第6章 脉冲反射法超声检测通用技术
超声检测第6章
6.3 耦合剂的选择
影响声耦合的主要因素： 1. 耦合层厚度 2. 工件表面粗糙度 3. 耦合剂声阻抗 4. 工件表面形状
6.3 耦合剂的选择
表面耦合损耗测定与补偿 1. 试块和工件在材质、反射体、探头、仪器相 同条件下，仅表面光洁度不同测出相同反射 体（声程相同）回波高度dB差。 2. 将试块上反射体回波高调至某高h，再提高 测得的dB值，即为补偿。
探头的选择
2.频率的选择（0.5~10MHz） 灵敏度 信噪比 近场区 指向性 从发现最小缺陷能力方面，可提高频率，但对 大工件因声程大频率增加衰减急剧增加。对粗 晶材料如降低频率，且减小晶片尺寸时，则声 束指向性变坏，不利于检测远场缺陷，所以应 综合考虑。
探头的选择
2.频率的选择（0.5~10MHz） 例如：从统计规律发现，当缺陷大小为λ/2 时，可稳定 地发现缺陷波。 对钢工件用2.5~5MHZ，λ为：纵波2.36~1.18 mm， 横波1.29~0.65mm，则纵波可稳定检测缺陷最小值 为：0.6~1.2mm之间，横波检测缺陷最小值为： 0.3~0.6mm之间。 对晶粒较粗大的铸件、奥氏体钢可采用较低的的频率， 如0.5~2.5MHZ比较合适，主要是提高信噪比，减少 晶粒反射。
第6章
脉冲反射法超声检测通用技术
6.1 检测面的选择和准备
检测面的选择应考虑以下几个方面： 1. 检测面应是平面或规则面的工件表面； 2. 检测面的粗糙度应≤6.3µm，表面应清除杂物，松动氧 化皮，毛刺，油污等。 3. 被检测缺陷的位置、取向； 4. 入射声束应尽可能垂直于缺陷反射面； 5. 被检工件的材质、坡口形式、焊接工艺等； 6. 根据探头的晶片尺寸、K值等确定检测面宽度； 7. 工件侧面反射波的影响； 8. 变型波的影响等。
超声检测复习题
1、超声检测方法分类与特点(第五章)2、脉冲反射法超声检测通用技术（第六章）复习题一、是非题1、脉冲反射式和穿透式探伤，使用的探头是同一类型.( ×）2、声束指向角较小且声束截面较窄的探头称作窄脉冲探头。
（× )3、在液浸式检测中，返回探头的声能还不到最初值的1%。
( ○）4、垂直探伤时探伤面的粗糙度对反射波高的影响比斜角探伤严重.（○ )5、超声脉冲通过材料后，其中心频率将变低.（○）6、串列法探伤适用于检查垂直于探侧面的平面缺陷。
( ○）7、“灵敏度”意味着发现小缺陷的能力，因此超声波探伤灵敏度越高越好.（×）8、所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的。
( × )9、当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸.（× )10、半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。
（× )11、串列式双探头法探伤即为穿透法.( × )12、厚焊缝采用串列法扫描时，如焊缝余高磨平,则不存在死区.( ×）13、曲面工件探伤时，探伤面曲率半径愈大,耦合效果愈好。
（○）14、实际探伤中，为提高扫描速度减少的干扰，应将探伤灵敏度适当降低。
（× )15、采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸。
（○）16、只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度。
（×）17、绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时，测长灵敏度高，测得的缺陷长度大.（○）18、当工件内存在较大的内应力时，将使超声波的传播速度及方向发生变化。
（○)19、超声波倾斜入射至缺陷表面时,缺陷反射波高随入射角的增大而增高.(×）二、选择题1、采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（ D )A．直探头探伤法 B．脉冲反射法 C．斜探头探伤法 D．穿透法2、超声检验中,当探伤面比较粗糙时，宜选用（ D )A．较低频探头 B．较粘的耦合剂 C．软保护膜探头 D．以上都对3、超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（ c ）A．曲面探伤时可减少耦合损失 B．可减少材质衰减损失C．辐射声能大且能量集中 D．以上全部4、探伤时采用较高的探测频率，可有利于（ D ）A．发现较小的缺陷 B．区分开相邻的缺陷C．改善声束指向性 D．以上全部5、工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的( A ）A．平面效果最好 B．凹曲面居中C．凸曲面效果最差 D．以上全部6、缺陷反射声能的大小，取决于( D ）A．缺陷的尺寸 B．缺陷的类型C．缺陷的形状和取向 D．以上全部7、声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是：（C )A。
超声检测复习题
1、超声检测方法分类与特点（第五章）2、脉冲反射法超声检测通用技术（第六章）复习题一、是非题1、脉冲反射式和穿透式探伤，使用的探头是同一类型.( × )2、声束指向角较小且声束截面较窄的探头称作窄脉冲探头.( × )3、在液浸式检测中，返回探头的声能还不到最初值的1%.( ○ )4、垂直探伤时探伤面的粗糙度对反射波高的影响比斜角探伤严重.( ○ )5、超声脉冲通过材料后，其中心频率将变低.( ○ )6、串列法探伤适用于检查垂直于探侧面的平面缺陷.( ○ )7、“灵敏度”意味着发现小缺陷的能力，因此超声波探伤灵敏度越高越好.( × )8、所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的 .( × )9、当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸.( × )10、半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸.( × )11、串列式双探头法探伤即为穿透法.( × )12、厚焊缝采用串列法扫描时，如焊缝余高磨平，则不存在死区.( × )13、曲面工件探伤时，探伤面曲率半径愈大，耦合效果愈好.( ○ )14、实际探伤中，为提高扫描速度减少的干扰，应将探伤灵敏度适当降低.( × )15、采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸.( ○ )16、只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度.( ×)17、绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时，测长灵敏度高，测得的缺陷长度大.( ○)18、当工件内存在较大的内应力时，将使超声波的传播速度及方向发生变化.( ○)19、超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而增高.(×)二、选择题1、采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（ D ）A．直探头探伤法 B．脉冲反射法 C．斜探头探伤法 D．穿透法2、超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（ D ）A．较低频探头 B．较粘的耦合剂 C．软保护膜探头 D．以上都对3、超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（ c ）A．曲面探伤时可减少耦合损失 B．可减少材质衰减损失C．辐射声能大且能量集中 D．以上全部4、探伤时采用较高的探测频率，可有利于（ D ）A．发现较小的缺陷 B．区分开相邻的缺陷C．改善声束指向性 D．以上全部5、工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的（ A ）A．平面效果最好 B．凹曲面居中C．凸曲面效果最差 D．以上全部6、缺陷反射声能的大小，取决于（ D ）A．缺陷的尺寸 B．缺陷的类型C．缺陷的形状和取向 D．以上全部7、声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是：（C ）A.反射波高随粗糙度的增大而增大B.无影响C.反射波高随粗糙度的增大而下降D.以上A和C都可能8、如果在耦合介质中的波长为λ，为使透声效果好，耦合层厚度为（ D ）A. λ/4的奇数倍B. λ/2的整数倍C. 小于λ/4且很薄D.以上B和C9、表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（ B ）A.缺陷深度B.缺陷至探头前沿距离C.缺陷声程D.以上都可以10、探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1：1调扫描，下面哪种说法正确（ A ）A.缺陷实际径向深度总是小于显示值B.显示的水平距离总是大于实际弧长C.显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小D.以上都正确11、采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时，以下哪种说法正确（ B ）A. F/B相同，缺陷当量相同B.该法不能给出缺陷的当量尺寸C.适于对尺寸较小的缺陷定量D.适于对密集性缺陷的定量12、在频率一定和材料相同情况下，横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是：（C ）A.横波质点振动方向对缺陷反射有利B.横波探伤杂波少C.横波波长短D.横波指向性好13、采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力：（A ）A.1.25MHZB.2.5MHZC.5MHZD.10MHZ14、在用5MHZ Φ10晶片的直探头作水浸探伤时，所测结果：（ C ）A.小于实际尺寸B.接近声束宽度C.大于实际尺寸D.等于晶片尺寸15、使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（ B ）A .小于实际尺寸B .接近声束宽度C .稍大于实际尺寸D .等于晶片尺寸16、棱边再生波主要用于测定：（ D ）A.缺陷的长度B.缺陷的性质C.缺陷的位置D.缺陷的高度17、从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息、超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法进行：（ D ）A.