三维光栅位移测量系统的软件设计与实现

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光栅信号的一种软件处理方法

为两路路差分信号，经调理电路进行整形、放大和电平移位后，送人ＡＤＣ进行ＡＤ转换生成数字量，再
由核心部件单片机进行处理。光栅前置放大部分采用运放ＴＬ０８４、ＪＦＥＴ输入，匹配电阻为１０Ｋ，即可
来自光栅的莫尔条纹信号经检测电路检测输出
基金项目：河ｊＥ省教育厅青年基金项目（２０１０２１０）
收稿日期：２０１３ —０７—０６
１０Ｂｉｔ分辨率，则最小可以分辨的电压为５ｍＶ。内置时钟电路、复位电路以及看门狗电路都经过特殊处理，具有超强的抗干扰能力，性价比极高。信号处理的脉冲个数可以直接计数得到。单片机通过驱动
第２３卷第５期
２０１３年１０月
北华航天工业学院学报
ＪｏｕｒｎａｌｏｆＮｏｒｔｈＣｈｉｎａＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＡｅｒｏｓｐａｃｅＥ
Ｖ０１．２３ＮＯ．５０ｅｔ．２０１３
由光栅产生的７Ａ．１４／￣Ａ级别的信号得到７０ｍＶ．１４０ｍＶ的电压信号，再进行１５倍的放大，可得到幅
度１．０５Ｖ．２．１Ｖ的正弦信号。因为单片机只能接收
正电压信号，所以用运放在前级进行电平移位，向上
０引言
在现代工业应用中，检测系统的精度和速度将直接影响系统运行的质量和生产效率。数控机床的核心问题就是如何控制位置精度，而反映位置精确程度的方法是数控系统依靠指令与位置检测系统的反馈信号进行比较来控制的，目前在全闭环数控机床中采用光栅作为测量传感器ｎ］。实际生产应用中，位移检测精度一般要求较高，通常分辨率是栅距的ｎ分之一，要求必须对光栅信号进行细分处理。莫尔条纹细分是光栅精密位移测量的关键技术。硬件电路实现的细分为传统方法＿２］，但随着细分倍数的提高，所需元器件数量大幅度增加，工艺也会越来越复杂。随着计算机技术的不断发展，软件细分应用更为广泛［３］，该方法在尽可能小的误差范围内精确地实现对莫尔条纹的高倍数字化细分，

基于ATmega16的数字光栅位移测量系统

ＺＵＹｎ ’ Ｑｈ－ｉＤＮｉ－ｎＨＯａｇ，Ｉｕｙ，ＩＧＪｊＳｎｕ
（．ｈ２３ｒｏｓｆＰＡ，ｉｄｏ２６０，ｈｎ；．ｆｈｒＯｌｎｎｅｎ．ｔ，ｉｎｉ３０５，ｈａ１Ｔｅ９０８ｔｐＬＱｎａ６１０Ｃｉ２ＯｓｏｅｉＥｇｅｒｇＣ，ｄＴａｊ０４１Ｃｉ；ｏｏｇａｆｉｉＯＬｎｎ３ＣｌｇＩｏｍｔｎＳｉｃｎｎｉｅｒｇＯｅｎＵｉｒｔＣｉ，ｉｇａ６１０ｈｎ）．ｏｌｅｏｎｒａｉｃｎｅａｄＥｇｅｉ，ｃａｎｖｓｙｏｈｎＱｎｄｏ２６０，Ｃｉａｅｆｆｏｅｎｎｅｉｆａ
关键词：ｔｇｌ；字光栅尺；触发器；测量系统Ａｍｅａ６数Ｄ
中图分类号：Ｐ１Ｔ３１
文献标识码：Ａ
文章编号：１７ — ２６２１）２０８ — ３６４６３（０１２ — １４０
Ｄｉｐａｅｎａｕｉｇｓｓｅｆｒｄｇｔｌｒｔｇｒｌｒｂｓｄｏｍｅａ６ｓｌｃｍｅｔｍｅｓｒｎｙｔｍ０ｉｉａｉｕｅａｅｎＡｔｇ１ａｇｎ
莫尔条纹的运动，后经光电转换成脉冲信号输出，样，然这我
们只要记录脉冲信号的数目．以及位移停止时的最后一个状
态，可以计算出位移量的大小，到了１ｍ的分辨率。就达
Ａｍｅａ６是ＡＭＬ公司的生产的性价比比较高的单Ｔｇ１ＴＥ片机。ＴｇｌＡｍｅａ６有如下特点：节的系统内可编程Ｆａｈ１ｋ字６ｌｓ（有同时读写的能力，Ｒ具即ＷＷ）５２字节ＥＰＯｌｋ字，１ＥＲＭ。节ＳＡ３ＲＭ，２个通用Ｉ口线，２个通用工作寄存器．于边，Ｏ３用

万工显光栅数显微机测量系统软件设计

Ｖｏ．１２７．．１Ｎｏ
文章编号：００— ２２２０）１０４０１０７０（０７Ｏ — ０８— ４
中图分类号：Ｐ１Ｔ３１
文献标识码：Ａ
万工显光栅数显微机测量系统软件设计
沈景鹏黄健赵少美蒋宏彬
关键词万能工具显微镜光栅
软件设计
ＴｈｅＳｆｗａｅＤｅｉｎｆｒＴｈａｉｇＮｕｅｉａｎｄｃｔｏｏｔｒｓｇｏｅＧｒｔｎｍｒｃｌＩｉａｉｎ
ａｄＣｏｐｔｒＭｅｓｅｅｙｔｍｆｎｍｕｅａｕｒｍｎｔＳｓｅｏＵｎｖｒａｅｓｒｎｇＭｉｒｓｏｅｉｅｓｌＭａｕｉｃｏｃｐ
１引言
万工显是万能工具显微镜的简称。１７９６年我
结果的不确定度并提高了测量效率。当前光栅数显
和微机测量技术应用于万工显改造的方法已经比较
成熟，是我们设计的测量软件，但尤其是评价测量元素软件的设计方法和思路有独特的见解。
Ｖ６０是一种直观易学的编程语言，而它不能直Ｂ．然
光栅传感器装置、数显箱、口电路和采集控制器；接
后端为微机和数据采集、理和管理软件。系统的处组成原理框图如图１所示。
Ｙ坐标方向
接对计算机底层资源进行访问。为解决这个问题，我们采用ＶＣ＋＋６０的相关函数来访问计算机的．底层资源，制数据采集函数并生成动态链接库，编然

