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应将集成块上的缺口，对准插座缺口，接好线。
（2） 送数（并行输入）：接通电源，将CLR端置低电平。使寄存器
清零，观察—状态均为0。清零后将CLR端置高电平。令=1、=1，在
0000—1111之间任选几个二进制数，由输入端A、B、C、D送入，在
CLK（1KHZ）脉冲作用下，看输出端 —状态显示是否正确并填
电子科技大学成都学院 课程结题报告
课程名称： 集成电路应用设计实验报告 姓 名： 乱弹的枇杷 学 号： 1240830XXX 院 系： 电子工程系 专 业： 电气工程及其自动化
教 师： XXX
2014年6月
移位寄存器的功能测试
1、 实验器材（设备、元器件）:
1，数字、模拟实验装置（1台）； 2，数字电路实验板（1块）； 3，74LS194芯片（1片）； 4，函数信号发生器（1台）。
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②右移：
输入
输出
CP脉冲
数
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ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
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③左移：
输入
输出
CP脉冲
数
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④保持：
输入
输出
CP脉冲
数
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5、 实验总结：
移位寄存器的清零方式有两种：一种是将所有触发器的清零方式 CLR（R）连在一起，置位端PR（S）连在一起；当R=0，S=1时，所 有Q端均为0。这种方式称为异步清零，另一种方法是在串型输入端 输入“0”电平，接着CLK端送4个脉冲，则所有触发器也可清至零状 态（同步清零）。
2，测试74LS194的逻辑功能
（5） 保持：清零后送入一个4位二进制数，例如为=0101，然后
=1、=1，连续发出4个CLK脉冲，观察—状态显示并填表。
4、 实验源码和结果：
测试74LS194的逻辑功能
①送数（并行输入）：
序
输入
输出
号A
B
C
D
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21
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0
0
31
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1
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1
0
0
表。
（3） 右移：将接R，即将12管脚与2脚连接，清零。令=1、=1，送
数 、、、为0001，然后=1、=0，连续发出4个CLK脉冲，观察—状
态显示并填表。
（4） 左移：将接L，即将15管脚与7脚连接，清零。令=1、=1，送
数 =1000，然后令=0、=1，连续发出4个CLK脉冲，观察—状态显示
并填表。
双向移位寄存器74LS194为集成的四位双向移位寄存器，其外引 脚图如下所示：
CLK：时钟脉冲输入端；
L：左移串行数据输入端；
CLR：清除端（低电平有效）； R：右移串行数据输入端；
A、 B、C、D：并行数据输入端； 、、、：输出端。
（1） 将74LS194插入实验装置板面上的对应16脚空插座中，插入时
2、 实验内容及目的：
1，掌握移位寄存器的工作原理及电路组成； 2，测试集成电路74LS194四位双向移位寄存器的逻辑功能。
3、 实验步骤：
1、移位寄存器的工作原理
移位寄存器是一种由触发器链型连接组成的同步时序网络。每个 触发器的输出连到下级触发器的控制输入端，在时钟脉冲作用下， 存储在移位寄存器中的信息，逐位左移或右移。