电子散斑干涉测量
山东师范大学科技成果——电子散斑干涉仪
山东师范大学科技成果——电子散斑干涉仪
成果简介
该干涉仪具有相移和载频功能,为非接触测量,测量精度高;可以进行三维位移测量。
具体特点如下:
(1)三维测量:可以测量x、y、z三个坐标轴方向上的位移场。
(2)相移功能:精度可以达到λ/20以上。
该相移器直接与干涉仪主体联成一体,有标准接口,方便与计算机的连接。
(3)载频调制功能:利用条纹空间调制器,可进行计算机控制的定量条纹调制,满足了傅里叶方法对调制频率的要求。
三维电子散斑干涉仪
在科研上可用于细观力学研究、断裂力学、复合材料力学、结构强度及温度应力测试等研究领域,并且可应用于工程环境的测量;也
可以用来做电子散斑干涉实验,由于科技含量高,内容涉及光学测量技术、图像处理、自动控制,故可作为一种新的仪器,可供物理专业或力学专业的大学本科生、硕士生或博士生实验使用。
技术指标
半导体激光器:功率>15mw,单模,λ=532nm
测量面积:50mm×50mm
中心高度:450mm
相移器光程交换范围:2λ
PZT压电陶瓷尺寸:外径30mm,内径26mm,高度30mm,电压范围:0-200VDC
CCD物镜:zoom28-58,1:1.4
CCD摄像机:Wat-902H
图像卡:M2型
精度:λ/20
系统软件:满足散斑相移、FFT转换等算法支持。
电子散斑干涉术测空气折射率
电子散斑干涉术测空气折射率一、实验目的:1.了解电子散斑干涉原理、掌握干涉光路及图像处理软件。
2.通过观察“散斑对”产生的杨氏干涉条纹,加深对双孔杨氏干涉理论的理解,了解散斑干涉计量的基本原理。
二、实验原理:全息散斑干涉过程中信息的载体是作为电磁波的光,测量的对象是光学粗糙表面及其有关物理量,如 面形、应变、流场等。
当用激光束投射到一光学粗糙表面(即表面平均起伏大于光波波长量级)上时,即呈现出用普通光见不到的斑点状的图样。
其中的每一个斑点称为散斑(speckle),整个图样称为散斑图样,这种散斑现象是使用高相干光时所固有的。
散斑的物理起因可以简单地说明为:当激光照射到物体表面时,其上的每一个点(面元)都可视为子波源,产生散射光。
由于激光的高相干性,则由每一个物点散射的光将和每一个其他物点散射的光发生干涉。
又因为物体表面各面元是随机分布的(这种随机性由表面粗糙度引起),则由它们散射的各子波的振幅和位相都不相同,而且也是无规则分布的。
所以由各面元散射的子波相干叠加的结果,形成的反射光场具有随机的空间光强分布。
当把探测器或眼睛置于光场中时,将记录或观察到哦一种杂乱无章的干涉图样,呈现颗粒状结构,此即“散斑”。
散斑干涉术的记录和再现在本质上与全息干涉计量相同,它以干涉方法实现光学粗糙表面的检测,它在形式上更加灵活,不仅可以用光学方法实现,还可以用电子学方法实现,在电子散斑干涉计量(ESPI )中,原始的散斑干涉场由光电器件转换成电信号记录下来。
用模拟电子技术方法实现信息的提取,形成的散斑干涉场可直接显示在监视器上,也可以存入电子计算机。
与光学滤波方法相比,ESPI 操作简单、实用性强、自动化程度高,可进行动态和静态测试,具有许多优点。
下面的实验是用电子学方法实现的。
Fig.2 Light path of ESPI method上图是常用的均匀参考光光路图,BS 为分光镜,分得的一束光经一系列的反射作为参考光,另一束光经反射、扩束、准直后,再经过毛玻璃片,作为物光,参考光与物光成像到CCD 摄像机摄像管接收面上,再经过电子计算机的软件运算处理后,就可以将成像显示在显示器上。
电子散斑干涉实验报告
电子散斑干涉实验报告电子散斑干涉实验报告引言:电子散斑干涉实验是一种经典的物理实验,通过电子的干涉现象展示了波粒二象性的特性。
本实验旨在通过观察电子的干涉图案,深入了解电子的波动性质,并探讨干涉现象的原理。
实验器材与原理:本实验所需的器材包括电子枪、狭缝、屏幕和电子探测器。
电子枪通过电子的发射,产生电子束;狭缝用于调节电子束的宽度和方向;屏幕用于接收电子束,并观察干涉图案;电子探测器用于测量电子的强度。
实验过程:首先,将电子枪与电子探测器连接,将电子枪的电压调至适当的值,以确保电子能够发射。
然后,将狭缝放置在电子枪和屏幕之间的适当位置,并逐渐调节狭缝的宽度,观察屏幕上的干涉图案的变化。
最后,使用电子探测器测量不同位置的电子强度,并记录下来。
实验结果与讨论:在实验中,我们观察到了明暗相间的干涉条纹,这些条纹是由电子的波动性质引起的。
当电子通过狭缝时,它们会发生衍射,形成一系列的圆环状干涉条纹。
这是因为电子的波长与狭缝的大小相当,导致电子在经过狭缝后发生干涉。
通过调节狭缝的宽度,我们可以观察到干涉图案的变化。
当狭缝较宽时,干涉条纹较模糊,圆环状的条纹不太明显。
而当狭缝较窄时,干涉条纹变得更加清晰,圆环状的条纹更加明显。
这是因为狭缝的宽度决定了电子波束的展宽程度,狭缝越窄,电子波束的展宽越小,干涉条纹就越清晰。
此外,我们还测量了不同位置的电子强度。
我们发现,在干涉条纹的暗纹处,电子强度较低;而在干涉条纹的亮纹处,电子强度较高。
这进一步验证了干涉现象的存在。
结论:通过电子散斑干涉实验,我们深入了解了电子的波动性质和干涉现象的原理。
实验结果表明,电子具有波粒二象性,可以通过狭缝发生衍射和干涉。
