过程能力认证报告-CPK与PPK计算模版
如何编写合格的CPK、PPK数据

如何编写合格的CPK、PPK数据如何制作合格的“过程能力分析”PPK数据利用MINITAB软件(Minitab 16)生成假的合适的PPK数据源—25组(每组5个)测量值。
要求计算得到的PPK值≥1.67。
以117.64±0.2为例。
一、打开Minitab软件,选择“计算”-“随机数据”-“正态”(图1)二、在产生的(图2)对话框中填入数据。
“均值”为117.64;PPK为1.67时“标准差”等于单边公差0.2除于5 得到值0.04;“数据行数”填125(25组/每组5个数据);计划在表格中生成9组数据供挑选,表格每列的头部分别标记为1-9;在对话框左边选择全部列号码,点击选择后存入右边的框内。
点击确定后,得到数据如图3三、检验每列数据的PPK是否大于或等于1.67。
选择按钮“改善”-“评估能力”-“变量数据”-“正态能力”,见图4在出现的对话框中分别从左边选择一个列号码,如1;“子组大小”填5;“规格下限”和“规格上限”分别填下公差和上公差的数据。
见图5四、点确定后,出现一个图表(见图6),如果PPK≥1.67,则这组数据可用;如果PPK<1.67,这组数据就放弃。
然后依次用“第三步”的方法检验1-9组数据哪几组可用。
五、在表格第一列前插入一列,循环往下填写1-5数字,一直到125行。
(见图7)六、拆分每列数据为5列。
选“数据”-“拆分列”(图8)在跳出的对话框内选择左边的列号码1到右边,“使用的下标”从左边选择C1列,在新的工作表中生成,点确定。
(图9)在新的工作表中生成5列数据,每列25行。
七、列转置成行。
(图10)选择“数据”-“转置列”,在跳出的对话框选中左边这5列,选择到右边,转置到新的表格中,点确定后生成新表格,5行各行25个数据。
(图11)(图12)。
表格1中,其它可采用的各列数据(2-9列)也可以通过第六、七步骤,产生横置的数据。
八、可以把横置的数据复制,粘贴到各种PPK计算表格中。
CPKPPK计算
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CPKPPK计算CPK and PPK CalculationCPK (Process Capability Index) and PPK (Process Performance Index) are statistical measures used to assess the capability of a manufacturing or production process. These indices provide information about how well a process is performing in terms of meeting specified tolerance limits and producing quality products consistently. In this article, we will discuss the formulas and calculations for CPK and PPK and their significance in process improvement.CPK Calculation:The CPK index is a measure of how the process is centered (mean) within the specification limits, as well as its ability to produce products within those limits. The formula tocalculate CPK is as follows:CPK = min(CPU, CPL)Where,CPU = (USL - Mean) / (3 * Standard Deviation)CPL = (Mean - LSL) / (3 * Standard Deviation)USL - Upper Specification LimitLSL - Lower Specification LimitThe CPK value can range from 0 to 1. A CPK value less than 1 indicates that the process is not capable of producing products within the specified limits. A value greater than 1 indicates that the process is capable, with higher values indicatingbetter capability.PPK Calculation:PPK is similar to CPK, but it takes into account the overall distribution of data, not just the mean and standard deviation. The formula to calculate PPK is as follows:PPK = min(PPU, PPL)Where,PPU = (USL - Median) / (3 * MAD)PPL = (Median - LSL) / (3 * MAD)USL - Upper Specification LimitLSL - Lower Specification LimitMedian - Median of the dataMAD - Median Absolute Deviation (a measure of data variability)Like CPK, PPK values can range from 0 to 1, with higher values indicating a more capable process.Interpreting CPK and PPK Values:- CPK/PPK < 1: The process is not capable of meeting the specifications, and immediate action is required to improve it.- 1 < CPK/PPK < 1.33: The process is marginally capable, and improvements are needed.