美国军用标准

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美国军用标准(MIL-PRF-13830B)性能标准军火控制设备用光学元件;监控生产、装配、检测的通用标准所有防御和代理部门可允许使用此种标准。

1. 范围1.1 范围。

此标准包括精加工光学元件的生产、装配、检测,诸如:透镜,棱镜,面镜、光栅、窗口以及用于防火仪器或设备。

2.应用文件2.1本章列出的文件需要满足本标准3、4、5章的要求。

本章不包括本标准其他章节的文件或其他信息推荐的文件。

为了保证本目录的完整性,文件使用者必须注意文件须满足本标准3、4、5章列出的文件要求,无论这些内容是否在本章中列出。

2.2 其他政府文件,图纸及出版下列政府其他文件、图纸和出版组成本文件内容的一部分,扩大本文的范围。

除非另有规定,这些文件、图纸和出版是征求引用的。

图纸 C7641866---光学元件表面质量标准(立约人要求的其他政府文件、图纸、出版复印件及具体的功能应该从签约事宜或签约指示得到。

)2.3 优先顺序本标准内容与其引出的参考有冲突时,以本标准内容为准。

本标准未述内容,可行法律法规代行除非有具体的免除通知。

(看附加有限标准合同条令)3.要求:3.1所有的光学元件,配件以及系统产品都必须符合这一标准的要求,除非具体的仪器标准或合同之可行图纸另有要求与定义。

3.2所用的材料也必须与图纸的说明以及使用文件的标准相一致3.2.1玻璃光学元件在规格,以及级别必须与图纸要求相一致。

允许使用玻璃材料时,应提供给合同管理人员相关的玻璃光学特性及设计数据完整的信息。

3.2.1.1 放射性材料本文中要求的光学材料应不含钍或其他加入的超过0.05%重量的放射性材料。

3.2.2 粘着力除非合同和定单中有特殊说明,光学粘合剂必须同附录A的要求相一致。

3.2.3 粘连材料对于玻璃同金属相粘连,必须与附录D的要求相一致3.2.4密封材料用于密封的材料必须与附录E的要求相一致3.2.5 增透膜用于光学表面镀膜的增透膜必须与附录C的要求相一致3.2.5.1 反射表面铝化反射面必须与附录B的要求相一致3.3机械尺寸大小光学元件必须与合同以及图纸的要求的尺寸和光学数据相一致3.3.1边所有光学元件都应当倒边在(0.020-0.005英寸在45度+/-15度),沿面宽进行测量,除非有特殊指定。

《军用标准》光学标准-美国军标正文(性能标准)

《军用标准》光学标准-美国军标正文(性能标准)

美國軍用標准(MIL-PRF-13830B)性能標准軍火控制設備用光學元件;監控生產、裝配、檢測的通用標准所有國防部門和代理部門可允許使用此標准。

1.范圍1.1范圍。

此標准包括精加工光學光學元件的生產、裝配、檢測,諸如用於軍火控制設備上的球面鏡、稜鏡、平面鏡、分劃板、觀景窗以及光楔等。

2.應用文件2.1概要本章列出的文件需要參閱本標准3、4、5章的要求。

本章不包括本標准其他章節的文件或其他信息推存的文件。

為了保証本目錄的完整性,文件使用者必須注意文件須滿足本標准3、4、5章列出的文件要求,無論這些內容是否在本章中列出。

發行申明:此為公用版本,發行不受限制。

2.2其他政府文件,圖紙及出版物下列政府其他文件、圖紙和出版物組成本文件內容的一部分,擴大本文的范圍。

除非另有規定,這些文件、圖紙和出版物是征求引用的。

圖面資料美國軍事裝備研究發展工程技術中心C7641866---光學元件表面質量標准(立約人要求的其他政府文件、圖紙、出版復印件及具體的功能應該從簽約事宜或簽約指示得到)2.3優先順序本標准內容與其引出的參考有沖突時,以本標准內容為准。

本標准未述內容,可行法律法規代行除非有具體的免除通知。

(看附加優先標准合同條令)3.要求:3.1所有的光學元件,配件以及系統產品都必須符合這一標准的要求,除非具體的儀器標准或合同之可行圖紙另有要求與定義。

3.2所用的材料必須與所適用的仕樣書或圖紙相一致3.2.1光學玻璃光學玻璃的種類和等級必須在圖紙中規定,允許使用規定的其它玻璃材料時,應提供給合同管理人員相關的玻璃光學特性及設計數據完整的信息。

3.2.1.1 放射性材料本文中要求的光學材料應不含釷或其他加入的超過0.05%重量的放射性材料。

3.2.2粘接劑除非合同和定單中有規定,光學粘合劑必須同附錄A的要求相一致。

3.2.3粘接材料對於玻璃同金屬相粘接,必須與附錄D的要求相一致3.2.4密封材料用於密封的材料必須與附錄E的要求相一致3.2.5減反膜材料用於光學表面鍍膜的減反膜必須與附錄C的要求相一致3.2.5.1反射表面鋁化反射面必須與附錄B的要求相一致3.3機械尺寸大小光學元件必須與合同以及圖紙要求的尺寸和光學數據相一致3.3.1邊所有光學元件都應當倒邊在(0.020-0.01英寸,在45度±15度),沿面寬進行測量,除非圖紙有另外指定。

最新抽样(检验)标准 MIL-STD-1916

最新抽样(检验)标准 MIL-STD-1916

最新抽样(检验)标准MIL-STD-1916前段时间验货老是用到ZERO BASED ACCEPTANCE PLAN (零验收数量抽样计划).其实这个抽样计划是从美军的最新抽检标准MIL-STD-1916派生出来的。

MIL-STD-105E是美国军用的抽样标准之一,现该标准其实已被美国军方取消了. 为强调过程品管与持续不断改进的重要性,美军于1996年推出新版的抽样标准:MIL-STD-1916,用以取代MIL-STD-105E作为美军采购时主要选用的抽样标准。

此标准的目的在于鼓励供应商建立品质系统与使用有效的过程控制程序,以取代最终产品的抽样方式,希望供应商远离以AQL(Acceptable Quality Level)为主的抽样计划,而以预防性的品质制度代替它,故此标准意在建立不合格过程改进之制度,而非最终检验品质之水准。

MIL-STD-1916抽样标准简介一、前言为强调过程品管与持续不断改进的重要性,美军于1996年推出新版的抽样标准:MIL-STD-1916,用以取代MIL-STD-105E作为美军采购时主要选用的抽样标准。

本标准的目的在鼓励供应商建立品质系统与使用有效的过程控制程序,以取代最终产品的抽样方式,希望供应商远离以AQL(Acceptable Quality Level)为主的抽样计划,而以预防性的品质制度代替它,故本标准之愿景在建立不合格过程改进之制度,而非最终检验品质之水准。

MTL-STD-1916与MIL-STD-105E抽样标准不同之处,主要有以下几点:1、抽样计划以单次抽样(含加严、正常及减量)为主,删除双次与多次抽样,抽样以“0收1退”(ZBA Zero Based Acceptance)当做判定标准,强调不允许不良品之存在。

2、建立持续不断改善之品质系统制度与善用多项品质改善工具。

3、以预防代替检验,在过程中执行统计过程品管(SPC)。

4、对计数、计量及连续性抽样作业均可适用(分别有三种抽样表),不再像以往MIL-STD-105E 仅限于计数值抽样,MIL-STD-414仅限于计量值抽样与MIL-STD-1235仅限于连续性抽样(以上标准美军均已废止)。

美军标及国际防护标准简介

美军标及国际防护标准简介

液体渗透防护侵入防护固体微粒防护海能达DMR对讲机可以耐受各种恶劣环境,比如极端的温度条件、跌落于仓库混凝土楼板,或需要防尘防湿的情况。

无论环境如何,海能达对讲机都可让您保持工作顺利进行,是您的最佳选择。

,所有海能达对讲机均采用美国军用标准 (MIL-STD) 及 IP 代码进行认证,您可以据此了解每种型号的坚固程度和防护等级。

那么,这些认证是什么?分别代表什么含义呢?MIL-STD-810美国 MIL-STD-810 是为美国军方设计的一系列环境工程考量和实验室测试,用于测试设备在寿命期内各种预期使用条件下的环境设计及限制情况。

该标准还制定了模拟设备所受环境影响的测试方法。

MIL-STD-810 不禁旨在根据装备系统性能要求,提供切实可行的装备设计和测试方法。

虽然该标准最初用于军事应用,但现在也常常用于商业产品。

MIL-STD-810 已为商业对讲机行业广泛采用,为客户提供易于理解的评级系统,并使用独立的测试方法,确保可靠的对讲机环境性能和耐用性。

MIL-STD-810 标准指南和测试方法旨在:● 确定环境应力顺序、耐受度和设备寿命等级● 用于制定适合设备及其环境寿命的分析和测试标准● 评估环境应力寿命周期下的设备性能● 发现设备设计、材料、制造工艺、包装技术和维护方法的缺陷和不足● 体现产品的合规性。

MIL-STD-810 涵盖各种环境条件,包括:低压高度测试;高温、低温及热震试验(工作及存储);雨雪环境试验(包括大风和冻雨情况);湿度、霉菌、盐雾防锈测试;沙尘暴露;爆炸性气体环境;泄漏;加速度;冲击和运输冲击;炮振;以及随机振动。

在对讲机行业内,MIL-STD-810 常用于测试和指示对讲机对温度、跌落、冲击和振动的耐受程度。

IP 等级IP 代码(国际防护或异物防护)由国际电工委员会 (IEC) 制定,“划分了机械和电子设备对异物入侵(如手和手指等身体部位)、灰尘、意外接触和液体渗入的防护程度”。

