SPC统计制程控制程序
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4、职责 4.1 新产品试制阶段，由产品质量先期策划小组依据产品/过程特殊特性，制定设备能力、 初始过程能力研究计划，并组织实施。
4.2 批量生产阶段，由技术部技术人员负责制定计划（或依特殊情况），收集数据及计算，并 正确评价。
4.3 若统计过程不受控，相关职能部门应制定过程纠正预防措施并实施。
表单编号：00040001-01
0.67＜Cpk≤1.00
三级
1.分析产生不足的原因，采取措施加以改进； 不足
2.加强检验，实行全数检验或考虑放宽标准范围。
Cpk＜0.67
四级
严重 1.停止加工，立即追查原因； 不足 2.采取措施，实行全数检验加以筛选。
5.2.12.1 评价过程能力：（批量生产阶段进行）
5.2.12.2 初始过程能力只在过程刚刚建立或改变时分析计算，批量生产产品过程能力每半
规章、制度系统文件
文件类别 文件名称 版次
程序文件 统计制程控制程序
2.0
核 准 审 核 制 作 持有单位 发行章
表单编号：00040001-01
2
文件修订履历表
发布日期
制
定、修
发行 发行 修订 修订 版次 页次 版次 页次
订
记
录
修订内容重点
表单编号：00040002-01
1、 目的 规定有关统计过程控制及过程能力分析的方法。
年计算一次。
5.2.12.3 过程能力测算由技术部保存，期限三年。初始过程能力测算表提交先期质量策划小
组。
Hale Waihona Puke Baidu
6、形成文件和记录
控制图
表单编号：00040004-01
Cmk≥1.67,设备有满足质量指标的加工能力，可使用于指定生产； Cmk＜1.67，设备能力不足，应对该设备加工的所有零件进行 100%检验，并对设备进行检修，
检修后重新进行 Cmk 研究。 5.1.7 保存 设备能力测算表由生产部负责保存，期限长期。
表单编号：00040004-01
统计制程控制程序
5.2.8 分析控制图是否随即分布：
a. 点：出现超出控制线的点；
b. 链：产生连续七点上升/下降/在平均值的一侧的点；
c. 明显的非随机图形：显著多于（或少于）2/3 的点落在离均值很近之处。
表单编号：00040004-01
统计制程控制程序
若有上述非随机分布现象，则：
①去除非随机点，重新计算控制界限，再次分析控制图；
2、 使用范围 本规定适用于设备能力、初始过程能力和长期过程能力的研究。
3、 术语 3.1 变差：也称波动，指同一过程输出个体间的差异。 3.2 初始过程能力：是过程总变差的总范围（6σs）。 3.3 过程能力：某一稳定过程固有变差的总范围（6σR/d2）。 3.4 初始过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价生 产过程准备情况。 3.5 过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价某一稳 定过程的输出同规范要求（顾客要求）的关系。 3.6 Cmk（设备能力指数）：衡量所使用的设备是否满足零件加工精度的要求的定量化指标。 3.7 统计过程控制：适用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出，以便采取适当的措施 来达到并保持统计控制状态，从而提高过程能力。 3.8 控制图：用来表示一个过程特性的图像，图上标有根据那个特性收集到的一些统计数据， 一条中心线，一条或两条控制限。它能减少Ⅰ类或Ⅱ类错误的净经济损失。它有两个基 本的用途：一是用来判定一个过程是否一直受统计控制；二是用来监控过程保持受控状 态。 控制图可分为计量型和计数型两大类。计量型的过程表现为得到的质量特性为可度量 的数值（如直径、长度等），计数型表现为只有两个数值（如合格/不合格，成功/失败…）， 但他们可以被计数从而用来记录和分析。
＞1.67
