晶格缺陷
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第四章晶体中的缺陷与扩散
晶体缺陷的基本类型
热缺陷的统计理论
晶体中的扩散
离子晶体的点缺陷及导电性
4-1晶体缺陷的基本类型
晶体缺陷(晶格的不完整性):晶体中任何对完整周期性结构的偏离就是晶体的缺陷。
按缺陷的几何形状和涉及范围将缺陷分为:点缺陷、线缺陷和面缺陷。
一、点缺陷
点缺陷是在格点附近一个或几个晶格常量范围内的一种晶格缺陷,如空位、填隙原子、杂质等。
由于空位和填隙原子与温度有直接的关系,或者说与原子的热振动有关,因此称他们为热缺陷。
1.弗仑克尔缺陷和肖特基缺陷
弗仑克尔缺陷:当晶格中的原子脱离格点后,移到间隙位置形成填隙原子时,在原来的格点位置处产生一个空位,填隙原子和空位成对出现,这种缺陷称为弗仑克尔缺陷。
肖特基缺陷:当晶体中的原子脱离格点位置后不在晶体内部形成填隙原子,而是占据晶体表面的一个正常位置,并在原来的格点位置产生一个空位,这种缺陷称为肖特基缺陷。
2.杂质原子
在材料制备中,有控制地在晶体中引入杂质原子,若杂质原子取代基质原子而占据格点位置,则成为替位式杂质。
当外来的杂质原子比晶体本身的原子小时,这些比较小的外来原子很可能存在于间隙位置,称它们为填隙式杂质。
填隙式杂质的引入往往使晶体的晶格常量增大。
3.色心
能吸收可见光的晶体缺陷称为色心。
完善的晶体是无色透明的,众多的色心缺陷能使晶体呈现一定颜色,典型的色心是F心。
把碱卤晶体在碱金属的蒸气中加热,然后使之聚冷到室温,则原来透明的晶体就出现了
颜色,这个过程称为增色过程,这些晶体在可见光区各有一个吸收带称为F带,而把产生这个带的吸收中心叫做F心。
4.极化子
电子吸引邻近的正离子,使之内移。
排斥邻近的负离子,使之外移,从而产生极化。
电子所在处出现了趋于束缚这电子的势能阱,这种束缚作用称为电子的“自陷”作用。
产生的电子束缚态称为自陷态,同杂质所引进的局部能态有区别,自陷态永远追随着电子从晶格中一处移到另一处,这样一个携带着周围的晶格畸变而运动的电子,可看作一个准粒子(电子+晶格的畸变),称为极化子。
二、线缺陷
当晶格周期性的破坏是发生在晶体内部一条线的周围近邻,这种缺陷称为线缺陷。
位错就是线缺陷。
刃型位错:刃型位错的位错线与滑移方向垂直。
螺旋位错:螺旋位错的位错线与滑移方向平行。
三、面缺陷 当晶格周期性的破坏是发生在晶体内部一个面的近邻,这种缺陷称为面缺陷,如晶粒间界、堆垛间界。
1.晶粒间界
当晶格周期性的破坏是发生在晶体内部一个面的近邻,这种缺陷为面缺陷。
晶粒之间的交界称为晶粒间界。
晶粒间界内原子的排列是无规则的。
因此这种边界是面缺陷。
晶粒间界内原子排列的结构比较疏松,原子比较容易沿晶粒间界扩散。
2.堆垛间界
我们知道金属晶体常采用立方密积的结构形式,而立方密积是原子球以三层为一组,如果把这样的一组三层记为 ABC ,则晶面的排列形式为:⋅⋅⋅⋅⋅⋅BC ABCABCABCA
如从某一晶面开始,晶体的两部分发生滑移,比如从某C 晶面以后整体发生了滑移,B
变成A ,则晶面的排列形式变成:⋅⋅⋅⋅⋅⋅BACBAC C
ABCAB 这一类整个晶面发生错位的缺陷称为堆垛缺陷。
4-2热缺陷的统计理论
一 热缺陷的产生几率
热缺陷的运动、产生和复合
当空位的运动为主要时,原子脱离格点形成填隙原子的几率
T k E u u P B 121/)(01e 1
++-=τ