- 1.33 < CPK/PPK < 2: The process is moderately capable, but further improvements are desirable.- CPK/PPK > 2: The process is highly capable and meets the specifications consistently.It is important to note that these interpretations are not fixed standards but serve as general guidelines. The acceptability of CPK and PPK values can vary based on the industry, customer requirements, and the criticality of the process.Improving CPK and PPK values:If the calculated CPK or PPK value is below the desired threshold, process improvement efforts should be undertaken to bring them within range. Here are some potential steps for improving these values:1. Identify and eliminate process variations: Analyze the sources of variability in the process and take corrective actions to reduce or eliminate them. These variations can be due to improper machine settings, inconsistent raw materials, or inadequate training of operators.2. Increase process capability: Modify the process parameters to enhance its capability. This can include adjusting machine settings, optimizing process conditions, or implementing advanced control strategies.3. Conduct measurement system analysis (MSA): Ensure the accuracy and repeatability of the measurement system used to collect process data. An unreliable measurement system can introduce errors in the calculations and affect the CPK and PPK values.5. Enhance operator skills and training: Provide adequate training to the operators to increase their knowledge and skills related to the process. Well-trained operators can make better decisions and minimize errors, leading to improved process capability.Conclusion:CPK and PPK indices are valuable tools in assessing process capability and performance. They help identify areas of improvement and guide process improvement efforts. Bycalculating these indices and taking appropriate actions, organizations can enhance process capability, reduce defects, and produce high-quality products consistently.。
过程能力分析CPK PPK

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分析用控制图的控 制中心及控制限是 变化的
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• 组内过程能力:也即潜在的过程能力 (Cpk),考察的是稳定状态下即仅存在普 通原因变异的过程能力,它考察的是组内 波动,所使用估计参数:过程平均值 (X)-子 组内标准差; • 整体能力:也指整体过程能力(Ppk),不 仅考察组内的变异,而且还考虑组间的变 异,可适用于非稳定状态的过程。所使用 的估计参数:过程平均值 (X)-整体标准差; 2010-03-04
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十一、CPK换算成PPM的计算方式---excel算法
STANDARDIZE(x,mean,standard_dev) ---返回标准正态分布的标准化域值,记作z x:需要进行规范化的数值(规格上、下限) mean:数据分布的算术平均值 standard_dev:数据分布的标准偏差
Cp的评级标准及处理: 等级 A+ A B C D Cp值 Cp≥1.67 1.33≤Cp≤1.67 1.00≤Cp≤1.33 0.67≤Cp≤1.00 Cp≤0.67 处理原则 无缺点。可考虑降低成本。 状态良好维持现状。 改进为A级。 制程不良较多,须提升能力。 制程能力太差,应考虑重新整改设计制程。
过程能力分析
CPK PPK PPM的计算及理解
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USL:规格上限 LSL:规格下限 SL:规格中心值 T:规格总容差( USL- LSL ) UCL:控制上限(control) LCL:控制下限 CL:实际中心值 σ:标准差 ---也叫标准偏差,就是方差 开平方根, 方差=【(x1-x)^2+(x2x)^2+…+(xn-x)^2】/( n-1 )