光栅相移精密控制系统的设计与应用

ＡｓａｔＰｏｅｔｒｔｇｉｏｅｏｅｈｔｅｈｄｆｈｅ —ｉｎｉａｐｏｌｍａｕｅｅｔｔｓｒｒｙｂｔｃ：ｒｃｄｇａｎｎｆｈｏｍｔｏｓｒｅｄｍｅｓｎｌｒｆｅｅｓｒｍｎｓｉｉｒｊｅｉｓｔｏｔｏｉ．Ｉｉｐｍａｌｕｅａｕｅｔｅｔｒｅｄｍｅｓｎｌｈｐｆｂｅｔｕａｅａｄｔｅｄｓｌｃｍｎｆｌｆｅｒａｉｓｗｙｆｍｓｄｔｍｅｓｒｈｅ —ｉｎｉａｓａｅｏｊｃｓｒｃｎｉａｅｅｔｅｏｆｍｔｎａｏｏｈｏｏｆｈｐｄｄｏｉｏａｒｏｊｃｓｒｃｓｅｈｄｉｐｏｏｅｏａｈｅｅｐｅｉｏｏｔｌｏｒｔｇｐａｅｓｉｉｇａｄｔｅｐｏｅｓｔａｂｅｔｕａｅ．Ａｍｔｏｒｐｓｄｔｃｉｒｃｉｃｎｒｆａｉｈｓ— ｆｎｎｈｒｃｓｏ — ｆｓｖｓｎｏｇｎｈｔｃｉｖｏｔｌｆｈｈｌｓｓｍｆｒｄｔｉｓｅｂｒｔ，ａｅｎｔｅｔｅｒｆｒｊｃｄｇａｎｈｅ —ｉｅ－ｈｅｅｃｎｒｅｗｏｅｙｔｅｌｉｌｏａｄｂｓｄｏｈｈｏｙｏｏｔｒｔｇｔｒｅｄｍｎｏｏｔｅｏａｓａｅｐｅｅｉｓｎｌｅｓｒｍｎｓｈｓｅｈｄｉｐｏｅｆｃｖｌｂｅｄｍｎｉｆｈｓａｏｊｃ．Ｗｈｎｔｅｒｓｌｉｉａｍａｕｅｅｔｏ．Ｔｉｍｔｏｒｖｄｅｅｔｅｙｙｔｉｅｓｎｏｐｙｉｌｂｅｔｓｆｉｈｏａｃｅｅｕｔｓｈ
１光栅相移精密控制原理与方案

三维光栅位移测量系统的硬件设计与实现

… ＪＪ ‘
ห้องสมุดไป่ตู้
ｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｍｅａＳＵｒｅｍｅｎｔｓｙｓｔｅｍ
ＬＩＳｈｅｎ — ｄｅ，ＺＨＡＮＧＸｉａｎｇ．１．ｉ，ＴＡＯ．Ｈａｎ。ＷＥＩＬｉ．ｋａｉ。
，
（１．ＳｃｈｏｏｌｏｆＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎａｎｄＣｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ，ＧｎｉｌｉｎＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙｏｆＥｌｅｃｔｒｏｉｃｎＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，Ｇｉｌｎｉｎ５４１００４，Ｃｈｉｎａ；
ｒｅａｌ — ｔｉｍｅ，ａｎｄｉｍｐｒｏｖｅｔｈｅｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇｐｒｅｃｉｓｉｏｎｏｆｗｏｒｋｐｉｅｃｅ，ａ３Ｄｇｒａｔｉｎｇｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓｙｓｔｅｍｗｉｔｈｈｉｇｈ－ｐｒｅｃｉｓｉｏｎｂａｓｅｄｏｎｇｒａｔｉｎｇｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｓｅｎｓｏｒｉｓｒｅｓｅａｒｃｈｅｄｎｄａｄｅｓｉｇｎｅｄ．Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｐｉｒｎｃｉｐｌｅｏｆｒａｇｔｉｎｇｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｓｅｎｓｏｒｉｓａｎａｌｙｚｅｄ．Ｈａｒｄｗａｒｅｄｅｓｉｇｎｏｆｔｈｉｓｓｙｓｔｅｍｉｓｉｎｔｒｏｄｕｃｅｄ．Ｓｕｂｄｉｖｉｓｉｏｎａｎｄｄｉｒｅｃｔｉｏｎｄｉｓｃｉｒｍｉｎａｔｉｏｎｅｕｉｃｕｉｔｏｆｇｒａｔｉｎｇｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｓｉｇｎａｌ，ｍａｉｎｃｏｎｔｒｏｌｃｉｒｃｕｉｔ，ｄｉｓｐｌａｙｃｉｒｃｕｉｔａｎｄｃｏｎｔｒｏｌｃｉｒｃｕｉｔａｒｅｄｅｓｉｇｎｅｄ．Ｃｉｒｃｕｉｔｓａｍｐｌｅｂｏａｒｄｏｆｔｈｅｓｙｓｔｅｍｉｓｍａｄｅ．Ｅｘｐｅｉｍｅｒｎｔａｌｓｙｓｔｅｍｉｓｂｕｌｉｔａｎｄｅｘｐｅｉｒｍｅｎｔｓａｒｅｃｏｎｄｕｃｔｅｄ．Ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔａｌｒｅｓｕｌｔｓｓｈｏｗｔｈａｔｔｈｅｈａｒｄｗａｒｅｃｉｒｃｕｉｔｗｏｒｋｓｐｒｏｐｅｒｌｙ，ｔｈｅｓｙｓｔｅｍｏｐｅｒａｔｅｓｓｔａｂｌｙａｎｄｍｅａｓｕｒｅｓａｃｃｕｒａｔｅｌｙ，ａｎｄｃａｎｍｅｅｔｐｒｏｄｕｃｔｉｏｎｄｅｍａｎｄｏｆｈｉｇｈ — ｐｒｅｃｉｓｉｏｎｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｆｏｒｍａｃｈｉｎｅｔｏｏ１．Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：ｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｓｅｎｓｏｒ；３Ｄｒａｇｔｉｎｇ；ｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓｙｓｔｅｍ；ｈａｒｄｗａｒｅｄｅｓｉｇｎ

