集成门电路功能测试实验报告
集成逻辑门电路逻辑功能的测试实验报告
集成逻辑门电路逻辑功能的测试实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入了解和测试常见集成逻辑门电路的逻辑功能，包括与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等。
通过实际操作和测量，掌握逻辑门电路的工作原理和特性，提高对数字逻辑电路的分析和设计能力。
二、实验原理1、逻辑门电路的基本概念逻辑门是实现基本逻辑运算的电子电路，常见的基本逻辑运算有与、或、非等。
与门的逻辑功能是当所有输入都为高电平时，输出才为高电平；或门的逻辑功能是只要有一个输入为高电平，输出就为高电平；非门的逻辑功能是输出与输入相反。
2、集成逻辑门电路的特点集成逻辑门电路是将多个逻辑门集成在一个芯片上，具有体积小、可靠性高、性能稳定等优点。
常见的集成逻辑门电路有 TTL 系列（如74LS00、74LS08 等）和 CMOS 系列（如 CD4011、CD4071 等）。
3、逻辑门电路的逻辑表达式和真值表逻辑表达式是用逻辑运算符表示逻辑门输入与输出之间关系的数学表达式，真值表则是列出所有可能的输入组合及其对应的输出值。
通过分析逻辑表达式和真值表，可以清晰地了解逻辑门电路的逻辑功能。
三、实验设备和器材1、数字电路实验箱2、集成逻辑门芯片（74LS00、74LS08、74LS04、74LS10、74LS20、74LS86 等）3、示波器4、直流电源5、导线若干四、实验步骤1、熟悉实验设备和芯片引脚功能首先，仔细观察数字电路实验箱的布局和功能，了解电源开关、插孔、指示灯等的位置和作用。
然后，查看集成逻辑门芯片的引脚图，确定输入引脚、输出引脚和电源引脚。
2、搭建测试电路根据不同逻辑门电路的逻辑功能，在实验箱上使用导线连接芯片引脚和电源、地，构建相应的测试电路。
例如，测试与门 74LS08 时，将两个输入引脚分别连接到两个开关，输出引脚连接到一个指示灯。
3、输入信号并观察输出通过操作开关改变输入信号的电平（高电平或低电平），观察指示灯的亮灭情况，记录输入和输出的逻辑状态。
集成门电路功能测试(三态门)
集成门电路功能测试实验报告一实验内容1 三态门的静态逻辑功能测试。
2 动态测试三台门。
并画出三态门的输出特性曲线。
输入为CP矩形波。
3 测试三态门的传输延迟时间。
4 动态测试三态门的电压传输特性曲线。
输入为三角波。
二实验条件硬件基础实验箱，函数信号发生器，双踪示波器，数字万用表，74LS125。
三实验原理1 首先测试实验箱上提供的频率电源参数是否正确。
打开实验箱电源，把分别把5MHz的脉冲接入红表笔上，黑表笔接地。
观察示波器显示波形的频率是否为5MHz，经过观察计算，波形频率接近5M。
误差很小，从下图可以看出,ch1为输入波形一个周期占四个格子，可计算得到f=5MHz。
2 三态门的静态逻辑功能测试。
(后面四个实验都是通过示波器在同一时刻测试3动态测试三台门。
并画出三态门的输出特性曲线。
输入为CP矩形波。
使能端无效是波形：使能端有效时输出波形4 测试三态门的传输延迟时间。
通过测量同一时刻的输入输出波形，可以观察到三态门的输出延迟。
得到波形图为CH1，CH2分别为输入输出波形，可以看出在上升沿的输出延迟为10ns然而下降沿的时候的截图已经丢失了，依稀记得在实验时候，测得是数据下降沿的输出延迟与上升沿的不一致，并且比上升沿的短。
为9.6ns，其传输延迟为两个延迟的平均值9.8ns。
5 测试三态门的电压传输特性曲线。
输入为三角波。
得到输入输出波形为：CH1为输入，CH2为输出。
得到阀值电压为0.92V。
四总结这次实验基本上和上次实验的方法一样，没遇到什么大的问题。
就是还是粗心。
五评价实验效果挺好。
巩固了对逻辑器件的功能测试的方法和操作。
集成元件实验报告总结
一、实验目的本次实验旨在通过实际操作，加深对集成元件的理解和认识，掌握集成元件的基本应用，并锻炼学生的动手能力和分析问题、解决问题的能力。
二、实验内容1. 集成门电路实验（1）实验目的：验证常用集成门电路的逻辑功能，熟悉各种门电路的逻辑符号，了解TTL集成电路的特点、使用规则和使用方法。
（2）实验内容：测试74LS00四2输入与非门、74LS86四2输入异或门、74LS11三3输入与门、74LS32四2输入或门、74LS04反相器的逻辑功能。
2. 集成运算放大电路实验（1）实验目的：进一步理解集成运算放大器线性应用电路的特点，掌握集成运算放大器基本线性应用电路的设计方法，了解限幅放大器的转移特性以及转移特性曲线的绘制方法。
（2）实验内容：搭建反相比例放大电路、同相比例放大电路、差动放大电路，观察输入输出波形，分析电路特性。
3. 集成计数器实验（1）实验目的：掌握集成计数器构成N进制的计数器的连接方法，了解构成模长M进制计数器的原理。
（2）实验内容：设计并搭建60进制计数电路，观察七段数码显示器计数状态的变化过程，并记录该状态循环。
三、实验结果与分析1. 集成门电路实验实验结果表明，各种门电路的逻辑功能符合预期，能够实现逻辑运算。
通过实验，我们熟悉了各种门电路的逻辑符号，了解了TTL集成电路的特点、使用规则和使用方法。
2. 集成运算放大电路实验实验结果表明，反相比例放大电路、同相比例放大电路、差动放大电路均能正常工作，输入输出波形符合预期。
通过实验，我们进一步理解了集成运算放大器线性应用电路的特点，掌握了集成运算放大器基本线性应用电路的设计方法，了解了限幅放大器的转移特性以及转移特性曲线的绘制方法。