CPK与PPK计算入门

CPK与PPK计算入门一、CPK1、定义CPK,过程能力指数(Process capability index),是指过程在一定时间内,处于控制状态(稳定状态)下,固有的满足产品质量标准要求(规格范围等)的能力。
CPK表示过程的潜在固有能力,主要用于周期性的过程评价,大批量生产后的生产能力的评价。
2、计算公式CPK=Min(CPU,CPL)CPU=(USL-X bar)/3σCPL=(X bar-LSL)/3σσ=R bar/d2式中,USL为规格上限;LSL为规格下限;R bar为各个子组极差的平均值;d2为修正值,可查表(附后)。
(1)当公差双侧对称时,CPK=CP*(1-|Ca|)CP=(USL-LSL)/(6σ)Ca=(X bar-U)/((USL-LSL)/2)式中,U为规格中心值。
(2)当公差双侧不对称时,则分别计算CPU和CPL,取最小值。
(3)当公差为单侧时,有上限公差则只计算CPU,有下限公差则只计算CPL。
3、数值选取Cpk计算之前,一定要检查过程是否稳定,要求受控。
一般要求至少有100个数据,25个均值。
也就是说,采值是进行分组,涉及到子组,子组容量,采值频次等,它针对的是一个长期的过程。
4、指数意义CPK,是进入大批量生产后,为保证批量生产下的产品的品质状况不至于下降,且为保证与小批生产具有同样的控制能力,所进行的生产能力的评价。
·Cpk≥2.0 特优,可考虑成本的降低;·2.0 > Cpk ≥ 1.67 优,应当保持之;·1.67 > Cpk ≥ 1.33 良,能力良好,状态稳定,但应尽力提升;·1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般,状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升;·1.0 > Cpk ≥ 0.67 差,制程不良较多,必须提升其能力;·0.67 > Cpk 不可接受,其能力太差,应考虑重新整改设计制程。
CPKPPK计算(例1)-1
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-0.02 100.02 USL
44 100.0200
5 5 0 0 100.008 100.016 100.024 99.968 99.976 99.992 99.984 100.000 100.032 0 0 1 0 0 0
读
n 1 1 99.996 2 99.997 3 99.998 4 100.0 5 100.002
均制 (X 图)
10.0000 11.0000 12.0000 13.0000 14.0000 15.0000 16.0000 17.0000 18.0000 19.0000 21.0000 22.0000 20.0000 23.0000 24.0000 24
24.0000 24
100.004
100.0036
2 100.0 100.001 100.002 99.995 99.999
3 100.002 100.002 100.003 100.002 99.997
4 100.003 100.0 100.003 100.002 99.992
5 99.999 100.001 100.0 100.002 99.999
Date: DESCRIPTIVE STATISTICS 样本数 尺寸下限 (LSL) 公称值 尺寸上限 (USL) 总和 均值 ( X) Maximum Minimum Readings below LSL Readings above USL 平均极差 (R) D2 值 n= 5 Upper capability index (CPU) Lower capability index (CPL) Capability index (Cp) 过程能力 (Cpk) Capability ratio (CR) Std Deviation (n-1) Std Deviation (n) 偏差 (n-1) 偏差 (n) Performance index (PP) Performance ratio (PR) Performance index (Ppk) 15 16 17 18 VALUES 50 99.9800 100.0000 100.0200 4,999.9920 99.9998 100.0060 99.9920 0 0 0.0066 2.3260 2.3683 2.3307 2.3495 2.3307 0.4256 0.0028 0.0027 0.000007607 0.000007454 2.4172 0.4137 2.3979 19 20
Cpk及Ppk计算Excel模板

107
157
8
1.209 58
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9
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110
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1.207 61
111
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1.206 62
112
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1.210 63
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1.204 66
116
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1.20
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4
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5
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1.20
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6
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1.20
