智能卡测试系统技术指标
CAS及智能卡评标因素及权重分值表
分类 评审项 目 广电总 局入网 证 机顶盒 集成 分 值 评审内容 评 审 要 素 得分
通过总局300万 用户量可靠性测 3 通过可靠性测试，获A级入网证， 3分，否则 0分 试，获得A级入 网证 机顶盒集成（以 有20家机顶盒厂商以上集成者，4分 4 提 供 的 证 明 为 10家以上，2分,否则 0分 准） 本项必须能与省网认购的七家厂商集成否则 0分 2 与SMS对接家数 有三家以上者，2分，否则0分 与加扰器对接家 有三家以上者，2分，否则0分 数
安全保 3、安 证期与 全与质 智能卡 保6分 质量保 证期
满足要求4分， 不满足得0分， 安全保证期超过要求1年以上，加1分 6 优于可加分，加 质量保证期增加1年，加1分 分最多不超过2 加分最多不超过2分 分 质保期后维护费占系统总价，10％以内，2分，10－20％， 1分，20％以上，0分 培训内容及质量，内容包括原理，操作，上机实际操作， 综合考虑质保期 注意事项，时间在8小时及以上，1分，否则，0分 5 、培训服务、维 系统热备启动后，损坏件更换时间小于7天，1分，大于7 修响应时间等 天，0分； 坏卡更换时间，7天内，1分，大于7天，0分 得分为四项得分之和 6 单网发卡量在 100万 案例5个以上，6分 案例3-5个， 4分 案例1-3个， 2分 案例1个以下，0分 （需提供证明材料原件） 发卡量500万以上， 6分 发卡量400万-500万，4分 发卡量200万-400万，2分 发卡量200万以下， 0分（需提供证明材料原件）
系统集 成
2
需提供前端系统 2 、Boss系统集成 有三家以上者，2分，否则0分 案例 4 与CA同密 有三家不同CA同密者，4分，否则 0分
1、技 术部分 30分
智能卡7816-2006(检测规范)
最大不超过0.5mA
RST触点测试
电流
-20IIH150
A
-200IIL20
CLK触点测试
电压
0.7UCCUIHUCC
V
0UIL0.2UCC
（仅适用于CLASSC）
电流
-20IIH100
A
-100IIL20
频率和占空比
在频率为1MHz～5MHz，及占空比为40％～60％条件下能正常工作
符合
符合
空闲状态下电流
ISO/IEC7816-3:2006表1
符合
符合
时钟停止模式下电流
符合
符合
2.RST触点测试
电流
ISO/IEC7816-3:2006表3
符合
符合
3.CLK触点测试
电压
ISO/IEC7816-3:2006表4
符合
符合
电流
符合
符合
频率和
占空比
ISO/IEC7816-3:20065.2.3
15
6.可接收的同向字符间隔测试
可接收的相连字符开始下降沿之间的时间间隔最短不小于(12+N)ETU
12
12
7.可接收的反向字符间隔测试
接收的反向字符开始下降沿之间的时间间隔最短不小于(12+N)ETU
12
12
8.重发信号测试
卡发现奇偶校验错时，在从10.5±0.2开始，发送状态A，持续时间最少1个ETU，最大为2个ETU的出错信号，等待接收重发字符
7.1,7.2,
在字符起始位的起始延至第（n）位的后沿的时间应等于（n±0.2）etu（1 etu =372/f））
见图：
跨平台智能卡类密码设备综合性能测试平台设计与实践
① 主流密码算法 ， 包括 Ｓ 、Ｍ 、Ｓ ３ 、 Ｓ Ａ Ｓ Ｄ Ｓ Ｓ Ａ １ Ｓ Ａ１ＭＤ 等。 Ｍ１Ｓ ２ Ｓ Ｆ ３ Ｒ Ａ、 Ｅ 、 Ｅ 、Ｈ ５ ２、Ｈ 、 ５ ② 密钥管理功能 ， 包括密钥安全存储 、 密钥销毁 、 密钥备份与恢 复等。
３ 密码服务性能 ） 针对智能卡类密码设备支持的各类 密码算法 ， 测试其运算 能力 ， 主要为 ： ① 非对称运算 的密钥产生耗时 、 公钥运算速度和私钥运算工作 功耗 ； ③ 节电模式 。
收 稿 日期 ：０ １ ０ －１ ２１－ ９ １
作 者简介 ： 王兴 （９ ５ ， 安徽霍 山人 ， 究实习员， １８ －） 男， 研 硕士 ； 胡永 涛（９ ６ ， 浙江绍兴人 ， １７ 一） 男， 副研 究员， 士 ； 硕 朱政洪（９ ４ ， １７ 一） 男， 上 海， 副研 究 员 ， 士 。 硕
② 对称运算速度 。
４ 密 码 服 务 稳 定 性 ） 密码设备长时间大数据量密码运算时所表 现出的出错 比率 、 出错恢 复能力等 。 ５ 并 行 服 务 能 力 ）
多线任务并行服务能力 ， 考察其是否具备多线并行服务能力 ， 总体服务能力损耗。
６ ３ 作 功 耗 控 制 ）７ ＿ 主 要 考 察 以下 方 面 ：