3. 集成计数器实验实验结果表明，60进制计数电路能够正常工作，七段数码显示器计数状态的变化过程符合预期。
通过实验，我们掌握了集成计数器构成N进制的计数器的连接方法，了解了构成模长M进制计数器的原理。
四、实验心得与体会1. 通过本次实验，我对集成元件有了更加深入的理解和认识，提高了自己的动手能力和分析问题、解决问题的能力。
集成逻辑门电路实验报告
一、实验目的1. 理解和掌握集成逻辑门电路的基本原理和组成。
2. 熟悉不同类型集成逻辑门电路（如与门、或门、非门、异或门等）的逻辑功能和特性。
3. 学习使用集成逻辑门电路进行基本逻辑运算和组合逻辑电路的设计。
4. 提高动手能力和电路分析能力。
二、实验原理集成逻辑门电路是数字电路中最基本的单元，由若干个逻辑门组成，可以完成基本的逻辑运算。
常见的逻辑门有与门、或门、非门、异或门等。
这些逻辑门通过输入信号和输出信号之间的逻辑关系来实现特定的功能。
三、实验器材1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00四2输入与非门1片4. 74LS86四2输入异或门1片5. 74LS11三3输入与门1片6. 74LS32四2输入或门1片7. 74LS04反相器1片四、实验内容1. 验证常用集成门电路的逻辑功能（1）连接74LS00四2输入与非门，测试其逻辑功能。
根据输入信号的不同组合，观察输出信号的变化，验证与非门的逻辑功能。
（2）连接74LS86四2输入异或门，测试其逻辑功能。
根据输入信号的不同组合，观察输出信号的变化，验证异或门的逻辑功能。
（3）连接74LS11三3输入与门，测试其逻辑功能。
根据输入信号的不同组合，观察输出信号的变化，验证与门的逻辑功能。
（4）连接74LS32四2输入或门，测试其逻辑功能。
根据输入信号的不同组合，观察输出信号的变化，验证或门的逻辑功能。
（5）连接74LS04反相器，测试其逻辑功能。
观察输入信号和输出信号之间的关系，验证反相器的逻辑功能。
2. 学习使用集成逻辑门电路进行基本逻辑运算（1）使用与非门实现与运算：将两个输入信号分别连接到与非门的两个输入端，观察输出信号的变化，验证与非门实现与运算的功能。
（2）使用或门实现或运算：将两个输入信号分别连接到或门的两个输入端，观察输出信号的变化，验证或门实现或运算的功能。
（3）使用非门实现非运算：将输入信号连接到非门的输入端，观察输出信号的变化，验证非门实现非运算的功能。
实验一集成门电路逻辑功能测试实验报告
实验一集成门电路逻辑功能测试实验报告一、实验目的1、了解与掌握集成门电路的基本理论知识；2、了解和掌握使用示波器测量数字电路信号的原理；3、熟悉、掌握操作一个典型的集成门电路，能够完成输入、输出的测试；4、进一步学习实验技巧，提高操作及实际分析判断能力。
二、实验形式本实验采用实验班课题集成门电路逻辑功能测试的框架，使用典型的集成门电路元件，输入不同的控制信号，观察、量测集成门电路的输入输出行为，评价各个输入输出状态下系统的功能，分析和记录结果，探讨系统特性。
三、实验基础1、集成门电路：集成门电路是大规模集成电路中的一类电路，也称为数字逻辑电路。
它的基本功能就是进行逻辑运算，它通过特殊的电路结构，使多个信号输入后，经过基本的逻辑运算，呈现出几种功能或状态，对信号输入和输出做出反应，人们可以使用它来控制一系列的电子电路。
2、数字电路测试：数字电路测试技术是电子工程师经常采用的测量技术，是实现数字逻辑电路各种功能、参数的检测、测量技术，它是基于电路的特性、电路内外参数的变化，对具有规律数字变化的信号的变化情况进行观察与测量的技术。
3、示波器：示波器是一种常用的电子设备，它可以实时显示不同频率的电子信号的振幅及波形，是电子工程师的必备测量仪器。
示波器的采样速度必须高于测量信号最快变化率的2倍以上，以精确地记录信号振幅趋势，测量准确，结果真实可靠。
四、实验过程1、实验准备：根据实验要求准备相应的实验室、工装、测试电路，并根据实验要求搭建样板。
2、实验操作：（1）使用示波器观察不同输入情况下集成门电路输出信号的输出情况。
（2）重复进行输入信号的改变，记录示波器输出的曲线，比较输入信号的变化规律与输出信号的变化规律，得出系统的逻辑功能。
3、结果分析：根据测试结果，分析并记录系统及其输入输出信号的变化规律，分析系统的功能特性，探讨逻辑电路的应用和发展。
五、实验结果根据本次实验，我们对数字电路的操作和记录的结果，结果 depicted that the integrated gate circuit produced different output results when different input signals were applied. For example, when the input signal1 ‘A’was high andthe input signal2 ‘B’was low, the output was high; and when the inputsignal1 ‘A’was low and the input signal2 ‘B’was high, the output was low.充分表明了集成门电路的基本原理并且运用到实际的工程中。
集成电路门实验报告
一、实验目的1. 理解集成电路门的基本原理和组成；2. 掌握常用集成电路门的逻辑功能；3. 学习使用Multisim软件进行电路仿真；4. 培养动手能力和实验操作技能。
二、实验原理集成电路门是数字电路中最基本的逻辑单元，主要包括与门、或门、非门、异或门等。
