调制偏振光相位延迟精确测量

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调制偏振光相位延迟精密测量实验.

调制偏振光相位延迟精密测量实验.

GCS-XW 调制偏振光相位延迟精密测量实验用途:调制偏振光在光学精密测量和光学信息传递中有重要的应用价值。

光学相位延迟测量系统的研究,可用于测量光学延迟器的相位延迟,也可以用于产生任意的光学相位延迟量。

方位信息传递技术可以使位于不同平面的两台无机械连接的设备,通过光学的方法实现空间方位同步,从而实现方位角度信息的传递,在航空,航天,生化等领域具有广泛的应用前景。

知识点:偏振光理论、索列尔-巴比涅相位补偿器、偏振原件、光学相位延迟、光学测量、晶体电光效应。

对学生的要求:理解偏振光理论,了解光学相位延迟测量理论,具备良好光学调整经验,适用本科与研究生光电专业教学。

涉及课程:偏振光学、非线性光学、光电测量。

实验目的:(1)了解偏振光学理论(2)掌握索列尔-巴比涅相位补偿器的应用(3)了解晶体电光调制理论(4)掌握相位延迟测量方法(5)设计系统并测量不同零级波片(6)设计光学相位延迟发生器实验特点:本系统为光相位延迟精密测量系统,内容涉及调制偏振光、相位延迟测量,偏光电检测等多方面的知识。

可作为光电、光信息、光学工程、光电检测等专业本科或研究生课程教学,也可以作为科研部件应用。

系统图片:系统示意图:L是光源,P为起偏器,E为电光调制器,即电光晶体,通过调制信号源M 加上调制信号。

S为待测相位延迟器,C为Soleil-Barbinet补偿器,A为检偏器,出射光由光探测器D接收,并经滤波放大等处理后,最终结果显示在示波器O上。

系统的方位坐标规定为:光束传播方向为z轴,起偏器、检偏器的透振方向沿x轴,电光调制器加电后的感生轴x、h方向和待测相位延迟器及补偿器的快慢轴方向一致,均和x轴成45度角。

该方案的特点:一是可进行相位延迟的直接测量,精度高误差小;二是由电光晶体进行调制,由Soleil-Barbinet补偿器进行光学补偿,调制和补偿两种作用分开,稳定性好。

技术指标配置清单(本系统需要示波器一台)。

测量晶体相位延迟量的λ/4波片法研究

测量晶体相位延迟量的λ/4波片法研究

从 待测 晶体 出射 的两 线 偏 振 光 在 O y坐 标 系 中 电 x
矢 量 可表示 为 ( 图 2 . 见 )
这束 椭 圆偏振 光通 过快 慢 轴 与 其长 短 轴 重 合 的 a 4 / 波片, 则此 椭 圆偏 振 光 被 补 偿 为 一 束 线 偏 振 光 ,并

收 稿 日期 :0 60 —3 20 —22
n ^ ^
图 1 实验 装 置 图
S是 单色 自然 光 , 起偏 器 P 与检 偏 器 P 的 透 光 轴正交 , 待测 晶 体 置 于 起 偏 器 P 与 a 4波 片 之 /
间, 待测 晶体 的快 慢轴 方 向均 与 P 的透 光轴 成 4 。 5
角 ,/ a 4波 片的快 轴 ( O 轴 ) 即 与的透 光 轴平行 .
统不 需直 接测 量光 强 , 免 了 光 强 不稳 定 对 测 量 结 避 果 的影 响.
2 测 量 原 理 及 方 法
两 束频 率 相 同 , 动 方 向分 别 沿 , 轴 、 幅 振 振 各 为 A , 位相 差 为 的平 面 偏 振 光 可 合成 为椭 A ,
圆偏振 光 , 主轴 与 z轴 夹 角 可 由下 面 的 式 子 确 其 定 嘲
t n 2 = a & = =
^ r 一 ^
c s . o
当单 色 自然 光通 过 P 后 , , 出射 光 为 线偏 振 光 ,
电矢量 可表 示 为 E , =Ac so.它射 入 待测 晶体 后 o t c
若两 束 线 偏 振 光 的 振 幅 相 同 , A 即 一 A , 么 那
图 2 偏 振 态示 意 图
E 一 f) o 2 Acs∞t , (a 1)