精确对缺陷定位B.精确测定缺陷形状C.测定缺陷的动态波形D.以上方法须同时使用18、单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能时：（ B ）A.来自工件表面的杂波B.来自探头的噪声C.工件上近表面缺陷的回波D.耦合剂噪声19、确定脉冲在时基线上的位置应根据：（ B ）A.脉冲波峰B.脉冲前沿C.脉冲后沿D.以上都可以20、用实测折射角71°的探头探测板厚为25mm 的对接焊缝，荧光屏上最适当的声程测定范围是：（ D ）A.100mmB.125mmC.150mmD.200mm21、用IIW2调整时间轴，当探头对准R50圆弧面时，示波屏的回波位置（声程调试）应在：（B ）A B80402562.5C D255050100题4.21图22、能使K2斜探头得到图示深度1：1调节波形的钢半圆试块半径R 为（ C ）A.50mmB.60mmC.67mmD.40mm 093T23、在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？（B ）A．水平定位法 B．深度定位法C．声程定位法 D．一次波法24、在中薄板焊缝斜探头探伤时，使用什么方法标定仪器时基线？（A ）A．水平定位法 B．深度定位法C．声程定位法 D．二次波法25、对圆柱形简体环缝探测时的缺陷定位应：（ A ）A．按平板对接焊缝方法 B．作曲面修正C．使用特殊探头 D．视具体情况而定采用各种方法26、在探测球形封头上焊缝中的横向缺陷时，缺陷定位应：（B ）A．按平板对接焊缝方法 B．作曲面修正C．使用特殊探头 D．视具体情况决定是否采用曲面修正27、在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数：（B ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以28、在筒身内壁作曲面周向探伤时，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数：（A ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以29、在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数：（A ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以30、在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数：（B ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以31、为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用（B ）A．小K值探头 B．大K值探头C．软保护膜探头 D．高频探头32、在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：（A ）A．侧面反射波带来干涉 B．探头太大，无法移至边缘C．频率太高 D．以上都不是33、在斜探头厚焊缝探伤时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：（D ）A．提高探头声束指向性 B．校准仪器扫描线性C．提高探头前沿长度和K值测定精度 D．以上都对34、当量大的缺陷实际尺寸：（ A）A．一定大 B．不一定大C一定不大 D．等于当量尺寸35、当量小的缺陷实际尺寸：（ B）A．一定小 B．不一定小C一定不小 D．等于当量尺寸36、在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：（B ）A．大 B．小 C．无影响 D．不一定37、当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回波强度越：（B ）A．大 B．小 C．无影响 D．不一定38、焊缝探伤中一般不宜选用较高频率是因为频率越高：（D ）A．探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出B．裂纹表面不光滑对回波强度影响越大C．杂波太多 D．AB都对39、厚度为600mm的铝试件，用直探头测得一回波的传播时间为165µ，若纵波s在铝中声速为6300m/s则此回波是：（C）A．底面回波 B．底面二次回波C．缺陷回波 D．迟到回波40、直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生：（A ）A．底面回波降低或消失 B．底面回波正常C．底面回波变宽 D．底面回波变窄41、直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01Db/mm（双程），今将前者底面回波调至满幅(100%)高，则后者的底面回波应是满幅度的：（C ）A．40％ B．20％ C．10% D．5％42、厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（B ）A．两个缺陷当量相同 B．材质衰减大的锻件中缺陷当量小C．材质衰减小的锻件中缺陷当量小 D．以上都不对43、在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（D ）A．缺陷回波 B．底波或参考回波的减弱或消失C．接收探头接收到的能量的减弱 D．AB都对44、在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（D ）A．耦合不良 B．存在与声束不垂直的平面缺陷C．存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D．以上都是45、在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是：（C ）A．与表面成较大角度的平面缺陷 B．反射条件很差的密集缺陷C．AB都对 D．AB都不对46、影响直接接触法耦合损耗的原因有：（D ）A．耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗B．探头接触面介质声阻抗C．工件被探测面材料声阻抗D．以上都对47、被检工件晶粒粗大，通常会引起：（ D）A．草状回波增多 B．信噪比下降C．底波次数减少 D．以上全部48、为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法：（D ）A．使用高声阻抗耦合剂 B．使用软保护膜探头C．使用较低频率和减少探头耦合面尺寸 D．以上都可以49、在平整．光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头，因为这样：（B ）A．虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声B．脉冲窄，探测灵敏度高C．探头与仪器匹配较好D．以上都对50、应用有人工反射体的参考试块主要目的是：（A ）A．作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据B．为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C．为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D．提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体51、下面那种参考反射体与入射声束角度无关：（ C）A．平底孔B．平行于探测面且垂直于声束的平底槽C．平行于探测面且垂直于声束的横通孔D．平行于探测面且垂直于声束的V型缺口52、测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：（ D）A．声束扩散损失 B．耦合损耗C．工件几何形状影响 D．以上都是53、沿细长工件轴向探伤时，迟到波声程△X的计算公式是：（D ）AD.54、换能器尺寸不变而频率提高时：（C ）A．横向分辨力降低 B．声束扩散角增大C．近场区增大 D．指向性变钝55、在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：（D ）A．只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值B．只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C．只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D．人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准56、考虑灵敏度补偿的理由是：（D ）A．被检工件厚度太大 B．工件底面与探测面不平行C．耦合剂有较大声能损耗 D．工件与试块材质，表面光洁度有差异57、探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用：（C ）A．声阻抗小且粘度大的耦合剂 B．声阻抗小且粘度小的耦合剂C．声阻抗大且粘度大的耦合剂 D．以上都不是58、超声容易探测到的缺陷尺寸一般不小于：（A ）A．波长的一半 B．一个波长C．四分之一波长 D．若干个波长59、与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（C ）A．单斜探头法 B．单直探头法C．双斜探头前后串列法 D．分割式双直探头法60、探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高、（C ）A．与探测面平行的大平底面B．R200的凹圆柱底面C．R200的凹球底面D．R200的凸圆柱底面61、锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（B ）A．工件中有大面积倾斜缺陷 B．工件材料晶粒粗大C．工件中有密集缺陷 D．以上全部62、下面有关“幻象波”的叙述哪点是不正确的（C ）A．幻象回波通常在锻件探伤中出现B．幻象波会在扫描线上连续移动C．幻象波只可能出现在一次底波前D．降低重复频率，可消除幻象波63、下面有关610反射波的说法，哪一点是错误的？（ C）A．产生610反射时，纵波入射角与横波反射角之和为900B．产生610反射时，纵波入射角为610横波反射角为290C．产生610反射时，横波入射角为290纵波反射角为610D．产生610反射时，其声程是恒定的64、长轴类锻件从断面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（ D）A．三角反射波 B．61反射波C．轮廓回波 D．迟到波65、方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大、该缺陷取向可能是（C ）A．平行且靠近探测面 B．与声束方向平行C．与探测面成较大角度 D．平行且靠近底面66、缺陷反射声压的大小取决于：（D ）A．缺陷反射面大小 B．缺陷性质C．缺陷取向 D．以上全部三、问答题1、何谓缺陷定量？简述缺陷定量方法有几种？答：超声波探伤中，确定工件中缺陷大小和数量，称为缺陷定量。
