高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基

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程序升温-漫反射红外光谱考察SAPO-34分子筛表面酸性质

程序升温-漫反射红外光谱考察SAPO-34分子筛表面酸性质

( 1. 广州大学 环境科学系,广东 广州 510400;2. 华南理工大学 化学工程系,广东 广州 510640 ) 要:将程序升温 - 漫反射红外光谱用于表征磷酸硅铝分子筛 SAPO- 34 表面酸性质;结果表明,SAPO- 34
分子筛中的桥联羟基 Si—OH—AI 具有较强的热稳定性;结合 NH3 探针考察表明,SAPO-34 分子筛具有 B 酸和 L 酸两种酸中心,其中 B 酸较强,是 SAPO- 34 酸性的主要部分,而 L 酸中心较弱。 关键词:程序升温 - 漫反射红外光谱;SAPO- 34 分子筛;羟基;酸性 中图分类号:O657. 33 文献标识码:A 文章编号:1004 - 4957 ( 2004 ) 01 - 0039 - 03
图3
#" # 原位考察表面酸性
(B 酸、L 酸) 、强 NH3 是表征分子筛表面酸性部位类型
吸附 C5 H5 N 后 SAPO - 34 在羟基区 的原位 DRIFTS 光谱 Fig . 3 In- situ DRIFTS spectra of SAPO - 34 in OH region after C5 H5 N adsorption
第 1期

平等 : 程序升温 - 漫反射红外光谱考察 SAPO-34 分子筛表面酸性质
41
度和酸量常用探针分子 [ 8 ] 。 图 4 为纯 SAPO-34 分子筛在 473 K 时吸附 NH3 后的原位漫反射红外光谱。 图中 1 470 cm - 1 吸收峰是由 NH3 与质子酸作用形成质子化的 NH + 4离 子后,N—H 弯曲振动产生的,表征 B 酸 (Brinsted 酸) 中 -1 心;1 630 cm 吸收峰是由 NH3 以其独对电子与 L 酸配位 形成 L 1 NH3 后产生的,表征 L 酸 (Lewis 酸) 中心。 一般 认为,B 酸中心和 L 酸中心对红外光谱的吸收系数相近, 因此可从吸收峰的强度判断 B 酸中心和 L 酸中心的相对 多少。 从图中看出,SAPO- 34 中的 B 酸中心多于 L 酸中 心。 温度升高至 573 K 时,1 630 cm - 1 吸收峰消失,表明 这时 L 1 NH3 配合物完全分解,L 酸是弱酸;1 470 cm - 1 吸收峰随温度升高,强度降低,并红移至 1 455 cm - 1 ,温 度升高至 773 K 时消失。 采用积分方法对各温度下的 B 酸峰和 L 酸峰的峰面积进行积分。 以 473 K 时的 B 酸为 100 ! ,求 B 酸和 L 酸中心的相对分布,结果如图 5 所 示,从中可以清楚地看出这两种酸位的变化规律。 表明 SAPO- 34 分子筛具有 B 酸和 L 酸两种酸中心,其中 B 酸 较强,数量也较多,是 SAPO- 34 酸性的主要部分。

原位漫反射红光谱考察SAPO—34分子筛骨架

原位漫反射红光谱考察SAPO—34分子筛骨架
维普资讯
第 1 卷 第 6 期
20 拄 02
广 州 大学 学 报 ( 自然科 学 版 )
J U N L O U N Z O N V R IY N t a S i c d t n O R A F G A G H U U I E ST ( a r c n eE io ) ul e i
征 中 日益 受 到 重 视
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物 公 司于 1 8 9 4年 开 发 的 新 型 磷 酸 硅 铝 ( A O) S P 系
列分 子筛 中的一 种 , 由 S0 、 12 e 2 种 四 是 i2A 0 - o 三 和
样在 一定 条 件 下 S、 、 可 看 成 定 值 , 时 无 论 b C 这
F( ) 是 A, 只 随 £变 化 , £又 是波 长 的 函 尺 还 都 而
面体 单元 构 成 的微孔 晶体 . 分 子筛 具有 许 多有 别 该
于硅 铝沸 石 的特 性 , 吸 附分 离 和催 化方 面 有着 广 在 阔 的应 用 前 景 L . 8 因此 , 究 s P .4具 有 重 要 的 J 研 A O3
年来 发展 起来 的一项 新 的原 位 表 征技 术 , 在催 化 表
式中 尺 为 无 限厚 度 样 品层 的 反射 率 ; 、 、 £S C
分别 为样 品 的摩 尔 吸收 系数 、 射 系数 和含量 . 散 与 Lm e — er a b r B e 定律 A=£ b t ・ C相 联系 : 同一试
V0 . No. 11 6
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原 位 漫 反 射 红 外 光 谱 考 察 S P 一4分 子 筛 骨架 A O3

