曲线不良和EL测试图片分析
EL黑斑分析报告
EL测试黑斑片分析报告简介：最近一段时间，组件生产在EL测试时，发现较多黑斑电池片，如右图。
针对这个异常，做了一些简要的分析。
EL测试时出现的黑斑片，在转换效率低的硅片中，占比比较大。
黑斑片的发生除了硅片材料的问题，和电池片的制程也有关。
发现黑斑的两片电池片做了光衰实验，衰减基本在控制范围内，说明硅片材料没有异常。
以上实验说明电池制程会造成黑斑片，黑斑片和黑芯片有本质区别。
黑芯片情况：关于黑芯片，EL图片如下图。
曾经做过电池片的SIMS元素测试结果（共有3片这样的电池片进行测试）。
如上SIMS测试结果可见，BP含量严重超标，存在着严重的补偿，这也就不难解释为什么此类片子存在着严重的光衰减。
分类检测的时候可能是16、17的效率，稍经光照就可能严重衰减至11、12的效率，而且因为其极高的B含量，所以在弱光下可能也会发生光衰减。
黑芯片的特点：光衰严重，EL测试里面会呈现一圈一圈年轮状，原因可能是在单晶直拉时，杂质在固体硅和液体硅的分凝系数差异（杂质在液体硅中杂质固溶度高）。
黑斑片情况：以上两幅是EL出现黑斑时的图片，两片电池的电性能参数为：24小时强光衰减后，两片电池的电性能参数为：从衰减的情况来看，没有出现严重装换效率从15%到12%的情况，硅片材料的B，P含量说明没有重大问题。
从以上电性能参数来看，低效原因是Rs偏大，造成Eff偏低。
从EL来看，中间的有黑斑。
首先，我们要确认黑斑产生的原因。
EL 测试的原理：首先我们可以把电池片看出若干个小电池并联，在电池片PN上加正向电压或者电流，如果电池片哪个区域Rs偏大，就会发热低，发出红外热量低，导致检测出黑斑。
因此，上图两片中的黑斑就是说明黑斑处的Rs比较大。
为了验证电池中制程会导致黑斑，做了下一个实验。
正常生产时效率正常，下调9区烧结温度，烧结2pcs电池片，出现烧结不透的情况，电池片参数如下：EL测试图片如下：以上两张图片证实以上分析，Rs严重异常时，电池片表面出现一些黑斑，Rs轻微异常，黑斑程度低。
晶体硅光伏组件EL测试的缺陷分析
晶体硅光伏组件EL测试的缺陷分析随着光伏技术的发展，晶体硅光伏组件已成为主流的光伏发电设备之一、在光伏组件生产过程中，常常会进行电致发光（EL）测试，通过对组件的EL图像进行分析，可以有效地检测出组件的缺陷。
本文将结合实际情况，介绍晶体硅光伏组件EL测试的缺陷分析。
首先，晶体硅光伏组件EL测试是一种非破坏性测试方法，通过在组件背面施加电压，使组件辐射出可见光，然后使用相机拍摄组件的照片。
通过分析照片中出现的亮点、暗点等特征，可以判断出组件是否存在缺陷。
在EL测试中，常见的缺陷包括细小裂纹、污染、气泡、焊点问题等。
细小裂纹是由于光伏组件在生产过程中产生的温度应力和机械应力引起的。
在EL图像中，细小裂纹会呈现为条状或弧状的亮线，通常与电池片之间的连接有关。
污染是指组件表面存在的杂质，如灰尘、油渍等。
在EL图像中，污染会呈现为不规则的暗斑点，通常分布在整个组件表面。
气泡是由于生产工艺不当或材料质量问题导致的。
在EL图像中，气泡通常呈现为圆形或半圆形的亮斑点。
焊点问题主要包括焊接不良、焊点开路等。
在EL图像中，焊接不良的区域会显示为不规则形状的亮斑，而焊点开路则没有亮斑。
针对这些常见的缺陷，可以采取一些措施进行分析和修复。
对于细小裂纹，可以通过改善工艺和材料选择来减轻温度和机械应力，同时加强的胶水的粘合度。
对于污染问题，可以通过增加清洗步骤或改进清洗工艺来减少。
对于气泡问题，可以通过改进生产工艺和选择更好的材料来避免气泡形成。
对于焊接问题，可以通过调整焊接参数、提高焊接工艺的稳定性来改善。
需要注意的是，EL测试虽然能够有效地检测出组件的缺陷，但并不能判断缺陷对组件性能的具体影响。
因此，在EL测试结果出现异常时，需要进一步进行其他测试来评估组件的性能和质量。
总之，晶体硅光伏组件EL测试是一种重要的缺陷分析方法，通过对EL图像的分析，可以有效地检测出组件的缺陷，为组件生产和质量控制提供有力的支持。
通过对常见的缺陷进行分析和修复措施的探讨，可以进一步提高光伏组件的质量和性能。
晶体硅电池组件EL缺陷汇总及分析报告课件
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10
缺陷种类九：过焊片
