X线头影测量分析
X线头影测量分析方法解析
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Steiner分析法
1)SNA角：前颅底平面-上齿槽 座点角。代表上颌基骨对颅部 2)SNB角：前颅底平面-下齿槽 座点角。代表下颌基骨对颅部
(5)下颌长度 (mandible length)此测 量不在眼耳平面，而在 下颌平面上进行。由髁 突后缘作切线垂直下颌 平面，再从颏前点作切 线垂直下颌平面，测量
(6)全面高(N-Me)：鼻 根点至颏下点的距离。
(7)面上部高(N-ANS)： 鼻根点至前鼻棘的距离。
(8)面下部高(ANS-Me)： 前鼻棘至颏下点的距离。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wits分析法
分别从上、下齿槽座点 AB向功能性合平面作垂线， 两垂足分别为Ao点和Bo点。 然后测量Ao点与Bo点间的 距离以反映上、下颌骨前 部的相互位置关系。
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wylie分析法
此分析法是对牙颌面形态结构深度及高度的测 量。所有的测量主要是线距的测量。面部深度 测量以蝶鞍点作为测量座标，以眼耳平面为基 准平面，由蝶鞍中心和所要测量的各标志点向 眼耳平面作垂线，测量标志点垂足与蝶鞍点垂 足之间距离，或测量标志点垂足之间的距离。
线头影测量分析
前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖
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A (Subspinale上齿槽座点)
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－定点
UI (Upper incisor上中切牙切端)
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3.下颌标志点
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－定点
髁顶点(Co):髁突最上点
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－定点
作为诊断分析 的基础
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3.确定错牙合畸形的矫治计划
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正常牙颌 பைடு நூலகம்面关系
对比
个体牙颌 颅面结构
分析出错牙合畸形的机制 确定牙和颌位的理想位置，制定可行的矫治方案
4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化
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治疗前
对比
治疗中,矫治后
正畸治疗
❖ 头颅定位的关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点 指针，三者构成一与地面平行的恒定平面。
定位
2.头影图的描绘
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❖ X线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结 构不完全对称而出现的左右影像不完全重合
按其平均中点来作描绘
传统X线片
数字化X线片
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传统手描图
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简介
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❖ 1934年Hofrath and Broadbent 提出 ❖ 我国于20世纪60年代初运用于临床
X线头影测量分析