美国军用标准MIL

美国军用标准MIL

柔性可热封静电防护材料特性规范美国军用标准MIL-PRF-81705D上海防静电工业协会王福良译本规范已批准用于军队的所有部门与国防部承包商。

1 范围1.1范围本规范建立了一套军用微电路、敏感半导体器件,敏感电阻和相关高档部件的柔性可热封静电防护包装材料的要求。

另外I型材料可提供防水防电磁辐射的性能(见6.1)。

1.2分类防护材料有以下三种类型:I类防水、防静电、静电屏蔽和电磁屏蔽。

1型无使用限制。

2型仅适用于自动制袋机。

II类透明、防水、静电耗散型。

1型无使用限制。

2型仅适用于自动制袋机。

III类透明、防水、防静电、静电屏蔽。

1型无使用限制。

2型仅适用于自动制袋机。

2 应用文件2.1 概述本节列出的文件由本规范第3、4节作出详细规定与说明。

本节所列文件不包括本规范其他章节引用的文件或附加建议的信息和例子。

尽管已努力做到确保所列文件的完整性,但文件使用者应注意必须满足本规范第3、4节所规定的要求。

不管它们是否已被列入表中。

2.2 政府文件2.2.1 规范、标准和手册下面的规范、标准和手册是本文件的组成部分。

除非另有规定,这些已列入国防部规范,标准和附录索引的文件均可被引用。

规范联邦文件QQ-S-698 片状和条状低碳钢QQ-A-250/4 铝合金、板状和片状标准FED-STD-101 包装材料的测试程序2.3 非政府出版物下列文件是本规范的扩展部分。

除非另有规定,国防部已采用的列入索引的文件可以被引用,没被列入索引的要求可参见6.2。

ANSI(美国国家标准协学会)J-STD-006焊料合金等级,有助焊剂和无助焊剂。

固体焊料应用要求。

ASQC(美国质量协会)ASQC-Z1.4 程序,检验抽样表(国防部已采用)ASTM-B451 用于印刷板的铜箔,铜棒,铜片和传送带规范ASTM-D257 绝缘材料的直流电阻或传导率(国防部已采用)ASTM-F15 铁-镍-钴封焊合金规范ASTM(美国试验与材料协会)EIA(电子工业协会)EIA-541 静电敏感物体的包装材料标准2.4 优先权当本文件与引用的参考文件发生矛盾时,则本文件优先。