1.203
7
1.20
1.21
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8
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1.21
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9
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1.21
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10
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11
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1.213
12
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1.215
13
1.22
1.22
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1.211 79
129
179
30
1.207 80
130
180
31
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cpk ppk如何计算

PK:Complex Process Capability index 的缩写,是现代企业用于表示制成能力的指标。
CPK值越大表示品质越佳。
CPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s))Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp.Ca: 制程准确度。
Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系:Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u). 规格公差=规格上限-规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2;8. 依据公式:,计算出制程准确度:Ca值9. 依据公式:Cp = ,计算出制程精密度:Cp值10. 依据公式:Cpk=Cp ,计算出制程能力指数:Cpk值11. Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级2.0 >C pk ≥ 1.67 优应当保持之A 级1.67 >Cpk ≥ 1.33 良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B 级1.33 >Cpk ≥ 1.0 一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级1.0 >Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多,必须提升其能力D 级0.67 >Cpk 不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。
工序CPK过程能力分析报告

CP = 27.42
1
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3
4
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19
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21
22
23
24
25
Grade = B
采取 1、 措施 2、 说明 3、
过程 能力 评价
1、根据控制图的判断准则,该过程无任何的异常波动的状态(见控制图)
2、由以上计算结果可知:
Cpk= 1.64
OK
性能指数能够满足,可以批准生产。
Sigma = 0.00
R CL 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 控 制 图
PPK= 1.29 PP = 21.69 Ca = 94.03% CPK= 1.64
图 5.59
5.58
5.58
5.58
1
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3
4
5
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24
预估不良率 (PPM) 0
过程能力分析
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Std.Dev.= 0.00
UCL 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01 0.01
过程能力认证报告-CPK与PPK计算模版

过程能力充分
规格设定:
5
X 值R 值日 期33日 期
11333300343
3
运转周期
运转周期增加减少
连续数据低于平均值
下限尺寸
35.936名义尺寸
36.0
上限尺寸
35.975失控限制
公称尺寸36.0上公差-0.025下公差-0.064连续数据高于平均值检测器具微米千分尺No.SL-342
设备标号
M6140-2
描 述对磨削25311-03602变档凸轮轴径过程能力认证
单 位mm 零件图号25311-03602审 核BBB 2009/5/5
零件名称变档凸轮
操作人员CCC 单组数据个数
过程通知
数据趋势
部 门统 计AAA 2009/5/4
35.9580
35.9530
35.9481
35.942
35.94435.94635.94835.95
35.95235.954
35.95635.95835.96
12
34
56
78
910111213141516171819202122232425
均值(X 表)
均值
上控制线UCLx
平均均值
下控制线LCLx
0.0182
0.0086
0.0
0.0020.0040.0060.0080.010.012
0.0140.0160.0180.02
12
34
56
78910111213141516171819202122232425
极差(R 表)
极差
上控制线r
平均均值
下控制线LCLr
双侧公差
