XJ4810图示仪使用说明.pdf
实验一常用仪器的使用（示波器、万用表）
实验⼀常⽤仪器的使⽤（⽰波器、万⽤表）实验⼀、常⽤电⼦仪器仪表使⽤模拟电⼦技术实验中，常⽤的电⼦仪器仪表主要有双踪⽰波器、低频信号发⽣器、低频交流毫伏表、直流稳压电源、万⽤表等。
这些仪器仪表的主要⽤途以及与实验电路的联系如图所⽰。
⼀、实验⽬的初步了解常⽤电⼦仪器的功能与使⽤⽅法；掌握⽤⽰波器获取稳定波形并测量有关参数的⽅法。
2、会⽤万⽤表测试晶体⼆极管、三极管；学习使⽤半导体特性图⽰仪测试晶体管的⽅法。
⼆、实验仪器双踪⽰波器： GOS620；函数信号发⽣器：SG1651；交流毫伏表： SG2172；直流稳压电源： SS1792C；数字万⽤表： MS8222D 半导体特性图⽰仪：XJ4810或XJ4820三、实验内容及步骤1、⽤交流毫伏表测量低频信号发⽣器输出的正弦信号电压：将低频信号发⽣器（或称信号源）的输出端接⾄交流毫伏表输⼊端（注意：两仪器必须“共地”）。
将信号源波形选择置“正弦”，频率调为“ 1kHz”，输出衰减先置于“0dB”，调节“输出幅度”旋钮，使LED数字表头指⽰值V S 为 11V 左右（峰—峰值）。
然后，将毫伏表量程由最⼤档位100V逐级切换为10V档，观察该表读数，使读数为4V。
依次按下信号源“输出衰减”⾄20dB、40dB、60dB,并相应调整毫伏表量程。
分别记录毫伏表读数，结果填⼊下表：2、⽤⽰波器观察波形将⽰波器“ Y1轴输⼊”端接信号源输出端（两仪器仍必须“共地”），参照附录I.2中有关GOS620双踪⽰波器观察波形的⽅法，调节“Y1灵敏度”，“X灵敏度”及“触发⽅式，触发电平”等旋钮，使荧光屏上得到⼀稳定的正弦波。
保＝ 4V，依次改变f S为：100Hz、1kHz、10kHz、100kHz，并适当持信号源VS调整X轴扫描速度，观察所测波形。
3、⽤⽰波器测量波形的周期和幅度将频率为 1kHz、幅度为3V左右的正弦信号送⼊⽰波器输⼊端。
将⽰波器扫描开关“T/cm”上的微调旋钮置“校准”位置，此时，“T/cm”的指⽰值即为屏幕上横向每格（1cm）代表的时间，再观察被测波形⼀个周期在屏幕⽔平轴上占据的格数，即可得信号周期T wT w ＝T/cm×格数调节⽰波器 Y通道的灵敏度开关“V/cm”，使屏幕上的波形⾼度适中，此时，“V/cm”的指⽰值即为屏幕上纵向每格代表的电压值，再观察波形的⾼度（峰—峰）在屏幕纵轴上占据的格数，即可得信号幅度V （峰—峰）：V （峰—峰）＝V/cm×格数注意：被测信号若经⽰波器 10:1探头输⼊，测得的电压值再乘10，才是实际值。
晶体管特性图示仪教程详解
检查放大器增益 检查阶梯信号
阶梯信号
9.3.4 测试特性前各开关、旋钮 位置选取
由管型确定的旋钮位置 1 集电极扫描信号。“极性”开关：用来改变
扫描电源对地的极性。 2 基极阶梯信号。“极性”开关：根据被测 管的
不同类型，可以改变阶梯信号的正负极性。
与管型无关的扳键、旋钮 阶梯作用，置于重复位置；级/秒为200级/s；级/族 为
测试台 将测试选择位于中间位置，接地开关置于需要的位
9.3.5 测试前注意事项
要对被测管的主要直流参数有一个大概的了解 和估计，特别要了解被测管的集电极最大允许 耗散功率PCM、最大允许电流ICM和击穿电压 BUCEO、BUCBO、ＢUEBO。 选择好扫描和阶梯信号的极性，以适应不同管 型和测试项目的需要。 根据所测参数或被测管允许的集电极电压，选 择合适的扫描电压范围。 对被测管进行必要的估算。 在进行ICM的测试时，一般采用单簇为宜，以 免损坏被测管。
置“簇”时，通过电子开关自动地交替显示左右二簇特性曲线。 使
用时“级∕簇”应置于适当位置，以利于观察。二簇特性曲线比 较
时，请勿误用单簇按键。 零电压、零电流。被测管未测之前，应先调整阶梯信号
的起始级在零电平的位置。
按下“零电流”键时，被测半导体管的基极处于开路状态， 就能 测量ICEO特性。
(2)左右测试插座插孔：插上专用插座，可测试F1、F2型管座 的功率晶体管。
(2) Y轴增益。校正Y轴增益用。