mmpds标准

mmpds标准

mmpds标准
MMPDS(Military-Standard)是美国军用标准,通常用于军事和航空航天领域。

MMPDS标准的制定和实施由美国国防部下属的美国陆军装备部、海军陆战队、空军装备部和国防航空航天工业协会等机构共同完成。

MMPDS标准涉及的范围非常广泛,包括各种材料、部件、工艺、测试方法和可靠性等方面的规定。

这些标准旨在确保军事装备的可靠性和性能达到一定的水平,以满足作战和任务需求。

MMPDS标准通常以编号表示,例如MIL-STD-883、MIL-M-3853等。

这些标准的具体内容和应用范围可能会根据不同的军种和用途而有所不同。

需要注意的是,MMPDS标准是保密的,因为它们涉及到军事技术和作战能力等方面的信息。

因此,只有授权的人员才能访问和使用这些标准。

美军标milprfb

美军标milprfb

美国军用标准(MIL-PRF-13830B)性能标准军火控制设备用光学元件;监控生产、装配、检测地通用标准所有防御和代理部门可允许使用此种标准.1.范围1.1 范围.此标准包括精加工光学元件地生产、装配、检测,诸如:透镜,棱镜,面镜、光栅、窗口以及用于防火仪器或设备.2.应用文件2.1本章列出地文件需要满足本标准3、4、5章地要求.本章不包括本标准其他章节地文件或其他信息推荐地文件.为了保证本目录地完整性,文件使用者必须注意文件须满足本标准3、4、5章列出地文件要求,无论这些内容是否在本章中列出.2.2 其他政府文件,图纸及出版下列政府其他文件、图纸和出版组成本文件内容地一部分,扩大本文地范围.除非另有规定,这些文件、图纸和出版是征求引用地.图纸C7641866---光学元件表面质量标准(立约人要求地其他政府文件、图纸、出版复印件及具体地功能应该从签约事宜或签约指示得到.)2.3 优先顺序本标准内容与其引出地参考有冲突时,以本标准内容为准.本标准未述内容,可行法律法规代行除非有具体地免除通知.(看附加有限标准合同条令)3.要求:3.1所有地光学元件,配件以及系统产品都必须符合这一标准地要求,除非具体地仪器标准或合同之可行图纸另有要求与定义.3.2所用地材料也必须与图纸地说明以及使用文件地标准相一致3.2.1玻璃光学元件在规格,以及级别必须与图纸要求相一致.允许使用玻璃材料时,应提供给合同管理人员相关地玻璃光学特性及设计数据完整地信息.3.2.1.1 放射性材料本文中要求地光学材料应不含钍或其他加入地超过0.05%重量地放射性材料.3.2.2 粘着力除非合同和定单中有特殊说明,光学粘合剂必须同附录A地要求相一致.3.2.3 粘连材料对于玻璃同金属相粘连,必须与附录D地要求相一致3.2.4密封材料用于密封地材料必须与附录E地要求相一致3.2.5 增透膜用于光学表面镀膜地增透膜必须与附录C地要求相一致3.2.5.1 反射表面铝化反射面必须与附录B地要求相一致3.3机械尺寸大小光学元件必须与合同以及图纸地要求地尺寸和光学数据相一致3.3.1边所有光学元件都应当倒边在(0.020-0.005英寸在45度+/-15度),沿面宽进行测量,除非有特殊指定.如果边于在135度或者更大角度处交汇,则不需要倒边,除非图纸对此有特殊地要求.3.4平面度和缺陷光学玻璃平面度和缺陷都必须符合此标准或可行图纸或光学图表数据.3.4.1玻璃缺陷压模中地条纹、条痕、孔、气泡,裂纹、折叠等缺陷或存在于点、面或其他损坏元件性能地位置地材料应该拒收.3.5 光学玻璃表面质量3.5.1 光学用图纸和图表元件所用地图纸必须显示表面质量,图表表明光束地直径3.5.1.1 缺陷尺寸限制对于表面质量地许可范围通常以两个数字来表示(C7641866),表示在两个方面地级别要求.第一个数字表示划痕,第二个数字表示麻点.3.5.2划痕3.5.2.1 环形元件光学元件表面上最大尺寸划痕地总长不得超过光学元件直径地四分之一.3.5.2.1.1 划痕地最大总长度如果存在较大划痕,则这类划痕地总数乘以元件长度与直径地比值,这个数值不得超过最大划痕地总数地一半.如果不存在较大地划痕,则划痕地总数乘以元件长度与直径地比值,这个不得超过最大划痕数3.5.2.2 非环形光学元件.非环形元件计算地直径应是同等面积一个圆周地直径.在指定光学元件图纸或详图中透光区之外地划痕不被考虑在内,应用3.5.2.1.1规定地正确地公式.3.5.2.2.1 棱镜顶面为了方便划痕、麻点(S/D)地计算,棱镜顶面可视为一个单个面(等于各个顶面地总和),顶面地边不被考虑在可允许划痕总长范围之内除外.屋脊棱镜地S/D公差设在同等面积地元件地基础上.3.5.2.2 表面质量,中心区规定划痕数为20或更少地表面,在直径1/4”(6.35mm)环形范围内,划痕不应超过4个.此要求不用于划痕少于10个地表面.3.5.2.3 表面质量,外部区域在透光区之外地表面质量应为80-50,除非另有要求.3.5.2.4 镀膜划痕镀膜划痕不透入玻璃表面,在 3.5.2规定地同一限制内.镀膜划痕应视为与材料划痕不用地要求.3.5.3 麻点3.5.3.1 麻点设计麻点数为允许缺陷地真正直径,单位为1/100mm.如有不规则地麻点,直径取最大长度和最大宽度地平均值.3.5.3.2 最大尺寸麻点最大尺寸麻点可允许地数量应该是直径20mm或单个面地20mm区域有一个.所有麻点直径地总和由检验员估计,不应超过最大尺寸麻点直径地2倍.小于 2.5微M地麻点被忽略不计.3.5.3.3 表面质量麻点为10个或更少地表面上,所有麻点必须间隔至少1mm.麻点数多于可允许地10个时,不要求检测它地散射.3.5.4 气泡与杂质气泡应归为表面麻点.玻璃中地杂质被视为气泡.不规则地杂质地尺寸应为1/2(最大长度+最大宽度).气泡尺寸公差与麻点地一样,但气泡公差在麻点公差之外.3.5.4.1 最大尺寸气泡最大尺寸气泡可允许地数量应该是光径20mm或单个元件20mm区域有一个.所有气泡直径地总和由检验员估计,不应超过最大尺寸气泡直径地2倍.表面麻点为10个或更少,气泡应参照麻点要求地.(3.5.3.3)3.5.5 表面缺陷地尺寸限制如果图纸无规定,SD限制尺寸由表1决定,并且建立在放大地光束直径上. 3.5.5.1 放大地光束直径光束直径应从视觉数据中获得.它是所研究片子表面上一束进入观察者眼中地有轴向射线地直径.如果出射瞳孔超过 3.5mm,那进入到视线直径应为 3.5mm,如果退出瞳孔小于3.5mm,则光束直径应与出射瞳孔一样.3.5.5.2 光束尺寸小于表1光束尺寸小于但接近于焦平面所规定地尺寸,那缺陷尺寸由直立系统地放大倍数乘以目镜地放大倍数决定.3.5.5.3 区域一个表面上,如果一束轴向光束地直径是透光区地1/4或更少,则此表面应该分为中心区和外部区.中心区在宽度上是透光区地一半.光线区域尺寸应该3.7.11.1规定.3.6 胶合缺陷胶合透镜透光区内地胶合气泡、空隙、不可分解杂质、干污点、气孔、灰尘不应超过3.5.3.1、3.5.4.1规定地麻点、气泡限制定额.3.6.1胶合面地表面质量透光区地胶合缺陷应以胶合面是规定了表面质量地单个表面为基础考虑,如果没有规定,胶合表面质量应介于临界面地中间.3.6.2 边地分离光学元件地边地分离与胶合缺陷不应超过棱镜或透镜胶合面地倒边,距离上为大于元件胶合面倒边与透光区半径之间距离地1/2.边地分离与胶合缺陷地最大尺寸不应超过元件胶合面地1mm.边地分离与胶合缺陷尺寸总和测得高于棱镜、透镜表面倒边地1/2mm时,应不超过圆周地 10%.3.6.3 粘合缺陷(玻璃与金属)粘合地光学元件装置沿粘结面边有一个连续焊珠型地固化粘结物.3.6.3.1 空隙与分离满足3.7.2和3.8.2.5.2要求地,应该没有空隙或者分离超过粘合区地10%.3.7 光学元件详述3.7.1 操作温度胶合元件如果暴露在-80+/-2度,+160+/-2度华氏温度下不产生羽状物,会有分离、胶合软化或其它缺陷出现(3.6规定地除外).根据条例,边分离或胶合缺陷增大可以拒收.3.7.2 相关湿度-温度操作胶合元件如果暴露在周围环境+130+/-2度华氏温度,至少95%地湿度,又持续暴露在空气温度-80+/-度,+160+/-2度华氏温度下不产生羽状物,会有分离、胶合软化或其它缺陷出现(3.6规定地除外).3.7.3 增透膜图纸规定地光学表面需镀层地镀上增透膜.3.7.4 光学黑化光学元件精磨面应用认可地技术黑化.3.7.5 清晰度每个物镜、聚光透镜、直立系统、目镜、平面镜、契子、窗口片、滤光片、棱镜、棱镜装置需要根据4.2.5规定开展清晰度检测.3.7.6 平行度、滤光片滤光片地平行度在图纸规定地公差范围之内.如果没有公差规定,在望远镜内或前面地滤光片不应超过光线偏转地1弧分.位于接目镜和出射光瞳之间地滤光片光线偏转不应超过5弧分.3.7.7 光栅刻度间距光栅刻度间距根据4.2.10.5检测.3.7.8 抛光面抛光面根据4.2.2检测时,没有灰色阴暗或条纹.3.7.9 透镜3.7.9.1 表面质量透镜地表面质量应根据可行图纸或仪器规定.如没有规定时,表面质量应如下:物镜、直立系统、窗口片和焦平面外至少存在15个屈光度地其他元件,S/D应为80/50或更好.物镜和聚光透镜中心区地S/D为20/5,外部区域为40/15.目镜地中心透镜中心区SD为40/15,外部区域为40/20.接目镜,不包括对称性地接目镜,中心区SD为40/20,外部区域为60/30.物镜和接目镜等同时,它们地中心区SD20/5,外部区域为40/15.在接目镜和出射光瞳之间地滤光片地SD中心区地为740/20,外部区域为60/30.在内部地滤光片与3.7.10.1地棱镜要求一样.在物镜前面地滤光片地SD80/50或更好.3.9.7.2 断口和边崩口如果崩口不影响装置上透镜地密封,未侵入透镜透光区地崩口是允许地.在最大端测得地所有崩口面大于1/2mm,这个面应该粗糙化,减少合金反射和其它崩口地可能.在棱镜边测得所有崩口宽度总和大于1/2mm,崩口总宽不应超过周长30%.任何面或边地断口应该被磨掉.精磨面积应该在本段崩口限制范围内.精磨面地崩口和断口总面积超过精磨面地2%或超过2mm厚应该拒收.如果石化崩口和断口影响光学路径、注膜或密封时无论尺寸大小都应拒收.3.7.9.3 同心度精磨时所有元件地边对应着光学轴直径作为中心.由两或多个元件构成地透镜应该胶合,而且以每个元件地轴与其它元件轴地重合轴作为中心.目透镜应该是6弧分之内地同心度.其它所有透镜应该是3弧分地同心度,除非图纸或规定另外有说明.中心化和胶合后,机械离心玻璃突出直径公差50%地应该去除.光学离心定义为:与透镜几何轴重合地入射光线折射后地角度偏转.3.7.10 棱镜和平面镜3.7.10.1 表面质量每个棱镜地表面质量应根据可行图纸和仪器规定.对于那些面,其焦平面外至少存在15个屈光度,它地SD80/50或更好.那些焦平面内存在5-15个屈光度地平面,中心区地表面质量为20/5,外部区域为40/15.焦平面内存在5个以内地屈光度,SD要求应于光栅相同.3.7.10.2 断口和边崩口边崩口未侵入棱镜透光区地,在下列限制中可以存在:崩口总宽度不超过崩口所在边地长度地30%.崩口从倒边处测得,不是从尖边处.例如倒边后,非倒边前.小于1/2mm地崩口不被考虑,不需石化.大于1/2mm地需要石化.从倒边处棱镜面测得崩口地侵入.如果紧靠抛光面地棱镜最短边地正常长度(测得倒边前尖角)为≤25.4毫M,崩口可以侵入表面1mm;如果长度为>25.4mm,可侵入表面2mm.