下限公差
上限公差。
CP、CPK、PP、PPK、CMK的计算公式过程能力指数公式

一、 双侧公差情况的过程能力指数1﹑对于侧公差能情况,过程能力指数CP 的定义如下; σσ66L U T T T CP −== ① T 为技术公差的幅度,u t ﹑L t 分别为上﹑下公差限,σ为质量特性值分布的总体标准差。
当σ未知时,可用σ=R (bar )/d2或σ=S (bar )/C4估计,其中R 为样本的极差,R (bar )为平均数,S 为样本的标准差,S (bar )为平均数;D2、C4为修正系数,可根据样本组的个数查表获得;注意;估计值必须在稳定的状态下进行,在GB/T4091-2001《常规控制图》中有明确的规定;当CP=2、σ=0·5时,P=2ppm=2×910=。
事实上,从CP=1,σ=1时,可以得出CP=1=T/6σ,即T=6,于是σ-1/CP 。
故对于CP=2,σ=1/2=0·5,也就是说能力指数与不合格率是一一对应的。
二、单侧公差情况的能力指数1、 若只有上限要求时,而对下限没有要求时,则过程能力指数计算如下;σµ3−=U PU T C (μ< T U ) C PU 为上单侧过程能力指数,当μ≥TU 时,记作C PU =0上限要求2、 若只有下限要求时,而对上限没有要求时,则过程能力指数计算如下;σµ3lpl t c −= (μ>T L )C PL 为下单侧过程能力指数,当μ≤TL 时,记作C PL =0下限要求上面二例中的μ与σ未知时,可用样本估计,例如用X (bar )估计μ,用S 估计σ,三、有偏移情况的过程能力指数当产品质量特性分布的均值μ与公差中心Μ不重合,即有偏移时,不合格率必然回增大,CP 值降低,当过程能力指数不能反映有偏移的实际情况,需要加以修正,记修正后的过程能力指数为CPK ,则计算公式为;),min(PL PU C C CPK =记作分布中心μ对于公差中心M 的偏移为ε=|M-μ|,定义μ与M 的相对偏移(偏移度)K 为; TT k εε22/== (0≤K <1) 则过程能力指数修正为; ∧−≈−=−=σσ6)1(6)1()1(T K T K C K C P PK 这样,当μ=M (即分布中心与公差中心重合无偏移)时,K=0,CPK=CP ,注意CPK 也必须是在稳定状态下求得;美国的三大汽车公司(福特Ford 、通用GE 、克莱斯特Crysler )联合制定了QS —9000标准,对于统计方法的应用提出更高的要求,QS —9000标准的认证是以ISO9000标准的认证为前提的,在QS 中提出PP 、PPK 的新概念,称之为过程性能指数(Process Perfomance Index ),又称为长期过程能力指数。
Ppk,Cpk,Cmk三者区别及计算

Ppk、Cpk,还有Cmk三者的定义是什么?有什么区别?如何计算?1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp(Capabil ity Indiesof Process):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为:Pp(Perform ance Indiesof Process):过程性能指数,定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,一般表达式为:(该指数仅用来与Cp及Cpk对比,或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序)CPU:稳定过程的上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,一般表达式为:CPL:稳定过程的下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限,一般表达式为:2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk:这是考虑到过程中心的能力(修正)指数,定义为CPU与CPL的最小值。
它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。
即:Ppk:这是考虑到过程中心的性能(修正)指数,定义为:或的最小值。
即:Cmk是德国汽车行业常采用的参数,称为临界机器能力指数,它仅考虑设备本身的影响,同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移;由于仅考虑设备本身的影响,因此在采样时对其他因素要严加控制,尽量避免其他因素的干扰,计算公式与Pp k相同,只是取样不同。
目录编辑本段概念CP(或Cpk)工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。
它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。
这里所指的工序,是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程,也就是产品质量的生产过程。
产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现CPK:强调的是过程固有变差和实际固有的能力;CMK:考虑短期离散,强调设备本身因素对质量的影响;CPK:分析前提是数据服从正态分布,且过程受控;(基于该前提,CPK 一定>0)CMK:用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况;CPK:至少1.33CMK:至少1.67CMK一般在机器生产稳定后约一小时内抽样10组50样本CPK在过程稳定受控情况下适当频率抽25组至少100个样本CMK相关知识对Cmk,我们关心的是机器设备本身的能力,在取样过程中要尽量消除其他因素的影响,因此,在尽量短的时间内(减少环境影响),相同的操作者(减少人的因素影响),采用标准的作业方法(法),针对相同的加工材料(同一批原材料),只考核机器设备本身的变差。
cpk和ppk计算公式
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cpk和ppk计算公式
cpk和ppk计算公式
CPK和PPK是质量工程中经常使用的重要指标,它们用于衡量产品稳定性和同质性。
计算CPK和PPK公式可以方便企业确定产品稳定性和同质性,以改进未来的产品质量。
CPK公式是C(capability)P(process)K(kurtosis),它用来衡量一个产品的稳定性,以及这个产品一次性运行生产的稳定性。
