结果的不确定度评定。
通常可以采用置信区间估计、方差分析、置信椭圆法等方法来进行不确定度评定。
这些方法可以有效地评定出测量结果的不确定度，并对测量结果的精度和可靠性进行准确度量。
还需要考虑到对于医用诊断X射线辐射源检定装置的测量结果不确定度进行评定时，应该制定相应的标准和规范。
这些标准和规范可以对检定装置的测量结果不确定度的评定进行规范和统一，从而确保测量结果的可靠性和准确性。
还需要建立起相关的实验室质量体系和评价体系，来对检定装置的测量结果不确定度进行监督和管理。
X射线荧光光谱法测定工业硅样品中Fe的不确定度评定
ｎ ｌｌ ａ ｙ ｃ ｌｃ ａ ｕ ｌ ａ ｔ ｅ ｄ，ａ ｎ ｄ ｔ ｈ ｅ ｕ ｎ ｃ ｅ ｒ ｔ ａ ｉ ｎ ｔ ｙ ｅ ｖ ｌｕ ａ ａ ｔ ｉ ｏ ｎ ｒ ｅ ｐ ｏ ｔ ｒ ｏ ｆ ｔ ｈ ｅ Ｆ ｅ ｃ ｏ ｎ ｔ ｅ ｎ ｔ ｄ ｅ ｔ ｅ ｍｉ ｒ ｎ ａ ｔ ｉ ｏ ｎ ａ ｎ ｌｙ ａ ｓ ｉ ｓ ｒ ｅ ｓ ｕ ｌ ｔ ｆ ｏ ｒ ｉ ｎ ｄ ｕ ｓ ｔ ｉ ｒ ａ ｌ ｓ ｉ ｌ ｉ ｃ ｏ ｎ ｂ ｙ ｔ ｈ ｉ ｓ ｍｅ ｔ ｈ ｏ ｄ ｓ ｉ ｓ
２ ０ １ ３年 ｌ Ｏ月 பைடு நூலகம்
云南 冶 金
ＹＵＮＮＡＮ ＭＥ ＴＡＬ Ｌ ＵＲＧＹ
０ｃ ｔ ．２ ０１ ３
第４ ２卷 第 ５期 （ 总第 ２ ４ ２期 ）
Ｖ ｏ １ ． ４ ２ ．Ｎ ｏ ． ５（ Ｓ ｕ ｍ ２ ４ ２ ）
ｘ射 线 荧 光 光 谱 法 测 定 工业 硅 样 品 中 Ｆ ｅ的不 确 定 度 评 定
ＧＵ Ｓ ｏ ｎｇ 。
，
ＹＡＮＧ Ｈａ ｉ —ａ ｎ。
，
Ｌ Ｉ Ｕ Ｙｉ ｎ ｇ—ｂ ｏ ，Ｌ ＵＯ Ｓ ｕ ｎ ，
（ １ ．Ｋ ｕ ｎ ｍｉ ｎ ｇ Ｍｅ ｔ ａ ｌ ｌ ｕ ｒ ｇ ｉ ｃ ａ ｌ Ｒ ｅ ｓ ｅ ａ ｒ ｃ ｈ Ｉ ｎ ｓ ｔ ｉ ｔ ｕ ｔ ｅ ， Ｋ ｕ ｎ ｍ ｉ ｎ ｇ ， Ｙ ｕ ｎ ｎ ａ ｎ ６ ５ ０ ０ ３ １ ， Ｃ ｈ ｉ ｎ ａ ；
依次对分析重 复性 、标 准物质 、分析 曲线 回归 、天平称量等方面引起的不确定 度分量作 出了评定 ，最后计 算了合 成标准不确定度 以及扩展不确定度 ，并给 出使用该方法检测工业硅中 Ｆ ｅ 含量所得分析结果 的不确定度评定报告 。
熔融制样-X射线荧光光谱法测定硅铁合金中主次元素
熔融制样-X射线荧光光谱法测定硅铁合金中主次元素鲍希波;石毓霞;赵靖;韩斌;卢女平【摘要】采用四硼酸锂挂壁制备熔剂坩埚,分散剂溶解并分散硅铁合金样品,蒸干过量水分后加混合熔剂[m(Li2B4O7):m(LiBO2)=67:33]熔融制样,用X射线荧光光谱仪对硅铁合金中Si、Fe、Mn、Al、Ca等元素同时进行测定.本法有效避免了硅铁合金熔融过程中铂金坩埚腐蚀问题,且能够制得适合荧光分析硅铁合金玻璃片,实现了快速而准确地分析硅铁合金中主元素和微量元素.采用本方法分析硅铁合金标准样品,测定值与认定值相符,且主次元素相对标准偏差均能满足硅铁舍金测定需要.【期刊名称】《冶金分析》【年(卷),期】2010(030)005【总页数】5页(P14-18)【关键词】X射线荧光光谱法;硅铁合金;熔融制样;熔剂坩埚【作者】鲍希波;石毓霞;赵靖;韩斌;卢女平【作者单位】河北钢铁集团邯钢技术中心,河北邯郸,056015;河北钢铁集团邯钢技术中心,河北邯郸,056015;河北钢铁集团邯钢技术中心,河北邯郸,056015;河北钢铁集团邯钢技术中心,河北邯郸,056015;河北钢铁集团邯钢技术中心,河北邯郸,056015【正文语种】中文【中图分类】O657.34硅铁合金是炼钢生产所需的重要合金原料,硅铁合金中合金主元素Si含量,不仅是硅铁合金价格核算的依据,也是炼钢生产工艺调整的重要参考指标;而Fe、Mn、Al、Ca等元素含量是衡量硅铁合金质量及适用领域判定依据。