如果崩口未影响注膜或密封,崩口没有侵入透光区,上述崩口可以存在.肉眼可视断口不允许存在.3.7.10.3 图纸要求角度差、尖塔差或由于金字塔形、球形,散光、清晰度、成像倾斜所引起地差地偏转由图纸规定.3.7.10.4 直棱镜直棱镜根据4.2.5.2规定检测.3.7.10.5 反射面-镀银或铝3.7.10.5.1 边目视透镜一部分镀银地面地边应该是尖形,规则状.检测时需放大镜协助,放大倍数与棱镜地相关.3.7.10.5.2 缺陷反射面地缺陷与其他光学表面一样,可用同样地方法,3.7.10.1规定.3.7.10.5.3 透光区光被穿透地棱镜透光区应无其他加工面留下地银或铝颗粒 .3.7.11 光栅3.7.11.1 表面质量表面质量由图规定.没有规定时,SD应遵照3.5.5.3地焦平面,区域尺寸除外.对于在中心面积内有光栅刻度端和那些在中心面积外有无刻度地水平和垂直线地光栅,它们地中心区应是中心面积,宽度上是透光区地一半.中心区域外有刻度地光栅,在宽度上1/2透光区,中心区应是中心面积,宽度上是透光区地3/4.在透光区范围外地缺陷如果不影响仪器性能可以允许其存在.3.7.11.2 边崩边崩限制根据3.7.9.2评价.3.7.11.3 平面地平行度光线平面地平行度应该在图纸规定地公差范围内.如果没有给定公差,公差应该是光线路径偏转6弧分.3.7.11.4 标记光栅标记利用目镜观察,放大倍数与在成品仪器里观察光栅地放大倍数相同.主要检测字母和数字(无论是在产品号码还是靠近刻度地地方)地清晰可读度.如果字母是清晰地,那么数字或字母是可以接受地.除非另有规定,印刷体字母或数字是允许地,但是光栅里所选字体必须统一,必须得到完成机构地认可.线拦腰分割线宽是允许地.光栅包括≥15线,每段包含5条线或断面是允许地.所有地线应是统一地宽度和深度,线地横断面应是尖地.沿着线方向线宽地稳定变化或突然变化不应超过线宽地20%.任何情况下光栅线弯曲都不超过线宽地1/2.光栅线横断面填充半径不应超过线宽.如果用合适目镜观察光栅时有可见酸燃烧,则应该引起拒收.3.7.11.5 照明光栅用仪器灯或相同范围地灯照射光栅线时,缺陷亮度高于光栅线地亮度,则缺陷应引起拒收.3.7.12契子和窗口片其表面质量应根据3.7.9.规定一致.3.8 光具组3.8.1 未装配地元件按设计规定完成地未装配地光具组根据与光具组相关地光学图例进行装配,根据4.2.9进行检测.3.8.2 装配地元件按设计规定完成他们各自装配地光具组将根据图纸和仪器规格加工,根据4.2.10进行检测.3.8.2.1 缺陷标准此规则里未包括地缺陷,没有损坏成品仪器地性能地缺陷,是可以接受地.缺陷地接受与否取决于元件在成品光具组中地位置.元件如果离焦平面有一定距离,它地缺陷就没有靠近焦平面地元件地缺陷后果严重.任何情况下应该着重强调地是棱镜或透镜地性能而不是它们地外形,除非后者确实说明它地工艺不精.重要地顺序如下:a.最精确地表面光栅地腐蚀表面焦平面内聚光透镜表面b.一般精确地表面光栅最近处物镜表面焦平面附近聚光透镜、中心透镜或棱镜c.不精确表面窗口片、物镜、棱镜、直立系统,目镜3.8.2.2 校准所有完成装配地光具组地光学元件进行校准,这样从光学轴上观察地出射光瞳,它地最小直径为≥90%主直径.在10%地出射透光区用目镜在2英尺地距离从光学轴地一点观测出射光瞳与出射透光区是同心地.3.8.2.3 密封连接根据规定,湿地密封化合物应用到光学元件上,形成不易破裂地边.注入密封化合物24小时后,方可观察仪器.3.8.2.4 填充使用填充、填隙、契子或光学元件下或周围有间隙应该拒收,除非图纸有规定.3.8.2.5 性能特征3.8.2.5.1 振动光学仪器按照规定 4.2.10.7进行振动检测后,所含杂质应在规定地范围内.如果没有详细地要求,任何所限空间地杂质不应在尺寸或数量上超过可允许麻点地规格.仪器持续此检测时应没有松动和损坏.3.8.2.5.2 冲击完成装配地光学元件通过玻璃与金属地粘合从其它元件那得到物理上地支持,因此需进行冲击实验.3.8.2.5.3 清洁成品仪器光学表面应该清洁,没有冷凝物和易挥发地物质.检查方法如 4.2.10.9.未经责任技术部门许可,禁止使用保留灰尘地油脂.3.8.2.5.4 视差应该据4.2.10.4消除视差.3.8.2.5.5 固定目镜焦距除非另有规定,目镜放置在-0.75-- -1.0屈光度时,物镜中心地光栅应该在焦点上.一个有放大3倍地校准后地屈光度计或同样地辅助望远镜可完成此项工作. 4. 审核4.1 通用条令除非合同或定单上有所规定,卖方负责所有检测要求地性能.除非另有规定,卖方可以利用自己地设施或政府认可地赢利性实验室进行实验检测.政府有权开展产品规格中所列地任何检测,这些检测是保证卖方及其服务满足要求地必要手段.4.1.1 检查和测试a.特征分类一致性检查和测试根据特征分类表规定地开展.立约人地质量程序或详细地检测程序保证了产品所有地特征方面与图纸和应用地规格要求,至少是性能标准所一致.除非合同和产品规定,特征样品检测必须应用产品规格特征分类表规定地检测等级根据下表2开展.针对特征地分类,有下列定义危急地:危机缺陷指判断和经验表明:缺陷导致产品单独使用、维护或依赖产品时,会有严重或不安全地状况发生;或者缺陷有可能妨碍一个工程地战术功能,像坦克、陆战车、导弹、航母、炮弹或其他主要军事程序.主要地:主要缺陷,次于危急缺陷,有可能导致失败,或减少产品某个目地地使用功能.微小地:这种缺陷不易减少产品特殊使用功能或偏离几乎不影响使用或操作地标准.b.可选择地一致性条令除非另有规定或合同提供,可选择地一致性程序,方法,或设备,比如统计加工控制,设备工致,可变样品或其他类型地样品计划等等,立约人至少提供条理要求地保证就可以使用.在应用这些可选择程序、设备或方法前,立约人应该以书面建议地形式将这些内容呈交给政府以供评估.根据要求,契约人应证实每个可选择地条令等于或好于规定地一致性条令.如果对立约人建议地可选择地一致性条提供同样地保证产生争议时,应该应用标准地条令.所有认可地可选择条令应该与立约人质量程序或检测程序保持一致.c.检测等级此文件中所有检测等级地参考和附录都应使用上表2特征样品地检测.4.2 检测方法4.2.1 光学元件检测光学元件检测依靠可行地产品规格利用批准地光学方法和设备开展.如没有批准地检测方法与设备,应采用下列通用标准程序.在责任技术活动认可前应采用合适地样品程序.4.2.1.1 机械尺寸应检测每个光学元件地机械尺寸是否与图纸地一致,应根据此标准要求地开展检测.4.2.1.2 放射性材料抛光玻璃用X射线光谱仪技术或批准地可选择地技术开展检测,符合3.2.1.1.开展X射线荧光地设备和方法,其钍和其他放射材料最小可觉察地等级为100ppm,有+/-25ppm地误差.样品不符和3.2.1.1要求地,此批所有地玻璃应该拒收.4.2.1.2 表面质量元件应利用下列方法符合3.5.2 3.5.5 3.6.1 3.7.9.1 3.7.10.1地要求开展检测.4.2.2.1 检测方法1待检元件应该从距离玻璃大约3英寸地地方用40瓦白炽灯泡或15瓦冷白荧灯照射背面,观测其精磨玻璃或乳白表面.大约占据1/2玻璃面地两或多个不透明水平棒放在玻璃前或与玻璃相连.4.2.2.2 方法2从40瓦或15瓦发出地光穿过精磨玻璃应该穿过元件.光径与黑色背景区成大约90度时,光从表面分散可观察到缺陷.4.2.3 温度测试4.2.3.1 测试1取每种型号胶合或粘合元件10片中地3片,在高低温下开展检测,根据3.7.1规定.如有因怀疑其质量,检验员认为必要时则有权要求开展额外样品检测.经过这些测试地元件将通过其他所有要求地测试.4.2.3.2 测试2胶合或粘合元件应在-80+/-2度F下5个小时.在此温度下视觉上检测,然后在室温下放置5小时后再检测.光学设备上没有羽毛状或网状地表面元件没有分离现象.开展此实验时光学仪器冷却至-80度或升温至室温过程中不应受到任何热冲击.4.2.3.3 测试3胶合光学装配在高温下应该开展以下测试.元件被严格固定,方法为它地胶合分界面大约在垂直面.扩大重量导致光学装配中胶合或粘合面每平方英寸5央司地抗煎应力受到其它元件地停滞.在任何情况下重量都不小于1央司.整套装置可以在周围温度+160+/-2F度2小时.透镜在室温下检测符合4.2.6规定地要求,并且一个元件与另一个地运动或滑动不超过0.002英寸.开展此实验时光学仪器升温至+160度或冷却至室温过程中不应受到任何热冲击.4.2.3.4 故障调查光学装置地故障阻碍了正常地发货,应展开调查原因.如果合同签定公司代表希望得知装置故障地原因,那么立约人应该在其公司管理人员代表在场地情况下立即展开调查.如果调查显示原因在于胶合或粘合,将不接受此光学装置以及它地胶合或粘合缺陷.立约人应改正胶合技术及改正先前生产地错误地光学装置.取此种型号地拒收品10片,经过检测,成功通过温度检察后再认可和发货.4.2.4温度-相关湿度4.2.4.1 样品尺寸合同初期取每种型号胶合或粘合元件10片中地3片,或者一旦改变胶合方法或胶合类型时,,在规定地温度、湿度下开展检测.如有因怀疑其质量,检验员认为必要时则有权要求开展额外样品检测.4.2.4.2 检测步骤胶合或粘合元件在干燥环境下应逐渐加热至+140+/-2F度,然后立即放置于95%湿度、周围温度+130/+/-2F度,时间为2小时.光学装置从湿环境中取出后立即擦干,冷却到室温.8小时后,元件开展4.2.3.2及4.2.3.3规定地检测.无论何时光学装置有边地分离或实验增加初期有胶合起泡,或者 3.6规定之外另有胶合失败现象时,应在相同步骤下重复本段规定地检测.元件没有通过最初地检测,或胶合缺陷改变,或重新检测后另有胶合缺陷发生,这些都应拒收,包括那些从相关批次挑选出来用于检测地、胶合缺陷可以存在地那些光学装配.所有元件被认可前如果要求,则应该再开展湿度检测,重新胶合与镀膜.4.2.4.3 拒收标准未通过4.2.4检测规定地元件,应按4.2.3.4规定地同样方式处理.4.2.5 清晰度检测清晰度检测是标准地检测,使用分辨放大倍数图表来开展,看图 1.分辨放大倍数检测光学性能.分辨放大倍数是一系列可以分辨地平行晶棒地对角边.通过观察包含相等间距平行晶棒地图表,测得分辨能力.使用望远镜获得足够地放大效果.分辨放大倍数图表由4套线组成,每套包括3或4条线,成45度(水平、垂直、2个成45度).3条线地那套,它地线是其实际线宽地5倍.4条线地那组,是实际线宽地7倍.线地宽度与间距地宽度是同等地.白色背景下是黑色线,黑色背景下是白色线.在4套线中心有一个识别数字.对比是100:1.正确尺寸地图表可以在准直仪里,或者直接可以观察.如果直接观察,图表应该距离望远镜至少2M2英尺,M是正被用于检测地望远镜地放大倍数.图表地对角边测得用秒表示,相当于反正切2W/X.W指图表线地宽度,X指准直仪焦距或图表到望远镜地距离.望远镜校准,这样图表在视线中间.增加辅助望远镜,方向至图表中心.辅助望远镜屈光度为0,这样检测中地望远镜可集中于分辨放大倍数图表中心地数字.读分辨读数时,辅助望远镜定焦在4条经线中地一条+/-1/8屈光度.所有经线有正确地线地读数.观察到地每条线没有被清楚地分离,则达到了分辨极限.4.2.5.1 物镜和直立系统利用上图表检测物镜和直立系统时,上图表应该放置到正确地距离,物镜或目。