光纤延迟线量程的检测方法

光纤延迟线量程的检测方法

光纤延迟线量程的检测方法光纤延迟线是一种用于测量光信号传播时间的装置。

在光纤通信系统中,光信号在传输过程中会受到光纤材料本身和连接器等组件的影响,从而导致信号的延迟。

因此,准确测量光纤延迟线的量程十分重要。

下文将介绍几种常用的光纤延迟线量程检测方法。

一、时域法时域法是最常用的光纤延迟线量程检测方法,它通过测量光信号在光纤中传播的时间来确定延迟线的延迟值。

具体步骤如下:1.使用光纤延迟线连接测试设备和被测设备。

2.发送一个脉冲光信号到光纤延迟线。

3.在测试设备上观察接收到的光信号,并记录时间。

4.通过计算光信号在光纤中传播的时间,即可得到延迟线的延迟值。

二、频域法频域法是一种基于频率特性的光纤延迟线量程检测方法。

该方法利用光纤延迟线对不同频率光信号的传输特性进行测量和分析,来确定延迟线的延迟值。

具体步骤如下:1.发送一系列频率不同的光信号到光纤延迟线。

2.在测试设备上观察接收到的光信号,并记录频率和相位信息。

3.通过分析接收到的频率和相位信息,可以得到延迟线的延迟值。

三、相位比较法相位比较法是一种基于相位测量的光纤延迟线量程检测方法。

该方法通过将光纤延迟线与一个已知延迟的参考器件(如光分路器)进行相位比较来确定延迟线的延迟值。

具体步骤如下:1.将光纤延迟线和参考器件同时连接到一个相位比较设备上。

2.发送一个脉冲光信号到光纤延迟线和参考器件中。

3.在相位比较设备上观察比较结果,并记录相位差值。

4.通过计算相位差值,即可得到延迟线的延迟值。

总结:以上介绍了几种常用的光纤延迟线量程检测方法,其中时域法是最常用的方法,它简单、直接且准确。

而频域法和相位比较法则更适用于特定场景下的测量需求。

在实际应用中,可以根据具体需要选择合适的测量方法,并结合相关设备和技术来进行光纤延迟线的量程测量。

波片相位延迟度测量分析

波片相位延迟度测量分析

波片相位延迟度测量分析作者:闫青艳来源:《科学家》2016年第02期摘要文章以偏振调制原理为基础,凭借技术先进的微处理器、锁相放大器以及Si探测仪等测量设备,围绕着琼斯理论为中心展开对于波片相位的延迟度测量工作,并且在数据上面达到自动化形式的处理水平。

文章所建立的测量系统具备了如下优点:精度高、自动化程度高以及操作简便。

从本次测量的结果中可以总结出本次测量拥有400~1000nm的测量范围,优于0.1%的测量准度以及小于0.6%的重复误差,测量系统主要应用于偏光的领域。

关键词波片相位;延迟度;光学测量中图分类号 TN25 文献标识码 A 文章编号 2095-6363(2016)02-0021-02对于光学技术领域而言,尤其以偏光器件的应用为主,光学相位延迟器在光学调制系统中属于重要的器件。

它可以与偏光器件形成配合,使每一个偏振态得到变换,每一个偏振面得以旋转以及偏振光得到相应的调制。

对于延迟件而言,相位延迟度属于关键的参数,人们都十分关注其测量的精度。

因此,拥有一套高精度测量延迟度的系统是当务之急。

测量相位延迟度拥有许多种方法,但是它们都表现出一样的缺陷,即全为手动的测量方式,而且不能很好地控制测量误差。

文章围绕着分束差动计算机自动测量法展开对延迟度的测量工作,实验达到了自动化、误差小的标准。

1 实验系统设计实验采用如图1所示的装置,在电机驱动的旋转载物台上放置起偏器(3)和待测波片(Rx)。

步进电机拥有角度为0.36°的步距角,并在齿轮的动力传输下实现载物台的转动,控制单元(11)为电机的驱动脉冲提供了动力。

对于闭环反馈角度的控制工作由编码器(12,13)实现,从而可以使角度更加的精确。

电机每一步的转动可以使载物台出现0.072°的转动,使系统拥有更高的精度。

探测器(6)与(7)所使用的为同一型号的Si探测器,并且拥有200~1100nm的波长响应范围。

(8)信号于放大处理器进入计算机处理系统。

红外偏振光治疗仪偏振度测量方法研究

红外偏振光治疗仪偏振度测量方法研究

红外偏振光治疗仪偏振度测量方法研究牛礼军;王安意;唐征宇;迟玉刚【摘要】目前空间光的偏振度测量方法不适用于红外偏振光治疗仪偏振度的测量.本文阐述了偏振度的测量方法,利用现有的设备搭建测量光路,利用激光窄带滤光片模拟单色光,对红外偏振光治疗仪的偏振度进行了测量,测得红外偏振光治疗仪各个治疗头输出光的偏振度都在95%以上.分析了影响偏振度测量的各种因素,在今后的工作中可以改进测量方法,提高红外偏振光治疗仪偏振度的测量精度.【期刊名称】《中国医疗设备》【年(卷),期】2019(034)005【总页数】4页(P35-38)【关键词】红外偏振光治疗仪;单色光;偏振度;测量光路【作者】牛礼军;王安意;唐征宇;迟玉刚【作者单位】中国电子科技集团公司第四十一研究所研发一部,安徽蚌埠 233000;中国电子科技集团公司第四十一研究所研发一部,安徽蚌埠 233000;蚌埠市第一人民医院骨科,安徽蚌埠 233000;蚌埠市第一人民医院影像科,安徽蚌埠 233000【正文语种】中文【中图分类】O4363.3;TH773引言红外偏振光治疗仪利用对人体透射效果最好的0.6~1.6 μm光谱范围的线偏振光照射人体。