6脉冲反射法超声检测通用技术
探测条件的选择 入射方向和探测面的选择 入射方向的选择 入射方向的选择应使声束中心线与缺陷延伸方向 面，特别是最大受力方向垂直的缺陷面尽可能地 接近垂直，并力求得到缺陷最大信号。缺陷的最 大可能取向应根据结构、工艺特点和低倍组织的 研究来判定。 选择入射方向还应注意到被探工件形状和结构可 能产生反射或变型信号，给缺陷的判别造成困难 的问题。所以，入射应选择在不会出现这些干扰 信号的方向上。 根据确定的入射方向，选择直探头法或是斜探头 法以及斜探头法的扫查方向。
由以上分析可知，频率的高低对探伤有较大的影 响。频率高，灵敏度和分辨力高，指向性好，对 探伤有利。但频率高，近场区长度大，衰减大， 又对探伤不利。实际探伤中要全面分析考虑各方 面的因素，合理选择频率。一般在保证探伤灵敏 度的前提下尽可能选用较低的频率。 对于晶粒细的锻件、轧制件和焊接件等，一般 选用较高的频率，常用2.5—5.0MHz。对晶粒较粗 选用较高的频率，常用2.5—5.0MHz。对晶粒较粗 大的铸件、奥氏体钢等宜选用较低的频率，常用 0.5—2.5MHz。如果频率过高，就会引起严重衰减， 0.5—2.5MHz。如果频率过高，就会引起严重衰减， 示波屏上出现林状回波，信噪比下降，甚至无法 探伤。
晶片尺寸大，辐射的超声波能量大，探头未扩散 区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现 远距离缺陷能力增强。 以上分析说明晶片大小对声束指向性，近场区 长度、近距离扫查范围和远距离缺陷检出能力有 较大的影响。实际探伤中，探伤面积范围大的工 件时，为了提高探伤效率宜选用大晶片探头。探 伤厚度大的工件时，为了有效地发现远距离的缺 陷宜选用大晶片探头。探伤小型工件时，为了提 高缺陷定位量精度宜选用小晶片探头。探伤表面 不太平整，曲率较大的工件时，为了减少耦合损 失宜选用小晶片探头。
脉冲反射法超声检测通用技术
第6章 脉冲反射法超声检测通用技术1. 检测面选择应考虑的内容。
2. 仪器、探头选择：探头型式，频率，带宽，晶片尺寸，K 值。
3. 耦合剂应满足的要求。
4. 影响耦合的主要因素：耦合层厚度，表面粗糙度，耦合剂声阻抗和工件表面形状。
5. 检测灵敏度调整：① 试块法：调整方法及优缺点。
② 工件底波法：调整方法及优缺点。
6. 工件材质衰减系数测定：教材P178页第6-2式应为：)(2/lg 20n m x nm B B m n ---）＝（α 满足条件：m ＞n ，nx ＞3N 。
7. 缺陷位置测定：平面位置、埋藏深度。
8. 缺陷尺寸测定：① 缺陷回波高度法底面回波高度法（B/B F ,F/B F ,F/B ）② 当量法：当量试块对比法当量计算法9. 缺陷长度测定：① 相对灵敏度法：6dB 、端点6dB ；② 绝对灵敏度法③ 端点峰值法10. 非缺陷回波：迟到波，61°反射，三角反射的原理及探伤中利用。
11. 侧壁干涉波的规律及利用：min d ＞αλ2min d ＞λα'2212. IIW ，IIW 2及半圆试块圆弧调节扫描线比例特点。
13. 横波圆柱曲面工件缺陷定位：① 外圆面探测： 22)d R Kd R H －（）（－＝+dR Kd arctg R l －180ˆπ= 规律：H ＜d ， l ˆ＞L② 内园面探测： r d r Kd h -++22)（）（＝dr Kd arctg r l +=180ˆπ 规律：H ＞d ， l ˆ＜L③ 外圆面探测最大璧厚:m T ≤)11()11(222KK R K K D +-+-＝ 标准规定r/R≥80％的理由。
14. 缺陷高度测定法应掌握：测试方法、适用条件、特点；串列式双探头法死区；端点衍射波法特点。
15. 影响缺陷定位因素：仪器、探头、工件、操作人员；16. 影响缺陷定量因素：探头、仪器、耦合剂、工件、缺陷本身。
第7章 板材和管材超声检测1. 检测方法：直接接触法，水浸法。
超声脉冲检测技术(第六章)
• 可在裂缝一侧多钻一孔，进行不跨裂 缝的跨孔测试，取得用于对比的参数24
六、深裂缝检测 4.跨孔法判读深度
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第四节 二次浇注面结合质量检测 一、检测方法 ●斜测法：测线不垂直于测试面，以倾斜的 方式穿过结合面。 ●对测法：测线垂直于测试面，以近似垂直 的方式穿过结合面。
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第四节 二次浇注面结合质量检测 二、检测要点 ① 查明结合面位置及走向，测线穿过结合面，垂 直或斜穿； 测线要包括过结合面和不过结合面两类； ② 测线要具有可比性： 测试设备的状态与参数相同 测线的角度与测距相同，测距不宜过大，角 度 不宜过小； ③ 因波幅是重要而敏感参数,注意表面处理及耦合 条件的一致 ④ 测读T、A、（F），记录波形
二、检测基本方法 1.双面测试：适用于建筑工程 的柱和桥梁工程的墩柱，可检 测出缺陷的立体范围。 2.单面测试：平测和斜测向结 合。适用于有两个对测面的板、 墙。
3.钻孔检 测： 适用于大 体积混凝 土
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三、测试方案 的原则 ① 尽量选择二个方向测试，以便对缺陷空间定位； ② 测试面积复盖正常及可疑区域，正常区域应较缺陷区 域大 ； ③ 网格布置，间距一般100～300mm ， 对判定为异常点 后，可局部加密； ④ 对测点的表面应进行处理，以更好地利用幅度参量； ⑤测点数要足够多，大于20～30个，便于统计分析； ⑥多存贮记录测点的波形，尤其是有疑问测点的波形，。 以便辅助分析处理； ⑦测试中保持测量系统与测量参数不变； ⑧换能器的选择，在保证测试灵敏度条件下，选择高的频 率为好。
3
第二节 不密实区和空洞检测 一、基本原理 2．特点： 间接测量：声参量及波形变化→是否存在缺陷； 测点的布置应使得所有参与测点的声参量及波形 理论上是相同的（不考虑材质变化时）； 3．正常质量砼的声学参量也会有离散，必须形成 一个量化的判定标准以区分正常的离散和由缺陷引 起的异常； 4．声参量异常点并不一定是缺陷点，应通过多参 4 量综合分析并结合施工情况作出判定。
脉冲反射法超声检测通用技术
• 引言 • 脉冲反射法超声检测原理 • 脉冲反射法超声检测设备 • 脉冲反射法超声检测应用 • 案例分析 • 结论与展望
01
引言
主题简介
脉冲反射法超声检测是一种无损检测 技术，通过高频声波在材料中传播并 反射回来的特性，对材料内部结构进 行检测和评估。
该技术广泛应用于各种领域，如医学 影像、工业无损检测、地质勘探等， 为材料和设备的健康状况评估提供重 要依据。
脉冲反射法超声检测的优点与局限性
对操作者技能要求高
由于脉冲反射法超声检测需要手动操作探头和调节参数，因此对 操作者的技能和经验要求较高。
对被测物体表面要求高
被测物体表面应平整、无杂质和气孔等，否则会影响检测结果。
受环境因素影响较大
如温度、湿度等环境因素会影响超声波的传播速度和波形，从而影 响检测结果。
解析是指对处理后的信号进行分 析和解释，提取出物体的内部结
构和缺陷信息。
常用的信号处理和解析方法包括 时域分析、频域分析、波形分析
等。
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脉冲反射法超声检测设备
超声探头
超声探头是脉冲反射法超声检测中的 核心部件，其作用是将电信号转换为 超声波信号，并接收反射回来的声波 信号并将其转换为电信号。
常见的超声探头类型包括直探头、斜 探头和聚焦探头等，根据检测对象和 要求选择合适的探头类型。
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脉冲反射法超声检测应用
缺陷检测
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03
表面缺陷检测
利用超声波在材料表面反 射的特性，检测材料表面 的裂纹、气孔、夹杂物等 缺陷。
内部缺陷检测
通过超声波在材料内部传 播，检测材料内部的裂纹、 气孔、夹杂物等缺陷。
动态监测
脉冲反射法超声检测通用技术ppt课件
围内实现时。
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第6章脉冲反射法超声检测通用技术
2. 检测面的准备 保证检测面能提供良好的声耦合。
6.2 仪器和探头的选择
正确选择仪器和探头对于有效地发现缺 陷，并对缺陷定位、定量和定性是至关重 要的。实际检测中根据工件结构形状、加 工工艺和技术要求选择仪器与探头。
与工件相同（衰减系数相同）的平底孔试
块（孔埋深xj≥3N）来调节不同工件的检测
灵敏度。调节时要计算试块基准平底孔与 检测灵敏度所要求埋深与孔径的平底孔的 回波声压分贝差。
第6章脉冲反射法超声检测通用技术
不同直径不同埋深的平底孔回波的声 压分贝差为：
第6章脉冲反射法超声检测通用技术
ΔdB为检测灵敏度的调节量，计算值 为负值时需要提高仪器增益，计算值为正 值时需要降低仪器增益。
∵ 200 (mm) ＞3N﹦3×42﹦126(mm) 试块中的平底孔埋深和工件厚度均大于 3N， ∴可用试块计算法来调节检测灵敏度。
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第6章脉冲反射法超声检测通用技术
② 检测灵敏度调节量为：
△dB=40lg500×2/200× 3 ＋2×0.005（500-200） =9+3=12（dB）
第6章脉冲反射法超声检测通用技术
5. 横波斜探头K值： 横波检测中，斜探头K值影响缺陷检出率、
检测灵敏度、声束轴线方向，一次波的声 程。
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第6章脉冲反射法超声检测通用技术
为保证声束扫查到整个焊缝，探头K值必须 满足：
（a、b分别为上、下焊缝1/2宽）
第6章脉冲反射法超声检测通用技术
实际检测中，工件厚度较小时，应选用较 大K值，工件厚度较大时，应选用较小K值 。
超声检测复习题
