电磁兼容性试验
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转移阻抗：装有衬垫的两连接面之间的电位差 与流经衬垫表面电流的比值。
11.2 屏蔽效能测试
Zt＝Vo/ IS ()
Vo──两连接面之间的电位差 (V)； IS──流经衬垫一表面的电流 (A)。
随着材料Zt值的下降，经它耦合输出的电压将减小，表明
衬垫屏蔽质量来自百度文库。
屏蔽质量SQdB： SQdB=20lg(ZW/Zt) (dB
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
机箱机柜屏蔽效能开阔试验场的测试配置
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
a. 试验用的辐射源是内置电源的球形偶极子(放大 器)，工作状态经光纤控制。也可用内置电源的球 形偶极子梳状信号振荡器。 b. 测量天线采用双锥天线和对数周期天线，高度 位置在1~4 m内调整，极化可在水平和垂直两者 之间切换。 c. 被测箱柜安放在自动测试转台上。箱柜底面到 接地基准面的高度10 cm。 d. 从偶极子中心到双锥天线中心(或对数周期天 线前端)的水平距离为3 m。
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量
窗口法
屏蔽室门
R&S FSP30频谱仪
l
l
发射天线
接收天线 测试窗口
被测试样材料 信号源+功放
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量 窗口法
11.2 屏蔽效能测试
➢导电衬垫的屏蔽性能测量
转移阻抗的测试 转移阻抗和屏蔽质量：对导电衬垫的电磁密封 性能进行客观定量评价
➢ 提供产品实际的电磁发射和敏感度数据， 以便用户日后进行全寿命监控。
11.1 电磁兼容性试验类型
➢电磁干扰三要素
骚扰源
传输途径
敏感设备
EUT
空间辐射的电磁波 导线传导的电压电流
EUT
任何电子电气设备都可能是骚扰源，也可能是敏感 设备。
11.1 电磁兼容性试验类型
➢屏蔽效能测试 • 电源变压器漏磁及屏蔽盒/箱屏蔽效能测试 • 材料屏蔽效能及转移阻抗测试 ➢电子产品电磁兼容性测试 • 辐射发射（电场、磁场） • 辐射抗扰度（电场、磁场） • 传导发射（射频发射、电源谐波） • 传导抗扰度（射频、电快速脉冲、浪涌） • 静电放电（直接、感应）
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
e. 球形偶极子借助绝缘介质定位于被测箱柜的中 央。被测箱柜内不得增设额外金属构件。被测箱 柜结构空腔谐振可能导致某些畸小的屏蔽效能值， 数据处理时应剔除。 f. 运行自动测试系统。频率从30 MHz开始按 5 MHz步距递增；转台以小于45转角增量步进转 动；天线按偶极子同样的极化取向，并沿着高度 方向上下升降、搜索。测量箱柜泄漏信号E1的整 个过程及数据处理由计算机控制。 g. 同时改变偶极子辐射器和测试天线的极化，重 复f条，测量另一组泄漏信号E1 ' 。
➢屏蔽效能(SE)通常以分贝表示： SEEdB=20lg(E0/E1) 或 SEHdB=20lg(H0/H1)
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
➢根据IEC TS 615873规定，19英寸标准柜机 柜屏蔽效能的测量可在开阔试验场或射频暗室 内进行。
➢测量频率范围30 MHz~1 GHz。该标准规定 的屏蔽效能指标：230 MHz以下，60 dB； 230 MHz ~1 GHz，50 dB。
ZW──取自由空间的波阻抗。
“屏蔽质量”给出的分贝值明显高于人们所熟悉的“屏蔽
效能”值
主要内容
11.1 电磁兼容性试验类型 11.2 屏蔽效能测试 11.3 电子产品电磁发射测试 11.4 电子产品电磁敏感度测试 11.5 静电放电测试 11.6 测试仪器和设施、场地
试样接合面的配合质量会影响测量结果，测量 时应将试样紧密压在耦合窗口上。
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量 时域法
此方案需要一块面积很大的试样材料，否则电磁波将绕 过试样边缘到达接收天线，造成测量误差。假如试样材 料面积较小，可用一块足够大的薄铜板代替，板上开直 径7.6 cm的测试圆孔，试样材料覆盖在该测试孔上测量。