线偏振光输出功率达到2200 mW,对人体组织的有效作用深度超过5 cm,可以进行神经节、神经干和神经根的照射,从而赋予光疗以全新的治疗概念——神经照射法。

红外偏振光治疗仪作用于人体相应的疼痛部位,有抑制神经兴奋、松弛肌肉、促进活性物质产生、加速致痛物质的代谢与清理和调节内环境稳定等作用[1]。

红外偏振光治疗仪主要依靠光的偏振特性对人体产生影响,从而可以治疗不同类型的疼痛[2-6]。

目前,红外偏振光治疗仪已经广泛应用于神经内科、疼痛科、康复理疗科、外科、骨伤科、皮肤科等科室。

红外偏振光治疗仪有B、C、D和SG四种类型的治疗头,分别用于治疗不同的症状,要求四种治疗头输出光的偏振度都大于等于95%。

偏振度是衡量红外偏振光治疗仪治疗性能的重要指标。

利用消光椭偏仪精确测量波片相位延迟量

利用消光椭偏仪精确测量波片相位延迟量

利用消光椭偏仪精确测量波片相位延迟量1.引言波片是基于晶体双折射性质的偏振器件,在光纤技术、光学测量以及各种偏振光技术等领域具有广泛的应用[1~3]。

其中1/4波片及1/2波片在偏振器件中应用尤其广泛。

测量波片相位延迟量的方法主要有:光强探测法[4]、旋光调制法[5]、半阴法[6]、光学补偿法[7]等。

这些方法主要基于对光强的测量,容易受光源的不稳定及杂散光的干扰,精度受到一定的限制,测量误差一般在0.5°。

我们从理论上分析了利用椭偏仪测量波片相位延迟量的可能性,讨论了其测量精度及误差来源,并利用HST-3型消光式椭偏仪[8]测量了1/4波片以及1/2波片相位延迟量。

实验表明:测量过程不受光强波动的影响,方法简单,操作方便,精确度高,测量波片相位延迟量精度达0.005°,是测量任意波片相位延迟量的有效及实用的方法。

2. 测量的原理利用消光式椭偏仪测量波片相位延迟量时,光路要调整成直通的状态。

如图1所示,其中P 为起偏器,Q 为标准1/4波片,C 为待测波片,A 为检偏器。

图1 椭偏仪测量波片相位延迟量光路图由透射式椭偏方程为[9]:tan ψ⋅e ∆i =ps T T = 2121P p s s E E E E = 1221s P s pE E E E ⋅ (1) 其中ψ和∆为椭偏参数,可由椭偏仪测量。

T p ,T s 分别是样品的p 分量和s 分量的透射系数,透射波的复振幅为(2P E ,2s E ),入射波的复振幅为(1p E ,1s E )。

设θ为波片快轴与入射面的夹角,δ为其快慢轴之间的相位延迟量,则波片的通用矩阵为[10]: G=222cos sin cos 2sin sin 2i i δδδθθ-⎛ -⎝ 222sin sin 2cos sin cos 2i i δδδθθ-⎫⎪+⎭ (2) 取入射光1E =11p s E E ⎛⎫ ⎪⎝⎭,经过一个波片后,出射光2E 为:22p s E E ⎛⎫ ⎪⎝⎭=222cos sin cos 2sin sin 2i i δδδθθ-⎛ -⎝ 222sin sin 2cos sin cos 2i i δδδθθ-⎫⎪+⎭⋅11p s E E ⎛⎫ ⎪⎝⎭=111222111222cos sin cos 2sin sin 2cos sin sin 2sin cos 2p p s s p s E iE iE E iE iE δδδδδδθθθθ--⎛⎫ ⎪ ⎪-+⎝⎭⑶ 令11s pE E E =,(3)式代入(1)得 tan ψ⋅e ∆i = 222222cos sin cos 2sin sin 21cos sin cos 2sin sin 2i iE i i E δδδδδδθθθθ--+- ⑷ 所以(4)式就是测量样品的相位延迟量的椭偏方程,只要测量椭偏参数(ψ,∆)值就能通过椭偏方程求出波片相位延迟量δ。

