半导体接面

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金属半导体接触

金属半导体接触

PART 06
参考文献
REPORTING
WENKU DESIGN
参考文献
金属半导体接触的电阻
金属与半导体之间的接触会产生电阻,其大小取决于金属与半导体 的种类、温度、压力和表面状况等因素。
金属半导体接触的整流特性
金属半导体接触通常具有整流特性,即电流只能在一个方向上流动。 这种现象称为整流效应。
响电子的传输和转移。界面态和表面态的数量和性质对金属半导体接半导体接触中,电子的传输和转移可以通过多种机制实现,如热
电子发射、隧道效应、光电导等。这些机制在金属半导体接触中的具体
作用取决于材料和接触条件。
PART 03
金属半导体接触的性质
REPORTING
光学性质
反射和透射
01
金属半导体接触对光的反射和透射特性与入射光的波长、金属
和半导体的种类以及接触面的微观结构有关。
光吸收
02
金属半导体接触可以吸收特定波长的光,吸收系数取决于金属
和半导体的种类以及费米能级差。
光电效应
03
当金属半导体接触受到光照时,会产生光电效应,即光生电流
或电压的现象。
热学性质
REPORTING
WENKU DESIGN
电子器件
1 2
晶体管
金属半导体接触在晶体管中起着关键作用,通过 控制金属与半导体的接触电阻,实现电流的放大 和开关功能。
集成电路
在集成电路中,金属半导体接触被用来连接不同 半导体器件,实现电路的逻辑运算和信号处理。
3
太阳能电池
金属半导体接触在太阳能电池中用于吸收光能并 将其转换为电能,提高光电转换效率。
目前,金属半导体接触的研究 主要集中在探索最佳的金属材 料和制备工艺,以提高器件性 能和稳定性。