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通过测量X 线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅 面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙 颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由 表面形态深入到内部的骨骼结构中去,它是正畸临床诊断 及治疗设计的一种重要手段.
X线头影测量分析
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面（ FH ）的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点：
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
２ . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点！
经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举
经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举1931年，美国的Broadbent[1]提出了X线头影测量分析方法。
该方法主要是通过患者拍摄X线头颅定位侧位片，然后对面部软硬组织进行定点、描绘线角以及轮廓，并测量线距与角度进行测量分析。
这一革新使对患者牙、颌、颅面软硬组织结构特点的了解由表及里，让个体或人群的颅面部参数开始步入量化时代，使得区分正常与异常的解剖形态更加形象化、数据化。
如今已发展成为口腔正畸、正颌外科诊断、治疗、预后及科研中不可或缺的一部分。
1 Tweed三角分析法由Tweed[2]于1945年提出，该三角由眼耳平面、下颌平面和下中切牙长轴围成。
具体为：FMA角：眼耳平面与下颌平面围成；FMIA角：下中切牙长轴与眼耳平面围成；IMPA角：下中切牙长轴与下颌平面围成。
临床应用时该分析方法可结合下牙弓散隙来决定与否拔牙。
Tweed认为下切牙相对于基骨的位置关系十分重要，是维持牙合关系稳定的关键因素。
所以主要通过改变下切牙唇舌向倾斜角度来改善面型和维持牙合关系的稳定，他通过对白种人的研究认为FMIA 值为65°是建立良好侧貌的重要条件。
所以FMIA 65°成为了Tweed矫治理念中追求的矫治目标。
但Tweed[3-4]也指出对下切牙唇舌向倾斜度的改变可能会加重畸形程度，如颏唇沟较深的AngleⅡ2分类错牙合，下切牙内收畸形会加重，下颌发育不足后缩、上切牙位置正常的AngleⅡ1分类患者，直立下切牙则会加重已存在的深覆盖，上切牙后收又会造成凹面型。
Tweed分析法测量值来自白种人群，不一定适合中国人群；对于较复杂的畸形很难分析出较全面的畸形机制。
临床应用时下切牙的倾斜度和矫正应根据不同患者骨骼下调的具体情况等做出正确的选择。
吕婴等[5]在此基础上提出了Tweed小三角的概念：即由下颌第一磨牙长轴、下颌平面角、眶耳平面围城的三角。
通过对大小三角的对比研究发现两个三角存在着特定联系，为矫治过程中如何调整第一磨牙的近远中倾斜角度提供了参考依据，同时也丰富了Tweed三角分析法，有一定临床指导价值。
X线头影测量分析方法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Coben分析法
测量内容包括： 全颅底长（Ba-N）； 中面部深度（Ba-A），包括 Ba-S、S-Ptm、Ptm-A距离； 下面部深度（Ba-Pog），包 括Ba-Ar、Ar-Go、Go-Pog 距离； 全面高（N-Me），包括NANS、ANS-UI、UI-LI、LIMe、ANS-Me 距离； 后面高（N-Go），包括N-S、 S-Ar、Ar-Go、S-Go 距离； 下颌支长度（AL）和下颌体 长度（MP）。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wits分析法
分别从上、下齿槽座点 AB向功能性合平面作垂线， 两垂足分别为Ao点和Bo点。 然后测量Ao点与Bo点间的 距离以反映上、下颌骨前 部的相互位置关系。
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wylie分析法
此分析法是对牙颌面形态结构深度及高度的测 量。所有的测量主要是线距的测量。面部深度 测量以蝶鞍点作为测量座标，以眼耳平面为基 准平面，由蝶鞍中心和所要测量的各标志点向 眼耳平面作垂线，测量标志点垂足与蝶鞍点垂 足之间距离，或测量标志点垂足之间的距离。