电池片过焊一般是在焊接工序产生的，过焊会造成电 池部分电流的收集障碍，该缺陷发生在主栅线的旁边。 成像特点是在EL图像下，黑色阴影部分从主栅线边缘延 副栅线方向整齐延伸。栅线外侧区域，一般为全黑阴影。 栅线之间一种是全黑 阴影，一种是由深至 浅的过渡阴影。我们 通过计算黑色区域的 面积来判定缺陷的级 别。
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2
缺陷种类一：黑心片
EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈 呈现黑色区域，该部分没有发出1150nm的红外光，故 红外相片中反映出黑心，此类发光现象和硅衬底少数载 流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。
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3
缺陷种类二：黑团片
多晶电池片黑团主要是由于硅片供应商一再缩短晶体 定向凝固时间，熔体潜热释放与热场温度梯度失配导致 硅片内部位错缺陷。
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其他原因
8.组件扒皮返修过程中人员用力按压电池片也极易造 成破片。 9.层叠工序5S较差时异物吸附到组件内经过层压机层 压产生破片。 10.层压件堆放在托盘上超过规定数量或是运输过程中 颠簸均有可能导致电池片隐裂纹。 11.摔组件更是导致隐裂纹的罪魁祸首
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总结
对于我们组件制造环节来讲EL不良总体可以分为两 大类即来料原因和后期人为原因。虽然电池片的好坏 我们无法掌控，但是我们每个工序都可以做到及时发 现及时反馈，不让不良电池片流入下一道工序，同时 将不良电池片退回供应商以减少我们的损失。
晶体硅电池组件EL缺陷汇总及 原因分析报告
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1
EL检测原理
EL检测仪，又称太阳能组件电致发光缺陷检测仪，是 跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺陷检测及生产 工艺监控的专用测试设备。给晶体硅电池组件正向通入 1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光， 测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于 电脑上。因为通 电发的光与PN结中离 子浓度有很大的关系， 因此可以根据图像来 判断硅片内部的状况。
太阳能组件EL测试原理
图1 EL测试原理图
电致发光检测方法及其应用
Willurpimd, Jacky
图3 单晶硅电池的隐裂EL图及区域放大图 但是由于多晶硅片存在晶界影响，有时很难区分其与隐裂，见图4的红圈区域。
所以给有自动分选功能的EL测试仪带来困
难。
图4 多晶片的EL图
2.断栅
印刷不良导致的正面银栅线断开，从
图5的EL图中显示为黑线状。
这是因为栅线
断掉后，从busbar上注入的电流在断栅附
近的电流密度较小，致EL发光强度下降。
图5 印刷断线的EL图
3.烧结缺陷
一般而言，烧结参数没有优化或设备
存在问题时，EL图上会显示网纹印(图6左)。
采取顶针式或斜坡式的网带则可有效消
除网带问题，图6右是顶针式烧结炉里出来
的电池，图中黑点就是顶针的位置。
电致发光检测方法及其应用
Willurpimd, Jacky
图6 有烧结问题的EL图
4.“黑心”片
图7 黑心片EL图 直拉单晶硅拉棒系统中的热量传输过
程对晶体缺陷的形成与生长起着决定性的
作用。
提高晶体的温度梯度, 能提高晶体
的生长速率, 但过大的热应力极易产生位
错。
图7就是我们一般所说的“黑心”片的
EL图。
在图中可以清楚地看到清晰的旋涡
缺陷, 它们是点缺陷的聚集, 产生于硅棒
生长时期。
此种材料缺陷势必导致硅的非
平衡少数载流子浓度降低，降低该区域的
EL发光强度。
5.“漏电”问题
图8 漏电电池片的EL图、红外图、局部放大图。
光伏组件检验不良类别及实例图解.