基于CMOS图像光栅传感器的位移测量系统的实现

ｐｏｏｅｌｔｅｅｔＭｏｒｒｇｎｕｄｉｉｅｓｇａ．Ｔｈｓｐｐｅｎｒｄｃｄｔｅｄｓｇｆｃｒｕｔａｄｔｅｈｒｗａｅａｄｓｆｒｅｏｉｇｅ— ｉｈｔｃｌｏｄｔｃｉ６ｆｉｅａｄｓｂｖｄｉｎ１ｎｊａｒｉｔｏｕｅｈｅｉｎｏｉｃｉｎｈａｄｒｎｏｔｗａｆＳｎｌＣｈｐ
２１００年
第５期
ＳＩＮＥ＆ＴＣＮＬＧＹＩＦＲＣＥＣＥＨＯＯＯＭＡＴＯＮＩＮ
Ｏ机械与电子Ｏ
科技信｜Ｉ
基于ＣＭｏＳ位移测
杨军平吴欣慧秦长海
器的
安阳４５０）５００
ｆ阳工学院电子信息与电气工程系河南安
【关键词】ＣＭＯＳ图像传感器；光栅传感器；测量
ＴｅＤｅｉｎｏｓｃｍｅｔＭｅｓｒｍｅｔｙｔｍｓｄｏＭ０ＳＩｇｅｓｒａｉｇＳｎｏｓｈｓｆ＃ａｅｎａｕｅｎｓｅＢａｅｎＣｇＤｉＳｍａｅＳｎｏｓｉＧｒｔｅｓｒｎｎＹＮＧＪｎｐｎｗｕＸｉ－ｕＱＩＣｈｎ－ｍＡｕ－ｉｇｎｈｉＮａｇｈ
ｓｎｏｓｅｓｒ．Ｔｈｏｔｉｓｏｉｐａｅｎｒｏｖ￣ｅｏｅｅｔｃｓｇａｙｇａｉｇｓｎｏｓｔｒｕｈｐｏｏ— ｌｃｒｏｖｒｉｎｅＧｅｍｅｒｅｆｄｓｌｃｍｅｔａｅｃｎｅｄｔｌｃｒｉｎｌｂｔｎｅｓｒｈｏｇｈｔｅｅｔｃｎｅｏ．锄ｌｓｓｇａｓｓｎｏｉｒｏｓｉｉｌｉｅｔｅｅｔｆｄｓｌｃｍｎｓｎｃｓｒｉｃｅｔｃｒｓａｃｎｎｕｔＡｒｓｎ，ｈｉａｓｂｒｔｇＡｓｒｃ］ｈｒｃｓｎｍｅｓｒｍｎｉａｅｅｔｉｅｅｓｙｎｓｉｉｅｅｒｈａｄｉｄｓｉｏｐａｎｆｉ￣．ｔｐｅｅｔｔｅｍａｗｙｉｙｇａｉｎｎ

基于数字光栅投影的结构光三维测量技术与系统研究

基于数字光栅投影的结构光三维测量技术与系统研究一、本文概述随着计算机视觉和光电技术的快速发展，三维测量技术在许多领域，如工业制造、生物医学、文化遗产保护以及虚拟现实等，都展现出了巨大的应用潜力。

其中，基于数字光栅投影的结构光三维测量技术以其高精度、高效率、非接触性等优点，成为了研究的热点。

本文旨在深入探讨这种技术的原理、系统构成以及在实际应用中的优势和挑战，以期为相关领域的科研和工程实践提供理论支持和实践指导。

本文将详细介绍基于数字光栅投影的结构光三维测量技术的基本原理，包括数字光栅投影的原理、结构光的生成与编码、以及相机与投影仪的标定等。

文章将构建一个完整的结构光三维测量系统，包括硬件选择和配置、软件系统设计和实现等，并对系统的性能进行评估。

本文还将探讨该技术在不同应用场景下的适用性和限制，如动态物体的测量、复杂表面的处理等。

本文将总结基于数字光栅投影的结构光三维测量技术的发展趋势和前景，分析当前存在的技术瓶颈和挑战，并提出相应的解决方案。

通过本文的研究，期望能为结构光三维测量技术的进一步发展和应用提供有益的参考和启示。

二、结构光三维测量技术基础结构光三维测量技术是一种非接触式的三维重建方法，它利用结构光编码和解码的原理，通过对物体表面投射特定的光栅条纹，结合摄像机获取的图像信息，实现物体表面的三维形态重建。

结构光三维测量技术以其高精度、高效率、易操作等优点，在机器视觉、逆向工程、质量检测等领域得到了广泛的应用。

结构光三维测量技术的基本原理是将特定的光栅条纹投影到物体表面，这些条纹在物体表面形成特定的变形。

摄像机捕捉到变形后的条纹图像后，通过解码算法提取出条纹的变形信息，进而恢复出物体表面的三维形态。

其中，光栅条纹的生成和投影是结构光三维测量的关键步骤，常见的光栅条纹有正弦条纹、二值条纹等。

在结构光三维测量系统中，摄像机和投影仪是两个核心组件。

摄像机负责捕捉投影到物体表面的条纹图像，而投影仪则负责生成并投影光栅条纹。

一种计算机精密测量显示控制系统的设计及实现

制系统芯片采用ＤＰ８２微处理器作为芯片。作台在控制器Ｓ２１工
式来处理和解决各类通信软件的开发设计，并提供了使用Ｒ一Ｓ
２２来进行数据通信的所有协议Ｖ为该控件提供了标准的事３Ｂ
卫菊红（山西省环境信息中心，山西太原００２）３０４
摘要
利用微动平台，次开发控制软件，行精密控制。为了克服回程误差，择精度更高的光栅尺进行测量，个测量系二进选整统组成伺服反馈系统，量软件上进行闭环，键设定到位，度能达到０２测一精＿ｍ，适合于各种单自由度或多自由度小载荷精
ｓｒｏｅｅｅｖｆｄｂａｋｙｔ．ｃｓｓｅｍＭｅａｕｅｅｔｏｔｒｏｎｈｃｏｓｄ—ｌｏｐ。ｋｙห้องสมุดไป่ตู้ｅｉｐａ，ｄｃｒｃｃａｒａＯ＿ｍ．ｈｅｓｒｍｎｓｆｗａｅｔｅｌｅｏａｅｓｔｎｌｃｅａｎａｃｕａｙｎｅｃｈ２Ｔ
ｄｗｓ下串行通信编程的一个ＡｔｅｏｃｉＸｖ
１精微动平龠，２光栅』－－，３测量卡，４平台控制器，５ＣＵ一一－Ｐ
控件，其核心内容是组件对象模型
图１系统结构
ＣＯＭ（ｏｏｅｔＯｂｅｔＭｏｅ）它Ｃｍｐｎｎｊｃｄ１，