(3)Y轴选择（电流∕度）开关。具有22挡四种 偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基 极电压、基极电流和外接的不同转换。
(4)电流∕度×0.1倍率指示灯。灯亮仪器表示进 入电流∕度×0.1倍工作状态。
X轴部分
BJT直流参数测试
BJT、MOS直流参数测试实验顺序及注意事项1、复习指导书2、熟悉仪器（不开机）3、将功耗电阻调至合适位置，一般1k左右即可。
将集电极电压档调回到最小的档位.4、根据晶体管类型，设置正常工作状态下的偏置电压。
5、仪器调零（将基区零点、集电区零点分别在显示屏上显示,然后将之调至相同位置,注意,非调x、y轴位置旋钮——>这同时“等幅度"调整了两者显示位置，故为非调零）6、先调出正确的输出特性曲线，完成此步骤后，再测试指导书中的各项实验内容.为有效调出输出特性曲线时，注意：A．各极的正负偏置最重要(理论上自己分析正负）B、然后才是所施加电压大小C、没有输出特性曲线,可能偏置错误，也可能是管子尚未开启.此外，常见导致问题包括:1）. 测试击穿电压或击穿电流时，因击穿电流较大，此时应“及时回调”，否则热击穿的话，需重新测试所有数据。
2）。
所用晶体管管脚易断，实验时管脚需要弯曲的话,应使其“弯曲点"远离封的装壳。
3)。
实验中若旋钮旋不动，则表明已调到最大或最小量程。
此时，“若”因旋钮指示的位置和面板上标示的最大/最小位置对不上，仍表明其所在位置为最大/最小量程档，此时，切勿“继续"用力用力旋拧，否则将导致旋钮故障进而无法继续实验！4). I C要保证较小，因所测对象是小功率管，一般1mA以下足够,勿太高（某些同学毫无概念甚至调到几百mA）,这样很容易烧掉导致数据作废。
5）. 实验中，切换量程时（尤其是集电极电压换量程时），务必注意需先将旋钮旋到最小，再换量程,经常的错误是直接换量程，导致的问题是：1）、电流过大,器件部分烧坏(现场检查或实验报告检查时，特性曲线与记录不一致，影响成绩）; 2）、器件完全烧毁（如此数据全部作废）；3）、更严重情况是仪器烧毁（成绩零）。
该情况试验中经常出现,特别提醒注意。
6).所测电流较大时，注意功耗电阻要增加,否则易烧.7）.实验完毕，将各电阻调到最大,量程档调至最小，关机。
XJ4810型图示仪故障分析与维修三例
向 超 差 （ 正 一 负 ） ， 可参 照 解 决 偏转 因数 负 超 一 时 均 轴
差 的方 法 予 以解 决 。
例 二 ： 、 轴 偏 转 因数 同时 出现 负 超 差 ｙ
图 １ Ｘ轴 放 大 器 局 部 图
１故 障现 象 ．
此 时 的 轴 放 大 器 处 在 一 种 放 大 量 不 足 的 工 作 状 态 。据 此 情 况 ， 析 判 断放 大 器 不存 在 硬 伤 （ 器 件 损 分 元 坏 ） 而 应 是 由软 伤 （ 器 件 值 变 ） ， 元 引起 的 。 比如 轴 增
超 过± ％ ） ３ 。
２故 障 分 析 及 解 决 办 法 ．
、
ｙ 放 大 器 的 电 路 结 构 基 本 相 同 ， 时 ｙ 放 轴 此 轴
调 节 增 益 电位 器 １ １ 解 决 不 了 Ｗ 仍 轴 偏 转 因 数 超 差 问
题 时 ， 过 调节 新 接 人 的４７ Ｑ电位 器 即 可解 决 问题 。 通 ．ｋ
超差 。
解 决 方 法 一 ： Ｒ ５ 称 值 为 １ ｋ ， 更 换 一 新 精 若 ４标 ２Ｄ ，
解 决 此类 问题 的 经验 方 法 ， 参 考 。 供 例一 ： 偏 转 因数 负 超 差 轴
１故 障现 象 ．
密 电 阻 ， 图 示 仪 校 准 仪 对 图 示 仪 重 新 校 准 ， 节 增 用 调
ｈ ｐ ／ ｖ，ｃ ｉ ｊ ｏ ． ｔ ： ￣ ｈ ａ ． ｒ ｃ ｔ／ ｖ ｎ １ ｎ ｗ ｃ
１３ １
维普资讯
技术篇 Ｉ检定、 使用与调修
无 异常 ， 返 回分 别 检查 、 轴 放大 器 ， 再 ｙ 查找 故 障点 。 检
查 发 现校 准 电压 、 个 低 压 供 电 电源 数 值 正 常 ， 波 管 各 示
晶体管特性图示仪
➢其波形变换如图7-4所示，利用三个不同周期的方波
T1、T2、T3相加而得。
➢此时Tl :T2:T3=l:2:4，幅度为U1:U2:U3=1 : 2:4。