1、超声检测方法分类与特点(第五章)2、脉冲反射法超声检测通用技术（第六章）复习题一、是非题1、脉冲反射式和穿透式探伤，使用的探头是同一类型.( ×）2、声束指向角较小且声束截面较窄的探头称作窄脉冲探头.( × )3、在液浸式检测中，返回探头的声能还不到最初值的1%。
（○ )4、垂直探伤时探伤面的粗糙度对反射波高的影响比斜角探伤严重。
( ○ )5、超声脉冲通过材料后，其中心频率将变低。
( ○ )6、串列法探伤适用于检查垂直于探侧面的平面缺陷。
( ○）7、“灵敏度"意味着发现小缺陷的能力，因此超声波探伤灵敏度越高越好.（× )8、所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的。
（×）9、当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。
( ×）10、半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸.（× )11、串列式双探头法探伤即为穿透法。
（×）12、厚焊缝采用串列法扫描时,如焊缝余高磨平，则不存在死区.（×）13、曲面工件探伤时,探伤面曲率半径愈大，耦合效果愈好.( ○）14、实际探伤中，为提高扫描速度减少的干扰，应将探伤灵敏度适当降低.（× )15、采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸。
（○）16、只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度。
( ×）17、绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时,测长灵敏度高，测得的缺陷长度大。
（○)18、当工件内存在较大的内应力时，将使超声波的传播速度及方向发生变化。
( ○）19、超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而增高.（×)二、选择题1、采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（ D ）A．直探头探伤法 B．脉冲反射法 C．斜探头探伤法 D．穿透法2、超声检验中，当探伤面比较粗糙时,宜选用（ D ）A．较低频探头 B．较粘的耦合剂 C．软保护膜探头 D．以上都对3、超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是( c ）A．曲面探伤时可减少耦合损失 B．可减少材质衰减损失C．辐射声能大且能量集中 D．以上全部4、探伤时采用较高的探测频率，可有利于（ D ）A．发现较小的缺陷 B．区分开相邻的缺陷C．改善声束指向性 D．以上全部5、工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的（ A ）A．平面效果最好 B．凹曲面居中C．凸曲面效果最差 D．以上全部6、缺陷反射声能的大小，取决于( D ）A．缺陷的尺寸 B．缺陷的类型C．缺陷的形状和取向 D．以上全部7、声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时,缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是：(C ）A.反射波高随粗糙度的增大而增大 B。
第6章脉冲反射法超声检测通用技术(08.5.9)
第6章脉冲反射法超声检测通用技术6.1检测而的选择和准备检测而的选择应考虑以下几个方而：1检测而应是平而或规则而的工件表而：2检测而的粗糙度应＜6.3pm,表而应淸除杂物，松动氧化皮，毛刺•油污等。
3被检测缺陷的位置、取向；4入射声朿应尽可能垂直于缺陷反射而；5被检工件的材质.坡口形式、焊接工艺等；6根据探头的晶片尺寸、K值等确定检测而宽度：7工件侧而反射波的影响；8变型波的影响等。
6.2仪器与探头的选择一、探伤仪选择1. 仪器和％项指标要符合检测对象标准规定的要求。
2. 其次可考虑检测目的，如对定位要求髙时，应选择水平线性误差小的仪器，选择数字式探伤仪更好。
对左量要求髙时，应选择垂直线性误差小，衰减器精度髙的仪器，对大型工件或粗晶材料工件探伤，可选择功率大，灵敏度余量髙，信噪比高，低频性能好的仪器。
对近表而缺陷检测要求高时，可选择盲区小，近区分辨好的仪器。
主要考虑：灵敏度.分辨力、左量要求，左位要求和便携、稳立等方而。
二、探头选择' •型式选择：原则为根据检测对彖和检测目的决立：如：焊缝——斜探头钢板、铸何一直探头钢管.水浸板材——聚焦探头（线.点聚集）近表面缺陷——双晶直探头表面缺陷——表而波探头2. 探头频率选择超声波检测灵敏度一般是指检测最小缺陷的能力，从统计规律发现当缺陷大小为£时，可稳左地发现缺陷波，对钢工件用2.5~5MHz，入为：纵波2.36-1.18,横波1.29-0.65,则纵波可稳左检测缺陷最小值为：0.6~l・2mmZ间，横波可稳左检测缺陷最小值为：03-0.6之间。
这对压力容器检测要求已能满足。
故对晶粒较细的铸件、轧制件、焊接件等常采用2・5~5MHz°对晶粒较粗大的铸件、奥氏体钢等因会出现许多林状反射，（由材料中声阻抗有差异的微小界而作为反射而产生的反射），也和材料噪声干扰缺陷检测，故采用较低的0.5<.5MHz的频率比较合适，主要是提髙信噪比，减少晶粒反射。
脉冲反射法超声波探伤通用技术
第6章脉冲反射法超声检测通用技术（共6大部分）6.1 检测面的选择和准备检测面的选择应考虑以下几个方面：1 检测面应是平面或规则面的工件表面；2 检测面的粗糙度应≤6.3µm，表面应清除杂物，松动氧化皮，毛刺，油污等。
3 被检测缺陷的位置、取向；4 入射声束应尽可能垂直于缺陷反射面；5 被检工件的材质、坡口形式、焊接工艺等；6 根据探头的晶片尺寸、K值等确定检测面宽度；7 工件侧面反射波的影响；8 变型波的影响等。
6.2 仪器与探头的选择一、探伤仪选择1.仪器和各项指标要符合检测对象标准规定的要求（比如一些规程要求可记录的探伤仪）。
2.其次可考虑检测目的，如对定位要求高时，应选择水平线性误差小的仪器，选择数字式探伤仪更好。
对定量要求高时，应选择垂直线性误差小，衰减器精度高的仪器，对大型工件或粗晶材料工件探伤，可选择功率大，灵敏度余量高，信噪比高，低频性能好的仪器。
对近表面缺陷检测要求高时，可选择盲区小，近区分辨好的仪器。
主要考虑：灵敏度、分辨力、定量要求，定位要求和便携、稳定等方面。
JB/T4730.3-2005对探伤仪的规定：（看标准3.2.2.1） 二、探头选择1. 型式选择：原则为根据检测对象和检测目的决定： 如：焊缝——斜探头钢板、铸件——直探头钢管、水浸板材——聚焦探头（线、点聚集） 近表面缺陷——双晶直探头 表面缺陷——表面波探头2. 探头频率选择超声波检测灵敏度一般是指检测最小缺陷的能力，从统计规律发现当缺陷大小为2时，可稳定地发现缺陷波，对钢工件用2.5~5MH Z ，λ为：纵波2.36~1.18，横波1.29~0.65，则纵波可稳定检测缺陷最小值为：0.6~1.2mm 之间，横波可稳定检测缺陷最小值为：0.3~0.6之间。
这对压力容器检测要求已能满足。
故对晶粒较细的铸件、轧制件、焊接件等常采用2.5~5MH Z 。
对晶粒较粗大的铸件、奥氏体钢等因会出现许多林状反射，（由材料中声阻抗有差异的微小界面作为反射面产生的反射），也和材料噪声干扰缺陷检测，故采用较低的0.5~2.5MHZ的频率比较合适，主要是提高信噪比，减少晶粒反射。
脉冲反射法超声检测通用技术
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第6章脉冲反射法超声检测通用技术
D.近场区长度：N=Ds²/4 λ，频率高，近场 区长度增加。
e.衰减：αs=C2Fd 3f 4，频率高，衰减增加
，信噪比下降。 F.缺陷反射指向性：面积状缺陷，频率太高
2
第6章脉冲反射法超声检测通用技术
大型工件或粗晶材料工件检测： 可选择功率大，灵敏度余量高，信噪比
高，低频性能好的仪器。 室外现场检测 ：
重量轻，显示屏亮，抗干扰能力强， 便 携式。
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第6章脉冲反射法超声检测通用技术
6.2.2 探头的选择 根据被检对象的形状、声学特点和技术
要求来选择探头。 选择包括：探头的型式、频率、带宽、
第6章脉冲反射法超声检测通用技术
3. 探头带宽 宽带探头：脉冲宽度较小，深度分辨率好
，盲区小，灵敏度较低； 窄带探头：脉冲较宽，深度分辨率变差，
盲区大，灵敏度较高，穿透能力强。
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第6章脉冲反射法超声检测通用技术
4. 探头晶片尺寸：晶片面积≤500mm2，圆 晶片≤φ25mm。
晶片大小影响：声束指向性、近场区长度 、近距离扫查范围、远距离缺陷检出能力 。
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第6章脉冲反射法超声检测通用技术
6.1 检测面的选择和准备 1. 检测面的选择原则
当一个确定的工件存在多个可能的声入射 面时，首先要考虑缺陷的最大可能取向。 根据缺陷的可能取向，选择入射超声波的 方向，使声束轴线与缺陷的主反射面接近 垂直。
Байду номын сангаас
第6章脉冲反射法超声检测通用技术
检测面的选择应该与检测技术的选择相结 合: 锻件：纵波垂直入射检测，检测面选与 锻件流线相 平行的表面； 棒材：入射面为圆周面，纵波检测位于 棒材中心区的、延伸方向与棒材轴向平行 的缺陷；横波检测位于表面附近垂直于表 面的裂纹，或沿圆周延伸的缺陷。
超声检测复习题