美国常用军用标准MILS

美国常用军用标准MILS

美国常用军用标准 MIL-STD分类:美军 | 标签:美军标MIL-STD-469-1966 雷达工程电磁兼容*设计要求MIL-STD-463A 电磁干扰和电磁兼容*技术术语的定义和单位制MIL-STD-463A-1977 电磁干扰和电磁兼容*技术术语的定义和单位制MIL-STD-462-1986 暂行通知5(海军) 电磁干扰特*有测量MIL-STD-461C-10-1986 第10部分为控制电磁干扰面制订的电磁发射和敏感要求对商用电气和电机设备要求(C3类)MIL-STD-461C-9-1986 第9部为控制电磁干扰而制订的电磁发射和敏感度要求对在关键区内的机动发电及其有关部件不间断电源(UPS)以及可移动的供电和用电设备(EMP)的要求(C2类)MIL-STD-461C-8-1986 第8部为控制电磁干扰的发射与敏感度要求对战术和专用车辆及机动设备要求(C1类)MIL-STD-461C-6-1986 第6部为控制电磁干扰而制订的电磁发射和敏感度要求对潜艇内的设备和分系统的要求(A5类)第7部分为控制电磁干扰面制订的电磁发射和敏感要求对地面非关键区内的辅助设备和分系统的要求(B类)MIL-STD-461C-5-1986 第5部为控制电磁干扰的发射与敏感度要求对水面舰船内的设备和分系统要求(A4类)MIL-STD-461C-4-1986 第4部为控制电磁干扰而制订的电磁发射和敏感度要求对地面装置内的设备和分系统(固定的和移动的包括履带式和轮式车辆)的要求(A3类)MIL-STD-461C-3-1986 第3部为控制电磁干扰的发射与敏感度要求对星载和弹载设备和分系统(包括相应的地面辅助设备)要求(A2类)MIL-STD-461C-2-1986 第2部为控制电磁干扰而制订的电磁发射和敏感度要求对机载设备和分系统(包括相应的地面辅助设备)的要求(A1类)MIL-STD-461C-1-1986 第1部为控制电磁干扰的发射与敏感度要求总要求MIL-STD-461B 控制电磁干扰的发射与敏感度要求MIL-STD-461B-1980 为控制电磁干扰而制订的电磁发射和敏感*要求MIL-STD-454G-1980 电子设备标准的通用要求MIL-STD-4538(USAF)-1977 射线照相探伤MIL-STD-449D-1973 无线电频谱特*的测量MIL-STD-414-1957 计量检查抽样程序和表MIL-STD-414-1957 计量检查抽样程序和表MIL-STD-413B-1969 橡胶O形圈外观检验指南MIL-STD-403B-1968 火箭和导弹结构用铆钉和螺钉的准备及其装配MIL-STD-401B-1967 夹层结构与芯材通用试验方法MIL-STD-291B-1967 标准战术空中导航(塔康)信号MIL-STD-290D-1976 石油及石油产品的包装MIL-STD-285-1956 电子试验用电磁屏蔽室的衰减测量方法MIL-STD-280A-1969 产品等级产品互换* 样机及有关术语定义MIL-STD-255A 交流和直流电压MIL-STD-220A-1959 插入损耗的测量方法MIL-STD-210B-1973 军用设备的气候极限MIL-STD-210B-1973 军用设备的气候极限MIL-STD-210A 军用设备的气候极限MIL-STD-209E-1976 用于起吊和栓系军用装备的吊装和栓系设备MIL-STD-202F-1980 电子及电气试验方法MIL-STD-202C 电子设备电气元件试验方法MIL-STD-200K-1974 优选电子管MIL-STD-196D-1985 电子设备联合型号命名系统MIL-STD-190C-1977 橡胶制品的识别标志MIL-STD-188-313-1973 视距横向微波和对流层散射无线电远程距离通信分系统设计和工程标准及其设备技术设计标准MIL-STD-188-322-1976 远程视距(LOS)数字微波无线电传输的分系统设计/工程和设备技术设计标准MIL-STD-188-317-1972 远距离通信标准高频无线电通信分系统设计和工程标准及其设备的技术设计标准MIL-STD-188-313-1973 视距横向微波和对流层散射无线电远距离通信分系统设计和工程标准及其设备的技术设计标准MIL-STD-188-124-1978 远程战术通信系统通用的接地连接屏蔽MIL-STD-188-114-1976 数字接口电路的电气特*MIL-STD-188-110-1980 远程/战术通用数据调制解调器设备技术设计标准MIL-STD-188-100-1972 远程通信系统和战术通信系统通用技术标准MIL-STD-188C(2)-1976 军用通信系统技术标准MIL-STD-187-310-1976 国际通信系统交换的规划标准MIL-STD-177A-1969 橡胶制品外观缺陷术语MIL-STD-172B-1968 液体推进剂容器和颜色标记MIL-STD-167-2(SHIPS)-1974 舰船设备的机械振动(往复机械推进系统和轴系) MIL-STD-167-1-1974 船舶设备的机械振动(Ⅰ环境振动)(Ⅱ自激振动)MIL-STD-109B 质量保证的术语与定义MIL-STD-108E 电气和电子设备机壳定义和基本要求MIL-STD-108E-1966 电气和电子设备机壳定义和基本要求MIL-STD-105E-1989 计数检查抽样程序及表MIL-STD-105D-1963 计数抽样检查程序及表MIL-STD-35-107(MI)-1976 自动工程文件编制系统连接器插口插塞和试验点MIL-STD-35-98A(MI)-1983 自动工程文件编制系统可变电容器MIL-STD-35-63-1974 工程文件自动编制系统半导体器件斩波晶体管MIL-STD-35-60-1973 工程文件自动编制系统半导体器件光电晶体管MIL-STD-35-75-1976 工程文件自动编制体系微波/波导元件MIL-STD-35-44(MI)-1974 自动工程文件编制系统自整角机MIL-STD-792E(SH)-1986 用于专用部件的识别标记要求MIL-STD-785B-1980 系统和设备研制和生产可靠*管理规划MIL-STD-781D-1986 工程研制鉴定和生产的可靠*试验MIL-STD-781 置信区间MIL-STD-780F(AS)-1984 航空设备工作单元代*(统一编*体系)MIL-STD-761B 船用交流电源的特*和利用MIL-STD-757-1964 根据验证数据评定产品可靠*的程序MIL-STD-756B-1981 可靠*模型的建立和可靠*预计MIL-STD-753A-1963 耐蚀钢零件表面钝化的抽样检验和试验MIL-STD-751(舰船) 海军舰只与海岸用雷达信号输出标准MIL-STD-750B 半导体器件试验方法MIL-STD-750C-1983 半导体器件试验方法MIL-STD-740-2(SH)-1986 舰船设备结构振动加速度的测量和验收衡准MIL-STD-740-1(舰船)-1986 舰船设备空气噪声的测量和验收标准MIL-STD-670B-1968 多孔弹*材料的分类法和试验MIL-STD-668D-1978 食品工厂的卫生标准MIL-STD-642J-1978 战斗与战术运输车辆的识别标志MIL-STD-490-1968 规范的编制规则MIL-STD-471A-1973 维修*的核查验证和评价MIL-STD-470A-1983 系统和设备维修*管理规划MIL-STD-965A-1985 零件控制大纲MIL-STD-962 军用标准和手册的制订格式和规则MIL-STD-961A-1981 军用规范与关联文件的编制MIL-STD-904-1975 给养品的昆虫污染准则MIL-STD-903A-1978 军队自动售货点卫生标准MIL-STD-900B-1981 用于制备武装力量使用的罐头食品的淀粉面粉谷物通心面奶粉和糖的细菌标准MIL-STD-889B-1988 异种金属MIL-STD-883D-1991 微电子器件的试验方法和程序MIL-STD-883B 微电子器件的试验方法和程序MIL-STD-883C-1983 微电子器件的试验方法和程序MIL-STD-882A-1979 系统安全规划要求MIL-STD-878A-1968 航空轮胎和轮辋和尺寸表示及间隙确定的方法METHOD DIMENSIONING AND DETREMININCLEARANCE FOR AIRCRAFT TLRES AND RIMSMIL-STD-871A(USAF)-1979 无机(镀)膜层的电化学退除MIL-STD-870A(USAF)-1978 电沉积低脆*镉镀层MIL-STD-868A(USAF)-1979 电沉积低脆*镀镍MIL-STD-866B(USAF)-1978 热处理到等于或大于180000磅/英寸的钢件和镀铬钢件的磨削MIL-STD-826A(USAF)-1966 电磁干扰的试验要求与试验方法MIL-STD-810D-1983 环境试验方法和工程导则MIL-STD-810C-1975 空间及陆用设备环境试验方法MIL-STD-810A-1958 空间及陆用设备环境试验方法MIL-STD-1277A-1970 电气用拼接件夹子接线端接线板接线柱MIL-STD-1276C-1979 电子元器件引线MIL-STD-1271B-1981 增补军用车辆说明标牌内容的符号MIL-STD-1252-1975 惯*磨擦焊过程工艺及*能鉴定MIL-STD-1246A-1967 产品清洁度等级和污染控制大纲MIL-STD-1224-1960 充气轮胎目视检验指南(非航空轮胎用)VISUAL INSPECTION GUIDE FOR PHEUMATIC TIRES(NOANIRCRAFT)MIL-STD-1223V-1981 非战术轮式车辆的处理涂漆防锈识别标志和数据标牌标准MIL-STD-1188A 物资与装备的商用包装MIL-STD-1186-1963 产品装箱时加缓冲垫固定防摆动支撑填塞和防水及相应的试验方法MIL-STD-1184(AT)-1979 汽油电气部件的防水*试验MIL-STD-1180(AT)-1976 军用地面车辆安全标准MIL-STD-1197A-1976 军用车辆灯具反射器和有关信号设备MIL-STD-1165-1968 (地球)环境术语汇编MIL-STD-1157-1965 纺织品试验方法的校准与检定程序MIL-STD-1156C-1982 软饮料工厂的卫生标准MIL-STD-1132A-1976 开关及其附件的选择和使用MIL-STD-1131B-1979 铝电解电容器的库存寿命和老炼程序MIL-STD-1130B(1)-1979 无焊绕接的电连接MIL-STD-977-1982 微型电路生产线鉴定用试验方法和程序MIL-STD-976A-1981 JAN微电路的认证要求MIL-STD-1399/072-1978 船舶系统冲击界面标准MIL-STD-1399 船舶系统的界面标准MIL-STD-1397(USAF)-1973 海军系统标准数字数据输入/输出接口MIL-STD-1390C-1988 美**用标准维修等级MIL-STD-1389A-1977 标准电子模块设计要求MIL-STD-1385B-1986 预防电磁辐射对军械系统危害的一般要求MIL-STD-1378B 标准电子模块使用要求MIL-STD-1366B-1981 装备器材运输系统的尺寸和重量**的规定MIL-STD-1360A-1979 熔断器熔断器座及其有关另件的选择和使用MIL-STD-1543(USAF)-1974 宇航及导弹系统可靠*的计划要求MIL-STD-1542(USAF)-1974 宇航系统附属设备的电磁兼容*(EMC)和接地要求MIL-STD-1541A-1987 航天系统的电磁兼容*要求MIL-STD-1540B-1982 航天器试验要求MIL-STD-1538(USAF)-1973 研制试验和鉴定阶段的导弹及空间系统的备件与维护MIL-STD-1535A-1974 供应商质量保证规划的要求MIL-STD-1534-1972 航空燃气涡轮发动机设计技术要求。

什么是MIL-STD-105E

什么是MIL-STD-105E

什么是MIL-STD-105EMIL-STD-105E是美军军用抽样标准,是世界上应用最普及的抽样标准(1989年5月10日发布),亦是105D的最新版本(美国军用标准MIL-STD-105D是较早使用的调整型抽样标准,也是应用最为广泛的调整型抽样标准。

它是1945年由哥伦比亚大学统计研究小组为美国海军制定的抽样检验表。

)历史背景计数值之标准抽样程序是在二次大战期间所开发出来的。

最原始之版本称为JAN-STD-l05(全名为jointarmy-navystandardl05),系在1949年设计完成。

在1950年,JAN-STD-l05被修订为MIL-STD-l05A。

随后在1958、1961和1963年分别推出MIL-STD-l05B、MIL-STD-105C 和MlL-STD-l05D。

在1964年,美国、英国和加拿大三国共同修正MIL-STD-105D,称为ABC-STD-l05(注:ABC代表America、Britain和Canada)。

MIL-STD-l05D的民间版是在1971年推出,由美国国家标准局(AmericanNa tio nalStandardInstitute,ANSI)将其列入美国国家标准。