干涉条纹的形成与狭缝的宽度有关,狭缝越窄,干涉条纹越清晰。
此外,干涉条纹的亮暗变化也与电子的强度分布有关。
通过本实验的探索,我们对电子的性质有了更深入的了解,并且对光学干涉现象也有了更深刻的认识。
这对于进一步研究电子的行为和开展相关应用具有重要意义。
电子散斑干涉实验
电子散斑干涉实验[引言]用激光照射物体表面时,在表面前方空间形成随机分布的明暗点,称之为散斑。
散斑随物体表面的变形或移动而运动,记录物体变形前后两个错动了的散斑图并进行比较分析,可以实现物体表面位移的高精度测量。
[实验目的]1.了解电子散斑干涉实验原理。
2.了解并熟悉仪器和光路布置,学会光路的调整方法与步骤。
3. 完成周边固支中心加载圆盘试样的离面位移的观察与测量分析试验。
[实验原理]散斑干涉是被测物体表面散射光所产生的散斑与另一参考光相干涉,两束相干光到此点的光程差,决定了合成散斑场中亮度的细节分布。
当物体发生位移或变形时,光程差也发生变比,如果光程差的变化是照射光波长的整数倍时,则此处斑的亮度不变,将变形前后的两幅散斑图相减,这些位置出现暗条纹,也称相关条纹。
所以相关条纹就是光程差变化等于波长整数倍的那些相关点的轨迹,可以算出相关条纹所代表的位移量。
电子散斑干涉仪的实验光路如图1所示。
He-Ne激光器发出的激光,波长为632.8nm,经分光镜分成物光束和参考光束两束,参考光经过反射到达另一扩束镜,发散后通过半反半透镜反射进入CCD摄像机。
物光束经过扩束镜发散后照射试样的表面,试样表面反射的物光经成像透镜成像,也通过半反半透镜进入CCD 摄像机,将两个光路的混合图像送入计算机。
图1 散斑干涉离面位移测量的实验光路双光束散斑干涉法中两束相干光相干涉,合成散斑场中亮度的细节分布,决定于两束相干光到此点的光程差。
设散斑干涉所需要的物光和参考光在相平面上的波前可以分别表示为()()()[]t y x i y x a t y x A ,,exp ,,,ϕ= (1)以及()()()[]t y x i y x b t y x B ,,exp ,,,ψ= (2)其中a 、b 分别表示物光和参考光的振幅,ϕ、ψ分别表示物光和参考光的位相。
物光和参考光(在相平面上)叠加干涉形成散斑场,其光强为(省略坐标与时间t y x ,,)()ψϕ-++=cos 222ab b a I (3)当被测物体变形后,物光的光程发生变化,产生光程差δ,对应的位相改变量为ϕ∆,而参考光的位相保持不变,所以物光和参考光叠加干涉后的光强成为()ϕψϕ∆+-++=cos 2'22ab b a I (4) 变形前后的两个图像均由CCD 实时采集并送入计算机进行处理。
颜色分光电子散斑干涉瞬态三维变形测量方法
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Y u Y i n g j i e ,Z h o u We n j i n g
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p l a n e h o i r z o n t a l d i r e c t i o n a n d o u t - o f - p l a n e d i r e c t i o n o f t h e o b j e c t .T h e w a v e l e t t r a n s f o r m a l g o r i t h m i s a p p l i e d t o
电子散斑干涉测量
实验四 电子散斑干涉测量散斑现象普遍存在于光学成像的过程中,很早以前牛顿就解释过恒星闪烁而行星不闪烁的现象。
由于激光的高度相干性,激光散斑的现象就更加明显。
最初人们主要研究如何减弱散斑的影响。
在研究的过程中发现散斑携带了光束和光束所通过的物体的许多信息,于是产生了许多的应用。
例如用散斑的对比度测量反射表面的粗糙度,利用散斑的动态情况测量物体运动的速度,利用散斑进行光学信息处理、甚至利用散斑验光等等。
激光散斑可以用曝光的办法进行测量,但最新的测量方法是利用CCD 和计算机技术,因为用此技术避免了显影和定影的过程,可以实现实时测量的目的,在科研和生产过程中得到日益广泛的应用。
一、实验原理1.激光散斑的基本概念激光自散射体的表面漫反射或通过一个透明散射体(例如毛玻璃)时,在散射表面或附近的光场中可以观察到一种无规分布的亮暗斑点,称为激光散斑(laser Speckles )或斑纹。
如果散射体足够粗糙,这种分布所形成的图样是非常特殊和美丽的(对比度为1),如图1。
激光散斑是由无规散射体被相干光照射产生的,因此是一种随机过程。
要研究它必须使用概率统计的方法。
通过统计方法的研究,可以得到对散斑的强度分布、对比度和散斑运动规律等特点的认识。
图2说明激光散斑具体的产生过程。
当激光照射在粗糙表面上时,表面上的每一点都要散射光。
因此在空间各点都要接受到来自物体上各个点散射的光,这些光虽然是相干的,一种散斑场是在自由空间中传播而形成的(也称客观散斑),另一种是由透镜成象形成的(也称主观散斑)。
在本实验中我们只研究前一种情况。
当单色激光穿过具有粗糙表面的玻璃板,图1 经CCD 采集的散斑图象在某一距离处的观察平面上可以看到大大小小的亮斑分布在几乎全暗的背景上,当沿光路方向移动观察面时这些亮斑会发生大小的变化,如果设法改变激光照在玻璃面上的面积,散斑的大小也会发生变化。