羟基氧化铁红外

羟基氧化铁红外

羟基氧化铁红外
《羟基氧化铁红外》
羟基氧化铁是一种常见的无机化合物,具有许多工业和科学应用。

其红外光谱是研究和检测羟基氧化铁的重要工具之一。

羟基氧化铁的红外光谱可以帮助科学家确定其结构和化学性质。

通过红外光谱,可以观察到羟基氧化铁的特征吸收峰,从而确定其功能基团和化学键类型。

这对于研究羟基氧化铁的合成过程、性质、以及在材料科学和环境科学中的应用具有重要意义。

此外,红外光谱还可以用于检测和分析羟基氧化铁的质量和纯度。

通过比较样品的红外光谱图谱,可以快速准确地确定其成分和含量,为工业生产和科学研究提供了有效的分析手段。

总之,《羟基氧化铁红外》是研究羟基氧化铁的重要参考书,它揭示了红外光谱在羟基氧化铁研究中的重要作用,为科学家和工程师提供了宝贵的信息和指导。

3a分子筛红外特征峰

3a分子筛红外特征峰

3a分子筛红外特征峰
3A分子筛是一种常用的吸附剂,它具有很多应用领域,比如在
石油化工行业中用于分离和纯化烃类化合物。

在红外光谱学中,分
子筛的红外特征峰可以提供关于其结构和组成的重要信息。

首先,3A分子筛的红外特征峰通常出现在3000-4000 cm^-1和400-1600 cm^-1范围内。

在高频区(3000-4000 cm^-1),我们通
常可以观察到羟基和水分子的振动峰,这些峰可以提供关于分子筛
表面的羟基含量和水分子吸附情况的信息。

在低频区(400-1600
cm^-1),我们可以观察到Si-O和Al-O键的振动,这些振动可以提
供关于分子筛骨架结构的信息。

其次,3A分子筛的红外特征峰可以用于表征其吸附性能。

比如,当分子筛吸附了某些分子后,这些分子的特征峰会出现在红外光谱中,从而可以判断吸附过程中发生的化学反应和吸附产物的种类。

此外,红外光谱还可以用于研究分子筛的表面改性。

通过比较
未改性和改性后的分子筛的红外光谱,我们可以观察到新的特征峰
或者原有特征峰的变化,从而了解分子筛表面化学基团的变化和改
性效果。

总的来说,分子筛的红外特征峰提供了丰富的信息,可以用于表征其结构、组成、吸附性能和表面改性效果。

这些信息对于理解和优化分子筛在各种应用中的性能具有重要意义。

探针分子_红外光谱在分子筛碱性表征上的应用

探针分子_红外光谱在分子筛碱性表征上的应用

Tech 技术不如固定床液相法工艺推广快 。

的新型清洁生产工艺所取代 。

国内对异丙苯生产新 型催化剂及相应的工艺开发研究已取得一定的进 展 ,北京燕山石化公司和上海石油化工研究院等已 研制出用于异丙苯生产的新型催化剂 ,并将应用于 异丙苯工业生产装置 。

我国异丙苯生产技术的进展我国生产的异丙苯基本用作生产苯酚和丙酮的 原料 。

据统计 1997 年我国苯酚的生产能力为 240 kt ,其中异丙苯法约为 180 kt ,未来 10 年内 ,我国苯 酚需求的年增长率估计为 7 %~ 10 % , 这必将进一 步刺激异丙苯生产的发展 。

我国现有的异丙苯生产 技术有 AlC l 3 法 、固体磷酸法和分子筛法 ,其中以分 子筛为催化剂的清洁生产工艺不到 20 % 。

近年来 , 国内一些科研机构和有关厂家合作 ,在异丙苯生产催化剂和工艺研究开发方面取得了一定的进展13 。

(1) 北京燕山石化公司新建的 80 kt / a 液相法异丙 苯生产装置采用了该公司与北京服装学院共同开发 的沸石催化剂 。

(2) 上海石油化工研究院开发的高 选择性的 M - 92 分子筛催化剂已在实验室完成了2000 h 的稳定性试验 ,丙烯转化率为 100 % ,异丙苯选择性达 9915 % ,有望实现工业化 。

3 参 考 文 献1 2 Che m W e ek , 1998 ;160 ( 1) :50魏文德主编. 有机化工原料大全. 北京 : 化学工业出版社 , 1990 :424Mei ma G R. J Cat al S c i Tech n ol , 1998 ; ( 3) :5 Hy d roca r bon Process , 1995 ;74 ( 3) :107Higgins J B et al . Cat al Rev - S c i En g , 1986 ;28 ( 2) :185U S 4992606 ,1991Hy d roca r bon Process , 1997 ;76 ( 3) :121 Hy d roca r bon Process , 1991 ;70 ( 3) :152Bellussi G , P azzuc o ni G , P erego C et al . J Cat al , 1995 ;157 :227 U S 4849569 ,1989Hy d roca r bon Process , 1995 ;74 ( 3) :106 Hy d roca r bon Process , 1997 ;76 ( 3) :120吴棣华. 化学进展 ,1998 ;10 ( 2) :1313 4 5 6 7 89 10 11 1213 结语近年来 ,在国际上传统异丙苯生产工艺和催化4 探针分子 - 红外光谱在分子筛碱性表征上的应用曹 玉 华(上海石油化工研究院 ,上海 201208)CA O Y u - h u a( Shanghai Research Instit ut e of Pet rochemical Technology ,Shanghai 201208)关键词 吡咯吸附 碱中心 分子筛 红外光谱K ey w ords :p y rrole adso rptio n ,basic sit es ,molecular sieves , IR sptct rurn释1 ~7自六七十年代至今 ,分子筛科学技术在石油化 工催化领域中一直占有突出的地位 。

