(F-175)关键工序CPK值统计表

工序能力指数Cpk计算表

工序能力指数Cpk计算表1234567891011121314151617181964109154199计算表1#2#Cp 1.09918634CpCpU0.719800509CpUCpL-0.719800509CpLCpk0.719800509CPKT 6.6Tε 1.139ε标准正态累积分0.999512354标准正态累积分CP的P值0.0975292%CP的P值标准正态累积分0.984590485标准正态累积分CPU的P值 1.5409515%CPU的P值标准正态累积分0.015409515标准正态累积分CPL的P值98.4590485%CPL的P值CPK的P值 1.5414103%CPK的P值判断上公差是否FALSE判断上公差是否为空判断下公差是否FALSE判断下公差是否为空结果0.719800509结果P显示结果 1.5414103%P显示结果Cpk Cpk＞1.67过程能力非常充分，为＞1.67过程能＞1.33过程能力充分，当不是＞1.33过程能＞1过程能力尚可，必须用控＞1过程能力＞0.67过程能力不充分，分析＞0.67过程能过程能力不足，一般应停止继过程能力不足1.67≥ 1.67≥1.33≥ 1.33≥1≥1≥0.67＞0.67＞1≥Cpk＞0.67过程能力不充分0.67＞Cp过程频次3#4#0.666666667Cp0Cp0.0721687840.666666667CpU-0.96225045CpU 2.838638824-0.666666667CpL0.962250449CpL-2.694301260.666666667CPK-0.96225045CPK-2.694301260.2T0T0.050ε 1.666666667ε0.9583333330.977249868标准正态累积分0.5标准正态累积分0.5857034624.5500264%CP的P值###########CP的P值82.8593075%0.977249868标准正态累积分0.001946209标准正态累积分12.2750132%CPU的P值99.8053791%CPU的P值0.0000000%0.022750132标准正态累积分0.998053791标准正态累积分3.16213E-1697.7249868%CPL的P值0.1946209%CPL的P值###########4.5500264%CPK的P值###########CPK的P值###########FALSE判断上公差是否为空TRUE判断上公差是否为空FALSEFALSE判断下公差是否为空FALSE判断下公差是否为空TRUE0.666666667结果0.962250449结果 2.8386388244.5500264%P显示结果0.1946209%P显示结果0.0000000%CpL CpU＞1.67过程能力非常充分，为提高产品质量，对过程能力非常充分，为＞1.67过程能力非常充分，＞1.33过程能力充分，当不是关键或主要项目时＞1.33过程能力充分，当不过程能力充分，当不是＞1过程能力尚可，必须用＞1过程能力尚可，必须用控制图或其它方法对程能力尚可，必须用控＞0.67过程能力不充分，分析分散程度大的原因＞0.67过程能力不充分，分过程能力不充分，分析过程能力不足，一般应停止继续加工，找出原因力不足，一般应停止继过程能力不足，一般应停止1.67≥ 1.67≥1.33≥ 1.33≥1≥1≥0.67＞0.67＞CpU＞1.67过程能力非常充分，为提高产品质量Cp过程能力不足，一般1≥CpL＞0.67过程能力不充高产品质量，对关键或主要项目可缩小公差范围；或为提高效率、降低成本而放宽波动幅度，降低设备精度等级；或键或主要项目时，放宽流动幅度；降低对原材料的要求；简化质量检验，采用抽样检验或减少检验频次或其它方法对过程进行控制和监督，以便及时发现异常波动；对产品按正常规定进行检验散程度大的原因，制订措施加以改进，在不影响产品质量的情况下，放宽公差范围，加强质量检验，进行全数检验或加工，找出原因，改进工艺，提高Cp值，否则全检，挑出不合格品提高产品质量，对关键或主要项目可缩小公差范围；或为提高效率、降低成本而放宽波动幅度，降低设备精度等级降低设备精度等级；或将精度要求特别高的零件调至该工序进行加工等检验，进行全数检验或增加检验频次度，降低设备精度等级；或将精度要求特别高的零件调至该工序进行加工等。