波片相位延迟量的四步移相法测量

波片相位延迟量的四步移相法测量

严格 满 足 4 。 的条件 , 但调 试 困难 , 且 光 源 的起 伏 也 是 影 响测 量 精 度 的重要 因素 . 了克 服 上 述 方 法 5角 不 而 为
的局 限性 , 文提 出 了一种 分 出校 正光 束 的 四步移 相测 量波 片相 位延 迟 量 的新方 法 , 本 并基 于 密勒矩 阵 和斯 托 克斯 矢量 推 导 出了通 用测 量公 式 . 该方 法采 用 高精 度 的标 准 14波 片 进行 相位 补 偿 , 人 射 光 中利 用 o / 在 e双
上 提 出 了 在 光路 中 分 出 校 正 光 束 的 四 步 移 相 法 . 方 法 在 测 量 波 片 的 相 位 延 迟 量 时 无 需 知 道 波 片 光 轴 的 具 该
体位置 , 并可 以平衡掉激光 光源的波动 , 而f 除 了光源 的不稳定 给测量结果带来 的误差 , 从 肖 同时该方法简化 了 测量过程 , 提高 了测量精度 .
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快 轴与 轴夹 角为 的标准 14波片 C的密勒矩 阵 为 /
『 1
上 :

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由光 功率 计 D 接 收 . :



图 1 四步移 相 法测 量波 片相 位延 迟 量 实验 原理 图
收 稿 日期 :0 90 —4 2 0 - 1 9
作者简介 : 崔祥霞 , ,9 2 , 女 18 一硕士研究生 , 助教 ;研究方 向: 偏振光学与技术. - alc i agi 13 tm. E m i:ux nxa 6 . o i @ 吴福全 , ,9 2 , 男 15 一教授 , 博士生导师 ;研究方 向: 偏振光学与技术.E m i: q u alqn . d .n - al fw @m i fu e u c .

弹光调制偏振 Stokes参量测量及误差分析

弹光调制偏振 Stokes参量测量及误差分析

弹光调制偏振 Stokes参量测量及误差分析王立福;王志斌;李晓;陈友华;张瑞;张鹏飞【摘要】为了更简便地实现Stokes矢量测量,采用一种工作在不同频率上的双弹光调制器,利用它的频率叠加对光进行调制,产生载有被测量的高频调制分量,通过锁相一次得到了适用于所有偏振态测量的4个Stokes分量,且进行了理论分析、仿真验证以及误差分析,即对相位延迟幅度、入射角等因素对测量结果的影响进行了分析。

结果表明,该方法实现了只需测量一次便可测出偏振态的所有分量,为进一步工程实现提供了基本的理论支撑。

%In order to measure Stokes vectors simply and conveniently , a dual-photoelastic-modulator working at different frequencies was adopted to generate high frequency modulation component loaded with the parameters to be measured after light modulation because of the frequency superposition .Four Stokes components suitable for all polarization measurements were obtained once through a phase-locked polarization measurement .After theoretical analysis , simulation verification and error analysis , the effects of phase delay and incidence angle on the measurement results were studied .The results show that all the measured polarization components can be obtained with only one measurement and the method provides theoretical support for further engineering implementation .【期刊名称】《激光技术》【年(卷),期】2014(000)002【总页数】5页(P255-259)【关键词】光谱学;双弹光调制器;Stokes矢量;偏振;锁相【作者】王立福;王志斌;李晓;陈友华;张瑞;张鹏飞【作者单位】中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051;中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051; 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051;中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051; 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051;中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051;中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051;中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051【正文语种】中文【中图分类】O436.3斯托克斯参量已经被广泛应用于矢量光束的偏振特性变化的研究,且可描述光束所有的偏振态和光强度,因此只要测量出全部的斯托克斯参量,即可确定不同光束的偏振态。

清华大学偏振光学实验完整实验报告

清华大学偏振光学实验完整实验报告

偏振光学实验完整实验报告工物53 李哲 2015011783 16号1.实验目的:(1)理解偏振光的基本概念,在概念以及原理上了解线偏振光,圆偏振光以及椭圆偏振光,并了解偏振光的起偏与检偏方法。

以及线偏振光具有的一些性质。

(2)学习偏振片与玻片的工作原理。

2.实验原理:(1)光波偏振态的描述:· 单色偏振光可以分解成两个偏振方向垂直的线偏振光的叠加:t a E X ωcos 1=与()δω+=t a E Y cos 1(其中δ是两个偏振方向分量的相位延迟,21,a a 为两个光的振幅),由其中的δ,,21a a 就可以确定这个线偏振光的性质。