基于光栅投射的光学三维测量仪的研制

量系统，绍系统的测量原理、介硬件结构和软件系统，最后给出该系统的一些测量结果。
关键词
光学三维测量
光栅投影点云图反求工程
物体的三维轮廓载有物体的全部形状信息，对物体三维轮廓的测量能够使人们更为全面地把握物体的形状，从而更深刻地认识物体。伴随经济的发展和科技的进步，各行各业尤其是机械、汽车、航空航天等制造工业及服装、玩具、制鞋等民用工业对物体的三
光栅投影系统是测量系统的关键设备之一，采
北京交通大学人才基金项目（０４Ｃ４）２０Ｒ．３０，
为便于调节待测物体和测量系统之间的距离，测量系统附带一维电移台，上面搭载工作台，该电移
３９
维普资讯
琨代仪■ （＼，．ｄｒｉｔ．ｒ．ａ、ｆ＼ｍｏｅｎｎｒｏｇｃ）『＼『ｆ、、『ｓｓ
维轮廓测量提出高速度、高精度、大数据量、自动等全
较高要求。基于光栅投射的光学三维轮廓测量技术由于其非接触性、高精度与高分辨率，ＣＤＣＥ在Ａ／Ａ、反求工程、在线检测与质量保证、多媒体技术、医疗诊断、视觉等领域得到日益广泛的应用。机器
投影系统、图像获取系统和信息处理系统组成，基本结构（见图１。投影系统采用ＬＤ数字投影仪，）Ｃ负
ＬＤ投影仪。该款投影仪可以通过Ｒ２２串口ＣＳ一３与计算机连接，便于编程控制。２２采集系统．
为获得高精度的测量数据，采集系统的硬件采用ＭＶ２０Ｃ００彩色ＣＳ摄像头，ＭＯ该数字摄像机遵循ＵＢ．准（８Ｍｉ／ｅ）不需要图像采集卡，Ｓ２０标４０ｂｔｓｃ，ｓ其主要技术指标参数：ＭＯＣＳ尺寸：／ｉｃ，元尺１２ｎｈ像

Labview位移测量系统软件设计

Labview位移测量系统软件设计摘要：随着我国互联网计算机软件技术的不断提高，虚拟仪器已广泛应用于自动化测控领域，创造了许多实用价值。

测试软件的主要功能是实现计算机与测试仪器之间的相互通信，并完成各种数据信息的传输和处理。

基于LabVIEW的测绘软件的设计可以充分发挥各种资源工具的作用，帮助开发人员和设计人员优化和解决各种实际问题，从而全面提高测试软件设计工作的质量和效率，并节省更多的钱。

本文将进一步分析和讨论LabVIEW下的测试软件设计，旨在为同行业提供科学参考。

关键字：LabVIEW;测试软件；设计0前言近年来，LabVIEW凭借其独特的“数据流”框图编程模式已广泛用于测试和测量领域。

目前，利用LabVIEW平台开发更复杂的实时多任务测试系统已成为一种新趋势。

本文基于Labview软件平台，以MSP430作为控制器，并采用光栅位移测量技术，提出了一种可提高工作效率和测量精度的全自动位移测量系统的设计。

1系统总体设计系统的主机软件开发平台为Labview，控制器为MSP430单片机，系统设计是通过结合光栅尺，伺服系统，寻边器等硬件实现的。

X轴驱动器用于驱动X轴电机，该电机驱动读取头沿X轴移动；Y轴驱动器用于驱动Y轴电机，该Y轴电机带动光电感应寻边器沿Y轴方向移动。

光栅尺输出的正交脉冲信号经过精细分辨率的相位电路处理后，有两个信号输出。

控制器通过处理高分辨率相电路的输出信号，获得X轴的运动方向和实际位移。

系统通过串行通讯实现上位机与控制器之间的数据交互。

系统选择光栅尺为2μm的光栅尺作为位移传感器，以实现±10μm的测量精度。

光栅尺输出的AB相正交编码信号通过精细分辨率的相位电路，以提高位移测量精度。

基于Labview软件平台开发的上位机软件实现了简单易用的人机交互。

上位机通过串口与控制器进行数据交互，包括发送控制系统运行命令和接收反馈测量数据。

主机与Access数据库Connect进行通信，以实现与测量数据管理相关的操作。

一种光栅面扫描三维测量机硬件系统的设计与开发

ｓｌｓｔｆｕｓｏｓｗｅｅｕｅｐｏｃｉｇｃｍｒｅｇｎｅｎｎｒｖｓｔｅｍａｕｅｐｅｉｏｖｌｅｔｎｈｎｗｓｓｒｊｔａｅａｎｅｄｒｇａｄｉｏｅｈｅｓｒｒ — ｅａｏｏｑｉｅｎｉｍｐｃ
该机构硬件主要由一块运动控制卡、个步进电一
动平台、透射组合光栅片、一套一块耐热光学玻璃、一
个聚光镜头、一个普通白炽光源以及一个散热风扇组
成。系统硬件组成如图１所示。
步
光源发出的普通白炽光首先经耐热光学玻璃投射
ｐｒｍｅｒａｅｄｓｎｄｆｃｕｉｏｅｉｅｈｒｏｅｎｔａｆｐｏｃｎａｅａｈｅｈｄａａｔｓｒｅｉｅｏａｑｉｔｎｄｖ．Ｔｅｅｒ，ｉｅｄｏｒｊｔｇｃｍｒ，ｔｉｍｔｏｅｇｒｓｉｃｆｓｅｉｓ
调制条纹图像后将视频信号输入到图像采集卡。图像采集卡对输入的视频信号进行ＡＤ转换后将数字信／号送人计算机。计算机运行图像处理软件，图像进对
行处理。在此过程中，需要格外注意图像采集与光栅
（）源１光
图１系统硬件组成示意图
１２主要元器件的选择与制作．
维普资讯
簟一与监控Ｔ＆０ｒｅＭｉｓｎｔｌ０
一
种光栅面扫描三维测量机硬件系统的设计与开发
何万涛牛曙光程俊廷赵灿