CPK的计算公式为:CPK值= X样本均值–标准/3σ,其中,“X”代表这个产品的实时采集值,σ代表样本标准差。
计算出来的CPK值越高,表明产品的质量越高,且稳定性也越好。
PPK公式是P(process)P(predict)K(kurtosis),它用来衡量几次生产运行中产品的同质性。
PPK的计算公式为:PPK = (X样本均值-X样本期望值) / 六倍的样本标准差,其中“X”代表产品的实时采样值,X样本期望值代表产品说明书上的采样值,6σ代表样本均值标准差。
计算出的PPK值越高,表示产品的同质性越好,稳定性也越高。
因此,CPK和PPK是质量工程中非常重要的指标,它们用于衡量产品稳定性和同质性。
应用CPK和PPK公式可以方便企业形成有效的管理,确保产品质量,并且不断改进和完善未来的产品质量。
cpk、ppk计算
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製程特性依不同的工程規格其定義如下:。
等級處理原則無規格界限時Cp(Pp)=***Cpk(Ppk)=***Ca =***單邊上限(USL) Cp(Pp)=CPUCpk(Ppk)=CPUCa =***單邊下限(LSL) Cp(Pp)=CPLCpk(Ppk)=CPLCa =***雙邊規格(USL, LSL) Cp(Pp)=(USL-LSL)/6σCpk(Ppk)=MIN(CPU,CPL)Ca =|平均值-規格中心|/(公差/2)谈到过程能力,首先得解释变异(或者叫波动),正是因为有了变异的存在,才出现了能力大小。
产生变异的原因可以归结为两种,一种是普通原因,一种是特殊的原因。
所谓的普通原因就是平时一直客观存在,对过程有一定的影响但不明显,而特殊因素则是偶然出现,对过程影响很大。
举例说明:在一个有空调的房间进行培训时,虽然空调可能是设定在25度,但由于房间内外温度存在差异,所以每时每刻都会有能量在和房间外进行交换,所以如果用足够精确的温度计测量房间的温度就会发现房间里的温度其实并不是恒定在25.000度,而是24.99,24.98,25.00,25.01…..在微小的在一定范围内进行变化,这时我们就说受到的是普通因素的影响,而如果有人推门进来,那么在这瞬间,房间内的温度会出现较大变化,此时我们说受到了普通因素和特殊因素两种影响。
过程只受普通因素影响的时候在控制图上表现为过程是受控的,如果有特殊原因的影响在控制图上会有异常点的出现。
所以我们如果用Cp和Cpk来衡量过程能力,前提是要过程稳定且数据是正态分布,而且数据应该在25组以上(建议最少不要低于20组,数据组越少采信结果的风险越大),也就是说计算Cp,Cpk只考虑过程受普通因素的影响。
计算公式为:Cp=(usl-lsl)/6σ;1、Cpk=(1-k)Cp;k=|u-M|/(usl-lsl)/2;2、Cpk=min{(usl-u)/3σ ,(u-lsl)/3σ };注释:usl为上规格线,lsl 为下规格线,u为实际测得的平均值,M为上下规格的中心点,K值表示的意思是实际平均值偏离中心值的程度,此时的即为只考虑普通因素产生的变异,通常根据控制图的不同采用Rbar/d2,或者Sbar/C4,在minitab里有三种不同的估算方法。
PPKCPK计算
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PPKCPK计算PPK和CPK是由六西格玛和统计学概念演变而来的两个指标,用于评估过程能力和过程稳定性,尤其在制造业中被广泛采用。
这两个指标可以帮助企业了解其过程是否具备稳定性,并确保产品的质量符合标准要求。
PPK和CPK的计算基于一组数据,通常是连续的测量数据。
这些数据可以是生产过程中的一些关键质量指标,比如尺寸、重量、容量等。
下面将详细介绍如何计算PPK和CPK指标。
首先,需要明确几个概念:1. 目标值(Target Value):也称为规格中心(Specification Center),表示产品或过程的目标值,通常由设计要求或客户需求决定。
2. 工程公差(Engineering Tolerance):也称为规格限制(Specification Limit),表示产品或过程允许的变动范围,通常由设计要求或客户需求决定。
3. 过程能力指数(Process Capability Index):CPK和PPK都属于过程能力指数,用于度量过程的能力和稳定性。
接下来,我们来详细介绍PPK的计算方法:1.首先,需要收集一组样本数据,通常建议至少采集30个样本,以获取足够的数据量。
2.计算样本均值(X̄)和样本标准偏差(S)。
3.计算过程能力指数PPK的值。
PPK可以通过以下公式计算:PPK = Min[(X̄ - LSL) / (3 * S), (USL - X̄) / (3 * S)]其中,LSL是工程公差的下限,USL是工程公差的上限。
4.PPK的值越大,说明过程的能力越好,能够更好地满足规格要求。
接下来,我们来详细介绍CPK的计算方法:1.首先,需要收集一组样本数据,通常建议至少采集30个样本,以获取足够的数据量。
2.计算样本均值(X̄)和样本标准偏差(S)。
3.确定CPK的计算公式。
如果过程能力指数依赖于上下限的规格,那么使用下面的公式计算CPK:CPK = Min[(X̄ - LSL) / (3 * S), (USL - X̄) / (3 * S)]如果过程能力指数依赖于上限或下限的规格,那么使用下面的公式计算CPK:CPK=(USL-X̄)/(3*S)或CPK=(X̄-LSL)/(3*S)如果过程能力指数依赖于上下限和目标值的规格CPK = Min[(X̄ - LSL) / (3 * S), (USL - X̄) / (3 * S), (X̄- Target) / (3 * S), (Target - X̄) / (3 * S)]其中,LSL是工程公差的下限,USL是工程公差的上限,Target是目标值。
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规格设定: 部 门 零件图号 零件名称 检测器具 描 述 公称尺寸 下限尺寸
双侧公差 下限公差 上限公差
过程能力充分 5 过程通知
数据趋势 增加 减少 运转周期 运转周期 X值 3 1 3 3 0 3 3 R值 3 1 3 3 0 4 3
单组数据个数
统 计 审 核 操作人员 设备标号 -0.025 36.0 AAA BBB CCC M6140-2 单 位 下公差 上限尺寸 日 期 日 期
