透镜焦距的测定实验报告
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电子科技大学
实验报告
学生姓名:学号:指导教师:
实验地点:科技实验大楼104室实验时间:
一、实验室名称:透镜焦距的测定
二、实验项目名称:透镜焦距的测定
三、实验学时:3学时
四、实验原理:
1 •测凸透镜的焦距
(1)自准直法
如图1所示,用屏上“ 1”字矢孔屏作为发光物。在凸透镜的另一边放置一平面反射镜,光线通过凸透镜后经平面反射镜返回孔屏上。移动透镜位置可以改变物距的大小,当物距正好是透镜的焦距时,物上任意一点发出的光线经透镜折射后成为平行光,经平面镜反射后,再经透镜折射回到矢孔屏上。这时在矢孔屏上看到一个与原物大小相等的倒立实像。这时物屏到凸透镜光心的距离即为此凸透镜的焦距。
(2)物距像距法
如图2所示,用屏上“ 1 ”字矢孔作为发光物,经过凸透镜折射后成像在另一侧的观察屏上。在实验中测得物距u和像距v,则凸透镜的焦距为
f =-^
u v
用自准直法和物距像距法测凸透镜焦距时,都必须考虑如何确定光心的位置。光线从各个方向通过凸透镜中的一点而不改变方向,这点就是该凸透镜的光心。凸透镜的光心一般与它的几何中心不重合,因而光心的位置不易确定,所以上述两种方法用来测定凸透镜焦距是不够准确的,误差约为 1.0%~5.0%。
图1自准直法测焦距图2物距像距法测焦距
从上式可知,只要测得物屏与观察屏之间的距离 D 和两次成像透镜之间的距离 d ,即可求出凸透镜的焦距 f 。这种方 法把焦距的测量归结于对可以精确测定的量
D 和d 的测量,避免了确定凸透镜光心位置不准带来的困难。
五、 实验目的:
测凸薄透镜焦距。
六、 实验内容:
1 .共轴调节。
2•用自准直法测凸透镜的焦距。 3•用物距像距法测凸透镜的焦距。 4•用位移法测凸透镜的焦距。
七、实验器材(设备、元器件):
光具座,光源,透镜架,1字矢孔屏,观察屏,凸透镜,凹透镜;
八、实验步骤:
1 .共轴调节
参照图3布置光路,放置物屏和像屏,使其间距
D 4f ,移动透镜并对它进行高低、左右调节,使两次所成的像
的顶部(或底部)之中心重合,需反复进行数次调节,方能
2•自准直法测焦距
如图1布置光路,调透镜的位置,高低左右等,使其对 的实像于物的下方,记下物屏和透镜的位置坐标
x o 和X L 。
(3)位移法
如图3所示,若取光矢孔物屏与观察屏之间的距离
为u 时,观察屏上得到一个放大的清晰的像;当它距离物为 和光的可逆性原理,得
u y =u v = D u ' -u = v -v = d u =v v =u
代入式(3-20-2 )得
2 ,2
占
D -d f
二 -------------------------
4D
D . 4f ,且实验过程中保持不变时,
移动透镜L ,当它距离物
『时,观察屏上得到一个缩小的清晰的像。根据几何关系
达到要求。
图3位移法测焦距
学*川物成与物同样大小
图4
3•物距一一像距法测焦距
如图2布置光路,固定物和透镜的位置,使它们之间的距离约为焦距的
使物和像的中点等高,左右调节透镜和物屏,使物与像中点连线与光具座的轴线平行 ,
用左右逼近法确定成理想像时, 像屏的坐标,重复测量5次。
4 •位移法测焦距
在共轴调节完成之后,保持物屏和像屏的位置不变,并记下它们的坐标
x 0和X i ,移动透镜,用左右逼近法确定透
镜的两次理想位置坐标 x L1和x L2,测量5次。
九、实验数据及结果分析:
f =|x i -x 0 |= 194.0mm
2 •物距一一像距法
物坐标X o = 350.0 mm 透镜坐标X L = 686.0 mm
(x 0 一x L )(x L -x i ) 0 -
- ! 191.4mm
2倍,移动像屏使成像清晰,调透镜的高度,
| X 。-X i | X 0
2
Q L
丿
f I"
•・ ■- Xi
_ (x ° -X i )(X L - X i ) -(x ° -X L )(X L -X i ) -:
X 0
(X 0 -X i )2
(x L _xj _ f
-1 0.81mm
X ° _Xj
-:
X L
= (x° -xj -X -xj 丸卍口口
X 。-X i
-:f X i
f -(x 0 -x L )
-
0.56mm
X 0 -X i
上式中,完成不确定度;_-x0、;「xL 和xi 计算如下:
因为X 。和X L 都只测量了一次,只有非统计不确定度,即
3.位移法
按下表记录数据:
十、实验结论:
测出了凸透镜的焦距。
十^一、总结及心得体会:
只有当各光学元件,如光源、发光物(矢孔屏) 、透镜等的主光轴重合时,薄透镜成像公式在近轴光线的条件下才 能成立。习惯上称各光学元件主光轴重合为“共轴”
。调节“共轴”的方法一般是先粗调后细调。
十二、对本实验过程及方法、手段的改进建议:
自准直法测焦距时,平面反射镜距物屏最好不要超过
35厘米。
报告评分:
X i 是多次测量,其统计不确定度为
非统计不确定度为
X i 的合成不确定度为
二。=u 0 =.仪、3 -
= u L = 0.58mm
(X ii —Xi )2
/[k(k —1)] = 2.6mm
q =-':仪..3 = u 0 = u L = 0.58mm
「二 S 2 u :二 2.6mm
=1.5mm
191.4 二 1.5mm
测量
次数 透镜第一位置
透镜第二 位置
x L 1 (mm )
(左逼近)
x] (mm )
(右逼近)
X L1 J(x L1 +x L1)
2
x ; (mm)
(左逼近)
X L 2 (mm)
(右逼近)
1
X L2 =— (X 【2 +X 『2)
2 1 630.0
624.2 627.1 968.2
964.2
966.2 物坐标X 0 (mm )
350.0
像坐标x
(mm )
1250.0
D 2
-d 4D
(X i —X 。)2 —(X L 2 —X L 1)2
41 X i- X 0 |
-193.1mm
2