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量 小线圈法 主要用于测量材料对近磁场的屏蔽效能
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量
同轴法 同轴线内的电场与磁场相互正交，且垂直 于电磁波的传播方向。
11.2 屏蔽效能测试
11. 屏蔽效能测试
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量 孪生横电磁波室法
电磁兼容性试验
主要内容
11.1 电磁兼容性试验类型 11.2 屏蔽效能测试 11.3 电子产品电磁发射测试 11.4 电子产品电磁敏感度测试 11.5 静电放电测试 11.6 测试仪器和设施、场地
11.1 电磁兼容性试验类型
➢测试目的
➢通过测试鉴别产品是否符合电磁兼容性 标准或规范。
➢通过测试暴露产品设计及生产过程中在 电磁兼容性方面的薄弱环节，以便在进行 后续程序之前及早采取改进措施。
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量
时域法
对低于160 MHz的频率，被测材料已处于近场 范围，它的存在对源天线本身会产生影响。因 此该系统远场条件的测试频率是200 MHz以上， 可测上限频率为3.5 GHz。
该系统的测试动态范围仅50~60 dB，所以不适 用于高性能屏蔽材料的测量。
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
h. 撤去被测箱柜，仅将偶极子留在e条中原空间 位置。重复f、g条，测量无箱柜时的一组偶极子 辐射信号E0和E0'。在f~h条进行过程中应当确保 偶极子辐射器输出幅度不变。 i. 根据采集的E0、E1和E0'、E1'，对被测箱柜的垂 直和水平极化屏蔽效能作出评价。
主要内容
11.1 电磁兼容性试验类型 11.2 屏蔽效能测试 11.3 电子产品电磁发射测试 11.4 电子产品电磁敏感度测试 11.5 静电放电测试 11.6 测试仪器和设施、场地
11.2 屏蔽效能测试
➢屏蔽效能测试基本原理
➢根据屏蔽效能的定义，先分别测出同一点场 强在屏蔽前(例如电场强度E0)和屏蔽后(例如电 场强度E1)的值，再由两者比值确定屏蔽效能。
11.2 屏蔽效能测试
Zt＝Vo/ IS ()
Vo──两连接面之间的电位差 (V)； IS──流经衬垫一表面的电流 (A)。
随着材料Zt值的下降，经它耦合输出的电压将减小，表明
衬垫屏蔽质量来自百度文库。
屏蔽质量SQdB： SQdB=20lg(ZW/Zt) (dB
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
机箱机柜屏蔽效能开阔试验场的测试配置
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
a. 试验用的辐射源是内置电源的球形偶极子(放大 器)，工作状态经光纤控制。也可用内置电源的球 形偶极子梳状信号振荡器。 b. 测量天线采用双锥天线和对数周期天线，高度 位置在1~4 m内调整，极化可在水平和垂直两者 之间切换。 c. 被测箱柜安放在自动测试转台上。箱柜底面到 接地基准面的高度10 cm。 d. 从偶极子中心到双锥天线中心(或对数周期天 线前端)的水平距离为3 m。
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量
窗口法
屏蔽室门
R&S FSP30频谱仪
l
l
发射天线
接收天线 测试窗口
被测试样材料 信号源+功放
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量 窗口法
11.2 屏蔽效能测试
➢导电衬垫的屏蔽性能测量
转移阻抗的测试 转移阻抗和屏蔽质量：对导电衬垫的电磁密封 性能进行客观定量评价
➢ 提供产品实际的电磁发射和敏感度数据， 以便用户日后进行全寿命监控。
11.1 电磁兼容性试验类型
➢电磁干扰三要素
骚扰源
传输途径
敏感设备
EUT
空间辐射的电磁波 导线传导的电压电流
EUT
任何电子电气设备都可能是骚扰源，也可能是敏感 设备。
11.1 电磁兼容性试验类型