由于这些散斑的大小是不一致的,因此这里所谓的大小是指其统计平均值。
基于电子散斑干涉术的残余应力测量
( ol eo eh n c l n l ti l n ie r g N n ig U ies y o C l g f c a ia a d E e r a E gn e i , a j nv r i f e M c c n n t A r n uis n s o a t s N n i g 1 0 6, hn ) e o a t d A t n ui , a j 0 1 C ia ca r c n 2
meh d h s b e o d t e sb e b o a i g e p rm e tr s ls wih a t a a u s to a e n prve o be fa i l y c mp rn x e i n e u t t c u lv l e . Ke y wor ds: ee to c s c l t r lcr ni pe ke pat n;h l — rlig m eh d;r sd lsr se e o e d iln to e i ua te s s
18 0
传感器与微 系统 ( r sue adM c ss m T cnl is Ta d cr n ir yt ehoo e) n o e g
21 00年 第 2 9卷 第 1 期
基 于 电 子 散 斑 干 涉 术 的 残 余 应 力 测 量
陈玲玲 , 杨吟飞, 何 宁, 李 亮
电子散斑-ESPI实验指导书-面内位移
1
双光束电子散斑干涉术测量物体面内位移
(2学时,每次实验12人)
一. 实验目的
了解和掌握双光束电子散斑干涉术测量物体离面位移的方法和技术。
二. 实验器材和装置
试验器材有:激光器、反射镜、分光镜、扩束镜、CCD 、图象卡、计算机及软件。
实验装置和光路如图1所示。
B1:分光镜 M :反射镜 L1:扩束镜
图1 双光束电子散斑干涉术的光路图
三. 基本原理
双光束电子散斑干涉术的两束光互为物光和参考光。
由于变形对两束光的相位都有影响,所以物体变形时合成的相位差与位移的关系为:
[])sin (sin )cos (cos 221θθθθλπφ++-=
∆d d 2)(sin 4d θλ
π= 其中d 2即为物体变形时的面内位移。
当两束光的照明角θ较大时,测量的灵敏度较高。
四.实验步骤
1.按图1摆好光路。
调整光路时要求两束光的光程、光强和高度近似相等。
散斑图要求含有固定边缘。
2.打开采图软件(如图2所示),点击工具栏中Capture Image,弹出一个实时监控的窗口。
点击窗口中的Real Time按钮,施加一定压力,开始连续采集散斑图,
并自动把每一幅散斑图都和第一幅进行相减处理,形成的条纹图显示在窗口中。
在监测到一幅清晰的条纹图时,再按Real Time钮,使之弹起,固定条纹图。
然
后把条纹图保存起来(*.bmp文件)。
图2 双光束测量物体面内位移的软件操作窗口
五.实验报告要求
求出试件中心位置处的面内位移d2。
2。
电子散斑干涉测振技术
电子散斑干涉测振技术的优势
( 1 ) 首先, 电子散斑干涉测量所获得 的信息丰富,测量精度高 ,可以实现实时全 场测量,工作效率高;
( 2 ) 将视频信号通过数字化后输人计算机中,并经适当的分析软件就可识别出结构 的振型; 不仅能表现出结构振动节线的变化 ,同时能给出振幅或变形的详细变化规 律;
( 3 ) 可以对结构在不同激振力或载荷下的振型或变形加以比 较 ,从而了解结构的 振动特性 , 避免出现共振 ;
应用实例
L=80mm t=1mm r=5mm
有限元模拟结果与ESPI实验结果很接近,该方法的精度较高
谢谢
谢谢大家
06.07.2021
生产计划部
电子散斑干涉测振技术
2021/7/6
生产计划部
电子散斑干涉技术
电子散斑干涉技术 (ESPI) ,又称激光电视全息技术,是一种综合 了激光、视频 、电子及数字图像处理等技术的现代光测方法。
它可以完成位移、应变、表面缺陷、裂纹检测和流体场、温度场等 多种测试,因其通用性强、测量精度高、灵敏度高、频率范围宽、 测量迅速简便及全场实时测量等优点,近年来获得了快速发展。
( 4 ) 测量振动模态时不需要系统的传递函 数,所以对于大阻尼非线性结构的 振动 测量也非常有效;
( 5 ) 采用相减模式处理干涉散斑条纹,消除了一般杂散光的影响; 测试仪器可在较 强的环境光条件下工作 ,即可在太阳 光下工作 ,也可测量高温物体的振动。
因此 ,电子散斑干涉测试技术在振动测量方面有很好的应用前景 。
ESPI原理图
电子散斑干涉测振技术
电子散斑干涉法已广泛应用于振动测量和模态分析中 , 出现了多 种测振方法: 如时间平均法、双脉冲测振法和频闪测振法等。
激光散斑干涉电子测量
激光散斑干涉电子测量技术摘要:激光散斑干涉测量就是根据与物体变形有内在联系的散斑图, 将物体表面位移或变形测量出来。
介绍了激光散斑干涉技术的物理学基础、检测方法及其应用。
说明它是一种非常便捷、先进、并具有发展潜力的光测技术。
1. 引言用相干激光照射表面粗糙的物体, 按照惠更斯的原理, 在物体表面散射的光, 尤如无数新的点光源发出相干子波, 它们相互之间将产生相长或相消干涉。