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图7-4 阶梯波合成波形
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7.1晶体管特性图示仪简介 7.2晶体管特性图示仪的应用
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第7章 晶体管特性图示仪
本章要点 ▪ 晶体管特性图示仪的组成及原理框图 ▪ 晶体管特性曲线的测量方法 ▪ 用晶体管特性图示仪测量二极管、三极管
和场效应管
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位置，S7接测量位置，得到如图7-7所示的等效电 路，也称为动态测量电路。
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图7-7晶体管图示仪的等效电路
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➢阶梯阶电梯流波I电B。压加入到基极回路，通过RB形成基极 ➢最集大电值极，扫然描后电又压降的至零变；化使uCE可以自动从零增至
后，可得到被测晶体管的输出特性曲线，如图7-6 的波形图。
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上面采用的方法是逐点逐点测量的。
➢用晶体管图示仪，如图7-1将S5接通“+”（NPN
扫频仪与晶体管特性图示仪分析
¡ 宽带检 波
¡ 扫频输 出
图6—2 扫频测量法测量幅频特性曲线原理框图
6.1.2 扫频仪常用的基本概念及分类
· 1．常用的基本概念 1 扫频宽度 扫频所覆盖的频率范围内最高频率 与最低频率之差。 2 中心频率 位于显示频谱宽度中心的频率。 3 频偏 调频波中的瞬时频率与中心频率的差。 4 调制非线性 指在屏幕显示平面内产生的频率 线性误差，表现为扫描信号的频率分布不均匀。
· 6.2.2 使用方法 BT3型频率特性测试仪的面板图如图6—7所示。
图6-7 BT3型频率特性测试仪的面板图
· (1)“电源、辉度”：电源开关及波形亮度调节旋钮。 · (2)“聚焦”：波形清晰度的调节旋钮。 · (3)“标尺亮度”：坐标刻度的亮度调节旋钮。 · (4)“鉴频”：置于“＋”时，荧光屏上显示正方向的幅频特性；置于“－”时， 显示负方向的幅频特性。 · (5)“Y轴位置”：波形作上下移动调节旋钮。 · (6)“Y轴衰减”：分1、10、100三档，与“Y轴增益”旋钮配合使用，对波形幅 度进行调节。 · (7)“Y轴增益”：波形幅度的调节旋钮。 · (8)“Y轴输入”：输入从被测电路取出的检测信号。 · (9) “频标选择”：分1MHz，10MHz和“外接”三档。观测低频信号时，用1MHz 频标，观测高频信号时，用10MHz频标，若均不适用，则可以采用外接频标。 · (10) “频标幅度”：频标信号的幅度调节旋钮。 · (11)“外接频标输入”：外部频标信号的输入端，与其配合，“频标选择”旋钮 须打到“外接”档。 · (12)“扫频电压输出”：扫频信号的输出端，可接输出探头。 · (13) “波段”：与“中心频率”旋钮配合使用，扫寻被测波形。 · (14)“中心频率”：与“波段”旋钮配合使用，扫寻被测波形。 · (15)“输出衰减”：输出扫频信号电压的幅度调节旋钮。 · (16)“频率偏移”：波形宽度调节旋钮。
10_项目十_晶体管特性图示仪
第二任务 晶体管特性图示仪的使用
• 10）聚焦：调节旋钮使观点最清晰。 • （11）荧光屏；示波管屏幕，外有坐标刻度盘。 • （12）辅助聚焦：与聚焦钮配合使用，使光点最清晰。 • （13）Y轴选择（电流/度）开关：具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行
集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 • （14）电流/度×0.1倍率指示灯：灯亮时，仪器进入电流/度0.1倍工作状态 • （15）垂直位移及电流/度倍率开关：调节迹线在垂直方向上的位移。旋钮拉