特级
1.可以考虑放宽对特性波动的控制 理想
2.收缩标准范围，提高质量要求
1.33＜Cpk≤1.67
一级
1.关键特性不变，非关键特性可降低对波动的限制； 正常
2.简化检验，换全检为抽检或减少抽检频次。
1.00＜Cpk≤1.33
二级
略显 不足
1.当为 1.33 时，处于正常状态； 2.当接近 1 时，应加强管理； 3.一般不能简化检验。
②如需采取纠正措施，改进过程，则应在纠正措施实施有效后重新收集数据，制作控制图
并重新进行分析。
5.2.9 计算初始过程能力指数：（试生产阶段进行或过程改变）
Pp=（USL-LSL）/6σs 式中：USL：规范的公差上限
LSL：规范的公差下限
σs：总体样本标准差 在过程有偏移的情况下
Ppk=min{(USL-X)/3σs s , (X-LSL)/3σs s }
5.2 过程性能及过程能力研究 5.2.1 制定“Ppk、Cpk 计划” 5.2.2 绘制分析用控制图（X-R 图为例） 5.2.2.1 收集数据并记录在控制图上，同时与控制图下面记录过程相关事件。 5.2.2.2 计算每一子组的均值和极差，并记录在控制图上。
X=∑Xi/n , R=Xmax-Xmin n：子组中样品数量 Xi：子组中每一样品测量值 Xmax：子组中最大样品测量值 Xmin：子组中最小样品测量值 5.2.3 选定控制图的刻度 5.2.4 按平均值和极差值在控制图上描出对应点。 5.2.5 计算极差均值和过程均值 X，并按均值在控制图上画出中心线。
5.2.12 计算过程能力指数
Cp=(USL-LSL)/ 6σR/d2 Cpk=min{(USL-X)/ 3σR/d2 ，（X-LSL）/ 3σR/d2} 其中σR/d2= R /d2 ，式中 d2 根据子组容量查表得出
表单编号：00040004-01
统计制程控制程序
Cpk
过程等级 评价 处理原则
σs=
n
∑（Xi- X）2/ ( n – 1 )
I=1
5.2.10 评价初始过程能力指数
Ppk≥1.67：满足要求，可以进入批量生产阶段。
Ppk＜1.67：初始能力需改进
①减少特殊原因引起的变差，将过程均值调整到接近目标值。
②减少特殊原因引起的变差，减少单个过程特性值的变差。
③改变规范使之与过程能力一致。
k
R
=
∑
i=1
Ri式/K中：k：子组数
k
X
=
∑
i=1
Xi
/K
Ri：每一个子组的极差
Xi：每一个子组的均值 5.2.6 计算控制限
UCLr= D4R LCLr=D3 R UCLx=X + A2 R LCLx= X -A2 R
式中 A2，D3，D4 根据子组容量表查得出
5.2.7 按计算结果在均值图和极差图中画出控制限。
5.2.11 生产现场品检人员制作控制用控制图：
5.2.11.1 将初始过程满足质量要求所到的控制中心线与上、下控制限画在控制图上。
5.2.11.2 按初始过程能力研究确定的子组大小收集样本，记录过程事件。
5.2.11.3 计算每组样本的均制和极差，并在控制图上描点。
5.2.11.4 分析控制图上的点是否随机分布（方法同 5.1.8）
统计制程控制程序
4.4 技术部监督并验证过程纠正预防措施的实施。 4.5 正常生产过程中，确保每半年对关键、重要特性（可收集计量型数据的）进行一次 Cpk
值研究。当顾客有特殊要求时，执行顾客要求。 5、工作内容及控制方法
5.1 设备能力的测算 5.1.1 确定所研究的对象分析和加工零件的待测特性及规范公差，测量方法和测量工具。 5.1.2 样本数：最小样本为 50 件。 5.1.3 研究时机：新零件、新设备/模具、公差带压缩、设备大修、设备更新、机器搬迁、 长期停产等。 5.1.4 采集样本的时机 在做完测量系统分析并合格后，按规定的样本数连续采集数据并记录。 5.1.5 计算公式 X =∑Xi/n S= ∑（Xi-X）2 (n-1) Cm=(USL-LSL)/6S Cmk=min{(USL-X)/3S，（X-LSL）/3S } S——过程变差的平方根 n——采集的样本数 Xi——样本的测量值 X——样本的平均值 USL——公差的上限 LSL——公差的下限 5.1.6 设备能力的评价