在物体表面的前方空间出现无数随机分布的亮点与暗点, 形成一幅很复杂的散斑图。
人们发现, 散斑的尺寸和形状, 与物体表面的结构、观察位置、光源和光源到记录装置之间的光程等因素有关。
当物体表面位移或变形时, 其散斑图也随之发生变化, 物体散斑虽为随机分布。
但物体变形前、后散斑有一定规律, 且常有物体表面位移或变形的信息。
散斑干涉计量就是根据与物体变形有内在联系的散斑图, 将物体表面位移或变形测量出来。
2. 散斑干涉实验装置及原理散斑干涉实验原理示意图如图2-1所示,它将激光经过分光镜B 分出的两束激光经扩束后照射到另一块反射镜而与物体漫射光相汇合而形成干涉,前者是参考光,后者是物光。
图2-1 散斑干涉实验原理示意图如 物光的光强分布为:)(exp )()(r r u r U o o o Φ= (1) 其中)(0r u 是光波的振幅,)(0r Φ是经物体漫射后的物体光波的相位。
参考光的光强分布为:)(exp )()(r r u r U R R R Φ= (2)物光与参考光在CCD 靶面上汇合形成光强)(r I 为:)cos(2)(22R o R o R o u u u u r I φφ-++= (3)当被测物体发生变形后,表面各点的散斑场振幅)(r u o 基本不变,而位相)(r o φ将改变为)()(r r o φφ∆-,即[])()(exp )('r r r u U o o O φφ∆-=(4)其中ΔФ(r )为由于物体变形产生的相位变化。
电子散斑干涉法在结构内部缺陷检测中的应用研究的开题报告
电子散斑干涉法在结构内部缺陷检测中的应用研究的开题报告一、研究背景电子散斑干涉法是一种高分辨率、非接触性的测试方法,广泛应用于材料科学的组织结构分析、缺陷检测等领域。
近年来,电子散斑干涉法已经成为纳米材料和半导体微电子器件制造过程中不可替代的工具之一。
在材料科学领域,电子散斑干涉法可以用于评估材料内部缺陷的尺寸、形状和分布等参数。
例如,通过观察来自不同角度的电子散射图案,可以获得材料内部缺陷的三维形态,从而评估其对材料物理性质、力学性能等的影响。
在半导体微电子器件制造过程中,电子散斑干涉法可以帮助检测器件中的结构缺陷,例如晶体缺陷、晶界、氧化物、金属杂质等。
这些缺陷可能会导致电子设备的故障或性能下降,因此及早检测和处理缺陷对于提高设备质量和延长使用寿命至关重要。
二、研究目的本研究旨在探讨电子散斑干涉法在材料结构内部缺陷检测中的应用,具体包括以下方面:1. 探究电子散斑干涉法的基本原理和测试方法2. 研究电子散斑干涉法在材料结构中缺陷检测中的应用现状3. 分析电子散斑干涉法在材料结构内部缺陷检测中存在的问题4. 提出改进的方法和手段,优化电子散斑干涉法在材料结构内部缺陷检测中的应用效果三、研究内容和方法本研究将采用文献综述和实验研究相结合的方法,分为以下三个步骤:1. 文献综述通过搜集和分析相关文献,探究电子散斑干涉法的基本原理和测试方法,研究电子散斑干涉法在材料结构中缺陷检测中的应用现状,并分析电子散斑干涉法在材料结构内部缺陷检测中存在的问题。
2. 实验研究选取有代表性的材料样品,利用透射电子显微镜进行实验,观察并记录样品不同位置处的电子散射图案,利用散斑干涉法对样品结构中的缺陷进行检测,对结果进行分析和总结。
3. 结果总结在实验数据和文献综述的基础上,提出改进的方法和手段,优化电子散斑干涉法在材料结构内部缺陷检测中的应用效果。
最后,对本研究的实验和结论进行总结和评估。
四、研究意义本研究将有助于深入理解电子散斑干涉法的基本原理和测试方法,探索其在结构缺陷检测中的应用,为提高材料科学及微电子器件制造过程中结构缺陷检测技术的水平提供有益的借鉴和参考。
电子散斑干涉法测量金属表面受热变形的相关物理特性探究
技术结合起来, 利用高精度 的计算机图像采集 和处理系统来
测量和采集干涉图样. 电子散斑干涉技术是在激光 、 视频 、 电 子及数字 图像 处理等基础 上发展起来 的现代光 测技术 , 在
=
物理特性结合相关公 式进行验证推导 ,为下一步进行平行
度 的检测提 供实验 依据 和理论依 据 ,也 可 以 以此 绘制 出 C C D接 收散斑 干涉图利用 图像采 集卡对 图像进行采 集 , 送
1 4 U o u R s i n [ (  ̄ o - # R ) + A  ̄ ( r ) / 2 ] s i n ( A ( I 1 ) , 2 ) I
V0 1 . 2 9No . 8
Aug . 2 01 3
电子散斑干涉法测量金属表面受热变形的相关物理特性探究
彭小 兰 , 王红成 , 张 绍 强
( 东莞理 工学院 ,广 东 东莞
摘
5 2 3 8 0 8 )
要 :首先 简要介绍 了激光电子散斑干 涉测量的原理和激光散 斑的物理特性, 基 于这一基本原理搭建 了实验平台, 实
第2 9卷 第 8 期( 下)
2 0 1 3年 8月
赤 峰 学 院 学 报 (自 然 科 学 版 )
J o u na r l o f C h i f e n g U n i v e r s i t y( N a t u r a l S c i e n c e E d i t i o n )
其 中是激光 波长 , 0 是 激光与 物体表 面法线所 成 的夹 角, 是被测 物体形变 时产生 的离面位移 , 是物体形变 时产 生 的面 内位移.