目前,硅铁中Si、Mn、Al、Ca的测定有相应的国家标准方法[1]。
但这些标准方法分析操作复杂,耗费时间,效率较低,不能满足现代化钢铁企业对信息的需求,尤其是不能满足ERP(企业资源计划)信息化系统对检化验数据的快速化和准确化的需要。
X射线荧光光谱(XRF)分析法是一种重要的化学成分析手段,分析元素多,测定的含量范围宽,精度高,可直接同时分析固体、粉末和液体试样中的元素含量。
全自动制样-X射线荧光光谱法测定硅铁中硅
全自动制样-X射线荧光光谱法测定硅铁中硅张东雯;任娟玲;杨蒙;李康【摘要】采用全自动制样,建立了X射线荧光光谱法(XRF)快速测定硅铁中硅的方法.通过对比X-ray专用助磨剂、进口助磨剂、微晶纤维素、硬脂酸等几种助磨剂在制作硅铁压片时的使用效果,确定使用X-ray专用助磨剂作为硅铁压片添加剂,样品与助磨剂的添加比例为9∶1(质量比);全自动制样机制备硅铁压片时,样品初始粒度要求过160目筛网(孔径96 μm)、研磨时间为130 s、压力为35 t、保压时间为20s.用上述方法可以得到结构均匀致密、外表平整光滑的硅铁压片.采用不同时期的多个生产样合并为一个管理样,与购买的硅铁标样配制校准曲线标样,校准曲线硅含量范围能够满足测定要求,并有效消除矿物效应对测定的影响.采用实验方法测定硅铁中硅,分析结果同SN/T 1014.1-2001的氟硅酸钾滴定法相吻合,相对标准偏差(RSD,n=11)小于0.2％.【期刊名称】《冶金分析》【年(卷),期】2016(036)008【总页数】5页(P25-29)【关键词】全自动制样;X射线荧光光谱法;助磨剂;硅铁;硅【作者】张东雯;任娟玲;杨蒙;李康【作者单位】金堆城钼业股份有限公司,陕西华县714101;金堆城钼业股份有限公司,陕西华县714101;金堆城钼业股份有限公司,陕西华县714101;金堆城钼业股份有限公司,陕西华县714101【正文语种】中文硅铁作为冶炼常用原料在生产工艺中具有脱氧脱硫和还原剂的作用，而硅又是硅铁的主要元素，故硅铁中硅含量的控制至关重要。
目前硅铁中硅的测定方法有重量法、氟硅酸钾滴定法、硅钼蓝分光光度法、电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)、X射线荧光光谱法(XRF)等。
重量法分析时间长，程序繁琐，满足不了实际生产需要；硅钼蓝分光光度法、ICP-AES适合低含量硅的测定[1]；一直以来氟硅酸钾滴定法应用较普遍，但操作过程难于控制，容易带入人为误差。
x射线荧光光谱测定金属镀层厚度不确定度的评定
x射线荧光光谱测定金属镀层厚度不确定度的评定X射线荧光光谱是一种非常常见的金属镀层厚度测定方法，它的优点在于可以快速、准确地测定金属镀层的厚度，并且不会对样品造成损伤。
但是，由于测量过程中存在着各种误差，因此需要对测量结果进行不确定度评定，以保证测量结果的可靠性。
首先，需要明确的是，x射线荧光光谱测定金属镀层厚度的不确定度评定是一个比较复杂的问题，需要考虑多种因素。
其中最主要的因素包括：样品的准备、仪器的精度、测量条件的稳定性、数据处理方法等等。
下面我们将对这些因素进行逐一分析。
1. 样品的准备样品的准备是影响测量结果不确定度的一个重要因素。
在样品制备过程中，需要注意以下几点：（1）样品表面应该平整、干净、光滑，避免存在任何杂质或者凹凸不平的情况。
（2）样品的形状和大小应该与仪器的测量范围相匹配，以确保在测量过程中能够完全覆盖到样品表面。
（3）在进行测量之前，需要对样品进行表面处理，以去除表面氧化层等影响测量结果的因素。
2. 仪器的精度X射线荧光光谱仪器的精度也会影响到测量结果的不确定度。