品保部 李廷
序号Biblioteka 项目分 类实例图1实例图2
不良描述
碎片
EL不良（碎片）
EL工 序
隐裂
EL不良（隐裂）
低效片
EL不良（低效片 ）
工序
不良类别
实例图1
实例图2
不良描述
断栅
EL不良（断栅）
EL工 序
黑芯片
EL不良（黑芯片）
电池片污 染（硅片 ）
EL不良（污染）
工序
不良类别
外 观 检 查 工 序
电池片污 渍
外观不良（电池片 污渍）
崩边/缺 角
外观不良（崩边） 外观不良（缺角）
可视碎片
外观不良（可视碎片 ）
外 观 检 查 工 序
间距不良
间距不良（过大） 间距不良（过小） 并片
整体偏移
四边等距偏差控 制在3mm之内，且 在1m处目视不明 显。
异物（锡 丝、锡渣 、焊带残 留）
层压气泡
层压不良（气泡）
脱层
层压不良（脱层）
外 观 检 查 工 序
背板凹坑
层压不良（背板凹 坑）
背板移位
层压不良（背板移 位）
焊带未剪
外观不良（焊带头 未剪）
外 观 检 查 工 序
母线偏移
母线偏移（外露）
焊带偏移 （露白）
焊带偏移 露白
型材不良（边角错 位） 型材不良（边角缝 隙过大）
外 观 检 查 工 序
型材不良
型材不良（角码松 动） 型材不良（边框划 伤）
型材不良（边框损 伤）
型材不良
型材不良（边框损伤 ） 型材不良（边角不良 ）
外 观 检 查 工 序
曲线不良和EL测试图片分析
图（一）
图（二）
一、电池漏电流过大
例 一
原因：电池片有害的杂质和缺陷 造成。 影响：组件整体电压减小，I-V曲线表现在下降处有拱起。
例 二——电池漏电流过大
二、裂片
例 一
分析：电池片来料隐裂或人为因素造成电池片破裂。 影响：该片电流减小， I-V曲线电流有台阶。
例 二 —— 裂片
ห้องสมุดไป่ตู้
例 三 —— 裂片
五、短路
例 一
原因：电池片本身问题。 影响：I-V曲线弯曲，整体功率降低。
例 二 —— 短路
六、材料缺陷
例 一
原因：电池片本身问题。 影响：电流电压减小，整体功率降低。
el泰通泰州工业有限公司质量部正常的太阳能电池组件的iv曲线平滑所测试的el图片亮度一致无阴影如图一二在实际生产中出现一些组件iv曲线弯曲对于这些曲线不良经el测试后发现电池片存在不良的现象具体为
太阳能电池组件 曲线不良和EL测试图片分析
泰通（泰州）工业有限公司 质量部
正常的太阳能电池组件的I-V曲线平滑，所测试的EL 图片亮度一致、无阴影（如图一、二），在实际生产中 出现一些组件I-V曲线弯曲，对于这些曲线不良经EL测试 后，发现电池片存在不良的现象，具体为：
例 四 —— 裂片
三、低效片
例 一
分析：电池片自身问题，效率比其它电池片偏低。 影响：该片电流小， I-V曲线电流有台阶。
例 二 —— 低效片
例 三 —— 低效片
例 四—— 低效片
例 五 —— 低效片
例 六 —— 低效片
四、分档不均
例 一
原因：比其它电池片效率高。 影响：I-V曲线有起伏，对组件质量影响不大。
EL测试标准
EL测试标准编号 EL特征特征图像描述判断标准1 电池短路电池正负极短路导致整片失效不允许2 电池串短路电池正负极短路导致整串失效不允许3 混档不同档位电池片混在同一片组件中（以电池片大部分颜色为基准）数量≤3片4 隐裂图像显示为淡淡的细栅, 隐裂贯穿的栅线未断裂, 隐裂两边的区域颜色是相同的单片隐裂≤1处, 长度小于52mm；数量≤3片5 多线隐裂交叉多条隐裂相互交叉不允许6 隐裂导致失效孤岛/黑斑/缺角/缺边或一条以上裂纹穿过相同细栅导致局部失效单片失效面积≤单片电池面积的5%；数量≤1处7 显裂明显破裂, 图像显示为较粗线条（肉眼可见）不允许8 虚焊焊接时互连条虚焊, 虚焊部位有异样的黑色区域单片失效面积≤10%；数量≤5片9 断栅电池细栅线处有条带状暗黑色条纹单片失效面积≤单片电池面积的5%, 数量≤5片10 