校正的目的。
第二任务 晶体管特性图示仪的使用
• （19）X轴位移：调节迹线在水平方向上的位移。 • （20）X轴选择（电压/度）开关：可以进行集电极电压、基极电流、
基极电压和外接四种功能的转换，共17挡。 • （21）级/簇调节：在0～10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。 • （22）调零调节：测试前应先调整阶梯信号的起始及零电平的位置。
• 二、 晶体管特性图示仪的工作原理
•
要在一个坐标系中显示出晶体管的特性曲线，必须测出
两个参数，虽然不同的特性曲线的参数不同，但其基本原理
是相同的。下面以测量三极管的共发射极电路的输出特性曲
线为例进行介绍。
•
三极管的共发射极电路的输出特性曲线是表示晶体管集
-射间的电压Uce变化时，集电极电流Ic如何随之变化的曲线
获得，电压每秒钟脉动100次，电压每脉动一次可以做一
次来回的两次扫描，则每秒钟就可作200次扫描，图线基
本做到亮度平稳而不闪烁。如图10-1所示
• 图10-1 工频电压经全波整流后的波形图
•
在晶体管Uce的作用下，集电极电流Ic将随之发生变
化，其大小可通接在集电极上的电阻进行调节。
半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量
半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量一、实验目的1、了解半导体特性图示仪的基本原理2、学习使用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和参数。
二、预习要求1、阅读本实验的实验原理，了解半导体图示仪的工作原理以及XJ4810 型半导体管图示仪的各旋钮作用。
2、复习晶体二极管、三极管主要参数的定义。
三、实验原理（一）半导体特性图示仪的基本工作原理任何一个半导体器件，使用前均应了解其性能，对于晶体三极管，只要知道其输入、输出特性曲线，就不难由曲线求出它的一系列参数，如输入、输出电阻、电流放大倍、漏电流、饱和电压、反向击穿电压等。
但如何得到这两组曲线呢？最早是利用图4-1 的伏安法对晶体管进行逐点测试，而后描出曲线，逐点测试法不仅既费时又费力，而而且所得数据不能全面反映被测管的特性，在实际中，广泛采用半导体特性图示仪测量的晶体管输入、输出特性曲线。
图4-1 逐点法测试共射特性曲线的原理线路用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和各种直流参量的基本原理是用图4-2（a）中幅度随时间周期性连续变化的扫描电压UCS代替逐点法中的可调电压EC，用图4-2（b）所示的和扫描电压UCS的周期想对应的阶梯电流iB来代替逐点法中可以逐点改变基极电流的可变电压EB，将晶体管的特性曲线直接显示在示波管的荧光屏上，这样一来，荧光屏上光点位置的坐标便代替了逐点法中电压表和电流表的读数。
1、共射输出特性曲线的显示原理当显示如图4-3 所示的NPN 型晶体管共发射极输出特性曲线时，图示仪内部和被测晶体管之间的连接方式如图4-4 所示. T是被测晶体管,基极接的是阶梯波信号源,由它产生基极阶梯电流ib 集电极扫描电压UCS直接加到示波器(图示仪中相当于示波器的部分,以下同)的X轴输入端,,经X轴放大器放大到示波管水平偏转板上集电极电流ic经取样电阻R得到与ic成正比的电压,UR=ic,R加到示波器的Y轴输入端,经Y轴放大器放大加到垂直偏转板上.子束的偏转角与偏转板上所加电压的大小成正比,所以荧光屏光点水平方向移动距离代表ic的大小,也就是说,荧光屏平面被模拟成了uce-ic 平面.图4-4 输出特性曲线显示电路输出特性曲线的显示过程如图4-5 所示当t=0 时, iB =0 ic=0 UCE =0 两对偏转板上的电压均为零,设此时荧光屏上光点的位置为坐标原点。
晶体管特性图示仪的使用