高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基

高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基

高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基
高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基
采用高温漫反射红外光谱法研究分子筛羟基, 考察了温度、加热时间对高温光谱的影响.该方法结合NH3和C5H5N分子探针在298~823K对磷酸硅铝分子筛SAPO-34中的羟基进行了表征.结果表明, 3612 cm-1和3597 cm-1吸收峰表征的.羟基位于SAPO-34分子筛的晶格中, 归属于两种桥联羟基(Si-OH-Al).两种羟基均具有酸性, 在823K 时仍然稳定.
作者:张平王乐夫李雪辉徐建昌作者单位:张平(华南理工大学化工系,广州,510640;广州大学环境科学系,广州,510400) 王乐夫,李雪辉,徐建昌(华南理工大学化工系,广州,510640)
刊名:分析化学ISTIC SCI PKU 英文刊名:CHINESE JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY 年,卷(期):2002 30(9) 分类号: O6 关键词:磷酸硅铝分子筛羟基,漫反射红外光谱高温光谱分子探针。

红外光谱

红外光谱

红外光谱(IR)在沸石分子筛中的应用摘要:本文阐述了红外光谱(IR)在沸石分子筛研究中的作用,指出了红外光谱在分子筛研究中主要应用于骨架振动、硅铝比和杂原子取代、表面羟基以及酸性、阳离子振动等方面。

关键词:红外光谱;沸石分子红外光谱(IR)可以表征化学键进而表征分子结构。

IR光谱可以用来识别化合物和结构中的官能团。

红外光谱方法具有样品用量少、样品处理简单、测量手段快、操作方便等优点。

在分子筛的结构研究中,红外光谱也是一种不可缺少的重要工具。

在分子筛研究中的应用主要有:分子筛骨架构型的判别、骨架元素的主成分析、阳离子分布情况、表面羟基结构、表面酸性、催化性能以及分子筛的客体的结构等方面[1]。

研究沸石骨架振动多采用溴化钾压片法(或简单地与溴化钾粉末混合)或矿物油涂膜法制备样品[2-4],有时则需要纯沸石样品进行脱水、酸性或催化反应等的原位表征[5]。

测定区域一般为200~4000cm-1,晶格水及羟基谱带分布在3700 cm-1及1600 cm-1附近,200~1300 cm-1区域的谱峰主要是分子筛骨架振动谱带。

1 骨架振动沸石骨架振动引起的谱带多在中远红外区。

内部振动的谱带位置对骨架结构变化不敏感,而外部连接振动对骨架结构比较敏感。

图一,为中孔分子筛MCM-41型沸石的红外谱图。

由图可以看出,合成样品的红外图谱在1640cm-1左右出现了较弱的吸收峰,它是分子筛所吸附的水羟基振动所致,在1095 cm-1出现了很强的吸收峰,它是Si-O-Si键反对称伸缩振动所致,在800 cm-1左右的吸收峰是Si-O-Si键的对称伸缩振动吸收峰,在460 cm-1左右出现的吸收峰是Si-O键的弯曲振动所致,这些都是中孔分子筛的特征吸收谱带。

960 cm-1处出现的吸收峰是Al取代Si后骨架局部不对称所致,有的认为是Si-O键伸缩振动而引起的特征吸收,有的认为是由于缺陷位造成的骨架局部不对称性所致,纯硅中孔分子筛亦存在一定的缺陷位,因而也出现了此谱带。

近红外光谱法同时测定端羟基聚丁二烯数均相对分子质量、黏度和羟值

近红外光谱法同时测定端羟基聚丁二烯数均相对分子质量、黏度和羟值

近红外光谱法同时测定端羟基聚丁二烯数均相对分子质量、黏
度和羟值
袁永朝;曹红宝;吕小王;肖恒
【期刊名称】《化学推进剂与高分子材料》
【年(卷),期】2011(9)1
【摘要】采用近红外光谱法同时测定了端羟基聚丁二烯(HTPB)的数均相对分子质量、黏度和羟值,与传统方法相比较,可得到满意的结果。

该法可在HTPB工业生产中作为一种简捷快速的测定方法使用。

【总页数】3页(P97-99)
【关键词】端羟基聚丁二烯;近红外光谱;数均相对分子质量;黏度;羟值
【作者】袁永朝;曹红宝;吕小王;肖恒
【作者单位】黎明化工研究院
【正文语种】中文
【中图分类】O657.33
【相关文献】
1.近红外光谱法测定端羟基环氧乙烷-四氢呋喃共聚醚的羟值 [J], 刘发龙;胡伟;程福银;刘治国
2.测定端羟基聚丁二烯羟值的乙酐—对甲苯磺酸法改进研究 [J], 芦明;宋永莱
3.近红外光谱法快速测定端羟基聚丁二烯固体推进剂药浆中功能组分含量 [J], 富明;肖淑华;刘伟;吴战鹏
4.酰化法测定端羟基聚丁二烯羟值的测量不确定度评定 [J], 马仁杰
5.近红外光谱法测定端羟基聚丁二烯不饱和度分布 [J], 袁永朝;曹红宝;李青;刘丹因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。