金属与n型半导体形成欧姆接触

金属与n型半导体形成欧姆接触

金属与n型半导体形成欧姆接触引言欧姆接触是电学领域中的一个重要概念,它代表着金属与半导体之间的一种特殊的电学联系。

而在这个联系中,金属的作用就是电的导体,而半导体的特点则在于其载流子密度较低,影响了电的传导。

因此,在金属和半导体的接触面上,通常会形成一个焊点。

本文将对金属和n 型半导体之间的欧姆接触做一个详细的介绍。

金属和n型半导体首先,我们需要了解一下金属和n型半导体的性质。

金属是一种电子密度较高的材料,可以有效地传导电子。

而n型半导体,则是被添加了某些杂质,使得其导电性增强的半导体。

在n型半导体中,由于杂质加入的作用,其电子密度较高,比p型半导体更容易传导电子,所以也被称为“负型半导体”。

电子传输过程当金属和n型半导体形成接触时,两者之间的电子就会发生共价键的形成。

当金属中的自由电子与半导体中的载流子相遇时,它们将在接触面上形成一个电场。

在这个电场的作用下,金属中的自由电子将向半导体中移动,以此来填补n型半导体中的空穴。

这是一个非常快速的过程,因为电子在金属中可以自由地移动,而在半导体中,则需要经过复杂的漂移和扩散过程。

因此,当金属和n型半导体形成接触时,电子将很快地从金属中流入半导体中,使得其导电性增强。

欧姆接触的特点欧姆接触的特点在于:在接触面上,电子的能级对齐。

因为金属和n型半导体之间的接触是一个纯物理过程,所以其能级对齐是非常严格的。

在欧姆接触的过程中,金属和n型半导体之间的接触面是非常小的,通常只有几个分子的大小。

这就使得电子能够在接触面上快速流动,形成一个低电阻的电路。

因此,欧姆接触的导通性能非常优秀,常常被用于电子器件和半导体器件中。

结论金属与n型半导体之间形成的欧姆接触,是电学领域中的一个重要概念。

当金属和n型半导体接触时,其电子密度的差异将形成一个电场,使得电子能够快速地在接触面上流动。

这种电流的传输被称为欧姆接触,由于其导通性能优良,被广泛应用于半导体器件中。

通过对欧姆接触的了解,可以更好地理解电流在金属和半导体中的传播规律。

半导体制冷片的原理

半导体制冷片的原理

半导体制冷片的原理
半导体制冷片(也称为热电制冷片)是一种基于热电效应的制冷技术,利用半导体材料的特性实现制冷。

其工作原理如下:
1. 热电效应:根据热电效应,当两个不同材料的接触处形成一个热电偶时,当偶温度发生变化时,该热电偶会产生一种电势差,即产生电能。

2. 零点电势差:当两个材料的接触处的温度相等时,该热电偶产生的电势差为零。

因此,如果可以控制一个材料的温度较低,另一个材料的温度较高,即可产生一个零点电势差。

3. P-N 接面:半导体制冷片通常使用 P-N 接面。

P型材料富含
正电荷,N型材料富含负电荷。

当电流通过 P-N 接面时,会
发生选择性散射,将热量从一个材料传递到另一个材料。

4. 热通道和冷通道:半导体制冷片中,通过将 P-N 接面分成
两部分,形成了热通道和冷通道。

热通道与冷通道之间通过热色散效应传递热量。

5. 制冷效果:当电流通过半导体制冷片时,热通道的一侧变热,这导致热电偶的一侧产生电势差。

另一侧负责较低的温度,在这一侧产生一个较低的电势差。

这个电势差会驱动热量从热通道传递到冷通道。

这样,热能就被转换成了电能。

总结:半导体制冷片利用半导体材料的特性,通过热电效应将热量从热通道传递到冷通道,实现制冷效果。

半导体的界面效应和体效应

半导体的界面效应和体效应

半导体的界面效应和体效应
1.界面效应
在半导体器件中,不同部件或不同材料之间的接触面(称为界面)是影响器件性能的关键因素之一。

当半导体与金属、绝缘体等材料接触时,会在交界处形成一个能级不连续的界面,导致电子能量分布发生变化,进而引起电子结构的改变。

这种电子结构的改变会影响半导体-金属界面处的电荷密度和电场分布,从而影响器件的性能。

具体表现包括:
(1)电势垒形成:在半导体和金属接触处形成一个电势垒,导致电子流的限制和反向漏电流的产生。

(2)载流子注入和重新组合:在半导体和金属的接触处,载流子会从金属流入半导体中,导致载流子密度和浓度的变化,从而影响半导体器件的性能。

(3)电荷分布变化:半导体金属界面处电子结构的变化会导致电荷分布的变化,从而影响金属表面的反应性和半导体器件的性能。

(4)界面能级:半导体金属界面会形成一些新的能级,这些能级可以影响半导体器件的电子结构。

2.体效应
在半导体器件中,除了表面和界面之外,整个半导体材料内部也会产生效应。

这些效应包括但不限于:
(1)极化效应:由于半导体材料中存在原子核和电子的极化,会导致电荷分布的变化。

(2)杂质和缺陷分布:半导体材料中的杂质和缺陷会影响载流子的迁移率和寿命。

(3)热膨胀和应力:半导体材料在加工和使用过程中会发生热膨胀和应力,这可能会影响器件的性能和稳定性。

总之,半导体的界面效应和体效应是影响半导体器件性能和稳定性的关键因素,需要深入研究和控制。

肖特基二极管与普通二极管的比较

肖特基二极管与普通二极管的比较

4/13/2013深圳市强元芯电子有限公司肖特基与普通二极管比较肖特基二极管是利用金属-半导体接面作为肖特基势垒,以产生整流的效果,和一般二极管中由半导体-半导体接面产生的P-N接面不同。

肖特基势垒的特性使得肖特基二极管的导通电压降较低,而且可以提高切换的速度。

肖特基二极体的导通电压非常低。

一般的二极管在电流流过时,会产生约0.7-1.7 伏特的电压降,不过肖特基二极管的电压降只有0.15-0.45 伏特,因此可以提升系统的效率。

肖特基二极管和一般二极管最大的差异在于反向恢复时间,也就是二极管由流过正向电流的导通状态,切换到不导通状态所需的时间。

一般二极管的反向恢复时间大约是数百 nS,若是高速二极管则会低于一百 nS,肖特基二极管没有反向恢复时间,因此小信号的肖特基二极管切换时间约为数十 pS,特殊的大容量肖特基二极管切换时间也才数十 pS。

由于一般二极管在反向恢复时间内会因反向电流而造成EMI噪声。

肖特基二极管可以立即切换,没有反向恢复时间及反相电流的问题。

上表列出了肖特基二极管和超快恢复二极管、快恢复二极管、硅高频整流二极管、硅高速开关二极管的性能比较。

由表可见,除了上面提到的的性能之外肖特基二极管整流电流比效高,硅高速开关二极管的trr虽极低,但平均整流电流很小,不能作大电流整流用。

因此总结为:肖特基二极管,它属一种低功耗、超高速半导体器件。

最显著的特点为反向恢复时间极短(可以小到几纳秒),正向导通压降仅0.4V左右,而整流电流却可达到几千安培。

其多用作高频、低压、大电流整流二极管、续流二极管、保护二极管,也有用在微波通信等电路中作整流二极管、小信号检波二极管使用。

在通信电源、变频器等中比较常见。

2013-04-13深圳市强元芯电子有限公司。

pn结空间电荷区宽度

pn结空间电荷区宽度

pn结空间电荷区宽度什么是pn结空间电荷区宽度?pn结是半导体器件中最基本的结构之一。

它由一段n型半导体和一段p型半导体组成,形成一个正向偏置的p-n接面。

在这个接面上,会形成一个被称为空间电荷区的特殊区域。

空间电荷区是指在pn结中由于杂质掺入和正向偏置的作用下,使得n型和p型两侧形成了带电离子层,并且这两个带电离子层之间没有自由载流子(即电子和空穴)。

所以,空间电荷区可以看作是一个没有载流子的绝缘层。

pn结空间电荷区宽度(W)就是指这个绝缘层的宽度。

它是一个重要的参数,决定了pn结的很多特性,如截止频率、响应速度等。

空间电荷区宽度的原理空间电荷区宽度取决于以下几个因素:1.杂质掺入浓度:n型和p型半导体中掺入的杂质浓度越高,形成的带电离子层就越厚,从而空间电荷区宽度就越大。

2.温度:温度升高会导致载流子浓度增加,从而减小空间电荷区宽度。

3.正向偏置电压:当正向偏置电压增加时,空间电荷区宽度减小。

这是因为正向偏置会将带电离子层推向另一侧,从而减小了空间电荷区的宽度。

4.材料特性:不同的半导体材料具有不同的载流子迁移率和禁带宽度,这些特性也会影响空间电荷区的宽度。

空间电荷区宽度的计算空间电荷区宽度可以通过以下公式计算:W = sqrt((2 * ε * Vbi) / (q * (1 / Nd + 1 / Na)))其中,W表示空间电荷区宽度,ε表示介质常数,Vbi表示内建势垒,q表示基本电荷量(1.6 x 10^-19 C),Nd和Na分别表示p型和n型半导体中杂质离子的浓度。