CPk标准表格

X
18.97
19.15 18.83 19.04 18.87 18.64 19.02 19.04 18.86 19.02 18.92 18.67 19.26 18.88 18.77
R
1.38
1.3
0.64
1.32
0.64
1.36
1.44
1.48
1.22
1.46
0.94
1.3
0.28
1.86
0.92
记录人员、机器、材料、环境、或测量系统的任何变化该信息应记录在内，当控制图出现信号时，这些记录有助于采取纠正措施
0.00
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
刘龙世
n
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10 11 12 13 14 15
1
18.56
19.20 18.56 18.60 18.68 19.22 19.24 19.34 18.88 19.46 18.62 18.56 19.36 18.86 18.88
28
19.06 19.90 17.74 19.42 19.26 19.08 2.16
29
19.10 19.50 18.92 18.56 19.20 19.06 0.94
30
19.56 18.80 18.22 18.42 18.00 18.6 1.56

cpk统计表格

cpk统计表格
CpK（过程能力指数）是统计质量控制中用于衡量一个过程的稳定性和一致性的指标。

它通过考察过程的变异性和工程规范的关系来评估过程是否能够产生合格的产品。

CpK值越高，表示过程的能力越强。

下面是一个简单的CpK统计表格，以便记录和计算CpK值：
```plaintext
|数据样本|观测值1|观测值2|观测值3|...|观测值n|平均值|标准差|规格上限|规格下限|CpK值|
|----------|---------|---------|---------|-----|---------|--------|----------|----------|-------|
|1||||...|||| ||
|2||||...|||| ||
|3||||...|||| ||
|...||||...|||| ||
|n||||...|||| ||
```
解释每一列的含义：
-数据样本：记录每个观测值所属的样本编号。

-观测值1,观测值2,...观测值n：记录每个观测值的具体数值。

-平均值：对观测值求平均的结果。

-标准差：对观测值计算标准差的结果。

-规格上限：产品规格的上限值。

-规格下限：产品规格的下限值。

-CpK值：通过计算得到的CpK值。

这个表格用于记录一系列观测值，然后计算平均值、标准差和CpK值，以评估过程的能力。

请根据实际情况填充表格，并使用适当的统计工具计算所需的数值。

CPK表格4

일자备注SPEC(+)(-)12345均值(mean)#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!标准差(σ)#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!极差(Range)0.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.00上标准界限(USL)0.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.00下标准界限(LSL)0.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.00MAX 0.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.00MIN0.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.00UCL(X-bar+3σ)#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!UCL(X-bar-3σ)#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!Cp ##############################################################################################################################Cpk-U #DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!Cpk-L #DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!Cpk##############################################################################################################################下限推定不良#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!上限推定不良#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!全体推定不良#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!CTQ 制程 CPk Trend 现况CTQ - 制程名称Line名称测量日期测量人0.200.30 0.40 0.50 0.60 0.70 0.80 0.90 1.00 CTQ 制程 Cpk Trend 现况系列1。

CPK控制图-表格(最新版)

部门产品名称
工序名称机器编号
质量特性规格值
公差上限公差下限
组容/频率图号
5pcs/1日
生产形态日期
正式生产
AVERAGES（X BAR CHART ）
●
X=AVE（X）= #DIV/0!
UCLX=X+A2R= #DIV/0!
LCLX=X-A2R= #DIV/0!
说明栏
1.000 0.900 0.800 0.700
1.在确定Cpk前过程必须受控
2.组容＜7时没有极差下控制限
●Cpk = Min ( USL-X X-LSL )≥1.33 3R/d2 3R/d2
1
2
3
4
5
6
7
8
9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
=Min( #DIV/0! #DIV/0! ) = #DIV/0!
0.000 #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! 0.000 0.000 0.000 0.000
0.000 #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! 0.000 0.000 0.000 0.000
0.000 0.000 #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! 0.000 0.000 0.000 0.000 0.000 0.000 0.000 0.000
0.000 #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! 0.000 0.000 0.000 0.000
0.000 #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! 0.000 0.000 0.000 0.000