激光散斑干涉电子测量技术
激光散斑干涉电子测量技术李康华(哈尔滨工业大学威海校区光电科学系,威海 264209)摘要:激光散斑干涉测量是根据与物体变形有内在联系的散斑图, 将物体表面变形测量出来。
本文介绍了激光散斑干涉技术的原理、检测方法及其应用。
从实验检测中,发现其是一种非常便捷、先进、并具有发展潜力的光测技术,能广泛应用在许多领域中,尤其是工业产品生产的领域中。
关键词:激光散斑干涉技术1 引言散斑现象早已被人们所熟悉,但是在激光问世之后才被深刻的了解,并且应用到许多的领域.激光是一种高度相干性的光源,当它照射在具有漫反射性质的物体表面,根据惠更斯理论,物体表面的每一点都可以看成一个点光源,从物体表面反射的光在空间相互叠加,就会在整个空间发生干涉,形成随机分布的,明暗相间的斑点,这些斑点成为激光斑点(speckle)[1].随着科技的发展,对散斑的深入研究,人们发现, 发现这些斑点的大小和位置虽然是随机分布,但是整体上斑点是符合统计学规律的。
在一点范围内,散斑场的运动是与物体表面上各点的运动一一对应的。
散斑的尺寸和形状, 与物体表面的结构、观察位置、光源和光源到记录装置之间的光程等因素有关。
当物体表面位移或变形时, 其散斑图也随之发生变化, 物体散斑虽为随机分布。
但物体变形前、后散斑有一定规律, 且常有物体表面位移或变形的信息。
散斑干涉计量就是根据与物体变形有内在联系的散斑图, 将物体表面位移或变形测量出来。
激光散斑干涉法测量物体变形,除了具备全息干涉法的非接触直观,可以遥感,全场性实时性外,还具备光路简单,对试件表面,实验条件要求不高,计算方便,精度可靠等特点[8-10]。
因此,激光散斑干涉电子测量技术在许多领域上都得到到了广泛的应用。
2 散斑干涉原理散斑干涉计量的全过程分为2 步: 第1 步应用相干光照射目标的粗糙表面, 记录目标表面位移信息的散斑图; 第2 步将记录的散斑图放在某一分析光路( 逐点分析或全场分析光路) 中, 把散斑图中传感的位移或变形信息分离出来, 进行定性或定量分析。
电子散斑干涉试验讲义
电子散斑干涉实验讲义(电子散斑干涉术测离面位移)1.引言电子散斑干涉术(ESPI)测离面位移具有实时、灵敏、全场测量等特点,在变形场测量、振型测量及工业无损检测方面具有广泛的应用。
2.实验目的了解电子散斑干涉原理、掌握干涉光路及图像处理软件。
对力学专业学生还可与板的理论分析进行验证。
3.基本原理图1是常用的均匀参考光光路图,它将分光镜B1分出的一小部分激光经扩束后照射到另一块半透半反镜而与物体漫射光相汇合而形成干涉,前者是参考光,后者是物光。
B 分光镜M:反射镜L1:扩束镜 L2: 成像透镜图 1。
电子散斑干涉术(ESPI )光路图物光的光强分布为:)(ex p )()(r r u r U o o o Φ= (1)其中)(0r u 是光波的振幅,)(0r Φ是经物体漫射后的物体光波的相位。
参考光的光强分布为:)(ex p )()(r r u r U R R R Φ= (2)物光与参考光在CCD 靶面上汇合形成光强)(r I 为:)cos(2)(22R o R o R o u u u u r I φφ-++= (3)当被测物体发生变形后,表面各点的散斑场振幅)(r u o 基本不变,而位相)(r o φ将改变为)()(r r o φφ∆-,即[])()(ex p )('r r r u U o o O φφ∆-= (4)其中ΔФ(r )为由于物体变形产生的相位变化。
变形前后的参考光波维持不变。
这样,变形后的合成光强)('r I 为:[])(cos 2)(22'r u u u u r I R o R o R o φφφ∆--++= (5)对变形前后的两个光强进行相减处理:)()('r I r I I -==[][])cos(2)(cos 22222R o R o R o R o R o R o u u u u r u u u u φφφφφ-++-∆--++ =2)(sin 2)()(sin 4r r u u R o R o ϕϕφφ∆⎥⎦⎤⎢⎣⎡∆-- (6)由式(6)可见,相减处理后的光强是一个包含有高频载波项⎥⎦⎤⎢⎣⎡∆--2)()(sin r R o ϕφφ的低频条纹2)(sin r ϕ∆。
散斑干涉技术在测量中的应用
散斑干涉技术在测量中的应用散斑干涉技术是一种基于光学干涉原理的测量技术,利用光波的干涉现象来实现对物体表面形貌、位移、振动等参数的测量。
该技术具有测量精度高、非接触性强、适用范围广等优点,在工业、科研等领域得到了广泛的应用。
本文将重点介绍散斑干涉技术在测量中的应用,包括表面形貌测量、位移测量和振动分析等方面。
一、表面形貌测量散斑干涉技术在表面形貌测量中具有独特的优势,可以实现对物体表面微小形貌的高精度测量。
通过散斑干涉技术,可以获取物体表面的三维形貌信息,包括表面的高程、曲率等参数。
