固体物理第四章.ppt

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《固 体 物 理》
教 师:
周静
学生专业:材料学院2005级材料物理
School of Materials Science and Engineering / WHUT
第四章 晶体中的缺陷与运动
晶体缺陷的主要类型 热缺陷数目的统计计算 晶体中的扩散定律 扩散的微观机制 热缺陷在外力作用下的运动
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点 了晶体的局部势场,使一部分电子能级从许可带中分离了出来,形成

禁带能级,因而容易提供电子或空穴,使电导率增加。根据提供的载

流子种类的不同分为施主杂质和受主杂质。
施主杂质:杂质掺进去后,能提供给导带以电子,我们称这种杂质 为施主杂质,形成的是n型半导体; 受主杂质:杂质掺进去后,能接受满带的电子,满带中出现电子空 穴,我们们称这种杂质为受主杂质,形成的是p型半导体。
➢晶体缺陷的主要类型


陷 的

点缺陷 线缺陷 面缺陷 体缺陷
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陷 的

➢晶体缺陷的主要类型
点缺陷 线缺陷
热缺陷
弗伦克尔缺陷 肖特基缺陷
杂质缺陷 置换型 填隙型
色心 极化子
刃型位错
位错 螺旋位错 混合位错
受主:空穴与硼形成弱束缚,
能级在ED,很易接受电子, ED—受主能级
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➢晶体缺陷的主要类型
➢电子缺陷 ✓ 碱卤晶体中的电子缺陷(色心)
色心:由于电子在离子晶体中出现正、负离子缺位所引起的局

部能级变化而导致的电子缺陷,我们称之为色心。
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➢晶体缺陷的主要类型
➢电子缺陷 ✓ 半导体中的电子缺陷(导带电子和价带空穴)
磷(P)、硼(B)掺入硅(Si)中后,禁带中出现能级ED
点 缺 陷
施主:电子与磷形成弱束缚,
能级在ED,很易被激发, ED—施主能级
Ga-Si ;③ 红宝石: Al2O3(刚玉晶体)掺Cr2O3形成, Cr3+-Al3+
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➢晶体缺陷的主要类型
➢电子缺陷
电子缺陷:在固体晶格中,由于本征点缺陷或杂质点缺陷
点 缺
的存在,晶格的周期性势场局部地受到破坏,在这 些局部地区,电子的能态同晶体中其它部分的能态 有所不同,将这类缺陷统称为电子缺陷。
面缺陷:晶界、缺陷堆积、表面
体缺陷:微裂纹、孔洞、集聚
<本征缺陷>
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➢晶体缺陷的主要类型
点缺陷(零维缺陷)
点缺陷:空位、填隙原子、杂质原子等类型缺陷所引起
对晶格周期性的破坏发生在一个或几个晶格常

数的限度范围内,故称点缺陷(约占一个原子

✓ 半导体中的电子缺陷(导带电子和价带空穴) ✓ 碱卤晶体中的电子缺陷(色心)
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➢晶体缺陷的主要类型
➢电子缺陷
✓ 半导体中的电子缺陷(导带电子和价带空穴)
在纯净半导体中掺加杂质,在形成替位式杂质点缺陷的同时,改变

叫本征缺陷。


常见的本征缺陷有弗仑克尔缺陷和肖特基缺陷
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➢晶体缺陷的主要类型
➢本征点缺陷
Frenkel缺陷:原子由正常格点跳到填隙位置,同时产生一个
空位和一个填隙原子。通常移动到间隙位置上
的离子其半径都较小,多为阳离子。(空位与


F心(负离子缺位)
V心(正离子缺位)
其它色心
极化子
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➢晶体缺陷的主要类型
➢电子缺陷
✓ 碱卤晶体中的电子缺陷(色心)

填隙原子成对产生)
缺 Schottky缺陷:晶体内部的原子迁移到晶体表面的正常格点上,
陷Hale Waihona Puke Baidu
同时产生一个空位和一个新的正常格点。(对
于离子晶体正负离子空位成对出现)
对Schottky缺陷的产生还有另一种理解:表面上某个原子 由其固有位置迁移到表面上另一个新的位置,在表面上形成 一个空位,内部原子迁移到表面填充这个表面空位,而在内
部形成空位。
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➢晶体缺陷的主要类型
➢本征点缺陷



✓ Frenkel缺陷和Schottky缺陷都是由于晶格振动(热运动)而产生的,称为 热缺陷,且为本征缺陷(固有原子缺陷),所以上图中C填隙不为Frenkel
➢晶体缺陷的主要类型
➢杂质点缺陷
杂质缺陷: 在偏离理想状态的固体点缺陷中,除了热运动引
起的本征点缺陷之外,其余都为杂质点缺陷。

✓ 填隙式杂质点缺陷:①能源材料——贮氢材料,H进入

金属或合金原子间隙;②某些合金就是由C、H、O、N

等较小元素进入金属元素间隙而形成的。③钢就是铁掺
碳,C进入Fe原子间隙; ✓ 替代式杂质点缺陷:①N型半导体:P-Si;②P型半导体:

大小的尺寸)。

空位:指正常格点上某个位置的原子不存在。
填隙原子:指正常晶格中的固有原子或外来原子挤进晶
格间隙位置。
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➢晶体缺陷的主要类型
➢本征点缺陷
本征缺陷:由热起伏产生的空位和填隙原子叫做热缺陷,也
缺陷(杂质缺陷)。
✓ 通常要产生填隙缺陷,需固有原子挤进正常晶格间隙位置,这时所需能量 要远高于形成空位的能量,故在温度不太高时,对大多数晶体而言,形成 Schottky的几率要远大于形成Frenkel的几率,当然如果外来原子较小时, 也可进入间隙(不是Frenkel缺陷)。
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