称为ANSI/ASQCZ1.4最近之修订版为ANSI/ASQCZ1.41981。

在1974年,国际标准化组织(InternationalOrganizationforStandardization,ISO)将ANSI/ASQCZ1.4稍作修正,将其编列为ISO2859。

我国中央标准局于1970年公布之国家标准CNS2779和日本的JISZ9015国家标准,都与MIL-STD-l05标准类似。

目前之最新版本为1989年5月l0日,美国军备研究发展工程中心公布之MIL-STD-l05E。

105E 和过去105D版本相类似,只有在文字部分加以修订,另行编排。

MIL-STD-105E是以允收品质水准(acceptablequalitylevel,简称AQL)为基础之抽样计画。

美国军用标准13830A

美国军用标准13830A

美国军用标准(MIL-O-13830A)此标准适用于生产,加工以及检测军事装备所需的光学组件。

此标准已通过美国国防部的认可,强制以下部门(海军,空军,陆军)使用1.概述:此标准函盖生产,加工以及检测以下光学组件产品诸如:透镜,棱镜,窗口以及用于防火仪器或设备。

2.应用文件2.1以下文件自投标或询单发出之日起试用,将成为报价内容的一部分。

文件如下:MIL-G-174 -----玻璃光学组件MIL-C-675-----镀膜玻璃光学组件MIL-A-3920---光学组件粘着力,热塑性MIL-S-11030—密封材料,非固化的聚硫化物基料MIL-M-13508---光学组件反射镜、玻璃前表面铝化MIL-A-14443---用于透镜粘合的玻璃与金属粘合的粘合剂MIL-O-16898—光学组件包装图纸美国军需品要求F7560085----振动测试C7641866---光学组件表面质量标准3.图纸要求:3.1所有的光学组件,配件以及系统产品都必须符合这一标准的要求,除非详细规格或合同之可行图纸有特殊的说明和指定。

3.2所用的材料也必须与规格或图纸的说明相一致3.2.1光学玻璃组件在规格,以及级别必须与图纸要求相一致,同时也必须符合MIL-G-174的要求,除非合同管理人员另有规定。

一旦授权使用玻璃而非其它材料时,玻璃光学数据及设计数据等完整的信息应提供给合同管理人员。

3.2.2 粘着力除非合同和定单中有特殊说明,光学粘合必须同MIL-A-3920的要求相一致3.2.3 粘结化合物对于玻璃同金属相粘连,必须与MIL-A-14443的要求相一致3.2.4密封化合物用于密封的化合物必须与MIL-S-11030的要求相一致3.2.5增透膜:光学表面镀膜要求的增透膜必须与MIL-C-675的要求相一致3.2.5.1 反射面:铝化反射面必须于MIL-M-13508的要求相一致3.3机械尺寸大小光学组件机械尺寸及光学数据必须与合同以及图纸的要求相一致3.3.1边缘所有光学组件都应当倒边,大小0.020-0.005英寸,45度+/-15度(沿面宽进行测量),除非有特殊指定。

美国军用标准培训教材

美国军用标准培训教材

美国军标(MIL-PRF-13830B)
表面质量,中心区: 规定划痕数为20或更少的表面,在直径
1/4″(6.35mm)环形范围内,划痕不应超过4个。 此要求不用于划痕少于10个的表面。 表面质量,外部区域: 在透光区之外的表面质量应为80-50,除非图 纸另有要求。
美国军标(MIL-PRF-13830B)
美国军标(MIL-PRF-13830B)
气泡经验判定方法:
不可有比最大允许值更大的气泡存在。
在任何为20mm直径,20mm长通光区域内,不可 有多于1个最大允许气泡。
任何为20mm直径,20mm长通光区域内所有气泡 的直径之和不可大于最大允许斑点(点状疵病)数 的两倍。

注:方形通光面等效直径:
气泡、包络和:

在20mm通光长度内,最大尺寸气泡的允许数为1。所
有气泡直径之和。每20mm直径,20mm通光长度内,必须
小于最大标定尺寸的2倍。形状不规则时,取长度和宽度之
平均值【(L+D)/2】。
例:一个25.4mm窗口片,有效通光面20mm,厚度 20mm,表面质量要求60-40。

1﹟20
外区域表面质量
有效通光面之外,表面质量为80-50。除非另 有要求。
美国军标(MIL-PRF-13830B)
表面缺陷检验方法:
有以下几种方法可以检验表面缺陷。
A.用肉眼观测表面缺陷。 B.道子/斑点比较仪。 C.带测量分划的显微镜。
这个系统由一个带分划板的目镜和具有中等放大倍数的 显微镜组成。

2﹟20 麻点

1﹟40 麻点

表面质量要求80-50。
上述求和S=10+20+20+40=90,

美国军用标准

美国军用标准

美国军用标准美国军用标准(MIL-STD)是美国国防部制定的一系列技术规范和标准,用于指导和规范军事装备、武器系统、通信设备等的设计、生产和测试。

这些标准的制定旨在确保军事装备的质量、性能和可靠性,以满足国防需求,并提高军事装备的互操作性和可维护性。

MIL-STD标准涵盖了多个领域,包括机械设计、电气设备、材料和零部件规范、测试方法、质量管理等。

这些标准的制定是为了保证军事装备在极端环境下的可靠性和稳定性,以及在战场条件下的高效运行。

同时,这些标准也在一定程度上影响了民用领域的技术发展和产品质量标准。

在机械设计领域,MIL-STD标准规定了军用装备的结构设计、材料选用、制造工艺等方面的要求。

这些要求通常比民用标准更为严格,以确保军事装备在战斗条件下的耐久性和可靠性。

同时,这些标准也在一定程度上推动了军事装备制造工艺和材料技术的发展,为民用领域提供了一定的借鉴和参考。

在电气设备领域,MIL-STD标准规定了军用通信设备、雷达系统、导航设备等的设计、测试和维护要求。

这些标准通常涉及到设备的电磁兼容性、抗干扰能力、工作温度范围等方面的要求,以确保军事装备在复杂电磁环境下的正常运行和通信能力。

在材料和零部件规范方面,MIL-STD标准规定了军用装备所使用的材料的性能要求和测试方法,以及零部件的尺寸精度、表面处理要求等方面的规定。

这些规定旨在确保军事装备的零部件质量和可靠性,以应对极端环境和高强度使用的要求。

在测试方法和质量管理方面,MIL-STD标准规定了军用装备的测试流程、测试标准、质量控制要求等方面的规定。

这些规定旨在确保军事装备在设计和生产过程中的质量和性能符合要求,以及在服役期间的可靠性和稳定性得到保障。

总的来说,美国军用标准在军事装备的设计、生产和测试过程中起着至关重要的作用。

这些标准的制定不仅确保了军事装备的质量和性能,也推动了相关技术和工艺的发展。

同时,这些标准也在一定程度上影响了民用领域的技术发展和产品质量标准,为整个社会的科技进步和发展做出了贡献。

MIL-STD-105E美军军用抽样标准

MIL-STD-105E美军军用抽样标准

MIL-STD-105E目录1什么是MIL-ST…2历史背景3抽样计划简介4使用5相关条目什么是MIL-STD-105EMIL-STD-105E是美军军用抽样标准,是世界上应用最普及的抽样标准(1989年5月10日发布),亦是105D的最新版本(美国军用标准MIL-STD-105D是较早使用的调整型抽样标准,也是应用最为广泛的调整型抽样标准。

它是1945年由哥伦比亚大学统计研究小组为美国海军制定的抽样检验表。

)历史背景计数值之标准抽样程序是在二次大战期间所开发出来的。

最原始之版本称为JAN-STD-l05(全名为jointarmy-navystandardl05),系在1949年设计完成。

在1950年,JAN-STD-l05被修订为MIL-STD-l05A。

随后在1958、1961和1963年分别推出MIL-STD-l05B、MIL-STD-105C和MlL-STD-l05D。

在1964年,美国、英国和加拿大三国共同修正MIL-STD-105D,称为ABC-STD-l05(注:ABC代表America、Britain和Canada)。

MIL-STD-l05D 的民间版是在1971年推出,由美国国家标准局(AmericanNa tio nalStandardInstitute,ANSI)将其列入美国国家标准。

称为ANSI/ASQCZ1.4最近之修订版为ANSI/ASQCZ1.41981。

在1974年,国际标准化组织(InternationalOrganizationforStandardization,ISO)将ANSI/ASQCZ1.4稍作修正,将其编列为ISO2859。

我国中央标准局于1970年公布之国家标准CNS2779和日本的JISZ9015国家标准,都与MIL-STD-l05标准类似。

目前之最新版本为1989年5月l0日,美国军备研究发展工程中心公布之MIL-STD-l05E。

105E和过去105D版本相类似,只有在文字部分加以修订,另行编排。

美国常用军用标准 MIL-STD

美国常用军用标准 MIL-STD
MIL-STD-810D-1983 环境试验方法和工程导则
MIL-STD-810C-1975 空间及陆用设备环境试验方法
MIL-STD-810A-1958 空间及陆用设备环境试验方法
MIL-STD-1277A-1970 电气用拼接件 夹子 接线端 接线板 接线柱
MIL-STD-1276C-1979 电子元器件引线
MIL-STD-1223V-1981 非战术轮式车辆的处理 涂漆 防锈 识别标志和数据标牌标准
MIL-STD-1188A 物资与装备的商用包装
MIL-STD-1186-1963 产品装箱时加缓冲垫 固定 防摆动支撑 填塞和防水及相应的试验方法
MIL-STD-1184(AT)-1979 汽油电气部件的防水*试验
MIL-STD-1132A-1976 开关及其附件的选择和使用
MIL-STD-1131B-1979 铝电解电容器的库存寿命和老炼程序
MIL-STD-1130B(1)-1979 无焊绕接的电连接
MIL-STD-977-1982 微型电路生产线鉴定用试验方法和程序
MIL-STD-976A-1981 JAN微电路的认证要求
MIL-STD-462-1986 暂行通知5(海军) 电磁干扰特*有测量
MIL-STD-461C-10-1986 第10部分为控制电磁干扰面制订的电磁发射和敏感要求 对商用电气和电机设备要求(C3类)
MIL-STD-461C-9-1986 第9部为控制电磁干扰而制订的电磁发射和敏感度要求 对在关键区内的机动发电及其有关部件 不间断电源(UPS)以及可移动的供电和用电设备(EMP)的要求(C2类)
MIL-STD-4538(USAF)-1977 射线照相探伤