这对于工件的质量控制、表面质量评估具有重要意义。
在实际应用中,散斑干涉技术常常与数字图像处理技术相结合,利用计算机对采集到的干涉图像进行处理和分析,从而得到物体表面的形貌信息。
通过对比不同时刻的干涉图像,可以实现对物体表面的形貌变化进行实时监测和分析,为工艺控制和质量检测提供重要依据。
二、位移测量散斑干涉技术在位移测量领域也有着重要的应用。
通过测量物体表面的位移信息,可以实现对物体运动、变形等参数的监测和分析。
散斑干涉技术可以实现对微小位移的高灵敏度检测,广泛应用于微位移传感、振动分析等领域。
在位移测量中,散斑干涉技术可以实现对物体表面微小位移的实时监测,具有高灵敏度和高分辨率的特点。
通过对散斑图像的处理和分析,可以获取物体表面的位移信息,并实现对物体运动状态的精确控制。
这对于机械系统的振动分析、结构健康监测等方面具有重要意义。
三、振动分析散斑干涉技术在振动分析领域也有着广泛的应用。
通过对物体表面的散斑图像进行采集和处理,可以实现对物体振动状态的实时监测和分析。
散斑干涉技术可以实现对物体振动的高精度测量,为振动分析和结构动力学研究提供了重要手段。
在振动分析中,散斑干涉技术可以实现对物体振动模式、频率等参数的准确测量,为结构的动态特性分析提供重要数据支持。
通过对散斑图像的时域和频域分析,可以获取物体振动的频谱信息,进而实现对振动源的诊断和分析。
电子散斑干涉实验报告
电子散斑干涉实验报告
一、实验目的
本实验旨在探究电子散斑干涉现象及其相关原理,并通过实际操作和测量数据来验证此理论。
二、实验设备
1.电子枪
2.电子束衍射仪
3.光学平台
4.数值计算软件
三、实验步骤
1.调整电子枪产生的电子束的方向和亮度。
2.在电子束衍射仪的屏幕上观察电子散斑现象。
3.将屏幕移动至不同位置,记录不同位置的散斑图样。
4.利用数值计算软件进行模拟,预测不同位置的散斑图样。
5.将实际测量值与预测值进行比对,分析误差。
四、实验结果
通过本实验,我们成功观察到了电子散斑干涉现象,并记录了不同位置的图样。
随后,我们利用数值计算软件进行模拟,得到了预测值,并将实测值与预测值进行比对。
实验数据表明,预测值与实测值非常接近,验证了此理论的正确性。
五、实验结论
本实验通过实际操作和测量数据,验证了电子散斑干涉理论的正确性。
同时,我们还了解了电子散斑干涉的相关原理和实验方法,这有助于深化我们对该理论的认识和使用。
六、实验注意事项
1.操作前需仔细了解实验原理和方法,确保操作正确。
2.实验过程中需注意对设备的保护,避免人为损坏。
3.需要记录正确的实验数据,并及时进行分析和比对。
4.实验后要彻底清洗设备和工作台,保持实验环境整洁。
七、参考文献
1.杨振宁等.理论物理学——量子力学[M].上海科学技术出版社,1994.
2.赵九章,等.计算光学[M].高等教育出版社,2006.
3.陈增强.物理实验指导[M].浙江大学出版社,2006.。
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实验四 电子散斑干涉测量散斑现象普遍存在于光学成像的过程中,很早以前牛顿就解释过恒星闪烁而行星不闪烁的现象。
由于激光的高度相干性,激光散斑的现象就更加明显。
最初人们主要研究如何减弱散斑的影响。
在研究的过程中发现散斑携带了光束和光束所通过的物体的许多信息,于是产生了许多的应用。
例如用散斑的对比度测量反射表面的粗糙度,利用散斑的动态情况测量物体运动的速度,利用散斑进行光学信息处理、甚至利用散斑验光等等。
激光散斑可以用曝光的办法进行测量,但最新的测量方法是利用CCD 和计算机技术,因为用此技术避免了显影和定影的过程,可以实现实时测量的目的,在科研和生产过程中得到日益广泛的应用。
一、实验原理1.激光散斑的基本概念激光自散射体的表面漫反射或通过一个透明散射体(例如毛玻璃)时,在散射表面或附近的光场中可以观察到一种无规分布的亮暗斑点,称为激光散斑(laser Speckles )或斑纹。
如果散射体足够粗糙,这种分布所形成的图样是非常特殊和美丽的(对比度为1),如图1。
激光散斑是由无规散射体被相干光照射产生的,因此是一种随机过程。
要研究它必须使用概率统计的方法。
通过统计方法的研究,可以得到对散斑的强度分布、对比度和散斑运动规律等特点的认识。
图2说明激光散斑具体的产生过程。
当激光照射在粗糙表面上时,表面上的每一点都要散射光。
因此在空间各点都要接受到来自物体上各个点散射的光,这些光虽然是相干的,一种散斑场是在自由空间中传播而形成的(也称客观散斑),另一种是由透镜成象形成的(也称主观散斑)。
在本实验中我们只研究前一种情况。
当单色激光穿过具有粗糙表面的玻璃板,图1 经CCD 采集的散斑图象在某一距离处的观察平面上可以看到大大小小的亮斑分布在几乎全暗的背景上,当沿光路方向移动观察面时这些亮斑会发生大小的变化,如果设法改变激光照在玻璃面上的面积,散斑的大小也会发生变化。
