关于分光光度计基线校正的原理和方法

关于分光光度计基线校正的原理和方法

对于双光束分光光度计而言在使用前必须要做基线校正（也称为基线记忆）， 对于此项工作的原理和操作方法许多使用者的认识不尽相同；为此谈谈我的认 识。

（一）为何要做基线校正？

众所周知、光度计的光学系统基本是由光源（氘灯、钨灯）—单色器（光栅、狭 缝）—检测器（光敏二极管、光电倍增管）等三部分组成的。在我们使用的波长 区域中（一般紫外可见仪器均在 190nm～1100nm范围里，）上述部件在不同的 波长下的响应值（光源的发射强度、单色器的色散强度、检测器的放大倍数）均 不相同；通俗地说、即使没有样品，仪器如果不做基线校正，那么在 190nm至 1100nm的范围中， 吸光值或透过率不会是一条直线， 这是一种客观的物理现象， 如下图；

尽管上图反映的是单光束的能量图，但在基线未校正状态下，即使改用双光束测 量方式来扫描一个样品，其所得到的图谱或吸光值也是不可信的。

（二）被校正的基线种类和用途

（1）系统基线：

所谓系统基线就是仪器固有的波长范围的总基线； 例如一台仪器出厂设计的波长 全程范围是 190nm 至 1100nm，那么它的系统基线就是这个范围。一般来讲， 作为分析人员对一台仪器做全程扫描测试是比较少见的； 之所以要做系统基线的 目的一般是将仪器的光学系统的响应值校正到基本一致； 这就类似马拉松赛跑一 样，只要大家在同一起跑处（注意：不是起跑线）比赛，前后差几米出发无所谓。 （2）用户基线：

所谓用户基线就是分析者自己设定的测量波长区域的一段基线； 由于这是分析所 需要的区域，为了保证测试的准确性，故用户基线的校正是非常重要和必要的； 这就类似百米赛跑一样，运动员要在同一个起跑线上比赛而不能抢跑，否则无法 准确计算成绩。

（三）基线校正的方法

（1）系统基线：

系统基线的校正较为简单， 一般情况下样品室内不放样品， 仅做光学系统的校正； 如果一定要使用全波段的测量那另当别论。同时需要注意的是：系统基线无需经 常校正，一般半个月或一个月校正校正一次即可。对有的仪器来说，系统基线校 正过于频繁反而会造成基线漂移严重。

（2）用户基线校正：

正确的校正方法是：两只比色杯盛有空白溶液分别放置在样品及参比光路中，校 正波长范围要大于分析波长范围；例如、分析设定范围为 220nm～500nm，那 么校正波长就要设定为 210nm～510nm；等待校正结束后再将波长设定回到原 来的220nm～500nm范围。这种校正方法的优点是：如果校正波长与分析波长 完全吻合一致，有可能在校正后的基线两端出现大的噪声；如果校正范围大于实 际分析范围并掐头去尾后可以提高分析精度。我将这种校正方法起名为“豆芽菜 原理”，目的是便于记牢；（因为我们吃豆芽菜时均要掐头去根，仅吃中间部分， 故以前的饭馆将炒豆芽这道菜称为“炒掐菜”；对不起、跑题了）。关于这种校正 方法，许多使用者往往不知晓或忽略掉了，在此顺便介绍给版友。

值得注意的是，有的仪器操作者在做基线校正时，参比一侧不放参比溶液，也就 是用空气来做参比对照。这种方法在可见区对有的样品也许有时影响不大，但在 紫外区影响就会很明显了。严格的说，用空气做参比所测得的结果不是真正意义

上的校正光谱。

（四）基线校正的注意事项

（1）基线校正时要保证仪器有一定的预热时间

（2）每更换一种参比溶液后均要重新做基线校正

（3）如果参比溶液的吸光度大于样品的吸光度值时测试结果会出现负值，此时 要考虑使用何种溶液做基线校正了。

（4）做基线校正时要考虑试剂的使用波长范围问题，因为有的试剂在某个波长 以下的吸光度值会无限大，这时去做校正会超出仪器的有效量程范围，无法得到 真正的结果。关于试剂的使用波长范围，目前一般在试剂瓶的标签上会有标注。 我有个简单资料表供大家参考如下：