性能安全性等制订 的相关规范有 ： 智能卡 Ｐ Ａ ４ 、 ＢＴ１３ ６ＩＯＩ Ｃ１４ ８ １ ０ ５［］Ｇ ／ ０ ７ — ０ ６ ， 这些高层抽象级 ＰＥ Ｌ ＋ Ｇ ／ ８ ３ （ ／ ５ ０ — ： ０ ） 、 ＢＴ２ ２ ６ ２ ０ 等 但 Ｓ Ｅ ２ ４ 的指 导性 文档分别从各 自重点关注 的角度 ， 对智 能卡的电子 电气特性 、 密码设备 的功能性能【】重点是安全性 防护能力【— 】 ， ５、 ６ ７等 按 照不 同的框架体 系提出了具 体的要求。但是 ， 于智能卡最终 客户来说 ， 对 这些认证 、 测评 的参考价值虽然重要 ， 却并不全面 ； 尤其是 智能卡类密码设备 的性能 、 多平 台适应能力 、 配套软件 、 技术支持服务等 ， 上述标准鲜有涉及。 鉴 于以上考虑 ， 本文提 出了跨平 台智能卡类密码设备综合性 能测试平 台设计方 案 ， 把智能卡类 密码 设备及配套服务软件作 为
中国联通电信智能卡SWP卡测试规范v2.0
中国联通公司发布目次目次 (I)前言...................................................................................................................................... V III 1范围 (1)2规范性引用文件 (1)3术语、定义和缩略语 (1)3.1术语 (1)3.2符号 (2)3.3缩略语 (3)3.4编码规则 (3)4测试环境 (4)4.1应用测试环境 (4)4.1.1测试环境 (4)4.2测试设备 (4)4.3初始条件 (4)4.4SWP协议测试环境 (5)4.4.1测试设备 (5)4.4.2测试条件 (5)4.4.2.1测量和环境参数的范围 (5)4.4.2.2温度 (5)4.4.2.3TS 102 221接口触点（CLK, RST, I/O）和触点Vcc (6)4.4.2.4TS 102 613接口触点（SWIO） (6)4.4.2.5UICC接口的状态 (7)4.4.2.6LLC层的特性 (7)4.4.2.7触点Vcc (7)4.4.3测试执行 (7)4.5HCI协议测试环境 (7)4.5.1测试设备 (7)4.5.2测试条件 (8)4.5.2.1一般情况 (8)4.5.2.2UICC接口的状态 (8)4.5.3测试执行 (8)4.5.3.1参数种类 (8)4.5.3.2执行要求 (8)4.6HCI API测试 (8)4.6.1测试终端 (9)4.6.2测试卡片 (9)4.6.3读卡器 (9)4.6.4测试应用 (9)5应用测试 (11)6SWP协议测试 (11)6.1系统结构 (11)6.1.1配置 (11)6.1.1.1符合条件 (11)6.1.1.2ATR的全局接口字节 (11)6.1.1.3与TS 102 221接口并存，在UICC接收数据时激活SWP接口 (11)6.1.1.4与TS 102 221接口并存，当UICC发送数据时激活SWP接口 (12)6.1.2与其他接口并存 (12)6.1.2.1符合条件 (12)6.1.2.2与TS 102 221接口并存，TS 102 221时钟停止 (13)6.1.2.3与TS 102 221接口并存，TS 102 221复位 (13)6.1.2.4与TS 102 221接口并存，UICC接收数据时使SWP接口失效 (14)6.1.2.5与TS 102 221接口并存，UICC发送数据时使SWP接口失效 (14)6.1.2.6与TS 102 221接口并存，UICC接收数据时复位SWP (15)6.1.2.7与TS 102 221接口并存，UICC发送数据时复位SWP (15)6.2物理特性 (16)6.2.1卡工作运行的温度范围 (16)6.2.1.1一致性要求 (16)6.2.2触点 (16)6.2.2.1一致性要求 (16)6.2.3接口激活 (16)6.2.3.1一致性要求 (16)6.2.3.2在终端不支持SWP时UICC的行为 (24)6.3电气特性 (25)6.3.1支持电压等级 (25)6.3.1.1一致性要求 (25)6.3.1.2TS102 221电压等级B和C (25)6.3.2Vcc(C1)低电压模式定义 (25)6.3.2.1一致性要求 (25)6.3.2.2低电压模式操作 (25)6.3.3信号S1 (26)6.3.3.1一致性要求 (26)6.3.3.2电压等级B中的S1信号 (26)6.3.3.3电压等级C中的S1信号 (27)6.3.3.4低电压模式下的S1信号 (28)6.3.4信号S2 (29)6.3.4.1一致性要求 (29)6.3.4.2电压等级B下的信号S2 (29)6.3.4.3电压等级C中的S2信号 (30)6.3.4.4低电压模式下的S2信号 (30)6.4物理传输层 (31)6.4.1S1 Bit 编码和抽样时间 (31)6.4.1.1一致性要求 (31)6.4.1.2变化时序，默认比特时间的通讯 (32)6.4.1.3变化时序，延展比特时间的通讯 (32)6.4.1.4S1上升和下降时间 (33)6.4.1.5C6输入电容测量 (34)6.4.2S2转换测量 (35)6.4.2.1一致性要求 (35)6.4.2.2S2转换测量 (35)6.4.3SWP接口状态管理 (35)6.4.3.1一致性要求 (35)6.4.3.2UICC管理SWP接口状态 (36)6.4.4供电模式状态/转换和省电模式 (36)6.4.4.1一致性要求 (36)6.4.4.2低电模式下的供电状态（ACT_POWER_MODE） (36)6.4.4.3低电模式下的电压模式（非ACT） (37)6.4.4.4全供电模式下的供电状态不包含TS102.221 (37)6.4.4.5省电模式包括TS102.221接口–先重启TS102.221接口 (38)6.4.4.6省电模式包括TS102.221 –先重启TS102.613接口 (38)6.4.4.7全供电模式供电状态，包括TS102.221 (38)6.5数据链路层 (39)6.5.1MAC层 (39)6.5.1.1比特顺序 (39)6.5.1.2一致性要求 (39)6.5.1.3默认状态下的帧交换 (39)6.5.1.4结构 (39)6.5.1.5一致性要求 (39)6.5.1.6错误格式帧的解释-ACT LLC (40)6.5.1.7比特填充 (42)6.5.1.8错误检测 (42)6.5.2支持的LLC层 (43)6.5.2.1支持的LLC层 (43)6.5.2.2LLC层的交互 (43)6.5.3ACT LLC的定义 (47)6.5.3.1ACT LLC的定义 (47)6.6SHDLC LLC定义 (49)6.6.1SHDLC 概述 (49)6.6.1.1一致性要求 (49)6.6.1.2非正常数据到下一层的传输处理 (49)6.6.1.3出错管理，EUT发送I-帧 (50)6.6.1.4出错管理 (50)6.6.1.5修改滑动窗口和端点能力 (50)6.6.1.6UA帧有效负载 (51)6.6.1.7无有效负载UA帧-ES复位 (51)6.6.1.8无有效负载UA帧-EUT复位 (51)6.6.1.9SHDLC上下文 (51)6.6.1.10初始复位状态 (51)6.6.1.11连接复位时初始状态-由EUT复位 (52)6.6.1.12连接复位时初始状态-由ES复位 (52)6.6.1.13SHDLC帧序列 (52)6.6.1.14数据流 (58)6.6.1.15拒收（回退N） (60)6.6.1.16最后一帧丢失 (62)6.6.1.17接收未准备就绪 (63)6.6.1.18选择性拒绝 (64)6.7CLT LLC定义 (66)6.7.1CLT 帧格式 (67)6.7.1.1一致性要求 (67)6.7.1.2CLT PAYLOAD以A型排列结构的字符填充 (67)6.7.2CLT命令配置 (67)6.7.2.1一致性要求 (67)6.7.2.2CLT 指令, ISO/IEC 14443 A型 (68)6.7.2.3CLT 指令, ISO/IEC 18092 (69)6.7.3CLT 帧编译 (69)6.7.3.1ADMIN_FIELD的处理：CL_PROTO_INF(A) (69)7HCP测试 (70)7.1HCP消息结构 (70)7.1.1一致性要求 (70)7.1.2管道未打开时, 该管道上命令和事件的测试. (71)7.2指令 (72)7.2.1通用命令 (72)7.2.1.1ANY_SET_PARAMETER (72)7.2.1.2ANY_SET_PARAMETER接收-无效结构 (72)7.2.1.3ANY_SET_PARAMETER接收-RO注册参数 (73)7.2.1.4ANY_GET_PARAMETER (73)7.2.1.5ANY_SET_PARAMETER接收-无效结构 (73)7.2.1.6ANY_GET_PARAMETER接收-WO注册参数 (74)7.2.1.7ANY_OPEN_PIPE (74)7.2.1.8ANY_OPEN_PIPE接收 (74)7.2.1.9ANY_OPEN_PIPE传输 (76)7.2.1.10ANY_CLOSE_PIPE (76)7.2.1.11ANY_CLOSE_PIPE接收 (76)7.2.1.12ANY_CLOSE_PIPE传输 (77)7.3响应 (78)7.3.1一致性要求 (78)7.3.2对未知命令的响应 (78)7.3.3对乱序的,以前由主机控制器发出的命令的响应 (78)7.3.4对乱序的,以前由主机发出的命令的响应 (79)7.4事件 (79)7.4.1一致性要求 (79)7.4.2对未知事件的接收 (79)7.5网关和相关条款 (80)7.5.1网关 (80)7.5.1.1一致性要求 (80)7.5.1.2链接管理网关支持的命令和事件 (80)7.5.1.3除链接管理网关外其他管理网关支持的命令和事件 (80)7.5.2管理网关 (81)7.5.2.1主机控制器管理网关 (81)7.5.2.2主机控制器链路管理网关 (82)7.5.2.3主机链路管理网关 (83)7.5.2.4身份管理网关本地注册表 (83)7.6HCI过程 (85)7.6.1Pipe管理 (85)7.6.1.1Pipe创建 (85)7.6.1.2Pipe删除 (87)7.6.1.3清除全部Pipes (88)7.6.2会话初始化 (91)7.6.2.1一致性要求 (91)7.6.2.2SESSION_IDENTITY 未改变 (92)7.6.2.3SESSION_IDENTITY 改变 (92)7.6.3回环测试 (93)7.6.3.1一致性要求 (93)7.6.3.2Host控制器Pipe创建 (93)7.6.3.3另一Host控制器Pipe创建 (93)7.6.3.4EVT_POST_DATA过程 (94)7.7HCI API测试 (94)7.7.1基础包测试 (94)7.7.1.1HCIDevice测试 (94)7.7.1.2HCIService测试 (97)7.7.1.3HCIMessage测试 (102)7.7.1.4HCIListener测试 (107)7.7.1.5HCIException测试 (107)7.7.2卡模拟模式 (109)7.7.2.1CardEmulationMessage测试 (109)7.7.2.2CardEmulationService测试 (111)7.7.3连接模式 (112)7.7.3.1Connectivity Service测试 (112)7.7.4读卡器模式 (115)7.7.4.1ReaderService测试 (115)7.7.4.2ReaderMessage测试 (115)8GP测试 (118)9JAVA CARD API测试 (118)10基础引擎模块API测试 (118)11空间检测测试 (118)11.1应用下载空间测试 (118)11.2RTR空间测试 (118)11.3DTR空间检测 (119)12非接触性能测试 (120)12.1刷卡距离测试 (120)12.2脱机消费响应时间测试 (121)12.3刷卡成功率测试 (121)12.4通讯速率测试 (122)13OTA测试 (122)13.1OTA引擎测试 (122)13.2菜单翻页测试 (123)前言近场通信（NFC）是基于RFID技术发展起来的一种近距离高频无线通信技术，工作在13.56MHz 频段，可在短距离内实现电子身份识别或者数据传输功能。
IC卡智能水表主要技术指标
IC卡智能水表主要技术指标一、主要技术标准1、CJ/T133-2012《IC卡冷水水表》；2、GB/T 778.1～3-2007《封闭管道中水流量的测量》及《饮用冷水水表和热水水表》；3、JJG 162 -2012《冷水水表检定规程》;4、JB/T 9329——1999《仪器仪表运输、运输储存基本环境条件和实验方法》;二、主要计量技术参数1、水表外壳采用59纯黄铜材料，计量精度优于2.0级；2、采用防滴漏节水结构，始动流量小于2升/每小时，有效防止滴水盗水行为；3、Q3/Q1=80；4、压力损失小于等于0.063MPa；5、工作压力小于等于1.0MPa，短时1.6MPa；6、工作水温0℃～30℃;三、主要功能技术指标：1、采用接触式逻辑加密IC卡片；2、水表液晶显示屏采用超低功耗循环常显技术，在保证低功耗（静态功耗<15uA）的同时，循环常显充值剩余量和累计用水量;3、采用碱性干电池供电技术，为防止在潮湿环境氧化产生接触不良故障，电池与表计之间的连接采用卡扣连接，用户可自行更换电池;4、为防止水表阀门因水垢锈死，阀门每月自动开关一次；5、防磁干扰功能，有强磁干扰时，阀门自动关闭，强磁干扰消失后，阀门自动开启;6、具有余量不足关阀报警功能，报警值可设置，报警后用户插卡可打开阀门，余量用完自动关阀;7、具有电池电量不足和掉电自动关阀功能，更换新电池后插用户卡可打开阀门；8、防囤积功能，囤积水量可设置，防止恶意囤水;9、有阀门状态、电池低电压、卡错、余量不足等工况和提示信息显示功能；10、鼓励水表具有自主知识产权，获得国家专利者;11、产品程序应实现明华RD系列IC卡读写器对IC卡（水卡）进行读写操作，并封装为动态链接库，封装的方法或函数可通过VB进行调用。
通过调用具体的方法或函数可实现购水用户的开户、购水及补卡等业务;四、售后服务1、在兰州本地有专门的售后服务机构和专业的售后服务队伍；2、针对兰州石化配备专门售后服务人员，随叫随到；3、节假日配备专门值班人员，现场处理售后服务事项;4、附表:《IC卡冷水水表主要技术要求》。
智能卡操作系统自动化测试方法的研究与实现
能需求 。
０ 引 言