由于这些散斑的大小是不一致的,因此这里所谓的大小是指其统计平均值。
它的变化规律可以用相关函数来描述。
散斑的大小、位移及运动是有规律的,它可以反映激光照明区内物体及传播介质的物理性质和动态变化。
2. 激光散斑光强分布的相关函数的概念如图3所示激光高斯光束(参见附录1)投射在毛玻璃上(ξ,η),在一定距离处放置的观察屏(x ,y )上的形成的散斑的光强分布为I(x ,y )。
(1)自相关函数假设观察面任意两点上的散斑光强分布为I(x 1,y 1),I(x 2,y 2),我们定义光强分布的自相关函数为:G (x 1,y 1;x 2,y 2)=〈I(x 1,y 1) I(x 2,y 2) 〉 (1)其中I(x 1,y 1)表示观察面上任一点Q 1的光强,I(x 2,y 2)表示观察面上另一点Q 2上的光强,〈〉表示求统计平均值。
根据光学知识我们知道:I (x ,y )=U (x ,y )U *(x ,y ) (2)式中U(x ,y )表示光场的复振幅。
当玻璃板表面足够粗糙(毛玻璃)时,根据散斑统计学的理论我们可以得到如下的公式:G (x 1,y 1;x 2,y 2=<I(x 1,y 1)><I(x 2,y 2)>+|<U(x 1,y 1)U *( x 2,y 2)>|2 (3)=<I>2[ 1+μ( x 1,y 1;x 2,y 2)]式中μ( x 1,y 1;x 2,y 2)=|<U(x 1,y 1) U *( x 2,y 2) >|2/<I>2称做复相干系数。
由于激光器出射的光斑为高斯分布的(参见附录1),根据衍射理论可推出其复相干系数为:μ( x 1,y 1;x 2,y 2) =exp[-(∆x 2+∆y 2)/S 2] (4)式中∆x =(x 2-x 1),∆y =(y 2-y 1),(3)式化为:G(∆x ,∆y )=<I>2[1+ exp(-(∆x 2+∆y 2)/S 2)] (5)进行归一化处理,可以得到归一化的自相关函数为:(6) 其中S 的意义即代表散斑的平均半径。
这是一个以1为底的高斯分布函数。
从附录2中可以知道S 与激光高斯光斑半径W (在毛玻璃上的光斑)的关系式为W P S πλ/2= (7)因此测量出S 的大小就可以求出W 。
(详细推导方法用菲涅尔衍射公式,参见附录2)(2)两个散斑场光强分布的互相关函数:假设观察面任意一点Q 1上的散斑光强分布为I(x 1,y 1),当散射体发生一个变化后(如散射体发生一个微小的平移220ηξd d d +=)观察面任意一点Q 2上的散斑光强分布为]/)(exp[1/)(),(222S y x I x G y x g ∆+∆-+>=<∆=∆∆I’ (x 2,y 2)我们定义光强分布的互相关函数为:G C (x 1,y 1;x 2,y 2)=〈I(x 1,y 1) I’(x 2,y 2) 〉 (8)同上面一样有:I (x ,y )=U (x ,y )U *(x ,y )I ‘(x ,y )=U ’( x ,y )U’*(x ,y )式中U(x ,y )和U ‘(x ,y )分别表示两个散斑光场的复振幅。
根据散斑统计学的理论我们可以得到如下的公式:G C (x 1,y 1;x 2,y 2)=〈I‘(x 1,y 1)〉〈I(x 2,y 2)〉+|〈U ’(x 1,y 1)U *( x 2,y 2)〉|2 (9)=〈I〉2[ 1+μC (x 1,y 1;x 2,y 2)]式中μC (x 1,y 1;x 2,y 2)=|〈U ‘(x 1,y 1) U *( x 2,y 2) 〉|2/〈I〉2称做复互相干系数。
根据衍射理论可推出其复相干系数为:式中∆x =(x 2-x 1),∆y =(y 2-y 1)所以,两个散斑场的互相关函数为:}]))(/1([ex p{}]))(/1([ex p{1{),(22122122S P P d y S P P d x I y x G C ρρηξ++∆-++∆-+>=<∆∆ (10)进行归一化处理,可以得到归一化的互相关函数为:由此公式可知归一化的互相关函数是以1为底的峰值位置在:()[]()[]121211P /P d y ,P /P d x ρ∆ρ∆ηξ+-=+-= (11)的两维高斯分布函数。
二、实验目的1)、掌握干涉散斑测量的原理及应用领域;2)、学习散斑干涉测量软件的使用;3)、学会图像相减、二值化、腐蚀算法的处理方法。
三、实验装置1、被测物体被测物体有两个,一是通电加热的被测物体1,一是手动调节的被测物体2,二者都是为了产生一定量的形变。
被测物体1的主体是60mm ⨯ 60mm ⨯15mm 的金属铝块,其上部有三根电阻丝,接}]))(/1([ex p{}]))(/1([ex p{),;,(2122122211S P P d y S P P d xy x y x C ρρμηξ++∆-++∆-=}]))(/1([ex p{}]))(/1([ex p{1),(2212212S P P d y S P P d x y x g C ρρηξ++∆-++∆-+=∆∆通电源后,电阻丝发热,铝块受热膨胀,使得被测物体表面产生形变,上面较高,下面较低,呈梯形。