实验8 晶体管特性图示仪的使用8．1实验目的1）熟悉XJ4810/NW4822型图示仪的面板装置；2）熟悉XJ4810/NW4822型图示仪的面板装置的操作方法；3）掌握在正式测试前对仪器的检查、校验。
4）会使用XJ4810/NW4822测试二极管的正、反向特性，包括稳压二极管的稳压特性；5）会使用XJ4810/NW4822测试三极管的输入特性、输出特性及主要参数（不包括频率参数）；6）学会使用XJ4810/NW4822测试场效应晶体管、双基极二极管的特性曲线及主要参数。
8．2实验设备1）XJ4810/NW4822型图示仪一台。
2）2AP9、2CP10、2CW、3DG6、3AK20、3DD15、3DJ6、BT33各一只；晶体管亦可用新型号1N4001、9013、9012等。
3）稳压电源一台，测试BT33用。
8．3实验步骤实验前预习XJ4810/NW4822型图示仪的面板装置图（见附图10.1、附图10.2及附图11）及各控制装置的作用介绍（见附录10-1、附录10-2及附录11）；熟悉XJ4810/NW4822型面板装置及操作方法。
8.3.1 使用前的检查接通电源，预热5-10分钟后，进行下列调整：（1）调节“辉度”旋钮使亮度适中；（2）调节“峰值电压%”旋钮，逆时针旋到底，使集电极扫描电压为零伏，此时可揿下“峰值电压范围”的10V键。
调节“聚焦”和“辅助聚焦”，使光点清晰。
（3）放大器增益检查XJ4810型将光点聚焦好后，调节两个“移位”旋钮，将光点移至屏幕的左下方（即标尺刻度的左下角），按下“校准”旋钮，光点应在屏幕有（实线）刻度的范围内从左下角跳向右上角。
否则应用小螺丝马调整X或Y的增益微调。
NW4822型将光点聚焦好后，调节两个“移位”旋钮，将光点移至屏幕的左上方（即标尺刻度的左上角），按下“校准”旋钮，光点应在屏幕有（实线）刻度的范围内从左上角跳向右下角。
此时Y轴部分的“电流/度”及X轴部分的“电压/度”两个开关位置可置于任何位置。
XJ4810图示仪使用说明
3.7 XJ4810 半导体管特性图示仪概述：XJ4810 型半导体管特性图示仪，是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。
本仪器主要由下列几个部分组成：Y 轴放大器及X 轴放大器；阶梯信号发生器；集电极扫描发生器；主电源及高压电源部分。
本仪器是继JT－l 型晶体管特性图示仪后的开发产品。
它继承JT－l 的优点，并有了较大的改进与提高，与其它半导体管特性图示仪相比，具有以下特点：1．本仪器采用全晶体管化电路、体积小、重量轻、携带方便。
2．增设集电极双向扫描电路及装置，能同时观察二级管的正反向输出特性曲线、简化测试手续。
3．配有双簇曲线显示电路，对于中小功率晶体管各种参数的配对，尤为方便。
4．本仪器专为工作于小电流超β 晶体管测试提供测试条件，最小阶梯电流可达0.2μA／级。
5．本仪器还专为测试二级管的反向漏电流采取了适当的措施，使测试的反向电流I R 达20nA／div 。
6．本仪器配上扩展装置—XJ27100“场效应管配对测试台”可对国内外各种场效应对管和单管进行比较测试。
7．本仪器配上扩展装置—XJ27101“数字集成电路电压传输特性测试台”，可测试COMS，TTL 数字集成电路的电压传输特性。
XJ4810 型半导体管特性图示仪，功能操作方便，它对于从事半导体管机理的研究及半导体在无线电领域的应用，是一个必不可少的测试工具。
一、主要技术指标（l）Y 轴编转因数：集电极电流范围：10μA∕div～500 毫安／div，分15 档，误差≤±3％；二极管反向漏电流：0.2μA∕div～5μA∕div 分 5 档2μA∕div～5μA∕div 误差不超过±3%基极电流或基极源电压：0.05V／div，误差≤±3％；外接输入：0.1V／div，误差≤±3％；偏转倍率：×0.1 误差不超过±（10%±10nA）（2）X 轴偏转因数：集电极电压范围：0.05～50V∕div，分10 档，误差≤±3％；基极电压范围：0.05～1V∕div，分 5 档，误差≤±3％；基极电流或基极源电压：0.05V∕div，误差≤±3％；外接输入：0.05V∕div，误差≤±3％。
模拟电子技术标准实验报告 实验1-4
w.
