量测系统的统计特性与变异种类

量测系统评价-－--量测能力指标%Ｐ/T与%ＧRＲ之探讨

一.前言: ﻫ任何一个制造系统皆处于随机波动过程中，透过量测所获得之数据，无形中隐含许多的变异，使得高质量产品的现代工业充满对量测数据产生质疑。量测系统分析即是将量测资料或是一些衍生出的统计量与过程的管制界线进行分析比较,藉以评价整个量测系统过程是否可同意或应进行改善。

此篇要紧以量测系统评价中之量测能力指标,以两种不同的表达方式进行探讨,因此对量测系统之变异并

不个不予以研究 (假设为已知)。

二．量测系统:ﻫ探讨量测数据的质量，必须先对量测系统进行整体性了解:ﻫ1．系统中有哪些过程?ﻫ2.每一时期过程应进行那些步骤？

3.每一步骤是否有那些变异发生？

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４.最后对系统作出决定？

三．量测数据的质量：ﻫ量测数据的质量决定于稳定条件下进行操作的量测系统中所得的统计特性，一般量测所得资料皆为观测变异值，此值受到制造过程之变异及量测系统中变异所阻碍。制造过程变异则分不受到零件变异、短期过程变异及长期过程变异所牵引,而量测变异亦同时由零件变异、量具产生之变异及评价者产生之变异所阻碍。

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ﻫﻫ量测系统的变异而言，我们把焦点着重在由评价者产生之变异(Rｅpｒoｄucibility)与量具本身之重复性(Repｅａtaｂｉlity)对整个量测变异贡献度之程度。

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四．量测系统之统计特性：

１.量测系统均须在统计管制下而其所产生之变异应根源于共同缘故，而非专门缘故。

２.量测系统之变异须相对小于生产制程之变异。ﻫ3．量测系统之变异须相对小于规格界限。

4.量测系统之最小刻度须相对小于制程变异或规格界限之较小者。

五.量测系统的变异种类：ﻫ1. 位置变异：

◎准确度 (Ａｃcuracy)ﻫ◎ 偏倚 (Bias)

◎ 稳定性 (Ｓｔａｂiliｔｙ）ﻫ◎ 线性 (Lｉｎｅarity)

2. 宽度变异：

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◎ 周密度 (Ｐrｅcision)

◎重复性 (Rｅpｅatａｂility)

◎ 再现性 (Rｅproｄuｃibilitｙ)ﻫ◎ GRR （GagｅＲepeatａｂilitｙ & Ｒepｒｏdｕcibiｌｉtｙ)３. 量测系统变异:

◎ 量测系统能力(Caｐaｂilitｙ)

◎量测系统性能(Ｐerformａnce)

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