这些门电路具有特定的逻辑功能，可以通过组合实现复杂的逻辑运算。
本实验主要研究TTL集成电路门的逻辑功能。
三、实验器材1. 数字电路实验箱；2. 万用表；3. 74LS00四2输入与非门；4. 74LS86四2输入异或门；5. 74LS11三3输入与门；6. 74LS32四2输入或门；7. 74LS04反相器；8. Multisim软件。
四、实验内容1. 与门实验（1）实验目的：验证与门的逻辑功能。
（2）实验步骤：① 在Multisim软件中搭建与门电路，选择74LS11三3输入与门作为测试器件；② 按照实验要求，改变输入端A、B、C的状态，观察输出端F的状态；③ 记录实验数据，分析实验结果。
（3）实验结果与分析：实验结果显示，当输入端A、B、C都为高电平时，输出端F才为高电平，符合与门的逻辑功能。
2. 或门实验（1）实验目的：验证或门的逻辑功能。
（2）实验步骤：① 在Multisim软件中搭建或门电路，选择74LS32四2输入或门作为测试器件；② 按照实验要求，改变输入端A、B的状态，观察输出端F的状态；③ 记录实验数据，分析实验结果。
（3）实验结果与分析：实验结果显示，当输入端A、B中至少有一个为高电平时，输出端F为高电平，符合或门的逻辑功能。
3. 非门实验（1）实验目的：验证非门的逻辑功能。
（2）实验步骤：① 在Multisim软件中搭建非门电路，选择74LS04反相器作为测试器件；② 按照实验要求，改变输入端A的状态，观察输出端F的状态；③ 记录实验数据，分析实验结果。
（3）实验结果与分析：实验结果显示，当输入端A为高电平时，输出端F为低电平；当输入端A为低电平时，输出端F为高电平，符合非门的逻辑功能。
常用集成门电路逻辑功能测试实验报告
数字电路实验报告专业：汽车电子技术年级： 2姓名：杜丽娟学号：指导教师：毛群阿坝师专电子信息工程系实验一常用集成门电路逻辑功能测试及其应用实验目的：1、掌握集成门电路的逻辑功能、逻辑符号和逻辑表达式；2、了解逻辑电平开关和逻辑电平显示的工作原理；3、学会验证集成门电路的逻辑功能；4、掌握集成门电路逻辑功能的转换；5、学会连接简单的组合逻辑电路。
二、实验原理：1、功能测试（1）．TTL集成门电路的工作电压：（2）．TTL集成门引脚识别方法：（3）．TTL集成门电路管脚识别示意图及各个引脚的功能（74LS00、74LS04、74LS08、74LS32）2、功能应用（1）。
常用门电路的逻辑表达式：（2）。
逻辑代数基本定理：（3）。
简单组合逻辑电路的连接注意事项：三、实验仪器设备及器材：集成块：74LS00、74LS04、74LS08、74LS32、四、实验内容与步骤：（一）功能测试1、集成门电路逻辑功能测试：（1）、集成门的逻辑功能测试a|、电路图：b、测试结果：7４LS00试验结果1脚2脚3脚4脚5脚6脚7脚8脚9脚10脚11脚12脚13脚14脚7４LS04试验结果1脚2脚3脚4脚5脚6脚7脚8脚9脚10脚11脚12脚13脚14脚7４LS08试验结果1脚2脚3脚4脚5脚6脚7脚8脚9脚10脚11脚12脚13脚14脚7４LS32试验结果1脚2脚3脚4脚5脚6脚7脚8脚9脚10脚11脚12脚13脚14脚1.用与非门实现非门；电路图：2.用非门和与非门实现或门；电路图：输入输出逻辑表达输入输出逻辑表达3.用与非门和与非门实现或门；电路图：4.用非门和与门实现同或门；电路图：5.用74LS00和74LS08实现逻辑函数表达式：Y=ABC。
电路图：五、实验总结和体会：。
实验一集成门电路逻辑功能测试实验报告
0 1 1 0
0 1 1 0
0 1 1 1
空悬 空悬 1 1
5 -1 图
4-1 图
�下如接连路电验实其� 。能功辑逻其试测门个一中其用 �示所 5-1 图如能功脚管门或异入输 2 四 68SL47 功辑逻的门或异测检 68SL47 用 、2 0 0 1 0 1 0 1 1 Y 态状出输 表能功辑逻 00SL47 1 空悬 1 0 空悬 1 1 0 1
BU
空悬 空悬 空悬 1 0 1 1 0
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0
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4-1 表
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�下如接连路电验实其� 。能功辑逻其试测 门个一中其用 �示所 4-1 图如能功脚管门非与入输 2 四 00SL47 试测辑逻门非与 、1 能功辑逻路电门各试测�接连图能功脚管据根、 �二�
0 0 1 态状出输
空悬 1 0 入输
表辑逻 40SL47 3-1 表 。中 3-1 表入填果结试测把�态状的 F 端出输应相各灯示指助借 �态状的 A 端入输变改关开用求要 3-1 表按� �7P 材教验实见�线接 3-1 图按
试测能功辑逻路电门成集�称名验实
告报验实术技子电字数
试测能功辑逻门非 、3
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空悬 空悬 空悬 1 0 1 1 0 A 0
表能功辑逻 23SL47 2-1 表 �下如 图路电验实其� 。中 2-1 表入填果结试测把 �态状的 F 端出输应相各灯示指助借 �态状的 B、A 端入输变改关开用求要 2-1 表按�)6P 材教验实见(线接 2-1 图按 �1� 试测能功辑逻门或 、2
0 0 0 0 Y 态状出输 0