ibm
14mV 2 18 A 1.16 K I B 18 A 10 A, 选30 A。
I E I C I B 65 30A 2mA
ju
选管 3DG6C，测量其=65。 为求r be ，设I E 2mA，则
st
26mV 1.16k 2mA
I bm 是U i 产生I B 的最大值。为避免产生截止失真，不应使输入信号工作在输入特性的弯 曲部分。故在设置基极电流时最少加 10A的起始电流。
ibm
rbe 300 1 65
ww
核算I E 与初选值是否吻合：
3）选择偏置电阻R b1 和R b2 欲使I B 稳定应使 I 1 I B ，硅管的 I 1 5 10 I B，I B 30 A , 则I 1 150 300 A . 选 I 1 220 A 。 考虑到设计任务对放大器未提出温度等特殊要求，故设计中可作常温（0--45C）处理。 基极电压可选择低一些，使V B =3V，
ww
w.
四、思考题： 1、示波器荧光屏上的波形不断移动不能稳定，试分析其原因。调节哪些旋钮才能使波形稳 定不变。 答：用示波器观察信号波形，只有当示波器内部的触发信号与所测信号同步时，才能在荧光 屏上观察到稳定的波形。 若荧光屏上的波形不断移动不能稳定， 说明触发信号与所测信号不 同步,即扫描信号（X轴）频率和被测信号（Y轴）频率不成整数倍的关系（ x n y ）,从而使 每一周期的X、Y轴信号的起扫时间不能固定，因而会使荧光屏上显示的波形不断的移动。 此时，应首先检查“触发源”开关（SOURCE）是否与Y轴方式同步（与信号输入通道保持 一致） ；然后调节“触发电平” （LEVEL） ，直至荧光屏上的信号稳定。 2、在测量中交流毫伏表和示波器荧光屏测同一输入电压时，为什么数据不同?测量直流电压 可否用交流毫伏表，为什么? 答： 交流毫伏表和示波器荧光屏测同一输入电压时数据不同是因为交流毫伏表的读数为正弦 信号的有效值，而示波器荧光屏所显示的是信号的峰峰值。 不能用交流毫伏表测量直流电压。 因为交流毫伏表的检波方式是交流有效值检波， 刻度 值是以正弦信号有效值进行标度的，所以不能用交流毫伏表测量直流电压。
XJ4830型半导体管特性图示仪
XJ4829型数字存储图示仪使用说明书上海新建仪器设备有限公司目录1.安全要求2.操作须知3.概述4.主要技术指标5.工作原理简介6.使用说明7.软件8. 使用范例9. 装箱清单1.安全要求:使用本产品必须先阅读本使用说明书,特别必须详细阅读本节安全要求和下节操作须知,以避免人身伤害,并防止本产品或与其相连接后的其他任何产品受到损坏,为了避免可能发生的危险,本产品只可在规定的范围内使用。
只有合格的技术人员才可执行维修。
1.1使用适当的电源线。
本产品只可使用本产品专用的或经安全核准的电源线。
1.2产品接地。
本产品通过电源线接地导线接地,为了防止电击,接地导体必须与地面相连。
在与本产品输入或输出终端连接前,应确保本产品己正确接地。
1.3请勿在无仪器盖板时操作。
如盖板己卸下,请勿操作本产品。
1.4使用适当的保险丝。
只可使用符合本产品规定类型和额定值的保险丝。
1.5在有可疑故障时,请勿操作。
如怀疑本产品有损坏,请让合格的维修人员进行检查。
1.6提供良好的通风。
请按本说明书规定使用本产品,并使其有良好的通风。
2.操作须知:2.1为了取得准确的测量值,开机后必须保证足够的预热时间。
2.2线性集成电路测试时，先预置好各控制按键，最后按测试按键。
2.3在测试器件过程中，阶梯信号及扫描电压应先调至最小，然后由小至大，以免对被测器件造成冲击，当器件测试完毕后，应将扫描电压调至最小，才能取下器件。
2.4严禁在任何测试方式下进行C、E间的短路试验2.5在关机后不能立即开机，必须在大于30秒后再开机3概述XJ4829数字存储图示仪能对半导体二极管、三极管、场效应管器件的测试，又能对三端稳压器，进行各种性能测试的综合测试仪。
3.1 主要功能是解决：常用的半导体管特性显示、参数测试和三端稳压器的特性测试。