在使用仪器时，需要注意以下几点：（1）仪器的精度和灵敏度应该符合要求，以保证测量结果的准确性。
（2）在进行实验之前，需要对仪器进行校准，以确保仪器输出数据的准确性。
（3）在进行测量时，需要控制好仪器的工作条件，避免因为仪器工作条件不稳定而导致误差。
3. 测量条件的稳定性在进行测量时，测量条件的稳定性也是一个非常重要的因素。
在进行实验之前，需要对测量条件进行优化和控制，以保证测量结果的稳定性和准确性。
具体而言，需要注意以下几点：（1）控制好样品和仪器之间的距离，并保持稳定。
（2）控制好X射线管电流和电压等参数，并保持稳定。
（3）控制好样品和探测器之间的距离，并保持稳定。
4. 数据处理方法最后一个影响测量结果不确定度的因素是数据处理方法。
在进行数据处理时，需要注意以下几点：（1）选择合适的数据处理方法，并对数据进行有效地处理。
熔融制样-X射线荧光光谱分析硅铁合金中多元素含量
熔融制样-X射线荧光光谱分析硅铁合金中多元素含量摘要本文研究熔融制样-X射线荧光光谱分析方法在硅铁合金元素含量测定分析中的应用，以达到确定实验条件和精度的目的。
文章在进行研究的过程中，分析实验基本方案，并对实验过程进行总结，确定最佳实验方法，并确认硅铁合金多元素含量。
关键词：熔融制样—X射线；荧光光谱；硅铁合金；多元素含量硅铁合金在当前社会生产中应用非常广泛，包括在铸造以及建筑等领域的应用，材料应用中展现出稳定性、抗震性以及耐磨性等良好性能。
因此，在材料领域，相关专家开始重视硅铁合金的研究。
但是研究中发现，采用传统化学湿法分析方法，不仅操作繁琐，精度和效率都不合格。
因此，专家一直都在研究高精度、高效率的硅铁合金分析方法。
熔融制样-X射线荧光光谱分析方法在应用的过程中，利用X射线荧光光谱和熔融制样相互融合，能够提升分析精度和效率。
一、分析实验的基本思路本文为深入研究熔融制样-X射线荧光光谱分析方法在硅铁合金多元素含量分析中应用，根据硅铁合金特点和熔融制样-X射线荧光光谱分析方法应用要点，设计基本实验，以下是对实验基本流程进行分析。
本次实验的目标是利用熔融制样-X射线荧光光谱分析方法分析硅铁合金中的多元素含量，根据元素含量分析确定为Si、Fe、Mn、Al、P 等。
实验中以四硼酸锂熔剂为主要试剂，利用铂黄坩埚为主要容器，将四硼酸锂熔剂铺设到铂黄坩埚底部并直接挖设半圆小坑，之后将准备好的硅铁合金样品和氧化剂加入容器中，在样品表面铺设一层四硼酸锂熔剂并使用自动电加热熔设备进行加热，加热完成能够获取硅铁合金标准样品，最后利用X射线荧光光谱分析方法对样品中的元素进行分析，得到元素数值，通过反复试验确认元素分析标准方差。
二、熔融制样-X射线荧光光谱分析方法硅铁合金多元素含量分析实验（一）实验设备和试剂1.实验设备。
根据上述实验基本思路，要求实验中需要准备电子天平、荧光光谱仪、电加热熔样机、铂黄坩埚等，以下表1为仪器具体型号。
X-射线荧光光谱法测定硅质耐火材料中二氧化硅的测量不确定度评定
０ ９７ ．５ ０
０ ０２ ．６ ６
０ ５６ ．３ ４
０． ６３１ ３
由工作 曲线变 动 性 引起 测 量值 的 相 对标 准
不确定 度 为 ：
／ 、
试 样 称量 引 起 的不 确 定 度 ： 品称 量 要求 准 确 样
至 ０ ０ ０ ｇ 按均 匀分 布 ， 确 定 度 为 ０ ０ ０ ／／ ．０ １ ， 不 ． ０ １￣ ３—
９ ．３７ １
ＧＳＷ Ｏ３１ １３
９５ ４ ．７
９５ ２１ ．
９５ ０ ．９
０． １６
０ ５３ ．Ｏ
ＹＳＢＣ１ ０１— ９３ ８８
９６ ６ ．１
０． ０６
Ｏ ２１ ．Ｏ
９７ ４４ ．
ＧＳ ＢＤ５３ — ９ Ｏ１ ２
９ ３８ ８．
０． ０８
Ｏ． ８ Ｏ２
１９ ．７ ３ ２ ５８
