制程能力指数

製程能力指數Process Capability Index, C pk

何謂Cpk呢﹖即所謂製程能力指數﹝Process capability index─傳統上簡稱為Cp﹞，係統計製程管制SPC的一個很重要的指標。代表著我們產品製程的品質有多好或不良率是多少。而時下流行的Cpk只是對舊有的Cp做了中心值的修正。

上邊的圖示是以Minitab軟體計算得來.其中製程能力指標Cpk電子業一般要求1.33, 即不良率63ppm(每百萬個產品中有63個不良品),但一些較先進的公司要求1.5即3.4ppm(如MOTOROLA).甚至1.67即0.57ppm(如GM,Ford,Chrysler全美三大汽車廠).Cp較嚴格的要求則為2.一般說來Cp 比k重要,因為k值不佳很可能只要調整機器設定參數即可解決,但Cp差則是製程變異太大;變異是製程品質的大敵,較難以克服.

需要注意的是傳統上Cp時代，我們對製程能力指數的要求是Cp=1，易言之，良品率是99.73%，而多年前Cpk出現時要求的是Cpk=1.33，而這兩年則要求提升到Cpk=1.67。而當Cpk=1.63時即可進入個位數的PPM世界。

公差T

Cpk=( 1 - K ) * --------------- = ( 1 - K ) *-------------

六倍標準差6* σ

為了能有較好的製程能力，C pk最好能大於1。關於這個理由我們可以從Figure 8 看出，當C pk接近1時，良率會接近100％；相反的，當C pk等於0.5時，良率會掉到80％。

當C pk小於1時，我們需要採取矯正措施，C pk等於1時，表示製程是可以接受的(Good)；當C pk等於2時，表示製程是非常好的(Great)。很多的時候我們都盡力希望C pk能達到1.33，因為他代表製程平均與最近的規格界限差距為4個σ。當現存於製程中的自然變異(6σ)剛好等於規格公差時(USL-LSL)，我們就必須花較多的心力去維持製程平均的穩定性以及持續減少自然變異的大小；相反的如果自然變異小於規格公差那麼我們就只需花較少的心力去留意製程平均是否有在製程中心