基于atmega128的光栅尺测量系统

Ｊ
ｖｉｉｒｏｄｔｍｅ３
一
ｉｉｖｉ＃Ｅｎｔｏｄ（）ＲＶ脉冲初始化
｛
ＴＴ＝ｘ０ＣＮ３００；／寄存器清零／ＴＣ３＝ｘ７／时钟源为外部引脚，升沿驱动ＣＲＢＯ０：／上
）
在用到位移的地方，要进行相减处理，获得实际的光栅需以
表１
Ａ３２１ＡＯ－．．ＹＦＤＷ
１ＡＯ０：Ｂ２Ａ１Ｏ：Ｂ
３：Ｂ１Ａ１
０Ｏ００００１０１０１０
１０１１１１１１
０２１Ｏ
１１１５
数。图１系统结构图
图２脉冲处理原理图
电子世界—・０．２１００７１ — ８
・
工程师笔记・
图３脉冲处理逻辑图
单片机可以通过ＵＢ总线ＨＴＳＯＳ＆ＤＥＣ接口芯片（ＤＢｔＬｃｔ）ＶＩＥＣＭｙｅｏａｅ４：／以字节为单位移动文件指针／Ｃ３５读写Ｕ盘中的数据，Ｈ７Ｕ盘文件读写模块用于向嵌入式系ｍＳｏＩｒ《：ｔＤｆｏｒ）Ｅｒｉ统／单片机系统提供读写Ｕ盘中文件数据的接口，基本不需要占）用单片机系统的存储空间，少只需要几个字节的Ｒ最ＡＭ和几百ｓｒｐ（ｍｄａａＢｔＷｒｅｍＢｔＢｆｒ“ 据到此结ｔｙｍＣＰｒｍ．ｙｅｉｙｅｕｆ数ｃｔｅ字节的代码。模块基于ＣＨ７该３５的优盘文件级子程序库设计，外束ｂｄｘ ”：＜￣ａ）ｌ＝ｔｌｎｍＣｍｄＰｒｍ．ｔＷｒｅｍＢｙｅＢｆｅ）ｅｎｓｒ（ｅａａＢｙｅｉ．ｔｔｕｒ；／／围电路精简，能价格比很高。性计算字符串长度优盘存储ｍＣｍｄＰｒｍ．ｔＷｒｅｍＢｔＣＯｎ＝ＩｎａａＢｙｅｉ．Ｖｅｕｔｅ：ｔ对于优盘的读写，果直接采用ＵＢ驱动芯片，如Ｓ虽然直接调＝ＥｅＣｏｎ（ —ＢｔＷｉ，＋１：ｔｅ／／用文件级子程序库读写优盘文件的效率更高，本更低，是该ｉｘｃｍｍａｄＣＭＤｙｅｒｅｌｎ）成但子程序库需要占用单片机系统的资源，大约５Ｂ程序空间和以字节为单位向文件写入ＫｍＳｏｌＥｒｔｐｆｒｏ６０字节ＲＭ数据存储器，法应用于某些资源有限的单片机０Ａ无ｍＣＰｒｍ．ｌｓｐａｅｅ＝：ｍｄａａＣｏｅｍＵｄｔＬｎ１／计算文件长度／系统，这里介绍一种新颖的实现方法，就是基于芯片ＣＨ７３５的ＵＢＵＡＲＳ — ＳＴ模块。通过ＭＣ的ＵＡＴ口与ＣＨ７ＵＳＲ３５进行通ＥｅＣｍｍａｄＣｘｃｏｎ（ＭＤＦｌＣｏｅ１： — ｉＩ，）ｅｓ／关闭文件，以／当讯，而达到读写优盘的目的。基本不需要占用单片机系统的存从字节为单位向文件储空间，少只需要几个字节的ＲＭ和几百字节的代码。最ＡｍＳｏｆｒ０ｔｐｌｒＥ／写入（加）／追数据后，须在必以对优盘进行写操作为例，要如下几个步骤：．始化接需１初口，设置参数；．待优盘连接；开或新建文件；．针指向文用完文件后关闭文件２等３打４指ｗｈｌ（）ｉ１ｅ ∥等待优盘断开件末尾：．加数据；闭文件：．待优盘拔出。５添６关７等｛ ∥使用查询方式看优盘是程序如下：否断开ｗｈｌ（）／使用查询方式看优盘是否连接ｉ１ｅ／ｉｘｃｍｍａｄＣＭＤＱｕｒＳａｕ，）＝ＥｅＣｏｎ（ｅｙｔｔｓＯ：／询当前／查（模块的状态＿ＥｅＣｍｍａｄＣＤＱｕｒＳａｕ，）／查询当前模块＿ｘｃｏｎ（Ｍ — ｅｙｔｔｓＯ：／

基于ARM处理器的光栅测量系统设计

其测量精度（分辨率）已覆盖至微米级。随着光学、机械精加工技术的不断提高，光栅检测精度还有可能进一步提高。近年来，电子技术特别是计算机技术迅猛发展，光栅位置检测与
计算机信号处理技术逐步结合成一体，能有了质的飞跃。其性过去在位置测量中广泛采用单片机，８５如０１系列８位
为基础，软硬件可裁减适用的应用系统，对功能、靠且是可
性、成本、体积、功耗有严格要求的专用计算机系统。目前，入式技术具有非常广阔的应用前景，应用领嵌其域包括了工业控制、交通管理、息家电、信家庭智能管理系
本系统硬件结构，点设计了细分电路、数电路、重计电平转换电路及其与Ｆ２１发板的连接。Ｓ４０开
为了提高系统的分辨率，采用了四倍频专用集成电路Ｓ７０１。Ｓ７０１Ｊ４２０Ｊ４２０可以实现由两路光栅方波信号到正、负计数脉冲的转换，并根据００与９０之间的相位关系进行辨０
第ｌ第４期０卷
２１００年１２月
南京工业职业技术学院学报
ＪｕａｏａｊｇＩｓｔｔｏＩｄｓｙＴｃｎｌｙｏｒｌｆｎｉｔｕｅｆｎｕｔｅｈｏｇｎＮｎｎｉｒｏ
Ｖ０＿０．ｌ１Ｎｏ．４
机、０８系列１８９６位机。虽然这些技术目前仍在应用，在一定程度上也能满足要求，但在处理速度、可靠性和抗干扰能力、