1、超声检测方法分类与特点（第五章）2、脉冲反射法超声检测通用技术（第六章）复习题一、是非题1、脉冲反射式和穿透式探伤，使用的探头是同一类型.( × )2、声束指向角较小且声束截面较窄的探头称作窄脉冲探头.( × )3、在液浸式检测中，返回探头的声能还不到最初值的1%.( ○ )4、垂直探伤时探伤面的粗糙度对反射波高的影响比斜角探伤严重.( ○ )5、超声脉冲通过材料后，其中心频率将变低.( ○ )6、串列法探伤适用于检查垂直于探侧面的平面缺陷.( ○ )7、“灵敏度”意味着发现小缺陷的能力，因此超声波探伤灵敏度越高越好.( × )8、所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的 .( × )9、当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸.( × )10、半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸.( × )11、串列式双探头法探伤即为穿透法.( × )12、厚焊缝采用串列法扫描时，如焊缝余高磨平，则不存在死区.( × )13、曲面工件探伤时，探伤面曲率半径愈大，耦合效果愈好.( ○ )14、实际探伤中，为提高扫描速度减少的干扰，应将探伤灵敏度适当降低.( × )15、采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸.( ○ )16、只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度.( ×)17、绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时，测长灵敏度高，测得的缺陷长度大.( ○)18、当工件内存在较大的内应力时，将使超声波的传播速度及方向发生变化.( ○)19、超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而增高.(×)二、选择题1、采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（ D ）A．直探头探伤法 B．脉冲反射法 C．斜探头探伤法 D．穿透法2、超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（ D ）A．较低频探头 B．较粘的耦合剂 C．软保护膜探头 D．以上都对3、超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（ c ）A．曲面探伤时可减少耦合损失 B．可减少材质衰减损失C．辐射声能大且能量集中 D．以上全部4、探伤时采用较高的探测频率，可有利于（ D ）A．发现较小的缺陷 B．区分开相邻的缺陷C．改善声束指向性 D．以上全部5、工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的（ A ）A．平面效果最好 B．凹曲面居中C．凸曲面效果最差 D．以上全部6、缺陷反射声能的大小，取决于（ D ）A．缺陷的尺寸 B．缺陷的类型C．缺陷的形状和取向 D．以上全部7、声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是：（C ）A.反射波高随粗糙度的增大而增大B.无影响C.反射波高随粗糙度的增大而下降D.以上A和C都可能8、如果在耦合介质中的波长为λ，为使透声效果好，耦合层厚度为（ D ）A. λ/4的奇数倍B. λ/2的整数倍C. 小于λ/4且很薄D.以上B和C9、表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（ B ）A.缺陷深度B.缺陷至探头前沿距离C.缺陷声程D.以上都可以10、探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1：1调扫描，下面哪种说法正确（ A ）A.缺陷实际径向深度总是小于显示值B.显示的水平距离总是大于实际弧长C.显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小D.以上都正确11、采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时，以下哪种说法正确（ B ）A. F/B相同，缺陷当量相同B.该法不能给出缺陷的当量尺寸C.适于对尺寸较小的缺陷定量D.适于对密集性缺陷的定量12、在频率一定和材料相同情况下，横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是：（C ）A.横波质点振动方向对缺陷反射有利B.横波探伤杂波少C.横波波长短D.横波指向性好13、采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力：（A ）A.1.25MHZB.2.5MHZC.5MHZD.10MHZ14、在用5MHZ Φ10晶片的直探头作水浸探伤时，所测结果：（ C ）A.小于实际尺寸B.接近声束宽度C.大于实际尺寸D.等于晶片尺寸15、使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（ B ）A .小于实际尺寸B .接近声束宽度C .稍大于实际尺寸D .等于晶片尺寸16、棱边再生波主要用于测定：（ D ）A.缺陷的长度B.缺陷的性质C.缺陷的位置D.缺陷的高度17、从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息、超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法进行：（ D ）A.精确对缺陷定位B.精确测定缺陷形状C.测定缺陷的动态波形D.以上方法须同时使用18、单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能时：（ B ）A.来自工件表面的杂波B.来自探头的噪声C.工件上近表面缺陷的回波D.耦合剂噪声19、确定脉冲在时基线上的位置应根据：（ B ）A.脉冲波峰B.脉冲前沿C.脉冲后沿D.以上都可以20、用实测折射角71°的探头探测板厚为25mm 的对接焊缝，荧光屏上最适当的声程测定范围是：（ D ）A.100mmB.125mmC.150mmD.200mm21、用IIW2调整时间轴，当探头对准R50圆弧面时，示波屏的回波位置（声程调试）应在：（B ）A B80402562.5C D255050100题4.21图22、能使K2斜探头得到图示深度1：1调节波形的钢半圆试块半径R 为（ C ）A.50mmB.60mmC.67mmD.40mm 093T23、在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？（B ）A．水平定位法 B．深度定位法C．声程定位法 D．一次波法24、在中薄板焊缝斜探头探伤时，使用什么方法标定仪器时基线？（A ）A．水平定位法 B．深度定位法C．声程定位法 D．二次波法25、对圆柱形简体环缝探测时的缺陷定位应：（ A ）A．按平板对接焊缝方法 B．作曲面修正C．使用特殊探头 D．视具体情况而定采用各种方法26、在探测球形封头上焊缝中的横向缺陷时，缺陷定位应：（B ）A．按平板对接焊缝方法 B．作曲面修正C．使用特殊探头 D．视具体情况决定是否采用曲面修正27、在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数：（B ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以28、在筒身内壁作曲面周向探伤时，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数：（A ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以29、在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数：（A ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以30、在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数：（B ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以31、为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用（B ）A．小K值探头 B．大K值探头C．软保护膜探头 D．高频探头32、在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：（A ）A．侧面反射波带来干涉 B．探头太大，无法移至边缘C．频率太高 D．以上都不是33、在斜探头厚焊缝探伤时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：（D ）A．提高探头声束指向性 B．校准仪器扫描线性C．提高探头前沿长度和K值测定精度 D．以上都对34、当量大的缺陷实际尺寸：（ A）A．一定大 B．不一定大C一定不大 D．等于当量尺寸35、当量小的缺陷实际尺寸：（ B）A．一定小 B．不一定小C一定不小 D．等于当量尺寸36、在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：（B ）A．大 B．小 C．无影响 D．不一定37、当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回波强度越：（B ）A．大 B．小 C．无影响 D．不一定38、焊缝探伤中一般不宜选用较高频率是因为频率越高：（D ）A．探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出B．裂纹表面不光滑对回波强度影响越大C．杂波太多 D．AB都对39、厚度为600mm的铝试件，用直探头测得一回波的传播时间为165µ，若纵波s在铝中声速为6300m/s则此回波是：（C）A．底面回波 B．底面二次回波C．缺陷回波 D．迟到回波40、直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生：（A ）A．底面回波降低或消失 B．底面回波正常C．底面回波变宽 D．底面回波变窄41、直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01Db/mm（双程），今将前者底面回波调至满幅(100%)高，则后者的底面回波应是满幅度的：（C ）A．40％ B．20％ C．10% D．5％42、厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（B ）A．两个缺陷当量相同 B．材质衰减大的锻件中缺陷当量小C．材质衰减小的锻件中缺陷当量小 D．以上都不对43、在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（D ）A．缺陷回波 B．底波或参考回波的减弱或消失C．接收探头接收到的能量的减弱 D．AB都对44、在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（D ）A．耦合不良 B．存在与声束不垂直的平面缺陷C．存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D．以上都是45、在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是：（C ）A．与表面成较大角度的平面缺陷 B．反射条件很差的密集缺陷C．AB都对 D．AB都不对46、影响直接接触法耦合损耗的原因有：（D ）A．耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗B．