铜分子筛Cu(Ⅰ)物种上吸附CO的漫反射红外光谱

铜分子筛Cu(Ⅰ)物种上吸附CO的漫反射红外光谱

铜分子筛Cu(Ⅰ)物种上吸附CO的漫反射红外光谱姜明;郑苏欣;陈昌荣;伏义路;Victor Yu Borovkov【期刊名称】《催化学报》【年(卷),期】1999(020)004【摘要】应用漫反射红外光谱测定了不同的铜分子筛经真空自还原后吸附CO的基频、组频和泛频谱带.结果表明,CO压力较低时,形成Cu(Ⅰ)(CO)吸附物种,其种类与分子筛的结构特性有关.随CO压力增高,部分吸附物种转变为Cu(Ⅰ)(CO)2.分析Cu(Ⅰ)(CO)基频和组频谱带可得到比C-O伸缩振动更灵敏的反映Cu(Ⅰ)和CO 作用的Cu(Ⅰ)-C伸缩振动频率.【总页数】4页(P433-436)【作者】姜明;郑苏欣;陈昌荣;伏义路;Victor Yu Borovkov【作者单位】中国科学技术大学化学物理系,合肥,230026;中国科学技术大学化学物理系,合肥,230026;中国科学技术大学化学物理系,合肥,230026;中国科学技术大学化学物理系,合肥,230026;Zelinsky Institute of Organic Chemistry,Russian Academy of Sciences,Moscow,Russia【正文语种】中文【中图分类】O643【相关文献】1.原位漫反射红外光谱法研究N2O和苯在Fe-ZSM-5分子筛表面的吸附 [J], 郭泉辉;李英霞;陈标华2.原位漫反射红外光谱研究氮氧化物在Ag-ZSM-5催化剂上的吸附态及选择性催化还原反应机理 [J], 张平;王乐夫3.原位漫反射红外光谱研究SAPO-34分子筛的吸附性能 [J], 张平;王乐夫;李雪辉4.Cu-MCM-41介孔分子筛中不同价态铜上的吸附性能研究 [J], 朱海燕;刘炳华;张惠良;沈俭一5.原位漫反射红外光谱对N_2O在分子筛上吸附的研究 [J], 郭泉辉;李英霞;乔聪震;马新启因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。

近红外漫反射光谱在沉积物化学成分分析中的研究进展

近红外漫反射光谱在沉积物化学成分分析中的研究进展

2012年8月August2012岩 矿 测 试ROCKANDMINERALANALYSISVol.31,No.4582~590收稿日期:2011-08-04;接受日期:2012-03-20基金项目:国家自然科学基金项目(40972121);国土资源部公益性行业专项项目(200911043);中国地质大调查项目(1212011120281)作者简介:尚文郁,硕士,研究方向为应用地球化学。

E mail:keepitreal_shang@163.com。

通讯作者:孙青,研究员,从事分析化学、地球化学研究。

E mail:sunqingemail@yahoo.com.cn。

文章编号:02545357(2012)04058209近红外漫反射光谱在沉积物化学成分分析中的研究进展尚文郁1,2,孙 青2 ,凌 媛2,谢曼曼2,3,岑 况1(1.中国地质大学(北京),北京 100083; 2.国家地质实验测试中心,北京 100037;3.中国科学院地质与地球物理研究所,北京 100029)摘要:沉积物中有机质及相关元素含量、重金属含量等是研究环境污染和古环境的依据。

利用近红外漫反射光谱测定沉积物中的化学成分,方法简便、快捷、价廉。

本文概述了近红外漫反射光谱测定沉积物中化学成分的基本流程、样品制备及建模方法,介绍了如何通过选择建模样品、利用光谱预处理及回归分析等方法提高近红外光谱模型的定量能力,综述了近红外漫反射光谱分析沉积物中的有机碳、总氮、总磷、生物硅、重金属含量等方法。

但是利用近红外光谱分析沉积物中的化学成分研究起步较晚,仍存在很多问题,有必要深入探讨近红外光谱分析沉积物的化学成分时产生误差的机理,进一步开展建模样品的计算机选择方法、光谱预处理方法和数学模型优化等方面的研究,提高近红外漫反射光谱分析沉积物中化学成分的精密度和准确度。

关键词:近红外漫反射光谱;沉积物;化学成分;定量分析中图分类号:O657.33文献标识码:AAdvancesinCompositionAnalysisofSedimentsUsingNear infraredDiffuseReflectionSpectroscopySHANGWen yu1,2,SUNQing2 ,LINGYuan2,XIEMan man2,3,CENKuang1(1.ChinaUniversityofGeosciences(Beijing),Beijing 100083,China;2.NationalResearchCenterforGeoanalysis,Beijing 100037,China;3.InstituteofGeologyandGeophysics,ChineseAcademyofSciences,Beijing 100029,China)Abstract:Thecontentsoforganicmatter,relatedelementsandheavymetalsinsedimentsarethebasisforthestudyofpaleoenvironmentandecologicalenvironmentevaluation.Thenear infrared(NIR)diffusereflectionspectroscopytechniqueisasimple,rapid,andlowcostmethodtodeterminethecomponentsinsediments.Inthisarticleweoverviewthestandardprocedureforsampling,themethodofsamplepreparationandmathematicalmodellingforthechemicalcompositionanalysisinsediments.Furthermore,weintroducetheselectionofmodelling,spectrumpretreatmentandregressionanalysistoimprovetheaccuracyofthequantitativeanalysisforanear infraredspectrummodel.TheNIRdiffusereflectiontechniquehasbeenadvocatedtomeasurethecontentsoftotalorganiccarbon,totalnitrogen,totalphosphorus,biogenicsilica,heavymetalsetc.However,thereisstillplentyofworktobedonesincetheapplicationinsedimentsisnotwellestablished.Atpresent,furtherstudyneedtobecarriedoutforthemechanismofmeasuringerrorinsediments.Properlychosensamplecollectionaftersuitablespectrum pretreatmentwithoptimizationofmathematicalmodelsshouldimprovetheprecisionandaccuracyofmeasurements.Keywords:near infrareddiffusereflectionspectroscopy;sediment;chemicalcomponent;quantitativeanalysis—285—Copyright ©博看网. All Rights Reserved.沉积物是人类认识环境、气候变迁和生态响应的良好载体。