空间电荷区宽度对器件性能的影响空间电荷区宽度对pn结器件的性能有着重要影响:1.截止频率:空间电荷区宽度越小,载流子的穿透能力越强,从而器件的截止频率越高。

2.响应速度:空间电荷区宽度越小,载流子的扩散速度越快,从而器件的响应速度越快。

3.电容特性:空间电荷区宽度和pn结的电容成反比关系。

当空间电荷区宽度减小时,pn结的电容增大。

Semiconductor-半导体基础知识

Semiconductor-半导体基础知识

Yuming电子知识系列Semiconductors半导体基础知识Yuming SunJ2011Jun, 2011yuming924@CONTENTSz半导体概念、原子、离子、电子、空穴、本质半导体、硅介绍、掺杂…z基本电路z制造工艺什么叫半导体?¾半导体是一种既不如导体那么容易导电,也不像绝缘体那样不导电的物质(介于导体和绝缘体之间)如硅(Si)锗(Ge)和绝缘体之间),如、。

¾半导体的传导性可由掺杂物的浓度和被供给的电压来控制。

给的电压来控制¾它的电阻值通常随温度升高而下降(与金属材料相反)。

属材料相反)原子结构-e原子是由质子、中子与电子三种粒子所組成,其中由质子与¾原子是由质子中子与电子三种粒子所組成其中由质子与中子构成原子核,而电子则在固定轨道上环绕原子核运行。

¾在原子核里有带正电的质子及不带电的中子所以原子在原子核里,有带正电的质子及不带电的中子。

所以,原子核带正电,电子带负电。

¾原子核的电荷数与轨道上的电子数目相同。

因此,原子本身呈现中性。

离子¾原子的电子及质子数目是相同的,即原子的电子及质子数目是相同的即是说原子是不带电的是说,原子是不带电的。

¾当原子失去一个或多个最外层电子时,它带正电荷;当原子收纳一个或多个最外层电子时,它带负电荷。

¾一带电的原子就称为离子。

空穴与电子¾如果电子载有负的电荷-e离开了中性原子,这样一个空穴(或称为电洞)就会出子这样一个空穴(或称为电洞)就会出现这个空穴带正的电荷e现。

这个空穴带正的电荷+。

¾而电子和空穴都能夠自由地在物质内移动。

本质半导体¾本质半导体是一种有相同数量的自由电子和空穴的纯半导体。

¾最普遍的本质半导体可算是硅和锗它们都最普遍的本质半导体可算是硅和锗。

它们都是四价的元素。

物质的最外层有四个电子,称为价电子(Valence electron),而这四个Valence electron)而这四个电子都与相邻的四个原子结合,形成所谓的共价键好像每个原子最外层都有八个电子共价键,好像每个原子最外层都有八个电子,这称为共价键的八隅守则。

p n 导体概念

p n 导体概念

p n 导体概念
在物理学中,P-N 接面是指将一个P型半导体和一个N型半
导体连接在一起而形成的界面。

P型半导体中的载流子主要是
正电荷,即电子空穴,而N型半导体中的载流子主要是负电荷,即自由电子。

当两种类型的半导体直接接触时,通过扩散,少数载流子会在接触区域交换并形成电动势。

P-N 接面具有一些重要的特性和应用:
1. 整流作用:在一个P-N 接面中,当P型半导体连接到正电极,N型半导体连接到负电极时,电流只能从P型半导体流向
N型半导体,而不能相反。