２ ．１６ ４ ０３ ９ ２ ．９ ７ ０１ ０６ ２０ ５５ ３． ０６ ２０ １７ ０ ４． ０ ２０ ２１ ７． ９５
— ０ ４１ ．０ ３
０ ５５ ． ０１ ０． ６３ ５７ ０ １１ ．１ ９ ０． ８ ０１ ０ ４６ ．９ ９
为被 测样 品 的测 量次数 ， 如某 样 品重 复测 试 ５次 ，
工作 曲线绘 制后 ， 为保 证 Ｘ荧 光检 测 的稳定 与
准确 度 ， 每天 以高 、 低标校 正工 作 曲线 的漂移 。我们
选择 两个 标样作 为 高 低标 ， 高标 为 Ｇ Ｂ ３ ｌ ２样 Ｓ ５ Ｏ 一９ 品， 低标 为 Ｇ Ｗｏ １ Ｓ ３ １样 品 ， 于测 量 样 品前 对 工作 用
Ｘ Ｆ １０ Ｒ 一 ７０型 ｘ射 线 荧 光光 谱 仪 （ 日本 岛津 公
X射线荧光光谱法分析硅锰合金中的硅、锰、磷
X射线荧光光谱法分析硅锰合金中的硅、锰、磷发布时间：2021-09-06T11:44:02.100Z 来源：《科学与技术》2021年12期作者：林文龙[导读] 建立用粉末样品压片、X射线荧光光谱法，测定硅锰合林文龙钦州大锰新材料有限公司广西钦州 535000摘要：建立用粉末样品压片、X射线荧光光谱法，测定硅锰合金的主元素含量的分析方法。
方法快速、准确、成本低。
关键词：X射线荧光光谱法；硅锰合金；硅、锰、磷引言X射线荧光光谱技术具有多元素同时测定川，操作简便快速，重现性好，准确度高等优点，正好满足这一要求。
一、实验部分1.1材料与试剂硅锰合金试样(粒度0.080mm)；可溶性淀粉(分析纯)；工业硼酸.1.2仪器ELITE-600型X荧光分析仪(上海精谱科技有限公司)；YP-60T压片机(天津天科仪器公司)；天平(精度:0.0001g，上海分析仪器厂)；称量瓶(直径40mm，高70mm).1.3实验方法称取4.0000g待测样品、0.4000g可溶性淀粉，依次全部转入直径40mm、高70mm的称量瓶中，盖严磨口玻璃盖，压住，振荡约1min(约振荡100次)，混合均匀，在压片机压腔内用硼酸衬底镶边，将混合均匀的样品定量全部转入压片机压腔内，用30t以上的压力，压成均匀光滑的圆片，上机测量。
二、结果与讨论2.1 稀释剂、粘结剂没有粘结剂的存在，硅锰合金很难直接压片，所以必须借助粘结剂来压铸成型；同时用稀释剂来稀释以降低基体干扰。
常用的固体粘结剂有硼酸、可溶性淀粉、硬脂酸、聚乙烯粉、甲基纤维素等。
本文选用实验室常见的硼酸和可溶性淀粉进行试验，发现硼酸在振荡混合时易起静电，常产生挂壁情况，难于准确定量，因此只用硼酸作为镶边衬底的压片材料来增加压片强度。
可溶性淀粉细腻，直接用可溶性淀粉作粘结剂压片，个别压片会有边缘部分裂纹和试样脱落现象，压力变大时也会有脱模困难的情况发生。
为避免上述情况的出现，本文用硼酸衬底镶边，可溶性淀粉作稀释剂兼粘结剂，与样品均匀混合后，压制的样片均匀光滑，牢固强度高，且容易剥离。
一种X射线荧光光谱分析低硅硅铁中主要元素含量的方法[发明专利]
![一种X射线荧光光谱分析低硅硅铁中主要元素含量的方法[发明专利]](https://img.taocdn.com/s3/m/1f96d332a58da0116d1749a4.png)
专利名称：一种X射线荧光光谱分析低硅硅铁中主要元素含量的方法
专利类型：发明专利
发明人：殷宏,太井超,闫学会,周垣,田子达
申请号：CN202010512124.3
申请日：20200608
公开号：CN111650231A
公开日：
20200911