臭氧分子同位素16O18O16O的高温光谱研究

臭氧分子同位素16O18O16O的高温光谱研究

臭氧分子同位素16O18O16O的高温光谱研究
吉世印;宋晓书
【期刊名称】《原子与分子物理学报》
【年(卷),期】2008(025)004
【摘要】在直接计算分子配分函数的基础上,将无转动跃迁偶极矩平方近似为一常数,计算了非对称陀螺臭氧分子同位素16O18O16O 001-000跃迁在中等温度和高温下的线强度.计算结果在1000 K时与HITRAN数据库的结果吻合相当好.在温度高达3000 K时与HITRAN数据库的结果仍符合较好(最大百分误差为5.48%),表明分子配分函数和线强度的高温计算是可靠的.在此基础上,进一步计算了非对称陀螺分子16O18O16O 001-000跃迁带在极端高温4000和5000 K的线强度并报道其模拟光谱.计算结果对大气分子高温光谱的实验测量和理论研究均有一定的参考价值.
【总页数】6页(P921-926)
【作者】吉世印;宋晓书
【作者单位】黔南民族师范学院物理系,都匀,558000;贵州师范大学理学院,贵阳,550001
【正文语种】中文
【中图分类】O561.3
【相关文献】
1.高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基 [J], 张平;王乐夫;李雪辉;
徐建昌
2.次氟酸分子的势能函数及其振动光谱的同位素效应的理论研究 [J], 谢军楷
3.氟分子离子同位素18F2+基态电子态的振动光谱常数和势能曲线的精确研究[J], 刘一丁;孙卫国
4.光谱法结合分子动力学模拟研究臭氧对肌红蛋白结构的作用机制 [J], 吕飞; 张静; 陈鑫璐; 刘建华; 丁玉庭
5.同位素取代甲醛分子光谱性质的密度泛函理论研究 [J], 陆春海;陈文凯;廖俊生;
汪小琳;孙颖
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基于托玛琳石红外光谱测试的实验报告与数据分析

基于托玛琳石红外光谱测试的实验报告与数据分析

基于托玛琳石红外光谱测试的实验报告与数据分析目录基于托玛琳石红外光谱测试的实验报告与数据分析 (1)引言 (1)研究背景 (1)研究目的 (2)研究意义 (3)托玛琳石红外光谱测试原理 (4)红外光谱的基本原理 (4)托玛琳石的特性和应用 (5)托玛琳石红外光谱测试的原理 (5)实验设计与方法 (6)实验材料和设备 (6)实验步骤 (7)数据采集和处理方法 (9)实验结果与数据分析 (10)红外光谱测试结果展示 (10)数据分析与解释 (11)结果的讨论与比较 (11)实验结论与展望 (12)实验结论 (12)实验的局限性与改进方向 (13)进一步研究的展望 (14)参考文献 (15)引言研究背景近年来,红外光谱技术在材料科学、化学分析、生物医学等领域得到了广泛应用。

红外光谱是一种非常有用的分析技术,可以通过测量物质在红外光波段的吸收和散射来获取样品的结构信息。

托玛琳石是一种常见的矿石,其具有广泛的应用前景,因此对其红外光谱进行测试和数据分析具有重要意义。

托玛琳石是一种含有铝、硅、氧等元素的矿石,其晶体结构复杂,具有多种形态和性质。

托玛琳石在建筑材料、电子器件、光学器件等领域具有广泛的应用。

然而,由于托玛琳石的结构复杂性和多样性,对其进行准确的表征和分析是一项具有挑战性的任务。

红外光谱技术是一种非常适合对托玛琳石进行表征和分析的方法。

红外光谱可以提供关于分子振动、晶格振动和化学键信息的详细数据。

通过对托玛琳石样品进行红外光谱测试,可以获取其结构、成分和性质等方面的重要信息。

在红外光谱测试中,托玛琳石样品被照射红外光,然后通过检测样品对红外光的吸收和散射来获取光谱数据。

这些数据可以通过光谱仪器进行测量和记录。

然后,通过对光谱数据进行分析和解释,可以得到有关托玛琳石样品的详细信息。

红外光谱测试的数据分析是一个复杂的过程,需要对光谱数据进行处理和解释。

常用的数据分析方法包括傅里叶变换、光谱拟合和谱图解析等。

高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基

高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基

高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基张 平31,2 王乐夫1 李雪辉1 徐建昌11(华南理工大学化工系,广州510640) 2(广州大学环境科学系,广州510400)摘 要 采用高温漫反射红外光谱法研究分子筛羟基,考察了温度、加热时间对高温光谱的影响。

该方法结合NH 3和C 5H 5N 分子探针在298~823K 对磷酸硅铝分子筛S APO 234中的羟基进行了表征。

结果表明,3612cm -1和3597cm -1吸收峰表征的羟基位于S APO 234分子筛的晶格中,归属于两种桥联羟基(S i 2OH 2Al )。

两种羟基均具有酸性,在823K 时仍然稳定。

关键词 磷酸硅铝分子筛,羟基,漫反射红外光谱,高温光谱,分子探针 2001210212收稿;2002203228接受本文系国家自然科学基金(20076017)、广东省自然科学基金(980512,000428)和广东省科技攻关计划(2K B06601S )资助项目1 引 言漫反射光谱适合于固体粉末样品的直接测定1;傅里叶变换红外光谱具有进行快速多次扫描和光谱累加的特点。

