第二章 - 3_GTO+GTR(电力电子技术)

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2.4.2 电力晶体管
☞在应用中，GTR一般采用共发射极接 法。集电极电流ic与基极电流ib之比为
i =i
c b
i
c
ib I ceo
(2-9)
空穴流
称为GTR的电流放大系数，它反映
了基极电流对集电极电流的控制能力。 当考虑到集电极和发射极间的漏电流Iceo 时，ic和ib的关系为
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门极可关断晶闸管
工作原理：
与普通晶闸管一样，可以用图所示的双晶体管模型来分析。
A A P1 N1 G P2 N2 K a) b) N1 P2 IA V1 G IG S EG Ic1 NPN PNP Ic2 V2 IK K R EA
IA
2 I G I CBO1 I CBO2
1 ( 1 2 )
2.4 典型全控型器件· 引言
门极可关断晶闸管 —— 在晶闸管问世后不久 出现。 20 世纪80 年代以来，电力电子技术进入了一 个崭新时代。 典型代表 —— 门极可关断晶闸管、电力晶体 管、电力场效应晶体管、绝缘栅双极晶体管。
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2.4 典型全控型器件
2.4.1 2.4.2 2.4.3 2.4.4 门极可关断晶闸管 电力晶体管 电力场效应晶体管 绝缘栅双极晶体管
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电力晶体管
1）GTR的结构和工作原理
空穴流 i 基区很薄； 导通条件：发射结正偏，集电结反偏； E 1 、形成发射极电流 Ie ，与电子流动方向 相反，同时基区的空穴也扩散到发射区； 2 、发射区电子注入基区后，在基区积累， 形成一定的浓度梯度，靠近发射极浓度高， 远离发射极浓度低。 3 、集电结反偏，集电结势垒很高，阻止 集电结的扩散运动，但是其可以吸引集电 结边缘的电子，形成集电极电流Ic。同时 该PN结反向饱和电流对Ic来说很小。
Ic
放大区
ib3 ib2 ib1
ib1<ib2<ib3
截止区
O
图2-17 共发射极接法时 GTR的输出特性
Uce
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2.4.2 电力晶体管
◆动态特性 ☞开通过程 √需要经过延迟时间td和上升时 ib Ib1 间tr，二者之和为开通时间ton。 90% I b1 √增大基极驱动电流ib的幅值并 增大dib/dt，可以缩短延迟时间， 10% Ib1 同时也可以缩短上升时间，从而 0 t 加快开通过程。 是用来除去饱和导 主要是由发射结 I b2 通时储存在基区的 势垒电容和集电 ☞关断过程 载流子的，是关断 结势垒电容充电 时间的主要部分。 √需要经过储存时间ts和下降时 产生的。 ton t off 间tf，二者之和为关断时间toff。 ts tf td tr ic Ics √减小导通时的饱和深度以减 90% I cs 小储存的载流子，或者增大基极 抽取负电流Ib2的幅值和负偏压， 10% I cs 可以缩短储存时间，从而加快关 0 t 0 t 1 t2 t3 t4 t5 t 断速度。 ☞GTR的开关时间在几微秒以内， 图2-18 GTR的开通和关断过程电流波形 比晶闸管和GTO都短很多。 15
ic
i
b
电 子 流 E
E
c
i
(2-10)
b
b
i =(1+ ) i
e
b
☞单管GTR的 值比处理信息用的小功 率晶体管小得多，通常为10左右，采用 达林顿接法可以有效地增大电流增益。
c)
图2-16 c) 内部载流子的流动
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2.4.2 电力晶体管
■GTR的基本特性 ◆静态特性 ☞在共发射极接法时的典 型输出特性分为截止区、放 大区和饱和区三个区域。 ☞在电力电子电路中， GTR工作在开关状态，即工 作在截止区或饱和区。 ☞在开关过程中，即在截 止区和饱和区之间过渡时， 一般要经过放大区。
90% I
t
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2.4.1 门极可关断晶闸管
■GTO的主要参数 ◆GTO的许多参数都和普通晶闸管相应的参数意义相同。 ◆最大可关断阳极电流IATO ☞用来标称GTO额定电流。 ◆电流关断增益off ☞最大可关断阳极电流IATO与门极负脉冲电流最大值IGM之比。 ☞off一般很小，只有5左右，这是GTO的一个主要缺点。 ◆开通时间ton ☞延迟时间与上升时间之和。 ☞延迟时间一般约1~2s，上升时间则随通态阳极电流值的增大而 增大。 ◆关断时间toff ☞一般指储存时间和下降时间之和，而不包括尾部时间。 ☞储存时间随阳极电流的增大而增大，下降时间一般小于2s。
由P1N1P2和N1P2N2构成的两个晶体管V1、V2分别具有共 基极电流增益1和2 。
1+2=1是器件临界导通的条件。 1+2>1时器件饱
和导通，1+2<1时器件不能维持饱和导通而管断。
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门极可关断晶闸管
GTO 能够通过门极关断的原因是其与普通晶闸管有 如下区别：
设计2较大，使晶体管V2控 制 灵敏，易于GTO。
■不少GTO都制造成逆导型，类似于逆导晶闸.2 电力晶体管