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明涉及一种X射线荧光光谱分析低硅硅铁中主要元素含量的方法，包括如下步骤：1)用压片法将各个有化学法定值的标准样品分别制成可供X射线荧光光谱仪分析的标准样片，并用化学法值作为标准值建立标准曲线；2)用X射线荧光光谱仪对上述标准样片分别进行扫描，建立基础分析条件；3)对标准样片按照基础分析条件用X射线荧光光谱仪分别进行测量，进行添加修正，拟合后，重新生成标准曲线；4)用压片法将待测样品制成可供X射线荧光光谱仪分析的待测样片；5)再用X射线荧光光谱仪对待测样片进行X射线荧光光谱分析。
本发明采用超高压压片法用于样品制样，制样时间短，不用加粘结剂，一次成型，可显著提高分析效率，分析结果准确度高。
申请人：天津钢铁集团有限公司
地址：300301 天津市东丽区津塘公路398号
国籍：CN
代理机构：天津市鼎和专利商标代理有限公司
代理人：张倩
更多信息请下载全文后查看。
X射线荧光光谱法测定贵金属含量的不确定度评估方法
ａｎｄ ｎｏｒｍ ａｌ ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ，ｔｈｅ ｇｏｌｄ ｃｏｎｔｅｎｔ ｏｆ ｇｏｌｄ ｐｅｎｄａｎｔｓ ｔｅｓｔ ｒｅｓｕｌｔｓ ｗｅｒｅ ｕｎｃｅｒｔａｉｎｔｙ ｅｖａｌｕａｔｉｏｎ ａｎｄ ｄｉｓｃｕｓｓｅｄ Ｋｅｙ ｗｏｒｄｓ：Ｘ·ｒａｙ ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅ ｓｐｅｃｔｒｏｍ ｅｔｒｙ，ｐｒｅｃｉｏｕｓ ｍｅｔａｌ ｃｏｎｔｅｎｔ，ｕｎｃｅｒ ｔａｉｎｔｙ ｅｖａｌｕａｔｉｏｎ ｍｅｔｈｏｄ
断 ，而 对贵金 属含量 的不确定 度作 出评 价是衡 量产 场发 展要求 贵金属首 饰检测 采用快 速 、无损 的检测 品质量 的重要 内容 。测 量不确定 度是 与测量结 果关 方法 ，ｘ射 线荧 光光 谱法是 目前 技术 比较 成熟 的无
联 的一 个参数 ，用 于表 征合理 赋予被测 量 的值 的分 损检测 方法 ，已得到广 泛应用 。２０００年 ，国家标 准
１ 前 言
金属 纯度 的规定 及命 名方 法 》 对首饰 中贵金 属及 其合金 的纯度 即含量作 出 了明确 规定 。测定 贵金 属
随着人们 生活水 平 的提高 ，贵金属 类首饰 的消 含量 的方法通 常包括重 量法 、滴 定法及 光谱法 等 ，
费量也逐 年增加 ，消费 者对首饰 产 品的质量也越 来 这些方 法均能 给 出准确 的检测结 果 ，但 是实验 周期
物质 标准 值 的测量 平均 值 ；Ｘｉ为标准 物质 的浓 度标 准值 。
黄定 姚撕 测结 果进 行了不确定度 评定 。
XFR法测定硅铁合金中Al元素含量的不确定度评定
XFR法测定硅铁合金中Al元素含量的不确定度评定武晓巍;李江红【摘要】对X射线荧光光谱法测定硅铁合金中AI元素的测量不确定度的来源进行了详细的分析,确认了不确定分量的评定类别,既A、B类方法评定.对测量结果的不确定度进行了评定,在评定过程中发现工作曲线回归引起的不确定度对总不确定度贡献最大,并最终给出了扩展不确定度.【期刊名称】《天津冶金》【年(卷),期】2010(000)003【总页数】3页(P63-65)【关键词】X射线荧光光谱法;硅铁合金;铝;测量不确定度【作者】武晓巍;李江红【作者单位】天津天铁冶金集团有限公司技术中心,河北省涉县,056404;天津天铁冶金集团有限公司技术中心,河北省涉县,056404【正文语种】中文“测量不确定度”是说明测量分散性的参数，是评定测量水平的指标，是判定测量结果质量的依据。
测量结果的质量是科学实验成败的重要因素之一。
可能成为执法和决策的重要依据。
取得市场竞争优势地位，在各方面与国际接轨。
为提高检测质量，改进实验方法等指明方向。
任何分析测量结果都存在不确定性，为了通过度量测量结果的可信度来证明测量结果的适宜性，一个有用的方法就是测量不确定度。
