基于CPLD的低频相位测量仪的设计与实现
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基于CPLD的低频相位测 量仪的设计与实现
以Altera公司CPLD芯片 EPM240T100C5N和单片机 AT89S52为核心,辅以相关模拟 电路,构成一个低频数字式相位 测量仪。系统由整形电路、 CPLD数据采集电路、单片机数 据运算控制电路和数据显示电路 几部分构成。包括硬件设计和软 件设计两大部分。
谢谢观赏!
简 介
等精度频率/相位计实物图
本系统采用Altera公司CPLD芯片 EPM240T100C5N和单片机AT89S52构成测控主 体。其中,CPLD主要负责采集两个同频待测正 弦信号的频率和相位差所对应的时间差,而单片 机负责读取CPLD的数据,并根据这些数据技术 待测正弦信号的频率及两路同频正弦信号之间的 相位差,同时通过功能键切换显示出待测信号的 频率和相位差。由于CPLD对脉冲信号比较敏感, 而被测信号是周期相同、相位不同的两路正弦波 信号,故需对输入波形进行整形,使其变成方波 信号,再输入CPLD进行处理。由于系统将CPLD 和单片机相结合,综合其优点,具有集成度高、 稳定性好、设计灵活和设计效率高等优点。
系统可分为三部分:
数据采集电路 数据运算控制电路 数据显示电路
由于CPLD具有集成度高,I/O资源丰富,稳定可 靠等优点,而单片机具有良好的人机接口和运算 控制功能。
等精度测频主控结构图
测频时序图
相位测量:将两路被测正弦波信号整成方波信号,通 过鉴相器,输出一路具有不同占空比的脉冲波形。由 仿真波形可知,该脉冲信号的占空比与这两路信号
鉴相器原理图和仿真波形
系统模块设计,包括信号整形模块,CPLD数据采集模块, 单片机数据运算控制及数据显示模块
单片机模块的程序设计流程图
等精度频率Biblioteka Baidu相位计实物图
CPLD模块的软件设计与仿真
等精度测频时序图
测相位差时序图
从图中可以看出,SPUL= 1时,系统进行等精度测频。这时,CLR一个 正脉冲后,系统被初始化。然后CL被置为高电平,但这时两个计数器并 未开始计数(START=0),直到此后被测信号TCLK出现一个上升沿, START= 1时两个计数器同时启动,分别对被测信号和标准信号开始计 数,其中BZQ和TSQ分别为标准频率计数器和被测频率计数器的计数值。 由图可见,在CL变为低电平后,计数仍未停止,直到TCLK出现一个上 升沿为止,这时START=0,可作为单片机了解计数结束的标志信号。 仿真波形中TCLK和BCLK的周期分别设置为10us和500ns。在图中可以 看到,计数结果是,对TCLK的计数值是5,对BCLK的计数值是64(十六 进制)。通过控制SEL就能按照8个8位将计数器中的32位数读入单片机中 进行计算, 在图中,取SPUL=0时,系统被允许进行脉宽测试。为了便于观察,图 中仿真波形中的TCLK和BCLK的周期分别设置为75us和500ns。此时, CL和CLR的功能都能发生变化,前者为1时测信号高电平的脉宽,为0时 测低电平的脉宽;而后者CLR变为1时作系统初始化,由1变为0后启动 电路系统的标准信号计数器BZQ准备对标准频率进行计数。而允许计数 的条件是此后出现的第一个脉宽。由图11可见,当CL= 1,TCLK的高电 平脉冲到来时,即启动了BZQ进行计数,而在TCLK的低电平到来时停 止计数,状态信号EEND则由低电平变为高电平,告诉单片机计数结束。 计数值可以通过SEL读出,这里是4BH. 由此,不难算出,TCLK的高电平脉宽应该等于4BH乘以BCLK的周期。 改变CL为0,又能测出TCLK的低电平脉宽,从而可以获得TCLK的占空 比,再根据式 相位差=N1*360°/(N1+N2)可得相位差。