当填隙原子的运动为主要时 T k E u u P B 221/)(02e 1++-=τ
T k E u P B /)(0e 1
+-=τ 21u u u += (b) (a)
式中 τ0和E 的值,要看哪一种缺陷的运动为主而定。
二 热缺陷的数目
1. 弗仑克尔缺陷的数目
假设形成一个弗仑克尔缺陷所需的能量是u (u 是将格点上的原子移到间隙位置上所需的能量)。
假设:晶体中有N 个原子,有N ′个间隙位置。
当晶体中存在n 个弗仑克尔缺陷时,晶体内能的变化为nu ,熵的改变与微观状态的改变有关。
T k u T k u N N N n B B 2/2/'e e --≈≈
2.空位和填隙原子的数目
设晶体的原子数为N
空位数目:T k u N n B 1/1e -≈
u1为每形成一个空位所需要的能量。
填隙原子数目:T k u N n B 2/2e -≈
u2为形成一个填隙原子所需的能量。
比较n 1,n 2可以看出,如果造成一个填隙原子所需要的能量u 2比造成一个空位所需要的能量u 1大些,则填隙原子出现的可能性比空位出现的可能性小得多。
4-3缺陷的扩散
扩散都是通过点缺陷的迁移来实现的,因而实际晶体中点缺陷的存在是扩散现象的前提条件。
一、扩散的宏观规律
菲克第一定律 C D j ∇-= 菲克第二定律 C D t
C 2∇=∂∂ 二、.扩散的微观机构
晶体粒子的扩散有三种方式:粒子以填隙原子的形式扩散;粒子借助于空位扩散;以上两种方式并存。
(1)空位机构T k E u a D B 11/)(0121e 21+-=
ν !)!(!
'n n N N C W n N -==!)!(!'''n n N N C W n N -''==
a 是晶格中原子间距,ν01是原子的振动频率,u 1代表每形成一个空位所需的能量,u 1+E 1代表激活能。
(2)填隙原子机构T k E u a D B 22/)(0222e 21+-=
ν a 是晶格中原子间距,ν02是填隙原子的振动频率,u 2代表每形成一个填隙原子所需的能量,u 2+E 2代表激活能。
(3)杂质原子扩散T k E a D B /02e 2
1-=ν ,,0202νν≈≈E E
22n N D D = 因为N 远大于n2,所以杂质原子的扩散系数比晶体填隙原子的自扩散系数要大得多。
当杂质原子以替代方式出现时,由于杂质原子占据了正常格点,所以其扩散的方式同自扩散更为近似,但由于外来原子和晶体中的基本原子的大小及电荷数目有所不同,因此当它们替代晶体中的原子后,会引起周围畸变,使得畸变区域出现空位的概率大大增加,这样杂质原子跳向空位的概率也加大,也就加快了杂质原子的扩散,即替代式杂质原子的扩散系数比晶体自扩散系数大。
4-4离子晶体的点缺陷及导电性
一、离子晶体的点缺陷
晶体中有四种缺陷,A+填隙离子, A+空位,B-填隙离子和B-空位。
由于整个晶体是保持电中性的,因此,对于其中的肖特基缺陷,正负离子空位的数目是相同的;对弗仑克尔缺陷则含有相同数目的正、负离子空位和正、负填隙离子。
二、离子晶体的导电性
在没有外电场时,这些缺陷作无规则的布朗运动,不产生宏观的电流。
当有外电场存在时,这些缺陷除作布朗运动外,还有一个定向的漂移运动,从而产生宏观电流。
正负电荷漂移的方向是相反的但是由于电荷异号,正负电荷形成的电流都是同方向
的。
D T k e B =μ T k
E a T
k ne B 2/022B 2
e -=νσ 电导率σ密切依赖于温度,除了指数因子中的温度T 外,还应注意填隙粒子数n 也随
温度有类似的指数变化关系。