探头接触面介质声阻抗C．工件被探测面材料声阻抗D．以上都对47、被检工件晶粒粗大，通常会引起：（ D）A．草状回波增多 B．信噪比下降C．底波次数减少 D．以上全部48、为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法：（D ）A．使用高声阻抗耦合剂 B．使用软保护膜探头C．使用较低频率和减少探头耦合面尺寸 D．以上都可以49、在平整．光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头，因为这样：（B ）A．虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声B．脉冲窄，探测灵敏度高C．探头与仪器匹配较好D．以上都对50、应用有人工反射体的参考试块主要目的是：（A ）A．作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据B．为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C．为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D．提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体51、下面那种参考反射体与入射声束角度无关：（ C）A．平底孔B．平行于探测面且垂直于声束的平底槽C．平行于探测面且垂直于声束的横通孔D．平行于探测面且垂直于声束的V型缺口52、测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：（ D）A．声束扩散损失 B．耦合损耗C．工件几何形状影响 D．以上都是53、沿细长工件轴向探伤时，迟到波声程△X的计算公式是：（D ）AD.54、换能器尺寸不变而频率提高时：（C ）A．横向分辨力降低 B．声束扩散角增大C．近场区增大 D．指向性变钝55、在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：（D ）A．只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值B．只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C．只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D．人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准56、考虑灵敏度补偿的理由是：（D ）A．被检工件厚度太大 B．工件底面与探测面不平行C．耦合剂有较大声能损耗 D．工件与试块材质，表面光洁度有差异57、探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用：（C ）A．声阻抗小且粘度大的耦合剂 B．声阻抗小且粘度小的耦合剂C．声阻抗大且粘度大的耦合剂 D．以上都不是58、超声容易探测到的缺陷尺寸一般不小于：（A ）A．波长的一半 B．一个波长C．四分之一波长 D．若干个波长59、与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（C ）A．单斜探头法 B．单直探头法C．双斜探头前后串列法 D．分割式双直探头法60、探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高、（C ）A．与探测面平行的大平底面B．R200的凹圆柱底面C．R200的凹球底面D．R200的凸圆柱底面61、锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（B ）A．工件中有大面积倾斜缺陷 B．工件材料晶粒粗大C．工件中有密集缺陷 D．以上全部62、下面有关“幻象波”的叙述哪点是不正确的（C ）A．幻象回波通常在锻件探伤中出现B．幻象波会在扫描线上连续移动C．幻象波只可能出现在一次底波前D．降低重复频率，可消除幻象波63、下面有关610反射波的说法，哪一点是错误的？（ C）A．产生610反射时，纵波入射角与横波反射角之和为900B．产生610反射时，纵波入射角为610横波反射角为290C．产生610反射时，横波入射角为290纵波反射角为610D．产生610反射时，其声程是恒定的64、长轴类锻件从断面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（ D）A．三角反射波 B．61反射波C．轮廓回波 D．迟到波65、方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大、该缺陷取向可能是（C ）A．平行且靠近探测面 B．与声束方向平行C．与探测面成较大角度 D．平行且靠近底面66、缺陷反射声压的大小取决于：（D ）A．缺陷反射面大小 B．缺陷性质C．缺陷取向 D．以上全部三、问答题1、何谓缺陷定量？简述缺陷定量方法有几种？答：超声波探伤中，确定工件中缺陷大小和数量，称为缺陷定量。
超声检测复习题
1、超声检测方法分类与特点（第五章）2、脉冲反射法超声检测通用技术（第六章）复习题一、是非题1、脉冲反射式和穿透式探伤，使用的探头是同一类型.( × )2、声束指向角较小且声束截面较窄的探头称作窄脉冲探头.( × )3、在液浸式检测中，返回探头的声能还不到最初值的1%.( ○ )4、垂直探伤时探伤面的粗糙度对反射波高的影响比斜角探伤严重.( ○ )5、超声脉冲通过材料后，其中心频率将变低.( ○ )6、串列法探伤适用于检查垂直于探侧面的平面缺陷.( ○ )7、“灵敏度”意味着发现小缺陷的能力，因此超声波探伤灵敏度越高越好.( × )8、所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的 .( × )9、当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸.( × )10、半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸.( × )11、串列式双探头法探伤即为穿透法.( × )12、厚焊缝采用串列法扫描时，如焊缝余高磨平，则不存在死区.( × )13、曲面工件探伤时，探伤面曲率半径愈大，耦合效果愈好.( ○ )14、实际探伤中，为提高扫描速度减少的干扰，应将探伤灵敏度适当降低.( × )15、采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸.( ○ )16、只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度.( ×)17、绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时，测长灵敏度高，测得的缺陷长度大.( ○)18、当工件内存在较大的内应力时，将使超声波的传播速度及方向发生变化.( ○)19、超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而增高.(×)二、选择题1、采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（ D ）A．直探头探伤法 B．脉冲反射法 C．斜探头探伤法 D．穿透法2、超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（ D ）A．较低频探头 B．较粘的耦合剂 C．软保护膜探头 D．以上都对3、超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（ c ）A．曲面探伤时可减少耦合损失 B．可减少材质衰减损失C．辐射声能大且能量集中 D．以上全部4、探伤时采用较高的探测频率，可有利于（ D ）A．发现较小的缺陷 B．区分开相邻的缺陷C．改善声束指向性 D．以上全部5、工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的（ A ）A．平面效果最好 B．凹曲面居中C．凸曲面效果最差 D．以上全部6、缺陷反射声能的大小，取决于（ D ）A．缺陷的尺寸 B．缺陷的类型C．缺陷的形状和取向 D．以上全部7、声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是：（C ）A.反射波高随粗糙度的增大而增大B.无影响C.反射波高随粗糙度的增大而下降D.以上A和C都可能8、如果在耦合介质中的波长为λ，为使透声效果好，耦合层厚度为（ D ）A. λ/4的奇数倍B. λ/2的整数倍C. 小于λ/4且很薄D.以上B和C9、表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（ B ）A.缺陷深度B.缺陷至探头前沿距离C.缺陷声程D.以上都可以10、探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1：1调扫描，下面哪种说法正确（ A ）A.缺陷实际径向深度总是小于显示值B.显示的水平距离总是大于实际弧长C.显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小D.以上都正确11、采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时，以下哪种说法正确（ B ）A. F/B相同，缺陷当量相同B.该法不能给出缺陷的当量尺寸C.适于对尺寸较小的缺陷定量D.适于对密集性缺陷的定量12、在频率一定和材料相同情况下，横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是：（C ）A.横波质点振动方向对缺陷反射有利B.横波探伤杂波少C.横波波长短D.横波指向性好13、采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力：（A ）A.1.25MHZB.2.5MHZC.5MHZD.10MHZ14、在用5MHZ Φ10晶片的直探头作水浸探伤时，所测结果：（ C ）A.小于实际尺寸B.接近声束宽度C.大于实际尺寸D.等于晶片尺寸15、使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（ B ）A .小于实际尺寸B .接近声束宽度C .稍大于实际尺寸D .等于晶片尺寸16、棱边再生波主要用于测定：（ D ）A.缺陷的长度B.缺陷的性质C.缺陷的位置D.