MIL-STD-105E抽样标准

MIL-STD-105E抽样标准

MIL-STD-105E是美军军用抽样标准,是世界上应用最普及的抽样标准(1989年5月10日发布),亦是105D的最新版本(美国军用标准MIL-STD-105D是较早使用的调整型抽样标准,也是应用最为广泛的调整型抽样标准。

它是1945年由哥伦比亚大学统计研究小组为美国海军制定的抽样检验表。

) [编辑]计数值之标准抽样程式是在二次大战期间所开发出来的。

最原始之版本称为JAN-STD-l05(全名为jointarmy-navystandardl05),系在1949年设计完成。

在1950年,JAN-STD-l05被修订为MIL-STD-l05A。

随後在1958、1961和1963年分别推出MIL-STD-l05B、MIL-STD-105C和MlL-STD-l05D。

在1964年,美国、英国和加拿大三国共同修正MIL-STD-105D,称为ABC-STD-l05(注:ABC代表America、Britain 和Canada)。

MIL-STD-l05D的民间版是在1971年推出,由美国国家标准局(AmericanNationalStandardInstitute,ANSI)将其列入美国国家标准。

称为ANSI/最近之修订版为ANSI/。

在1974年,国际标准化组织(InternationalOrganizationforStandardization,ISO)将ANSI/稍作修正,将其编列为ISO2859。

我国中央标准局於1970年公布之国家标准CNS2779和日本的JISZ9015国家标准,都与MIL-STD-l05标准类似。

目前之最新版本为1989年5月l0日,美国军备研究发展工程中心公布之MIL-STD-l05E。

105E和过去105D版本相类似,只有在文字部分加以修订,另行编排。

MIL-STD-105E 是以允收品质水准(acceptablequalitylevel,简称AQL)为基础之抽样计画。

mil-g-45204电镀金标准

mil-g-45204电镀金标准

《深度剖析MIL-G-45204电镀金标准》在今天的文章中,我将带领大家深入探讨MIL-G-45204电镀金标准,这一主题涉及到了电镀工艺中的核心部分,对于了解金属电镀工艺和相关标准的读者来说将会是一次知识的盛宴。

1. 了解MIL-G-45204电镀金标准MIL-G-45204是美国军用标准的一部分,它主要规定了电镀金的质量标准、试验方法和技术要求。

这个标准对于制定和检验金属电镀工艺具有重要意义,涉及到了电镀金的化学成分、外观、厚度、附着力、耐腐蚀性能等多个方面。

通过遵循MIL-G-45204标准,能够确保电镀金的质量达到国际领先水平,从而满足军用和民用产品的要求。

2. 电镀金标准的意义与应用MIL-G-45204电镀金标准在现代工业中具有非常重要的意义。

它为电镀金工艺的生产和检验提供了统一的标准,有助于生产厂家和用户之间的沟通和合作。

标准的严格执行能够有效提高电镀金的质量稳定性,确保产品达到预期的使用性能。

电镀金标准的合理制定还有助于推动电镀工艺的技术进步,促进相关产业的发展。

3. 基本原则和技术要求MIL-G-45204标准中包含了一些基本的原则和技术要求。

金属基材表面的清洁度对于电镀金的质量具有决定性的影响,标准中明确规定了清洁度的要求和测试方法。

另外,标准中还规定了电镀金层的厚度、光泽度、硬度、耐腐蚀性能等多项技术指标,确保了电镀金的整体性能符合要求。

4. 个人观点与理解作为一名电镀领域的从业者,我深刻理解MIL-G-45204电镀金标准对于行业的重要性。

这一标准的制定和执行,不仅有助于提高电镀金产品的质量和稳定性,也为企业之间的合作提供了更好的桥梁。

在今后的工作中,我将继续严格遵守该标准,努力提升自身的专业水平,为行业发展做出更大的贡献。

总结回顾通过本文的深度剖析,我们对MIL-G-45204电镀金标准有了更加全面、深刻的了解。

我们了解了这一标准的基本原则和技术要求,认识到了它在电镀工艺中的重要意义,并共享了个人的观点和理解。

美军标外观标准技术培训内容

美军标外观标准技术培训内容

11
2mm,1条40#划痕3mm,另
2条40#划痕2mm,2条20#划 痕2mm,10#划痕长度合计 10mm。
则所有级数的划痕乘以划痕长 度与元件直径之比所得乘积之 和为:
[50*(2+2)/10]+[40*( 3+2+2)/10]+[20*(2+2 )/10]+[10*10/10]=66,而 光学元件最大划痕为60#〈 66#,所以该光学元件不合格 。
3.规定长与宽的比大于4:1的为 划痕;长与宽的比小于4:1的为 麻点.
划痕
麻点
2021/7/17
4
二.等效区域表面光洁度计算
1.当元件的不同区域表面光洁度要 求不一样时,等效直径的计算以区域 进行:表面质量要求高的内区域其等 效直径以外的区域为准(如有效孔径 的区域 Clear Aperture/C.A),表面 质量要求低的外区域计算的整体光 学元件的等效直径.
40#
20#
A
B
2021/7/17
10#
5#
20#
16
则A区的麻点直径和为:
40+20+10=70〈40*2=80
B区的麻点直径为的和为:
20*2+10*4+5*1=85〉80
所以该光学元件为不合格。
3.当麻点质量要求为10或更优 此等级时,任何两个麻点的间距 必须大于1mm。
例:元件40mm*40mm的元件, 质量指标要求为20-10,有两个 5#的点子,点之间距离为 0.8mm.
2021/7/17
3
一:定义
表面缺陷标准:依据美国军用 标准MIL-PRF-13830B用两组 数字表示表面缺陷大小。例如 40/20 OR 40-20,前者限制 划痕大小,后者限制麻点大小; 在一些国外图纸常表示为 SCR/DIG。

美军颁发安全性军用标准MIL-STD-882E.【精品可编辑范本】

美军颁发安全性军用标准MIL-STD-882E.【精品可编辑范本】

美军颁发安全性军用标准MIL—STD—882E曾天翔美国国防部从1969年7月发布第一个系统安全军用标准MIL—STD-882,到2012年5月颁发最新的标准MIL—STD—882E的42年中,该标准先后进行了6次重大修订,平均每7年修订一次,充分体现了美军重视跟踪标准的应用情况并及时进行修订,以保持标准的先进性和适用性.随着美国国防战略计划和目标的改变和科学技术的发展,该标准的目标从保障武器装备和军事人员的安全向保持环境安全和人员职业健康延伸,标准的技术内容从设备硬件向系统软件扩展,实现系统安全目标的方法也从单项技术向系统集成演变。

1。

MIL-STD-882 标准的演变和发展1969年7月,美国国防部首次颁发了系统安全军用标准MIL-STD—882“系统及其有关的分系统、设备的系统安全工作要求",规定了系统安全管理、设计、分析和评价的基本要求.该标准作为国防部范围内武器装备采办必须遵循的文件,系统安全成为美军各种武器装备研制必须采用的工作项目.1977年6月,MIL-STD—882进行了修订后发布MIL-STD-882A“系统安全工作要求”.MIL-STD-882A标准提出接受风险的概念,并以此作为系统安全工作的准则.该标准要求引入危险可能性并建立危险发生频率的等级,以便与危险严重性等级相协调,同时还增加了软件安全性要求.1984年3月MIL-STD—882A做了修订并颁发了MIL—STD-882B“系统安全工作要求",提出系统安全工程和管理要求的详细指导原则,并首次详细描述软件系统安全.在附录中给出了定性风险评价表.1987年7月发布了MIL—STD-882B的修改通报,在这标准的修订中,增加了软件安全性的工作项目,包括软件需求危险分析、概要设计危险分析、软件安全性测试、软件与用户接口分析和软件更改危险分析等。

1993年1月MIL-STD—882B进行修订并发布了MIL—STD-882C“系统安全工作要求”,删除了MIL-STD-882B对软件独立规定的工作项目,将危险和软件系统安全工作整合在一起,接着在1996年1月发布了MIL-STD-882C的修改通报。

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美国军用标准MIL-E-11991对导弹及其武器系统电子、电气和机电设备的要求美国军用标准MIL-E-11991《导弹及其武器系统电子、电气和机电设备通用规范》对导弹及其武器系统电子、电气和机电设备提出了一系列要求。

主要针对所有级别的类型的电子、电气和机电设备材料、零件、工艺和部件等提出了详细的制造、测试和性能的要求,包括各研制阶段的试验、生产准备和生产等。

1鉴定标准要求所提供的设备应按照在各个设备和部件的详细规范所规定的鉴定要求进行鉴定。

因为许多规范是根据性能要求定的,在设计和质量管理中这些性能要求有可能变化,而且对某些产品而言,要求和试验的特性可能出现这样的情况,唯一依靠验收试验来采购产品而不允许过久地拖延交货是不现实的。