■电力晶体管（Giant Transistor——GTR） 按英文直译为巨型晶体管，是一种耐高电压、 大电流的双极结型晶体管（Bipolar Junction Transistor——BJT） ■GTR的结构和工作原理 ◆与普通的双极结型晶体管基本原理是一 样的。 ◆最主要的特性是耐压高、电流大、开关 特性好。
b b
ic=ib
电 子 流 ie=(1+ )ib c)
Ec
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1）GTR的结构和工作原理
+表示高 掺杂浓 度，-表 示低掺 杂浓度
GTR的结构、电气图形符号和内部载流子的流动
a) 内部结构断面示意图 b) 电气图形符号 c) 内部载流子的流动
与普通的双极结型晶体管基本原理是一样的。 采用至少由两个晶体管按达林顿接法组成的单元结构，同GTO一样采用 集成电路工艺将许多这种单元并联而成。 由三层半导体（分别引出集电极、基极和发射极）形成的两个PN结（集 电结和发射结）构成，多采用NPN结构。 主要特性是耐压高（N漂移区， 电导调制效应：P区往漂移区注入大量少 子形成电导调制效应，减小通态电压和损耗 ）、电流大、开关特性好。
BU
cbo
BU cex BU ces BU cer BU ceo
☞实际使用GTR时，为了确保安全，最高工作电压要比BUceo低得 多。
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2.4.2 电力晶体管
◆集电极最大允许电流IcM ☞规定直流电流放大系数hFE下降到规定的 1/2~1/3时所对应的Ic。 ☞实际使用时要留有较大裕量，只能用到IcM的 一半或稍多一点。 ◆集电极最大耗散功率PcM ☞指在最高工作温度下允许的耗散功率。 ☞产品说明书中在给出PcM时总是同时给出壳温 TC，间接表示了最高工作温度。
图2-7 晶闸管的工作原理
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2.4.1 门极可关断晶闸管
GTO工作特点
☞GTO的导通过程与普通晶闸管是一样的， 只不过导通时饱和程度较浅。 ☞而关断时，给门极加负脉冲，即从门极抽 出电流，当两个晶体管发射极电流IA和IK 的减小使1+2<1时，器件退出饱和而关 断。 ☞GTO的多元集成结构使得其比普通晶闸 管开通过程更快，承受di/dt的能力增强。
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2.4.2 电力晶体管
■GTR的二次击穿现象与安全工作区 ◆当GTR的集电极电压升高至击穿电压时，集电极电流迅速增大， 这种首先出现的击穿是雪崩击穿，被称为一次击穿。 ◆发现一次击穿发生时如不有效地限制电流，Ic增大到某个临界点时 会突然急剧上升，同时伴随着电压的陡然下降，这种现象称为二次击 穿。 ◆出现一次击穿后，GTR一般不会损坏，二次击穿常常立即导致器 件的永久损坏，或者工作特性明显衰变，因而对GTR危害极大。 ◆安全工作区（Safe Operating Area—— SOA） ☞将不同基极电流下二次击穿的临界点 连接起来，就构成了二次击穿临界线。 ☞GTR工作时不仅不能超过最高电压 UceM，集电极最大电流IcM和最大耗散功 率PcM，也不能超过二次击穿临界线。
A IA V1 G IG S EG Ic1 NPN PNP Ic2 V2 IK K b) R EA
导通时1+2更接近1，普通晶闸 管1+2 ≥1.15，GTO设计为 1+2 ≈1.05，导通时接近临界 饱和，有利门极控制关断，但导 通时管压降增大。
条状多元集成结构，门极和阴极 距离大为减少，使得P2基区横向 电阻很小，能从门极抽出较大电 流。
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1.4.1 门极可关断晶闸管
2) GTO的动态特性
◆开通过程与普通晶闸管类似。
i
G
关断过程：与普通晶闸管有所不同
储存时间 ts — 使等效晶体管退出 饱和。 下降时间 tf — 等效晶体管从饱和 区退至放大区，阳极电流减小。 尾部时间tt —残存载流子复合。
O
等效晶体管从饱 和区退至放大区， 阳极电流逐渐减 小时间
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2.4 典型全控型器件· 引言
■门极可关断晶闸管在晶闸管问世后不久出现。 ■20世纪80年代以来，电力电子技术进入了一个 崭新时代。 ■典型代表——门极可关断晶闸管、电力晶体管、 电力场效应晶体管、绝缘栅双极晶体管。
电力MOSFET
IGBT单管及模块
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2.4.1 门极可关断晶闸管
■晶闸管的一种派生器件，但 可以通过在门极施加负的脉冲 电流使其关断，因而属于全控 型器件。 ■耐压高、电流大，适合于兆 瓦级的大功率场合。
残存载 流子复 合所需 时间
t
抽取饱和导通时 储存的大量载流 子的时间
i
A
t
d
t
r
t
s
t
f
t
t
I
A
A 通常tf比ts小得多，而tt比ts要长。 门极负脉冲电流幅值越大，前沿 10% I A 越陡，抽出载流子的速度越快， 0 t t t t t t t ts越短。 0 1 2 3 4 5 6 使门极负脉冲的后沿缓慢衰减， 图2-15 GTO的开通和关断过程电流波形 在 tt 阶段仍能保持适当的负电压， 则可以缩短尾部时间。