πδ=或0=δ就为线偏振光,2,21πδ==a a 为圆偏振光(就是光矢量的顶点绕其中点做圆周运动,依然是偏振光),而一般情况下是椭圆偏振光。

· 上述式子通常描述的是椭圆偏振光,而本实验通过测量椭圆的长轴方位角ψ以及椭圆的短半轴与长半轴的比值对于椭圆偏振光进行描述。

其计算式是:()δβcos 2tan arctan 21⋅=ψ()12sin sin 112222-⋅-+=βδa b而对于实验中的椭圆偏振光而言,其光强在短轴对应的方向最小,在长轴的对应方向最大,所以可以通过使这个椭圆偏振光通过一个偏振片,并调整偏振片的透射轴方位,测量其最大最小值,就可以知道其长轴短轴的比值。

又由于光强与振幅的平方成正比,所以测得的光强的比值是长轴短轴之比的平方。

(2)偏振片:· 理想偏振片:只有电矢量振动方向与透射轴平行方向的光波分量才能通过偏振片。

· 实验中的偏振片不是理想化的,并不能达到上述的效果,当入射光波的振动方向与透射轴平行时,其透射率不能达到1,当垂直于透射轴时,其透射率不是0。

所以对于偏振片有主透射率以及消光比两个量进行描述。

· 主透射率21T T ,指沿透射轴或消光轴方向振动光的光强透射率。

两者的比值是消光比e 。

调制偏振光相位延迟精确测量

调制偏振光相位延迟精确测量
其对应的输出光强 It 可写成
A i (e 1) 2
(13)
I t [( E y ) 0 ( E y ) 0]
A 2 i [(e 1)(e i 1)] 2 A 2 sin 2 2 2
(14)
由(11)和(14)式,光强透过率 T 为
T
由(7)式
It sin 2 Ii 2
代入(18)式
T sin 2 (

2U
U m sin t )

1 [1 cos( U m sin t )] 2 U

1 ( U m ) 2 sin 2 t 4 U
1 U ( m ) 2 (1 cos 2t ) 8 U
T∝cos2ωt (21)
从(21)式可以看出,输出信号的频率是调制信号频率的二倍,即产生“倍频”失真。若 把
2.马吕斯定律
如果光源中的任一波列(用振动平面 E 表示)投射在起偏器 P 上(图 1) ,只有相当于 它的成份之一的 Ey(平行于光轴方向的矢量)能够通过,另一成份(Ex=E cosθ)则被吸收。
图பைடு நூலகம்1
若投射在检偏器 A 上的线偏振光的振幅为 E0,则透过 A 的振幅为 E0 cosθ(这里 θ 是 P 与 A 偏振方向之间的夹角) 。由于光强与振幅的平方成正比,可知透射光强 I 随 θ 而变化的 关系为
【实验目的】 1. 理解电光调制原理; 2. 观察晶体的会聚偏振光干涉图样; 3. 使用不同方法测定铌酸锂晶体的透过率曲线(即 T~U 曲线),求出半波电 压 Uπ,再算出电光系数 γ22; 4. 学会使用相位补偿器; 5. 掌握调制补偿的组合使用 【 实验原理】
1. 偏振光的产生和检验
光是电磁波,可用两个相互垂直的振动矢量——电矢量 E 和磁矢量 H 表征。因物质与电 矢量的作用大于对磁矢量的作用,习惯上称 E 矢量为光矢量,代表光振动。 光在传播过程中遇到介质发生反射、折射、双折射或通过二向色性物质时,本来具有随 机性的光振动状态就会起变化, 发生各种偏振现象。 若光振动局限在垂直于传播方向的平面 内,就形成平面偏振光,因其电矢量末端的轨迹成一直线,通称线偏振光;若只是有较多的 电矢量取向于某固定方向,称作部分偏振光。再者,如果一种偏振光的电矢量随时间作有规 律的变动, 它的末端在垂直于传播方向的平面上的轨迹呈椭圆或圆形, 这种偏振光就是椭圆 偏振光或圆偏振光。 人的眼睛不能直接检查偏振光, 但可用一个偏振器面对偏振光进行检视, 这个偏振器就 成为检偏器。

偏振光调制

偏振光调制

偏振光调制(原创版)目录1.偏振光的基本概念2.偏振光调制的原理3.偏振光调制的应用4.偏振光调制的发展前景正文1.偏振光的基本概念偏振光是一种特殊的光波,它的电场振动方向在某一个特定平面上。