制程能力统计表CPK分析

#DIV/0! #DIV/0! 0.000 0.000 0.000
#DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0!
#DIV/0! #DIV/0! 0.000 0.000 0.000
#DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0!
Sample 8
Sample 9
Sample 10
Sample 11
Sample 12
Sample 13
Sample 14
Raw data 原始数据
Sample 15 Sample 16
Sample 17
Sample 18
Sample 19
Sample 20
Sample 21
Sample 22
Sample 23
#DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0!
0 项判退 0 项合格
表單編號 Form No.：AUPD-06-006-02 (v.1)
頁數/總頁數 Page/Total Pages：2/2
Sample 24
Sample 25
Sample 26
Sample 27
Sample 28
Sample 29
Sample 30
#DIV/0! #DIV/0! 0.000 0.000 0.000 投影仪 #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0!
#DIV/0! #DIV/0! 0.000 0.000 0.000 投影仪 #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0!

初始过程能力Cpk表

规格平均极差(R)能力指数(CPU)能力指过程比标准偏标准偏方差(n-方差(n)性能指性能比2.52.55性能指n A 2d 3d 42 1.880 3.2673 1.0230 2.57440.7290 2.28250.5770 2.11460.4830 2.00470.4190.076 1.92480.3730.136 1.86490.3370.184 1.816100.3080.2231.777n123456789101112131415161718192021222324251 2.521 2.523 2.526 2.524 2.529 2.525 2.522 2.524 2.526 2.527 2.526 2.520 2.530 2.520 2.529 2.526 2.513 2.529 2.525 2.521 2.530 2.530 2.529 2.521 2.5322 2.521 2.530 2.531 2.524 2.523 2.521 2.522 2.528 2.535 2.519 2.522 2.527 2.519 2.531 2.523 2.522 2.536 2.524 2.530 2.520 2.526 2.520 2.524 2.521 2.5163 2.517 2.529 2.522 2.527 2.521 2.529 2.519 2.528 2.517 2.524 2.528 2.520 2.525 2.533 2.518 2.527 2.534 2.530 2.523 2.523 2.528 2.526 2.530 2.528 2.5234 2.522 2.517 2.522 2.519 2.531 2.538 2.513 2.522 2.528 2.535 2.523 2.522 2.528 2.526 2.527 2.523 2.531 2.522 2.520 2.525 2.526 2.529 2.531 2.526 2.52552.5312.5342.5202.5232.5312.5312.5222.5342.5222.5192.5292.5202.5262.5212.5212.5282.5292.5262.5182.5182.5162.5222.5222.5222.528设备编号公称尺寸2017.10.4下限尺寸2.52.5 2.55数据终止日期2017.10.31数据总数尺寸上限 2.52.55315.62数据数n最小值Min 2.5382.5132.5250.00001.6591.649D2 ，n=5低于下限数0.5960.6050.004940.00001.6740.004961.679平均值( X )最大值Max 上公差名义尺寸上限尺寸2.5工装编号数显千分尺部门零件名称量具精度1.649最终结论0.001高度零件图号2002/3/3工序名称 2.5过程能力满足要求组内容量5公称值00尺寸下限0.01172125组数25数据起始日期高于上限数 2.3261.654量具名称下公差CpCpk0.00.05 2.53172.52492.51822.4902.5002.5102.5202.5302.5402.55012345678910111213141516171819202122232425均值(Xbar 表)0.02480.01170.0000.0200.04012345678910111213141516171819202122232425极差(R 表)281333112516105251015202530352.5122.5172.5222.5272.5322.53700238517204060801001201402.4852.4952.5052.5152.5252.5352.5452.5552.565双侧公差下限公差上限公差规格设备编号公称尺寸2017.10.4下限尺寸2.52.52.55数据终止日期2017.10.31数据数n上公差名义尺寸上限尺寸2.5工装编号数显千分尺部门零件名称量具精度1.649最终结论0.001高度零件图号2002/3/3工序名称 2.5过程能力满足要求组内容量5尺寸下限125组数25数据起始日期1.654量具名称下公差CpCpk0.00.053335双侧公差下限公差上限公差Xbar 2.522 2.527 2.524 2.523 2.527 2.529 2.520 2.527 2.526 2.525 2.526 2.522 2.526 2.526 2.524 2.525 2.529 2.526 2.523 2.521 2.525 2.525 2.527 2.524 2.525。