➢屏蔽效能测试 • 电源变压器漏磁及屏蔽盒/箱屏蔽效能测试 • 材料屏蔽效能及转移阻抗测试 ➢电子产品电磁兼容性测试 • 辐射发射（电场、磁场） • 辐射抗扰度（电场、磁场） • 传导发射（射频发射、电源谐波） • 传导抗扰度（射频、电快速脉冲、浪涌） • 静电放电（直接、感应）
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
e. 球形偶极子借助绝缘介质定位于被测箱柜的中 央。被测箱柜内不得增设额外金属构件。被测箱 柜结构空腔谐振可能导致某些畸小的屏蔽效能值， 数据处理时应剔除。 f. 运行自动测试系统。频率从30 MHz开始按 5 MHz步距递增；转台以小于45转角增量步进转 动；天线按偶极子同样的极化取向，并沿着高度 方向上下升降、搜索。测量箱柜泄漏信号E1的整 个过程及数据处理由计算机控制。 g. 同时改变偶极子辐射器和测试天线的极化，重 复f条，测量另一组泄漏信号E1 ' 。
➢屏蔽效能(SE)通常以分贝表示： SEEdB=20lg(E0/E1) 或 SEHdB=20lg(H0/H1)
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
➢根据IEC TS 615873规定，19英寸标准柜机 柜屏蔽效能的测量可在开阔试验场或射频暗室 内进行。
➢测量频率范围30 MHz~1 GHz。该标准规定 的屏蔽效能指标：230 MHz以下，60 dB； 230 MHz ~1 GHz，50 dB。
ZW──取自由空间的波阻抗。
“屏蔽质量”给出的分贝值明显高于人们所熟悉的“屏蔽
效能”值
主要内容
11.1 电磁兼容性试验类型 11.2 屏蔽效能测试 11.3 电子产品电磁发射测试 11.4 电子产品电磁敏感度测试 11.5 静电放电测试 11.6 测试仪器和设施、场地
试样接合面的配合质量会影响测量结果，测量 时应将试样紧密压在耦合窗口上。
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量 时域法
此方案需要一块面积很大的试样材料，否则电磁波将绕 过试样边缘到达接收天线，造成测量误差。假如试样材 料面积较小，可用一块足够大的薄铜板代替，板上开直 径7.6 cm的测试圆孔，试样材料覆盖在该测试孔上测量。
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量 小线圈法 主要用于测量材料对近磁场的屏蔽效能
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量
同轴法 同轴线内的电场与磁场相互正交，且垂直 于电磁波的传播方向。
11.2 屏蔽效能测试
11. 屏蔽效能测试
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量 孪生横电磁波室法
电磁兼容性试验
主要内容
11.1 电磁兼容性试验类型 11.2 屏蔽效能测试 11.3 电子产品电磁发射测试 11.4 电子产品电磁敏感度测试 11.5 静电放电测试 11.6 测试仪器和设施、场地
11.1 电磁兼容性试验类型
➢测试目的
➢通过测试鉴别产品是否符合电磁兼容性 标准或规范。
➢通过测试暴露产品设计及生产过程中在 电磁兼容性方面的薄弱环节，以便在进行 后续程序之前及早采取改进措施。
11.2 屏蔽效能测试
➢平板型材料电磁屏蔽效能的测量
时域法
对低于160 MHz的频率，被测材料已处于近场 范围，它的存在对源天线本身会产生影响。因 此该系统远场条件的测试频率是200 MHz以上， 可测上限频率为3.5 GHz。
该系统的测试动态范围仅50~60 dB，所以不适 用于高性能屏蔽材料的测量。
11.2 屏蔽效能测试
➢机箱机柜电磁屏蔽效能的测量
h. 撤去被测箱柜，仅将偶极子留在e条中原空间 位置。重复f、g条，测量无箱柜时的一组偶极子 辐射信号E0和E0'。在f~h条进行过程中应当确保 偶极子辐射器输出幅度不变。 i. 根据采集的E0、E1和E0'、E1'，对被测箱柜的垂 直和水平极化屏蔽效能作出评价。
主要内容
11.1 电磁兼容性试验类型 11.2 屏蔽效能测试 11.3 电子产品电磁发射测试 11.4 电子产品电磁敏感度测试 11.5 静电放电测试 11.6 测试仪器和设施、场地
11.2 屏蔽效能测试
➢屏蔽效能测试基本原理
➢根据屏蔽效能的定义，先分别测出同一点场 强在屏蔽前(例如电场强度E0)和屏蔽后(例如电 场强度E1)的值，再由两者比值确定屏蔽效能。