4.2 批量生产阶段，由技术部技术人员负责制定计划（或依特殊情况），收集数据及计算，并 正确评价。
4.3 若统计过程不受控，相关职能部门应制定过程纠正预防措施并实施。
表单编号：00040001-01
0.67＜Cpk≤1.00
三级
1.分析产生不足的原因，采取措施加以改进； 不足
2.加强检验，实行全数检验或考虑放宽标准范围。
Cpk＜0.67
四级
严重 1.停止加工，立即追查原因； 不足 2.采取措施，实行全数检验加以筛选。
5.2.12.1 评价过程能力：（批量生产阶段进行）
5.2.12.2 初始过程能力只在过程刚刚建立或改变时分析计算，批量生产产品过程能力每半
规章、制度系统文件
文件类别 文件名称 版次
程序文件 统计制程控制程序
2.0
核 准 审 核 制 作 持有单位 发行章
表单编号：00040001-01
2
文件修订履历表
发布日期
制
定、修
发行 发行 修订 修订 版次 页次 版次 页次
订
记
录
修订内容重点
表单编号：00040002-01
1、 目的 规定有关统计过程控制及过程能力分析的方法。
年计算一次。
5.2.12.3 过程能力测算由技术部保存，期限三年。初始过程能力测算表提交先期质量策划小
组。
Hale Waihona Puke Baidu
6、形成文件和记录
控制图
表单编号：00040004-01
Cmk≥1.67,设备有满足质量指标的加工能力，可使用于指定生产； Cmk＜1.67，设备能力不足，应对该设备加工的所有零件进行 100%检验，并对设备进行检修，
检修后重新进行 Cmk 研究。 5.1.7 保存 设备能力测算表由生产部负责保存，期限长期。
表单编号：00040004-01
统计制程控制程序
5.2.8 分析控制图是否随即分布：
a. 点：出现超出控制线的点；
b. 链：产生连续七点上升/下降/在平均值的一侧的点；
c. 明显的非随机图形：显著多于（或少于）2/3 的点落在离均值很近之处。
表单编号：00040004-01
统计制程控制程序
若有上述非随机分布现象，则：
①去除非随机点，重新计算控制界限，再次分析控制图；
2、 使用范围 本规定适用于设备能力、初始过程能力和长期过程能力的研究。
3、 术语 3.1 变差：也称波动，指同一过程输出个体间的差异。 3.2 初始过程能力：是过程总变差的总范围（6σs）。 3.3 过程能力：某一稳定过程固有变差的总范围（6σR/d2）。 3.4 初始过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价生 产过程准备情况。 3.5 过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价某一稳 定过程的输出同规范要求（顾客要求）的关系。 3.6 Cmk（设备能力指数）：衡量所使用的设备是否满足零件加工精度的要求的定量化指标。 3.7 统计过程控制：适用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出，以便采取适当的措施 来达到并保持统计控制状态，从而提高过程能力。 3.8 控制图：用来表示一个过程特性的图像，图上标有根据那个特性收集到的一些统计数据， 一条中心线，一条或两条控制限。它能减少Ⅰ类或Ⅱ类错误的净经济损失。它有两个基 本的用途：一是用来判定一个过程是否一直受统计控制；二是用来监控过程保持受控状 态。 控制图可分为计量型和计数型两大类。计量型的过程表现为得到的质量特性为可度量 的数值（如直径、长度等），计数型表现为只有两个数值（如合格/不合格，成功/失败…）， 但他们可以被计数从而用来记录和分析。
＞1.67
特级
1.可以考虑放宽对特性波动的控制 理想
2.收缩标准范围，提高质量要求
1.33＜Cpk≤1.67
一级