这个特性使得P-N 接面作为二极
管的基本组成部分,在电子电路中广泛应用于整流电路。

2. 芯片加工:P-N 接面可以通过控制材料的类型和掺杂程度来
改变导电性能。

这使得P-N 接面成为集成电路中的关键组件,例如晶体管和二极管。

3. 光电传感器:P-N 接面还可以用于光电传感器,其中N型
半导体作为光敏器件,当光照射到P-N 接面时,会产生电流。

这种特性使得P-N 接面在太阳能电池和光电二极管中有广泛
应用。

总之,P-N 接面是半导体器件中重要的组成部分,它的特性和
应用使得半导体技术在电子学和光电领域有着广泛的应用。

半导体器件工艺基础知识

半导体器件工艺基础知识

半导体器件⼯艺基础知识半导体基础知识和半导体器件⼯艺第⼀章半导体基础知识 通常物质根据其导电性能不同可分成三类。

第⼀类为导体,它可以很好的传导电流,如:⾦属类,铜、银、铝、⾦等;电解液类:NaCl⽔溶液,⾎液,普通⽔等以及其它⼀些物体。

第⼆类为绝缘体,电流不能通过,如橡胶、玻璃、陶瓷、⽊板等。

第三类为半导体,其导电能⼒介于导体和绝缘体之间,如四族元素Ge锗、Si硅等,三、五族元素的化合物GaAs砷化镓等,⼆、六族元素的化合物氧化物、硫化物等。

物体的导电能⼒可以⽤电阻率来表⽰。

电阻率定义为长1厘⽶、截⾯积为1平⽅厘⽶的物质的电阻值,单位为欧姆*厘⽶。

电阻率越⼩说明该物质的导电性能越好。

通常导体的电阻率在10-4欧姆*厘⽶以下,绝缘体的电阻率在109欧姆*厘⽶以上。

半导体的性质既不象⼀般的导体,也不同于普通的绝缘体,同时也不仅仅由于它的导电能⼒介于导体和绝缘体之间,⽽是由于半导体具有以下的特殊性质:(1) 温度的变化能显著的改变半导体的导电能⼒。

当温度升⾼时,电阻率会降低。

⽐如Si在200℃时电阻率⽐室温时的电阻率低⼏千倍。

可以利⽤半导体的这个特性制成⾃动控制⽤的热敏组件(如热敏电阻等),但是由于半导体的这⼀特性,容易引起热不稳定性,在制作半导体器件时需要考虑器件⾃⾝产⽣的热量,需要考虑器件使⽤环境的温度等,考虑如何散热,否则将导致器件失效、报废。

(2) 半导体在受到外界光照的作⽤是导电能⼒⼤⼤提⾼。

如硫化镉受到光照后导电能⼒可提⾼⼏⼗到⼏百倍,利⽤这⼀特点,可制成光敏三极管、光敏电阻等。

(3) 在纯净的半导体中加⼊微量(千万分之⼀)的其它元素(这个过程我们称为掺杂),可使他的导电能⼒提⾼百万倍。

这是半导体的最初的特征。

例如在原⼦密度为5*1022/cm3的硅中掺进⼤约5X1015/cm3磷原⼦,⽐例为10-7(即千万分之⼀),硅的导电能⼒提⾼了⼏⼗万倍。

物质是由原⼦构成的,⽽原⼦是由原⼦核和围绕它运动的电⼦组成的。

简述pn结的原理

简述pn结的原理

简述pn结的原理PN结是半导体器件中最基本的结构之一,由n型半导体和p型半导体直接接触构成。

它具有单向导电性,是半导体器件中最重要的基础元件之一。

PN结的形成是由于在n型半导体和p型半导体接触面上发生了扩散。

n型半导体中的自由电子会向p型半导体中扩散,而p型半导体中的空穴会向n型半导体中扩散。

这种扩散会导致接触面上的杂质离子被中和,形成一个电荷密度逐渐减小的区域,即空间电荷区。

空间电荷区中存在着未被中和的杂质离子,因此该区域具有电场,电场方向从p型半导体指向n型半导体,这种电场称为内建电场。

内建电场的大小取决于两种半导体的材料特性和掺杂浓度等因素。

当PN结处于静止状态时,内建电场会阻碍电子和空穴的扩散,使得PN结两侧形成了不同的电势。

在n型半导体一侧,电子浓度较高,形成了负电势;在p型半导体一侧,空穴浓度较高,形成了正电势。

这种电荷分布会形成一个电势垒,阻止电子和空穴的扩散。

当外加电场方向与内建电场方向相反时,内建电场会逐渐减弱直至消失,PN结会失去单向导电性。

在PN结导通时,由于电子从n型半导体向p型半导体扩散,空穴从p型半导体向n型半导体扩散,空间电荷区会缩小,内建电场减弱,PN结的电阻将会变得非常小。

在这种情况下,PN结会表现出极低的电压降和电阻,使得它可以作为半导体器件中的重要组成部分。

PN结的应用非常广泛,其中最为重要的应用之一是二极管。

二极管是一种PN结器件,具有单向导电性。

当外加正向电压时,PN结导通,电流可以流过二极管;当外加反向电压时,PN结不导通,电流无法流过二极管。

二极管广泛应用于电源、放大器、开关等电路中。

除了二极管之外,PN结还广泛应用于太阳能电池、场效应晶体管、光电二极管等器件中。

它们都利用了PN结的单向导电性和电阻特性来实现各种功能。

PN结是半导体器件中最基本的结构之一,具有单向导电性和电阻特性。

它的应用范围非常广泛,是现代电子技术中不可或缺的基础元件之一。

半导体知识 he err

半导体知识 he err

半导体知识he err引言上世纪中叶,单晶硅和半导体晶体管的发明及其硅集成电路的研制成功,导致了电子工业革命;上世纪70年代初石英光导纤维材料和GaAs激光器的发明,促进了光纤通信技术迅速发展并逐步形成了高新技术产业,使人类进入了信息时代。

超晶格概念的提出及其半导体超晶格、量子阱材料的研制成功,彻底改变了光电器件的设计思想,使半导体器件的设计与制造从“杂质工程”发展到“能带工程”。

半导体定义我们通常把导电性差的材料,如煤、人工晶体、琥珀、陶瓷等称为绝缘体(insulator)。

把导电性比较好的金属如金、银、铜、铁、锡、铝等称为导体(conductor)。

常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料称为半导体(semiconductor)。

与导体和绝缘体相比,半导体材料的发现是最晚的,直到20世纪30年代,当材料的提纯技术改进以后,半导体的存在才真正被学术界认可。

1833年,英国科学家电子学之父法拉第最先发现硫化银的电阻随着温度的变化情况不同于一般金属,一般情况下,金属的电阻随温度升高而增加,但巴拉迪发现硫化银材料的电阻是随着温度的上升而降低。