由于光栅传感器测量精度高

由于光栅传感器测量精度高、动态测量范围广、可进行无接触测量、易实现系统的自动化和数字化，因而在机械工业中得到了广泛的应用。

特别是在量具、数控机床的闭环反馈控制、工作母机的坐标测量等方面，光栅传感器起着重要作用。

目前，USB端口已成为微机主板的标准端口，利用USB总线技术，开发适用于科学研究和工业生产的各种仪器仪表设备，借以取代传统计算机测控系统中采用的串行RS232、并行接口以及ISA或PCI总线的仪器仪表设备，不仅可使计算机测控系统更加高效实时、方便灵活，而且可满足高质量、高可靠性、低成本计算机测控系统的要求。

本文以光栅位移传感器检测系统的设计背景，详细介绍了系统的硬件、软件设计方法。

光栅位移传感器的基本原理和特点光栅位移传感器的基本构成是一对光栅，其中一块是固定的，而另一块是运动的。

当它们发生相对运动并有光通过两者时，能够获得相当于干涉仪中得到的条纹信号，即所谓的莫尔条纹信号。

与普通位移传感器相比，它有以下几个特点。

● 精度高。

光栅位移传感器在大量程测量长度或直线位移方面仅仅低于激光干涉传感器。

在圆分度和角位移测量方面，光栅式传感器也属于精度最高的。

大量程测量兼有高分辨率。

感应同步器和磁栅式传感器也具有大量程测量的特点，但分辨力和精度都不如光栅位移传感器。

可实现动态测量，易于实现测量及数据处理的自动化。

具有较强的抗干扰能力，对环境条件的要求不像激光干涉传感器那样严格，但不如感应同步器和磁栅式传感器的适应性强，油污和灰尘会影响它的可靠性。

主要适用于在实验室和环境较好的车间使用。

系统硬件设计1 系统原理简介光栅位移传感器是进行高精度位移测量的光电转换器，它将位移微变量转换为多路正弦光栅信号。

硬件电路要求首先对正弦光栅信号合成，消除测量中的共模干扰信号，然后一路进入单片机进行A/D转换；另一路通过比较器转换成数字信号后由D触发器和与门电路完成光栅位移的辨向，而后进入单片机进行正向和反向计数；其次单片机将这些数据通过USB插口送入计算机，最后由计算机进行数据细分和处理，从而得到光栅位移长度。

基于Labview的位移测量系统设计

电子设计工程Electronic Design Engineering第29卷Vol.29第7期No.72021年4月Apr.2021收稿日期：2020-04-22稿件编号：202004181基金项目：院级自然科学类科研项目（ZK19-16）作者简介：罗瑜（1992—），女，陕西西安人，工学硕士，助教。

研究方向：先进控制理论与应用，控制系统建模与仿真。

位移测量在工业生产应用中非常广泛，随着工件精密度要求的提高，相对应的对测量设备的测量数据精度要求越来越高，同时对测量效率、测量数据处理、可靠性、自动化程度、可操作性都有相应的要求。

光栅尺以其适应性强、测量精度高等优势在位移测量系统应用中占有很大比重[1]。

目前，设计实现的测量系统主要表现在功能实用性方面，在测量数基于Labview 的位移测量系统设计罗瑜（陕西工业职业技术学院电气工程学院，陕西咸阳712000）摘要：基于Labview 的位移测量系统以其使用操作方便，测量分辨率高等优点，在位移测量领域应用广泛。

介绍了一种基于Labview 的位移测量系统的实现。

系统基于Labview 软件平台开发，通过串口实现数据交互，并对测量工件的尺寸加工精度进行了分析。

测量系统通过对光栅尺输出的信号进行细分辨相，提高位移测量精度，使用MSP430对细分后的信号进行处理。

系统整体实现了对X -Y 工作台上X 方向的位移测量，并将测量结果返回至上位机，上位机系统通过专用工具包与Ac⁃cess 数据库连接，实现对批量测量数据的存储和管理。

实验表明该系统测量精度高，操作方便，稳定可靠。

关键词：Labview ；光栅尺；位移测量；数据库中图分类号：TN29文献标识码：A文章编号：1674-6236（2021）07-0063-05DOI：10.14022/j.issn1674-6236.2021.07.014Design of displacement measurement system based on LabviewLUO Yu（School of Electrical Engineering ，Shaanxi Industrial Vocational and Technical College ，Xianyang712000，China ）Abstract:The displacement measurement system based on Labview is widely used in the field of displacement measurement due to its convenient operation and high measurement resolution.The realization of a displacement measurement system based on Labview is introduced.The system is developed based on the Labview software platform ，realizes data exchange through the serial port ，and can analyze the measurement precision of the workpiece size.The measurement system improves thedisplacement measurement accuracy by finely distinguishing the signal output by the grating ruler ，and uses the MSP430to process the subdivided signal.The system as a whole realized the X ⁃Y table displacement measurement in the X direction ，and returned the measurement results to the host computer.The host computer system was linked to the Access database through a special toolkit to store and manage batch measurement data.Experiments show that the system has high measurement accuracy ，convenient operation ，stability and reliability.Keywords:Labview ；grating ruler ；displacement measurement ；database《电子设计工程》2021年第7期据管理和可操作性方面还有很大提升空间。