近年来 ， 随着 电子技术 的不断发展 ， 智能卡 已经成 为我们 日 常生活 中不可缺少 的一部分 。从手机卡 、 银行卡 、 医疗 保健卡到 公交卡 、 门禁卡 、 高速公路 收费 卡等 等 ， 智能卡 以其安全性高 、 方 便快捷 、 容量大 、 多功能 等诸 多优 点” ’ ］ ， 为 我们 的生 活带 来 了 极大的便利 。智能卡 的使用离不开 其内部软件的支持 。智能卡
严婷婷 张志鸿
（ 郑州大学信息工程学院 河南 郑 州 ４ ５ ０ ０ ０ １ ）
摘
要
针 对现有智能卡操 作 系统 Ｃ Ｏ Ｓ （ Ｃ ｈ ｉ ｐ Ｏ ｐ ｅ ｒ ａ ｔ ｉ ｎ ｇ Ｓ ｙ ｓ ｔ ｅ ｍ） 测试难 、 效率低 ， 以及现有测试工具 通用性 差、 测试脚本 复用程度
Ａｂ ｓ ｔ ｒ ａ ｃ ｔ Ｅ ｘ ｉ ｓ ｔ ｉ ｎ ｇ Ｃ ＯＳ ｈ ａ ｓ ｔ ｈ ｅ ｐ ｒ ｏ ｂ ｌ ｅ ｍｓ ｏ ｆ ｄ ｉ ｆ ｆ ｉ ｃ ｕ ｌ ｔ ｉ ｎ ｔ ｅ ｓ ｔ ，ｌ ｏ ｗ ｅ ｉｃ ｆ ｉ ｅ ｎ ｃ ｙ ，ｉ ｔ ｓ ｃ ｕ ｒ ｒ ｅ ｎ ｔ ｔ ｅ ｓ ｔ ｔ ｏ ｏ ｌ ｓ ａ ｒ ｅ ｏ ｆ ｐ ｏ ｏ ｒ ｕ ｎ ｉ ｖ ｅ ｒ ｓ ａ ｌ ｉ ｔ ｙ ，ａ ｎ ｄ ｌ ｏ ｗ ｌ ｅ ｖ ｅ ｌ ｏ ｆ
ａ ｓ ｗｅ ｌ ｌ ａ ｓ ｔ ｈ ｅ ｄ ｅ ｓ ｉ ｇ ｎ ｏ ｆ ｉ ｔ ｓ ｃ ｏ ｒ ｒ ｅ ｓ ｐ ｏ ｎｄ ｉ ｎｇ ｉ ｎ ｔ ｅ ｒ ｐ ｒ ｅ ｔ ｅ ｒ ． Ａｐ ｐｌ ｉ ｅ ｄ ｐｒ ａ ｃ ｔ ｉ ｃ ｅ ｓ ｈ ｏ ｗｓ ｔ ｈａ ｔ ｔ ｈｅ ＵＣＳ Ｌ ｓ ｃ ｒ ｉ ｐｔ ｉ ｎｇ ｌ ａ ｎｇ ｕ ａ ｇ ｅ ｈａ ｓ ｔ ｈ ｅ ａ ｄｖ ａ ｎｔ ａ ｇ ｅ ｓ ｆ ｏ ｓ ｉ ｍｐｌ ｅ
智能卡的卡体测试
智能卡的卡体测试智能卡的卡体测试以下各项中，按字母表顺序简明地叙述了许多关于智能卡常用的测试和检验，参看图1。
卡制造商的测试实验室通常有卡的100～150项不同测试的一览表。
图1 卡体测试的分类选择（每项单独的卡要素：全息图像、磁条、芯片等等，都需要进行一系列的测试）环境条件是测试环境标准化的基本需求，这就是说在测试实验室内必须保持温度为23℃±3℃而相对湿度在40％～60％之间，被测卡必须在这种条件下适应24小时以上的时间，才能进行实际测试。
1，磁条的磨损测试（根据：ISO 7811-2；测试规程：ISO/IEC，10373）为了了解磁条对磨损的反映如何，首先把测试数据写入磁条，然后用一哑读/写头，其硬度为110HV至 130HV而曲率半径为10mm，沿磁条以.5N的外加力来来往往地移动1 000次，接着再读出数据，信号幅度必须在ISO 7811－2所规定的范围之内。
2，附着力或粘结成块（根据：ISO 7810；测试规程：ISO/IEC 10373）此项测试检查在某种环境条件下存储之卡的形状改变，5张未凸印之卡叠在一起，并在40℃与90％的相对温度时均匀地受到2.5kPa的压力48小时，然后检查分层、变色、表面变化以及其他可视的改变。
3．弯曲刚度（根据：ISO 7810；测试规程：ISO/IEC 10373）为了确定卡是否具有所需的弯曲的刚度，卡的左端以30mm的深度被夹紧，卡的正面向下。
首先在无负荷的情况下测量弯曲量，然后，在卡的另一端边缘上施以0．7N的负荷，计算在有负荷和无负荷两种情况下弯曲量之差，结果就表明了卡的刚度，弯曲刚度测试通常还在比一般测试温度23℃高或低的温度时执行。
4，抗化学性（根据：ISO 7810，ISO 7811－2；坝刂试规程：ISO 10373）卡体和磁条的抗化学性使用这些测试来考查。
在温度为20℃～25℃之间，将不同的卡放于下列准确规定的液体之中。
·5％的氯化钠溶液；·5％的乙酸溶液；·5％的碳酸钠溶液；·60％的乙醇溶液；·汽油（按照ISO 1817）；·50％的乙二醇溶液。
智慧门禁系统测试评估标准V0.1
必检
27
必检
电磁兼容性
电磁兼容性 28
对采用交流220V 供电的设备按GB/T 采用交流供电的设备其冲击（浪涌）抗扰度试验应符合GB/T 17626.517626.5-2008表1中严酷等级2级条件的规定 冲击（浪涌） 2008 表1中严酷等级2级的规定，试验过程中和试验后设备应能正常工作 进行冲击（浪涌）抗扰度试验，试验过程中 抗扰度 。 和试验后分别检查设备是否能正常工作，判 定结果是否符合要求。
必检
21 安全性
绝缘电阻
必检
22
泄漏电流
必检
23
阻燃性
必检
24
可靠性
门禁系统中的按键和按钮连续按压6 000次后应能正常使用。
必检
25
静电放电抗扰 静电放电抗扰度试验应符合GB/T 17626.2-2006表1中严酷等级3级的规 定，试验过程中和试验后设备应能正常工作。 度
必检
26