X线头影测量分析
(２）Ｘ线照像
1)投照距离：X线由球管射出时,呈辐射状，使投照物体的影像放大，而产生模糊的半影。X线球管至胶片的距离越大,则射出的X线越接近平行，所造成的半影也越小。在Ｘ线头颅摄影时要求有较大的投照距离，一般应不小于150ｃｍ。投照物体与胶片间距离,也是影响X线影像清晰和真实的重要因素，物片距越小,则X线影像的放大和失真越小。因而在投照时,应尽量使投照物体与胶片盒紧贴，以减小其放大误差。通过加大球管至胶片距离也可减小由物片距所造成的放大误差。每次照像时使头位、X线球管及胶片三者之间的关系维持恒定,这样所得的X线片才能保证测量结果的可靠,及不同个体或不同时期分别测量所得结果的可比性。
o4．2头影测量平面
５常用硬组织测量项目
o5.1上下颌骨的常用测量项目。
o５.2上化的X线头影测量
o6.1电子计算机化的X线头影测量特点
o6．２电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程
o6.３数学模型的建立
[返回]1拼音
X xｉàｎtóuｙǐng cèｌiàng fèｎxī
５外科正畸的诊断和矫治设计:通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析,得出畸形的主要机制，以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量,同时应用Ｘ线头影图迹进行剪裁,模拟拼对手术后牙颌位置,得出术后牙颌、颅面关系的面型图，为外科正畸提供了充分的根据,从而提高了其诊断及矫治水平。
X线头影测量分析报告
目录∙1拼音∙2X线头影测量的主要应用∙3头颅定位X线照像和头影图的描绘o 3.1头颅定位Xo 3.2头影图的描绘∙4常用X线头影测量的标志点及平面o 4.1头影测量标志点o 4.2∙5常用硬组织测量项目o 5.1上下颌骨的常用测量项目。
o 5.2上下前牙的常用测量项目o 5.3面部高度的常用测量项目∙6电子计算机化的X线头影测量o 6.1电子计算机化的Xo 6.2电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程o 6.3数学模型的建立[返回]1拼音X xiàn tóu yǐng cè liàng fèn xī1生长发育通过对各年龄阶段个体作对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。
由于定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。
Brodie1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。
Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。
林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。
林久祥、张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。
通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生2畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。
而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中去。
3错合畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想4X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。
精华版X线头影测量分析方法课件
5)U1〖TXX-〗-NA(mm)：上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角：上 中切牙长轴与NA连线的交角。 代表上中切牙的倾斜度和突 度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm)：下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Delaire分析法
13)SL(mm)：蝶鞍点至颏前 点向SN平面作垂线的交点间 距离。代表下颌颏部对颅底