这是半导体现象的首次发现。

1839年法国的贝克莱尔发现半导体和电解质接触形成的结,在光照下会产生一个电压,这就是后来人们熟知的光生伏特效应,这是被发现的半导体的第二个特征。

1873年,英国的史密斯发现硒晶体材料在光照下电导增加的光电导效应,这是半导体又一个特有的性质。

半导体的这四个效应,(jianxia霍尔效应的余绩──四个伴生效应的发现)虽在1880年以前就先后被发现了,但半导体这个名词大概到1911年才被考尼白格和维斯首次使用。

而总结出半导体的这四个特性一直到1947年12月才由贝尔实验室完成。

在1874年,德国的布劳恩观察到某些硫化物的电导与所加电场的方向有关,即它的导电有方向性,在它两端加一个正向电压,它是导通的;如果把电压极性反过来,它就不导电,这就是半导体的整效应,也是半导体所特有的第三种特性。

半导体散热片内部结构

半导体散热片内部结构

半导体散热片内部结构半导体散热片是一种常用的散热器件,用于提高半导体器件的散热性能,保证其正常工作温度。

在半导体散热片的内部,存在着复杂的结构,这些结构起到了提高散热效果的重要作用。

一、导热层半导体散热片的内部结构中,导热层是起到导热作用的关键部分。

导热层通常采用高导热性的金属材料,如铜、铝等,其目的是将热量快速传导至散热片的表面。

导热层的设计和材料选择直接影响着散热片的散热效果。

二、散热片片翼散热片片翼是半导体散热片内部的另一个重要结构。

片翼的设计通常采用鳍片形状,通过增大散热片的表面积,提高热量的散发效率。

片翼的数量和形状可以根据具体的散热需求进行设计,以达到最佳的散热效果。

三、散热片基座散热片基座是半导体散热片内部的支撑结构,它起到了稳定和固定散热片的作用。

基座通常采用金属材料制成,如铝等,具有良好的导热性和机械强度。

基座的设计和材料选择需要考虑到散热片的整体稳定性和可靠性。

四、散热片背板散热片背板是半导体散热片内部的另一个重要部分,它位于散热片的背面,并与基座相连接。

背板通常采用金属材料制成,如铜、铝等,具有良好的导热性和机械强度。

背板的设计和材料选择需要考虑到散热片与其他器件的连接和固定。

五、散热片接触面散热片接触面是半导体散热片与散热对象(如芯片、电路板等)之间的接触部分。

接触面的设计和处理对于散热效果至关重要。

通常,散热片接触面需要保持平整和光滑,以确保与散热对象之间的良好接触。

此外,还可以采用导热膏等材料来填充接触面,提高散热效果。

六、散热片外壳散热片外壳是半导体散热片的外部保护结构,它起到了保护散热片内部结构的作用。

外壳通常由金属材料制成,具有良好的机械强度和耐腐蚀性。

外壳的设计需要考虑到散热片与其他器件的连接和固定,以及散热片的整体外观。

半导体散热片内部结构包括导热层、散热片片翼、散热片基座、散热片背板、散热片接触面和散热片外壳等组成部分。

这些结构相互配合,共同提高散热片的散热效果。

PN接面及半导体基础知识

PN接面及半导体基础知识

PN接面及半导体基础知识pn结pn结(pn junction)採用不同的掺杂工艺,通过扩散作用,将p型半导体与n型半导体制作在同一块半导体(通常是硅或锗)基片上,在它们的交介面就形成空间电荷区称pn 结。

pn结具有单向导电性。

p是positive的缩写,n是negative的缩写,表明正荷子与负荷子起作用的特点。

一块单晶半导体中,一部分掺有受主杂质是p型半导体,另一部分掺有施主杂质是n型半导体时,p 型半导体和n型半导体的交介面附近的过渡区称为pn结。

pn结有同质结和异质结两种。

用同一种半导体材料製成的 pn 结叫同质结,由禁频宽度不同的两种半导体材料製成的pn结叫异质结。

製造pn结的方法有合金法、扩散法、离子注入法和外延生长法等。

製造异质结通常採用外延生长法。

p型半导体(p指positive,带正电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的三价元素组成,会在半导体内部形成带正电的空穴; n型半导体(n指negative,带负电的):由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的五价元素组成,会在半导体内部形成带负电的自由电子。