按GB/T 17626.2-2006表1中严酷等级2级条件 射频电磁场辐 射频电磁场辐射抗扰度试验应符合GB/T 17626.3-2006表1中严酷等级3级 的规定进射频电磁场辐射抗扰度试验，试验 的规定，试验过程中和试验后设备应能正常工作。 射抗扰度 过程中和试验后分别检查设备是否能正常工 作，判定结果是否符合要求。 对采用AC 220V 供电的设备按GB/T 17626.4采用交流供电的设备其电快速瞬变脉冲群抗扰度试验应符合GB/T 2008表1中严酷等级2级条件的规定进行电快 电快速瞬变脉 17626.4-2008 表1中严酷等级2级的规定，试验过程中和试验后设备应能 速瞬变脉冲群抗扰度试验，试验过程中和试 冲群抗扰度 正常工作。 验后分别检查设备是否能正常工作，判定结 果是否符合要求。
智能卡操作系统自动测试中的脚本技术
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智能卡操作系统指令测试方法研究
Research on the Test Methods of Chip Operating
System
作者： 史春腾[1]
作者机构： [1]中国电子技术标准化研究院
出版物刊名： 中国标准化
页码： 238-242页
年卷期： 2020年 第12期
主题词： COS;文件结构;指令格式;测试方法
摘要：智慧化、智能化的现代应用场景给了智能卡更大的发展空间,随着智能卡的功能多样化、容量的增加,其专有的智能卡操作系统(Chip Operating System,COS)的功能与安全性越来越受到重视。
卡片COS的设计与开发遵循了ISO/IEC 7816-4标准,本文基于COS常见指令,介绍COS的交互方式、文件结构与指令格式,研究讨论智能卡操作系统的基础测试方法。
基于智能卡操作系统的测试系统设计
管理模块、安全控制模块、文件管理模块、系统主控模块和硬件资源管理模块。
（1）传输管理模块。
传输管理模块依据智能卡所使用信息传输协议，完成对由读写设备发出的命令的接收；同时，把对命令管理模块对于命令的响应按照传输协议的格式发送出去的功能。
目前智能卡多采用的传输协议为接触式协议 ISO7816 的 T=0 协议、非接触式协议 ISO14443 协议等，同时根据特定使用场合也支持 NFC 协议、SPI 通信协议、I 2C 等通信协）命令管理模块。
命令管理模块主要完成语法判断和命令处理的功能。
语法判断是对传输管理模块接收到的每条命令的命令头做语法分析，检查命令3.2 智能卡操作系统测试特点智能卡操作系统的功能虽然多样复杂，但是各种产品之间存在着很多相同或相近的功能。
并且遵循最基本的协议和规范基本保持不变，因此智能卡操作系统的开发，通常都是增量开发、软件复用的方式。
在图 1 FM12XX 基本结构图图 2 COS 体系结构图图 3 测试环境指令测试模块中每一条指令测试用例的设计均遵循的 ISO7816-4 标准，其测试内容主要包括：在卡与读卡器间传送的命令及参数及其应答的正确性测试；卡中的文件、数据结构和访问方法的测试；卡中的文件和数据访问权限及安全的测试。
以上测试实现均通过模拟终端向 COS 发送特定的指令序列、判断指令的执行结果进行测试。
针对 COS 的特点和规范对于测试的具体要求，主要采用以下几种方法设计测试用例：命令参数分类测试方法、基本交易流程测试方法和基本安全功能测试方法、基本协议测试测试方法和一致性兼容性测试。
这几种独立的方法形成的构成4.2 命令参数测试方法测试用例设计命令参数测试方法主要针对命令的组成部分，利用系统测试方法对各部分参数进行测试。
命令参数分类方法主要包括以下几部分：命令的基本功能测试、命令的状态机测试、命令的数据边界测试、命令的异常错误测试。
4.3 基本交易功能测试用例测试对于交易类指令，整个交易流程会由多条指令序列根据一定的流程完成的。
智能卡渗透性测试套件技术要求
支持插件
操作界面要求
提供友好的用户界面用于管理、配置产品，具有菜单导航和信息导航等；
支持独立配置产品的方式；
支持VBScript。
项目管理要求
建立分工明确，职责清楚，层次分明同时又能协调配合的科学项目管理组织和架构；
项目管理贯穿整个系统开发周期，明确阶段任务、需要的资源，能够及时识别可能遇到的风险等，保证项目研发进度。
服务要求
要求
提供3年原厂服务；提供由专业团队负责的技术支持，包括安装、调试、现场技术培训；能够及时解决用户使用过程中遇到的问题，保证服务质量。
智能卡渗透性测试套件技术要求
技术指标
1)支持ISO/IEC 7816-3接触式卡片协议及嵌入式芯片；
2)可测智能卡Vcc及GND；
3)有测量孔可针对智能卡底面进行电磁分析；
4)可通过USB供电或外接输入电源；
5)IC卡电压可选(1.8 V / 3.0 V /可调范围(1.3 V ~ 4.9 V) /外部)；对嵌入式芯片外部电源通过板载变压器提供5.0V、3.3V、1.8V、1.2V和1.0V电压；
6)在任意IC卡供电电压自动信号切换；
7)可选IC卡时钟信号（通过FPGA/外部时钟）；
8)带供电64位通用I/O。.