部分不良失效电池片不良单片失效面积≤5%, 数量≤3片11 不良失效电池片不良不允许12 过焊导致局部失效过焊时将细栅线刮掉, 导致无电流收集不允许13 烧结缺陷背场烧结问题不允许14 材料污染硅片材料不纯或污染不允许15 黑心、黑斑电池片的中心处呈不规则圆形黑色不允许16 过刻电池片边缘有参差不齐缺口单片失效面积≤5%；数量≤3片17 穿孔电池片缺陷不允许18 网格片电池片在烧结过程中温度不当所致数量≤3片19 电池漏电边缘短路不允许20 圆弧形电池片不良不允许21 弯曲形电池片不良不允许注: 以上所有电池片EL缺陷单块组件总数≤15片。
EL判定标准与检验指导书
度 L 的 1/4，不穿过主栅线。 缺陷超出 B 级标
2.允许有 4 处，同一电池片
准。
上只允许有 1 处，线状隐裂
长度不允许超过电池片长
度 L 的 1/5，不穿过主栅线。
第1页
交叉隐 裂（X 形、 Y 形）
不允许有隐裂，必须更换电 池片。
不允许。
不允许。
不允许。
序号
检验项目
黑心 4.4
片
4.5 断栅 4.6 网纹
允许数量≤4 片。
允许数量≤2 片。
允许数量≤4 片。
缺陷超出 B 级标 准。
第2页
注：焊接时 互连条虚
4.7 虚焊 焊，虚焊部 位有异样的 黑色区域。
缺陷超出 B 级标
单片虚焊面积≤10%；数量 单片虚焊面积≤10%；数量≤ 单片虚焊面积≤10%；数
准。
≤5 片。
3 片。
量≤5 片。
序号
检验项目
的规格类型需一致； 2.不同等级的电池片数量≤5
片； 3.不得影响整体光伏组件性
能。
层压后 C 级标准
缺陷超出 B 级标 准。
序号
检验项目
缺角裂 片
4.2 破片
显裂
EL 图片（例图）
层压前测试
层压后 A 级标准
层压后 B 级标准
层压后 C 级标准
不允许有破片，必须更换电 池片。
允许有任何深度≤1mm 的 U 型 缺口（杜绝 V 型缺口），一块
线。
1.栅线缺陷导致单片电池片 中不超过 3%的失效面积； 2.同一块组件内部栅线缺陷
电池片数量≤5 片； 3.不影响组件的 I-V 测试曲
线。
1.栅线缺陷导致单片电池 片中不超过 3%的失效面
EL测试不良组件分析
第一张可能是背电极和背场接触不好（看一下电池片背电极和背铝印刷是否偏移），断栅也是有可能的，但断成这样简直难以想象，概率较低，隐裂我认为几乎不可能，不规则的黑斑也可能是印刷问题（局部漏印、重印），图上还有典型局部断栅和疑似虚焊的现象，全黑的估计是断栅了，
第二张有片电池片主栅处黑斑有可能是边缘漏电造成的（边缘局部上下PN结导通，可能有浆料在边缘上）或是正银梅烧好，全黑片有可能是击穿或烧穿的片子，还有可能就是串焊的焊地叠片了，这样也会全黑的。
第三张烧结污染比较严重，电池片效率也可能不尽在同一档位上，可能是刻蚀的问题。
电阻率不均匀。
电池片受到污染，局部反向漏电流过大导致。
工艺污染，但是有电性能！原材料硅片污染
1.电池片制作存在问题，有规律性的花纹
2.各种电流档电池片混用，制作组件后造成明显的亮暗串，对曲线图有一定影响
3.隐裂较多，对曲线图会产生一定的影响
黑心片只有一片，其余的片子都正常，主要问题还是出在电池片分档问题上，电池片电阻率不同（打个比方：直径10米的管子跟直径1米的管子借一起，你说电流能以多大的直径通过这个管子？）
第一和第三个图片上面可以看出很明显的烧结履带印，是电池的烧结存在问题；
第二个图片上是由于电池的丝网擦片返工导致的，上面有很多的漏电点；
此组件作出后，IV测试会出现台阶曲线，组件命中率很低，其他方面不会存在问题。
扩散面放反导致背面镀膜印刷了，PN结烧反了
边缘发亮的是：扩散面放反导致背面镀膜印刷了，也就是PN结反。
里面有亮点的：背铝印刷、烧结、逆电流不合格的片子，当然绒面扩散后受损导致局部击穿也有可能，就是有点过了。
光伏组件el检测标准
光伏组件EL检测的标准主要有以下方面：