将漫反射方法与红外光谱相结合,可实现各种反应温度、压力和气氛下原位跟踪固体样品的变化过程,为多相催化材料提供一种新的表征方法2。

探针分子是研究吸附催化剂的有效手段,它可以提供催化剂表面存在的活性部位信息。

分子筛是一类具有均匀微孔结构的酸性材料,广泛应用于工业催化。

分子筛表面羟基是产生酸性的重要来源,羟基的位置、数量与催化剂的活性密切相关。

因此,研究分子筛表面羟基性质具有重要的实际意义。

考察羟基常用红外光谱(FTIR )3,但是分子筛的强吸水性可能导致羟基识别困难,而且需对试样进行严格的预处理4。

如果采用原位方法,试样在脱水的同时进行测定有望解决上述问题。

本文采用高温漫反射红外光谱(DRIFT )结合NH 3和C 5H 5N 探针分子表征新型催化材料磷酸硅铝分子筛S APO 2345中的羟基,获得了满意的结果。

气相法白炭黑表面羟基的漫反射红外研究

气相法白炭黑表面羟基的漫反射红外研究
表 1 气 相 法 白炭 黑 的 热 失 重 分 析
・ 4 7 7・
由图 1 可见 ,随着处理温度 的升高 ,3 7 4 3 c m
处 的 吸收峰 强度 逐渐 增 强 ,当温 度 升 至 4 0 0 ℃ 时 ( 曲线 4 ) ,在 3 6 8 4 c m 处 出现一 包 峰 ,该 峰 随 着 温度 的升 高 吸收峰 的强 度增 强 ,同时左 移 ,即 向高波 数移 动 ;当温度 升 至 8 0 0 ℃时 ( 曲线 6 ) ,
在O / H: / N 2 火焰 中燃 烧 S i C 1 而生 成 的气相 法 白炭黑 为 白色 无 定 型 絮 状 半 透 明 固体 胶 态 粒 子 ,是 S i O 的聚 集 体 J 。导 致 气 相 法 白炭 黑 聚 集 的主要 因 素是 其 粒 子 表 面上 的 硅 羟 基 相 互 作 用 ,这些 大量 的硅 羟基 是在 气相 法 白炭黑 生产 工 艺中硅的卤化 物经高温 水解而生成 J 。气相 法 白炭黑 被广 泛用 于吸 附剂 、催化 载体 以及 功能 填 料 。在 这些 应用 中 ,气 相 法 白炭 黑 表 面羟 基 对 于相应 的表 面吸附 、催化 以及 与有 机质 的表 面 配合 等 反应有 重要 影 响 。因此 ,对气 相法 白炭 黑

弗炉 :A一1 O,上海圣 科公 司 。 1 . 2 实验 方法 将约 5 0 0 mg 样 品装 人 小 瓷 坩埚 置 于 马弗 炉 中 ,升 温至 指定 温度并 恒 温热 处 理 3 h 。 热处 理
后 的样 品略冷 却 ,移至 干燥 器 中 ,并在 样 品冷却 至 室温后 短 时 间 内在 1 0 0 0—4 0 0 0 c m 进 行 漫 反 射 红 外 扫 描 。实 验 空 白 为 K B r( 于 l 5 0 ℃ 烘 3 h ) 。实 验 温 度 分 别 为 1 5 0 c c、2 0 0 ℃ 、4 0 0 ℃、 6 0 0 ℃ 、8 0 0 o C。 同时记 录各热处 理温 度下 气 相法 白炭黑 的质量 损 失情况 。

LaHy分子筛的羟基及其酸性的红外分析

LaHy分子筛的羟基及其酸性的红外分析

LaHy分子筛的羟基及其酸性的红外分析
薛志元;朱雷明
【期刊名称】《物理化学学报》
【年(卷),期】1990(6)2
【摘要】在原位红外光谱装置上,通过氨的吸,脱附,对脱水(320℃)LaHY分子筛上形成的羟基峰作了归属,对酸性质作了进一步的分析.其结果是:除强酸性羟基3638cm^(-1) (HY),3631cm^(-1)(LaHY)和3536cm^(-1)(HY)、3556cm^(-1)(LaHY)外,还有二种直接与镧离子联结的羟基,3520cm^(-1)归属为弱酸
性,3531cm^(-1)归属为非酸性.从红外和固体核磁谱来说明,超笼中高频羟基的酸强度是非均一的。

【总页数】7页(P183-189)
【作者】薛志元;朱雷明
【作者单位】不详;不详
【正文语种】中文
【中图分类】TQ424.25
【相关文献】
1.含钨SBA-15介孔分子筛催化剂的表面酸性和羟基分布 [J], 胡林华;季生福;刘倩倩;吴平易;朱吉钦;李成岳
2.用TEAOH-C4H9NO复合模板剂合成SAPO-34分子筛的研究Ⅱ.SAPO-34分子筛的表面酸性和催化性能 [J], 刘红星;谢在库;张成芳;陈庆龄
HY分子筛表面酸性与催化活性关联的研究 [J], 李宣文;佘励勤;刘兴云
4.低钠含量 LaHY 分子筛的制备、表征及催化性能 [J], 黄静;范闽光;靳广洲;李斌;巩雁军;张少龙
5.Mo/LaHY分子筛的热稳定性及酸性的研究 [J], 范闽光;李斌;钟志敏;宋少青;黄燕梅;余在华
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高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基张 平31,2 王乐夫1 李雪辉1 徐建昌11(华南理工大学化工系,广州510640) 2(广州大学环境科学系,广州510400)摘 要 采用高温漫反射红外光谱法研究分子筛羟基,考察了温度、加热时间对高温光谱的影响。