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实验一集成门电路逻辑功能测试实验报告(整理)
数字电子技术尝试陈述尝试名称：集成门电路逻辑功能测试一、尝试目的：1、验证常用集成门电路的逻辑功能；2、熟悉各种逻辑门电路的逻辑符号；3、熟悉TTL 集成电路的特点、使用规那么和使用方法。
二、尝试设备及器件：1、数字电路尝试箱2、74LS00 四2 输入与非门74LS11 三3 输入与门74LS04 反相器1 片1 片1 片74LS86 四2 输入异或门74LS32 四2 输入异或门1 片1 片三、尝试道理：集成逻辑门电路是最简单、最根本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。
TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度大、种类多、不易损坏等特点而广泛使用，出格对学生进行尝试论证，选用TTL 电路较适合，因此这里使用了74LS 系列的TTL 电路，它的电源电压为5V+10% ，逻辑电平“1〞时>2.4V，低电平“0〞时<0.4V 。
尝试使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面〔印有集成电路型号标识表记标帜面〕对着使用者，集成电路上的标识凹口朝左，右下角第一脚为一脚，按逆时针标的目的挨次排布其管脚。
四、尝试步调：〔一〕、按照接线图连接，测试各门电路逻辑功能1、与门逻辑功能测试被测试器件为74LS11 三3 输入与门，其引脚图见尝试教材P6。
〔1〕按图1-1〔见尝试教材P6〕接线，门的三输入端节逻辑开关输出插口，以供“0〞与“1〞电平信号，开关向上，输出逻辑“1〞，先下输出逻辑“0〞。
门的输入端接LED 发光二极管。
〔尝试时，操纵DSWPK 开关其电路图如下〕〔2〕按表1-1 要求用开关改变输入端 A 、B、C 的状态，借助指示灯不雅测个相应输出端F 的状态，当电平指示灯亮时记为“1〞，灭时记为“0〞，把测试成果填入表1-1 中。
表1-1 74LS11 逻辑功能表输入状态输出状态A 0 0 0 0 1 1 B11C111Y1 1 1 1 1 00 1 1 00 1 1 悬空 悬空2、 或门逻辑功能测试〔1〕 按图 1-2 接线(见尝试教材 P ) ，按表 1-2 要求用开关改变输入端 、的状态， A B 6 借助指示灯各相应输出端 如下〕F 的状态， 把测试成果填入表 1-2 中。
集成逻辑门电路的逻辑功能测试实验报告
集成逻辑门电路的逻辑功能测试实验报告一、实验目的1、熟悉集成逻辑门电路的逻辑功能和特点。
2、掌握集成逻辑门电路逻辑功能的测试方法。
3、学会使用数字电路实验箱和逻辑测试仪器。
二、实验原理1、逻辑门电路逻辑门电路是数字电路中最基本的单元，它实现了基本的逻辑运算，如与、或、非、与非、或非、异或等。
常见的集成逻辑门电路有74LS00（四 2 输入与非门）、74LS04（六反相器）、74LS08（四 2 输入与门）、74LS32（四 2 输入或门）等。
2、逻辑功能测试方法通过给逻辑门电路的输入端施加不同的逻辑电平（高电平“1”或低电平“0”），然后使用逻辑测试仪器（如逻辑笔、逻辑分析仪等）测量输出端的逻辑电平，从而确定逻辑门电路的逻辑功能。
三、实验设备1、数字电路实验箱2、集成电路芯片：74LS00、74LS04、74LS08、74LS32 等3、逻辑测试仪器：逻辑笔、示波器4、直流电源5、连接导线若干四、实验内容及步骤（一）测试 74LS00 四 2 输入与非门的逻辑功能1、将 74LS00 芯片插入实验箱的集成电路插座中。
2、按照芯片引脚图，使用连接导线将芯片的电源引脚（Vcc 和GND）分别连接到实验箱的＋5V 电源和地。
3、选择其中一个与非门，将两个输入端分别连接到实验箱的逻辑电平输出端，通过调节逻辑电平输出端的开关，分别设置输入端为“00”、“01”、“10”、“11”四种组合。
4、使用逻辑笔测量输出端的逻辑电平，并将结果记录在表 1 中。
｜输入 A ｜输入 B ｜输出 Y ｜｜｜｜｜｜ 0 ｜ 0 ｜ 1 ｜｜ 0 ｜ 1 ｜ 1 ｜｜ 1 ｜ 0 ｜ 1 ｜｜ 1 ｜ 1 ｜ 0 ｜（二）测试 74LS04 六反相器的逻辑功能1、插入 74LS04 芯片，连接电源。
2、选择其中一个反相器，将输入端连接到逻辑电平输出端，设置输入为“0”和“1”，使用逻辑笔测量输出端的逻辑电平，记录在表 2 中。
集成门电路实验报告
集成门电路实验报告集成门电路实验报告一、引言集成门电路作为数字电路中的基本组成部分，广泛应用于计算机、通信、控制等领域。
本实验旨在通过实际操作，了解集成门电路的基本原理和应用。
二、实验目的1. 掌握集成门电路的基本原理；2. 学习使用实验仪器和器件，进行电路的搭建和测试；3. 熟悉集成门电路的应用场景。
三、实验器材和器件1. 集成门电路芯片；2. 面包板；3. 电路连接线；4. 示波器。
四、实验步骤1. 搭建与门电路：首先将集成门电路芯片插入面包板中，然后根据电路原理图连接电路连接线，将输入端与输出端连接起来。
确保电路连接正确无误。
2. 测试与门电路：将示波器连接到输入端和输出端，输入不同的高低电平信号，观察输出端的波形变化。
记录不同输入信号对输出信号的影响。
3. 搭建或门电路：重复步骤1的操作，搭建或门电路。
同样进行测试，记录结果。
4. 搭建非门电路：重复步骤1的操作，搭建非门电路。
同样进行测试，记录结果。
五、实验结果与分析1. 与门电路测试结果：输入信号为高电平时，输出信号为高电平；输入信号为低电平时，输出信号为低电平。