1.EL图像分析：通过EL测试设备获取图像，通过对图像的分析可以判断组件内部存在的缺陷类型和位置。
国家判定标准对于不同类型和位置的缺
陷设定了评估指标，从而实现对缺陷进行定量化评估。
2.EL亮度均匀性：EL亮度均匀性是评估组件发光均匀性的重要参数。
国家判定标准规定了光伏组件EL亮度均匀性的要求，以确保组件光伏转化
效率的稳定性和一致性。
3.EL亮点和暗点评估：EL亮点和暗点是EL图像中明显的亮度异常点，它们通常是组件内部缺陷的表现。
国家判定标准对于EL亮点和暗点的评
估设定了明确的标准和指标，以判断组件是否符合质量要求。
4.其他参数评估：国家判定标准还包括对其他重要参数的要求，如EL分辨率、分辨率误差等。
这些参数可以全面评估光伏组件的质量，为投资者
和光伏电站建设者提供可靠的参考。
请注意，以上回答仅供参考，对于光伏EL测试的具体标准，您应该咨询相关的专业机构或组织以获取最准确的信息。
EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估 ppt课件
ppt课件
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下图是我们采用废弃组件做的实验，是组件受外力撞击而产生裂纹进 而演变成碎片的过程示意图。
初时图
ppt课件
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缺陷种类十：刻蚀不良
危害：造成效率低下
ppt课件
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五、实例展示
去年我们从麻城金伏86个区共444070块组件内抽查了208块组 件做了IV和EL测试实验，其中IV实验是单独送往实验室进行测试， 测试完毕后再单块进行EL测试，通过测试结果可以看到，黑斑，裂 片等缺陷会对组件的电性能造成不良影响，导致IV曲线的异常，功率 衰减较大的基本都存在隐裂、破片等现象。但是隐裂并不是影响组件 衰减的决定性因素，抽查的208块组件中，共有75块组件存在破片或 隐裂，占比36%，而这75块组件中，隐裂和破片的组件衰减集中在 2%--4%之间，如下所示：
单块组件的测试时间约为10秒，测试
虽然最大测量组串数量为25块
的精度越高，所需时间越长
，但受现场环境所限，每
ppt课件 次拍摄一般为6块。
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三、EL测试仪的功能及应用场合
EL测试仪的功能:
通过EL测试仪可以清楚的发现太阳能组件电池片上的黑斑, 黑心以及组件中的裂片（包括隐裂和显裂）、劣片及焊接缺陷等 问题,从而及时发现问题组件。对提高发电效率和稳定生产都有重 要的作用，通过检测在前期就可将电站整体质量进行把控，从而 避免后期的电站快速衰减，方阵失配，功率不足，以及责任鉴定 问题，因而太阳电池电致发光测试仪是运维现场非常重要的设备 之一。
下图为组件实物图和EL图的对比，由于EL测试仪采用是的镜像成图，所以拍摄出 来的组件EL图和组件实物图是轴对称关系，如下图中红色箭头的两端分别指的组件电 池片实物和EL图中的位置。
（EL）测试方法及其应用
电致发光（EL）检测方法及其应用Willurpimd, Jacky电致发光，又称场致发光，英文名为Electroluminescence，简称EL。
目前，电致发光成像技术已被很多太阳能电池和组件厂家使用，用于检测产品的潜在缺陷，控制产品质量。
一、EL测试原理EL的测试原理如图1所示【1】，晶体硅太阳电池外加正向偏置电压，电源向太阳电池注入大量非平衡载流子，电致发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断地复合发光，放出光子；再利用CCD相机捕捉到这些光子，通过计算机进行处理后显示出来，整个的测试过程是在暗室中进行。