并具有过载保护功能，如被测器件短路，能自动保护被测器件和测试仪器，并有过载指示。
测试仪带计算机接口（USB）。
3.2本仪器由于采用微机控制, 数字插入技术，引入字符显示, 光标测量功能, LCD屏幕上实时显示Y(电流) 、X（电压）、S（阶梯）开关档位（位标）量、通过主光标操作,能直接显示测得的I(电流) 、U(电压) 测量值，能自动计算显示, 读出β（hfe）、Gfs(gm) 等器件的参数。
晶体管特性图示仪使用详解
② “峰值电压 %”调节旋钮。 作用：使集电极电源在确定的峰值电压范围内连续变 化。 ③ “+、-”极性按键开关。 作用：按下时集电极电源极性为负，弹出时为正。
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• ④ “电容平衡”与“辅助电容平衡”旋钮。 • 作用：使在高电流灵敏度测量时容性电流最小，
减小测量误差 • ⑤ “功耗限制电阻 ”选择开关。 • 作用：改变串联在被测管集电极回路中的电阻以
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5．使用注意事项 （1）测试前应预设一些关键开关和旋钮的位置。 （2）“峰值电压范围”、“峰值电压%”、阶梯信号 “电压电流/级”及“功耗限制电阻”这几个开关甚 用。 （3）测试大功率器件（因通常测试时不能满足其散 热条件）及测试器件极限参数时，多采用“单簇”阶 梯。
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6．XJ 4810 型半导体管特性图示仪的应用 （1）同时显示二极管的正反向特性曲线 由于其集电 极扫描电压有双向扫描功能，可使二极管的正反向特 性曲线同时显示在荧光屏上。
• ⑤ “极性”开关 选择阶梯信号的极性。
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⑥ “重复-关”开关 开关弹出时，阶梯信号重复出 现，正常测试时多置于该位置；开关按下时，阶梯信 号处于待触发状态。 ⑦ “单簇”按钮 与“重复-关”开关配合使用。当 阶梯信号处于待散发状态时，按下该钮，对应指示灯 亮，阶梯信号出现一次，然后又回到待触发状态。多 用于观察被测管的极限特性，可防止被测管受损。
注意：此时 IB 和 UBE 均为阶梯波，但 IB 每级高度基本相同，而 UBE
由于输入特性的非线性而每级高度不同。集电极扫描电压的变化反映在荧 光屏上为亮点在各级水平方向的往返移动。
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（4）场效晶体管漏极特性曲线 ID = f（UDS）及 测
试原理框图如图所示。
8-4晶体管特性图示仪的认知与使用
电工仪表多媒体课件
机电工程系
山东德州汽车摩托车专修学院
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• 峰值电压范围 是一个4挡开关，共分为0～10V、0～50V、0～ 100V和0～500V4挡，用于选择测试所需的集电极最高电压值 。 • 电压极性 用于改变集电极扫描电压的极性，极性的选择取决 于被测器件。当测量共发射极特性曲线时，NPN型用“＋”极 性，PNP型用“－”极性。
项目八
常用电子仪器
• 实际使用时，根据需要显示的特性曲线，将集电极扫描电压 和阶梯信号电压分别加在示波器的X偏转板和Y偏转板上，就 能显示所需要的特性曲线。
晶体三极管输出特 性曲线
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项目八
常用电子仪器
X轴作用
• X轴选择开关 包括： ①集电极电压 从0.05V／Div～50 V／Div分为10挡. ②基极电压 从0.05V／Div～1 V／Div分为5挡.