说明与门电路只有在两个输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平。
2. 或门电路测试结果：输入信号为高电平时，输出信号为高电平；输入信号为低电平时，输出信号为低电平。
说明或门电路只有在两个输入信号都为低电平时，输出信号才为低电平。
3. 非门电路测试结果：输入信号为高电平时，输出信号为低电平；输入信号为低电平时，输出信号为高电平。
说明非门电路是对输入信号进行取反的操作。
六、实验总结通过本次实验，我们深入了解了集成门电路的原理和应用。
与门、或门和非门是数字电路中最基本的逻辑门，它们在计算机和通信系统中起着至关重要的作用。
掌握了集成门电路的搭建和测试方法，我们能够更好地理解数字电路的工作原理，并能够应用于实际工程中。
七、实验感想本次实验让我深刻认识到了数字电路的重要性和广泛应用。
数字电路是现代科技的基石，它为计算机、通信、控制等领域的发展提供了坚实的支撑。
实验一集成门电路逻辑功能测试实验报告PPT
实验教学是高等教育的重要组成 部分，通过实验操作，可以帮助 学生更好地理解和掌握理论知识 ，提高实践能力和创新意识。
实验意义
培养实践能力
通过实验操作，培养学生的动手 能力、观察能力和分析问题的能 力，提高实践能力和创新意识。
加深理论知识理解
通过实验验证集成门电路的逻辑功 能，帮助学生深入理解和掌握数字 电子技术中的基本理论和概念。
数字万用表：用于测量电 路中的电压、电流等参数 。
示波器：用于观察电路中 的信号波形。
信号发生器：用于产生测 试所需的逻辑信号。
集成门电路芯片：待测试 的集成门电路芯片。
03
实验步骤与操作
实验前准备
学习实验原理
深入理解集成门电路的基 本原理、逻辑功能和应用 场景。
了解实验设备
熟悉实验所需设备，如示 波器、信号发生器、数字 万用表等。
THANKS.
安全第一
在实验过程中，务必遵守实验室安全规定，确保 人身和财产安全。
细致操作
实验操作需细致认真，避免误操作导致实验结果 偏差或设备损坏。
数据记录
实验过程中要及时记录实验数据和现象，以便后 续分析和总结。
实验数据与结果分
04
析
数据记录与处理
数据记录
实验中，我们记录了输入信号的变化 以及对应的输出信号的变化，确保数 据的准确性。
问题与解决方案
问题一
解决方案
在实验过程中，我们发现某些门电路的输 出信号存在延迟现象。
经过检查，我们发现是由于电路中的电阻 和电容引起的延迟。通过优化电路参数， 我们减小了延迟现象。
问题二
解决方案
在实验过程中，某些门电路的输出信号出 现了噪声干扰。
实验1 集成门电路的逻辑功能与参数测试
实验一TTL集成门电路的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图1－1(a)、(b)、(c)所示。
(b)（a） (c)图1－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
通常ICCL ＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为PCCL ＝VCCICCL。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
ICCL 和ICCH测试电路如图1－2(a)、(b)所示。
[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压VCC只允许在＋5V±10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图1－2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。
IiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。
ttl集成逻辑门电路实验报告
ttl集成逻辑门电路实验报告TTL 集成逻辑门电路实验报告一、实验目的1、熟悉 TTL 集成逻辑门的逻辑功能和电气特性。
2、掌握 TTL 集成逻辑门的测试方法和使用技巧。
3、学会通过实验分析和判断 TTL 集成逻辑门的工作状态和性能。
二、实验设备与器材1、数字电路实验箱2、双踪示波器3、数字万用表4、 74LS00（四 2 输入与非门）、74LS04（六反相器）、74LS08（四 2 输入与门）、74LS32（四 2 输入或门）等 TTL 集成逻辑芯片三、实验原理TTL（TransistorTransistor Logic）是一种常见的数字集成电路逻辑门技术。
TTL 逻辑门电路的输入和输出电平具有特定的标准：输入低电平一般为 0 08V，输入高电平一般为 2 5V；输出低电平一般小于04V，输出高电平一般大于 24V。
与非门（NAND gate）的逻辑功能是：当所有输入都为高电平时，输出为低电平；只要有一个输入为低电平，输出就为高电平。
反相器（Inverter）的逻辑功能是：输入为高电平时，输出为低电平；输入为低电平时，输出为高电平。
与门（AND gate）的逻辑功能是：只有当所有输入都为高电平时，输出才为高电平；否则输出为低电平。
或门（OR gate）的逻辑功能是：只要有一个输入为高电平，输出就为高电平；只有所有输入都为低电平时，输出才为低电平。
四、实验内容与步骤1、测试 74LS00 四 2 输入与非门的逻辑功能将 74LS00 芯片插入实验箱的插座中。
用实验箱提供的逻辑电平输入分别给两个输入端提供高电平和低电平的不同组合，使用数字万用表测量输出端的电平，并将结果记录在表格中。