1.关键特性不变，非关键特性可降低对波动的限制； 正常
2.简化检验，换全检为抽检或减少抽检频次。
1.00＜Cpk≤1.33
二级
略显 不足
1.当为 1.33 时，处于正常状态； 2.当接近 1 时，应加强管理； 3.一般不能简化检验。
②如需采取纠正措施，改进过程，则应在纠正措施实施有效后重新收集数据，制作控制图
并重新进行分析。
5.2.9 计算初始过程能力指数：（试生产阶段进行或过程改变）
Pp=（USL-LSL）/6σs 式中：USL：规范的公差上限
LSL：规范的公差下限
σs：总体样本标准差 在过程有偏移的情况下
Ppk=min{(USL-X)/3σs s , (X-LSL)/3σs s }
5.2 过程性能及过程能力研究 5.2.1 制定“Ppk、Cpk 计划” 5.2.2 绘制分析用控制图（X-R 图为例） 5.2.2.1 收集数据并记录在控制图上，同时与控制图下面记录过程相关事件。 5.2.2.2 计算每一子组的均值和极差，并记录在控制图上。
X=∑Xi/n , R=Xmax-Xmin n：子组中样品数量 Xi：子组中每一样品测量值 Xmax：子组中最大样品测量值 Xmin：子组中最小样品测量值 5.2.3 选定控制图的刻度 5.2.4 按平均值和极差值在控制图上描出对应点。 5.2.5 计算极差均值和过程均值 X，并按均值在控制图上画出中心线。
5.2.12 计算过程能力指数
Cp=(USL-LSL)/ 6σR/d2 Cpk=min{(USL-X)/ 3σR/d2 ，（X-LSL）/ 3σR/d2} 其中σR/d2= R /d2 ，式中 d2 根据子组容量查表得出
表单编号：00040004-01
统计制程控制程序
Cpk
过程等级 评价 处理原则
σs=
n
∑（Xi- X）2/ ( n – 1 )
I=1
5.2.10 评价初始过程能力指数
Ppk≥1.67：满足要求，可以进入批量生产阶段。
Ppk＜1.67：初始能力需改进
①减少特殊原因引起的变差，将过程均值调整到接近目标值。
②减少特殊原因引起的变差，减少单个过程特性值的变差。
③改变规范使之与过程能力一致。
k
R
=
∑
i=1
Ri式/K中：k：子组数
k
X
=
∑
i=1
Xi
/K
Ri：每一个子组的极差
Xi：每一个子组的均值 5.2.6 计算控制限
UCLr= D4R LCLr=D3 R UCLx=X + A2 R LCLx= X -A2 R
式中 A2，D3，D4 根据子组容量表查得出
5.2.7 按计算结果在均值图和极差图中画出控制限。
5.2.11 生产现场品检人员制作控制用控制图：
5.2.11.1 将初始过程满足质量要求所到的控制中心线与上、下控制限画在控制图上。
5.2.11.2 按初始过程能力研究确定的子组大小收集样本，记录过程事件。
5.2.11.3 计算每组样本的均制和极差，并在控制图上描点。
5.2.11.4 分析控制图上的点是否随机分布（方法同 5.1.8）
统计制程控制程序
4.4 技术部监督并验证过程纠正预防措施的实施。 4.5 正常生产过程中，确保每半年对关键、重要特性（可收集计量型数据的）进行一次 Cpk
值研究。当顾客有特殊要求时，执行顾客要求。 5、工作内容及控制方法
5.1 设备能力的测算 5.1.1 确定所研究的对象分析和加工零件的待测特性及规范公差，测量方法和测量工具。 5.1.2 样本数：最小样本为 50 件。 5.1.3 研究时机：新零件、新设备/模具、公差带压缩、设备大修、设备更新、机器搬迁、 长期停产等。 5.1.4 采集样本的时机 在做完测量系统分析并合格后，按规定的样本数连续采集数据并记录。 5.1.5 计算公式 X =∑Xi/n S= ∑（Xi-X）2 (n-1) Cm=(USL-LSL)/6S Cmk=min{(USL-X)/3S，（X-LSL）/3S } S——过程变差的平方根 n——采集的样本数 Xi——样本的测量值 X——样本的平均值 USL——公差的上限 LSL——公差的下限 5.1.6 设备能力的评价