在 p 型半导体中有许多带正电荷的空穴和带负电荷的电离杂质。

在电场的作用下,空穴是可以移动的,而电离杂质(离子)是固定不动的。

n 型半导体中有许多可动的负电子和固定的正离子。

当p型和n型半导体接触时,在介面附近空穴从p型半导体向n型半导体扩散,电子从n型半导体向p型半导体扩散。

空穴和电子相遇而複合,载流子消失。

因此在介面附近的结区中有一段距离缺少载流子,却有分布在空间的带电的固定离子,称为空间电荷区。

p 型半导体一边的空间电荷是负离子,n 型半导体一边的空间电荷是正离子。

正负离子在介面附近产生电场,这电场阻止载流子进一步扩散,达到平衡。

在pn结上外加一电压,如果p型一边接正极,n型一边接负极,电流便从p 型一边流向n型一边,空穴和电子都向介面运动,使空间电荷区变窄,电流可以顺利通过。

如果n型一边接外加电压的正极,p型一边接负极,则空穴和电子都向远离介面的方向运动,使空间电荷区变宽,电流不能流过。

半导体的特性

半导体的特性

半导体的特性大家知道:半导体的导电性能比导体差而比绝缘体强。

实际上,半导体与导体、绝缘体的区别在不仅在于导电能力的不同,更重要的是半导体具有独特的性能(特性)。

1.在纯净的半导体中适当地掺入一定种类的极微量的杂质,半导体的导电性能就会成百万倍的增加—-这是半导体最显著、最突出的特性。

例如,晶体管就是利用这种特性制成的。

2.当环境温度升高一些时,半导体的导电能力就显著地增加;当环境温度下降一些时,半导体的导电能力就显著地下降。

这种特性称为“热敏”,热敏电阻就是利用半导体的这种特性制成的。

3.当有光线照射在某些半导体时,这些半导体就像导体一样,导电能力很强;当没有光线照射时,这些半导体就像绝缘体一样不导电,这种特性称为“光敏”。

例如,用作自动化控制用的“光电二极管”、“光电三极管”和光敏电阻等,就是利用半导体的光敏特性制成的。

由此可见,温度和光照对晶体管的影响很大。

因此,晶体管不能放在高温和强烈的光照环境中。

在晶体管表面涂上一层黑漆也是为了防止光照对它的影响。

最后,明确一个基本概验:所谓半导体材料,是一种晶体结构的材料,故“半导体”又叫“晶体”一个PN结构成晶体二极管P性半导体和N型半导体----前面讲过,在纯净的半导体中加入一定类型的微量杂质,能使半导体的导电能力成百万倍的增加。

加入了杂质的半导体可以分为两种类型:一种杂质加到半导体中去后,在半导体中会产生大量的带负电荷的自由电子,这种半导体叫做“N型半导体”(也叫“电子型半导体”);另一种杂质加到半导体中后,会产生大量带正电荷的“空穴”,这种半导体叫“P型半导体”(也叫“空穴型半导体”)。

例如,在纯净的半导体锗中,加入微量的杂质锑,就能形成N型半导体。

同样,如果在纯净的锗中,加入微量的杂质铟,就形成P型半导体。

一个PN结构成晶体二极管----设法把P型半导体(有大量的带正电荷的空穴)和N型半导体(有大量的带负电荷的自由电子)结合在一起,见图1所示。

室温下半导体的导电机理

室温下半导体的导电机理

室温下半导体的导电机理半导体是一种电阻大小介于导体和绝缘体之间的材料。

室温下半导体的导电机理是指在常温下,半导体材料所表现的导电特性。

首先,半导体中的电子结构决定了其导电性质。

半导体具有能带结构,其中包括价带和导带。

在常温下,原子的化学键稳定,价带中的电子处于最低能态。

此时,电子无法跨越能隙,进入导带。

因此,室温下的半导体处于本征状态,不导电。

然而,当半导体加上外加电场,或者受到光照射时,电子能量会得到提升,可以越过能隙,从而进入导带中。

这时,半导体就表现出导电性。

这种由外界刺激引发的电子跃迁现象被称为激发。

另外一种室温下半导体的导电机理是杂质掺杂。

掺杂过程中,在半导体中引入少量杂质原子,可以使得原来没被填满的杂质能级被充满电子。

这些能级通常位于导带或者价带之间,形成一个新的能带,被称为杂质带。

在杂质带中,存在自由电子和空穴,从而使得半导体导电。

此种杂质原子在半导体中的掺杂成为掺杂半导体。

此外,当半导体和其他材料相接触时,也能导致半导体的导电性。

这种接触点被称为“接面”,在接面处可能形成电荷分布不均衡的结构,使得电子可以从一边向另一边通过,从而导电。

这种导电方式被称为“接面效应”。

在实际的半导体器件中,这些导电方式可以用于制造不同类型的二极管、场效应晶体管、太阳能电池等设备。

例如,PN结就是由在单一晶体中,存在掺杂不同杂质的区域形成的,PN结既可以用于整流接线,还可以用于微处理器件的构造,是半导体应用中最重要的关键元件之一。

综上所述,室温下半导体的导电机理包括外界刺激和杂质掺杂等方式,这种导电性质可以应用于半导体器件的制造中。

理解和掌握这些机理,对于半导体应用的发展具有重要意义。

晶体管结构与工作原理

晶体管结构与工作原理

晶体三极管知识晶体三极管作为重要的半导体器件,其基本结构和工作原理需要掌握。

下面具体介绍。

三极管的基本结构是两个反向连结的pn接面,如图1所示,可有pnp和npn两种组合。

三个接出来的端点依序称为射极〔emitter, E〕、基极〔base, B〕和集极〔collector, C〕,名称来源和它们在三极管操作时的功能有关。

图中也显示出npn与pnp三极管的电路符号,射极特别被标出,箭号所指的极为n型半导体,和二极体的符号一致。

在没接外加偏压时,两个pn接面都会形成耗尽区,将中性的p型区和n型区隔开。

图1 pnp(a)与npn(b)三极管的结构示意图与电路符号。

三极管的电特性和两个pn接面的偏压有关,工作区间也依偏压方式来分类,这里我们先讨论最常用的所谓”正向活性区”(forward active),在此区EB极间的pn接面维持在正向偏压,而BC极间的pn接面则在反向偏压,通常用作放大器的三极管都以此方式偏压。