Cpk数据统计分析表

1
实线 --- 样本 μ正态分布图虚线 --- 无偏移 M 正态分布图
0.8 0.6 0.4 0.2 0 变量 #VALUE! #VALUE! TL #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! M #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! #VALUE! TU #VALUE! #VALUE!
规格设定双侧公差
χ
1
4
χ
5
1பைடு நூலகம்
上限公差
0
技术公差幅度公差中心值样本均值样本数样本标准方差样本偏移量样本偏移度样本最大值样本最小值合计估算不良率上限估算不良率下限估算不良率
下限公差
公称(规格)值上公差下公差
σ
ε K MAX MIN
测算尺寸简述
正态分布图
分布密度 1.2
Cp值自动测算用表
测算日期测算者测算目的客户名称部品番号部品名称组别 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 样本检测数据 χ 2 χ 3 χ
热前公法线CPK值计算过程能力指数 Cp 过程能力修正值 Cpk

CPK值计算表格201810A

Prepared By作成/日期：The Temperatur e of Upper Plate Left running at240VAC 50HzBuzzel NoiseLevel Power Consumptio n Motor SpeedUnder No-loading,High Setting °CdB WattR.P.MAglient34970ADataAcquisition /Switch UnitTES Noise Level Meter YOKOGAWA WT310Interlligent Electrical Parameter TesterSHIMPO PH-200LCSpeedTester17575300180001903151980016075270172003230303020000169.68888.967290.73318143.333181913051820023862871760015851860028.50860.7184 4.4484147.81940.240.00 1.82 3.740.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.11 6.48 1.55 2.130.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.180.00 1.69 2.930.000.000.000.000.000.000.000.000.000.00CA -0.350.00-0.410.110.000.000.000.000.000.000.000.000.000.000.11 6.48 1.55 2.130.000.000.000.000.000.000.000.000.000.00No.1176.0089.00289.0018100.00No.2175.0089.00289.0018200.00No.3180.0089.00289.0018200.00No.4179.0089.00289.0017900.00No.5176.0089.00289.0018200.00No.6180.0091.00293.0018200.00No.7177.0089.00301.0018200.00No.8170.0089.00289.0017600.00No.9178.0089.00305.0017700.00No.10173.0089.00289.0018200.00No.11178.0090.00289.0018200.00No.12172.0089.00289.0018100.00No.13172.0086.00289.0018100.00No.14174.0088.00289.0018200.00No.15176.0089.00289.0018200.00No.16176.0089.00289.0018200.00No.17171.0089.00289.0018200.00The actuial value of product features 實測值記錄binghwaloo Product Name 產品名稱Rating of product產品規格240VAC,50Hz 120VAC,60HzCustomer客戶Checked By审核/日期：Approved By批准/日期：Sigma X-BarCPKCP Product features 產品特性/項目The unit of features 特性單位Auto Bread MakerModel產品型號807Remark 備註資訊Pls refer to test reportPls refer to test reportTest or Measurementmethod and condition 測試方法&環境參數Test or measurement instrument測試儀器品牌&型號SL規格值USL規格上限CPU CPL LSL規格下限Samples size 量測樣品數量Nonconformingquantity NG品數量X-Max X-min Range PROM CHN LLC CPK 統計表備註：A++級 Cpk≥2.0 特優可考慮成本的降低；A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 優應當保持之；A 級 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A ＋級；B 級 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般狀態一般，制程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A 級；C 級 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差制程不良較多，必須提升其能力；D 級 0.67 ＞ Cpk 不可接受其能力太差，應考慮重新整改設計制程。