该方法结合NH 3和C 5H 5N 分子探针在298~823K 对磷酸硅铝分子筛S APO 234中的羟基进行了表征。

结果表明,3612cm -1和3597cm -1吸收峰表征的羟基位于S APO 234分子筛的晶格中,归属于两种桥联羟基(S i 2OH 2Al )。

两种羟基均具有酸性,在823K 时仍然稳定。

关键词 磷酸硅铝分子筛,羟基,漫反射红外光谱,高温光谱,分子探针 2001210212收稿;2002203228接受本文系国家自然科学基金(20076017)、广东省自然科学基金(980512,000428)和广东省科技攻关计划(2K B06601S )资助项目1 引 言漫反射光谱适合于固体粉末样品的直接测定1;傅里叶变换红外光谱具有进行快速多次扫描和光谱累加的特点。

将漫反射方法与红外光谱相结合,可实现各种反应温度、压力和气氛下原位跟踪固体样品的变化过程,为多相催化材料提供一种新的表征方法2。

探针分子是研究吸附催化剂的有效手段,它可以提供催化剂表面存在的活性部位信息。

分子筛是一类具有均匀微孔结构的酸性材料,广泛应用于工业催化。

分子筛表面羟基是产生酸性的重要来源,羟基的位置、数量与催化剂的活性密切相关。

因此,研究分子筛表面羟基性质具有重要的实际意义。

考察羟基常用红外光谱(FTIR )3,但是分子筛的强吸水性可能导致羟基识别困难,而且需对试样进行严格的预处理4。

如果采用原位方法,试样在脱水的同时进行测定有望解决上述问题。

本文采用高温漫反射红外光谱(DRIFT )结合NH 3和C 5H 5N 探针分子表征新型催化材料磷酸硅铝分子筛S APO 2345中的羟基,获得了满意的结果。

2 实验部分2.1 试样和仪器磷酸硅铝分子筛S APO 234采用水热合成方法先制得分子筛原粉,再在550℃焙烧5h ,以除去模板剂,将制得样品置于干燥器,备用;K Br (光谱纯,美国S pectra T ech 公司),130℃干燥2h ,备用;C 5H 5N (分析纯,广州化学试剂厂)使用前经过NaOH 重新蒸馏;NH 3(5%in N 2,佛山分析仪器厂);He (99.99%,佛山分析仪器厂)。

Equinox 55型红外光谱仪(德国Bruker 公司),采用DTG S 检测器;漫反射附件为美国S pectra T ech 公司生产,漫反射池可加温、加压和抽真空,型号为P ΠN00302102,采用ZnSe 窗片;0019-022型温控器(美国S pectraT ech 公司),控温精度为1℃。

2.2 实验方法将处理好的试样装入漫反射池,适当压紧,刮平后置于红外光谱仪光路中,在不同温度下原位测定(分辨率4cm -1,扫描64次,吸收采用K ubelka 2Munk 单位1,6)。

整个升温过程均同时抽真空至1Pa 。

气体吸附采用室温通入0.1MPa NH 35min (通气前用He 气吹扫管路10min )和室温吸附C 5H 5N 蒸汽5min 。

3 结果与讨论3.1 背景光谱选择图1为K Br 的系列温度单通道光谱。

可以看出,谱图随温度上升而抬高。

因此,为消除这种干扰,第30卷2002年9月 分析化学(FE NXI H UAX UE ) 研究简报Chinese Journal of Analytical Chemistry 第9期1096~1098测量时先摄取K Br 的系列温度单通道光谱。

以所需温度下的K Br 光谱为背景,摄谱。

3.2 升温时间影响S APO 234分子筛试样采用阶梯升温,分别为298K 、323K 、373K ~773K (每100K 为一阶梯),每一阶梯升温时间为1min ,停留5min 测定一次,10min 再测定一次,整个升温过程均同时抽真空至1Pa 以加快脱水效率,结果如图2所示。

可见停留时间对谱图的影响较小,表明分子筛脱水程度主要受温度控制,为摄取相对稳定的谱图提供了条件。

 图1 K Br 在不同温度下的单通道光谱 Fig.1K Br single channel spectra at different temperaturesa.298K;b.373K;c.473K;d.573K;e.673K;f.773K。

 图2 S APO 234在不同温度及加热时间的DRIFTS 光谱 Fig.2 Diffuse reflectance in frared spectra (DRIFTS )of S APO 234at different temperatures and heat time3.3 高温谱图考察从图2可以看出,随着温度升高,一方面S APO 234分子筛吸附水的吸收峰(1630cm -1)迅速下降,573K 时基本消失;另一方面,在羟基区3665cm -1和3610cm -1附近出现两处吸收峰。