14)SE(mm)：蝶鞍点至髁突 最后点向SN平面作垂线的交 点间距离。代表下颌髁突对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
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Jarabak分析法
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Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
X线头影测量分析方法
X线头影测量分析方法
一、原理和方法
X线头影测量是基于X线透射成像的原理进行的。
将头部放置在X线
透射成像设备中，通过发射X射线，X射线会被不同组织结构吸收和散射，形成X线头颅影像。
利用该影像，可以通过测量头颅中的各种参数来评估
头颅的生理和形态情况。
在X线头影测量中，常用的测量参数包括颅骨间距、颅骨厚度、颅骨
角度等。
颅骨间距是指头颅内部各个关键结构之间的距离，如颅骨板间距、颅底间距等。
颅骨厚度是指头颅骨的厚度，可以用来评估颅骨质量和颅骨
疾病的程度。
颅骨角度是指头颅内部关键结构之间形成的角度，如脑颅角、额颅角等。
这些参数可以通过计算机软件自动测量，也可以通过手工测量
来获取。
二、应用领域和意义
其次，X线头影测量在中枢神经系统疾病的诊断和治疗中也起到了重
要的作用。
通过测量头颅内的结构和参数变化，可以帮助医生评估脑部异
常的程度和性质，并且更好地指导手术操作。
此外，X线头影测量还可以应用于人类进化学研究、骨科手术规划、
颅颌面外科的评估和治疗等领域。
通过测量头颅参数的变化，可以更好地
了解人类进化的过程，也可以为骨科手术和颅颌面外科手术提供指导。
总的来说，X线头影测量是一种非常重要的医学影像分析方法，它可
以通过测量头颅中的各种参数来评估头颅的生理和形态情况。
在临床医学中，它可以帮助医生判断儿童头骨发育情况、评估中枢神经系统疾病的程
度和性质，为手术治疗提供指导，并且在人类进化学研究等领域也具有重要的应用价值。
2.X线头影测量分析
Cephalometric measurement
（测量内容）
南医大分析法
Landmark （定点）
南 医 大 分 析 法－定点
S (Sella 蝶鞍中心点)
南 医 大 分 析 法－定点
N (Nasion 鼻根点)
南 医 大 分 析 法－定点
P( Porion耳点 ）
南 医 大 分 析 法－定点
UI－NA distance (UI-NA距)
南 医 大 分 析 法－测量内容
LI－NB angle
南 医 大 分 析 法－测量内容
LI－NB distance (UI-NA距)
南 医 大 分 析 法－测量内容
UI－LI angle
南 医 大 分 析 法－测量内容
UI－SN angle
南 医 大 分 析 法－测量内容
Tweed三角 （FMA,IMPA,FMIA）
FMA
FMIA IMPA
Hale Waihona Puke FMAFMIA FMIA
B (Supramental下齿槽座点)
南 医 大 分 析 法－定点
LI (Lower incisor下中切牙切端)
南 医 大 分 析 法－定点
LIa( 下中切牙根尖点)
南 医 大 分 析 法－定点
Po (Pogonion颏前点)
南 医 大 分 析 法－定点
Me (Menton颏下点)
南 医 大 分 析 法－定点
3. 常用平面
眶耳平面（FH） 前颅底平面（SN） 审美平面（EP） 下颌平面（MP）
4. 常用角度
颅底-上齿槽座角（SNA）： 上颌对颅底位置关系 82°±1
颅底-下齿槽座角（SNB）： 下颌对颅底位置关系 79°±1
X线头影测量（可编辑）
X线头影测量X线头影测量头影测量标志点是一些用来构成某些平面及测量内容的点理想的标志点应是易于定位的解剖标点在生长发育过程中相对稳定标志点的可靠性还取决于头颅X 线片的影像质量及描图者的经验颅部标志点蝶鞍点S蝶鞍影像的中心在头颅侧位片上容易确定鼻根点N鼻额缝的最前点有时此点显示不太清楚是因为鼻骨和∕或额骨形态变异骨缝形成角度所至耳点P外耳道之最上点实际工作中通常以定位仪耳塞影像之最上点代表称为机械耳点如果以外耳道影像之最上点代表则为解剖耳点上颌标志点眶点O眶下缘之最低点理想状态下左右眶点重合为一点但在实际工作中X线片上均显示为左右两个眶点影像故常选用两点之间的中点作为眶点以减小误差上齿槽座点A前鼻棘与上齿槽缘点间骨轮廓之最凹点前鼻棘前鼻棘之尖上齿槽缘点上颌牙槽突之最前下点此点清晰与否最大程度依赖于投照条件的选择因此准确选定该点在诸标志点确定中难度相