附带变压器,可调范围为0伏-110伏。
调节的电压越高,物体形变越快,注意防止物体形变过快,以至妨碍实验效果.注意,在开始新的实验之前,要确定被测物体是经过冷却的。
注意:在被测物体接通电源后,尽量避免与身体接触。
在测试阶段得到的一次实例数据如下,相应示意曲线见下图(电压为最大,即110V ,环境温度为22℃):(1)温度形变试件 (2)压力形变试件图4 被测试件被测物体2是靠手动调节产生形变的,正面上部的金属片接受激光的照射,背面上部的螺丝用来粗调,下面的螺旋测微器旋钮用来细调。
2激光器采用He-Ne 激光器,功率为1.5mW ,波长632.8 nm ,附有专用电源。
3外部光路由透镜、反射镜等组成透镜组,完成分光、反射、成像、产生光斑等功能。
4探测系统采用黑白CCD摄像机,有效象素数不低于752(H)⨯582(V)。
5数据处理数据收集采用黑白图像采集卡,NTSC制信号,分辨率设定为640 ⨯480 ⨯16位。
图像的实时显示、过程控制、数据的分析及处理由配套软件完成。
计算机的分辨率推荐调整为1024 ⨯768 ⨯16位,此时效果最好.打印机推荐为彩色打印机。
四、实验内容1. 摄像机的安装打开包装后,摘下镜头盖,将后面板的“AI DRWER”调至“Video”一端;将视频电缆的一端(带有旋转槽)连接到后面板的视频输出接口(标有“VIDEO OUT”字样),另一端在安装图像采集卡后连接到图像采集卡的视频输入接口(标有“VIDEO-IN-0”字样,此接口通常为红色);取出摄像机配套的变压器,一端连接在摄像机后面的电源接口(摄像机后面板左上角,标有“DC 12V IN”字样),一端连接电源插座。
然后取出SZ-11型二维平台(在平台的载物平台上标有“SZ-11”字样),放松金属杆,将摄像机放在载物台上,调节金属杆的长度,使之适合摄像头,然后旋紧手扭固定金属杆,调节上面的手钮来固定摄像机。
五、软件使用方法软件安装后,从计算机“开始”菜单处选择“程序”组中的“ESPI“组,执行”XGS-I型电子散斑干涉实验”项,即可启动XGS-I的控制处理系统.1.工作界面介绍进入系统后,首先看到的是主界面。
(如下图)图表1 主界面主界面主要由菜单栏、工具栏、图像列表区、工作区和说明区等组成.1.1菜单栏菜单栏中有“文件”、“控制”、“图形处理”、“设置”、“帮助”等菜单,单击这些菜单项可弹出下拉菜单,利用这些菜单即可执行软件的大部分命令.下面分别介绍菜单栏中的各个菜单.1.“文件”菜单⊕“打开图片” 打开某一幅待处理的图像⊕”打开组图“ 打开一组图像,即同一文件夹里的图像⊕“打印设置” 设置打印机的属性及打印参数⊕“保存到” 保存某一图像到指定的路径⊕“退出” 退出控制处理系统2.“控制”菜单⊕“开始” 开始实时显示CCD采集的图像⊕“暂停” 暂停实时显示CCD采集的图像⊕“停止” 停止实时显示CCD采集的图像⊕“抓图并保存” 抓取屏幕上的图像,加入到左边的图像中,并且保存到指定的路径3.“图形处理”⊕“清空界面” 清除当前实验的数据,⊕“图像相减” 对两幅图像进行相减处理⊕“二值化“ 对某一图像进行二值化处理⊕“拟合处理” 对某一图像进行拟合处理,可以选择自动或手动4.“设置”菜单⊕“采图方式” 设置自动采图或手动采图⊕“采图速度“ 设置自动采图时候的采图速度⊕“保存路径” 设置保存实验数据的路径⊕“组图名称” 设置保存图像的文件夹名称5.“帮助”菜单⊕“关于ESPI”显示版本信息及公司主页1.2工具栏软件提供了一个工具栏,由一组工具按钮组成,分别对应某些菜单项或菜单命令的功能,用户只需用鼠标左键单击按钮,就可以执行对应的操作或功能.如图,从左至右功能分别为:保存,打开单个图像,打开组图,开始采集,暂停,停止,清空界面,图像相减,二值化,手动拟合,自动拟合,版本信息.1.3工作区工作区实时显示图像,和一些图像的信息,和一些系统的信息.1.4说明区说明区根据用户不同的操作,给予不同的提示和说明,也有相关的命令按钮,方便更改某些参数.1.5快捷键F1 “开始”F2 “暂停”F3 “停止”F4 “抓图并保存”F5 “清空界面”Ctrl + G “打开组图”Ctrl + O “打开图片”Ctrl + X “退出”按Alt键可以激活菜单栏,再按菜单项中注明的字母可以弹出对应的下拉菜单,按菜单中选项旁注明的字母,可以执行相应的操作或功能(与Windows标准操作一致).2.操作步骤2.1基本设置控制程序工作的默认显示器的参数为1024⨯768⨯16位,用户应在运行控制程序之前修改,当运行控制程序会检查当前的显示器的参数,若与上述不符,则在提示后修改。