缺陷的高度17、从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息、超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法进行：（ D ）A.精确对缺陷定位B.精确测定缺陷形状C.测定缺陷的动态波形D.以上方法须同时使用18、单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能时：（ B ）A.来自工件表面的杂波B.来自探头的噪声C.工件上近表面缺陷的回波D.耦合剂噪声19、确定脉冲在时基线上的位置应根据：（ B ）A.脉冲波峰B.脉冲前沿C.脉冲后沿D.以上都可以20、用实测折射角71°的探头探测板厚为25mm 的对接焊缝，荧光屏上最适当的声程测定范围是：（ D ）A.100mmB.125mmC.150mmD.200mm21、用IIW2调整时间轴，当探头对准R50圆弧面时，示波屏的回波位置（声程调试）应在：（B ）A B80402562.5C D255050100题4.21图22、能使K2斜探头得到图示深度1：1调节波形的钢半圆试块半径R 为（ C ）A.50mmB.60mmC.67mmD.40mm 093T23、在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？（B ）A．水平定位法 B．深度定位法C．声程定位法 D．一次波法24、在中薄板焊缝斜探头探伤时，使用什么方法标定仪器时基线？（A ）A．水平定位法 B．深度定位法C．声程定位法 D．二次波法25、对圆柱形简体环缝探测时的缺陷定位应：（ A ）A．按平板对接焊缝方法 B．作曲面修正C．使用特殊探头 D．视具体情况而定采用各种方法26、在探测球形封头上焊缝中的横向缺陷时，缺陷定位应：（B ）A．按平板对接焊缝方法 B．作曲面修正C．使用特殊探头 D．视具体情况决定是否采用曲面修正27、在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数：（B ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以28、在筒身内壁作曲面周向探伤时，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数：（A ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以29、在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数：（A ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以30、在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数：（B ）A．大 B．小 C．相同 D．以上都可以31、为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用（B ）A．小K值探头 B．大K值探头C．软保护膜探头 D．高频探头32、在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：（A ）A．侧面反射波带来干涉 B．探头太大，无法移至边缘C．频率太高 D．以上都不是33、在斜探头厚焊缝探伤时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：（D ）A．提高探头声束指向性 B．校准仪器扫描线性C．提高探头前沿长度和K值测定精度 D．以上都对34、当量大的缺陷实际尺寸：（ A）A．一定大 B．不一定大C一定不大 D．等于当量尺寸35、当量小的缺陷实际尺寸：（ B）A．一定小 B．不一定小C一定不小 D．等于当量尺寸36、在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：（B ）A．大 B．小 C．无影响 D．不一定37、当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回波强度越：（B ）A．大 B．小 C．无影响 D．不一定38、焊缝探伤中一般不宜选用较高频率是因为频率越高：（D ）A．探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出B．裂纹表面不光滑对回波强度影响越大C．杂波太多 D．AB都对39、厚度为600mm的铝试件，用直探头测得一回波的传播时间为165µ，若纵波s在铝中声速为6300m/s则此回波是：（C）A．底面回波 B．底面二次回波C．缺陷回波 D．迟到回波40、直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生：（A ）A．底面回波降低或消失 B．底面回波正常C．底面回波变宽 D．底面回波变窄41、直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01Db/mm（双程），今将前者底面回波调至满幅(100%)高，则后者的底面回波应是满幅度的：（C ）A．40％ B．20％ C．10% D．5％42、厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（B ）A．两个缺陷当量相同 B．材质衰减大的锻件中缺陷当量小C．材质衰减小的锻件中缺陷当量小 D．以上都不对43、在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（D ）A．缺陷回波 B．底波或参考回波的减弱或消失C．接收探头接收到的能量的减弱 D．AB都对44、在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（D ）A．耦合不良 B．存在与声束不垂直的平面缺陷C．存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D．以上都是45、在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是：（C ）A．与表面成较大角度的平面缺陷 B．反射条件很差的密集缺陷C．AB都对 D．AB都不对46、影响直接接触法耦合损耗的原因有：（D ）A．耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗B．探头接触面介质声阻抗C．工件被探测面材料声阻抗D．以上都对47、被检工件晶粒粗大，通常会引起：（ D）A．草状回波增多 B．信噪比下降C．底波次数减少 D．以上全部48、为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法：（D ）A．使用高声阻抗耦合剂 B．使用软保护膜探头C．使用较低频率和减少探头耦合面尺寸 D．以上都可以49、在平整．光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头，因为这样：（B ）A．虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声B．脉冲窄，探测灵敏度高C．探头与仪器匹配较好D．以上都对50、应用有人工反射体的参考试块主要目的是：（A ）A．作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据B．为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C．为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D．提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体51、下面那种参考反射体与入射声束角度无关：（ C）A．平底孔B．平行于探测面且垂直于声束的平底槽C．平行于探测面且垂直于声束的横通孔D．平行于探测面且垂直于声束的V型缺口52、测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：（ D）A．声束扩散损失 B．耦合损耗C．工件几何形状影响 D．以上都是53、沿细长工件轴向探伤时，迟到波声程△X的计算公式是：（D ）AD.54、换能器尺寸不变而频率提高时：（C ）A．横向分辨力降低 B．声束扩散角增大C．近场区增大 D．指向性变钝55、在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：（D ）A．只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值B．只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C．只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D．人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准56、考虑灵敏度补偿的理由是：（D ）A．被检工件厚度太大 B．工件底面与探测面不平行C．耦合剂有较大声能损耗 D．工件与试块材质，表面光洁度有差异57、探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用：（C ）A．声阻抗小且粘度大的耦合剂 B．声阻抗小且粘度小的耦合剂C．声阻抗大且粘度大的耦合剂 D．以上都不是58、超声容易探测到的缺陷尺寸一般不小于：（A ）A．波长的一半 B．一个波长C．四分之一波长 D．若干个波长59、与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（C ）A．单斜探头法 B．单直探头法C．双斜探头前后串列法 D．分割式双直探头法60、探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高、（C ）A．与探测面平行的大平底面B．R200的凹圆柱底面C．R200的凹球底面D．R200的凸圆柱底面61、锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（B ）A．工件中有大面积倾斜缺陷 B．工件材料晶粒粗大C．工件中有密集缺陷 D．以上全部62、下面有关“幻象波”的叙述哪点是不正确的（C ）A．幻象回波通常在锻件探伤中出现B．幻象波会在扫描线上连续移动C．幻象波只可能出现在一次底波前D．降低重复频率，可消除幻象波63、下面有关610反射波的说法，哪一点是错误的？（ C）A．产生610反射时，纵波入射角与横波反射角之和为900B．产生610反射时，纵波入射角为610横波反射角为290C．产生610反射时，横波入射角为290纵波反射角为610D．产生610反射时，其声程是恒定的64、长轴类锻件从断面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（ D）A．三角反射波 B．61反射波C．轮廓回波 D．迟到波65、方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大、该缺陷取向可能是（C ）A．平行且靠近探测面 B．与声束方向平行C．与探测面成较大角度 D．平行且靠近底面66、缺陷反射声压的大小取决于：（D ）A．缺陷反射面大小 B．缺陷性质C．缺陷取向 D．以上全部三、问答题1、何谓缺陷定量？简述缺陷定量方法有几种？答：超声波探伤中，确定工件中缺陷大小和数量，称为缺陷定量。