光学三维测量实验系统的设计与开发

ｍａｕｅｅｔｙｔｍｂｓｄｏｉｇｒｅｔｎｉｄｖｌｅ．Ｔｅｅｐｒｅｔｌｏｔｔａｄｔｅｄｖｌｐｅｔｏ３ｅｓｒｍｎｓａｅｎｆｎｅｐｏｃｏｓｅｅｐｄｈｘｅｍｎａｃｎｅｓｎｅｅｏｍｎｆＤｓｅｒｊｉｏｉｎｈｍａｕｅｅｔａｅｎｆｎｅｐｏｃｏｒｉｔｄｃｄｅｓｒｍｎｂｓｄｏｇｒｅｔｎａｅｎｏｕｅ．ｉｒｊｉｒ
实验，简要介绍了基于光栅投射的光学三维测量原理，详细介绍了光学三维测量实验系统的软、硬件的设计与开发。关键词：光学三维测量；光栅投射；相位展开
中图分类号：４３０ —３
文献标识码：Ａ
文章编号：１０－９６２０）１０５ — ３０２４５（０８１ —０７０
光学三维测量实验系统的设计与开发
邵双运，余浩，徐楠
１０４００４）（ ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ京交通大学物理系，北京
摘
要：光学三维测量技术是一种非接触式的三维数字化技术，已经广泛应用于工业领域。为了开拓学生
视野，培养学生的研究能力，该文研制了基于面结构光的光学三维测量实验仪，开发了相关的系列研究型
是转化比较成功的一例。
我们针对本科生的特点，对取得的研究成果进
行加工，开发了光学三维测量实验仪，设计了一系列的研究型实验，该系列实验已为我校光信息科学
与技术专业本科生开设，收到了良好的教学效果，
实验书也已出版。通过实验训练，学生全面了

基于FPGA的光栅位移检测系统设计

４系统总体方案设计
Ｘ
光栅传感器将位移信息转换为电信号，经核心控制器图２位移与光强、输出电压的关系
法是在相隔Ｂ４条纹间的位置上安装两支光敏元件１和２／，
ＦＧ处理，实现电信号的数字化，再通过ＵＢ接口电路ＰＡＳ将采集到的光栅传感器位移数据上传计算机完成测量任务。根据要求，该测量系统应由光栅传感器、信号处理与控制以及通信接口电路三部分组成。其基本组成框图如图
议，自动完成标准的ＵＢ枚举配置过程，通用ＷｉｏｓＳｎｗ驱ｄ动程序提供设备级接口，通过ＤＬ提供ＡＩ用层接口。ＬＰ应通用的本地８位数据总线，４线控制，支持５电源电压Ｖ和３３电源电压，支持低功耗模式。自带ＷＤ驱动程序．ＶＭ和ＤＬ动态链接库｜。Ｌ５］
光栅位移检测是采用光栅莫尔条纹和光电转换技术原
，
亮
，
直至最亮
” ‘
。
，
又从最亮经渐亮到渐暗
，
再到最暗的渐变
过程
理
把被测的机床刀具微位移量转换成数字电信息量输
通用的光栅位移检测系统
一
通过实验可
出
。
，

基于光栅投影的复杂物体三维面形测量方法研究的开题报告

基于光栅投影的复杂物体三维面形测量方法研究的开题报告1.研究背景和意义三维面形测量是现代计算机辅助设计、制造和检测等领域的重要基础工作之一。

随着数字化技术的不断发展，三维面形测量越来越受到关注。

目前，常见的三维面形测量方法包括结构光法、激光测距法、投影法、相位测量法等。

其中，光栅投影测量法具有快速、高精度、非接触等优点，是现代三维形貌测量的主流技术之一。

然而，对于复杂的非光滑曲面，光栅投影测量面临着很大的挑战。

通常情况下，光栅投影仅能获取物体表面光滑的部分，而凸凹不平的区域则不能正确投影光栅，导致获取的数据失真或者缺失。

因此，如何有效地处理复杂曲面的非光滑部分，提高光栅投影测量的测量精度和测量范围，成为当前三维面形测量研究领域的热点之一。

2.研究内容和方法本课题旨在针对复杂曲面的非光滑部分，在光栅投影测量中实现高精度的三维面形测量。

具体研究内容如下：（1）综合分析各种能耗方案，提出更加适合于复杂曲面测量的光栅投影方案。

（2）研究光栅图像的去噪和补全技术，对于缺失或者失真的部分进行修补和修正，提高测量的准确度和稳定性。

（3）探究多角度投影和多视角融合的方法，提高测量范围和测量精度，实现对于复杂物体的全面测量。

本课题主要采用实验方法和数值仿真方法相结合的方式进行研究。

首先通过实验验证提出的投影方案的可行性和有效性，然后利用数值仿真方法对于测量过程中出现的问题进行分析和优化。

3.研究预期成果通过本课题的研究，预期达到以下成果：（1）设计出能够适用于复杂曲面测量的高精度光栅投影方案。

（2）提出针对于光栅图像的去噪和补全技术，实现对于失真和缺失部分的修复和修正。

（3）探究多角度投影和多视角融合的方法，提高测量范围和测量精度。

（4）开发出至少一种相关软件来验证所提出的算法和方法的可行性和有效性。

4.研究的难点和挑战本课题的研究难点和挑战包括：（1）针对复杂物体的非光滑部分设计出对应的光栅投影方案。

（2）针对失真和缺失部分，研究出一套有效的修复和修正技术。

一种多线程的光栅转动训练软件的设计与实现

ｂｓｄｍｃａｉｌａｍｉｄｉｅａｊｓｅｔｆｏｔｇｓｅｄａｄｓａｉｅｕｎ￣Ｏｅｏｈｒａｅｅｈｃｙｉｌｔｔｄｕｔｎｏｔｉｅｔｌｑｅｃｎｔｔｅｎａｗｓｉｅｎｈｍｒａｎｐｎｐａｆｈ
ｄｍｏｓｒｔｄｔｎｅｅｔｅｗａｆｓｏｔｎｎｅｔｎｉ．ＨｏｖｒｔｅｔａｔｏａｅｎｔａｅｏｂｅａｆｃｉｙｏｈｒｅｉｇｔａｍｅｔｔｍｅｖｒｗｅｅｈｒｄｉｎｌＣＡＭｒｉｎｇFra bibliotekｉｔａｎｉ
２ｄｃｔｎｌｅｈｏｇｓｔｅＺｅａｇｎｖｒｔｏＴｃｎｌ，ａｇｈｕ０４Ｃｉ；．ｕａｏａＴｃｎｌｙｔｕ，ｈｊｎｉｓｙｆｅｈｏｇＨｎｚｏ１１，ｈｎＥｉｏＩｉｔｎｉＵｅｉｏｙ３０ａ
ｓｆｗａｅｕｅｆｗｅｏｒｅ，ｈｓｌｗｏｔａｏｄｃｍｐｔｂｌｙｎｄａｓｏａｔｔｎａｉｇｉｏｔｒｓｅｒｓｕｃｓａｏｃｓ，ｈｓｇｏｏａｉｉｉ，ａｍｏｔｒｏａｉｇｇｔａｔｈｒｎｎ
定．为治疗儿童弱视提供了重要的辅助工具。
关键词：光栅转动；训练软件；多线程；数字化同视机；弱视
ＤｅｉｎａｍｐｅｅａｉｎｏｂｙｏａＴｒａｍｅｆｗａｅｗｉｈＲｏａｉａｉｇｓｇｎｄＩｌｍｎｔｔｏｆＡｍｌｐｉｅｔｎｔＳｏｔｒｔｔｔｎｇＧｒｔｎ