与自然光不同,自然光的电场振动方向在各个方向上都有。

偏振光的产生可以通过偏振片、反射镜等光学元件实现。

在光学领域,偏振光具有很多独特的性质和应用,如偏振光在光学显示、光通信和光学测量等方面的应用。

2.偏振光调制的原理偏振光调制是指通过改变偏振光的某些性质,从而实现对光的强度、颜色或相位等参数的调节。

偏振光调制的原理主要是通过改变偏振光的传播方向、改变偏振光的振幅、改变偏振光的相位等方法来实现。

例如,通过改变偏振片的方向,可以改变偏振光的传播方向;通过改变偏振片的厚度,可以改变偏振光的振幅;通过在偏振光路径中加入相位延迟板,可以改变偏振光的相位。

3.偏振光调制的应用偏振光调制在光学领域有广泛的应用,主要包括以下几个方面:(1)光学显示:偏振光调制可以用于制作立体电影、投影仪等光学显示设备。

通过调节偏振光的参数,可以实现对图像的亮度、对比度等特性的调节,从而提高显示效果。

(2)光通信:偏振光调制在光通信中可以用于实现光信号的调制和解调。

通过改变偏振光的参数,可以实现对光信号的强度、相位等特性的调节,从而提高光通信的稳定性和传输速率。

(3)光学测量:偏振光调制在光学测量中可以用于测量物体的物理参数,如厚度、折射率等。

通过改变偏振光的参数,可以实现对测量结果的精确调节,从而提高测量的准确性。

4.偏振光调制的发展前景随着光学技术的发展,偏振光调制在光学领域中的应用将会越来越广泛。

精确测量波片相位延迟量的新方法

精确测量波片相位延迟量的新方法

如图 1所示 , 一线偏 振光 依 次通过 与 轴 夹 角 为 O的起 偏 器 P, 位 角 为 4 。 / 方 5 的波 片 c , .方位 角 为 O 的波片 C , 与 轴夹 角为 卢的检偏 器 A 以光线 为轴 即 轴方 向 , 着 光传播 的方 向 , 。 和 . 迎 逆时 针转 角 为
[ 者简介 ] 作 崔祥 霞 (9 2一) 女 , 18 , 山东 沂 源 人 , 山 学 院 物 理 与 电 子工 程 学 院助 教 泰
8 2
泰 山 学 院 学 报
第 3 卷 2
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图 1
在 消光位 置 , 起偏器 和检 偏器 的方位 角分别 是 和 , 么 : 设 那
崔 祥 霞
( 山学院 物理与 电子工程 学院, 东 泰安 泰 山 2 12 ) 7 0 1
[ 测量装置. / 该装置可 以用简单的数
学表达 式同时测 定两个波 片的相应延迟 量. [ 关键词 ] 波片 ; 相位延迟 量; 赛纳蒙特补 偿器 ; 琼斯矩 阵
调整待测波片的方位使其快轴在 4 。 而且相对于入射偏振光跟标准 14补偿波片的方向平行. 5 角, / 旋转 检 偏器 调整 到消光 , 其待测 波 片的相 位延 迟量 就是 出现 线偏振 光 的角 的两倍 . 而 但该 补偿 方法 有严 重 的
缺 点 , 是需 要一个 标 准 的 14波 片 , 且 只能被 用于 这个 对应 波长 的测量 . 就 / 并 本 文提 出 了测 量相 位延 迟 的新 装 置 , 个光 学 系统与赛 纳 蒙特 补偿器 相 似 , 不需要 标准 的 14波 这 但 /

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中国石油大学物理创新训练1实验报告成绩:班级:应用物理学1302班姓名:尹昊同组者:张栋、姜顺教师:亓鹏调制偏振光相位延迟精密测量实验调制偏振光在光学精密测量和光学传递中有重要的应用价值,光学相位延迟系统的研究,可以测量任意光学相位延迟量。

本实验内容涉及调制偏振光、相位延迟精密测量、偏振光光电检测、电光调制、光点接收等多方面知识。

【实验目的】1.理解电光调制原理;2.观察晶体的会聚偏振光干涉图样;3.使用不同方法测定铌酸锂晶体的透过率曲线(即T~U曲线),求出半波电压Uπ,再算出电光系数γ22;4.学会使用相位补偿器;5.掌握调制补偿的组合使用【实验原理】1.偏振光的产生和检验光是电磁波,可用两个相互垂直的振动矢量——电矢量E和磁矢量H表征。

因物质与电矢量的作用大于对磁矢量的作用,习惯上称E矢量为光矢量,代表光振动。

光在传播过程中遇到介质发生反射、折射、双折射或通过二向色性物质时,本来具有随机性的光振动状态就会起变化,发生各种偏振现象。

若光振动局限在垂直于传播方向的平面内,就形成平面偏振光,因其电矢量末端的轨迹成一直线,通称线偏振光;若只是有较多的电矢量取向于某固定方向,称作部分偏振光。

再者,如果一种偏振光的电矢量随时间作有规律的变动,它的末端在垂直于传播方向的平面上的轨迹呈椭圆或圆形,这种偏振光就是椭圆偏振光或圆偏振光。

人的眼睛不能直接检查偏振光,但可用一个偏振器面对偏振光进行检视,这个偏振器就成为检偏器。

2.马吕斯定律如果光源中的任一波列(用振动平面E表示)投射在起偏器P上(图1),只有相当于它的成份之一的E y(平行于光轴方向的矢量)能够通过,另一成份(E x=E cosθ)则被吸收。