2、测试 74LS04 六反相器的逻辑功能插入 74LS04 芯片。
给输入端输入不同的电平，测量输出端的电平并记录。
3、测试 74LS08 四 2 输入与门的逻辑功能安装 74LS08 芯片。
改变输入端的电平组合，测量输出端电平并记录。
ttl集成门电路实验报告
ttl集成门电路实验报告第一部分介绍一、实验目的本次实验介绍如何在 TTL集成门电路中实现逻辑功能；熟悉TTL 集成门电路、掌握其特性与应用；二、实验内容1、实验仪器及元件实验仪器：电子仪表箱、多用测试电阻、示波器、波形发生器；探测仪器：示波器、波形发生器；元件：TTL集成门电路（AND、OR、NOT）。
2、实验环境本次实验采用室内实验室的平面布局，实验室设备齐全，实验室环境温暖，实验室室外的噪声不会影响实验效果。
第二部分实验步骤第一步：准备实验所需要的仪器和元件1、首先，将电源开关拨到“ON”位置，将电子仪表箱的检测开关拨到“OFF”位置；2、然后，将TTL集成门电路放入电子仪表箱，并将多用测试电阻安装在电子仪表箱上；3、接着，将示波器与波形发生器依照实验指导书的要求连接起来。
第二步：实验仪表的调整1、调整仪表的输出电压，将示波器的电压值调节至0.5V；2、调整仪表的输出频率，将波形发生器的频率调节至2Hz；3、调整仪表的输出波形，将波形发生器的波形调节至直流正弦波；4、调整仪表的偏置电流，将电子仪表箱的偏置电流调节至0mA。
第三步：实验过程1、启动实验，检查各仪表及元件的调整情况，确认正确无误；2、接着，连接TTL集成门电路，将其与检测仪器连接起来；3、然后，测试TTL集成门电路的输入输出特性，并比较实验结果；4、最后，将实验结果记录下来，并对其进行评价。
第三部分结论通过本次实验，我们学习了TTL集成门电路的介绍、特性及应用，运用TTL集成门电路实现了逻辑功能，实验结果与理论值相符，由此可见，TTL集成门电路在实验室中是一种有效的逻辑运算元件，具有可靠性和可靠性。
ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告(一)
ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告(一)TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告引言•介绍TTL集成逻辑门的背景和作用•说明本实验旨在测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数的性能实验设计1.实验材料： TLL集成逻辑门芯片、电路板、示波器等2.实验步骤：–步骤一：搭建所需电路，将TTL集成逻辑门芯片与其他电子器件进行连接–步骤二：使用示波器进行测量和记录–步骤三：根据测试结果进行数据分析和总结实验结果与分析1.逻辑功能测试：–对不同的输入组合进行测试，并记录输出结果–比较测试结果与预期结果的一致性2.参数测试：–测试集成逻辑门的输入电流、输出电流、工作电压等参数–记录并分析测试数据–验证芯片参数是否符合规格书上的要求结论•总结实验过程中的观察结果和数据分析•评价TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数性能•提出可能的改进和优化建议参考文献•如果有的话，列出相关参考文献附录•实验所使用的电路图•数据记录表格•其他相关数据和图表实验设计实验材料•TTL集成逻辑门芯片•电路板•示波器•逻辑分析仪实验步骤1.准备实验所需材料和设备2.按照电路图搭建TTL集成逻辑门电路3.确保电路连接正确，没有短路或接触不良的情况4.使用逻辑分析仪设置输入信号，并观察和记录输出信号5.切换不同的输入组合进行测试，并记录相应的输出结果6.使用示波器对信号进行测量和记录7.根据测试结果进行数据分析和总结实验结果与分析逻辑功能测试•在测试过程中，我们通过改变输入信号的值，观察输出信号的变化情况。
•比较测试结果与预期结果，判断逻辑门的逻辑功能是否符合要求。
•对不同的输入组合进行测试，包括与、或、非等逻辑运算。
参数测试•我们测量了TTL集成逻辑门的输入电流、输出电流和工作电压等参数。
•记录并分析了测试数据，比较参数值与规格书上的要求。
•验证TTL集成逻辑门的参数是否在工作范围内，符合设计要求。
结论•实验结果表明，TTL集成逻辑门具有良好的逻辑功能和参数性能。
集成门电路逻辑功能测试实验报告
集成门电路逻辑功能测试实验报告实验目的：了解并掌握集成门电路的逻辑功能。
学会使用数字电路实验箱进行功能测试。
实验原理：集成门电路是一种数字逻辑电路元件，可以实现逻辑函数的运算和控制。
集成门电路包括非门、与门、或门、异或门等等，每种门电路都有其自身的逻辑功能和控制特点。
在数字电路实验中，我们可以使用数字电路实验箱来测试集成门电路的逻辑功能，例如测试其输出信号的高低、控制输入信号的变化等等。
实验步骤：1、将示波器探头分别插入待测试集成门电路的输入和输出端口；2、开启数字电路实验箱电源，接入待测试集成门电路；3、根据集成门电路的类型，调节数字电路实验箱上相应的输出和输入开关，使其符合测试要求；4、将输入信号控制码设置为适当的值，并通过数字电路实验箱上的按键操作来改变输入信号；5、监测集成门电路的输出信号，并用示波器观测其波形和电平等特点；6、依据测试结果，分析集成门电路的逻辑功能特点，并记录实验数据和结论；7、关闭数字电路实验箱电源，清理实验仪器和设备。