样机形态要求
硬件整机配外设扩展板白色和绿色两块，并含操作软件。
主要功能要求
支持旁路信道分析和密码分析；
集成了最新的现场可编程门阵列，其逻辑区域比原产品使用的可编程门阵列大4倍到7倍，支持用户使用多种方式或权限去重新配置编程的功能；
适应功耗测试，并有隔离了其时钟信号源的功能；
支持通过USB端口进行供电和数据通信来完成统一接口功能；
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智能卡测试系统技术指标
智能卡测试系统包含非接触式智能卡测试模块、接触式智能卡测试模块和接触式智能卡协议分析模块。
非接触式智能卡测试模块
技术指标要求
自动化测试
平台提供基于可二次开发的测试环境，提供测试过程底层数据和命令的自动解析和图形化显示功能，基于ISO14443协议的测试环境，操作系统为Windows XP sp3, Vistal, Win7.
测试环境支持USB、TCP/IP、RS232三种通信接口，操作系统为Windows，以达到良好的驱动兼容性
测试平台的开放性决定它可集成到客户自己的测试平台可以与其他接触式卡及读卡器测试套件同步运用
主要功能要求模拟非接触式卡片测试仪，支持ISO14443的Type A, Type B, T=CL 协议以及防碰撞，支持数据速率为106, 212, 424, 828kbps
支持Innovatron协议
支持ISO/IEC15693协议，可选数据速率有高速和低速，采用的编码模式为1-4和1-256字节.
支持Mifare协议，支持的类型有classic，light，Ultra light，Ultra light C
支持FeliCa协议，支持的数据速率为212-424kbps
支持NFC测试，遵守NFC Forum规范，支持的测试传输模式为：tag 模式（tag1-tag4），读写模式，对等模式。
支持的数据传输速率为106,212,和424kbps
底层数据扑捉和解析
即使没有任何协议封装的数据也可以展示其底层交换帧
可编程参物理参数
磁场强度可调
调幅指数，从0%-100%
数场强上升时间，0-5ms
载波频率，12.56MHz-14.56MHz
调制的上升或下降时间，0-10us
逻辑参数
Type A的暂停时间范围，0-4.4ms
帧等待时间ETU可调
Type B的帧时钟周期可调
传输速度为106, 212, 424, 848kbps
可进行的测试电气测试
可进行共振频率的测试其范围为11-24MHz
可进行芯片阻抗测试，在13.56MHz的条件下实际测量
可进行磁场测量其范围为0-8A/m
可进行EMD测试
逻辑测试
自动测试
其分为以下几部分：
发送Type A的指令，等待处理判断，发送Type B的指令并接收应答（对于Type B卡）;
发送Type B的指令，等待处理判断，发送Type A的指令等待应答（对于Type A卡）
转换磁场，等待判断，发送（A或B的指令），接收应答
发送请求，等待，发送请求，接收应答
防撕裂
PICC重置表征
监测最小的FDT
逻辑测试
通过API控制测试
响应时间的测量（FDT, TR0，TR1）
发送的标准帧
发送畸形的块（错误的比特数）
距离的模拟检测
分离RX通道允许通信使用射频放大器
传统调制比率可测
触发器测试仪提供多种触发器，同步的或由外部实验设备进行同步
软件开发
可用元素, 库，通信Dll
支持的开发语言：C, C++, VB, .NET 等任何支持Dll的开发语言。
接触式智能卡测试模块
技术指标要求
自动化测试
平台提供基于可二次开发的测试环境，提供测试过程底层数据和命令的自动解析和图形化显示功能，基于ISO7816协议的测试环境，操作系统为Windows XP sp3, Vistal, Win7.