③基极电流或基极源电压 只有1挡。
④外接 是为了扩展测试范围而设置的，只有1挡。
• Y轴增益 用于连续调节垂直幅度。
• Y轴位移 用于图形垂直方向移动。
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XJ4810 型半导体管特性图示仪 说明书
XJ4810型半导体管特性图示仪概述XJ4810型半导体管特性图示仪是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测定其静态参数的测试仪器。
可以测试的器件有：晶体二极管、稳压管、晶体三极管和场效应管的静态特性和反向击穿特性。
可以测试的参数有h fe,g m，Iceo等。
前面板单元划分参见图2.5.1。
图2.5.1 图示仪前面板前面板的主要分区为：示波管控制区、偏转放大区、集电极电源、阶梯信号、测试台。
两簇测试的时候，侧面的二簇移位旋钮可以水平移动第二簇的位置。
1. 阶梯信号区42AJ18极性选用：决定于被测半导体的需要，比如采用基极电流信号的时候，NPN为正，PNP为负。
40W2级/簇：用来调节阶梯信号的级数在0到10的范围，连续可调整。
比如一簇三极管输出特性曲线的分杈数。
40W1调零：将阶梯信号调整到和面板“零电压”键一样的调整电位器。
40K1阶梯信号选择开关：22档，二作用开关。
基极电流0.2uA/级～50mA/级共17档。
基极源电压0.05V/级～1V/级。
42AJ1A开关：重复、关。
重复使阶梯信号重复出现，做正常的测试。
关使阶梯信号处于待触发状态。
40K3单簇按开关：单簇的按动，其作用是出现触发一次信号。
可以用瞬间测量来看器件的一些极限特性。
2. 集电极电源区50AJ1峰值电压范围：可以在4档调。
开始测试应该采用低电压档0～10v,然后渐渐上加。
51AJ1极性：集电极电压极性，一般NPN型为正。
与测试目的和要求有关系。
50B1峰值电压%：连续调整峰值电压，属于50AJ1各个档的细调。
开始应该条到0，慢慢增大。
50K1功耗限制电阻：串联在集电极电路上的电阻值，开始要选大的，保护被测试晶体管。
然后渐渐放小。
50W2电容平衡电阻：平衡容性电流，提高测试质量。
50W1辅助电容平衡：对内部线圈绕组的对地电容的不对称性进行平衡。
3. Y轴、X轴作用选择Y轴20K1电流/度开关：22档，四种作用开关，分别是集电极电流Ic、二极管漏电流IR、基极电流或源电压（面板用台阶表示）、外接信号。
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文档简介
晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。
用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。
下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。
图A-23XJ4810型半导体管特性图示仪7.1XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示：1.集电极电源极性按钮，极性可按面板指示选择。
2.集电极峰值电压保险丝：1.5A。
3.峰值电压%：峰值电压可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之连续可调，面板上的标称值是近似值，参考用。
4.功耗限制电阻：它是串联在被测管的集电极电路中，限制超过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。
5.峰值电压范围：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四挡。
当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时，须先将峰值电压调到零值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。
AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描，以便能同时显示器件正反向的特性曲线。
6.电容平衡：由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容，都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量误差。
为了尽量减小电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至最小。
7.辅助电容平衡：是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称，而再次进行电容平
衡调节。
8.电源开关及辉度调节：旋钮拉出，接通仪器电源，旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。
9.电源指示：接通电源时灯亮。
10.聚焦旋钮：调节旋钮可使光迹最清晰。
11.荧光屏幕：示波管屏幕，外有座标刻度片。
12.辅助聚焦：与聚焦旋钮配合使用。
13.Y轴选择（电流/度）开关：具有22挡四种偏转作用的开关。
可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。
14.电流/度×0.1倍率指示灯：灯亮时，仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。
15.垂直移位及电流/度倍率开关：调节迹线在垂直方向的移位。
旋钮拉出，放大器增益扩大10倍，电流/度各挡IC标值×0.1，同时指示灯14亮.16.Y轴增益：校正Y轴增益。
17.X轴增益：校正X轴增益。
18.显示开关：分转换、接地、校准三挡，其作用是：⑴转换：使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换，便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。
⑵接地：放大器输入接地，表示输入为零的基准点。
⑶校准：按下校准键，光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度，以达到10度校正目的。
19.X 轴移位：调节光迹在水平方向的移位。
20.X轴选择（电压/度）开关：可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换，共17挡。
21.“级/簇”调节：在0～10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。
22.调零旋钮：测试前，应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。
当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后，按下测试台上选择按键“零电压”，观察光点停留在荧光屏上的位置，复位后调节零旋钮，使阶梯信号的起始级光点仍在该处，这样阶梯信号的零电位即被准确校正。
23.阶梯信号选择开关：可以调节每级电流大小注入被
测管的基极，作为测试各种特性曲线的基极信号源，共22挡。
一般选用基极电流/级，当测试场效应管时选用基极源电压/级。
24.串联电阻开关：当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时，串联电阻将串联在被测管的输入电路中。
25.重复－－关按键：弹出为重复，阶梯信号重复出现；按下为关，阶梯信号处于待触发状态。
26.阶梯信号待触发指示灯：重复按键按下时灯亮，阶梯信号进入待触发状态。
27.单簇按键开关：单簇的按动其作用是使预先调整好的电压（电流）/级，出现一次阶梯信号后回到等待触发位置，因此可利用它瞬间作用的特性来观察被测管的各种极限特性。
28.极性按键：极性的选择取决于被测管的特性。
29.测试台：其结构如图A-24所示。