为连续地保证在这些情况下产品可用性,在裁决投标揭示之前,要求对某些产品进行鉴定。

系统或设备的鉴定应满足各个设备详细规范规定的所有要求。

从工厂取得产品,进行检验和试验,然后在合格产品目录上作出标记的全过程称为鉴定。

遵循规范要求而预先和独立于任何采购活动所进行的产品试验称之为鉴定试验。

为了建立合格产品目录(QPL),就必须有要求鉴定并规定了后续鉴定检验、试验和鉴定保持准则的规范。

2材料的质量产品设计应根据合格的材料的使用而定,并与我们所预定应用的严格度等级一致。

当需要特殊的材料或特殊的工艺时,要求对其进行鉴定,而且它们的质量至少应等于适用的政府规范所规定的现有产品。

如果可适用的规范并不存在,而且必须制定新的规范,为保证产品的合格,新材料和新工艺应满足新的规范要求。

要通过各种努力,来避免采用特殊的材料和工艺,这是指避免非标准的或者未被政府或国防部所选用的工业标准的商用材料或工艺。

应该避免使用那些难以用合理的费用进行批量生产的方法,但是,如有必要,要求在采纳之前预先经过批准。

为了提供经济可行的可接受的可靠性,使用经批准的技术是正确的,这些技术有如印制电路、小型化部件、组件和微型组件方案和封装技术。

在尽可能不危及部件或设备预定用途的情况下,最大限度地使用可回收/重复使用的材料。

在满足设备性能要求的前提下,应最低程度地使用关键性或战略性材料。

合同商在完成可能要使用关键性或战略性材料的设计之前,应经采购部门批准。

因为国家处于紧急状态时,这些材料的现有生产不足以满足在质量和数量上的要求,所以这些材料对国家安全是必不可少的。

3材料所有材料都有相应的要求和规范。

下面仅就一些特殊材料叙述如下。

3.1橡胶除泡沫型以外的橡胶,凡用于吸收噪声、冲击或振动橡胶材料,或要求有弹性的各种应用均应按照MIL-R-3065。

橡胶材料的型号、类别和等级(包括添加剂)应根据应用的要求进行选择。

3.2 合成橡胶遵循MIL-S-6855的通用合成橡胶应用于要求防止油料或燃料腐蚀的地方。

遵循ZZ-R-765的硅橡胶应用于要求耐高温和耐低温的地方。

3.3 泡沫橡胶用于吸收噪音、冲击、振动的泡沫橡胶,或要求有弹性的地方,应按照MIL-C-3133。

并根据应用的要求来选择其型号、类别和等级(包括泡沫橡胶的添加剂)。

3.4 陶瓷材料除作为电容器的介质使用的地方之外,陶瓷材料应遵循MIL-I-10;但是使用玻璃粘接的云母应经采购部门事先批准。

只要不是用于电气方面的陶瓷材料可以是上釉的或者是不上釉的,而且不需进行处理。

电气用的陶瓷应是上釉的。

上釉陶瓷的表面应该光滑、均匀而且无气孔。

不能上釉的陶瓷处理应根据材料厂家提供的指导进行;这些处理应经采购部门批准。

3.5 玻璃除采购部门另外批准的某种特殊应用以外,玻璃应为抗震型的。

仪器、仪表、阴极射线管表面所用的保护玻璃,以及观察表盘和指示器所用的玻璃都应是明亮清晰的,而且从任何一个角度观察都不会出现明显的失真。

4加工工艺4.1焊接以手工(手工掌握焊接烙铁)焊的方式在端子、导线、电缆、连接器、元器件、印刷电路板和其他类似部件上进行电气或电子连接时,应遵循MIL-S-45743。

以机器或焊料浴槽焊接的方式在端子、导线上进行电气和电子连接以及将元器件焊接到印刷线路板上时,应遵循MIL-S-46844。

4.2熔焊后的清洁焊好的组件应该清洗,以除去灰尘、锈皮、氧化产物以及由于喷砂清理、导线烧蚀或其他适当方法产生的剩余物。

被经电弧焊或乙炔焊的钢部件在油漆之前还必须按照MIL-M-10578,放在浴槽内钝化或放在磷酸内浸蚀。

清洗所用的酸应是可以完全中和的并且可以被去掉。

4.3 熔焊工艺因熔焊而可能导致形变的地方应经过预热。

熔焊应具有完整的穿透性和良好的熔化性,而且不应有疤眼、气孔、不规则的痘痕斑点和其他有害的缺陷。

由于熔焊可能引起不符合要求的内应力的地方,对焊好的工件应进行应力消除。

对于铝镁或不锈钢的焊接,可行的方法是采用惰性气体保护下的电弧焊。

5部件除非本文另外有规定,应按军用合格产品目录(QPL)来优先选用导弹及其有关作战装备所用的部件,而且应尽最大程度的可能性使其符合带有可靠性指标(ER)的军用规范。

所有非标准部件应按MIL-STD-965来加工。

当某个部件在现有的军用规范或现有图纸中没有被包括时,就要求有新的规范或图纸。

应该规定质量保证要求,以确保按MIL-HDBK-217确定的非标准部件类型的故障率等于或近似于:若是按照QPL采购的那种部件类型的故障率。

所有电气、电子和机电的单个部件都应经100%的到货检查,这种检查至少应包括25——30摄氏度时对主要电气特征参数的测量、包装的外观检查和部件标志要求的验证。

5.1 电容器电容器应遵循MIL-STD-454第2章的要求。

对导弹及其有关的战术任务用的主要设备,电容器可靠性等级应为P级或具有较低的失效率(R.S)。

当所用电容器在军用规范(见3.1.7)未作出规定时,要制定新的规范或图纸,对这类电容器的规范应使用最合适的军用规范作为准则,而且要规定产品的质量保证要求,以确保寿命失效率为“P”级(0.1%/1000小时)或较低失效率(R.S)。

在使用遵循MIL-C-3901B或MIL-C-39006/9或等效的军用规范的电解质电容器的地方,正如本文所规定的或由采购部门所批准的那样,都要在设备上贴有警示标牌。

警告标牌的显示应非常醒目,保证在使设备通电之前都能看到。

警告标牌的措词如下:“必须小心用在XXXXXXXX(指使用电容器的机柜或设备的名称和位置)内的电解质电容器。

如果设备已经存放或者在超过12个月的期限内不工作,必须检查或更换电容器”。

铝电解质电容器的库存寿命和恢复的情况见MIL-STD-1131。

湿式钽和铝电解质类型的电容器(MIL-C-39006/9和MIL-C-39018)在没有采购部门的事先批准时不得使用。

在没有采购部门的事先批准下允许使用符合MIL-C-39006/22的钽外壳湿芯类型电容器。

5.2 屏蔽外部的温差电偶射频测量仪,特别是超过1安培电流的这种测量仪以及和它连接的导线,应该按需要进行屏蔽,使温差电偶不受杂散的射频场引起的电流影响。

对于在地面以上的高频电压下工作的测量仪也应该进行屏蔽,避免杂散电容电流通过测量仪到达设备的面板上。

5.3计数器随着计数器鼓向上运动时指示数字的增加,应该迅速地记下数目。

数字的高度与宽度比最好应该是一比一。

当最后数位不再转动或维持不动时,它们应该以静态的零来代替。

计数器应该是定向的,使得它们可以从左向右读出。

当显示多于三个数位时,数字磁鼓间的大水平间隔应予以避免。

安装时面板表面尽可能靠紧,以提供最大观察角以及减小环境光线造成的阴影效应。

5.4 印制电路除非另有规定,印制电路和印制布线板应该按照MIL-STD-454第17章的要求。

印刷电路组件或印刷布线组件应符合MIL-P-46843。

当文件编制好时,MIL-P-46843应该在顶视图中被确定。

印刷电路板和印刷布线板应该设计成允许自动插入装配密度或系统构形所要求的所有元器件。

印制配线板的材料以及用于在印制配线板上安装无导线芯片载体的工艺和方法都应经采购部门事先批准。

5.5 电阻器电阻器应该遵循MIL-STD-454第33章的要求。

导弹和有关作战任务的主要装备所用的电阻器应该是常规可靠性(ER)水平“P”或者是低失效率(R.S)的。

当使用的电阻器未被军用规范覆盖以及一个新的规范或者图纸被制定时,应该规定以与这类电阻器最合适的军用规范作为产品保证要求的指南,以确保寿命失效率水平“P”(0.1%/1000小时)或低失效率(R.S)。

未经采购部门的预先批准,可变电阻器不得用于新的设计。

5.6 冲击和振动隔离器一般不应该使用冲击和振动隔离器,除非在设计和制造装备时难以满足装备详细规范规定的冲击和振动要求时方可使用。

隔离器可以利用弹性材料或金属型材料,也可使用粘性阻尼材料。

隔离器的设计应该使得在弹性材料失效时也不释放被支撑的部件。

在隔离器中使用的弹性材料应该是抗臭氧的,并在本文规定的环境条件下暴露在任何温度时都能满足所要求的性能。

应该无需对装备大拆大卸就能方便地替换所有的隔离器。

在弹性支持部件与其底座间的所有电气连接在使用时都应该是柔性的。

部件之间应该有充足的间隙,以避免一个弹性部件撞击任何其它部件的可能性。

所有的冲击固定组件都应该通过柔性的等电位的连接铜带进行电气旁路,这种带至少一英寸宽、十六分之一英寸厚,除非是这种尺寸的带削弱了冲击固定的作用才不使用。

偏离这个要求必须经采购部门批准。

5.7 微电路所有的微电路都应该遵循MIL-STD-454第64章的要求。

当一个非标准的微电路器件被批准使用,且DOD-STD-35或DESC图纸不适用时,应该按照MIL-M-38510附录F 的要求编制新图纸。

最相近的MIL-M-38510规范图表资料应该用来作为编制图纸的指南。

MIL-M-38510附录E的微电路组合的规定应该用于选择最适用的军标MIL-M-38510的规格表。

规范或图纸应该包含MIL-STD-883方法5004和5005中规定的质量一致性要求,以便达到按MIL-HDSK-217规定的B1级的最小质量水平。

只有完全密封的器件才能被使用。

常规的混合电路器件的使用应该限制到最小。

5.8 混合微电路混合微电路应该遵循MIL-M-38510的要求以及MIL-STD-454第64章的要求。

当一个非标准的混合微电路被批准使用且DESC图纸不适用时,应该按照MIL-M-38510附录G的要求编制新的图纸或规范。

图纸或规范应包含军标MIL-STD-883中方法5008或方法5004和5005中按要求规定的质量保证要求。

只有完全密封的装置才被使用。

混合微电路应该在150±2℃的条件下真空烘烤至少四小时,例外的情况是,如果采用环氧树脂模或者基片固定,真空烧烤至少要16个小时。

从真空烘烤应该直接转到干燥的氮气密封盒中进行,不要暴露在外界空气中。

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