测试环境支持USB、TCP/IP、RS232三种接口，操作系统为Windows，以达到良好的通讯兼容性
可二次开发的测试平台，可集成到客户自己的测试平台
可以与其他非接触式卡及读卡器测试设备同步运用
主要功能要求支持协议ISO7816-3，T=0和T=1协议
MicroSmart技术实现硬件加速传输和接收的字符
支持USB 2.0, ISO/IEC 7816-12大批量存储以及自定义的协议
支持SWP协议，满足规范ETSI TS 102 613和TS 102 622，支持SWP，HCI层
同步芯片存储晶体
可用的库包括T2G, Eurochip, SLE4442, SLE4407, AT24CXX
可实现自定义协议的开发
可实现硬件加速
支持底层数据扑捉和解析
即使没有任何协议封装的数据也可以展示其底层交换帧
可编程参
数物理参数：
电压
VCC支持范围：0-10V
Vol支持范围：0-5V，其在每一个触点上的值都可独立调整Voh支持范围：1-7V，其在每一个触点上的值都可独立调整Vil支持范围0.2-5V
Vih支持范围1-6.8V
频率
ISO7816时钟频率的范围：10KHz-20MHz
ISO7816时钟占空比为30%-70%
信号的上升和下降时间
触点VCC范围为20ns-1.8V/ms
触点c2，c3，c4，c6，c7，c8范围为10ns-5um
所有的pin脚都是相互独立的可以单独处理
ISO7816的传输参数
ETU宽度范围：1-4096个时钟周期
BGT,初始ETU宽度，时钟周期可调
BWT, CWT, EGT, RGT, WWT，ETUs可调
时钟停在高低电平可调
时钟停止tG和tH计时，时钟周期可调
奇偶控制可强行控制在0,1…等奇数
输入奇偶错误检查可以被禁止
5千欧或者20千欧的固定上拉电阻
可以模拟1千欧到100千欧之间的任何值SWP传输参数
波特率为49kbps到1.9Mbps
SWP的占空比为0%-50%
SWP S2的检测阈值为1
USB-IC传输参数
USB-IC特有的附件程序由测试者管理
提供的供电电压为1.8V和3.0V
可进行的测试电气测试
开路/短接测试
有效触点为C1，C2，C3，C4，C5，C6，C7，C8
强制电流为：-500uA-500uA
漏电测试
有效触点为C1，C2，C3，C4，C6，C7，C8
测量范围+/-5mA或者+/-500uA
电压测量
有效触点为C1，C2, C3，C4，C6，C7，C8
电压范围为+/-10V
可用模式：动态模式，提供一模拟视角的电压在你选择电压时供你选择静态模式，提供一个即时电压值
爆炸模式，512000电压测量在40ns之间在C1和C6间进行，使信号图像化模拟出来
电流测量
有效触点：C1，C2，C3, C4，C6，C7，C8
有效电流范围：+/-100mA, +/-25mA, +/-5mA, +/-500mA
电流模式：动态模式，提供一模拟视角的电流在你选择电流时供你选择
静态模式，提供一个即时电流在所选触点上
爆炸模式，512000电流测量在40ns之间在C1和C6间进行，使信号
图像化模拟出来
逻辑测试
抗撕裂测试，模拟芯片免疫系统抵抗撕毁读卡器
定时测量，测量芯片一个命令的响应
并发I/O测试，同时发送的字符ISO / IEC 7816和SWP,与一个用户定义的时
间偏移量
SWP框架测试，发送的帧由点/位组成,使发送的数据没有位填充,或CRC错
误
接触式智能卡协议分析模块
技术指标要求
自动化测试
平台提供基于可二次开发的测试环境，提供测试过程交互数据和命令的自动解析和图形化显示功能，基于ISO7816协议的测试环境，操作系统为Windows XP sp3, Vistal, Win7.
测试环境支持USB、TCP/IP、RS232三种接口，操作系统为Windows，以达到良好的驱动兼容性
可作为第三方监测接触式读卡器和卡之间的ISO7816协议的数据并解析
测试平台的开放性决定它可集成到客户自己的测试平台
可以与其他卡及读卡器测试套件同步运用
主要功能支持协议ISO7816-3，T=0和T=1协议，支持波特率范围为
要求49kbps-1.9Mbps 可实现块级和LCC级的解析
支持USB 2.0, I SO/IEC 7816-12大批量存储以及自定义的协议
同步芯片存储晶体
可用的库包括T2G, Eurochip, SLE4442, SLE4407, AT24CXX
可实现自定义协议的开发
可实现硬件加速
可编程参
数
ISO7816-3的协议分析模式：采用I/O方向的检测算法
可进行的测试电气测试
进行测试的有效触点为C1，C6，C7，
样本数512000
可能同时执行电压和电流的测量来表征卡和终端的特性
解析特性测试类型的展示：
逻辑状态的改变
解析特点分析
调制的波特率
时钟频率的检测
信号的模拟表示
I/O方向
信号显示：
信号在C1，C2，C3，C4，C6，C7，C8上的显示触发输入
触发输出
测试过程中的时间可以精确到20ns
触发器可以提供同步的和由外接设备实现的同步
传输方式RS232，TCP/IP 10/100Mbps，USB2.0
软件开发对于嵌入式开发，支持的编程语言为，C, C++, VB, .NET以及任何语言
支持的Dll
可用元素为，测试所需的库和通信Dll 对于远程开发，推荐windrive的交叉编译器。