本征硅的带隙约为1.12eV，这样我们可以算出晶体硅太阳电池的带间直接辐射复合的EL光谱的峰值应该大概在1150nm附近，所以，EL的光属于近红外光（NIR）。
图1 EL测试原理图EL图像的亮度正比于电池片的少子扩散长度与电流密度（见图2【2】），有缺陷的地方，少子扩散长度较低，所以显示出来的图像亮度较暗。
通过EL图像的分析可以有效地发现硅材料缺陷、印刷缺陷、烧结缺陷、工艺污染、裂纹等问题。
图2 EL强度决定于正向注入电流密度和少子扩散长度二、EL图像分析1.隐裂硅材料的脆度较大，因此在电池生产过程中，很容易产生裂片，裂片分两种，一种是显裂，另一种是隐裂。
前者是肉眼可直接观察到，但后者则不行。
后者在组件的制作过程中更容易产生碎片等问题，影响产能。
通过EL图就可以观测到，如图3所示，由于（100）面的单晶硅片的解理面是（111），因此，单晶电池的隐裂是一般沿着硅片的对角线方向的“X”状图形。
图3 单晶硅电池的隐裂EL图及区域放大图但是由于多晶硅片存在晶界影响，有时很难区分其与隐裂，见图4的红圈区域。
所以给有自动分选功能的EL测试仪带来困难。
图4 多晶片的EL图2.断栅印刷不良导致的正面银栅线断开，从图5的EL图中显示为黑线状。
这是因为栅线断掉后，从busbar上注入的电流在断栅附近的电流密度较小，致EL发光强度下降。
EL图片分析
EL测试分类（分析）
1、正常片
2、滴源片
3、单晶黑心片和多晶缺陷片
4、原硅片问题（黑圆弧边）
5、扩散后刻蚀放反片
6、履带印（网状和支点型）
7、扩散方阻偏大
8、断线
9、边缘过刻
10、隐裂
11、边缘玷污漏电
12、穿孔
13、未扩散片EL图
14、主栅漏电（反向测试）
15、副栅漏电（反向测试）
16、多晶晶界漏电
17、丝网印刷二道返工擦拭片
18、氮化硅膜摩擦痕漏电
19、未刻蚀干净或边缘浆料造成的边缘PN结导通
20、印刷断栅后补断栅效果，补断栅后发黑情况会减轻。
（电流得到有效的导通）
21、正面断栅
上图为小断栅片及其EL照片，发黑位置1-8均为小断栅，照片上不是很清楚。
4、5为一根细栅线上的两个小断栅。
由图可知，两根主栅之外的小断栅致使断栅至边缘位置全黑。
两根主栅之间的细栅线上的小断栅导致部分发黑，且颜色较浅，一根细栅线上同时有两个小断栅，且均在两根主栅线之间，导致两点之间全黑。
各种异常解决方法。
光伏组件功率衰减原因分析
光伏组件衰减原因分析光伏组件是太阳能发电的关键元件，光伏组件功率衰减是指随着光照时间的增加，组件输出功率不断呈下降趋势的现象。
组件功率衰减直接关系到组件的发电效率。
国内组件的功率衰减与国外最好的组件相比，仍存在一定差距，因此研究组件功率衰减非常有必要。
组件功率衰减包括组件初始光致衰减、组件材料老化衰减及外界环境或破坏性因素导致的组件功率衰减。
外界环境导致功率衰减主要由光伏电站运营不当造成，可通过加强光伏电站的维护进行改善或避免；破坏性因素导致的组件功率衰减是由于组件明显的质量问题所致，在组件生产和电站安装过程对质量进行严格检验把控，可减少此类功率衰减的现象。
本文主要研究组件初始光致衰减及材料老化衰减。
1、组件初始光致衰减分析1.1、组件初始光致衰减原理分析组件初始光致衰减（LID）是指光伏组件在刚开始使用的几天其输出功率发生大幅下降，之后趋于稳定的现象。
普遍认为的衰减机理为硼氧复合导致，即由p型（掺硼）晶体硅片制作而成的光伏组件经过光照，其硅片中的硼、氧产生复合体，从而降低了其少子寿命。
在光照或注入电流条件下，硅片中掺入的硼、氧越多，则生成复合体越多，少子寿命越低，组件功率衰减幅度就越大。
1.2、组件初始光致衰减的实验分析本研究采用对比实验的办法，在背板、EVA、玻璃和封装工艺等条件完全一致情况下，采用两组电池片（一组经初始光照，另一组未经初始光照），分别将其编号为I和II。