对最大曾有学者认为上齿槽座点位于过上中切牙根尖点的水平线上下颌标志点下齿槽座点B下齿槽缘点与颏前点间骨轮廓之最凹点下齿槽缘点下颌牙槽突之最前上点颏前点Po颏部之最突点颏下点Me颏部之最下点该点与确定下颌平面有关头影测量平面基准平面前颅底平面SN由蝶鞍点和鼻根点之连线组成在头颅矢状面上代表前颅底的前后范围因为这一平面在生长发育过程中具有相对稳定性所以常作为面部结构相对颅底关系的定位平面眼耳平面FH由耳点与眶点连线组成测量平面下颌平面MP通过颏下点与下颌角下缘相切的线面平面N-Po由鼻根点与颏前点之连线组成头影测量分析法SNA角蝶鞍点-鼻根点-上齿槽座点角代表上颌基骨对颅部的前后向位置关系SNB角蝶鞍点-鼻根点-下齿槽座点角代表下颌基骨对颅部的前后向位置关系ANB角上齿槽座点-鼻根点-下齿槽座点角代表上下颌基骨间以鼻根点为参照的前后向位置关系面角面平面N-Po与眼耳平面FH相交之后下角代表下颌的凸缩程度增大下颌前凸缩小下颌后缩颌凸角NA与PoA延长线之交角代表上颌部相对整个面部侧面的关系增大上颌相对凸度大减小下颌后缩Po-NBPo点颏前点至NB的距离代表颏部的凸度增大颏部前突减小颏部后缩1-NA角上中切牙长轴与NA连线的交角代表上中切牙的倾斜度增大唇倾减小舌倾1-NA㎜上中切牙切缘至NA连线的距离代表上中切牙的凸度增大前凸减小后缩ㄒ-NB角下中切牙长轴与NB连线的交角代表下中切牙的倾斜度ㄒ-NB㎜下中切牙切缘至NB连线的距离代表下中切牙的凸度1-ㄒ角上下中切牙长轴之后交角1-SN上中切牙长轴与前颅底平面SN的交角代表上中切牙相对于前颅底平面的倾斜度ㄒ-MP下中切牙长轴与下颌平面MP的交角代表下中切牙相对于下颌平面的倾斜度此角亦即Tweed法中的IMPAMP-SN下颌平面与前颅底平面的交角代表下颌平面的倾斜度并反映出面部的高度下颌平面角下颌平面MP与眼耳平面FH的交角代表下颌平面的陡度及面部的高度此角亦即Tweed法中的FMA 头影测量分析举例结果1上颌基骨后缩2下颌骨前凸颏部后缩31前凸、唇倾谢谢。
口腔正畸学：特殊检查-x线头影测量分析法
主讲人 王澜 1
常用x线头影测量分析法
(1)Downs分析法:以眼耳平面为基准平面 1）骨骼间关系的测量：面角、颌凸角、上下牙槽座角、下颌平 面角、Y轴角等。 2）牙（牙合）与骨骼间关系的测量内容：（牙合）平面角、上 下中切牙角、下中切牙角、下中切牙-下颌平面角、下中切牙-（牙合） 平面角、上中切牙凸距等。
H线：软组织颏前点与上唇相切的线。测 量鼻点、鼻唇沟、上下唇、颏唇沟以及颏前点 与该线的距离，可反映他们之间的位置关系。
Sn线：软组织颏前点与鼻下点的连线，反 映唇部的相对突度。
（7）H角：H线与NB的交角，代表软组织颏 部与唇的位置关系。
5
ห้องสมุดไป่ตู้
电子计算机化的X线头影测量
是将头影图上所确定的各测量标志点转化为坐标值，电子计算 机算出各测量项目的结果并进行统计分析。
2
常用x线头影测量分析法
（2）Tweed分析法 ：眼耳平面-下颌平面角（FMA） 下中切牙-眼耳平面角（FMIA） 下中切牙-下颌平面角（IMPA）
Tweed认为FMIA65度是建立良好面型的重要条件，因此要达到 FMIA的矫治目标主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来完成。
3
常用软组织测量内容
(1）面型角（FCA）：额点-鼻下点 连线和鼻下点-软组织颏前点连线的后 交角，代表软组织的面型突度。
X线摄像数值化技术使得对头颅定位片测量分析更简化。
6
谢谢观看THANKS
特殊检查-x线头影测量分析法
主讲人 王澜
7
（2）鼻唇角（NLA）：鼻下点-鼻小 柱点连线和鼻下点-上唇突点连线的前 交角，代表上唇与鼻底的位置关系
（3）面上部高（UFH） （4）上唇长（ULL） （5）下唇长（LLL）
X线头影测量分析1
二.X线头影测量的由来
三. X线头影测量的主要应用
1.研究颅面生长发育； 2.牙颌颅面畸形的诊断分析； 3.确定错合畸形的矫治设计； 4.研究矫治过程中.矫治后的牙颌颅面形 态结够的变化； 5.外科正畸的诊断和矫治设计； 6.下颌功能分析；
四.头颅定位X线照像与头影图的描绘
Tweed分析方法:
在下列情况下,不适于进行Tweed三角中下切牙唇舌 向倾斜度的校正: 1. 如果患者由于下頜后缩而表现的安氏２类１分类 错合,这时直立下切牙将会加重已存在的深复盖. 2. 某些頦唇沟较深的安氏２类２分类错合,使下切 牙内收则会加重畸形,且效果也不会稳定. 3. 对于正处在生长发育阶段的患者,要确定上下 切牙的最后位置.