图2(a)为一pnp三极管在此偏压区的示意图。

EB接面的空乏区由于在正向偏压会变窄,载体看到的位障变小,射极的电洞会注入到基极,基极的电子也会注入到射极;而BC接面的耗尽区则会变宽,载体看到的位障变大,故本身是不导通的。

图2(b)画的是没外加偏压,和偏压在正向活性区两种情形下,电洞和电子的电位能的分布图。

三极管和两个反向相接的pn二极管有什么差异呢?其间最大的不同部分就在于三极管的两个接面相当接近。

以上述之偏压在正向活性区之pnp三极管为例,射极的电洞注入基极的n型中性区,马上被多数载体电子包围遮蔽,然后朝集电极方向扩散,同时也被电子复合。

当没有被复合的电洞到达BC接面的耗尽区时,会被此区内的电场加速扫入集电极,电洞在集电极中为多数载体,很快藉由漂移电流到达连结外部的欧姆接点,形成集电极电流IC。

IC的大小和BC间反向偏压的大小关系不大。

基极外部仅需提供与注入电洞复合部分的电子流IBrec,与由基极注入射极的电子流InB? E〔这部分是三极管作用不需要的部分〕。

半导体的charge pumbing现象

半导体的charge pumbing现象

半导体的charge pumbing现象什么是半导体的charge pumping现象?在半导体物理学中,charge pumping是指在半导体器件中通过外加电场或电流引起的电荷迁移现象。