3665cm -1处吸收峰在573K 时消失(见图3),与吸附水的脱除温度一致,表明该峰归属于S APO 234上吸附水的羟基。

3610cm -1处实际上包括3612cm -1峰和3597cm -1肩峰(图4a ),该处峰在823K 仍然稳定。

研究认为这两个峰表征分子筛骨架上的两种桥联羟基(Si -OH -Al ),它们可能位于分子筛晶格中的不同位置,对应于3612cm -1的羟基指向椭球形笼的中心,对应于3597cm -1的羟基位于6棱柱内7。

应指出高温下测得的3612cm -1峰与文献值(室温下为3625cm -1)相比,向低波数有明显的位移。

2360cm -1和2336cm -1吸收峰表征吸附的C O 2,在473K 后消失。

1080cm -1峰归属于S APO 234骨架反对称伸缩振动3,6,在573K 后明显增强。

上述现象是非原位光谱难以观测到的。

3.4 NH 3和C 5H 5N 分子探针考察羟基性质NH 3和C 5H 5N 是研究表面酸性常用的碱性探针分子。

这两种碱与具有质子酸性的羟基作用,分别生成NH +4和PyH +,使红外光谱中相应的羟基吸收峰发生改变,据此获得有关羟基酸性的信息。

图4所示为S APO 234吸附NH 3和C 5H 5N 后在773K 时羟基区的DRIFTS 光谱,可以看出,3612cm -1和3597cm -1峰在吸附NH 3后消失,而吸附C 5H 5N 后没有消失,这表明这两个峰所表征的羟基与NH 3作用,而不与吡啶作用。

产生这种现象的原因可能在于桥联羟基位于S APO 234分子筛的笼中,NH 3分子的动力直径较小(0.26nm ),能够进入分子筛内部(S APO 234孔口直径为0.43nm )与之作用;而吡啶分子具有较大的动力直径(0.65nm ),无法进入分子筛内部,不能与之作用。

因此,与NH 3分子作用可确定桥联羟基是酸性中心,而以吡啶分子为探针应考虑羟基所处位置。

另一方面,吡啶是有效区分羟基位置及性质的探针分子。

通过吸附吡啶,3612cm -1和3597cm -1吸收峰不受影响,表明它们表征的羟基位于分子筛晶格中,这也进一步证实了文献7的看法。

4 结 论高温漫反射红外光谱可实现原位跟踪固体样品的变化过程;结合分子探针,所获得的信息只限于探7901第9期张 平等:高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基  图3 S APO 234羟基区的DRIFTS 光谱 Fig.3 Diffuse reflectance in frared spectra (DRIFTS )ofS APO 234in OH region at differenttemperatures 图4 S APO 234在773K 的DRIFTS 光谱Fig.4 Diffuse reflectance in frared spectra (DRIFTS )of S APO 234at 773Ka.空白(background );b.吸附C 5H 5N (ads orption of C 5H 5N );c.吸附NH 3(ads orption of NH 3)。

针分子可以作用的特定区域,为识别催化材料活性部位的位置和性质提供了一种有效的分析方法。

该方法应用于S APO 234的羟基表征,观测到桥联羟基,该羟基位于分子筛的晶格中,是酸中心,并且热稳定性高。

R eferences1 Y an H ongtao (阎宏涛),Zhang Ping (张 平).Chinese J .Anal .Chem .(分析化学),1998,26(5):524~5272 Van Every K,G riffiths P R.Applied Spectroscopy ,1991,45(3):347~3593 X in Qin (辛 勤),Liang Changhai (梁长海).Petrochemical Technology (石油化工),2001,30(2):157~1674 He Changqing (何长青),Liu Zhongmin (刘中民),Cai G uangyu (蔡光宇).Chinese J .Molecular Catal .(分子催化),1996,10(1):48~535 Fu Y e (付 晔),Wang Lefu (王乐夫),T an Y uxin (谭宇新).Chemical Reaction Engineering and Technology (化学反应工程与工艺),2000,16(1):55~596 Wu Jinguang (吴瑾光).Technology and Application o f Modern FTIR Spectroscopy (近代傅里叶变换红外光谱技术及应用(下卷)).Beijing (北京):Science and T echnology Literature Press (科学技术文献出版社),1994:49~50,117~1187 Zubkov S A ,K ustov L M ,K azansky V B.Chem.S oc.Faraday Trans .,1991,87(6):897~900Characteristic of H ydroxyls in Molecular Sieve by H igh TemperatureDiffuse R eflectance I nfrared Spectrum with Molecular ProbesZhang Ping 31,2,Wang Lefu 1,Li Xuehui 1,Xu Jianchang11(Department o f Chemical Engineering ,South China Univer sity o f Technology ,Guangzhou 510640)2(Department o f Environmental Science ,Guangzhou Univer sity ,Guangzhou 510400)Abstract Hydroxyls in m olecular sieve were studied by high tem perature diffuse reflectance in frared spectroscopy.The factors of in fluencing high tem perature spectra such as tem perature and heat time were investigated.This method coupled with NH 3and C 5H 5N m olecular probes was used to characterize hydroxyls in m olecular sieve ofsillicoaluminophosphate S APO 234at 298~823K.The results show that the hydroxyls at 3612cm -1and 3597cm-1lie in the crystal lattice and are assigned to tw o types of bridged Si -OH -Al group of S APO 234.Both hydroxyls have acidity and still stabilize at 823K.K eyw ords Diffuse reflectance in frared spectrum ,high tem perature spectrum ,m olecular probes ,m olecular sieve ,hydroxyls(Received 12October 2001;accepted 28M arch 2002)8901 分析化学第30卷。

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