不确定度越小，则测量结果的可疑程度越小，可信程度越大，其应用价值越高。
因此，在实际工作中正确评定分析方法的测量不确定度非常重要。
根据1995年公布的《测量不确定度表示指南》（GUM）国际标准，中国国家质量技术监督局已于1999年发布了JJF1059-1999《测量不确定度评定与表示》［1］计量技术规范，近年来测量不确定度的评定在理化检验中越来越受到重视［2］。
X射线荧光光谱法是各种合金中微量元素常见的检测方法，但对其分析结果的不确定度研究报道却很少。
本文对XRF法测定硅铁合金中Al元素含量的测量不确定度拟定了评定步骤，分析了测量不确定度来源，建立了数学模型并进行分量评定，计算了合成标准不确定度和扩展不确定度，最后完成了不确定度报告，从而获得较为完整的定量分析报告。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
X-射线荧光光谱法测定硅铁合金中硅的测量不确定度评定鲍希波石毓霞(邯钢技术中心，邯郸056015)摘要：针对X-射线荧光光谱法(XRF)测定硅铁合金中Si的测量不确定度来源进行了详细的分析，对XRF法测定硅铁合金中Si的结果的测量不确定度进行了仔细的评定，最终给出了扩展不确定度。
关键词：X射线荧光光谱法；测量不确定度；硅铁合金理化检验工作中，制约分析测试结果准确度的因素主要包括检测方法、标准物质、仪器设备、试剂、操作者水平等，多年来分析检验工作者们对这些因素的作用机理以及如何有效消除或降低影响的研究从没间断过，并获得了有益的结果。
多种制约因素的客观存在使分析测试工作永远不能穷尽测量值与真值之间的差异，因此产生误差这一概念用来表达测量结果的可靠程度，误差愈大，可靠性愈低，反之亦然。
随着近年来对分析结果制约因素的深入研究，误差已不能准确客观表达测量工作的受阻和制约情形，于是一个新的概念"不确定度(Uncertainty)"被提出来了，不确定度这一概念对于我们许多分析检验人员来说还是比较陌生的，但又是我们必须尽快熟悉的，在今后的工作中，不确定度将会越来越多的出现，而误差的概念将逐渐被谈忘。
JJF1059-1999给出了测量不确定度定义是“表征合理地赋予被测量之值的分散性，与测量结果相联系的参数”。
不确定度越小，则测量结果的可疑程度越小，可信程度越大，测量结果的质量越高，水平越高，其使用价值越高，反之亦然。
测量不确定度根据评定方法的不同区分为A类标准不确定度和B类标准不确定度。
前者是用对观测列的统计得出的不确定度，后者是不同于观测列的统计得出的不确定度，即根据许多已知信息来评定的标准不确定度。
各因素引起的输入量的不确定度分量(包括A类和B类)评定以后，根据不确定度传播定律，对各分量进行合成，从而得到合成标准不确定度，再按所确定的置信概率将合成标准不确定度乘上包含因子，从而得到扩展不确定度，有时也称为展伸不确定度或范围不确定度或总不确定度。
邯钢理化检验分析工作中，X-射线荧光光谱法测定铁矿石、耐火材料、铁合金等冶金材料化学成分已经被广泛应用。
然而在X射线荧光光谱法的测量不确定度评定方面还处于探索阶段。
ISO/IEC指南25：1990《校准与测试实验室资格的通用要求》中指出，实验室的每个证书或报告，必须含有评定标准或测试结果不确定度的说明。
GB/T19001《质量管理和质量保证》中规定，对所用设备的测量不确定度应是已知的。
以使报告使用者了解结果的可靠性，同时也使X射线荧光光谱法的测量结果与其他方法的测量结果具有可比性。
根据国际标准化组织19935年发布公布于世的《测量不确定度表示指南》(GUM)国际标准，中国国家质量技术监督局已于1999年发布了JJF1059-1999《测量不确定度评定与表示》[1]计量技术规范，近年来测量不确定度的评定在理化检验中越来越受到重视[2-4]。