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Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｉｎｏｒｄｅｒｔｏｄｅｔｅｃｔｔｈｅｔｈｒｅｅ — ｄｉｍｅｎｓｉｏｎａｌｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｏｆｍａｃｈｉｎｅｔｏｏｌ，ｓｈｏｗｔｈｅａｍｏｕｎｔｏｆｆｅｅｄｉｎｒｅｌ— ａｔｉｍｅ，ａｎｄｉｍ－ｐｒｏｖｅｔｈｅｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇａｃｃｕｒａｃｙｆｏｒｗｏｒｋｐｉｅｃｅ，ａｔｈｒｅｅ－ｄｉｍｅｎｓｉｏｎｌａｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓｙｓｔｅｍｗｉｔｈｈｉｇｈ — ｐｒｅｃｉｓｉｏｎｂａｓｅｄｏｎｇｒａｔｉｎｇｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｓｅｎｓｏｒＷａｓｒｅｓｅａｒｃｈｅｄａｎｄｄｅｓｉｇｎｅｄ．Ｔｈｅｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｐｉｒｎｃｉｐｌｅｏｆｒａｇｔｉｎｇｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｓｅｎｓｏｒｗａｓｎａａｌｙｚｅｄ．Ｓｏｔｆｗａｒｅｄｅｓｉｎｇｎｄａｒｅｌｉａｚａｔｉｏｎｏｆｓｙｓｔｅｍｗｅｒｅｉｎｔｒｏｄｕｃｅｄｉｎｄｅｔａｉｌ，ａｎｄｔｈｅｓｙｓｔｅｍｗａｓｖｅｉｒｉｅｆｄｂｙｅｘｐｅｉｒｍｅｎｔ．Ｅｘｐｅｉｍｅｒｎｔｌａｒｅｓｕｌｔｓｉｎｄｉｃａｔｅｔｈａｔｓｏｆｔｗａｒｅｄｅｓｉｎｇｏｆｓｙｓｔｅｍｉｓｒｅａｓｏｎａｂｌｅ，ｔｈｅｓｏｆｔｗａｒｅｕｎｒｓｅｉｃｆｉｅｎｔ，ａｎｄｔｈｅｒｅｌａｔｅｄｆｕｎｃｔｉｏｎｓｒｅａｒｅｌｉａｚｅｄ．Ｔｈｅｍｅａｓｕｒｅ —
ｍｅｎｔｓｙｓｔｅｍｏｐｅｒａｔｅｓｓｔａｂｌｙｎｄａｍｅａｓｕｒｅｓａｃｃｕｒａｔｅｌｙ，ｎｄａｉｔｃａｎｍｅｅｔｈｅｔｐｏｄｒｕｃｔｉｏｎｄｅｍａｎｄｏｆｈｉｓｈ－ｐｒｅｃｉｓｉｏｎｍｅｓｕａｒｅｍｅｎｔｆｏｒｍａ－ｃｈｉｎｅｔｏｏ１．Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：ｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｓｅｎｓｏｒ；ｈｒｔｅｅ－ｄｉｍｅｎｓｉｏｎｌａｇｒａｔｉｎｇ；ｓｙｓｔｅｍｏｆｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔｍｅｓｕａｒｅｍｅｎｔ；ｓｏｆｔｗａｒｅｄｅｓｉｎｇ
文献标识码：Ａ
文章编号：１００２— １８４１（２０１４）０１ — ００５７— ０４
ＳｏｆｔｗａｒｅＤｅｓｉｇｎａｎｄＲｅａｌｉｚａｔｉｏｎｏｆＴｈｒｅｅ－ｄｉｍｅｎｓｉｏｎａｌＧｒａｔｉｎｇＤｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔＳｙｓｔｅｍ
Байду номын сангаас
对系统进行了实验验证。实验结果表明：系统的软件设计合理、执行高效，实现了相关的功能；测量系统运行稳定、测量精
准，可满足机床高精度测量的生产需求。关键词：位移传感器；三维光栅；位移测量系统；软件设计
中图分类号：ＴＰ２１２．９，ＴＨ８２２
ＬＩＳｈｅｎ — ｄｅ，ＺＨＡＮＧＸｉａｎｇ－ｌｉ，ＴＡＮＧＴｉａｎ，ＺＨＡＯＪｉａｎｇ－ｈｕｉ
（ＳｃｈｏｏｌｏｆＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎａｎｄＣｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ，ＧｕｉｌｉｎＵｉｖｎｅｒｓｉｔｙｏｆＥｌｅｃｔｒｏｉｃｎＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，Ｇｕｉｌｉｎ５４１００４，Ｃｈｉｎａ）
２０１４正
仪
表技术与传感器
２０１４Ｎｏ．１
第１期
ＩｎｓｔｒｕｍｅｎｔＴｅｃｈｎｉｑｕｅａｎｄＳｅｎｓｏｒ
三维光栅位移测量系统的软件设计与实现
李深德，张向利，唐甜，赵江辉
５４１００４）（桂林电子科技大学信息与通信学院，广西桂林
摘要：为了检测机床刀具的三维位移、实时显示刀具的进刀量，提高工件的加ｉｆ－精度，研究并设计了一种基于光栅位移传感器的高精度三维光栅位移测量系统。分析了光栅位移传感器的测量原理，详细介绍了系统的软件设计与实现，并