半导体物理期末考试试卷及答案解析
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安徽大学20 09—20 10学年第 一 学期
《 半导体物理学 》考试试卷(B 卷)
(闭卷 时间120分钟)
一、选择题(每小题2分,共20分) 1.本征半导体是指( )的半导体。 A. 不含杂质和缺陷 B. 电子浓度和空穴浓度相等 C. 电阻率高
D. 电子浓度与本征载流子浓度相等
2.关于Si 的能带特征,以下描述错误的是( )。 A. 导带底位于六个等效的<100>方向B. 价带顶位于布里渊区中心C. Si 是直接带隙半导体
D. 导带底附件的等能面是旋转椭球面
3.导带底附件的状态密度为()c g E ,电子占据能级E 的几率为()B f E ,则导带电子浓度为( )。
A. ()()c B g E f E
B. ()()c B g E f E dE
C.
()c
Ec c E g E dE ′
∫
D.
()()c
Ec c B E g E f E dE
′
∫
4.简并半导体是指( )的半导体。 A. (E c -E F )或(E F -E v )≤0 B. (E c -E F )或(E F -E v )≥0
C. 能使用玻尔兹曼近似计算载流子浓度
D. 导带底和价带顶能容纳多个状态相同的电子
5.对于n 型非简并半导体,
在饱和区,电阻率随温度上升而增加,可能的原因是( )。 A. 电离杂质的散射增强 B. 晶格振动散射增强
题 号一
二
三
四
五
六
七
总分
得 分阅卷人
院/系 年级 专业 姓名 学号
答 题 勿 超 装 订 线 ------------------------------装---------------------------------------------订----------------------------------------线----------------------------------------
得分
C. 载流子浓度减少
D. 杂质没有完全电离
6.对于小注入的n 型半导体,电子和空穴的准费米能级分别为n F
E 和p
F E 。平衡态时的费米能级F E 。下述内容正确的是( )。
A.n p F
F F E E E == B.n p F F F F E E E E −<− C.p n F F F F E E E E −<− D. p n
F F E E >7.有效陷阱的能级必靠近( )。 A. 禁带中部
B. 导带
C. 价带
D. 费米能级
8.实际p-n 结的反向电流大于理想p-n 结的反向电流,其原因是( )。 A. 势垒区中的复合电流 B. 势垒区中的产生电流 C. 反向击穿
D. 大注入效应
9.金属和p 型半导体接触时,如果s m W W <,则半导体表面形成( )。 A. n 型阻挡层 B. p 型阻挡层 C. n 型反阻挡层 D. p 型反阻挡层 10.在p 型半导体构成的理想MIS 结构中,当金属端所加电压V G 大于开启电压V T 时,半导体表面空间电荷的特征是( )。
A. 正电荷,多子堆积
B. 负电荷,少子堆积
C. 负电荷,多子耗尽
D. 负电荷,反型
二、填空题(每空2分,共28分)
1、同时含有一种施主和一种受主杂质的均匀半导体,电中性条件为。
2、设D N 和A N 分别为硅中施主与受主杂质,且A D N N >,如杂质全部电离,则该材料表现为 型半导体;若不考虑本征激发,载流子浓度等于 。对载流子起散射作用的杂质浓度N i =
。
3、若非平衡载流子浓度和寿命分别为p ∆和τ,则单位时间内非平衡载流子的复合几率为 ,单位时间单位体积内净复合消失的非平衡载流子即复合率为 。
4、复合中心浓度为N t ,复合中心的电子浓度为n t ,复合中心对电子和空穴的俘获系数为r n 和r p ,导带电子和价带空穴浓度为n 、p 。则复合中心对电子的俘获率为,
对空穴的俘获率为
。
5、表面复合率是指:
。
得分
6、空穴的扩散流密度()
p p
d p x S D dx
∆=−,则空穴的扩散电流()p J 扩=。电子的扩散流密度()
n n d n x S D dx
∆=−⋅,则电子的扩散电流()n J 扩=
。
7、隧道结是指 。
8、平衡情况的p-n 结,内建电场的方向由n 区指向p 区,n 区的电势高于p 区的电势,内建电势差为D V ,则从n 区到p 区的电子要越过的势垒高度为。当外加
正向偏压V(>0)时,势垒高度变为
。
三、判断题(在括号内,正确的划√,错误的划×。每小题1分, 共10分)
1.宽带中电子的有效质量比窄带中的小。( )
2.热平衡情况下,半导体中电子和空穴系统有统一的费米能级。( )
3.温度越高,晶格振动对载流子的散射越强。( )
4.电子和空穴的准费米能级相差越大,说明半导体越偏离平衡状态。( )
5.俄歇复合时释放能量的方式是发射光子。( )
6.有效复合中心的存在延长了非平衡载流子的寿命。( )
7.理想p-n 结的电流是少数载流子漂移产生的电流。( )
8.考虑势垒区的产生电流后,p-n 结实际反向电流比理想反向电流要大。( )9.对于金属半导体接触,考虑镜像和隧道效应时,势垒的高度减小。( )10.p 型半导体构成的MIS 结构,反型时表面势小于零。 ( )
四、简答题(每小题6分,共30分) 1、画出只含施主杂质的n 型硅中电子浓度与温度之间的变化关系曲线(2分)。标出低温弱电离区、饱和区和高温本征激发区(2分)。写出各个区间的电中性条件(2分)。
得分
得分