实验结果：通过实验测试，我们可以有效地了解和掌握集成门电路的逻辑功能特点，并对其输出信号的高低、控制输入信号的变化等进行测试，从而得到最终的实验结果和结论。
在实验数据处理和分析过程中，我们需要注意数据的准确性和可靠性，以及实验条件和环境的统一性和稳定性。
实验结论：本次实验通过对集成门电路逻辑功能的测试，成功地掌握了数字电路实验的基本操作方法和技能，并了解了集成门电路的逻辑功能特点。
实验结果表明，在不同的测试条件和输入信号的变化下，集成门电路的输出信号会发生相应的变化和变化，其逻辑功能具有一定的特殊性和差异性。
因此，在数字电路设计和开发中，我们应该根据实际的需求和要求，选择和应用合适的集成门电路，以实现高效、稳定和可靠的数字电路控制和运算。
实验二集成门电路的功能测试
实验二集成门电路的功能测试一、实验目的1．学会读集成电路的管脚图。
2．掌握逻辑门电路的符号与实物之间的对应关系。
3．掌握各种门电路的逻辑功能，特别是与非门和异或门的逻辑功能。
4．进一步熟悉KHD-2数字技术实验装置使用方法。
二、实验器材1．KHD-2数字技术实验装置。
2．二踪示波器DC4322B 20HZ 一台。
3．器件 74LS00 2输入端四与非门1片；74LS55 4-4输入与或非门1片；CD4030 2输入端四异或门1片。
它们的管脚图如图2-1所示。
Y=AB Y=EFGHABCD〔1〕 74LS00管脚图〔2〕 74LS55管脚图Y=A⊕B〔3〕 CC4030管脚图图2-1 集成门电路的管脚图三、实验说明选择实验用的集成电路按自己设计的实验接线图接好连线。
特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后经实验指导老师检查无误前方可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。
四、预习要求1．复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
2．熟悉所用集成电路的引脚位置及各引脚功能。
3．熟悉双踪示波器的使用方法。
五、实验内容及步骤1．与非门逻辑功能测试〔1〕选用二输入四与非门74LS00中的一个与非门，电源引脚接实验台+5V DC，输入引脚接逻辑开关〔16个开关任选2个〕，输出引脚接发光二极管〔16个发光二极管任选1个〕。
〔2〕将逻辑开关按表2.1置位，分别测输出电压及逻辑状态。
2．异或门逻辑功能测试〔1〕选二输入四异或门电路CC4030的一个异或门，电源引脚接实验台+5V DC，输入引脚接逻辑开关〔16个开关任选2个〕，输出引脚接发光二极管〔16个发光二极管任选1个〕。
〔2〕将逻辑开关按表2.2置位，将结果填入表中。
表2.1 74LS00功能操作表表2.2 CD4030功能操作表3．与或非门逻辑功能测试〔1〕将4-4输入与或非门74LS55改为2-2输入使用。
电源引脚接实验台+5V DC，输入引脚接逻辑开关〔16个开关任选4个〕，输出引脚接发光二极管〔16个发光二极管任选1个〕。
集成门电路实验报告
一、实验目的1. 理解并验证集成门电路的基本逻辑功能。
2. 熟悉TTL集成电路的特性、使用规则及方法。
3. 掌握逻辑门电路的连接方式及其在数字电路中的应用。
二、实验原理集成门电路是数字电路的基本组成单元，其功能是将输入信号按照特定的逻辑关系转换为输出信号。
TTL（Transistor-Transistor Logic）集成电路因其工作速度快、输出幅度大、种类多且不易损坏等优点而被广泛应用于数字电路中。
本实验采用74LS系列TTL集成电路，其电源电压为5V±10%，逻辑高电平为1，逻辑低电平为0。
实验中使用的集成电路均为双列直插式封装，管脚识别方法为：将集成块正面对着使用者，标识凹口左下角第一脚为1脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。
三、实验内容及步骤1. 与门电路实验（1）连接电路：按照实验电路图连接74LS11三输入与门电路。
（2）测试输入信号：使用开关改变输入端A、B、C的状态，观察输出端F的指示灯。
（3）记录实验数据：记录不同输入状态下输出端F的指示灯状态。
2. 或门电路实验（1）连接电路：按照实验电路图连接74LS32四2输入或门电路。
（2）测试输入信号：使用开关改变输入端A、B的状态，观察输出端Y的指示灯。
（3）记录实验数据：记录不同输入状态下输出端Y的指示灯状态。
3. 非门电路实验（1）连接电路：按照实验电路图连接74LS04六反相器电路。
（2）测试输入信号：使用开关改变输入端A的状态，观察输出端Y的指示灯。
（3）记录实验数据：记录不同输入状态下输出端Y的指示灯状态。
4. 异或门电路实验（1）连接电路：按照实验电路图连接74LS86四2输入异或门电路。
（2）测试输入信号：使用开关改变输入端A、B的状态，观察输出端Y的指示灯。
（3）记录实验数据：记录不同输入状态下输出端Y的指示灯状态。
四、实验结果与分析1. 与门电路实验结果表明，当所有输入端均为高电平时，输出端才为高电平；否则输出端为低电平。
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集成门电路功能测试实验报告
一、实验预习
1. 逻辑值与电压值的关系。
2. 常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法。
3. 硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法。
二、实验目的
测试集成门电路的功能