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6dB法的具体做法是：移动探头找到缺陷的最大反射波后，调
节衰减器，使缺陷波高降至基准波高。然后用衰减器将仪器灵敏度 提高6dB，沿缺陷方向移动探头，当缺陷波高降至基准高度时，探头 中心线之间距离就是缺陷的指示长度。
大平底和平底孔的回波声压分别为： P0 FS P0 FS Ff x 3N PB Pf 2 2 2x x
x 3N
不同距离的平底孔与大平底回波声压的分贝差值为： Pf D f 2 x B 20 lg 20 lg 2 PB 2x f
若考虑材质衰减引起的声压随距离的变化，则有：
x 3N
平底孔：Pf
Px Ff FS Ff P 0 2 2 , 2 2 x x
x 3N
Bf
pB 2xf2 2x 20lg 20lg 2 20lg 2 pf Df xB Df
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例：用2.5P20Z测厚度x=400mm的饼形钢制工件，钢中cL=5900m/s, 检
测灵敏度为400mm、 φ2mm 平底孔。
1) 计算：利用理论计算公式算出400mm处大平底与φ2平底孔回 波分贝差为：
20lg
PB 2x 2 2.36 400 20lg 20 lg 43.5 44 dB 2 2 P 2 3.14 2 D f
2)调整：将探头对准400mm大平底，调节仪器增益旋钮使第一次底波 B1达基准波高（如满刻度的80%）；然后调节增益旋钮使幅度提高
44dB。至此φ2mm灵敏度调好，即400mm处φ2mm平底孔回波正好达基
准波高。
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试块调整法(可用于厚度x<3N工件)
原理：根据工件的厚度和对灵敏度的要求选择试块，将 探头对准试块上人工反射体，调整仪器上的有关灵敏度 旋钮，使示波屏上人工反射体的最高反射回波达到基准 高度。
工件底波调整法(适用于厚度x≥3N工件) 试块调整法 (可用于厚度x<3N工件)
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工件底波调整法(适用于厚度x≥3N工件)
原理：根据工件底面回波与同深度的人工缺陷（平底孔）
回波分贝差为定值的原理进行的。
大平底：PB P0 Fs 2x
回波幅度相比较，若两者相等时以该人工反射体尺寸作为缺陷当量。 若人工反射体为φ2mm平底孔时，称缺陷当量尺寸为φ2mm平 底孔当量。 若缺陷波高与人工反射体的反射波高不相等，则以人工反射 体尺寸和缺陷波幅度高于或低于人工反射体回波幅度的分贝数表 示，如φ2mm+3dB平底孔当量，表示缺陷幅度比φ2mm 平底孔反 射幅度高3dB。
d (20,-66)
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Xi' an Polytechnic University a(20,-22) 26dB c(10,-48) b(20,-48) 30
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(3) 测长法
原理：当声束整个宽度全部入射到大于声束截面的缺陷上时，缺
陷的反射幅度为其最大值，而当声束的一部分离开缺陷时，缺陷反射 面积减小，回波幅度降低，完全离开时，就没有缺陷回波了，这样， 就可以根据缺陷最大回波高度降低的情况和探头移动的距离来确定缺 陷的边缘范围或长度。实际检测时，缺陷的回波高度完全消失的临界 位置是难以界定的，所以，按规定的方法测定的缺陷长度称为缺陷的 指示长度。测长法分为：
实际声程x（单程）的比例关系，即 τ:x=1:n。
零位调节：扫描速度确定后，还需采用延迟旋钮，将声程零
位设置在所选定的水平刻线上，一般放在时基线的零点。
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例：检测厚度为400mm的锻件时应如何调节扫描速度？
检测仪示波屏上的满刻度为100格，利用ⅡW试块的100mm可按1:4调节。 调节方法：将探头对准试块上厚度为100mm的底面，重复调节仪器上深
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(2)图像比较法 若工件长为L，缺陷波和底波距发
射波分别为xF和xB，那么，缺陷距
探测面为：
h x F x B L
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2.缺陷尺寸的评定
回波高度法 当量评定法 测长法
(1)时基比例法 用纵波直探头进行直接接触法检测时，如果超声检测仪的时基线是 按1:n 的比例调节的，观察到缺陷回波前沿所对的水平刻度值为τf，则 缺陷至探头的距离xf为: xf=nτf 例：用纵波直探头检测，时基线 比例为1:2，在水平刻度50处有 一缺陷回波，则缺陷到探头的距离为:
xf 2 50 100 mm
(2) 当量评定法
试块比较法(可用于x 3 N的情况) 当量计算法(适用于x 3 N的情况) AVG曲线法(适用于x 3 N的情况
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试块比较法
试块比较法是将缺陷波幅直接与对比试块中同声程的人工反射体
6dB法 相对灵敏度法 、绝对灵敏度法、端点 峰值法 端点 6dB 法
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相对灵敏度法
a. 6dB法(半波高度法)
半波高度法具体做法是：移动探头找到缺陷的最大反射波(调节
增益或衰减使不要达到100%)，然后沿缺陷方向左右移动探头，当 缺陷波高降低一半时，探头中心线之间距离就是缺陷的指示长度。
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例2：用2P14Z检测厚度x=350mm的钢制工件，钢中cL=5900m/s，发现 距离检测面200mm处有一缺陷，此缺陷回波高比平底孔试块150 / φ2 回波高度高11dB，求此缺陷的当量平底孔尺寸。
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AVG曲线法 (x≥3N)
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例：检测厚度为100mm的锻件，检测灵敏度要求是：不允许存在φ2mm平
底孔当量大小的缺陷，传输修正值为3dB。
传输修正：当工件表面状态和材质与对比试块存在一定差异时采取的一 种补偿措施。
调整方法：选用CS-2 标准试块，该试块中有一位于
100mm深度的φ2mm平底孔。将探头对准φ2mm平 底孔，仪器保留一定的衰减余量，将抑制旋钮调整
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(2) 试块厚度与工件的厚度不同时
按同厚度试块测定步骤，测得∆dB为值；
计算试块与工件的声程不同引起的底波高度的分贝差V3；
x V3 20 lg , xj
件厚度时，V3为正值。
x 工件厚度，mm； x j 试块厚度，mm。
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(1) 回波高度法
缺陷回波法 用缺陷回波高度表示 用缺陷回波峰值 或 至基准高的dB值表示 B BF 法 底波高度法 F BF法 F B法
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说明：试块厚度大于工件厚度时， V3为负值；试块厚度小于工
传输修正值为：∆dB +V3。
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4.工件材质衰减系数的测定
(1) x < 3N时：
Bm Bn 20 lgm n dB/mm 2n m x 20 lgm n 声束扩散引起的分贝差 。
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第6章 脉冲反射法超声检测
通用技术
主讲教师：王秋萍
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主要内容
纵波直探头检测技术
横波斜探头检测技术
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6.4 纵波直探头检测技术
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当量计算法
当量计算法是根据超声检测中测得的缺陷回波与基准波高（或
底波）的分贝差值，利用各种人工反射体反射声压和大平底反射声 压之间的理论分贝差值表示缺陷的当量尺寸的方法。
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度微调旋钮和延迟旋钮，使底波B2和B4分别对准水平刻度 50和100，这
时扫描线水平刻度值与实际声程的比例正好为1:4，同时实现了声程零 位和时基线零位的重合。
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2.检测灵敏度的调整
灵敏度：是指在确定的声程范围内发现规定大小缺陷
的能力。 调整灵敏度的目的在于发现规定大小的缺陷，并对缺 陷定量。 调整方法：
例1： 用2.5P14Z探头检测厚度为420mm饼形钢制工件，钢中cl=5900m/s， (1) 利用底波调整φ2平底孔检测灵敏度。 (2)检测中在210mm处发现有一缺陷，其回波比底波低26dB，求此处缺陷 的当量大小。
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a (20,-22)
横坐标表示归一化距离A 纵坐标表示相对波高V 图中最上面一根直线代表底波高度线 以下每一组曲线代表缺陷回波高度 图中G表示归一化尺寸