8 35.956 35.947 35.956 35.953 35.955
35.9534 0.009
9 35.951 35.955 35.956 35.953 35.954
35.9538 0.005
10 35.951 35.949 35.957 35.948 35.950
35.951 0.009
12 35.951 35.956 35.951 35.955 35.958
35.952 0.008
22 35.952 35.949 35.957 35.954 35.956
23 35.951 35.953 35.954 35.953 35.962
24 35.949 35.958 35.951 35.953 35.951
25 35.953 35.950 35.952 35.956 35.948
35.9532 0.009
5 35.956 35.954 35.955 35.953 35.955
35.9546 0.003
6 35.951 35.947 35.951 35.953 35.955
35.9514 0.008
7 35.951 35.956 35.956 35.953 35.954
35.954 0.005
35.95 3 0
1
6 0
35.9 32
0 35.9 63 35.9 40 35.9 48
35.9 56
0 35.9 71
0 35.9 79
0 35.9 87
35.9 24
分 n
1 2 3 4 5 均值X 35.9518 极差R 0.012 21 n 1 35.956 2 35.958 3 35.955 4 35.957 5 35.945 1 35.949 35.959 35.947 35.951 35.953 2 35.956 35.957 35.952 35.949 35.955
35.9542 0.007
13 35.951 35.956 35.949 35.949 35.951
35.9512 0.007
14 35.951 35.957 35.960 35.953 35.949
35.954 0.011
16 35.949 35.959 35.951 35.951 35.948
35.9516 0.011
35.9538 0.009
数值
125 35.9360 36.0000 35.9750 4,494.1290 35.9530 35.9620 35.9450 0 0 0.0086 2.3260 1.9805 1.5355 1.7580 1.5355 0.5688 0.0034 0.0034 0.0000 0.0000 1.8854 0.5304 1.6467
注
意
第 3 页,共 4 页
过程能力认证报告
均值X 35.9542 极差R 0.013
35.9536 0.008 35.9546 0.011 35.9524 0.009 35.9518 0.008
过程能力充分
第 4 页,共 4 页
25311-03602 变档凸轮 微米千分尺No.SL-342 对磨削25311-03602变档凸轮轴径过程能力认证 36.0 上公差 35.936 名义尺寸
2009-5-4 2009-5-5
mm -0.064 35.975
失控限制 连续数据高于平均值 连续数据低于平均值
均值 (X 表)
35.96
35.9580
0.018
0.016 0.014 0.012 0.01
0.0086
0.008 0.006 0.004 0.002 0.0
第 1 页,共 4 页
过程能力认证报告
0.0
过程能力充分
15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
1
2
极 差
3
4
上控制线r
5
6
平均均值
7
8
9
10
11
12
13
35.9538 0.008
组
数
据
11 35.953 35.952 35.960 35.953 35.957
35.955 0.008
3 35.949 35.946 35.949 35.950 35.955
35.9498 0.009
4 35.951 35.958 35.949 35.95.954
35.9530
35.952 35.95
35.9481
35.948 35.946 35.944 35.942
1
2
均值
3
4
上控制线UCLx
5
6
平均均值
7
8
下控制线LCLx
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
极差(R 表)
0.02
0.0182
单 位 下公差 上限尺寸
mm -0.064 35.975
USL
样本柱状分布图
30
控制线柱状分布图
70 70 35.9360 35.9750
15
13
10 7 5 1 0 35.94 9 35.95 1 35.95 6 35.95 8 35.96 1
35.94 6 35.95 9 6
30 20 2 10 0 35.94 4 35.94 8 35.95 4
14
下控制线LCLr
第 2 页,共 4 页
过程能力认证报告
部 门 零件图号 零件名称 检测器具 描 述 公称尺寸 下限尺寸 25311-03602 变档凸轮 微米千分尺No.SL-342 对磨削25311-03602变档凸轮轴径过程能力认证 36.0 上公差 35.936 名义尺寸 统 计 审 核 操作人员 设备标号 -0.025 36.0
LSL
80 25 25 22 60 20 18 19 50 40
11 49
过程能力充分
2009-5-4 2009-5-5
AAA BBB CCC M6140-2
日 期 日 期
统计描述
数据个数n 尺寸下限 (LSL) 公称值 尺寸上限 (USL) 数据总数 平均均值( X ) 最大值Max 最小值Min 低于下限数据个数 高于上限数据个数 平均极差(R) D2 ,n=5 高能力指数 (CPU) 低能力指数(CPL) 过程能力指数 (Cp) 过程能力(Cpk) 过程比率(CR) 标准偏差 (n-1) 标准偏差(n) 方差(n-1) 方差(n) 性能指数(PP) 性能比率(PR) 性能指数(Ppk) 15 35.955 35.960 35.951 35.952 35.951
17 35.951 35.953 35.960 35.951 35.950
35.953 0.01
18 35.951 35.957 35.954 35.950 35.952
35.9528 0.007
19 35.952 35.961 35.955 35.950 35.956
35.9548 0.011
20 35.953 35.947 35.952 35.955 35.953