以Altera公司CPLD芯片 EPM240T100C5N和单片机 AT89S52为核心,辅以相关模拟 电路,构成一个低频数字式相位 测量仪。系统由整形电路、 CPLD数据采集电路、单片机数 据运算控制电路和数据显示电路 几部分构成。包括硬件设计和软 件设计两大部分。
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等精度频率/相位计实物图
本系统采用Altera公司CPLD芯片 EPM240T100C5N和单片机AT89S52构成测控主 体。其中,CPLD主要负责采集两个同频待测正 弦信号的频率和相位差所对应的时间差,而单片 机负责读取CPLD的数据,并根据这些数据技术 待测正弦信号的频率及两路同频正弦信号之间的 相位差,同时通过功能键切换显示出待测信号的 频率和相位差。由于CPLD对脉冲信号比较敏感, 而被测信号是周期相同、相位不同的两路正弦波 信号,故需对输入波形进行整形,使其变成方波 信号,再输入CPLD进行处理。由于系统将CPLD 和单片机相结合,综合其优点,具有集成度高、 稳定性好、设计灵活和设计效率高等优点。
系统可分为三部分:
数据采集电路 数据运算控制电路 数据显示电路
由于CPLD具有集成度高,I/O资源丰富,稳定可 靠等优点,而单片机具有良好的人机接口和运算 控制功能。
等精度测频主控结构图
测频时序图
相位测量:将两路被测正弦波信号整成方波信号,通 过鉴相器,输出一路具有不同占空比的脉冲波形。由 仿真波形可知,该脉冲信号的占空比与这两路信号
鉴相器原理图和仿真波形
系统模块设计,包括信号整形模块,CPLD数据采集模块, 单片机数据运算控制及数据显示模块
单片机模块的程序设计流程图
等精度频率Biblioteka Baidu相位计实物图
CPLD模块的软件设计与仿真
等精度测频时序图
测相位差时序图
从图中可以看出,SPUL= 1时,系统进行等精度测频。这时,CLR一个 正脉冲后,系统被初始化。然后CL被置为高电平,但这时两个计数器并 未开始计数(START=0),直到此后被测信号TCLK出现一个上升沿, START= 1时两个计数器同时启动,分别对被测信号和标准信号开始计 数,其中BZQ和TSQ分别为标准频率计数器和被测频率计数器的计数值。 由图可见,在CL变为低电平后,计数仍未停止,直到TCLK出现一个上 升沿为止,这时START=0,可作为单片机了解计数结束的标志信号。 仿真波形中TCLK和BCLK的周期分别设置为10us和500ns。在图中可以 看到,计数结果是,对TCLK的计数值是5,对BCLK的计数值是64(十六 进制)。通过控制SEL就能按照8个8位将计数器中的32位数读入单片机中 进行计算, 在图中,取SPUL=0时,系统被允许进行脉宽测试。为了便于观察,图 中仿真波形中的TCLK和BCLK的周期分别设置为75us和500ns。此时, CL和CLR的功能都能发生变化,前者为1时测信号高电平的脉宽,为0时 测低电平的脉宽;而后者CLR变为1时作系统初始化,由1变为0后启动 电路系统的标准信号计数器BZQ准备对标准频率进行计数。而允许计数 的条件是此后出现的第一个脉宽。由图11可见,当CL= 1,TCLK的高电 平脉冲到来时,即启动了BZQ进行计数,而在TCLK的低电平到来时停 止计数,状态信号EEND则由低电平变为高电平,告诉单片机计数结束。 计数值可以通过SEL读出,这里是4BH. 由此,不难算出,TCLK的高电平脉宽应该等于4BH乘以BCLK的周期。 改变CL为0,又能测出TCLK的低电平脉宽,从而可以获得TCLK的占空 比,再根据式 相位差=N1*360°/(N1+N2)可得相位差。