S P N
Or
Y轴角（NSGn）
蝶鞍点至頦顶点 连线与前颅底平 面（S-N）所构成。
Gn
常用头影测量项目
7. 下颌平面角（FMA）：下颌 平面与眼耳平面的交角。
根据下颌平面角将垂直骨面形 分为3种 （1）正常型：均值27.2° 、 标准差4.7 ° （2）高角型：垂直向发育过 度大于32 ° ( 3) 低角型：垂直向发育 不足小于22 °
常 用 头 影 测 量 项 目
眼耳平面
16. /1-眼耳平面 角：下中切牙长轴与 眼耳平面之交角。 （FMIA）
常 用 头 影 测 量 项 目
S
N
17.前、后面高比 （S-Go/N-Me）。
Go
Me
常用头影测量项目
17.前、后面高比（S-Go/N-Me） 根据X线头影前-后面高的比例，面部的生长 型可分为三种类型： （1）正常生长型；面部生长均衡，后面高与前 面高的比值在65%左右。 （2）水平生长型；面部生长方向较为水平，后 面高与前面的比值一般大于68%。 （3）垂直生长型；面部生长方向较垂直，后面 高与前面高的比值一般小于62%。
X线头影测量分析
简言之： 通过对X片进行分析、测量，从而了解 牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相 互关系 。
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一、主要应用 研究颅面生长发育 牙颌、颅面畸形的诊断分析 确定错牙合畸形的矫治计划 研究矫治中，矫治后的变化 外科正畸的诊断和矫治设计 下颌功能分析
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1.颅部标志点
定点
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S (Sella 蝶鞍中心点)
定点
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N (Nasion 鼻根点)：鼻额缝最前点
定点
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P( Porion耳点 ）：机械耳点
定点
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颅底点( Ba,basion ）枕骨大孔前缘中点
定点
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唇倾度大
－测量内容
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U1－NA:上切牙对于前颅底的相对倾斜度
－测量内容
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U1－NA distance (U1-NA距)
－测量内容
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L1－NB angle
－测量内容
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L1－NB distance
－测量内容
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Gn (Gnathion 颏顶点) :颏前点与颏下点之中点
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D点 :下颌体骨性联合部之中心点
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第二次实验
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头影测量平面
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1.基准平面(Reference line)： 头影测量中相对稳定的平面
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3）下颌标志点
• 下齿槽缘点(Id.infradentale)：下齿槽 突之最前上点 • 下切牙点(Li.lower incisor)：下中切牙 切缘之最前点 • 颏前点(P.pogonion)：颏部之最突点 • 颏下点(Me.menton)：颏部之最下点 • 颏顶点(Gn.gnathion)：颏前点与颏下点 之中点
3、头影图的描绘
4、常用X线头影测量的 标志点及平面
（1）头影测量标志点 1）颅部标志点 2）上颌标志点 3）下颌标志点 4）常用软组织侧面标志点 （2）头影测量平面
1）颅部标志点
• 鼻根点(N.nasion)：鼻额缝的最前 点 • 蝶鞍点(S.sella)：蝶鞍影像的中心 • 耳点(P.porion)：外耳道之最上点 机械耳点，解剖耳点 • 颅底点(Ba.basion)：枕骨大孔前缘 中点 • Bolton点：枕骨髁突后切迹 • 的最凹点