本文根据X射线荧光光谱法测量硅铁中硅含量的方法特点，经分析列出测量不确定度来源，建立数学模型，并进行分量评定，计算合成标准不确定度，评定扩展不确定度，最后完成不确定度报告，从而获得较为完整的定量分析报告。
1 实验部分1.1 主要仪器和试剂日本理学SMX12波长色散X射线荧光光谱仪(X射线管电源50 kV，5 0 mA;P10气1 L/h);岛津AUW120D电子天平(分辨率0.0001 g)。
RYL-02型快速熔样炉（洛阳特耐试验设备有限公司）标准物质：BH 0301-1~BH 0301-6 YSB14603-2001 YSB14604-2001 GBW 01422等四硼酸锂(优级纯)混合熔剂(67%四硼酸锂和33%偏硼酸锂)碘化铵(分析纯)分散剂(分析纯)1.2 环境条件温度设置为(23±2)℃，湿度为(60±5)%。
电源220 V，波动小于5%。
1.3 被测对象硅铁合金中硅(w(Si) = 46.63% ~77.38%)。
1.4 实验方法采用熔融制备玻璃熔片[5]荧光法测定硅含量。
准确称取6.0000（±0.0005g）克已在110℃烘干1 h的Li2B4O7置于平底铂金坩埚内，加入30%分析纯碘化铵溶液数滴作为脱膜剂，在预先恒温1000℃的电热熔样炉内熔融15min，取出铂金坩埚挂壁制成熔剂坩埚。
待冷却至室温后称取0.2000g硅铁试样和2.000g分析纯分散剂于挂壁后的铂金埚内，加5ml蒸馏水后于低温电炉上加热；待反应停止后，将电炉温度调高蒸干。
待坩埚冷却到室温后，称取1.000g 混合溶剂（67%四硼酸锂+33%偏硼酸锂）于坩埚内并滴加30%碘化铵溶液10滴，将坩埚放置于恒温1000℃熔样炉中，启动熔融程序进行熔融制片。
熔样程序设置：炉温1050℃；前静置时间3分钟；炉体摆动时间15分钟；后静置时间2分钟。
熔融物在坩埚中自动成形，冷却后自动剥离。
用X射线荧光光谱仪测量玻璃片中待分析元素的X射线荧光强度，根据标准样品制作的工作曲线，求出待测元素含量。
2 结果与讨论2.1 数学模型输出量与若干个互相独立的输入量x1，x2，x3，…，x n之间有一定的函数关系，即y = f(x1，x2，…，x n)。
X射线荧光光谱仪是以X射线为激发光源的发射光谱仪，是根据特征谱线强度确定样品中相应元素的含量(定量分析)。
仪器特征谱线强度y(cps)与浓度x(w/%)的数学模型是：x bay+=(1)b ay x -=(2)x bya-=(3)式中：x为被测物质浓度(w/%)；b为截距(cps)；y为元素特征谱线强度(cps)；a为斜率(cps/%)。
2.2不确定度来源的分析关于不确定来源可根据国际标准化组织(ISO)制订的《测量不确定度表达指南》(Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement)和中华人民共和国国家计量技术规范《测量不确定度与表示》(JJF1059-1999)进行分析。
经分析，对于X-射线荧光光谱法测定硅铁合金中硅组分由随机效应所引起的不确定度来源是：测量重复性、样品的矿物效应和颗粒效应、环境温度、湿度变化、标准工作曲线线性回归等，这类不确定分量可采用A类方法进行评定(其中熔融方法消除了样品矿物效应和颗粒度效应所引起的不确定度)。
由系统效应引起的不确定度来源是：标准物质、称量误差、熔剂和脱模剂的杂质导入、供电电源变化等，这类不确定分量可用B 类方法评定。
2.3标准不确定度分量的评定以X-射线荧光光谱法测量硅铁合金中硅为例，对测定结果进行测量不确定度分量的评定。