三、实验器件
集成电路板、万用表
四、实验原理
TTL与非门74LS00的逻辑符号及逻辑电路：
双列直插式集成与非门电路CT74LS00：
数字电路的测试：
常对组合数字电路进行静态和动态测试，静态测试是在输入端加固定的电平信号，测试输出壮态，验证输入输出的逻辑关系。
动态测试是在输入端加周期性信号，测试输入输出波形，测量电路的频率响应。
常对时序电路进行单拍和连续工作测试，验证其状态的转换是正确。
本实验验证集成门电路输入输出的逻辑关系，实验在由硬件电路基础实验箱和相关的测试仪器组成的物理平台上进行。
硬件电路基础实验箱广泛地应用于以集成电路为主要器件的数字电路实验中，它的主要组成部分有：
(1) 直流电源：提供固定直流电源（+5V,-5V）和可调电源(+3～15V,-3～15V)。
(2) 信号源：单脉冲源（正负两种脉冲）；连续脉冲。
(3) 逻辑电平输出电路：通过改变逻辑电平开关状态输出两个电平信号：高电平“1”和低电平“0”。
(4) 逻辑电平显示电路：电平显示电路由发光二极管及其驱动电路组成，用来指示测试点的逻辑电平。
(5) 数码显示电路：动态数码显示电路和静态数码显示电路，静态数码显示电路由七段LED数码管及其译码器组成。
(6) 元件库：元件库装有电位器、电阻、电容、二极管、按键开关等器件。
(7) 插座区与管座区：可插入集成电路，分立元件。
集成门电路功能验证方法：
选定器件型号，查阅该器件手册或该器件外部引脚排列图，根据器件的封装，连接好实验电路，以测试74LS00与非门的功能为例：
正确连接好器件工作电源：74LS00的1 4脚和7脚分别接到实验平台的5 V直流电
源的“+5 V"和“GND”端处，TTL数字集成电路的工作电压为5 V(实验允许±5％的误差)。
连接被测门电路的输入信号：74LS00有四个二输入与非门，可选择其中一个二输入与非门进行实验，将输入端A,B分别连接到实验平台的“十六位逻辑电平输出” 电路的其中两个输出端（如K1、K 2对应的输出端）。
连接被测门电路的出端：将与非门的输出端Y连接到“十六位逻辑电平显示”电路的其中一个输入端。
确定连线无误后，可以上电实验，并记录实验数据，分析结果。
通过开关改变被测与非门输入端A，B的逻辑值，对应输入端的LED指示灯亮时为1，不亮时为0。
观测输出端的逻辑值，对应输出端的指示灯LED亮红色时为1，亮绿色时为0。
不亮表示输出端不是标准的TTL电平。
K1、K 2共有4种开关位置的组合，对应被测电路的四种输入逻辑状态00，01，10，11，可以改变K1、K 2开关的位置，观察电平显示LED的亮灭情况，以真值表的形式记录被测门电路的输入和输出逻辑状态。
观测逻辑值时，用万用表测量出对应的电压值，验正TTL电路逻辑值与电压值的关系。
比较实测值与理论值，比较结果一致，说明被测门的功能是正确的，门电路完好。
如果实测值与理论值不一致，应检查集成电路的工作电压是否正常，实验连线是否正确，判断门电路是否损坏。
五、实验内容
1. 基本门电路逻辑电路测试：
测试74LS08(与门)、74LS32(或门)、74LS04(非门)、74LS00(与非门) 、74LS86(异或门)的功能。
将被测芯片插入实验区的空插座,连接好测试线路,拨动开关,改变输入信号,观测输入输出端的逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应的电压值，验正TTL 电路的逻辑功能, 记录实验数据。
74LS08 74LS32 74LS04 74LS00 74LS86
A B Y U/V Y U/V Y U/V Y U/V Y U/V
0 0 0 0.21 --- --- 1 3.55 1 3.55 0 0.77
0 1 0 0.20 --- --- 0 0.10 1 3.54 1 3.53
1 0 0 0.21 --- --- --- --- 1 3.54 1 3.22
1 1 1 3.4
2 --- --- --- --- 0 0.15 1 3.09
2. 逻辑门的转换
利用74S00与非门组成非门，2 输入与门,2 输入或门电路，画出实验电路图，并测试其逻辑功能，验证结果。
非门：
电路图：
测试结果：
A Y
0 1
1 0
与门：
电路图：
测试结果：
A B Y
0 0 0
0 1 0
1 0 0
1 1 1
或门：
电路图：
测试结果：
A B Y
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 1
3. 门电路的基本应用
测试用“异或门”和“与非门”组成的半加器逻辑功能。
根据半加器的逻辑表达式可知，半加器的输出的和数S 是输入A、B（二进制数）的“异或”，而进位数C 是A、B的相“与”，故半加器可用一个集成“异或门”和两个“与非门”组成，如图1.3.3所示。
（1）在实验箱上用“异(74LS86)和“与非”门连1.3.3所示逻辑电路。
输入端A、B接“逻辑电平”开关，输出端S、C接“电平显示”发光二极管。
通过电平开关改变输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态，列表记录。
（2）通过电平开关改变输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态，
列表记录。
六、实验心得
此次实验原理不是很复杂，但是线路比较难连，实验所用到的关键器件也不太好找。
理论知识挺容易的，但实际实行起来的确蛮纠结的，做了好多次总是有问题，后来发现电线有一根是坏掉的，做电路实验，还是需要多些经验呐。