钢的显微组织评定

试样的制备
奥氏体晶粒度的显示
晶粒度的测定方法：
1、比较法
•比较法：通过与标准系列评级图对比来评定平均晶粒度，存 在±0.5级偏差
•适于具有等轴晶粒的再结晶材料或铸态材料
•适合大多工业生产检验，如果第二相（或组元）基本上与基 体晶粒大小相同由岛状或片状组成，或者是第二相质点（晶粒） 的数量少而尺寸又小的，并位于初生晶粒的晶界处
i [3.3115lg(d)] 3.22
取样：沿钢材或零件的轧制或锻造方向通过中心取样；钢坯上
切取的检验面应通过钢材（或钢坯）轴心的纵截面20mm×10mm
钢材外表面到中心的中 通过直径的截面的一半 间位置的部分截面
通过整个直径的截 面，长度保证得到 检验面积
宽度1/4初的全厚度截面
检验面位于宽度1/4和从钢板表面到中心 位置，检验面为钢板厚度的1/2截面e出现粗系的夹杂物，s出现细系的夹杂物 如：B1e, B2.5s
B法：表示给定观察视场数（N）中每类夹杂物及每个宽度系 列夹杂物在给定级别上的视场总数
按照协议规定总级别( itol )或平均级别( imoy )
试验报告：
•非传统类夹杂物按与其形态最接近的A、B、C、D、DS类夹杂物评定
•对于A、B、C类夹杂物，纵向距离d≤40μm，横向距离s≤ 10μm，一条夹杂物
•一个串（条）状夹杂物宽度不同，取最大宽度
A类和C类夹杂物
B类夹杂物
结果表示：
通则：用每个试样的级别以及在此基础上所得的每炉钢每类 和每个宽度系列夹杂物的级别算术平均值表示。
四个系列的标准评级图：
评级图适用范围：
1.1 显微晶粒度的评定：
使用与相应标准系列评级图相同的放大倍数，直接对比。
将检测的晶粒图像与标准系列评级图投影到同一荧屏上， 可提高评级精确度。
当待测晶粒度超过标准系列图片所包括的范围或基准放大 倍数（75、100倍）不能满足需要时，可采用教材中表4-5
宽度和从钢板表面到中心之间的中心位 置，检验面为钢板厚度的1/4截面
夹杂物评定方法：
观察方法：在显微镜下：
实际检验：
A法：检验整个抛光面，对每一类夹杂物，按细系和粗系记 下与所检验面上最恶劣视场相符合的标准图片的级别数
B法：检验整个抛光面，但可以通过研究，减少检验视场数， 对试样做局部检验
二、金属平均晶粒度测定法（GB/T6394-2002)
晶粒度级别指数
晶粒度：指晶粒大小的量度，通常使用长度、面积或体积来 表示不同方法的评定或测量晶粒大小
显微晶粒度级别指数G：N=2G-1 试样在放大100倍下，在 645.16mm2 面积内包含的晶粒个数
宏观晶粒度级别指数Gm ：N=2Gm -1 试样在1倍下，在 645.16mm2 面积内包含的晶粒个数
晶粒度报告
（1）铁素体钢，除用渗碳法显示奥氏体晶粒度外，其它方法应 报告如下内容：
若采用其他放大倍数进行评定，将放大倍数M的待测晶粒图 象与基准放大倍数Mb 的系列评级图片进行对比，评出的晶 粒度级别G’ ,其显微晶粒度级别数G为：
G G' Q
Q 6.6439 lg M Mb
1.2宏观晶粒度的评定
•对于特别粗大的晶粒，放大1倍，直接将有代表性的晶粒图 象与系列评级图Ι（非孪晶）和图Ⅱ和图Ⅲ（孪晶）进行比 较评级，宏观晶粒度可用平均晶粒直径或GB/T6349-2002标准 附录中的宏观晶粒度级别Gm 表示。
•当晶粒较小时，选用较高的放大倍数M进行宏观晶粒的评定，
若评出的晶粒度级别数为 ，Gm其' 宏观晶粒度级别数为：
Gm Gm' Qm
Qm 6.6439 lg M
2、面积法
通过计算给定面积网格内的晶粒数来测定晶粒度
基体晶粒边界清晰可见，且第二相（组元）质点（晶粒）主要 存在于基体晶粒之间而不在晶粒内时，
钢的显微组织评 定
一、钢中非金属夹杂物含量的测定
（GB/T10561-2005)
标准适用范围：压缩比大于或等于3的轧制或锻制钢材 原理：将所观察的视场与标准图谱对比，并分别对每类夹杂
物进行评级，标准中的评级图片相当于100倍下纵向抛光面 上的面积为0.5mm2 的正方形视场。 夹杂物分五类： A：硫化物类，较宽范围形态比的单个灰色夹杂物，端部圆角 B：氧化铝类，形态比小，沿轧制方向排成一排 C：硅酸盐类，较宽范围形态比的单个深灰色，端部锐角 D：球状氧化物，带角或圆形，形态比小，无规则分布 DS：单颗粒球状，圆形或近似圆形，直径≥13μm单颗粒夹杂
将已知面积（5000mm2)的圆形测量网格置于晶粒图形之上，选
用网格内至多能截获并不超过100个晶粒（建议50个）的放大
倍数M（网格面积大小以能覆盖基体晶粒为度），然后计算完
全落在测量网格内的晶粒数N内和被网格切割的晶粒数N交，该面
积范围内的晶粒计算为：
N

N内

1 2
N交
1

试样检测面上每平方毫米内晶粒数na: 晶粒度级别指数G:
na

M 2.N A
G 3.321928 lg na 2.954
3、截点法
通过统计给定长度的测量网格上的晶界截点数P来测定晶粒 度。对于非等轴晶粒，截点法即可用于分别测定三个相互垂 直的方向晶粒度，也可计算出总体的平均晶粒度。分直线截 点法和圆截点法。
适用于面积法的条件均适用于截点法
通则：
•每一个观察的视场与标准评级图谱对比，如果一个视场处于两相邻标准图片之 间时，应记录较低的一级。
•对于个别夹杂物或个别夹杂物，长度超过视场的边长（0.710mm)，或宽度或直 径大于粗系最大值，作为超尺寸夹杂物评定，并分别记录，纳入该时常视场的 评级
•为提高实际测量的再现性，可采用上图所示的透明网格或轮廓线
每类夹杂物根据非金属夹杂物颗粒宽度的不同分为两个系 列，每个系列由表示夹杂物含量递增的六级图片组成
夹杂物级别评定：
lg(i) [0.5605lg(L)]1.179 lg(i) [0.4626lg(L)] 0.871 lg(i) [0.4807g(L)] 0.904
lg(i) [0.5lg(n)] 0.301