cpk表格模板

CPK（过程能力指数）表格模板1. 背景介绍CPK（过程能力指数）是一种常用的统计工具，用来评估一个过程的稳定性和能力。

它可以帮助人们判断一个过程是否达到了规定的要求，并提供相应的数值指标。

CPK值越高，说明过程的稳定性和能力越强。

2. CPK指数的计算CPK指数主要通过计算过程的标准差和规格限制来得出。

它可以将过程的数据分布情况和规格限制进行对比，从而评估过程的能力。

CPK的计算公式如下：CPK = min((USL - μ) / (3 * σ), (μ - LSL) / (3 * σ))其中： - USL为上限规格限制 - LSL为下限规格限制 - μ为过程的平均值 - σ为过程的标准差3. CPK表格模板下面是一个简单的CPK表格模板，供您参考和使用。

序号数据点规格限制均值标准差CPK1 32 30-35 33 1.2 0.832 30 30-35 33 1.2 0.833 35 30-35 33 1.2 0.834 35 30-35 33 1.2 0.835 33 30-35 33 1.2 0.836 31 30-35 33 1.2 0.837 32 30-35 33 1.2 0.838 32 30-35 33 1.2 0.839 34 30-35 33 1.2 0.8310 31 30-35 33 1.2 0.83在表格中，每一行代表一个数据点，包括数据点的序号、实际数据、规格限制范围、过程的平均值、过程的标准差以及计算得到的CPK值。

4. 如何使用CPK表格模板使用CPK表格模板需要按照以下步骤进行：步骤一：收集数据首先，收集您需要评估的过程的数据。

具体数据的收集方式会根据不同的过程而有所不同。

步骤二：计算均值和标准差使用收集到的数据，计算过程的平均值和标准差。

步骤三：确定规格限制确定过程的规格限制，即上限规格限制（USL）和下限规格限制（LSL）。

步骤四：填写表格根据收集到的数据和计算结果，填写CPK表格中的相应栏目。

CPK表格

A 平方 P 值小于平均值标准差方差偏度峰度 N 最小值第一四分位数中位数第三四分位数最大值 90.018 90.020
正态 - 95% 置信区间
99
95 90 80 70
均值 90.02 标准差 0.009973 N 30 AD 1.830 P 值 <0.005
百分比
90.01
90.02
90.01
90.02 C2
90.03
90.04
90.05
90.06
机体（一档）概率图
1.97 0.005 90.021 0.010 0.000 -0.916554 0.334218 30 90.000 90.020 90.020 90.026 90.035 90.024 90.025 0.014
USL
组内整体
潜在（组内）能力 Cp 0.57 CPL 0.67 CPU 0.46 Cpk 0.46 整体能力 Pp PPL PPU Ppk Cpm 0.57 0.67 90.00 0.47 0.47 0.00
Anderson-Darling 正态性检验
机体（二档）概率图
1.83 0.005 90.022 0.010 0.000 -1.15205 0.61580 30 90.000 90.020 90.025 90.030 90.035 90.026 90.030 0.013
USL
组内整体
潜在（组内）能力 Cp 0.58 CPL 0.73 CPU 0.43 Cpk 0.43 整体能力 Pp PPL PPU Ppk Cpm 0.58 0.74 90.00 0.43 0.43 0.00
A 平方 P 值小于平均值标准差方差偏度峰度 N 最小值第一四分位数中位数第三四分位数最大值 90.017 90.020