2.3.1测量重复性的标准不确定度u 1根据X-射线荧光光谱法测定硅铁合金方法，将同一硅铁合金中Si 质量分数为77.38%的样品熔制12个玻璃片，得到硅铁合金中硅元素12个X 射线强度值I i (i =1，2，…，n)为157.561， 157.569，157.576，157.586，157.575，157.571，157.565，157.588，157.575，157.560，157.592，157.567，kcps ，算出标准偏差σ=0.01044，计算u 1，以后的实际测量中，对每种标准样品连续测量3次。
=0.01044/3=0.00603 kcps自由度ν1= n -1=12-1=112.3.2仪器响应值y 多次测试值经统计回归的标准偏差(y 残差的标准偏差)引起的不确定度分量u 2 将已制备好的不同含量10个硅铁等合金的标准样片分别熔制3个玻璃片，即对每个标准物质测量了3次，结果如下表1所示。
表1 测量结果一览表根据表1数据，采用线性回归法求出标准工曲线I i =b +i ac ，方程的回归参数是a =2.0259，b= -1.4098 ，r =0.9995，r 为相关系数。
运用标准工作曲线对某一标样进行了3次测量，取平均浓度c 0。
标准工作曲线的不确定度为：U (c)=∑=-++n 1i 2i 20)c -(c )(11c c n p bS RS R =2)]ac (b -[I n1i 2ii-+∑=n式中：S R 校准工作曲线变动性的标准差； 0c 样品标准浓度；c 样品测量浓度的平均值；n 校准工作曲线标准样品点测量次数；p 被测样品的测量次数。
U （c ）.rel =c u c2.3.3标准样品导致的不确定度u 3U rel （C B ）=2)(Un1i rel2-∑=n c Bi2.3.5 称量误差导入不确定度u 5 天平示值与被称量样品质量的真值之间存在着误差，从天平的校正证书上获得天平最大允许误差±0.1 mg ，半峰宽a 为0.1，称样量为200 mg ，服从均匀分布，所以此因素引入的不确定度分量u 5。
u 5=3a =0·001351(mg)，故称量相对标准不确定度分量为：u 5，rel =mu 52=200051981.0=0.026%2.3.6 熔剂杂质导入的不确定度u 6 在熔制玻璃样品过程中，熔剂中影响分析的杂质将会对结果产生不确定度u 6。
根据优级纯无水四硼酸锂试剂提供的数据，影响Si 分析的杂质的质量分数小于0.002%，按X 荧光光谱法测定硅铁合金中硅含量的方法，熔剂与样品是35∶1的配比关系，其分布也服从均匀分布，所以u 6，rel 为： u 6 =3a =30.002%=0.001155%; u 6，rel ==998.99u61.15502×10-5将u 5和u 6合成得u 5-u 6=rel .26rel .25u u +=2200115502.0026.0+/100=0.026026 (%)3 合成标准不确定度的评定rel u =rel.25rel .22rel .21...u u u +++ 4 扩展不确定度U 的评定通常取置信水平p =95%，包含因子k=2： U= Uc （W M ）×2=2.042×2=0.85(%) 5 不确定度的报告X射线荧光光谱法测量硅铁合金中硅测量结果为w(Si) = (77.38±0.85)%，k =2参考文献：[1] JJF1059-1999，测量不确定度评定与表示[S].[2]王承忠.测量不确定度原理及在理化检验中的应用[J].理化检验(物)，2003，39，57.[3]扬振宇，郭德华.食品中苯甲酸、山梨酸含量测量不确定度的评估[J].化学分析计量，2003(3)：3-6.[4]朱莉，纪红玲.第十一届光谱年会论文集[C].北京：中国金属学会理化检验分会，2002.[5]ISO 12677-2003，Chemical analysis of refractory products by XRF-fused cast bead methods[S].。