上齿槽缘点(SPr.superior prosthion)：上齿槽突之最前 下点
上中切牙点(UI.upper incisor)： 上中切牙切缘之最前点
UI
3）下颌标志点
• 髁顶点(Co.condylion)：髁突的最上点 • 关节点(Ar.articulare)：颅底下缘与 下颌髁突颈后缘之交点 • 下颌角点(Go.gonion)：下颌角的后下 点：可通过下颌支平面和下颌平面交 角之分角线与下颌角之相交点来确定 • 下齿槽座点(B.supramental)：下齿槽 突缘点与颏前点间之骨部最凹点
前鼻棘(ANS.anterior nasal spine)：前鼻棘之尖
后鼻棘(PNS.posterior nasal spine)：硬腭后部骨棘之尖
翼上颌裂点(Ptm.)：翼上颌裂 轮廓之最下点 :翼上颌裂轮廓 之最下点
上齿槽座点(A.subspinId.infradentale)： 下齿槽突之最前上点
下切牙点(Li.lower incisor)： 下中切牙切缘之最前点
颏前点(P.pogonion)：颏部 之最突点
颏下点(Me.menton)：颏 部之最下点
颏顶点(Gn.gnathion)：颏 前点与颏下点之中点
• 额点(G.glbella)：额部之最前点 • 软组织鼻根点(NS nasion of soft tissue)：软组织侧面上鼻与前额间最凹 点 • 眼点(E.eye)：睑裂之眦点 • 鼻尖点（Ns）：鼻软组织最前点 • 鼻下点(Sn.subnasale)：鼻小柱与上唇 之连接点
（二）X线头影测量分析
• X线头影测量（cephalometrics） 主要是对X线头颅定位照相的影像进行 测量分析，从而了解牙、颌、颅面软硬组 织的结构及其相互关系。 • X线头影测量成为了口腔科各专业特别是口 腔正畸、口腔颌面外科等学科的临床诊断、 治疗设计和研究工作的重要手段
（二）X线头影测量分析
唇缘点(vermilion borders)： 上唇缘点(UL′)：上唇粘膜与皮肤之连接点 下唇缘点(LL′)：下唇粘膜与皮肤之连接点
4）常用软组织侧面标志点
4）常用软组织侧面标志点
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
放大和变形
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
2、头颅定位X线片 的拍摄原理和方法
头 颅 定 位 线 片
X
3、头影图的描绘
精确地转移到
• X线头影像 描图纸 • 描图所需： X线头影片、硫酸描 图纸、毫米尺、半圆仪、细尖钢 笔、硬质尖锐铅笔、观片灯或描 图桌 • 描绘图的点线必须细小精确
2）上颌标志点
• 上齿槽座点(A.subspinale)：前 鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹 点 • 上齿槽缘点(SPr.superior prosthion)：上齿槽突之最前下 点 • 上中切牙点(UI.upper incisor)： 上中切牙切缘之最前点
眶点(O.orbitale:)：眶下 缘之最低点
（二）X线头影测量分析 cephalometrics
重点、难点
X线头影测量分析
X-线头影测量是在30年代由美国的 Broadbent和德国的Hofrath为研究颅 面生长发育和错合的骨性失调而提出的 研究手段。现代的生长发育理论大多数
都由x-线头影测量的研究而来。
X线头影测量分析
X线头影测量分析
髁顶点(Co.condylion)：髁 突的最上点
关节点(Ar.articulare)：颅底 下缘与下颌髁突颈后缘之交点
下颌角点(Go.gonion)：下颌角的 后下点：可通过下颌支平面和下 颌平面交角之分角线与下颌角之 相交点来确定
下齿槽座点(B.supramental)： 下齿槽突缘点与颏前点间之骨 部最凹点
鼻根点(N.nasion)：鼻额缝 的最前点
蝶鞍点(S.sella)：蝶鞍影 像的中心
耳点(P.porion)：外耳道之最 上点机械耳点，解剖耳点
颅底点(Ba.basion)：枕骨 大孔前缘中点
Bolton点：枕骨髁突后切 迹的最凹点
2）上颌标志点
• 眶点(O.orbitale:)：眶下缘之最低 点 • 前鼻棘(ANS.anterior nasal spine)：前鼻棘之尖 • 后鼻棘(PNS.posterior nasal spine)：硬腭后部骨棘之尖 • 翼上颌裂点(Ptm.pterygomaxillary fissure)：翼上颌裂轮廓之 最下点
1、X线头影测量的主要作用 2、头颅定位X线片的拍摄原理和方法 3、头影图的描绘 4、常用X线头影测量的标志点及平面 5、常用硬组织测量项目 6、常用X线头影测量分析法 7、常用软组织测量内容 8、电子计算机化的X线头影测量
1、X线头影测量的主要作用
（1）研究颅面生长发育 （2）牙、颌、颅面畸形的诊断分析 （3）确定错合畸形的矫治设计 （4）错合畸形矫治过程中及矫治后 的牙颌、颅面形态结构变化的比较 研究 （5）外科正畸的诊断和矫治设计