图 1若投射在检偏器A 上的线偏振光的振幅为E 0,则透过A 的振幅为E 0 cosθ(这里θ是P 与A 偏振方向之间的夹角)。

由于光强与振幅的平方成正比,可知透射光强I 随θ而变化的关系为20cos I I θ=这就是马吕斯定律。

3.波片若使线偏振光垂直入射一透光面平行于光轴,厚度为d 的晶片(图2),此光因晶片的各向异性而分裂成遵从折射定律的寻常光(o 光)和不遵从折射定律的非常光(e 光)。

图 2图(2)线偏振光有一定相位差的o 光和e 光,在晶体中这两个相互垂直的振动方向有不同的光速,分别称做快轴和慢轴。

设入射光振幅为A ,振动方向与光轴夹角为θ,入射晶面后o 光和e 光振幅分别为Asinθ和Acosθ,出射后相位差()2o e n n dπλϕ-=式中λ是光在真空中的波长,n o 和n e 分别是o 光和e 光的折射率。

这种能使相互垂直振动的平面偏振光产生一定相位差的晶片就叫做波片4.一次电光效应和晶体的折射率椭球由电场所引起的晶体折射率的变化,称为电光效应。

通常可将电场引起的折射率的变化用下式表示:n = n 0 + aE 0 +bE 02+ (1)式中a 和b 为常数,n 0为不加电场时晶体的折射率。

由一次项aE 0引起折射率变化的效应,称为一次电光效应,也称线性电光效应或普克尔(Pokells )效应;由二次项bE 02引起折射率变化的效应,称为二次电光效应,也称平方电光效应或克尔(Kerr )效应。

一次电光效应只存在于不具有对称中心的晶体中,二次电光效应则可能存在于任何物质中。

光在各向异性晶体中传播时,因光的传播方向不同或者是电矢量的振动方向不同,光的折射率也不同。

如图3,通常用折射率球来描述折射率与光的传播方向、振动方向的关系。

在主轴坐标中,折射率椭球及其方程为:(2)式中n 1、n 2、n 3为椭球三个主轴方向上的折射率,称为主折射率。

当晶体加上电场后,折射率椭球的形状、大小、方位都发生变化,椭球方程变成(3)晶体的一次电光效应分为纵向电光效应和横向电光效应两种。

纵向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播的方向平行时产生的电光效应;横向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播方向垂直时产生的电光效应。

通常KD*P (磷酸二氘钾)类型的晶体用它的纵向电光效应,LiNbO 3(铌酸锂)类型的晶体用它的横向电光效应。

本实验研究铌酸锂晶体的一次电光效应,用铌酸锂晶体的横向调制装置测量铌酸锂晶体的半波电压及电光系数,并用两种方法改变调制器的工作点,观察相应的输出特性的变化。

铌酸锂晶体属于三角晶系,3m 晶类,主轴z 方向有一个三次旋转轴,光轴与z 轴重合,是单轴晶体,折射率椭球是旋转椭球,其表达式为(4)式中n o 和n e 分别为晶体的寻常光和非常光的折射率。

加上电场后折射率椭球发生畸变,1232222212=++n zn yn x1222212213223233222222112=+++++n xyn xzn yzn zn yn x122222=++en zn yx 图 3当x 轴方向加电场,光沿z 轴方向传播时,晶体由单轴晶变为双轴晶,垂直于光轴z 轴方向的折射率椭球截面由圆变为椭圆,此椭圆方程为(5)其中的称为电光系数。

上式进行主轴变换后可得到(6)考虑到<<1,经简化得到(7)折射率椭球截面的椭圆方程化为(8)5.电光调制原理要用激光作为传递信息的工具,首先要解决如何将传输信号加到激光辐射上去的问题,我们把信息加载于激光辐射的过程称为激光调制,把完成这一过程的装置称为激光调制器。