这种现象利用了半导体材料的特性,通过周期性改变电势或电流引起电子或空穴的迁移,从而实现对电荷的“抽泵”。

不同于普通的输运现象,charge pumping可以产生超过热平衡的电荷,并且具有周期性和方向性。

因此,charge pumping现象是一种非平衡状态下的电荷迁移现象。

Charge pumping的原理是什么?Charge pumping需要利用到半导体材料中的两个关键现象:电子或空穴的移动以及面内Schottky势垒。

半导体中电子和空穴具有迁移能力,当外加电场或电流施加到半导体中时,电子或空穴可以被迫在金属-半导体接面发生移动。

这种移动过程类似于排液,可以抽出半导体中的电荷。

另一个关键因素是半导体中的面内Schottky势垒。

Schottky势垒是由金属-半导体接面形成的不均匀电势分布。

当外加电场或电流施加到半导体中时,会引起势垒的周期性变化。

这种变化会导致电子或空穴在金属-半导体接面上的迁移,并且可以将电荷抽出或注入半导体。

因此,通过周期性改变电势或电流,可以在半导体器件中实现电子或空穴的“抽泵”现象,从而产生charge pumping效应。

Charge pumping的应用有哪些?由于charge pumping可以实现对电荷的非热平衡操控,因此在半导体器件和材料研究领域具有重要的应用价值。

以下是几个常见的应用领域:1. 半导体器件制造和测试:charge pumping可以用于测试和评估半导体器件的性能。

通过观察charge pumping效应的幅度和周期性变化,可以获得有关器件中载流子迁移和介质损耗的信息。

2. 薄膜材料研究:charge pumping可以用于研究和优化薄膜材料的电荷传输和电输运性能。

半导体制冷片原理与接线

半导体制冷片原理与接线

半导体制冷片原理与接线
半导体制冷片(TEC)是一种热电转换器件,其工作原理基于Peltier效应。

Peltier效应是指在两种不同的导电能力材料的接触界面上,在通过电流时产生热
量的现象。

半导体制冷片利用这一效应将热量从一个一侧转移到另一侧,实现制冷。

工作原理
半导体制冷片内部包含两种导电性不同的半导体材料,通常是硒化铋和硒化铋
铋镓。

当通电时,由于Peltier效应,在两种材料的接触处会产生热量。

其中一侧
吸收热量,冷却降温,称为冷面;另一侧则放热,升温,称为热面。

通过这种方式,半导体制冷片可以实现局部的制冷效果。

接线方法
半导体制冷片的接线方法主要分为串联和并联两种。

串联接线
在串联接线中,将多个半导体制冷片的冷面和热面依次连接在一起。

这种接线
方式可以提高制冷片的制冷效果,但是需要注意的是每个制冷片的电流和电压要相同,否则会造成制冷片的热效应不均匀,影响制冷效果。

并联接线
在并联接线中,多个半导体制冷片的冷面和热面分别连接在一起。

这种接线方
式可以增加制冷片的散热面积,提高散热效果,但是需要考虑制冷片之间的电流平衡,以避免对单个制冷片产生过大的影响。

总结
半导体制冷片作为一种高效制冷设备,在很多领域得到了广泛应用,比如电子
设备散热、医疗器械制冷等。

了解半导体制冷片的工作原理和正确的接线方法可以更好地发挥其制冷效果,提高其使用寿命和稳定性。

希望本文对您有所帮助。

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1/ 3 12 V 2 kT a bi □ Vbi ln q 2n qa i
(6.10)
(6.11)
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 264
■ 6.2.2 超突變接面 1.內建電壓為
Vbi 1 ( p n ) q
這裡的功函數是在平衡下,空乏區邊緣估計 得到。 2.有一個電場存在基極區,會加速注入的少數 載子離開E-B接面。 3.超突變接面的電容會隨著外加電壓作很大的 改變,這種性質常用在變容體 (Varactors) ( 可變電抗元件 ) 的元件上。
情況,它在冶金接面的摻雜是步階函數。 但這樣的接面在實際情況,卻很少遇到。 ■ 本章將討論與實際情況較符合的二極體 特性
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 259
6.2 非步階同質接面
■ pn 接面矽雙極性接面電晶體 (BJT) 的結
構重畫在圖6.1且靠近接面沿著 A-A切面 的平滑摻雜圖形重新示於圖6.2。
得到 E(x):ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
% ( x) E
w / 2

x
2 QV qa 2 w dx x 2 2
w w x 2 2
(6.5)
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 262
圖6.5 在線性漸變接面中,淨摻雜濃度 (a) 是x的 線性函數,空乏近似得到 (b) 的電荷分布, (c) 是電場,(d) 是電壓圖形。
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 264
□ Vbi
1 w w p n q 2 2
(6.8)
w w □ qVbi Eg n 2 p 2
(6.9)
aw 2 2kT ln aw □ Vbi kT ln 2 q q 2ni 2 ni
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 262
□ 我們把體電荷密度 QV 寫成下式:
qax QV 0 w w x 2 2 其它地方
(6.4)
w 是空乏區寬度。因為對稱性,空乏區寬度 如圖6.5(b) 從 –w / 2延伸到 w / 2 。
□ 我們可求得接面電場,亦即積分電荷密度以
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 265
6.3 異質接面半導體
□ 一個異質接面是兩不同材料間的接面,這個
接面可以是在一個半導體和一個金屬之間或 在兩個不同半導體材料之間。
■ 6.3.1
半導體 - 半導體異質接面的能帶圖
電子親和力模型
□ 習慣上使用大寫字母來表示寬能隙材料的傳
導型式,所以這可表示成Np接面。
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 261
圖6.3 雜質圖形的平衡能帶圖
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 261
□ 為了描述基極區的濃度圖形,我們使用NA來
表示
N A N A (0)e
x / B
(6.1)
□ 在集極區,對於ND作相同的分析,得到
ND ND (0)e
x / C
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 263
w qa w3 3xw2 3 □ V ( x) V x 4 2 6 4
w w x 2 2
(6.6)
□ 解接面寬度 w,得到
12V j w qa
1/ 3
(6.7)
N A N D a( x x0 )
(6.3)
□ x0 是基 - 集接面的位置,a 是斜率的大小,
這稱為線性漸變近似,從圖6.4,可得 a = 1.2 × 1018cm-3/µm。
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 262
圖6.4 基 - 集接面附近,NA , ND 和 NA – ND 的圖,冶 金接面在 x = 0.27µm,這裡的NA–ND = 0。
(6.2)
□ 圖6.4顯示靠近基 - 集接面的 ND(x), NA(x) 和
NA(x) – ND(x) 的圖形,我們以線性漸變 ( 沿 著圖示的斜率 ) 來近似這個接面
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 261
■ 6.2.1
線性漸變接面
□ 對於一階近似,圖6.4中的 NA – ND 可以看
成在冶金接面 x0 處,NA – ND 函數的切線:
□ 圖6.6(a) 是電中性的能帶圖,平衡的情形示
於 (b)
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 263
圖6.6 線性漸變接面的能帶圖,在 (a) 電中性;(b) 平衡之下。內建電壓可由 qVbi Eg n p 或 qVbi p n 求得。
Chapter 6
二極體的進一步探討
第 2 部分 二 極 體 Chapter 6
二極體的進一步探討
■ 6.1
■ 6.2
■ 6.3 ■ 6.4 ■ 6.5 ■ 6.6
簡 介 非步階同質接面 異質接面半導體 金屬 - 半導體接面 非理想接面和異質接面的電容 結 論
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 259
6.1 簡介
■ 第 5 章中,我們處理了標準同質接面的
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 260
圖6.2 圖6.1中沿著元件的切面的雜質濃度
Chapter 6
二極體的進一步探討
P 260
□ 注意:每一區的摻雜濃度隨著位置有明顯的
改變,所以沒有一個接面是步階接面。 □ 大部分的射極區域是簡併的,且這區有一合 理的近似,Ef = Ec,基極區濃度會從射 - 基 (E-B) 接面隨著距離減少,這稱為超突變摻 雜圖形 (hyperabrupt doping profile)。在基 集 (B-C) 接面,接面每一邊的濃度會隨著離 開接面的距離而增加,濃度梯度會在基極和 集極區產生電場。 □ 基極區的電場為 6.2kV/cm且方向是加速基極 中的電子朝向集極。所以在計算基極區的少 數載子 ( 電子 ) 電流時,除了擴散以外必須 考慮漂移。
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