同时，生产出的所有组件经质量全检及电致发光（EL）检测，确保质量完全正常。
实验过程条件确保完全一致，采用同一台太阳能模拟仪测量光伏组件I-V曲线。
分别取I和II光伏组件各3组进行试验，记录其在STC状态下的功率输出值。
随后，将I和II光伏组件放置于辐照总量为60kWh/m2（根据IEC61215的室外暴晒试验要求）的同一地点进行暴晒试验，分别记录其功率，结果见表1。
由表1可知，I组光伏组件整体功率衰减明显较II组低。
因此，可推测光伏组件的初始光致衰减主要取决于电池的初始光致衰减。
光伏组件EL常见判别方法
光伏组件EL常见判别方法光伏组件的电子质量（EL）常见判别方法主要包括：1.EL成像：通过使用红外摄像机观察夜间进行EL成像，可以检测光伏组件的缺陷，如裂纹、导线断裂、电池板内部短路等。
EL成像可以直观地显示组件表面和内部问题，并帮助确定是否需要进一步检查或更换。
2.EL谱分析：通过对光伏组件进行光谱分析，可以检测组件中不同部分的光电转换效率。
其中，前表面、电池片、背表面的光电转换效率可以通过EL谱分析来判断。
不同部分具有不同的发光强度和形状，其中亮度和颜色的变化可以指示质量的好坏。
3.EL量测：EL量测可以定量地评估光伏组件的质量。
通过测量不同位置的夜间EL图像，并计算其平均值和标准差，可以确定组件的均匀性和稳定性。
EL量测可以检测电池片和连接器的缺陷，评估组件的功率输出和寿命等。
EL量测还可以与夜晚和白天测得的IV曲线和I-V特性进行比较，以评估光伏组件的性能。
4.EL比率：EL比率是通过测量电池片不同区域的发光强度并计算其比值来判断组件的质量。
EL比率是静态损失和动态损失的指标，可以用来评估组件的功率输出和寿命。
根据EL比率的不同，可以判断组件中电池片区域的损失程度，从而确定是否需要维修或更换组件。
5.EL级别：根据组件中电池片区域的EL亮度，可以将组件分为不同的等级。
EL级别可以用来评估组件的质量和性能，指导组件的维护和管理。
不同的EL级别可以对应不同的保修期限和回报率，帮助用户选择合适的组件和制定合理的投资计划。
总之，EL常见判别方法通过使用EL成像、EL谱分析、EL量测、EL 比率和EL级别等手段，可以全面评估光伏组件的质量和性能，并指导组件的维护、管理和投资。
这些判别方法在光伏行业中得到了广泛应用，帮助改进光伏组件的质量和性能，提高光伏发电效率和可靠性。
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例
一
分析：电池片自身问题，效率比其它电池片偏低。 影响：该片电流小， I-V曲线电流有台阶。
例 二 —— 低效片
例 三 —— 低效片
例 四—— 低效片
例 五 —— 低效片
例 六 —— 低效片
四、分档不均
例 一
原因：比其它电池片效率高。 影响：I-V曲线有起伏，对组件质量影响不大。
五、短路
例 一
原因：电池片有害的杂质和缺陷 造成。 影响：组件整体电压减小，I-V曲线表现在下降处有拱起。
例 二——电池漏电流过大
二、裂片
例 一
分析：电池片来料隐裂或人为因素造成电池片破裂。
影响：该片电流减小， I-V曲线电流有台阶。
例 二 —— 裂片
例 三 —— 裂片
例 四 —— 裂片
三、低效片
例 一
原因：电池片本身问题。 影响：来自-V曲线弯曲，整体功率降低。例 二 —— 短路
六、材料缺陷
例 一
原因：电池片本身问题。 影响：电流电压减小，整体功率降低。
太阳能电池组件
曲线不良和EL测试图片分析
泰通（泰州）工业有限公司 质量部
正常的太阳能电池组件的I-V曲线平滑，所测试的EL 图片亮度一致、无阴影（如图一、二），在实际生产中 出现一些组件I-V曲线弯曲，对于这些曲线不良经EL测试 后，发现电池片存在不良的现象，具体为：
图（一）
图（二）
一、电池漏电流过大