由已调制的激光辐射还原出所加载信息的过程则称为解调。

因为激光实际上只起到了“携带”低频信号的作用,所以称为载波,而起控制作用的低频信号是我们所需要的,称为调制信号,被调制的载波称为已调波或调制光。

按调制的性质而言,激光调制与无线电波调制相类似,可以采用连续的调幅、调频、调相以及脉冲调制等形式,但激光调制多采用强度调制。

强度调制是根据光载波电场振幅的平方比例于调制信号,使输出的激光辐射的强度按照调制信号的规律变化。

激光调制之所以常采用强度调制形式,主要是因为光接收器一般都是直接地响应其所接受的光强度变化的缘故。

激光调制的方法很多,如机械调制、电光调制、声光调制、磁光调制和电源调制等。

其中电光调制器开关速度快、结构简单。

因此,在激光调制技术及混合型光学双稳器件等方面有广泛的应用。

电光调制根据所施加的电场方向的不同,可分为纵向电光调制和横向电光调制。

利用纵向电光效应的调制,叫做纵向电光调制,利用横向电光效应的调制,叫做横向电光调制。

实验只做LiNbO 3晶体的横向电光调制实验。

5.1横向电光调制12)1()1(222222022220=-++-xy E y E n x E n x x x γγγ22γ1)1()1(2222022220='++'-y E n x E n x x γγxE n 2220γx x En n n 2230021γ+='x y En n n 2230021γ-='12222='+'''y x n y n x图4图4为典型的利用LiNbO 3晶体横向电光效应原理的激光振幅调制器。

其中起偏振片的偏振方向平行于电光晶体的x 轴,检偏振片的偏振方向平行于y 轴。

因此入射光经起偏振片后变为振动方向平行于x 轴的线偏振光,它在晶体的感应轴x′和y′轴上的投影的振幅和相位均相等,设分别为e x′=A 0cosωt , e y′=A 0cosωt (9)或用复振幅的表示方法,将位于晶体表面(z=0)的光波表示为E x′(0)=A , E y′(0)=A (10)所以,入射光的强度是(11)当光通过长为l 的电光晶体后,x′和y′两分量之间就产生相位差δ,即E x′(l)=A,E y′(l)= (12)通过检偏振片出射的光,是该两分量在y 轴上的投影之和(13)其对应的输出光强I t 可写成(14)由(11)和(14)式,光强透过率T 为(15)由(7)式(16)由此可见,δ和加在晶体上的电压有关,当电压增加到某一值时x′、y′方向的偏振光经过晶体后可产生λ/2的光程差,相应的相位差δ=π,由(15)式可知此时光强透过率T=100%,这时加在晶体上的电压称作半波电压,通常用U π表示。

U π是描述晶体电光效应的重要参数。

2222)0()0(A E E E E I y x i =+=⋅∝''δi e-)1(2)(0-=δi y e A E 2sin 2)]1)(1[(2])()[(22200δδδA e e A E E I i i y y t =--=⋅∝-*2sin2δ==i t I I T d lUn l n n y x 22302)(2γλπλπδ=-=''在实验中,这个电压越小越好,如果U π小,需要的调制信号电压也小。

根据半波电压值,我们可以估计出电光效应控制透过强度所需电压。

由(16)式可得到(17)其中d 和l 分别为晶体的厚度和长度。

由此可见,横向电光效应的半波电压与晶片的几何尺寸有关。

由(17)式可知,如果使电极之间的距离d 尽可能的减少,而增加通光方向的长度l ,则可以使半波电压减小,所以晶体通常加工成细长的扁长方体。

由(16)、(17)式可得因此,可将(15)式改写成(18)其中U 0是加在晶体上的直流电压,U m sinωt 是同时加在晶体上的交流调制信号,U m 是其振幅,ω是调制频率。

从(18)式可以看出,改变U 0或U m ,输出特性将相应的有变化。

对单色光和确定的晶体来说, U π为常数,因而T 将仅随晶体上所加的电压变化。

5.2 改变直流偏压对输出特性的影响①当、U m <<U π时,将工作点选定在线性工作区的中心处,如图3(a )所示,此时,可获得较高效率的线性调制,把 代入(18)式,得(19)由于Um<<U π时即 T ∝sinωt (20)这时,调制器输出的信号和调制信号虽然振幅不同,但是两者的频率却是相同的,输出信号不失真,我们称为线性调制。

②当、Um<<时,如图3(b )所示,把代入(18)式)(22230ldn U γλπ=ππδU U=)sin (2sin 2sin 022t U U U U U T m ωππππ+==20πU U =)sin 24(sin 2t U U T m ωπππ+=)]sin 2cos(1[21t U U m ωπππ+-=)]sin sin(1[21t U U m ωππ+=]sin )(1[21t U U T m ωππ+≈00=U πU 00=UT ∝cos 2ωt (21)从(21)式可以看出,输出信号的频率是调制信号频率的二倍,即产生“倍频”失真。

若把代入(18)式,经类似的推导(22)即T ∝cos 2ωt ,输出信号仍是“倍频”失真的信号。

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